JP6997324B2 - 半導体メモリに対するセンス線アーキテクチャのための装置及び方法 - Google Patents
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Description
Claims (19)
- 第1、第2、及び第3のセンス線部分を含み、前記第1、第2、及び第3のセンス線部分を通じて電気的に連続する第1のセンス線と、
第4、第5、及び第6のセンス線部分を含み、前記第4、第5、及び第6のセンス線部分を通じて電気的に連続する第2のセンス線であって、前記第1のセンス線部分は前記第4のセンス線部分の上方にあり、前記第6のセンス線部分は前記第3のセンス線部分の上方にある、前記第2のセンス線と、
前記第1のセンス線部分と前記第4のセンス線部分とに結合されたメモリセルを含む第1のアレイ領域と、
前記第1のアレイ領域から横方向に配置され、前記第3のセンス線部分と前記第6のセンス線部分とに結合されたメモリセルを含む第2のアレイ領域と、
前記第1及び第2のアレイ領域の間に配置されたアレイ間隙部と
を含み、
前記第1及び第4のセンス線部分は、前記第1のアレイ領域から前記アレイ間隙部中に伸長し、前記第3及び第6のセンス線部分は、前記第2のアレイ領域から前記アレイ間隙部中に伸長し、
前記第2のセンス線部分は、垂直方向コンポーネントを含み、前記アレイ間隙部内で前記第1のセンス線部分を前記第3のセンス線部分に結合し、前記第5のセンス線部分は、垂直方向コンポーネントを含み、前記第4のセンス線部分を前記第6のセンス線部分に結合し、
前記第1のアレイ領域は、前記第1のセンス線部分に結合された第1のメモリセルと、前記第4のセンス線部分に結合された第2のメモリセルとを含み、前記第1のメモリセル及び前記第2のメモリセルはセルプレートを共有し、
前記第1のメモリセルは前記第2のメモリセルの上方に配置され、前記第1及び第2のメモリセルは、前記第1のアレイ領域内で前記第1のセンス線部分と前記第4のセンス線部分との間に配置される、
装置。 - 前記第2のセンス線部分は、少なくとも1つの導電ビアを含み、前記第5のセンス線部分は、少なくとも1つの導電ビアを含む、請求項1に記載の装置。
- 前記第1及び第6のセンス線部分は、導電材料の第1の層から共に形成され、前記第4及び第3のセンス線部分は、導電材料の第2の層から共に形成される、請求項1に記載の装置。
- センスアンプと、
前記第1のセンス線を前記センスアンプに結合するように構成された第1の相互接続部と、
前記第2のセンス線を前記センスアンプに結合するように構成された第2の相互接続部と
を更に含み、
前記センスアンプ並びに第1及び第2の相互接続部は、前記第3及び第4のセンス線部分の導電層の下方に配置される、
請求項1に記載の装置。 - 第1、第2、及び第3のセンス線部分を含み、前記第1、第2、及び第3のセンス線部分を通じて電気的に連続する第1のセンス線と、
第4、第5、及び第6のセンス線部分を含み、前記第4、第5、及び第6のセンス線部分を通じて電気的に連続する第2のセンス線であって、前記第1のセンス線部分は前記第4のセンス線部分の上方にあり、前記第6のセンス線部分は前記第3のセンス線部分の上方にある、前記第2のセンス線と、
前記第1のセンス線部分と前記第4のセンス線部分とに結合されたメモリセルを含む第1のアレイ領域と、
前記第1のアレイ領域から横方向に配置され、前記第3のセンス線部分と前記第6のセンス線部分とに結合されたメモリセルを含む第2のアレイ領域と、
前記第1及び第2のアレイ領域の間に配置されたアレイ間隙部と
を含み、
前記第1及び第4のセンス線部分は、前記第1のアレイ領域から前記アレイ間隙部中に伸長し、前記第3及び第6のセンス線部分は、前記第2のアレイ領域から前記アレイ間隙部中に伸長し、
前記第2のセンス線部分は、垂直方向コンポーネントを含み、前記アレイ間隙部内で前記第1のセンス線部分を前記第3のセンス線部分に結合し、前記第5のセンス線部分は、垂直方向コンポーネントを含み、前記第4のセンス線部分を前記第6のセンス線部分に結合し、
第7、第8、及び第9のセンス線部分を含み、前記第7、第8、及び第9のセンス線部分を通じて電気的に連続する第3のセンス線と、
第10、第11、及び第12のセンス線部分を含み、前記第10、第11、及び第12のセンス線部分を通じて電気的に連続する第4のセンス線と
を更に含み、
前記第7のセンス線部分は前記第10のセンス線部分の上方にあり、前記第9のセンス線部分は前記第12のセンス線部分の上方にあり、
前記第3及び第4のセンス線は、前記第1及び第2のセンス線に横方向に隣接する、
装置。 - 前記第1及び第6のセンス線部分は、導電材料の第1の層から共に形成され、前記第4及び第3のセンス線部分は、導電材料の第2の層から共に形成され、
前記第7及び第9のセンス線部分は、導電材料の前記第1の層から形成され、
前記第10及び第12のセンス線部分は、導電材料の前記第2の層から形成される、
請求項5に記載の装置。 - 第1及び第2のアレイ領域を通じて、並びに前記第1及び第2のアレイ領域の間に配置されたアレイ間隙部を通じて電気的に連続するセンス線の複数の対と、
センス線の前記複数の対に結合され、前記第1及び第2のアレイ領域内に含まれる複数のメモリセルと
を含み、
センス線の前記複数の対の内の、センス線の少なくとも1つの対は、センス線の前記対の前記センス線を撚るための、前記アレイ間隙部内のセンス線部分であって、第1の導電層を前記第1の導電層の下方にある第2の導電層に結合するための垂直方向コンポーネントを有する、前記アレイ間隙部内の前記センス線部分を含み、
センス線の前記複数の対の内の、センス線の前記少なくとも1つの対は、センス線の前記複数の対の内の、センス線の他の2つの対の間に配置され、センス線の前記他の2つの対は、前記センス線を撚るための、前記アレイ間隙部内のセンス線部分を含まない、
装置。 - 第1及び第2のアレイ領域を通じて、並びに前記第1及び第2のアレイ領域の間に配置されたアレイ間隙部を通じて電気的に連続するセンス線の複数の対と、
センス線の前記複数の対に結合され、前記第1及び第2のアレイ領域内に含まれる複数のメモリセルと
を含み、
センス線の前記複数の対の内の、センス線の少なくとも1つの対は、センス線の前記対の前記センス線を撚るための、前記アレイ間隙部内のセンス線部分であって、第1の導電層を前記第1の導電層の下方にある第2の導電層に結合するための垂直方向コンポーネントを有する、前記アレイ間隙部内の前記センス線部分を含み、
センス線の前記複数の対の内の、センス線の前記少なくとも1つの対は、第1のセンス線及び第2のセンス線を含み、前記第1のセンス線はビアを含み、前記第2のセンス線は、前記第1のセンス線の一部分と長手方向に整列された第1の導電部分と、隣接するセンス線の一部分と長手方向に整列された第2の導電部分と、前記第1センス線の前記ビアの周囲で前記第2のセンス線を屈曲するように前記第1の導電部分を前記第2の導電部分と結合するための横方向コンポーネント有する第3の導電部分とを含み、
前記第1のセンス線は、前記ビアに結合され、及び前記第1のセンス線の前記ビアの周囲で前記第2のセンス線を屈曲するための横方向コンポーネントを有する前記第3の導電部分により提供される領域内に位置付けられた、導電層の不連続区域を含み、前記導電層の前記不連続区域は、前記第2のセンス線の前記第1の導電部分と長手方向に整列される、
装置。 - 第1及び第2のアレイ領域を通じて、並びに前記第1及び第2のアレイ領域の間に配置されたアレイ間隙部を通じて電気的に連続するセンス線の複数の対と、
センス線の前記複数の対に結合され、前記第1及び第2のアレイ領域内に含まれる複数のメモリセルと、
センス線の前記複数の対の下方に配置されたセンスアンプと、
センス線の前記複数の対の内の、センス線の前記少なくとも1つの対の第1のセンス線を前記センスアンプに結合するように構成された第1の相互接続部であって、前記第1の相互接続部は、
導電垂直方向構造体と、
導電層と
を含む、前記第1の相互接続部と、
センス線の前記複数の対の内の、センス線の前記少なくとも1つの対の第2のセンス線を前記センスアンプに結合するように構成された第2の相互接続部と
を含み、
センス線の前記複数の対の内の、センス線の少なくとも1つの対は、センス線の前記対の前記センス線を撚るための、前記アレイ間隙部内のセンス線部分であって、第1の導電層を前記第1の導電層の下方にある第2の導電層に結合するための垂直方向コンポーネントを有する、前記アレイ間隙部内の前記センス線部分を含む、
装置。 - 前記導電垂直方向構造体は導電ビアを含む、請求項9に記載の装置。
- 複数のセンス線の第1の部分及び第4の部分を含み、前記複数のセンス線の前記第1の部分及び前記第4の部分に結合されたメモリセルを更に含む第1のアレイ領域と、
前記複数のセンス線の第2の部分及び第5の部分を含み、前記複数のセンス線の前記第2及び第5の部分に結合されたメモリセルを更に含む第2のアレイ領域と、
前記第1及び第2のアレイ領域の間に配置され、前記複数のセンス線の第3の部分及び第6の部分を含み、何れのメモリセルも含まないアレイ間隙部であって、前記複数のセンス線の各第3の部分は、前記複数のセンス線の前記第1の部分と第2の部分とを結合するように構成された垂直方向コンポーネントを有する導電構造体を含み、前記複数のセンス線の各第6の部分は、前記複数のセンス線の前記第4の部分及び第5の部分に結合するように構成された垂直方向コンポーネントを有する導電構造体を含み、前記第3及び第6の部分は、前記第1及び第2のアレイ領域並びに前記アレイ間隙部を通じて電気的に連続するセンス線を提供するように構成される、前記アレイ間隙部と
を含み、
前記第1のアレイ領域は、前記複数のセンス線の前記第1の部分に結合された第1のメモリセルと、前記第4の部分に結合された第2のメモリセルとを含み、前記第1のメモリセル及び前記第2のメモリセルはセルプレートを共有し、前記第1のメモリセルは前記第2のメモリセルの上方に配置され、前記第1及び第2のメモリセルは、前記第1のアレイ領域内で前記複数のセンス線の前記第1の部分と前記第4の部分との間に配置される、
装置。 - 前記複数のセンス線の前記第1の部分は、第1の導電層から形成され、前記複数のセンス線の前記第2の部分は、前記第1の導電層の下方に配置された第2の導電層から形成される、請求項11に記載の装置。
- 前記第1のアレイ領域は、前記第2の導電層から形成された、第2の複数のセンス線の第1の部分を更に含み、前記第2のアレイ領域は、前記第1の導電層から形成された、前記第2の複数のセンス線の第2の部分を更に含み、前記アレイ間隙部は、前記第2の複数のセンス線の第3の部分を含み、前記第2の複数のセンス線の各第3の部分は、前記第1及び第2のアレイ領域並びに前記アレイ間隙部を通じて電気的に連続する第2の複数のセンス線を提供するために、前記第2の複数のセンス線の前記第1の部分と第2の部分とを結合するように構成された垂直方向コンポーネントを有する導電構造体を含む、請求項12に記載の装置。
- 前記第2の導電層の下方に、並びに前記第1又は第2のアレイ領域内に位置付けられた複数のセンスアンプを更に含む、請求項12に記載の装置。
- 複数の第1の相互接続部と、複数の第2の相互接続部とを更に含み、前記複数の第1の相互接続部の各々は、前記複数のセンス線の内の個別のセンス線を、前記複数のセンスアンプの内の個別の1つに結合し、前記複数の第2の相互接続部の各々は、前記第2の複数のセンス線の内の個別のセンス線を、前記複数のセンスアンプの内の個別の1つに結合する、請求項14に記載の装置。
- 前記複数の第1の相互接続部及び複数の第2の相互接続部は、前記第2の導電層の下方に形成される、請求項15に記載の装置。
- 前記複数の第1の相互接続部の各々は、前記複数のセンス線の内の前記個別のセンス線に結合された導電垂直方向構造体を含む、請求項16に記載の装置。
- 前記複数のセンス線の前記第3の部分は、複数の導電ビアを含む、請求項12に記載の装置。
- 前記導電ビアは、前記第1の導電層と前記第2の導電層との間に結合される、請求項18に記載の装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/857,327 US10607687B2 (en) | 2017-12-28 | 2017-12-28 | Apparatuses and methods for sense line architectures for semiconductor memories |
US15/857,327 | 2017-12-28 | ||
PCT/US2018/066558 WO2019133396A1 (en) | 2017-12-28 | 2018-12-19 | Apparatuses and methods for sense line architectures for semicondcutor memories |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021508950A JP2021508950A (ja) | 2021-03-11 |
JP6997324B2 true JP6997324B2 (ja) | 2022-01-17 |
Family
ID=67058430
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020536240A Active JP6997324B2 (ja) | 2017-12-28 | 2018-12-19 | 半導体メモリに対するセンス線アーキテクチャのための装置及び方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US10607687B2 (ja) |
EP (1) | EP3732684A4 (ja) |
JP (1) | JP6997324B2 (ja) |
KR (1) | KR102447733B1 (ja) |
CN (1) | CN111512377B (ja) |
WO (1) | WO2019133396A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
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- 2017-12-28 US US15/857,327 patent/US10607687B2/en active Active
-
2018
- 2018-12-19 WO PCT/US2018/066558 patent/WO2019133396A1/en unknown
- 2018-12-19 KR KR1020207020688A patent/KR102447733B1/ko active IP Right Grant
- 2018-12-19 CN CN201880082461.4A patent/CN111512377B/zh active Active
- 2018-12-19 EP EP18895253.5A patent/EP3732684A4/en not_active Withdrawn
- 2018-12-19 JP JP2020536240A patent/JP6997324B2/ja active Active
-
2020
- 2020-03-10 US US16/814,863 patent/US11232829B2/en active Active
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2022
- 2022-01-11 US US17/573,271 patent/US11715513B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3732684A4 (en) | 2021-08-11 |
WO2019133396A1 (en) | 2019-07-04 |
CN111512377B (zh) | 2023-08-29 |
US20190206480A1 (en) | 2019-07-04 |
US20220130449A1 (en) | 2022-04-28 |
US10607687B2 (en) | 2020-03-31 |
JP2021508950A (ja) | 2021-03-11 |
KR20200089766A (ko) | 2020-07-27 |
US20200211625A1 (en) | 2020-07-02 |
CN111512377A (zh) | 2020-08-07 |
US11232829B2 (en) | 2022-01-25 |
EP3732684A1 (en) | 2020-11-04 |
KR102447733B1 (ko) | 2022-09-28 |
US11715513B2 (en) | 2023-08-01 |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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