JP7058630B2 - 磁気センサ装置 - Google Patents
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Description
を備え、前記第1方向に沿って見たときに、前記磁界変換部は、前記第1方向及び前記第2方向の双方に直交する第3方向における長さが前記第2方向における長さよりも長い形状を有し、前記第1方向に沿って見たときに、前記磁気シールドは、前記磁界変換部及び前記磁界検出部と重なる位置に設けられており、前記磁気シールドは、第1磁気シールドと第2磁気シールドとを含み、前記第1方向における前記第1磁気シールドと前記第2磁気シールドとの間に、前記磁界変換部及び前記磁界検出部が設けられていることを特徴とする磁気センサ装置を提供する。
上記磁気センサ装置において、前記第1方向に沿って見たときに、前記磁気シールドは、前記第2方向における最大長さが前記第3方向における最大長さよりも短い形状を有していてもよく、複数の前記磁界変換部が、前記第2方向に沿って並列していてもよい。
なお、本実施形態に係る磁気センサ装置において、必要に応じ、いくつかの図面中、「X方向、Y方向及びZ方向」を規定している。ここで、X方向及びY方向は、本実施形態における基板104の第1面104A及び第2面104B(図2参照)と実質的に平行な平面内における互いに直交する方向であり、Z方向は、基板104の厚さ方向(基板104の第1面104A及び第2面104Bに直交する方向)である。
駆動装置は、光学式手振れ補正機構及びオートフォーカス機構の一部を構成する。駆動装置、光学式手振れ補正機構及びオートフォーカス機構は、カメラモジュール100の外部の制御部(図示を省略)によって制御される。
制御部によって第1コイル31及び第2コイル32に電流が印加されると、第1磁石21及び第2磁石22から発生される磁界と第1コイル31及び第2コイル32から発生される磁界との相互作用によって、第1磁石21及び第2磁石22が固定されている第1保持部材105は、Y方向に移動する。その結果、レンズ102もY方向に移動する。また、制御部によって第3コイル33及び第4コイル34に電流が印加されると、第3磁石23及び第4磁石24から発生される磁界と第3コイル33及び第4コイル34から発生される磁界との相互作用によって、第3磁石23及び第4磁石24が固定されている第1保持部材105は、X方向に移動する。その結果、レンズ102もX方向に移動する。制御部は、2つの磁気センサ10によって検出される第1磁石21及び第4磁石24の位置に対応する信号に基づいて、レンズ102の位置を検出する。
基板104に対するレンズ102の相対的な位置をZ方向に移動させる場合、制御部は、第1導体部351では+X方向に電流が流れるように、第2導体部352では-X方向に電流が流れるように、第5コイル35に電流を印加し、第1導体部361では-X方向に電流が流れるように、第2導体部362では+X方向に電流が流れるように、第6コイル36に電流を印加する。これらの電流と第1磁石21、第2磁石22、第5磁石25及び第6磁石26から発生される磁界とによって、第5コイル35の第1導体部351及び第2導体部352と第6コイル36の第1導体部361及び第2導体部362とに、Z方向のローレンツ力が作用する。これにより、第5コイル35及び第6コイル36が固定されている第2保持部材106は、Z方向に移動する。その結果、レンズ102もZ方向に移動する。なお、基板104に対するレンズ102の相対的な位置を-Z方向に移動させる場合には、制御部は、第5コイル35及び第6コイル36に、上述したZ方向にレンズ102を移動させる場合と逆方向の電流を印加させればよい。
本実施形態に係る磁気センサ装置は、第1コイル31の内側に配置されている磁気センサ10と、磁界発生部としての第1磁石21とを備える。また、本実施形態に係る磁気センサ装置は、第4コイル34の内側に配置されている磁気センサ10と、磁界発生部としての第4磁石24とを備える。以下、第1コイル31の内側に配置されている磁気センサ10と第1磁石21とを備える磁気センサ装置を例に挙げて説明するが、下記の説明は、第4コイル34の内側に配置されている磁気センサ10と第4磁石24とを備える磁気センサ装置にも当て嵌まることは言うまでもない。
複数のヨーク111は、第3方向としてのX方向の長さがY方向の長さよりも長い形状であって、例えばZ方向に沿って見たときに長方形状を有している。複数のヨーク111は、Z方向に沿って見たときに、それらの長手方向がX方向に平行となるように設けられていてもよく、Y方向に沿って並ぶように設けられていてもよい。本実施形態において、複数のヨーク111の形状、長手方向の長さ及び短手方向の長さは、互いに同一であるが、これらのうちの少なくとも一つが異なっていてもよい。また、各ヨーク111は、X方向において連続しているが、X方向において複数に分割されていてもよい。なお、Z方向に沿って見たときの各ヨーク111の形状としての長方形状は一例であって、この態様に限定されるものではない。例えば、Z方向に沿って見たときの各ヨーク111の形状は、4つの角が89~91°の四角形であってもよいし、4つの角が丸められた長方形であってもよい。
図6~図10に示す構成を有する磁気センサ10(Sample 1)を用い、第1磁石21と磁気センサ10との距離を、所定の位置から+Y方向及び-Y方向に変動させたときにおける磁気センサ10の出力の変動を、シミュレーションにより求めた。同様にして、当該磁気センサ10における磁気シールド13(第1磁気シールド131及び第2磁気シールド132)を有しないもの(Sample 2)を用い、磁気センサ10の出力の変動をシミュレーションにより求めた。結果を図17に示す。なお、図17において、グラフの横軸は、所定の位置からの+Y方向及び-Y方向における変動距離(D)を表し、縦軸は、磁気センサ10の出力(OP)を表している。横軸(D)におけるゼロは、上記所定の位置を表しており、縦軸(OP)は、第1磁石21と磁気センサ10との距離を変動させたときにおける磁気センサ10の出力と、その所定の位置での磁気センサ10の出力との差分を表している。また、Sample 1において、磁気センサ10に印加される第2磁界成分H2の磁場強度を、第1磁石21から発生する第2磁界成分H2の磁場強度の10%とし、Sample 2において、磁気センサ10に印加される第2磁界成分H2の磁場強度を、第1磁石21から発生する第2磁界成分H2の磁場強度の100%とした。さらに、Sample 1及びSample 2において、第1磁石21から発生する第1磁界成分H1の磁場強度を24.5mT(millitesla)とし、第3磁界成分H3の磁場強度を第1磁界成分H1の磁場強度の15%とし、磁気センサ10の感度を100(mV/V/deg)とした。
上記Sample 1の磁気センサ10において、第2磁界成分H2の磁界強度を増大させたときにおける磁気センサ10の感度の変化率(%)をシミュレーションにより求めた。また、Sample 1の磁気センサ10において、磁界変換部11(ヨーク111)の長手方向をX方向からY方向に変更し、Z方向に沿って見たときに磁界変換部11(ヨーク111)の短手方向における両側(+X側及び-X側)に磁界検出部12(磁気抵抗効果素子120)を配置した磁気センサ(Sample 3)についても、同様にして磁気センサの感度の変化率(%)をシミュレーションにより求めた。なお、感度の変化率(%)は、第2磁界成分H2を印加していないとき(第2磁界成分H2の磁界強度が0mT(millitesla)のとき)の感度に対し、第2磁界成分H2の磁界強度を増大させたときの感度の差分の百分率として求められ得る。その結果、Sample 1においては、第2磁界成分H2の磁界強度が10mTであるときにおける感度の変化率が0.6%であった。一方、Sample 3においては、第2磁界成分H2の磁界強度が10mTであるときにおける感度の変化率が2.7%であった。このことから、本実施形態に係る磁気センサ10によれば、第2磁界成分H2に起因した感度の低下をより抑制可能であることが確認された。
11…磁界変換部
111…ヨーク
12…磁界検出部
120…磁気抵抗効果素子
13…磁気シールド
131…第1磁気シールド
132…第2磁気シールド
Claims (7)
- 第1方向に沿って入力される入力磁界を受けて、前記第1方向に直交する第2方向に沿って出力磁界を出力する磁界変換部と、
前記出力磁界が印加され得る位置に設けられている磁界検出部と、
前記第2方向に沿った外部磁界を遮蔽する磁気シールドと
を備え、
前記第1方向に沿って見たときに、前記磁界変換部は、前記第1方向及び前記第2方向の双方に直交する第3方向における長さが前記第2方向における長さよりも長い形状を有し、
前記第1方向に沿って見たときに、前記磁気シールドは、前記磁界変換部及び前記磁界検出部と重なる位置に設けられており、
前記磁気シールドは、第1磁気シールドと第2磁気シールドとを含み、
前記第1方向における前記第1磁気シールドと前記第2磁気シールドとの間に、前記磁界変換部及び前記磁界検出部が設けられていることを特徴とする磁気センサ装置。 - 前記第1方向に沿って見たときに、前記磁気シールドは、前記第2方向における最大長さが前記第3方向における最大長さよりも短い形状を有することを特徴とする請求項1に記載の磁気センサ装置。
- 複数の前記磁界変換部が、前記第2方向に沿って並列していることを特徴とする請求項1又は2に記載の磁気センサ装置。
- 複数の前記磁界検出部を備え、
前記第1方向に沿って見たときに、前記複数の磁界検出部は、前記磁界変換部の短手方向の中心を通る軸線であって、前記磁界変換部の長手方向に沿った前記軸線を中心とする線対称の位置に設けられている請求項1~3のいずれかに記載の磁気センサ装置。 - 前記磁界検出部は、磁気抵抗効果素子を含み、
前記磁気抵抗効果素子は、前記第2方向に磁化が固定されている磁化固定層と、印加される前記出力磁界に応じて磁化方向が変化する磁化自由層とを有することを特徴とする請求項1~4のいずれかに記載の磁気センサ装置。 - 前記磁界検出部は、複数の前記磁気抵抗効果素子を含み、
すべての前記磁気抵抗効果素子の前記磁化固定層の磁化は、略同一方向に固定されていることを特徴とする請求項5に記載の磁気センサ装置。 - 前記磁界検出部は、TMR素子又はGMR素子を含むことを特徴とする請求項1~6のいずれかに記載の磁気センサ装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019181747A JP7058630B2 (ja) | 2019-10-01 | 2019-10-01 | 磁気センサ装置 |
CN202010391769.6A CN112596007B (zh) | 2019-10-01 | 2020-05-11 | 磁传感器装置 |
US16/877,801 US11175357B2 (en) | 2019-10-01 | 2020-05-19 | Magnetic sensor device |
US17/470,031 US11493570B2 (en) | 2019-10-01 | 2021-09-09 | Magnetic sensor device |
JP2022065642A JP7279834B2 (ja) | 2019-10-01 | 2022-04-12 | 磁気センサ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019181747A JP7058630B2 (ja) | 2019-10-01 | 2019-10-01 | 磁気センサ装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022065642A Division JP7279834B2 (ja) | 2019-10-01 | 2022-04-12 | 磁気センサ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021056170A JP2021056170A (ja) | 2021-04-08 |
JP7058630B2 true JP7058630B2 (ja) | 2022-04-22 |
Family
ID=75163141
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019181747A Active JP7058630B2 (ja) | 2019-10-01 | 2019-10-01 | 磁気センサ装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11175357B2 (ja) |
JP (1) | JP7058630B2 (ja) |
CN (1) | CN112596007B (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN115735097A (zh) * | 2020-07-03 | 2023-03-03 | 株式会社村田制作所 | 位置检测装置 |
JP7284201B2 (ja) | 2021-02-12 | 2023-05-30 | Tdk株式会社 | 磁気センサ、位置検出装置及び電子機器 |
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JP2017167021A (ja) | 2016-03-17 | 2017-09-21 | Tdk株式会社 | 磁気センサ |
JP2018072026A (ja) | 2016-10-25 | 2018-05-10 | Tdk株式会社 | 磁場検出装置 |
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JP6321323B2 (ja) * | 2013-03-21 | 2018-05-09 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 磁気センサ |
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-
2019
- 2019-10-01 JP JP2019181747A patent/JP7058630B2/ja active Active
-
2020
- 2020-05-11 CN CN202010391769.6A patent/CN112596007B/zh active Active
- 2020-05-19 US US16/877,801 patent/US11175357B2/en active Active
-
2021
- 2021-09-09 US US17/470,031 patent/US11493570B2/en active Active
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JP2018072026A (ja) | 2016-10-25 | 2018-05-10 | Tdk株式会社 | 磁場検出装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20210405133A1 (en) | 2021-12-30 |
JP2021056170A (ja) | 2021-04-08 |
US11493570B2 (en) | 2022-11-08 |
CN112596007B (zh) | 2023-08-01 |
US20210096194A1 (en) | 2021-04-01 |
US11175357B2 (en) | 2021-11-16 |
CN112596007A (zh) | 2021-04-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200528 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200929 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210811 |
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