JP7019975B2 - 位置合わせ方法、位置合わせ装置およびプログラム - Google Patents

位置合わせ方法、位置合わせ装置およびプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP7019975B2
JP7019975B2 JP2017120999A JP2017120999A JP7019975B2 JP 7019975 B2 JP7019975 B2 JP 7019975B2 JP 2017120999 A JP2017120999 A JP 2017120999A JP 2017120999 A JP2017120999 A JP 2017120999A JP 7019975 B2 JP7019975 B2 JP 7019975B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
alignment
cost function
coordinates
minimization
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017120999A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019008007A (ja
Inventor
定繁 石田
透 藤井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2017120999A priority Critical patent/JP7019975B2/ja
Publication of JP2019008007A publication Critical patent/JP2019008007A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7019975B2 publication Critical patent/JP7019975B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、位置合わせ方法、位置合わせ装置およびプログラムに関する。
マスクのアライメントマークの座標とウエハのアライメントマークの座標について最小二乗法を用いることにより、マスクとウエハの位置合わせをするものがある(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1 特開2005-203386
本発明の第1の態様においては、第1の対象物と第2の対象物とを位置合わせする位置合わせ方法であって、第1の対象物の複数の点の座標および第2の対象物の複数の点の座標の変換に用いる行列を変数として含み、値の大きさが位置合わせの程度を示すコスト関数を決定するステップと、コスト関数により算出される値を最小化するための変数の調整を繰り返し行う最小化ステップと、最小化ステップにより調整された変数に基づき、位置合わせ量を特定する位置合わせ量特定ステップと、を備える。
本発明の第2の態様においては、 第1の対象物と第2の対象物とを位置合わせする位置合わせ装置であって、第1の対象物の複数の点の座標および第2の対象物の複数の点の座標の変換に用いる行列を変数として含み、値の大きさが位置合わせの程度を示すコスト関数を決定する関数設定部と、コスト関数により算出される値を最小化するための変数の調整を繰り返し行う最小化部と、最小化部により調整された変数に基づき、位置合わせ量を特定する位置合わせ量特定部と、を備える。
本発明の第3の態様においては、第1の対象物と第2の対象物とを位置合わせする位置合わせ装置を制御するコンピュータのプログラムであって、第1の対象物の複数の点の座標および第2の対象物の複数の点の座標の変換に用いる行列を変数として含み、値の大きさが位置合わせの程度を示すコスト関数を決定する決定手順と、コスト関数により算出される値を最小化するための変数の調整を繰り返し行う最小化手順と、最小化手順により調整された変換に基づき、位置合わせ量を特定する位置合わせ量特定手順と、をコンピュータに実行させる。
上記の発明の概要は、本発明の特徴の全てを列挙したものではない。これらの特徴群のサブコンビネーションも発明となりうる。
本実施形態にかかる位置合わせ装置10の機能ブロックを示す。 図2は、第1の対象物の一例としての基板210を概略的に示す。 位置合わせ装置10の動作(S20)の一例を示すフローチャートである。 図3の最小化ステップ(S103)の詳細を示すフローチャートである。 別例の動作(S20)を示すフローチャートである。 積層装置300の概略図である。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、本実施形態にかかる位置合わせ装置10の機能ブロックを示す。位置合わせ装置10は、第1の対象物と第2の対象物とを位置合わせする位置合わせ量を特定する。
位置合わせ装置10は、第1の対象物の複数の点の座標および第2の対象物の複数の点の座標を格納する座標格納部100を有する。位置合わせ装置10はさらに、位置合わせに関するコスト関数を格納する関数格納部110を有する。
さらに、位置合わせ装置10は、目的に合ったコスト関数を関数格納部110から読み出して設定する関数設定部120と、コスト関数を最小化するための最小化部130と、終了条件が満たされるまで最小化部130によりコスト関数を最小化する工程を行ったときの変換行列から、位置合わせ量を特定する位置合わせ量特定部150と、位置合わせ量特定部150で特定された位置合わせ量を格納する位置合わせ量格納部160とをさらに備える。最小化部130は、コスト関数の最小化において、凸最適化法を用いてよい。ここで、凸最適化法は、コスト関数が凸集合における凸関数である場合に、当該コスト関数の局所的な最小値を求める手法であり、当該局所的な最小値が大域的にも最小値であることが保証される方法である。凸最適化法には、Nelder-Mead法、内点法、バンドル法等などが具体例として含まれる。
図2は、第1の対象物の一例としての基板210を概略的に示す。基板210は、ノッチ214と、複数の回路領域216および複数のアライメントマーク218とを有する。
回路領域216は、基板210の表面に、基板210の面方向に周期的に配される。回路領域216の各々には、フォトリソグラフィ技術等より形成された半導体装置、配線、保護膜等が設けられる。回路領域216には、基板210を他の基板210、リードフレーム等に電気的に接続する場合に接続端子となるパッド、バンプ等の接続部を含む構造物も配される。
アライメントマーク218は、基板210の表面に形成された構造物の一例であり、回路領域216相互の間に配されたスクライブライン212上に配される。また、例えばアライメントマーク218が十字であるときは、アライメントマーク218の座標は十字の交差点の座標とする。なお、第2の対象物の一例も基板210と同様の基板とする。
本実施形態において、位置合わせ装置10は、基板210の複数のアライメントマーク218のそれぞれを、他の基板210において対応するアライメントマークに位置合わせするための位置合わせ量を算出する。ここで、基板210の複数のアライメントマーク218と他の基板210の複数のアライメントマーク218とがそれぞれ設計した位置にあれば、位置合わせ量が一意に決まり、その位置合わせ量によって互いのアライメントマーク218は完全に位置合わせされる。
しかしながら、アライメントマーク218を形成するときの露光時の位置ずれ、その後の基板210の変形等により、アライメントマーク218は設計した位置からずれることがある。この場合に、目的に合わせた位置合わせ量で、基板210の複数のアライメントマーク218のそれぞれを、他の基板210において対応するアライメントマーク218に位置合わせすることが好ましい。
位置合わせの目的に応じて、どのような位置合わせが適しているかが異なる。例えば、複数の点の座標同士を位置合わせする位置合わせ量を算出する方法として、最小二乗法が考えられる。最小二乗法は、一方の基板210のアライメントマークの座標をxとし、他方の基板210のアライメントマーク218の座標をyと表したときに下記数式1で表される二乗和を最小にする変換行列Aを解析的に算出する方法である。ここで、xはx座標値およびy座標値を有し、同様にyはx座標値およびy座標値を有し、nは互いに対応するアライメントマーク218の番号であり、Iは当該番号の集合である。
Figure 0007019975000001
上記最小二乗法は解が解析的に求まる、すなわち反復的な数値計算が不要であるという点で有利である。しかしながら、最小二乗法による変換行列Aが、位置合わせの目的に対していつも適切な解であるとは限られない。例えば、一対の基板210を貼り合せて積層半導体装置を製造する場合においては、一対の基板を貼り合せたときに、回路領域216同士のずれ幅が閾値を超えるものは不良品となる。よって、回路領域216同士のずれ幅が閾値を超えるものの個数を少なくすることが好ましい。回路領域216同士のずれ幅が閾値を超えるものの個数を少なくするという目的に対して最小二乗法の解による位置合わせが適切とは限らず、むしろ例えば下記のような位置合わせが適している。
1.アライメントマーク218の各組の位置ずれ量のうちの最大値を、最小にする。すなわち、ある位置合わせ状態における、アライメントマーク218の各組の位置ずれ量のうちの最も位置ずれが大きいものの位置ずれ量と、他の位置合わせ状態における、アライメントマーク218の各組の位置ずれ量のうちの最も位置ずれが大きいものの位置ずれ量とを比較し、小さい方の位置合わせを採用する。
2.貼り合せ後の位置ずれ量が閾値を超えるアライメントマーク218の組の数を最小にする。
なお、この場合の「閾値」とは、一対の基板の貼り合わせが完了したときに、基板間に電気的な導通が可能となるずれ量であってもよく、基板にそれぞれ設けられた構造物同士が少なくとも一部で接触するときのずれ量であってもよい。また、一対の基板の貼り合せ過程で生じる歪みを貼り合せ前に予め対処する場合、すなわち、貼り合せ完了時にその歪みによる位置ずれが補正されるように基板の少なくとも一方を貼り合せ前に変形させる場合は、一方の基板が変形した状態での位置を基準に閾値が設定されてもよい。
本実施形態では、位置合わせの目的に合せたコスト関数を設定し、当該コスト関数を最小化することで目的に合せた位置合わせ量の解を得る。コスト関数は、一対の基板210のそれぞれの複数の点の座標と、それらの変換行列とを、パラメータとして含む。コスト関数の値の大きさは、位置合わせの程度を示す。すなわち、コスト関数の値が小さいほど、目的に合った位置合わせがより正確に行われていることを示す。言い換えると、コスト関数の値の大きさは、目的に合った位置合わせの精度すなわち最大の位置ずれ量や、位置合わせ具合を示しているとも言える。位置合わせの目的と、当該目的に合せたコスト関数との組み合わせとして、下記の例が挙げられる。
<組み合わせ例1>
位置合わせの目的:アライメントマーク218の各組の位置ずれ量のうちの最大値を、最小にする。
コスト関数:下記数式2。数式2のコスト関数E(A)は、アライメントマーク218の座標x 、x を変数とし、変換行列Aをパラメータとして含む。ここで、x は一方の基板のn番目のアライメントマークの座標を示し、x は他方の基板の、対応するアライメントマークであるn番目のアライメントマークの座標を示す。また、maxは最大値であって、数式2はIに属するnにおける2乗ノルムの最大値を表している。
Figure 0007019975000002
<組み合わせ例2>
位置合わせの目的:貼り合せ後の位置ずれ量が閾値を超えるアライメントマーク218の組の数を最小にする。
コスト関数:下記数式3。数式3のコスト関数E(A)は、アライメントマーク218の座標x 、x を変数とし、変換行列Aをパラメータとして含む。また、Cardは個数を示し、s.t.は条件を示す。よって、数式3は、Iに属するnにおける2乗ノルムが条件を満たす座標の組の個数を表している。
Figure 0007019975000003
いずれのコスト関数においても、変換行列A、Aは、位置合わせの自由度として許容されるものに応じた制限を有する。位置合わせの自由度とは、線形変換、平行移動、二次以上の変換など、実際に位置合わせをするときに位置合わせ装置で用い得る変換をいう。例えば、位置合わせの自由度として、拡大縮小、せん断変形、回転及び平行移動が考えられる。これら拡大縮小、せん断変形、回転及び平行移動を含む変換行列A、Aはアフィン変換で表すことでき、計算上はアフィン行列として取り扱うことができる。以降の説明において特に断らない限り、変換行列A、Aはアフィン変換であるとする。
コスト関数はユーザにより入力されてもよいし、予め関数格納部110に格納されてユーザの指示により、または、関数設定部120が自動で関数格納部110から呼び出してもよい。関数格納部110には複数のコスト関数が格納されていてもよい。
図3は位置合わせ装置10の動作(S10)の一例を示すフローチャートである。なお、動作(S10)に先立って、一方の基板210の複数のアライメントマーク218の座標x 、および、他方の基板210の複数のアライメントマーク218の座標x 、は予め座標格納部100に格納されているとする。
関数設定部120は、位置合わせの目的に合せたコスト関数を設定する(S101)。以下、ステップS101においてコスト関数として数式2が設定された例を説明する。次のステップS103において、最小化部130はコスト関数E(A)を最小化する。ステップS103の詳細は図4を用いて説明する。
位置合わせ量特定部150は、ステップS103でコスト関数Eが最小化されたときの変換行列Aminから、位置合わせ量を特定して位置合わせ量格納部160に格納し(S150)、動作(S10)を終了する。位置合わせ量の特定の詳細についても、図4でステップS103を説明した後に詳細に説明する。
図4は、図3の最小化ステップ(S103)の詳細を示すフローチャートである。まず最小化部130は、コスト関数E(A)に対する変換行列Aの初期値Ainitおよび暫定解Atempを設定する(S111)。本実施形態では、下記数式4を用いた最小二乗法によりアフィン変換Aを計算し、初期値Ainitおよび暫定解AtempをAとする。ここでAvはベクトル空間V上の線形変換全てを表す。
Figure 0007019975000004
最小化部130は、初期値Ainitを用いてコスト関数E(A)を凸最適化手法で最小化する(S113)。本実施形態においては凸最適化手法としてNelder-Mead法(滑降シンプレックス法とも呼ばれる)を用いる。数式2のコスト関数E(A)は微分不可能なので、微分を用いないNelder-Mead法が適している。ステップS113において、最小化部130は初期値Ainitを用いて、変数である変換行列Aを調整することにより、コスト関数E(A)を最小化したときの解Alocalを特定しておく。
最小化部130は、ステップS113で特定された解Alocalを用いて暫定解Atempを更新する(S115)。この場合に、最小化部130は、暫定解Atempを用いたコスト関数E(Atemp)と、解Alocalを用いたコスト関数E(Alocal)を計算する。さらに、最小化部130はE(Atemp)>E(Alocal)であれば暫定解AtempをAlocalに更新し、それ以外の場合は暫定解Atempを更新しない。
最小化部130は、最小化の終了条件を満たしているか否かを判断する(S117)。本実施形態では終了条件は、ステップS113およびS115の繰り返し回数kが予め定められた値、例えば20回に達したこととする。最小化部130は、終了条件を満たしていない場合(S117:No)、ステップS119に進む。
ステップS119で、最小化部130は次の計算のための初期値を選択する(S119)。本実施形態において、最小化部130は暫定解Atempを平均とするAv上の正規分布に従う変数Angbrを生成し、初期値AinitをAngbrに更新する。これにより新たな初期値Ainitが確率的に設定される。次に、ステップS113に戻って、ステップS113およびS115を繰り返す。
最小化部130は、終了条件を満たしている場合(S117:Yes)、最後に更新された暫定解Atempを、コスト関数Eが最小化されたときの変換行列Aminとして位置合わせ量特定部150に受け渡して、図3のステップS107へ戻る。ステップS107において変換行列Aminに基づいて位置合わせ量が特定される。
変換行列Aminはアフィン変換であるので、ステップS107において、位置合わせ量特定部150は、当該変換行列Aminから、拡大縮小、せん断変形、回転及び平行移動の位置合わせ量を特定する。ここで、変換行列Aが下記数式5のように特定されたとし(ただし行列の各要素は実数)、拡大縮小、せん断変形、回転、平行移動の順で位置合わせがされるものとする。位置合わせ量は上記各位置合わせの順序に依存するので、当該順序は予め指定されていることが好ましいが、位置合わせ量の特定に先立って適宜変更することができてもよい。
Figure 0007019975000005
まず、最後の位置合わせである平行移動は下記数式6のように行列表示される。
Figure 0007019975000006
次に、平行移動のひとつ前の位置合わせである回転は、QR分解を用いて特定することができる。QR分解は任意の行列Bに対してB=QRとなるような直交行列Qと上三角行列Rを算出することである。そこで、数式5の行列Aの3行目と3列目を除いた行例A(下記数式7)をQR分解する。
Figure 0007019975000007
上記AsをQR分解したときの、Q(下記数式8)が回転を表す行列となっている。
Figure 0007019975000008
上記QR分解における上三角行列Rは下記数式9のように分解できる。
Figure 0007019975000009
ここで分解された左側の行列がせん断変形K,右側の行列が拡大縮小Sである。以上によりアフィン変換を表すアフィン行列から、拡大縮小S、せん断変形K、回転Qおよび平行移動Tの各位置合わせ量が特定される。
以上、本実施形態によれば、位置合わせの目的に適したコスト関数を用いるので、位置合わせの目的に適した位置合わせ量を算出することができる。特に、凸最適化手法を用いるので簡便に最小化の計算をすることができる。
ただし、数式2のコスト関数Eは凸関数ではないので、Nelder-Mead法を用いた場合に、求めたい最小値(すなわちグローバルミニマム)ではなく極小値(ローカルミニマム)に収束してしまうおそれがある。これに対し、繰り返し計算における次の初期値Ainitを正規分布に従って確率的に選択するので、コスト関数のグローバルミニマムを適切に算出することができる。さらに、数式2のグローバルミニマムの近くに最小二乗法の解が存在することが数学的に示されているから、最小二乗法の解を最初の暫定解として計算を始めることで、より早くグローバルミニマムに到達することができる。本実施例では、上記数式4を用いた最小二乗法により求めたAを最初の暫定解Atempとしたが、これに代えて、ステップS113で特定された解Alocalを最初の暫定解Atempとしてもよい。
図5は、位置合わせ装置10の他の動作(S20)を示すフローチャートである。図5の動作(S20)において、位置合わせ装置10は位置合わせの目的に対応したコスト関数を図3および図4のように最小化することに代えて、他の複数のコスト関数を最小化したときのそれぞれの変換行列を用いて目的のコスト関数に適した変換行列を特定する。
以下の説明において、上記の位置合わせの目的およびコスト関数の<組み合わせ例2>の場合、すなわち、目的のコスト関数が数式3で与えられる場合を例に説明する。また、動作(S20)の動作に先立って、一方の基板210の複数のアライメントマーク218の座標x 、および、他方の基板210の複数のアライメントマーク218の座標x 、は予め座標格納部100に格納されているとする。
関数設定部120は、目的のコスト関数Eと複数の暫定のコスト関数E、E、・・・(Eとも記す)を設定する(S201)。目的のコスト関数Eは、位置合わせの目的に合ったコスト関数であり、上記の通り本実施形態では数式3で与えられる。
一方、暫定のコスト関数Eは目的のコスト関数Eとは異なるが、位置合わせに関するコスト関数である。暫定のコスト関数Eは、図4の最小化ステップS103の計算が容易であるものが好ましい。計算が容易である例として、計算のステップ数が少ないこと、計算時間短いこと、などが挙げられる。暫定のコスト関数Eは数個から10個程度設定されることが好ましい。本実施形態において暫定のコスト関数Eの例は、d乗ノルム(dは正の整数で、例えば、2、4、6の三つ)、数式2等である。
次に、関数設定部120は、ステップS201で設定された複数の暫定のコスト関数E、E、・・・のうち、最小化する暫定のコスト関数Eを一つ選択する(S203)。最小化部130は、図4で説明した方法で暫定のコスト関数Eを最小化する(S103)。
最小化部130は、最小化ステップ(S103)を、ステップS201で設定した全ての暫定のコスト関数E、E、・・・について実行する(S207)。その結果、暫定のコスト関数Eを最小化する変換行列Aが特定される。ここで、複数の暫定のコスト関数E、E、・・・について最小化したことに対応して、対応する複数の変換行列A、A、・・・が特定される。
全ての暫定のコスト関数E、E、・・・について最小化ステップ(S103)が実行された場合に(S207:Yes)、最小化部130はさらに、複数の変換行列A、A、・・・を用いて、目的のコスト関数Eを計算する(S209)。すなわち、最小化部130は、E(A)、E(A)、・・・を計算する。
最小化部130は、複数の変換行列A、A、・・・のうちで、コスト関数Eの計算値が最も小さくなった変換行列Aminを特定する(S211)。位置合わせ量特定部150は、図3のステップS107と同様に、変換行列Aminを用いて位置合わせ量を特定する(S213)。これにより図5の動作(S20)が終了する。
以上、図5の実施形態によれば、複数の暫定のコスト関数の最小化を利用して目的のコスト関数に適した変換行列を特定するので、目的のコスト関数を直接的に最小化しなくても、位置合わせの目的に適した変換行列を特定することができる。それにより、位置合わせの目的に適した位置合わせ量を特定することができる。
図6は、位置合わせ装置10を利用した積層装置300の概略図である。積層装置300において、第1および第2の対象物としての図2の基板210と同様の基板211、213が貼り合される。
積層装置300は、枠体310、固定ステージ322、移動ステージ332および制御部350を備える。制御部350は、積層装置300の各動作を制御する。枠体310は、床面301に対して平行な底板312および天板316と、床板に対して垂直な複数の支柱314とを有する。
天板316の図中下面に下向きに固定された固定ステージ322は、真空チャック、静電チャック等の保持機能を有する。固定ステージ322には基板ホルダ221と共に基板211が保持されている。
天板316の下面には、顕微鏡324が固定されている。顕微鏡324は、移動ステージ332上の基板213の上面を観察する。
移動ステージ332は、固定ステージ322に対向して配置されている。移動ステージ332は、図中に矢印Yで示す方向に移動するY方向駆動部333上に搭載される。Y方向駆動部333は、底板312上に配されたX方向駆動部331に重ねられている。X方向駆動部331は、底板312と平行に、図中に矢印Xで示す方向に移動する。これにより、移動ステージ332は、X-Y方向に二次元的に移動できる。図示の移動ステージ332には、基板ホルダ223に保持された基板213が保持されている。
移動ステージ332は、矢印Zで示す方向に昇降するZ方向駆動部335によりY方向駆動部333に対して昇降する。さらに、移動ステージ332は、底板312に対して垂直な回転軸の回りθzに回転可能である。
Y方向駆動部333には、顕微鏡334が移動ステージ332の側方に更に搭載される。顕微鏡334は、固定ステージ322に保持された下向きの基板211の下面を観察する。
基板ホルダ223は保持面に複数のアクチュエータを有し、保持した基板213を拡大または縮小したり、せん断変形させることができるようになっている。
積層装置300において、顕微鏡324を用いて基板213の複数のアライメントマークの座標x を特定し、位置合わせ装置10の座標格納部100に格納する。さらに、顕微鏡334を用いて基板211の複数のアライメントマークの座標x を特定し、位置合わせ装置10の座標格納部100に格納する。複数のアライメントマークの座標x 及びx は、積層装置300外の測定部で予め測定されてもよい。この場合、測定部から積層装置300に複数のアライメントマークの座標x 及びx を示す座標情報が送信される。
位置合わせ装置10は、図3から図5で説明した方法によって位置合わせの目的に合せた位置合わせ量を特定して位置合わせ量格納部160に格納する。図3のステップ107で説明した通り、位置合わせ量として、平行移動の量(すなわちX方向の移動量およびY方向の移動量)、面内回転θzの量、拡大または縮小の量、および、せん断変形の量が特定される。
制御部350は、位置合わせ量格納部160からX方向の移動量を読み出して、X方向駆動部331を駆動してY方向駆動部333をX方向に駆動する。制御部350は、位置合わせ量格納部160からY方向の移動量を読み出して、Y方向駆動部33を駆動して、移動ステージ332をY方向に駆動する。制御部350は、位置合わせ量格納部160から面内回転θzの量を読み出し、移動ステージ332を回転する。
さらに、制御部350は、位置合わせ量格納部160から拡大または縮小の量、および、せん断変形の量を読み出して、基板ホルダ223または移動ステージ332に設けられた複数のアクチュエータを駆動することにより、または、球面もしくは局所的に凹凸形状をなした保持面を有する基板ホルダ223に基板213を保持することにより、基板213を拡大または縮小、および、せん断変形する。これらにより、基板211と基板213とが、位置合わせの目的に応じて位置合わせされる。
基板211と基板213とが位置合わせされた状態で、Z方向駆動部335により移動ステージ332を上昇させ、基板211と基板213とを接合する。これにより、基板211、213による積層体230が形成される。
ここで、基板211と基板213とは、プラズマ等により接合面を活性化してから親水化することで、基板211と基板213との活性面同士の分子間力で、室温で接合されてもよい。これに代えてまたはこれに加えて、基板211と基板213とを加熱、加圧またはその両方の処理をしてもよい。基板211と基板213とを加熱、加圧またはその両方の処理をして接合する場合には、活性化および親水化を省略してもよい。
以上、本実施形態によれば、位置合わせの目的およびそのコスト関数として、基板の回路領域同士のずれ幅が閾値を超えるものの個数を少なくするようなものを設定することにより、基板を貼り合せたときに、回路領域同士のずれ幅が閾値を超えた不良品の数を減らして歩留りを向上することができる。
以下、図1から図6を用いて説明した実施形態の変形例について説明する。まず、関数設定部120により設定されるコスト関数は数式2および3に示したものに限られない。コスト関数の他の例として距離のd乗和(dは任意の正の整数)などが挙げられる。
また、最小化部130でのコスト関数の凸最適化手法はNelder-Mead法に限られない。コスト関数の凸最適化手法の他の例として黄金分割法などが挙げられる。
凸最適化手法は例えばコスト関数に対応付けて関数格納部110に予め格納されて、ステップS101、S203でコスト関数が特定されたときに凸最適化手法が関数格納部110から自動的に読み出される。これに代えて、ステップS101、S203でコスト関数が特定されたときにユーザが凸最適化手法を自由に設定できるようになっていてもよい。この場合に、例えば位置合わせ装置10の表示部に、関数格納部110に格納されている複数の凸最適化手法の名称等が表示されて、キーボード等の入力手段によりユーザの入力を受け付け、当該ユーザの入力に基づいて最小化部130が凸最適化法を設定する。
さらに、図5の複数の暫定のコスト関数を最小化する場合に、最小化部130は、いずれかのコスト関数で凸最適化手法を用い、他のコスト関数で凸最適化手法を用いなくてもよい。また、図5の最小化ステップ(S103)で暫定のコスト関数に凸最適化手法を用いる場合に、最小化部130は少なくともいずれかの暫定のコスト関数について複数の凸最適化手法を用いて、それぞれを最小化する変換行列を特定してもよい。この場合に最小化部130は、複数の凸最適化手法に対応して特定された複数の変換行列を用いて、ステップS209の目的のコスト関数を計算してもよい。さらに、特定の暫定のコスト関数について複数の凸最適化手法を用いる場合には、最小化部130は図5のステップS201からS207について、複数の暫定コスト関数を用いるのに代えて、当該特定の暫定のコスト関数ひとつを用いてもよい。
さらに、図5の動作(S20)では設定した複数の暫定のコスト関数の全てについて変換行列を特定してから目的のコスト関数を計算している。しかしながら、これに代えて、最小化部130は、複数の暫定のコスト関数に順序付けをしておき、暫定のコスト関数を最小化して変換行列が特定される毎に当該変換行列を用いて目的のコスト関数を計算し、予め定められた条件を満たしたら、それ以降の暫定のコスト関数の最小化を省略してもよい。予め定められた条件の例は、目的のコスト関数の値が予め定められた閾値以下となったことなどである。
また、図4のステップS111で最小二乗法により初期値を設定しているが、初期値の設定は他の方法を用いてもよい。例えば最小化部130は、d乗ノルムを最小にする変換、すなわち本実施例では、距離のd乗和(ただしdは1または3以上の任意の正の整数)を最小にする変換により、初期値を設定してもよい。
また、図4のステップS117の終了条件は繰り返しの回数であるが、終了条件はこれに限られない。終了条件の他の例は、収束の程度である。例えば最小化部130は、値が予め定められた範囲内に入る、または、繰り返しの前後における値の差が予め定められた範囲に入るか否かを終了条件にしてよい。また、繰り返し自体を省略してよい。
さらに、図4のステップ119の初期値の選択において、正規分布に従うように次の初期値を選択しているが、選択の方法はこれに限られない。例えば最小化部130は、そのときの暫定解を平均とする一様分布に従うように次の初期値を選択してもよい。また最小化部130は、すでに選択された初期値を含む予め定められた範囲の外となるよう選択してもよい。また最小化部130はMarkov Chain Monte Carlo法を用いてもよい。
また、本実施形態は、第1および第2の対象物を貼り合される一対の基板とし、それらのアライメントマーク同士の位置合わせを例に説明した。しかしながら、アライメントマーク同士の位置合わせに代えて、一対の基板の互いに接合される電極の位置合わせについて本実施形態が用いられてもよい。その場合に、電極の座標は実測位置でもよいし、または、アラインメントマークの実測位置から算出された座標であってもよい。
さらにまた、第1および第2の対象物は貼り合される一対の基板でなくてよい。例えば、第1および第2の対象物の例として、基板と当該基板を露光するマスクが挙げられる。また他の例として、第1および第2の対象物の少なくともが画像処理における画像であってもよい。また、第1および第2の対象物の座標はxyの二次元座標に限られず、三次元以上の座標であってもよい。また座標の値は実数のみならず複素数に拡張してもよい。また、本実施形態は座標変換としてアフィン変換を用いているが、位置合わせの自由度として二次以上の変換が可能である場合には座標変換をアフィン変換に限らなくてよい。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
10 位置合わせ装置、100 座標格納部、110 関数格納部、120 関数設定部、130 最小化部、150 位置合わせ量特定部、160 位置合わせ量格納部、210 基板、212 スクライブライン、214 ノッチ、216 回路領域、218 アライメントマーク、221、223 基板ホルダ、300 積層装置、301 床面、310 枠体、312 底板、314 支柱、316 天板、322 固定ステージ、324、334 顕微鏡、331 X方向駆動部、332 移動ステージ、333 Y方向駆動部、335 Z方向駆動部、350 制御部

Claims (13)

  1. 互いに貼り合わされる第1の基板と第2の基板とを位置合わせする位置合わせ方法であって、
    前記第1の基板の複数の点の座標および前記第2の基板の複数の点の座標を測定する測定ステップと、
    前記第1の基板の前記複数の点の座標および前記第2の基板の前記複数の点の座標の変換に用いる行列を変数として含み、値の大きさが前記第1の基板および前記第2の基板の間の位置合わせの程度を示すコスト関数を決定するステップと、
    前記コスト関数により算出される値を予め定められた終了条件まで最小化するための前記変数の調整を繰り返し行う最小化ステップと、
    前記最小化ステップにより調整された前記変数に基づき、位置合わせ量を特定する位置合わせ量特定ステップと、
    を備える位置合わせ方法。
  2. 前記コスト関数は、値の大きさが前記第1の基板および前記第2の基板の間の位置ずれ量に関連する請求項1に記載の位置合わせ方法。
  3. 前記コスト関数に対する、前記行列の初期値および暫定解を設定する関数設定ステップをさらに備え、
    前記最小化ステップは、前記変数の初期値および暫定解を用いて、前記コスト関数を予め定められた終了条件まで凸最適化手法で最小化する請求項1または2に記載の位置合わせ方法。
  4. 前記関数設定ステップは、最小二乗法、d乗ノルムを最小にする変換、または、確率的手法により、前記初期値を設定する請求項3に記載の位置合わせ方法。
  5. 前記最小化ステップは、予め定められた終了条件に基づいて、次の前記初期値を確率的に設定し、
    前記終了条件は、当該最小化ステップを所定回数繰り返すことを含む請求項3または4に記載の位置合わせ方法。
  6. 前記最小化ステップは、前記凸最適化手法として、Nelder-Mead法または黄金分割法を用いる請求項3から5のいずれか1項に記載の位置合わせ方法。
  7. 前記最小化ステップを、複数の互いに異なる前記コスト関数について実行し、
    前記最小化ステップによって特定された複数の行列を用いて、更に他のコスト関数を計算し、前記複数の行列のうち前記他のコスト関数の計算値が最も小さくなる行列を特定する請求項1から6のいずれか1項に記載の位置合わせ方法。
  8. 前記コスト関数は、前記第1の基板の複数の点の座標と、これに対応する前記第2の基板の複数の点の座標との組の距離の最大値、前記距離のd乗和(ただしdは任意の正の整数)、および、前記距離のうち予め定められた閾値を超える組の数、のいずれか一つを表す請求項1から7のいずれか1項に記載の位置合わせ方法。
  9. 前記行列による座標変換はアフィン変換であり、
    前記位置合わせ量特定ステップは、前記コスト関数が最小化されたときのアフィン変換から、前記位置合わせ量として、拡大縮小、せん断変形、回転、および、平行移動の量を特定する請求項1から8のいずれか1項に記載の位置合わせ方法。
  10. 前記第1の基板には、複数のマークが設けられており、前記第2の基板には、それぞれが前記第1の基板の前記複数のマークのそれぞれと組になる複数のマークが設けられており、
    前記コスト関数の値は、前記複数のマークの各組の位置ずれ量のうちの最大値である請求項1から9のいずれか一項に記載の位置合わせ方法。
  11. 前記第1の基板には、複数のマークが設けられており、前記第2の基板には、それぞれが前記第1の基板の前記複数のマークのそれぞれと組になる複数のマークが設けられており、
    前記コスト関数の値は、前記複数のマークの複数の組のうち、位置合わせ後の位置ずれ量が閾値を超える組の数である請求項1から9のいずれか一項に記載の位置合わせ方法。
  12. 互いに貼り合わされる第1の基板と第2の基板とを位置合わせする位置合わせ装置であって、
    前記第1の基板の複数の点の座標および前記第2の基板の複数の点の座標を測定する測定部と、
    前記第1の基板の前記複数の点の座標および前記第2の基板の前記複数の点の座標の変換に用いる行列を変数として含み、値の大きさが前記第1の基板および前記第2の基板の間の位置合わせの程度を示すコスト関数を決定する関数設定部と、
    前記コスト関数により算出される値を予め定められた終了条件まで最小化するための前記変数の調整を繰り返し行う最小化部と、
    前記最小化部により調整された前記変数に基づき、位置合わせ量を特定する位置合わせ量特定部と、
    を備える位置合わせ装置。
  13. 互いに貼り合わされる第1の基板と第2の基板とを位置合わせする位置合わせ装置を制御するコンピュータのプログラムであって、
    測定された前記第1の基板の複数の点の座標および前記第2の基板の複数の点の座標を取得する取得手順と、
    前記第1の基板の前記複数の点の座標および前記第2の基板の前記複数の点の座標の変換に用いる行列を変数として含み、値の大きさが前記第1の基板および前記第2の基板の間の位置合わせの程度を示すコスト関数を決定する決定手順と、
    前記コスト関数により算出される値を予め定められた終了条件まで最小化するための前記変数の調整を繰り返し行う最小化手順と、
    前記最小化手順により調整された前記変換に基づき、位置合わせ量を特定する位置合わせ量特定手順と、
    をコンピュータに実行させるプログラム。
JP2017120999A 2017-06-21 2017-06-21 位置合わせ方法、位置合わせ装置およびプログラム Active JP7019975B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017120999A JP7019975B2 (ja) 2017-06-21 2017-06-21 位置合わせ方法、位置合わせ装置およびプログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017120999A JP7019975B2 (ja) 2017-06-21 2017-06-21 位置合わせ方法、位置合わせ装置およびプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019008007A JP2019008007A (ja) 2019-01-17
JP7019975B2 true JP7019975B2 (ja) 2022-02-16

Family

ID=65028821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017120999A Active JP7019975B2 (ja) 2017-06-21 2017-06-21 位置合わせ方法、位置合わせ装置およびプログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7019975B2 (ja)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005274687A (ja) 2004-03-23 2005-10-06 Adtec Engineeng Co Ltd 露光装置及び位置合わせ方法
JP2006053951A (ja) 2000-11-13 2006-02-23 Sumitomo Heavy Ind Ltd 加工計画方法、装置、及び、加工方法、装置
JP2007300004A (ja) 2006-05-01 2007-11-15 Tokyo Univ Of Agriculture & Technology 露光装置および方法ならびにデバイス製造方法
US20120232686A1 (en) 2011-03-08 2012-09-13 International Business Machines Corporation Wafer alignment system with optical coherence tomography
JP2014127532A (ja) 2012-12-25 2014-07-07 Nikon Corp 基板処理装置
CN108573907A (zh) 2017-03-13 2018-09-25 台湾积体电路制造股份有限公司 工件接合装置、工件对位方法以及工件承载装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3303551B2 (ja) * 1994-08-22 2002-07-22 ソニー株式会社 半導体装置の露光方法におけるアライメント法
JPH1022190A (ja) * 1996-06-28 1998-01-23 Nikon Corp 露光装置における位置合わせ誤差補正方法および該方法を用いた露光装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006053951A (ja) 2000-11-13 2006-02-23 Sumitomo Heavy Ind Ltd 加工計画方法、装置、及び、加工方法、装置
JP2005274687A (ja) 2004-03-23 2005-10-06 Adtec Engineeng Co Ltd 露光装置及び位置合わせ方法
JP2007300004A (ja) 2006-05-01 2007-11-15 Tokyo Univ Of Agriculture & Technology 露光装置および方法ならびにデバイス製造方法
US20120232686A1 (en) 2011-03-08 2012-09-13 International Business Machines Corporation Wafer alignment system with optical coherence tomography
JP2014127532A (ja) 2012-12-25 2014-07-07 Nikon Corp 基板処理装置
CN108573907A (zh) 2017-03-13 2018-09-25 台湾积体电路制造股份有限公司 工件接合装置、工件对位方法以及工件承载装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2019008007A (ja) 2019-01-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10884345B2 (en) Calibration method for a lithographic apparatus
JP7067474B2 (ja) 積層基板製造方法、積層基板製造装置、積層基板製造システム、および基板処理装置
CN102540700B (zh) 操作图案形成装置的方法和光刻设备
US7902485B2 (en) Temperature setting method of thermal processing plate, temperature setting apparatus of thermal processing plate, program, and computer-readable recording medium recording program thereon
TWI633395B (zh) 校正圖案化製程誤差之方法與裝置
KR102611919B1 (ko) 기판 접합 장치, 산출 장치, 기판 접합 방법 및 산출 방법
CN104236407B (zh) 校正平台标尺的方法
KR102084026B1 (ko) 리소그래피 장치의 성능을 예측하는 방법, 리소그래피 장치의 캘리브레이션, 디바이스 제조 방법
JP7019975B2 (ja) 位置合わせ方法、位置合わせ装置およびプログラム
KR102528450B1 (ko) 패턴 배치 보정의 방법
JP2022526180A (ja) リソグラフィプロセスのサブフィールド制御および関連する装置
JP2006049755A (ja) 回転中心算出方法およびこの方法を用いたワーク位置決め装置
JP2008306140A (ja) ステージ装置及び露光装置並びに製造方法
KR20130058615A (ko) 주사 장치, 묘화 장치 및 물품의 제조 방법
CN107024185A (zh) 一种基底面型测量方法及测量装置
CN114530400A (zh) 操作装置与两个工件之间的分布式间距补偿方法
CN116880129A (zh) 自由形式畸变校正
KR102656249B1 (ko) 적층 기판의 제조 방법 및 제조 장치
JP3200372U (ja) マスクレスリソグラフィのためのデュアルステージ/デュアルチャック
US20140336977A1 (en) Moving body placement determining method, measuring apparatus, machining apparatus, and storage medium
KR101372745B1 (ko) 노광 장치, 노광 방법 및 디바이스의 제조 방법
JPH1197342A (ja) 位置合わせ方法
JP2016100366A (ja) リソグラフィ装置、及び物品の製造方法
KR20130042367A (ko) Xy 스테이지에 탑재된 측정장비의 위치보정방법
EP4285188A1 (en) Method for determining a focus actuation profile for one or more actuators of a lithographic exposure apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200117

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210107

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210119

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210318

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210720

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210819

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220104

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220117

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7019975

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150