JP7064652B2 - 加飾フィルム - Google Patents
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Description
以下、実施形態について、各図を参照して説明する。図1は、実施形態に係る成形ユニット10の模式的な断面図である。図2は、図1の散乱フィルム1の拡大図である。図1及び2に示すように、成形ユニット10は、成形品4、透明部材5、光学糊(OCA)部材6,7、及び散乱フィルム1を備える。散乱フィルム1は、共にシート状の支持部材2と散乱部材3とを備える。
次に、確認試験について説明するが、本発明は、以下に示す各実施例に限定されるものではない。実施例1~8の散乱フィルム1を製造する際に使用した原料は、以下の通りである。
セルロースアセテートプロピオネート(CAP):イーストマン社製「CAP-482-20」、アセチル化度=2.5%、プロピオニル度=46%、ポリスチレン換算の数平均分子量75000
ウレタンアクリレート:新中村化学工業(株)製「UAー1100H」
ビスフェノールAタイプエポキシアクリレート:ダイセル・オルネクス(株)製「EBECRYL600」
ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート:ダイセル・オルネクス(株)製「DPHA」
ペンタエリスリトール(トリ/テトラ)アクリレート:ダイセル・オルネクス(株)製「PETRA」
ナノシリカ含有アクリル系紫外線硬化性化合物:モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン合同会社製「UVHC7800G」
シリカ球状微粒子A:(株)日本触媒製「KE-P250」(平均粒径2.5μm)
シリカ球状微粒子B:(株)日本触媒製「KE-S100」(平均粒径1.0μm)
微粉末合成シリカ:富士シリシア化学(株)製「サイリシア730」(不定形粒子、最大粒径3.0μm)
架橋スチレンビーズ:綜研化学(株)製「SX-130H」(平均粒径1.3μm)
重合性基を有するフッ素系化合物A:(株)ネオス製「フタージェント602A」
光開始剤A:BASFジャパン(株)製「イルガキュア184」
光開始剤B:BASFジャパン(株)製「イルガキュア907」
ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム:東レ(株)製「ルミラー」
セルローストリアセテート(TAC)フィルム:富士フィルム(株)製「フジタックTG60UL」
透明光学粘着シート(OCA):日東電工(株)製「LUCIACS」
ウレタンアクリレート77.6重量部、ビスフェノールAタイプエポキシアクリレート19.4重量部、セルロースアセテートプロピオネート3重量部、光開始剤A1重量部、光開始剤B1重量部、重合性基を有するフッ素系化合物A0.2重量部を、メチルエチルケトン109重量部と1-ブタノール30重量部との混合溶媒に溶解した。また、この混合溶媒に、フィラー粒子31として、シリカ球状微粒子A1.6重量部を添加した。これにより、散乱部材3の材料となる溶液を調製した。
シリカ球状微粒子Aの添加量を3.8重量部に変更した以外は、実施例1と同一の製造条件により、実施例2の散乱フィルム1を得た。また、シリカ球状微粒子Aの添加量を38重量部に変更した以外は、実施例1と同一の製造条件により、実施例3の散乱フィルム1を得た。
シリカ球状微粒子Aの代わりにシリカ球状微粒子Bを3.8重量部添加した以外は、実施例1と同一の条件により、実施例4の散乱フィルム1を得た。コート材30の材料として、ウレタンアクリレートの代わりにジペンタエリスリトールヘキサアクリレートを58.2重量部、ペンタエリスリトール(トリ/テトラ)アクリレートを19.4重量部添加し、シリカ球状微粒子Aを38重量部添加した以外は、実施例1と同一の条件により、実施例5の散乱フィルム1を得た。
セルロースアセテートプロピオネートを6重量部、シリカ球状微粒子Aを3.8重量部とした以外は、実施例1と同一の条件により、実施例6の散乱フィルム1を得た。シリカ球状微粒子Aの代わりに微粉末合成シリカを10重量部添加した以外は、実施例1と同一の条件により、実施例7の散乱フィルム1を得た。
ナノシリカ含有アクリル系紫外線硬化性化合物166.7重量部、光開始剤A1重量部、光開始剤B1重量部、架橋スチレンビーズ21重量部、重合性基を有するフッ素系化合物A0.2重量部を、メチルエチルケトン48重量部と1-ブタノール13重量部との混合溶媒に溶解し、溶液を調製した。
ヘイズメーター(日本電色(株)製「NDH-5000W」)を用いて、JIS K7136に準拠し、全ヘイズを測定する場合、散乱フィルム1の散乱部材3が受光器側となるように配置して測定した。散乱部材3の内部ヘイズを測定する際、散乱部材3の支持部材2とは反対側の表面に光学糊部材でTACフィルムを貼合して測定し、得られたヘイズ値からTAC/OCAのみのヘイズ値(0.7%)を差し引いた値を散乱部材3の内部ヘイズの値とした。散乱フィルム1の散乱部材3の全ヘイズと内部ヘイズの差分が0.5%以下の場合、全ヘイズへの寄与は、全て内部ヘイズであるとした。
写像測定器(スガ試験機(株)製、商品名「ICM-1T」)を用いて、JIS K7105に基づき、散乱フィルム1の支持部材2の製膜方向と光学櫛の櫛歯の方向とが平行になるように散乱フィルム1を設置し、散乱フィルム1の透過像鮮明度を測定した。本試験では、写像測定器の光学櫛のうち、0.5mm幅の光学櫛における散乱フィルム1の透過像鮮明度を測定した。
JIS K7105に準拠し、グロスメーター((株)堀場製作所製「IG-320」)を用いて、角度60°で散乱フィルム1の散乱部材3の支持部材2とは反対側の表面の60°グロスを測定した。
JIS B0601に準拠し、表面粗さ形状測定機((株)東京精密製「サーフコム570A」)を用いて、散乱フィルム1の散乱部材3の支持部材2とは反対側の表面の算術平均粗さRaを測定した。各測定結果及び比H1/H2の算出結果を表1に示す。
2 支持部材
3 散乱部材
4 成形品
5 透明部材
6,7 光学糊部材
30 コート材
31 フィラー粒子
Claims (7)
- 成形品と、前記成形品の全光線透過率が20%以下の意匠面を覆うように配置された透明部材との間において、前記透明部材を介して入射され且つ前記成形品の前記意匠面で反射した光を散乱させることにより前記意匠面を修飾する加飾フィルムであって、
内部ヘイズが10%以上90%以下の範囲の値に設定されたシート状の散乱部材を備える、加飾フィルム。 - 前記散乱部材を支持するシート状の支持部材を更に備え、
前記散乱部材が、前記支持部材の一方の表面を覆うように配置されている、請求項1に記載の加飾フィルム。 - 前記散乱部材は、前記支持部材の前記表面に沿って延びるコート材と、前記コート材内に分散されたフィラー粒子とを有する、請求項2に記載の加飾フィルム。
- 前記散乱部材は、前記散乱部材の前記内部ヘイズの絶対値をH1、総ヘイズの絶対値をH2としたときの比H1/H2が、0.7以上1.0以下の範囲の値に設定されている、請求項2又は3に記載の加飾フィルム。
- 前記散乱部材の前記支持部材とは反対側の表面の算術平均粗さRaが、0.1μm以下の範囲の値に設定されている、請求項2~4のいずれか1項に記載の加飾フィルム。
- 前記散乱部材に重ねて配置され、前記散乱部材と前記透明部材との間に充填される光学糊部材を更に備える、請求項1~5のいずれか1項に記載の加飾フィルム。
- 前記成形品と、前記透明部材と、請求項1~6のいずれか1項に記載の前記加飾フィルムとを備える、成形ユニット。
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