JP7063657B2 - ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤ - Google Patents
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Description
ZrO2の含有量を[ZrO2]、NaFの含有量を[NaF]とした場合、1≦[ZrO2]/[NaF]≦50を満たすものである。
また、上記ガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤは、ワイヤ全質量あたり、K2OのK換算量:0.01質量%以上0.50質量%以下、Na2OのNa換算量:0.01質量%以上0.50質量%以下の一つ以上をさらに含有していてもよい。
ZrO2の含有量を[ZrO2]、NaFの含有量を[NaF]とした場合、1≦[ZrO2]/[NaF]≦50を満たすものである。
また、本実施形態に係るフラックス入りワイヤは、メタル系のフラックス入りワイヤである。ここで、メタル系のフラックス入りワイヤは、フラックスの主成分が金属成分とされており、例えば、ワイヤ全質量あたりで酸化物成分(スラグ形成成分)が3質量%以下とされているフラックス入りワイヤを意味している。酸化物成分は、好ましくは2質量%以下であり、さらに好ましくは1質量%以下である。
Cは、溶接金属の焼き入れ性と靱性を向上させる効果を発揮する成分である。ただし、Cの含有量が0.01質量%未満であると、溶接金属の焼き入れ不足となり、大入熱溶接時に靱性が十分に得られないことから、Cの含有量は0.01質量%以上とし、好ましくは0.02質量%以上とする。一方、Cの含有量が0.10質量%を超えると、アークの吹きつけが強くなり、スパッタ発生量が増加することから、Cの含有量は0.10質量%以下とし、好ましくは0.07質量%以下、特に好ましくは0.05質量%以下とする。
Mnは、溶接金属の焼き入れ性と靱性を向上させる効果を発揮する成分である。ただし、Mnの含有量が1.5質量%未満であると、溶接金属の焼き入れ不足となり、溶接金属の引張強さが十分に得られないことから、Mnの含有量は1.5質量%以上とし、好ましくは2.0質量%以上とする。一方、Mnの含有量が4.0質量%を超えると、溶接金属中のMn量が過剰となり、溶接金属の引張強さが上昇し過ぎることから、Mnの含有量は4.0質量%以下とし、好ましくは3.1質量%以下とする。
ここで、Mnは、純金属のMnや合金に含まれるMn、MnOなどの酸化物Mnに含まれるMn成分を意味している。Mn源としては、Mn金属粉、Fe-Mn、Fe-Si-Mn等の金属粉、合金粉が挙げられるが、これらの他、Mn酸化物を加えてもよい。
Siは、溶接金属の焼き入れ性と靱性を向上させる効果や、ビード形状を向上させる効果を発揮する成分である。ただし、Siの含有量が0.1質量%未満であると、溶接金属の焼き入れ不足となり、溶接金属の引張強さが十分に得られない場合があることから、Siの含有量は0.1質量%以上とし、好ましくは0.2質量%以上とする。一方、Siの含有量が2.5質量%を超えると、溶接金属中のSi量が過剰となり、溶接金属の引張強さが上昇し過ぎる場合などがあることから、Siの含有量は2.5質量%以下とし、好ましくは1.4質量%以下とする。ここで、Siは、純金属のSiや合金に含まれるSi、SiO2などの酸化物Siに含まれる全Si成分を意味している。
金属Tiは、溶接金属の機械的性質、アーク安定性を向上させる効果を発揮する成分である。ただし、金属Tiの含有量が0.01質量%未満であると、アーク安定性の向上効果が得られず、高電流負荷時のアーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加することから、金属Tiの含有量は0.01質量%以上とし、好ましくは0.10質量%以上とする。一方、金属Tiの含有量が1.00質量%を超えると、溶接金属中のTi量が過剰となり、大入熱溶接時に溶接金属の引張強さが上昇し過ぎることから、金属Tiの含有量は1.00質量%以下とし、好ましくは0.50質量%以下とする。
金属Alは、溶接金属の機械的性質、アーク安定性を向上させる効果を発揮する成分である。ただし、金属Alの含有量が0.10質量%未満であると、アーク安定性の向上効果が得られず、高電流負荷時のアーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加することから、金属Alの含有量は0.01質量%以上とし、好ましくは0.05質量%以上とする。一方、金属Alの含有量が1.00質量%を超えると、溶接金属成分の歩留りが過大となり、大入熱溶接時に靱性が十分に得られないことから、金属Alの含有量は1.00質量%以下とし、好ましくは0.40質量%以下とする。ここで、金属Alとは、金属単体や合金に含まれるAlの合計である。
Feは、フラックス入りワイヤの主要成分である。溶着量や、他の成分組成の関係から、Feの含有量は、ワイヤ全質量あたり90質量%以上であることが好ましく、より好ましくは92質量%以上である。
ZrO2は、アーク安定性、スラグ形成剤として溶接金属のビード形状を向上させる効果を発揮する成分である。ただし、ZrO2の含有量が0.01質量%未満であると、アーク安定性の向上効果が得られず、高電流負荷時のアーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加することから、ZrO2の含有量は0.01質量%以上とし、好ましくは0.20質量%以上とする。一方、ZrO2の含有量が1.00質量%を超えると、アークの吹きつけが強くなり、高電流負荷時のアーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加することから、ZrO2の含有量は1.00質量%以下とし、好ましくは0.80質量%以下とする。
TiO2は、アーク安定性、スラグ形成剤として溶接金属のビード形状を向上させる効果を発揮する成分である。ただし、TiO2の含有量が0.01質量%未満であると、アーク安定性向上効果が得られず、高電流負荷時のアーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加することから、TiO2の含有量は0.01質量%以上とし、好ましくは0.05質量%以上とする。一方、TiO2の含有量が0.50質量%を超えると、溶滴移行が不安定となり、高電流負荷時のアーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加することから、TiO2の含有量は0.50質量%以下とし、好ましくは0.30質量%以下とする。
NaFは、アークをシャープにし、アーク安定性を向上させる効果を発揮する成分である。ただし、NaFの含有量が0.01質量%未満であると、アーク安定性向上効果が得られず、高電流負荷時のアーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加することから、NaFの含有量は0.01質量%以上とし、好ましくは0.05質量%以上とする。一方、NaFの含有量が0.50質量%を超えると、アークの吹きつけが強くなり、高電流負荷時のアーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加することから、NaFの含有量は0.50質量%以下とし、好ましくは0.30質量%以下とする。
ZrO2の含有量(質量%)を[ZrO2]、NaFの含有量(質量%)を[NaF]とした場合の[ZrO2]/[NaF]は、溶接金属の機械的性質と良好な溶接作業性を両立させる重要な指標である。そして、この式によって算出される値を所定範囲内とすることにより、高電流負荷時のアーク安定性が高く、スパッタ発生量の少ない、優れた溶接作業性を保つことができる。
ただし、[ZrO2]/[NaF]によって算出される値が1未満であると、アークの吹きつけが強くなり、高電流負荷時のアーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加することから、[ZrO2]/[NaF]によって算出される値は1以上とし、好ましくは3以上、より好ましくは5以上とする。一方、[ZrO2]/[NaF]によって算出される値が50を超えると、アーク長が変動し、高電流負荷時のアーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加することから、[ZrO2]/[NaF]によって算出される値は50以下とし、好ましくは40以下、より好ましくは30以下とする。
Al2O3は、アーク安定性を向上させる効果を発揮する成分である。ただし、Al2O3の含有量が0.01質量%未満であると、アーク安定性向上効果が得られないことから、Al2O3をワイヤに含有させる場合、Al2O3の含有量は0.01質量%以上とし、好ましくは0.02質量%以上とする。一方、Al2O3の含有量が0.50質量%を超えると、溶接金属の酸素量が増加し、靱性が低下することから、Al2O3をワイヤに含有させる場合、Al2O3の含有量は0.50質量%以下とし、好ましくは0.30質量%以上とする。
K2Oは、アーク安定性を向上させる効果を発揮する成分である。ただし、K2OのK換算量が0.01質量%未満であると、アーク安定性向上効果が得られないことから、K2Oをワイヤに含有させる場合、K2OのK換算量は0.01質量%以上とし、好ましくは0.02質量%以上とする。一方、K2OのK換算量が0.50質量%を超えると、溶接金属の酸素量が増加し、靱性が低下することから、K2Oをワイヤに含有させる場合、K2Oの含有量は0.50質量%以下とし、好ましくは0.30質量%以下とする。
Na2Oは、アーク安定性を向上させる効果を発揮する成分である。ただし、Na2OのNa換算量が0.01質量%未満であると、アーク安定性向上効果が得られないことから、Na2Oをワイヤに含有させる場合、Na2OのNa換算量は0.01質量%以上とし、好ましくは0.02質量%以上とする。一方、Na2OのNa換算量が0.50質量%を超えると、溶接金属の酸素量が増加し、靱性が低下することから、Na2Oをワイヤに含有させる場合、Na2Oの含有量は0.50質量%以下とし、好ましくは0.30質量%以下とする。
本実施形態に係るフラックス入りワイヤの残部は、前記したFe及び不可避的不純物などである。そして、本実施形態に係るフラックス入りワイヤは、メタル系のフラックス入りワイヤであるが、前記したワイヤの成分の他、フラックス中に、その効果を妨げない範囲で、Cr、Mo、Cu等を溶接金属のさらなる硬化剤として、V2O5等をスラグ形成剤として、また、K2SiF6、Na3AlF6等をアーク安定剤として少量含有させてもよい。例えば、Cr、Mo、Cu等が各々0.1質量%未満、V2O5を各々0.5質量%未満、含有してもよい。また、P、S、Sn、V等が各々0.030質量%以下、含有してもよい。
本実施形態に係るフラックス入りワイヤのフラックス充填率(=フラックス質量/ワイヤ全質量×100)は、特に限定されない。ただし、フラックス充填率が10質量%未満であると、アークの安定性が悪くなるとともにスパッタ発生量が増加し、溶接作業性が劣化することから、フラックス充填率は好ましくは10質量%以上とし、より好ましくは14質量%以上とする。一方、フラックス充填率が25質量%を超えると、ワイヤの断線が発生したり、フラックスの充填中に粉がこぼれ落ちたりする等、生産性が劣化することから、フラックス充填率は好ましくは25質量%以下とし、より好ましくは20質量%以下とする。
[ワイヤの製造方法]
本実施形態に係るフラックス入りワイヤの製造方法としては、特に限定されるものではないが、例えば、以下に示す方法で製造することができる。
まず、鋼製外皮を構成する鋼帯を準備し、この鋼帯を長手方向に送りながら成形ロールにより成形して、U字状のオープン管にする。次に、所定の成分組成となるように、各種原料を配合したフラックスを鋼製外皮に充填し、その後、断面が円形になるように加工する。その後、冷間加工により伸線し、例えば1.2~2.4mmのワイヤ径のフラックス入りワイヤとする。なお、冷間加工途中に焼鈍を施してもよい。また、製造の過程で成形した鋼製外皮の合わせ目を溶接した継ぎ目が無いワイヤと、前記合わせ目を溶接せず隙間のまま残すワイヤのいずれの構造も採用することができる。
鋼帯を長手方向に送りながら成形ロールによりオープン管に成形する。続いて、表1又は表2の成分組成となるように、フラックス中に金属、合金、Fe粉、各種原料を適宜、所定範囲で添加する。次に、断面が円形になるように加工した後、加工したワイヤに対して冷間引き抜き加工を施し、ワイヤ径を約1.2mmとする。以上の製造方法によってフラックス入りワイヤを製造する。
(溶接条件)
溶接作業性を評価するため、各フラックス入りワイヤを用いて、表3に示す成分組成の鋼板を母材とし、表4に示す各条件にてガスシールドアーク溶接を行った。なお、表3に示す鋼板の成分組成における残部は、Fe及び不可避的不純物である。
アーク安定性について、上記と同様、各フラックス入りワイヤを用いて、表3に示す成分組成の鋼板を母材とし、表4に示す各条件にてガスシールドアーク溶接を行った。官能評価により、アークが安定であると判断したものを「○」、アークが不安定であると判断したものを「×」と評価している。なお、アーク安定性については「○」を合格と判断し、「×」を不合格と判断している。
スパッタ発生量について、上記と同様、発明例及び比較例の各フラックス入りワイヤを用いて、表3に示す成分組成の鋼板を母材とし、表4に示す各条件にてガスシールドアーク溶接を行い、溶接試験の際に生じたスパッタの量に基づいて定量的に評価している。具体的には、WES2807:2000に準じて、スパッタを確保する捕集箱を設置した環境内で溶接を行っている。アークタイムは60秒とし、溶接完了後、捕集箱のスパッタを採取し重量を計測し、これを2回繰り返し、平均値をスパッタ発生量としている。各発明例及び比較例において、スパッタ発生量が2g/min未満であったものを「○」、スパッタ発生量が2g/min以上であったものを「×」と評価している。なお、表中において、「○」が合格で「×」が不合格である。
(溶接条件)
溶接金属の機械的性質の評価においても、溶接作業性の評価と同様の条件で、ガスシールドアーク溶接を行った。
溶接金属の機械的性質は、JIS Z 3111:2005に規定される「溶着金属の引張及び衝撃試験方法」に準拠した引張試験及び衝撃試験により評価した。
引張試験片は、溶接金属中央で板厚中央の位置から採取したA0号試験片を用いた。また、衝撃試験片は、溶接金属中央で板厚中央の位置から採取したVノッチ試験片を用いた。
靭性(vE0℃)は、0℃での吸収エネルギーが70J以上のものを「◎」、47J以上70J未満のものを「○」、47J未満のものを「×」と評価している。
試験No.38(ワイヤNo.W38)は、ワイヤのNaFの含有量が上限値を超えているため、アーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加し、溶接作業性に劣っている。
試験No.39(ワイヤNo.W39)は、ワイヤのNaFの含有量が下限値未満であるため、アーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加し、溶接作業性に劣っている。
試験No.40(ワイヤNo.W40)は、ワイヤの[ZrO2]/[NaF]によって算出される値が上限値を超えているため、アーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加し、溶接作業性に劣っている。
試験No.41(ワイヤNo.W41)は、ワイヤの[ZrO2]/[NaF]によって算出される値が下限値未満であるため、アーク安定性が劣化及びスパッタ発生量が増加し、溶接作業性に劣っている。
Claims (1)
- 鋼製外皮にフラックスが充填された、ガスシールドアーク溶接用のフラックス入りワイヤであって、
ワイヤ全質量あたり、
C :0.01質量%以上0.10質量%以下、
Mn:1.5質量%以上4.0質量%以下、
Si:0.1質量%以上1.80質量%以下、
金属Ti:0.01質量%以上1.00質量%以下、
金属Al:0.01質量%以上1.00質量%以下、
Fe:90質量%以上、
ZrO2:0.01質量%以上1.00質量%以下、
TiO2:0.01質量%以上0.50質量%以下、
NaF:0.01質量%以上0.50質量%以下、
Al 2 O 3 :0.01質量%以上0.50質量%以下、
K 2 OのK換算量:0.01質量%以上0.50質量%以下、Na 2 OのNa換算量:0.01質量%以上0.50質量%以下、の一つ以上、
を含有するとともに、
ZrO2の含有量を[ZrO2]、NaFの含有量を[NaF]とした場合、1≦[ZrO2]/[NaF]≦50を満たすことを特徴とするガスシールドアーク溶接用フラックス入りワイヤ。
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