JP7084932B2 - 磁石構造体、磁石ユニット及びこれを含むマグネトロンスパッタリング装置 - Google Patents

磁石構造体、磁石ユニット及びこれを含むマグネトロンスパッタリング装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7084932B2
JP7084932B2 JP2019536079A JP2019536079A JP7084932B2 JP 7084932 B2 JP7084932 B2 JP 7084932B2 JP 2019536079 A JP2019536079 A JP 2019536079A JP 2019536079 A JP2019536079 A JP 2019536079A JP 7084932 B2 JP7084932 B2 JP 7084932B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnet
magnetron sputtering
sputtering apparatus
wire
group
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019536079A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2020512480A (ja
Inventor
キム、ジュングン
ソ、ビュンホ
キム、スンヤン
ウー、チャンウォン
ジョ、スンキ
Original Assignee
アルバック コリア カンパニー リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by アルバック コリア カンパニー リミテッド filed Critical アルバック コリア カンパニー リミテッド
Publication of JP2020512480A publication Critical patent/JP2020512480A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7084932B2 publication Critical patent/JP7084932B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3402Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
    • H01J37/3405Magnetron sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F7/00Magnets
    • H01F7/02Permanent magnets [PM]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F7/00Magnets
    • H01F7/02Permanent magnets [PM]
    • H01F7/0205Magnetic circuits with PM in general
    • H01F7/021Construction of PM
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F7/00Magnets
    • H01F7/06Electromagnets; Actuators including electromagnets
    • H01F7/08Electromagnets; Actuators including electromagnets with armatures
    • H01F7/121Guiding or setting position of armatures, e.g. retaining armatures in their end position
    • H01F7/122Guiding or setting position of armatures, e.g. retaining armatures in their end position by permanent magnets
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3411Constructional aspects of the reactor
    • H01J37/345Magnet arrangements in particular for cathodic sputtering apparatus
    • H01J37/3452Magnet distribution

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

本発明は、マグネトロンスパッタリング装置に利用できる磁石構造体などに関し、特に、スパッタリング工程時も均一度を向上させることができる磁石構造体、磁石ユニット、及びこれを備えるマグネトロンスパッタリング装置に関する。
スパッタリング装置は、半導体、FPD(LCD、OLEDなど)又は太陽電池を製造するとき基板上に薄膜を蒸着する装置である。また、スパッタリング装置は、ロールツーロール(roll to roll)装置にも使用することができる。スパッタリング装置のうちの1つであるマグネトロンスパッタリング(magnetron sputtering)装置は、真空状態のチャンバー内にガスを注入してプラズマを生成させ、イオン化されたガス粒子を蒸着しようとするターゲット物質と衝突させてから、衝突によってスパッタされた粒子を基板に蒸着させる技術を用いる。ここで、ターゲットに磁気力線を形成するために、磁石ユニットが基板に対向してターゲットの後面に配置される。すなわち、ターゲットの前面に基板が設けられ、ターゲットの後面に磁石ユニットが設けられる配置を形成する。
このようなマグネトロンスパッタリング装置は、相対的に低温で薄膜を製造し、電場によって加速されたイオンが基板に緻密に蒸着され、蒸着速度が速いという長所のために幅広く用いられている。
一方、大面積の基板上に薄膜を蒸着するためにインライン又はクラスタシステムを用いる。インライン及びクラスタシステムは、ロードチャンバーとアンロードチャンバーとの間に複数の処理チャンバーが設けられ、ロードチャンバーにロードされた基板が複数の処理チャンバーを通過しながら連続的な工程を行う。このようなインライン及びクラスタシステムでスパッタリング装置は、少なくとも1つの処理チャンバー内に設けられ、磁石ユニットが一定の離隔を置いて設けられる。
ところが、磁石ユニットによる固定的な磁場が存在するため、ターゲットの表面の侵食は、電場及び磁場によるプラズマ密度によって決定される。特に、磁石ユニットは縁部、すなわち、長手方向の少なくとも一端部にグラウンド電位が集中するため、基板の縁部のプラズマ密度が他の領域に比べて大きく、これによりターゲットの縁部が他の領域に比べてスパッタリング速度が速くなる。したがって、基板上に蒸着される薄膜の厚さ分布が均一ではなく、膜質分布が低下するという問題があり、プラズマの密度差によるターゲットの特定部分の過度な侵食によるターゲットの使用効率が減少する問題が発生する。
このような問題を解決するために、縁部の厚さが中央部の厚さよりも厚いターゲットを用いる方法がある。このようなターゲットを製造するためには、平面ターゲットの中央部を研磨して厚さを薄くするなど、追加的な工程を用いて平面ターゲットを必ず加工する必要がある。しかし、平面ターゲットを加工することによって材料の損失が発生し、追加的な工程によりコストが発生する問題がある。また、ターゲットを加工する過程でターゲットが損傷するなどの問題も生じる恐れがある。
問題を解決するための異なる方法として、シャント(shunt)などを用いてターゲットの表面の磁場強度を調整する方法、磁石の縁部にライナを用いて距離を調整する方法、又は、磁石の縁部位置にZ軸モータを追加する方法などが挙げられる。しかし、このような方法は全て製造コストが増加し、手作業で磁場強度を調整しなければならず、磁場強度の調整が局所的に行われないために、数回の繰り返し作業が求められ、作業時間が多くかかるなどの問題がある。
本発明の目的は、ターゲットの局所的な過度の侵食を防止し、内面分布を改善することができる磁石構造体、及びそれを備えるマグネトロンスパッタリング装置を提供することにある。
本発明の目的は、全体的に均一な磁場を発生させ、追加的な工程や手作業の煩わしさがなくても、局所的な磁場調整が可能な磁石構造体、及びそれを備えるマグネトロンスパッタリング装置を提供することにある。
また、本発明の目的は、マグネトロンスパッタリング装置の真空度を保持しながら、チャンバーが開放されることなく磁場強度を調整することにある。本発明は、大幅に磁場を変化させることができ、その変化を容易に制御できる磁石構造体、及びこれを備えるマグネトロンスパッタリング装置を提供することを目的とする。
本発明のマグネトロンスパッタリング装置の磁石構造体は、永久磁石と、前記永久磁石を巻くように設けられたワイヤーとを含む。
本発明の一実施形態に係るマグネトロンスパッタリング装置の磁石構造体は、前記ワイヤーに加えられる電圧及び電流のうちの1つ以上を調整して磁石構造体の磁場の強度制御できる。
本発明の一実施形態によると、前記永久磁石は、垂直方向に延長形成されて前記ワイヤーが取り巻かれる第1部分と、前記第1部分の上端部及び下端部のうち1つ以上から水平方向に延長形成され、前記ワイヤーが取り巻かれない第2部分と、を含み得る。
本発明の一実施形態によると、前記第2部分の水平方向の長さは、前記第1部分の断面の水平方向の長さ及び前記ワイヤー断面の総厚さの合計よりも大きいものである。
本発明の一実施形態によると、前記第2部分は垂直方向に延長形成される1つ以上のブランチ部を含み得る。
本発明の一実施形態によると、前記永久磁石は、T型構造体、I型構造体、E型構造体、及びF型構造体からなる群より選択されるいずれか1つであり得る。
本発明のマグネトロンスパッタリング装置の磁石ユニットは、ヨークと、前記ヨーク上に設けられた複数の請求項1ないし請求項6のいずれか一項に記載の磁石構造体とを含み、前記複数の磁石構造体は、互いに直列構造、並列構造、又は両方を含む構造に接続配置され得る。
本発明の一実施形態に係るマグネトロンスパッタリング装置の磁石ユニットは、前記磁石構造体それぞれのワイヤーに加えられる電圧及び電流のうちの1つ以上を調整し、前記磁石ユニットの少なくとも一領域が他領域と異なる磁場強度を有するように制御できる。
本発明の一実施形態によると、前記複数の磁石構造体は、N極又はS極のうち選択された1つの磁極を有する第1磁石群と、N極又はS極のうち前記第1磁石群と異なる磁極を有する第2磁石群とを含み得る。
本発明の一実施形態によると、前記第2磁石群は、前記第1磁石群の外側に配置され得る。
本発明のマグネトロンスパッタリング装置、基板が載置される基板載置部と、前記基板載置部と対向して所定間隔離隔して設けられる1つ以上の磁石部と、前記基板載置部と磁石部との間に設けられる1つ以上のターゲット部とを含み、前記磁石部は、請求項7ないし請求項10のいずれか一項に記載の磁石ユニットを1つ以上含む。
本発明の一実施形態によると、前記磁石ユニットの永久磁石の上面と前記ターゲット部の上面との間の距離は30mm~90mmであり得る。
本発明の一実施形態によると、前記磁石部は、前記磁石構造体の少なくとも一側に設けられた冷却手段をさらに含み得る。
本発明の一実施形態によると、前記磁石部は、前記ヨーク、前記磁石構造体、及び前記冷却手段を単位モジュール化するモールディング部をさらに含み得る。
本発明の実施形態で提供する磁石構造体及び磁石ユニットを用いる場合、マグネトロンスパッタリング装置でターゲットの局所的な過度の侵食を防止することができ、面内分布を改善することができる。
また、本発明の実施形態に係るマグネトロンスパッタリング装置は、均一な磁場を発生させ、追加的な工程や手作業の手間がなくても局所的な磁場調整が可能な効果がある。
また、本発明の一実施形態によれば、取り巻かれたワイヤーに印加される電圧及び電流などを用いて磁場強度を調整することができる。特に、外部制御装置を介して磁石の一部領域の磁場強度を局所的に調整したり、磁石の全体領域の磁場強度を調整できる。すなわち、スパッタリング装置内部の真空を保持しながらも、装置外部で簡単な方法で形成される磁場強度を調整することのできる効果がある。
本発明の一実施形態に係る各磁石構造体の構造を略的に示す断面図である。 本発明の一実施形態に係る各磁石構造体の構造を略的に示す断面図である。 本発明の一実施形態に係る各磁石構造体の構造を略的に示す断面図である。 本発明の一実施形態に係る磁石ユニットの構造を略的に示す平面図である。 本発明の一実施形態に係る磁石ユニットの構造を略的に示す平面図である。 本発明の一実施形態に係る各磁石ユニットをx軸方向から見た構造の一部を略的に示す断面図である。 本発明の一実施形態に係る各磁石ユニットをx軸方向から見た構造の一部を略的に示す断面図である。 本発明の一実施形態に係る各磁石ユニットをx軸方向から見た構造の一部を略的に示す断面図である。 本発明の一実施形態に係るマグネトロンスパッタリング装置の構造を略的に示す断面図である。 本発明の一実施形態に係るマグネトロンスパッタリング装置に含まれる磁石ユニットをy軸方向から見た構造を略的に示す断面図である。
以下、添付する図面を参照しながら実施形態を詳細に説明する。しかし、実施形態には様々な変更が加えられ、特許出願の権利範囲がこのような実施形態によって制限されたり限定されることはない。実施形態に対する全ての変更、均等物ないし代替物が権利範囲に含まれるものとして理解されなければならない。
本明細書で用いた用語は、単に特定の実施形態を説明するために用いられるものであって、本発明を限定しようとする意図はない。単数の表現は、文脈上、明白に異なる意味をもたない限り複数の表現を含む。本明細書において、「含む」又は「有する」等の用語は明細書上に記載した特徴、数字、ステップ、動作、構成要素、部品又はこれらを組み合わせたものが存在することを示すものであって、1つ又はそれ以上の他の特徴や数字、ステップ、動作、構成要素、部品、又はこれを組み合わせたものなどの存在又は付加の可能性を予め排除しないものとして理解しなければならない。
異なる定義がされない限り、技術的であるか又は科学的な用語を含むここで用いる全ての用語は、本実施形態が属する技術分野で通常の知識を有する者によって一般的に理解されるものと同じ意味を有する。一般的に用いられる予め定義された用語は、関連技術の文脈上で有する意味と一致する意味を有するものと解釈すべきであって、本明細書で明白に定義しない限り、理想的又は過度に形式的な意味として解釈されることはない。
また、添付図面を参照して説明することにおいて、図面符号に関係なく同じ構成要素は同じ参照符号を付与し、これに対する重複する説明は省略する。実施形態の説明において関連する公知技術に対する具体的な説明が実施形態の要旨を不要に曖昧にすると判断される場合、その詳細な説明は省略する。
[磁石構造体]
本発明のマグネトロンスパッタリング装置の磁石構造体は、永久磁石と、前記永久磁石を取り巻くように設けられたワイヤーを含む。
前記磁石構造体は、永久磁石及び永久磁石に巻かれたワイヤーを含んでもよい。ここで、前記永久磁石に取り巻かれたワイヤーの取巻数及びワイヤーの材質(すなわち、抵抗)など、ワイヤーに印加される電圧、電流などによって磁場が決定される。
永久磁石は、例えば、ネオジム、鉄、及びホウ素を主成分とする異方性又は等方性の焼結磁石、サマリウムコバルト磁石、フェライト系の素材から形成されてもよい。一方、このような永久磁石の表面の一部には、腐食防止用材質又は絶縁性材質がコーティングされ、全体が絶縁性材質にコーティングされてもよい。
本発明で提供する磁石構造体の一実施形態によれば、永久磁石に直接的にワイヤーを巻く方法を使用する。本発明の特徴を容易に把握するために、1つの比較例を提案する。本発明と対比できる類似の磁石構造体に関する比較例として、ボビンにワイヤーを巻く電磁石を永久磁石の上に配置形成する方法が挙げられる。本発明の磁石構造体を形成する方法は、前記比較例の方法と比較すると、永久磁石とターゲットとの間の距離が近くなる長所がある。これにより、前記比較例の方法に比べて形成される磁場強度を強化できる利点がある。また、ワイヤーを巻くことができる取り巻き部の高さが長くなる効果があり、磁場の変化率を向上させ得る効果もある。
本発明の一実施形態に係るマグネトロンスパッタリング装置の磁石構造体は、前記ワイヤーに加えられる電圧及び電流のうちの1つ以上を調整し、磁石構造体の磁場強度を制御することが可能になる。
ワイヤーの取巻数及びワイヤーの材質は、最初のマグネトロンスパッタリング装置の磁石ユニットを設計するとき固定的に決定される変数であり、印加される電圧、電流などは、マグネトロンスパッタリング装置を駆動する過程で流動的に調整することのできるパラメータである。したがって、本発明で提供する磁石構造体は、ワイヤーに加えられる電圧及び電流を外部電源供給装置で調整することにより、真空チャンバー内で磁場の強度制御が意図した通りにすることができる。
また、本発明の磁石構造体は、永久磁石に電磁石のようにワイヤーを直接巻くことによって、従来の永久磁石のみを用いる場合に磁場の強度調整が可能になり、強い磁場を生成し得る。永久磁石に取り巻きワイヤー構造を形成することによって、全体的に均一な磁場を生成できる。すなわち、従来における永久磁石のみを用いる場合、磁場強度が均一ではなく、ターゲットの縁部付近の侵食が大きかったが、永久磁石に取り巻きワイヤー構造を結合することで、局所的な磁場強度を調整することができ、それによりターゲットの局所的な侵食を防止することができる。
図1(a)~図1(c)、図2及び図3は、本発明の一実施形態に係る各磁石構造体の構造を略的に示す断面図である。以下、図1(a)~図1(c)、図2及び図3を参照して各図面に示した各磁石構造体の構造及び機能について詳細に説明する。
本発明の一実施形態によれば、前記永久磁石100は、垂直方向に延長形成されて前記ワイヤー200が取り巻かれる第1部分110と、前記第1部分の上端部及び下端部のうちの1つ以上から水平方向に延長形成され、前記ワイヤーが取り巻かれない第2部分120とを含む。
本発明の永久磁石は、ワイヤーが取り巻かれる部分とワイヤーが取り巻かれない部分とに分類される。本発明を説明するために、永久磁石のうち、ワイヤーが取り巻かれる部分を含む領域を第1部分、第1部分を除いたワイヤーが取り巻かれない残りの部分を含む領域を第2部分と称する。
第1部分は、垂直方向に延長形成される柱のような構造で形成されてもよい。第1部分にはワイヤーが接触して取り巻かれる。ワイヤーは、少なくとも1回以上柱を巻く。すなわち、ワイヤーは、垂直柱構造に接触して柱を包んで取り巻かれることができる。したがって、第1部分の垂直方向の長さに応じて、取り巻かれるワイヤーの高さが決定される。
ここで、前記柱の平断面は、円、四角形、五角形、又は六角形の構造であってもよく、ワイヤーが巻かれることのできる柱の形状であれば、本発明でその形状を特に限定することはない。このような垂直方向に延長形成された第1部分の少なくとも一部にワイヤーが取り巻かれる。
第2部分は、前記第1部分の上端部、下端部、又は両方から水平方向に延長形成されてもよい。第2部分は、水平方向に延長形成され、複数の磁石構造体が連結されて形成される磁石ユニットを製造する過程で、隣接する磁石構造体との関係でショートを防止するための絶縁体の機能を果たす。隣接する磁石構造体も電流の流れるワイヤーが設けられるため、第2部分が水平方向に延長形成され、ワイヤーとワイヤーとの間に直接的に接して発生する問題を防止することができる。
第2部分は、第1部分の水平方向の両側に延長形成される。第1部分の上端部、下端部、又は両方から両側に延長形成される第2部分の長さが同一であり得る。一例として、第1部分は第2部分の中心に位置してもよい。また、設計に応じて、両側に延長形成される第2部分の長さは互いに異なってもよい。ここで、第1部分は第2部分の中心に位置しないこともある。
本発明の一実施形態によれば、前記第2部分の水平方向の長さ(図1(a)のI)は、前記第1部分断面の水平方向の長さ(図1(a)のII)、及び前記ワイヤー断面の総厚さ(図1(a)のIII+III')の合計よりも大きい。
前記第2部分の水平方向の長さが前記第1部分断面の水平方向の長さ及びワイヤー断面の総厚さの合計よりも大きいことにより、複数の磁石構造体が配列されるとき、前記磁石構造体のワイヤー200が隣接する磁石構造体のワイヤーと接しないようにする。これにより、電流の流れるワイヤーとワイヤーが互いに接してショートが発生する危険などを防止できる効果がある。このように第2部分の水平方向の長さを第1部分断面の水平方向の長さ及びワイヤー断面の総厚さの合計よりも大きく形成することで、本発明の磁石構造体を複数連結して利用する場合にも複数の磁石構造体間の絶縁が行われる。
一方、第1部分の垂直方向の長さが長く、第2部分の水平方向の長さが長いほどワイヤーの取巻き回数が増加する。これは第1部分の垂直方向が長いほど、ワイヤーが巻かれる第1部分の面積が広くなるためである。また、これは第2部分の水平方向の長さが長いほど、ワイヤーが巻かれて形成されるワイヤー断面の総厚さが厚く形成されるためである。
本発明の一実施形態によれば、前記第2部分120は、垂直方向に延長形成される1つ以上のブランチ部122を含む。
一方、第2部分は、図2及び図3に示すように垂直方向に延長形成される1つ以上のブランチ部が形成されてもよい。ブランチ部は、水平方向に延長形成された第2部分の両末端で図2に示すように連結されて形成されてもよい。第2部分の両末端でブランチ部が延長形成される場合、90度横にしたE状のような構造体が形成される。
また、ブランチ部は、水平方向に延長形成された第2部分の一末端だけで図3に示すように連結されて形成される。第2部分の一末端でブランチ部が延長形成される場合、90度横にしたF状のような構造体が形成される。
一方、前記ブランチ部は、第2部分の一部で延長形成されればよく、必ず第2部分の末端で形成される必要はない。また、ブランチ部は、必ず1つ又は2つだけ形成される必要もない。ここで、前記ブランチ部の垂直方向の長さは図2及び図3に示すように、第1部分110の垂直方向の長さと同一に形成されてもよい。前記ブランチ部の垂直方向の長さは、設計上の便宜に応じて様々に変形され、第1部分の垂直方向の長さよりも長いか短く形成されてもよい。
本発明の一実施形態によれば、前記永久磁石は、T型構造体、I型構造体、E型構造体、及びF型構造体からなる群より選択されるいずれか1つであり得る。
第2部分は、図1(a)に示すように、第1部分の上端部から延長形成される構造である。この場合、前記永久磁石はT型構造体をなす。
また、第2部分は、設計上の必要に応じて、図1(b)に示すように、第1部分の上端部及び下端部から全て延長形成される構造であってもよく、この場合、前記永久磁石はI型構造体をなす。ここで、第2部分120の上部及び下部構造体は、互いに同じ長さ及び幅を有する。また、前記上部及び下部構造体(図1(b)の120)は、1つが他方の1つよりも長い長さ又は短い長さ、広い幅又は狭い幅に設けられてもよい。
また、第2部分は、設計上の必要に応じて、図1(c)に示すように、第1部分の下端部からのみ延長形成される構造であってもよい。この場合、永久磁石は、逆転したT型構造体、すなわち「┴」のような形状の構造体を形成してもよい。
本発明のワイヤーは、導電性の材質から形成される。ワイヤー200は、所定の太さを有するアルミニウム、銅などの導電性の材質からなる。また、ワイヤーは、表面に絶縁性物質がコーティングされる。例えば、エナメル、ポリマーなどが導電性ワイヤーの表面にコーティングされてもよい。ワイヤーは、永久磁石の第1部分を巻くように所定の回数で巻かれてもよい。このようなワイヤーの取巻数、太さ、及び材質(すなわち、抵抗)、永久磁石の材質、及び形状などは本発明の磁石構造体が形成している磁場強度を決定する1次的な要因となる。そして、取巻いた後ワイヤーに印加される電圧及び電流などを調整することにより、磁石構造体の磁場強度を制御し、これは本発明の磁石構造体が形成している磁場強度を決定する2次的な要因となる。したがって、前記1次的要因と2次的要因を総合的に制御することで、所望する強度の磁場を実現することができる。
一方、ワイヤーは単一層からなり、永久磁石を取巻いてもよく、少なくとも2つ以上の層を形成して永久磁石を取り巻いてもよい。
図1(a)~図1(c)に示された磁石構造体は、永久磁石の第1部分110をワイヤー200が3回巻いた構造が図示されている。すなわち、前記第1部分にワイヤーが三重の層で巻かれている。
[磁石ユニット]
以下では上述した磁石構造体をヨーク上に複数含むように形成される磁石ユニットについて説明する。以下の磁石ユニットは一種の磁石単位体であって、形成された磁石ユニットがバラとしてマグネトロンスパッタリング装置の磁石部で用いることができるが、複数設けられ、様々に配置された形態にマグネトロンスパッタリング装置の磁石部を形成してもよい。
図4及び図5は、本発明の一実施形態に係る磁石ユニットの構造を略的に示す平面図である。以下では図4及び図5を参照して磁石ユニット及び磁石ユニットのヨーク上に形成される第1磁石群及び第2磁石群について説明する。次の第1磁石群及び第2磁石群は、複数の磁石構造体が連結して形成される。
ヨーク310は、平板又は円筒状の形状である。ヨーク310は、例えば、フェライト系のステンレスなどを用いてもよい。ヨーク310の一面又は表面上には、第1磁石群20及び第2磁石群30が設けられて磁石ユニットを形成する。すなわち、平板型ヨーク310の一面上に第1磁石群及び第2磁石群が設けられたり、円筒状のヨークの表面に第1磁石群及び第2磁石群が設けられてもよい。ここで、形成された磁石ユニットは、第1磁石群及び第2磁石群を含んでもよく、図4及び図5に示された磁石ユニットの形態のうちの1つのように配置される。また、図4及び図5に示された磁石ユニットの形態のうち、2つ以上が複数連結して配置されてもよい。一方、図4及び図5に示された磁石ユニットの形態とは異なる形態に磁石ユニットが配置されてもよい。
第1磁石群と第2磁石群の配置に対して詳細に説明すると、第1磁石群20はヨーク310の中央部に固定され、第2磁石群30は第1磁石群と離隔して第1磁石群の外側周辺に固定される。ここで、第1磁石群及び第2磁石群の高さ及び幅は同一であってもよい。しかし、第1磁石群の幅が第2磁石群よりも広いか狭くてもよく、第1磁石群の高さが第2磁石群の高さよりも高いか低くてもよく、設計上の必要に応じて、前記幅と高さは様々に変形可能である。
第1磁石群は、ヨークの一面から所定の高さに形成され、直線形態又は閉ループ(closed loop)状に設けられる。すなわち、第1磁石群は、図4に示すように所定の長さ及び幅を有する直線形態に設けられてもよく、図5に示すように、閉ループ形態に設けられてもよい。直線形態の場合、すなわち、x軸方向に所定の幅を有し、これと直交するy軸方向に所定の長さを有する略バー状に設けられてもよい。ここで、x軸方向は、マグネトロンスパッタリング装置で基板の移動方向と同一であり得る。閉ループ形態の第1磁石群20は、図5に示すように、互いに所定間隔離隔して同じ長さの第1長辺部及び第2長辺部22a,22bと、第1長辺部及び第2長辺部の縁部に第1長辺部及び第2長辺部間を連結するように形成された第1短辺部及び第2短辺部24a,24bを含む。ここで、第1短辺部及び第2短辺部は直線形態に設けられ、第1長辺部及び第2長辺部の縁部を連結する。したがって、第1磁石群20は、長辺部及び短辺部が長方形の形状をなすように設けられる。しかし、第1磁石群は、長方形の形状だけではなく、円形又は閉ループ形状を有する様々な形状に設けられてもよい。例えば、長辺部と短辺部が接する縁部がラウンドに形成されてもよい。また、第1磁石群の長辺部は、ヨークの中央部から所定間隔離隔して設けられてもよい。
第2磁石群30は第1磁石群20と所定間隔離隔され、第1磁石群20の外側に設けられる。本発明の一例として、第2磁石群30は、直線又は閉ループ形状を形成する第1磁石群20の外側に設けられてもよい。このような第2磁石群は、第1磁石群と異なる形状又は類似の形状に設けられてもよい。第2磁石群は、閉ループ形状に設けられる。閉ループ形状の第2磁石群は、図5に示すように、第1磁石群の第1長辺部及び第2長辺部22a,22bと所定間隔離隔し、これよりも長く第3長辺部及び第4長辺部32a,32bが設けられ、第3長辺部及び第4長辺部の縁部で第3長辺部及び第4長辺部を互いに連結するよう、第3短辺部及び第4短辺部34a,34bが設けられる。したがって、第2磁石群30は、長辺部32a,32b及び短辺部34a,34bが長方形の形状をなしながら、第1磁石群20を取り囲むように設けられる。しかし、第2磁石群30は、長方形の形状だけではなく、閉ループ形状を有する様々な形状に設けられてもよい。例えば、長辺部と短辺部が接する縁部の部分がラウンドに形成されてもよい。
一方、前記第1磁石群と第2磁石群を形成する磁石構造体は、互いに異なる極性を有するよう形成される。すなわち、第1磁石群を形成している永久磁石がN極であれば、第2磁石群を形成する永久磁石はS極であり、第1磁石群の永久磁石がS極であれば、第2磁石群の永久磁石はN極である。
したがって、第1磁石群20が図4及び図5に示すよう一の字の形態であれば、磁石ユニットの永久磁石はS-N-Sの配列を有するか、N-S-Nの配列を有する。また、第1磁石群が図6に示すように、閉ループ形態を有すれば、磁石ユニットの永久磁石はS-N-N-Sの配列を有するか、N-S-S-Nの配列を有する。しかし、本発明は、極性が異なる2つの磁石からなる磁石ユニットが複数設けられる場合だけではなく、複数の磁石が極性の異なるように配列される場合も含まれているため、N-S-...-S-Nに磁石が配列される。
本発明のマグネトロンスパッタリング装置の磁石ユニットは、ヨークと、前記ヨーク上に設けられた複数の本発明の一実施形態に係る磁石構造体とを含み、前記複数の磁石構造体は、互いに直列構造、並列構造又は両方を含む構造に接続配置される。
本発明の一実施形態で提供する前記磁石構造体は、前述したように複数設けられ、磁石ユニットを形成している。ここで、磁石構造体はヨーク上に設けられ、複数の磁石構造体は、互いに直列又は並列接続される構造を形成し得る。前記ヨーク上には、図1(a)~図1(c)、図2及び図3に示すいずれか1つのような磁石構造体の配置を有する磁石ユニットが形成されてもよい。磁石ユニットに含まれる磁石構造体の数は、スパッタリング装置のサイズに応じて決定される。大面積の基板にスパッタリングが必要な場合、より多くの磁石構造体を含む磁石ユニットが必要な場合もある。
図6~図8は、本発明の一実施形態に係る各磁石ユニットをx軸方向から見た構造を略的に示す断面図である。
図6の場合、図1(a)に示されたT状の永久磁石を含む磁石構造体が隣接するように繰り返し配置された構造が図示されている。前記図6を参照すれば、ヨーク310上に磁石構造体が接着層320で固定されている構造を確認することができる。このように磁石構造体とヨークとの間には、固定された構造体を確保するために接着剤を用いて接着層を形成し得る。また、図示していないが、磁石構造体とヨークとの間をボルトを用いて固定することで、前記固定された構造体を確保できる。本発明で前記ヨーク上に磁石構造体を固定するための方法として接着剤を利用したり、ボルトを用いる他にも、追加的な様々な手段を用いてもよい。図7の場合、図1(a)に示されたT状の永久磁石を含む磁石構造体と、図2に示されたE状の永久磁石を含む磁石構造体が交差に隣接するように繰り返し配置された構造が図示されている。
図8の場合、図2に示されたE状の永久磁石を含む磁石構造体が隣接するように繰り返し配置された構造が図示されている。
ここで、ヨーク上に形成される磁石構造体のそれぞれは、互いに直列構造、並列構造又は両方を含む構造に接続配置されてもよい。
本発明の一実施形態に係るマグネトロンスパッタリング装置の磁石ユニットは、前記磁石構造体それぞれのワイヤーに加えられる電圧及び電流のうちの1つ以上を調整し、前記磁石ユニットの少なくとも一領域が他の領域と異なる磁場強度を有するように制御することができる。
具体的な一例として、個別的な電源を設けて前記一領域に位置する磁石構造体には高い電流を加え、他領域に位置する磁石構造体には低い電流を加え、前記磁石ユニットの一領域と他領域が互いに異なる磁場強度を有するように制御できる。更なる一例として、一領域に位置する磁石構造体と他領域に位置する磁石構造体に設けられたワイヤーに流れる電流を遮断できるスイッチ又はリレーを設けて回路の接続を制御することにより、前記磁石ユニットの一領域と他領域が互いに異なる磁場強度を有するように制御できる。
本発明の一実施形態によれば、前記複数の磁石構造体は、N極、又は、S極のうち選択された1つの磁極を有する第1磁石群、及びN極又はS極のうち前記第1磁石群と異なる磁極を有する第2磁石群を含む。
本発明の一実施形態によれば、前記第2磁石群は、前記第1磁石群の外側に配置されたものである。
[マグネトロンスパッタリング装置]
本発明で説明するマグネトロンスパッタリング装置は磁石部を1つ以上含み、磁石部には上述した磁石ユニットが1つ以上設けられる。以下、マグネトロンスパッタリング装置及びマグネトロンスパッタリング装置を構成する各部分について説明する。
図9は、本発明の一実施形態に係るマグネトロンスパッタリング装置の構造を略的に示す断面図である。
本発明の一実施形態に係るスパッタリング装置を示す図9を参照すると、本発明で提供するスパッタリング装置は、磁石ユニット630、バッキングプレート650、ターゲット640、及び基板載置部620を含む。前記基板載置部上には、その表面にスパッタリングされた層が形成される基板610が設けられる。また、磁石ユニット630は、ヨーク310、中央の第1磁石群、及び第1磁石群の外側の第2磁石群を含む。前記各磁石群は、永久磁石100及び永久磁石を巻くワイヤー200から構成される。
ここで、基板載置部620と磁石ユニット630は互いに向かい合うように設けられてもよい。ここで、基板載置部は、装置内に上側、下側、又は側部に設けられ、これと向かい合うように磁石ユニットが設けられる。例えば、基板載置部が下側に設けられれば、磁石ユニットは上側に設けられ、基板載置部が上側に設けられれば、磁石ユニットは下側に設けられる。また、基板載置部が側面に垂直に設けられる場合、磁石ユニットはこれと対面する他側面に設けられる。
図9に示された磁石ユニット630は、基板と向かい合うように設けられ、ヨーク310、ヨーク上に形成された中央の第1磁石群、及び第1磁石群左側及び右側に設けられた第2磁石群を含む。第1磁石群及び第2磁石群は、複数の磁石構造体が連結された構造を含む。また、図9では例示的に一個の磁石ユニットを示したが、前記磁石ユニットは2つ以上設けられてもよく、前記磁石ユニットは、x軸方向、x軸方向と直交するy軸方向、及びx軸方向とy軸方向に全て直交するz軸方向のうち1つ以上の方向に往復移動してもよい。
磁石ユニットよりも大きい大面積の基板に薄膜を蒸着する場合、磁石ユニット630は2つ以上設けられる。ここで、少なくとも2つ以上の磁石ユニットは、同じ大きさ及び同じ構造で設けられ、同じ間隔で離隔され得る。
[バッキングプレート]
バッキングプレート650は、磁石ユニット630と基板載置部620との間に設けられる。また、バッキングプレートの一面にはターゲット640が固定される。すなわち、ターゲットは基板610と対面するバッキングプレートの一面に固定される。一方、バッキングプレートを設けることなく、磁石ユニットの上側にターゲットを設けることも可能である。
[ターゲット]
ターゲット640は、バッキングプレート650に固定され、基板610に蒸着される物質から構成される。このようなターゲット640は、金属物質又は金属物質を含む合金であり得る。また、ターゲット640は、金属酸化物、金属窒化物、又は誘電体であり得る。
例えば、ターゲットは。Mg、Ti、Zr、V、Nb、Ta、Cr、Mo、W、Pd、Pt、Cu、Ag、Au、Zn、Al、In、C、Si。及びSnなどで選択される元素を主成分とする材料を用いてもよい。一方、バッキングプレート650とターゲット640は、総厚さが5mm~50mm程度に形成されてもよい。
[基板載置部]
基板載置部620は、蒸着物質が基板610に均一に蒸着されるように基板を固定する。基板載置部は基板が載置されれば、固定手段などを用いて基板の縁部を固定したり、基板の裏面で基板を固定してもよい。基板載置部は、基板の裏面を全て支持して固定するために、基板の形状を有する略四角形又は円状に設けられることができる。また、基板載置部は、基板の縁部を固定するために、所定長さを有する4つのバーが上下左右に所定間隔離隔して設けられ、バーの縁部が互いに接触することによって中央部が空いている四角の枠組み形状に設けられる。一方、基板載置部は、基板が載置した状態で一方向に移動してもよい。例えば、一方向に進みながら基板上に薄膜を蒸着し得る。したがって、基板載置部の基板が載置されていない面には、基板載置部を移動させる移動手段(図示せず)が設けられ得る。移動手段は、基板載置部と接触して移動させるローラ、基板載置部と離隔して磁気力に移動させる磁気移送手段などを含んでもよい。もちろん、基板載置部の一部が移動手段として機能してもよい。
また、停止型スパッタリング装置の場合、固定手段が求められない場合もある。ここで、基板載置部620は。基板610をリフトさせるリフトピンが設けられてもよい。
しかし、停止型スパッタリング装置で垂直にスパッタリングする場合、基板を起立させて固定する固定手段が設けられる。一方、基板は、半導体、FPD(LCD、OLEDなど)、太陽電池などを製造するための基板であり、シリコンウェハー、グラスなどであってもよい。また、基板は、ロールツーロールに適用されるフィルム型基板であってもよい。本実施形態において、基板は、グラスなどの大面積の基板を使用する。
本発明のマグネトロンスパッタリング装置は、基板が載置される基板載置部と、前記基板載置部と対向して所定間隔離隔して設けられる1つ以上の磁石部と、前記基板載置部と磁石部との間に設けられる1つ以上のターゲット部とを含み、前記磁石部は、本発明の一実施形態に係る磁石ユニットを1つ以上含んでもよい。
本発明の一例として、前記磁石部は、前記ターゲット部の縁部から長手方向の30%以内に設けられてもよい。
例えば、ターゲットの侵食が最も多い部分(すなわち、ターゲットの縁部から長手方向)で30%以内の領域に磁石部を配置してもよい。すなわち、ターゲットの侵食は縁部で多く発生するが、その部分と対向している位置に磁石構造体を設け、ワイヤーに印加される電圧、電流などを調整して磁場強度を制御できる。結果的に、ターゲットの侵食が発生し過ぎた部分の磁場強度を調整し、全体的に均一な程度の侵食度を形成して局所的な過度の侵食現象を防止することができる。
本発明の一実施形態によれば、前記磁石ユニットの永久磁石の上面と前記ターゲット部の上面間の距離は30mm~90mmであり得る。永久磁石の上面とターゲット部の上面との間の前記距離は、ターゲット部の厚さ、バッキングプレートの厚さ、バッキングプレートと磁石ユニットとの間の距離などを考慮した値であって、前記距離が30mm未満で極めて近ければ、プラズマが安定的に形成されることができず、磁場効率が劣る問題が生じ、90mmを超過して極めて遠くなると、ターゲット部の周辺に磁場が弱く形成される問題が生じる。一方、バッキングプレートが含まれていないマグネトロンスパッタリング装置の場合、バッキングプレートの厚さだけ前記永久磁石の上面と前記ターゲット部の上面との間の距離をさらに狭く形成することもできるが、この場合、永久磁石の上面とターゲット部の上面との間の前記距離は、略10mm程度まで短縮される。
図10は、本発明の一実施形態に係るマグネトロンスパッタリング装置に含まれる磁石ユニットをy軸方向から見た構造を略的に示す断面図である。
図10は、図1(a)に示すようなT状の永久磁石を含む磁石構造体が複数形成された磁石ユニットの断面をy軸方向から見た構造に該当する。
本発明の一実施形態によれば、前記磁石部は、前記磁石構造体の少なくとも一側に設けられた冷却手段410をさらに含む。
一方、本発明に係るマグネトロンスパッタリング装置の磁石部に含まれる磁石構造体は、ワイヤーに所定の電流又は電圧が印加されれば、磁石構造体が次第に加熱する。したがって、磁石構造体を冷却させるための冷却手段が前記磁石構造体の少なくとも一側に設けられる。
ここで、磁石構造体が複数連結して水平方向に少なくとも2つ以上設けられ、水平方向に配置された永久磁石間に前記冷却手段410が設けられる。冷却手段は、水、空気又はその他の冷媒を供給する冷媒供給部(図示せず)と、これらが循環され得る冷媒循環路を含んでもよい。図10に示す実施形態に示された冷却手段410は冷媒循環路である。
本発明の一実施形態によれば、前記磁石部は、前記ヨーク、前記磁石構造体、及び前記冷却手段を単位モジュール化するモールディング部510をさらに含む。
図10に示すように、冷却手段を含む磁石構造体は、ヨーク、磁石構造体、及び冷却手段を覆うようにモールディング部が設けられる。モールディング部を用いて磁石構造体が1つのモジュール単位で製造され得る。
本発明の一例によれば、前記磁石部は、前記磁石ユニットのそれぞれに加えられる電圧及び電流のうちの1つ以上を調整し、前記磁石部の少なくとも一領域が他領域と異なる磁場強度を有するよう制御することができる。
前述した磁石ユニットにおいて、磁石構造体それぞれのワイヤーに加えられる電圧及び電流を調整できるよう、マグネトロンスパッタリング装置に含まれる磁石部では磁石ユニット単位で電圧及び電流のうちの1つ以上を調整し得る。具体的な一例として、一領域に位置する磁石ユニットと他領域に位置する磁石ユニットに設けられたワイヤーに流れる電流を個別電源から供給する方式を用いることができる。異なる一例として、前記電圧及び電流の調整は、スイッチ又はリレー(relay)を含んだり、直列又は並列回路を構成するなどの様々な手段を用いて行われることができる。これにより、磁石部内で前記一領域と前記他領域との間の他の磁場強度を形成できる。
上述したように、実施形態がたとえ限定された実施形態と図面によって説明されていても、当技術分野で通常の知識を有する者であれば、前記の記載から様々な修正及び変形が可能である。例えば、説明された技術が説明された方法と異なる順序で実行されたり、及び/又は説明された構成要素が説明された方法と異なる形態に結合又は組合わされたり、他の構成要素又は均等物によって置き換えられても適切な結果を達成することができる。
したがって、本発明の範囲は、開示された実施形態に限定して定められるものではなく、特許請求の範囲及び特許請求の範囲と均等なものなどによって定められるものである。

Claims (12)

  1. 永久磁石と、
    前記永久磁石を巻くように設けられたワイヤーと、
    を含み、
    前記永久磁石は、垂直方向に延長形成されて前記ワイヤーが取り巻かれる第1部分と、前記第1部分の上端部及び下端部のうち1つ以上から水平方向に延長形成され、前記ワイヤーが取り巻かれない第2部分と、を含み、
    前記第2部分の水平方向の長さは、前記第1部分の断面の水平方向の長さ及び前記ワイヤー断面の総厚さの合計よりも大きい、マグネトロンスパッタリング装置の磁石構造体。
  2. 前記ワイヤーに加えられる電圧及び電流のうちの1つ以上を調整して磁石構造体の磁場の強度制御できる、請求項1に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石構造体。
  3. 前記第2部分は垂直方向に延長形成される1つ以上のブランチ部を含む、請求項に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石構造体。
  4. 前記永久磁石は、T型構造体、I型構造体、E型構造体、及びF型構造体からなる群より選択されるいずれか1つである、請求項1に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石構造体。
  5. ヨークと、
    前記ヨーク上に設けられた複数の請求項1ないし請求項のいずれか一項に記載の磁石構造体と、
    を含み、
    前記複数の磁石構造体は、互いに直列構造、並列構造、又は両方を含む構造に接続配置される、マグネトロンスパッタリング装置の磁石ユニット。
  6. 前記磁石構造体それぞれのワイヤーに加えられる電圧及び電流のうちの1つ以上を調整し、前記磁石ユニットの少なくとも一領域が他領域と異なる磁場強度を有するように制御できる、請求項に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石ユニット。
  7. 前記複数の磁石構造体は、
    N極又はS極のうち選択された1つの磁極を有する第1磁石群と、
    N極又はS極のうち前記第1磁石群と異なる磁極を有する第2磁石群と、
    を含む、請求項に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石ユニット。
  8. 前記第2磁石群は、前記第1磁石群の外側に配置される、請求項に記載のマグネトロンスパッタリング装置の磁石ユニット。
  9. 基板が載置される基板載置部と、
    前記基板載置部と対向して所定間隔離隔して設けられる1つ以上の磁石部と、
    前記基板載置部と磁石部との間に設けられる1つ以上のターゲット部と、
    を含み、
    前記磁石部は、請求項ないし請求項のいずれか一項に記載の磁石ユニットを1つ以上含む、マグネトロンスパッタリング装置。
  10. 前記磁石ユニットの永久磁石の上面と前記ターゲット部の上面との間の距離は30mm~90mmである、請求項に記載のマグネトロンスパッタリング装置。
  11. 前記磁石部は、前記磁石構造体の少なくとも一側に設けられた冷却手段をさらに含む、請求項に記載のマグネトロンスパッタリング装置。
  12. 前記磁石部は、前記ヨーク、前記磁石構造体、及び前記冷却手段を単位モジュール化するモールディング部をさらに含む、請求項11に記載のマグネトロンスパッタリング装置。
JP2019536079A 2017-03-31 2018-02-08 磁石構造体、磁石ユニット及びこれを含むマグネトロンスパッタリング装置 Active JP7084932B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170042238A KR101924143B1 (ko) 2017-03-31 2017-03-31 자석 구조체, 자석 유닛 및 이를 포함하는 마그네트론 스퍼터링 장치
KR10-2017-0042238 2017-03-31
PCT/KR2018/001672 WO2018182167A1 (ko) 2017-03-31 2018-02-08 자석 구조체, 자석 유닛 및 이를 포함하는 마그네트론 스퍼터링 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020512480A JP2020512480A (ja) 2020-04-23
JP7084932B2 true JP7084932B2 (ja) 2022-06-15

Family

ID=63676345

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019536079A Active JP7084932B2 (ja) 2017-03-31 2018-02-08 磁石構造体、磁石ユニット及びこれを含むマグネトロンスパッタリング装置

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP7084932B2 (ja)
KR (1) KR101924143B1 (ja)
CN (1) CN110073464B (ja)
TW (1) TWI741165B (ja)
WO (1) WO2018182167A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020241010A1 (ja) 2019-05-28 2020-12-03 株式会社アルバック スパッタリング装置、薄膜製造方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010059544A (ja) 2008-09-02 2010-03-18 Sulzer Metaplas Gmbh 基体を被覆するための被覆装置及び基体を被覆する方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6012426B2 (ja) * 1981-06-15 1985-04-01 ワ−ルドエンジニアリング株式会社 磁界圧着形マグネトロンスパッタリング装置
DE3727901A1 (de) * 1987-08-21 1989-03-02 Leybold Ag Zerstaeubungskathode nach dem magnetronprinzip
JPH02111874A (ja) * 1988-10-20 1990-04-24 Fuji Photo Film Co Ltd スパッタリング方法
JP2575069B2 (ja) * 1990-11-30 1997-01-22 アネルバ株式会社 マグネトロンスパッタ装置
JPH05295536A (ja) * 1992-04-24 1993-11-09 Fuji Electric Co Ltd マグネトロンスパッタリングカソード
JPH07233473A (ja) * 1994-02-22 1995-09-05 Hitachi Ltd マグネトロンスパッタ装置
JP3847866B2 (ja) * 1996-11-21 2006-11-22 株式会社アルバック スパッタリング装置
JPH11172431A (ja) * 1997-12-10 1999-06-29 Sony Corp マグネトロンスパッタ成膜方法およびその装置
KR100979306B1 (ko) * 2008-05-08 2010-08-31 이흥규 마사지기
TWI456082B (zh) * 2010-03-26 2014-10-11 Univ Nat Sun Yat Sen 磁控式電漿濺鍍機
KR101250950B1 (ko) * 2010-04-16 2013-04-03 (주) 씨앤아이테크놀로지 마그네트론 스퍼터링장치
WO2014017682A1 (ko) * 2012-07-26 2014-01-30 주식회사 아비즈알 마그네트론 냉각부를 구비한 마그네트론 스퍼터링 장치
DE112013006746B4 (de) * 2013-02-28 2019-03-21 Canon Anelva Corporation Sputtergerät

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010059544A (ja) 2008-09-02 2010-03-18 Sulzer Metaplas Gmbh 基体を被覆するための被覆装置及び基体を被覆する方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN110073464B (zh) 2022-04-19
WO2018182167A1 (ko) 2018-10-04
CN110073464A (zh) 2019-07-30
KR20180111366A (ko) 2018-10-11
JP2020512480A (ja) 2020-04-23
TW201837223A (zh) 2018-10-16
TWI741165B (zh) 2021-10-01
KR101924143B1 (ko) 2018-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2553138B1 (en) Target utilization improvement for rotatable magnetrons
US20110226617A1 (en) Dielectric deposition using a remote plasma source
JP5702143B2 (ja) スパッタリング薄膜形成装置
CN103031529B (zh) 磁控溅射装置和磁控溅射方法
KR102219014B1 (ko) 전착 장치 및 희토류 영구 자석의 제조방법
KR20080045031A (ko) 플라즈마 데미지 프리 스퍼터 건 및 이를 구비한 스퍼터장치와 이를 이용한 플라즈마 처리장치 및 성막 방법
JP7084932B2 (ja) 磁石構造体、磁石ユニット及びこれを含むマグネトロンスパッタリング装置
KR101429069B1 (ko) 성막 장치 및 성막 방법
JP7301857B2 (ja) マグネトロンスパッタリング装置
KR20140054421A (ko) 성막 장치
JP7084931B2 (ja) マグネトロンスパッタリング装置の磁石制御システム
KR101888173B1 (ko) 자석 구조체 및 이를 구비하는 스퍼터링 장치
CN113416938B (zh) 可调节薄膜应力的溅射设备和方法
CN116034450A (zh) 用于改进的磁控管电磁组件的系统和方法
KR101965266B1 (ko) 전자석 어셈블리의 제조 방법
CN218880037U (zh) 溅镀设备
CN109385607B (zh) 弧源装置及该弧源装置的弧源磁场的调节方法
JP5621707B2 (ja) マグネトロンスパッタリングカソード及びスパッタリング装置
JP2020176304A (ja) スパッタリング装置
KR20110028415A (ko) 유도 결합 플라즈마 방식을 이용한 스퍼터 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20201111

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20211021

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211116

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220210

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20220210

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220215

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220308

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220531

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220603

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7084932

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150