JP6978637B2

JP6978637B2 - 金属検出器

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Publication number: JP6978637B2
Application number: JP2021532236A
Authority: JP
Inventors: 豊村田; 信之黒崎; 裕次西村; 尚信水川; 裕章常見
Original assignee: A&D Co Ltd
Current assignee: A&D Co Ltd
Priority date: 2019-11-20
Filing date: 2020-02-27
Publication date: 2021-12-08
Anticipated expiration: 2040-02-27
Also published as: EP4063847A4; JPWO2021100217A1; US20220342107A1; EP4063847A1; WO2021100217A1

Description

本発明は金属検出器に係り、特にノイズの発生状況を迅速かつ正確に把握する金属検出器に関する。

食品等に金属等の異物が混入していないかを検査する装置として、金属検出器が知られている。金属検出器は、検査領域に磁界を発生させ、その検査領域に被検査物を通過させるとともに磁界の変動を検出することによって、被検査物中の異物を検査している。

このような金属検出器は、装置外の電磁ノイズ（以下、たんにノイズという）の影響を受けやすいことが知られている。そこで、特許文献１の金属検出器は、「被検査物の物品影響に対応して予め定められた周波数範囲」（数ｋＨｚ〜数ＭＨｚの範囲）のなかから、所定の帯域幅（たとえば１０ｋＨｚ）で複数の検査周波数を設定し、その複数の検査周波数のそれそれでノイズを測定し、ノイズレベルが所定値以下となる検査周波数を選択している。この金属検出器によれば、ノイズレベルが小さい検査周波数に設定できるので、検査開始当初は良好な検査を行うことができる。

特許４６３３８３０号

ところで、従来の金属検出器は、実際には良品であるにもかかわらずＮＧと判断される不良品が突然増えることがあり、その発生原因が正確に分からないという問題があった。

本発明の発明者らがその原因を追究した結果、金属検出器の周囲に存在するインバータ機器が影響している可能性があるという知見を得た。具体的に説明すると、インバータ機器を起因とするノイズは周波数が変動することがあり、そのノイズの周波数が検査周波数に重なった結果、ノイズのレベルが対象異物のしきい値を上回ってしまい、良品を不良品として判別してしまうという知見を得た。

しかし、従来の金属検出器では、その状況を正確に把握することができない。たとえば、上述の特許文献１の金属検出器は、検査周波数をある周波数に固定して磁界の変化を検出し、その検査周波数を変えて再び磁界の変化を検出し、これを繰り返すため、検査周波数の数に応じて膨大な時間を要する。したがって、ノイズの診断に時間がかかるため、その間にインバータ機器によるノイズの周波数が変わってしまうと、ノイズの発生状況を把握することができない。また、複数の検査周波数でノイズを検出しても、検査周波数と検査周波数の間のノイズは検知できないという問題もあった。このように、従来の金属検出器は、不良品が突然増加しても、その原因すら分からないという問題があった。

本発明はこのような事情に鑑みて成されたものであり、ノイズの発生状況を迅速かつ正確に把握することができる金属検出器を提供することを目的とする。

請求項１の発明は前記目的を達成するために、固定された検査周波数で検査領域に磁界を発生させるとともに、前記検査領域の磁界の変化を前記固定された検査周波数で検出することによって、前記検査領域を通過する被検査物中の異物を検出する金属検出器において、前記検査周波数を含む周波数範囲で周波数を前記検査周波数で固定せずに変化させながら前記検査領域の磁界の変化を測定し、その測定結果を周波数解析して得られた周波数分布図をノイズ診断結果としてモニタに表示することを特徴とする金属検出器を提供する。

本発明によれば、検査周波数を変化させながら磁界の変化を検出し、その検出結果を周波数解析して得られた周波数分布図をノイズ診断結果として表示するようにしたので、どの周波数にノイズがあるか、ノイズの大きさはどの程度かを視覚的に把握することができる。また、本発明によれば、検査周波数を変化させながら磁界の変化を検出するので、ある範囲内の周波数を一気に調べることができ、短時間でノイズの診断を行うことができる。さらに本発明によれば、検査周波数を変化させながら磁界の変化を検出するので、ある範囲内の周波数のノイズを漏れなく検出することができる。したがって、本発明によれば、ノイズの発生状況を迅速かつ正確に把握することができるので、異物検査中に新たなノイズが発生したり、既存のノイズの周波数が変化して検査周波数と重なったりした場合であっても、すぐにその原因（ノイズ）をつきとめることができる。また、本発明によれば、ノイズの発生状況が分かるので、検査前にノイズの少ない周波数に検査周波数を設定することもできる。

請求項２の発明は請求項１において、前記周波数分布図には、前記異物の検査の目安となる目安ラインが表示されることを特徴とする。目安ラインは例えば、対象の異物が検査領域を通過した際に検出される磁界の変化量に相当する信号レベルの位置に表示する。これにより、対象の異物が検出可能かどうかを、ノイズの大きさと対比しながら判断することができる。

請求項３の発明は請求項２の発明において、前記目安ラインは、前記異物の種類と大きさに応じて複数が表示されることを特徴とする。本発明によれば、複数の種類の異物に対して、検出可能かどうかを一目で把握することができる。

請求項４の発明は請求項１〜３のいずれか１の発明において、前記周波数分布図には、前記検査領域に磁界を発生させる検査周波数の設定値に対応する位置に設定周波数ラインが表示されることを特徴とする。本発明によれば、設定周波数ラインが表示されることによって、設定中の検査周波数とノイズの周波数との関係を視覚的に把握することができる。

請求項５の発明は請求項１〜４のいずれか１の発明において、前記異物の検出処理中の前記モニタにはノイズ診断ボタンが表示され、該ノイズ診断ボタンを押すことによって前記ノイズ診断結果が表示されることを特徴とする。本発明によれば、異物の検出処理中の画面にノイズ診断ボタンが表示されるので、異物の検出処理中にすぐにノイズ診断を行うことができる。

請求項６の発明は請求項１〜５のいずれか１の発明において、前記検査周波数を複数の値に変化させることによって、複数の前記周波数分布図を取得して表示することを特徴とする。本発明によれば、複数の範囲で検査周波数を変化させて周波数分布図を取得して表示するので、複数の範囲でノイズの発生状況を把握することができる。したがって、どの範囲の周波数が異物の検出に適しているかを視覚的に判断することができる。なお、複数の周波数分布図は、横に並べて表示するとともに、信号レベルが同じ高さとなるように表示することが好ましい。

請求項７の発明は請求項１〜６のいずれか１の発明において、前記周波数解析を、ズームＦＦＴにより行うことを特徴とする。本発明によって、信号処理に要するリソースの節約、信号処理の高速化を図ることができるので、結果として、診断処理の高速化が実現できる。

請求項８の発明は前記目的を達成するために、固定された検査周波数で検査領域に磁界を発生させるとともに、前記検査領域の磁界の変化を前記固定された検査周波数で検出することによって、前記検査領域を通過する被検査物中の異物を検出する金属検出器において、前記検査周波数を複数設定できるようになっていると共に、それぞれの検査周波数毎にその検査周波数を含む周波数範囲を設定し、該設定した各周波数範囲で周波数を前記検査周波数で固定せずに変化させながら前記検査領域の磁界の変化を測定し、前記検査領域の磁界の変化の測定結果に基づいて得られた、複数の周波数分布図をノイズ診断結果としてモニタに表示し、前記検査周波数の設定を受け付けることを特徴とする金属検出器を提供する。

本発明によれば、どの周波数にノイズがあるか、ノイズの大きさはどの程度かを視覚的に把握することができる。そして、ノイズの発生状況を迅速かつ正確に把握することができるので、異物検査中に新たなノイズが発生したり、既存のノイズの周波数が変化して検査周波数と重なったりした場合であっても、すぐにその原因（ノイズ）をつきとめることができる。また、本発明によれば、ノイズの発生状況が分かるので、検査前にノイズの少ない周波数に検査周波数を設定することもできる。

本発明によれば、検査周波数を変化させながら磁界の変化を検出し、その検出結果を周波数解析して得られた周波数分布図をノイズ診断結果として表示するようにしたので、ノイズの発生状況を迅速かつ正確に把握することができる。

本発明の金属検出器の構成を示す模式図図１のコンデンサ調整部を説明する回路図ノイズ診断の処理の一例を示すフロー図ノイズ診断結果の表示例を示す図ノイズ診断の処理の一例を示すフロー図ノイズ診断結果の表示例を示す図異物検出処理の表示例を示す図ノイズ診断結果の別の表示例を示す図

以下添付図面に従って、本発明に係る金属検出器の好ましい実施形態について説明する。図１は本発明の金属検出器１０の構成を模式的に示している。

同図に示す金属検出器１０は、被検査物１２を検査領域１４に通過させて金属等の異物を検出する装置であり、検査領域１４に磁界を発生させる磁界発生部１６と、検査領域１４の磁界変動を検出する磁界検出部１８を備えている。磁界発生部１６には送信コイル１７（図２参照）が設けられ、この送信コイル１７に交流電流が流れることによって検査領域１４に磁界が発生する。磁界発生部１６の送信コイル１７と同軸上に（或いは上下に対向する位置に）磁界検出部１８の受信コイル（不図示）が設けられており、検査領域１４の磁界が変動したことを、受信コイルに流れる電流の変動として検出することができる。なお、被検査物１２を検査領域１４に通過させる機構は省略するが、通常はベルトコンベア等が用いられる。

金属検出器１０の制御部２０には、送信信号設定部２２、受信信号処理部２４、ノイズ診断部２６、コンデンサ設定部２８が設けられている。送信信号設定部２２は、磁界発生部１６への送信信号の検査周波数や受信信号処理部２４における検波側の検査周波数を調節する機能を備えており、検査周波数を所定の範囲内で連続的に変化させたり、その所定の範囲を大きく変更させたりすることができる。

送信信号設定部２２で検査周波数が設定された信号は、Ｄ/Ａ変換器３２でＤ/Ａ変換された後、ドライブ回路３４とトランス回路３６で出力が増幅され、後述するコンデンサ調整部３８を介して磁界発生部１６の送信コイル１７に送信される。これにより、送信コイル１７に交流電流が流れ、検査領域１４に交番磁界が発生する。

一方、磁界検出部１８の受信コイルは、トランス回路４６、アンプ４４、Ａ/Ｄ変換器４２を介して制御部２０の受信信号処理部２４に接続されている。受信信号処理部２４は、送信側の検査周波数に同期させた検査周波数にて検波処理やフィルタ処理を行う。被検査物１２に異物が存在する場合には、検査領域１４の磁界変動を検出することによって金属異物を検出することができる。

制御部２０のノイズ診断部２６は、受信信号処理部２４で得られた検出結果を用いてノイズの診断を行う。具体的には、受信信号処理部２４からの受信信号のデータを周波数解析することによって周波数分布図を作成し、表示部（モニタ）５０に出力して表示させる。

制御部２０のコンデンサ設定部２８は、コンデンサ調整部３８に接続されており、コンデンサ設定部２８でコンデンサ調整部３８を制御することによって、検査周波数の範囲を大きく変化させた際の送信側の共振を図っている。

図２はコンデンサ調整部３８の回路図を示している。同図に示すようにコンデンサ調整部３８は、主要コンデンサ６２、マイナス用コンデンサ６４、プラス用コンデンサ６６を備えており、これらのコンデンサ６２、６４、６６が、トランス回路３６のコイル３７と磁界発生部１６の送信コイル１７の間に並列に接続されている。これらのうち主要コンデンサ６２は常に接続されており、この主要コンデンサ６２によって通常時の共振周波数が設定される。一方、マイナス用コンデンサ６４とプラス用コンデンサ６６はそれぞれ、スイッチ６５、６７を介して接続されており、このスイッチ６５、６７が前述のコンデンサ設定部２８によって制御される。たとえば、プラス用コンデンサ６６のスイッチ６７は通常時に接続されており、周波数範囲をプラス側に移動する際に接続が解除される。逆にマイナス用コンデンサ６４のスイッチ６５は通常時に接続が解除されており、周波数範囲をマイナス側に移動する際に接続される。

ここで、通常時（スイッチ６５がオフ、スイッチ６７がオン）の周波数範囲を通常範囲とし、プラス側に移動した際（スイッチ６５がオフ、スイッチ６７がオフ）の周波数範囲をプラス範囲とし、マイナス側に移動した際（スイッチ６５がオン、スイッチ６７がオン）の周波数範囲をマイナス範囲とする。各コンデンサ６２、６４、６６の容量は、調節後の周波数範囲が重ならないように設定されている。なお、調節後の周波数範囲が隣接するように設定してもよい。

次に上記の如く構成された金属検出器１０のノイズ診断処理について説明する。ノイズ診断処理は、異物の検出処理中にノイズの発生が疑われる場合や、装置の初期設定時（すなわち、検査周波数を設定する時）に行われる。図３は、異物の検出処理中に行うノイズ診断処理のフローを示している。

ステップＳ１の異物検出処理とは、被検査物１２に含まれる金属等の異物を検出する処理である。すなわち、磁界発生部１６によって検査領域１４に検査周波数で磁界を発生させるとともに、検査領域１４に被検査物１２を通過させ、磁界検出部１８によって検査領域の磁界の変動を検査周波数で検出する。そして、磁界の変動量が対象異物ごとのしきい値を超えた場合にＮＧ（異物有り）と判断し、不図示の排出機能によって搬送ラインから排出する。なお、対象異物ごとのしきい値は、対象異物の種類（材質）と大きさに応じて予め設定されている。

この異物検出処理では、ＮＧ品が急に増えることがある。その場合、装置外のノイズの影響が疑われるので、ノイズの診断を開始する（ステップＳ２）。診断の開始は、表示部５０の画面に表示さらたノイズ診断開始ボタンを押すことによって行われる。図７は、異物検出処理中の画面５１の一例を示している。同図に示す画面５１はタッチパネル式になっており、その右上にノイズ診断開始ボタンとして、「ノイズモニタ」の表示５２が示されている。この「ノイズモニタ」の表示５２を押すことによって、ノイズ診断が開始される。なお、ノイズ診断開始ボタンは、画面５１内に限定するものでは無く、機械式のボタンを設けてもよい。

ノイズの診断を開始すると、まず、異物検出処置が一時停止される（ステップＳ３）。すなわち、被搬送物１２の検査領域１４への搬送を停止するとともに、磁界発生部１６による磁界の発生を停止する。なお、本実施形態では、ノイズの検出精度を向上させるために磁界発生部１６による磁界の発生を停止したが、これに限定するものではなく、ノイズの診断中に磁界の発生や異物検出処理を続けてもよい。

異物検出処理を一時停止した後、ノイズの診断処理を行う（ステップＳ４）。ノイズの診断処理は、送信信号設定部２２によって検波側の検査周波数を所定の範囲で変化させながら、受信信号処理部２４の検出信号のデータを蓄積し、それを周波数解析する。その際、ズームＦＦＴを実施することにより、診断処理の高速化を行うとよい。ズームＦＦＴ（ズームバンドＦＦＴ・混合器法ともいう）とは、高サンプリング周波数の入力データに対して混合器を使用することにより解析帯域をＤＣ近傍にシフトし、デシメーション処理を行った後にＦＦＴ処理を行うことにより高分解能を得る信号処理手法であって、元の検出信号から間引きをした短い検出信号の小さいＦＦＴを計算して元の検出信号のフルサイズのＦＦＴから得られる分解能と同じ分解能を得る信号処理方法である。

検査周波数を変化させる範囲は、上述の異物検出処理（ステップＳ１）で設定中の検査周波数（以下、設定検査周波数という）を中心とする範囲で行う。たとえば、設定検査周波数が４６５ｋＨｚの場合に±０．８ｋＨｚの範囲で行うにはノイズの診断処理を行う周波数範囲下限である４６５ｋＨｚ−０．８ｋＨｚ＝４６４．２ｋＨｚを検査周波数とし、４６５ｋＨｚ＋０．８ｋＨｚ＝４６５．８ｋＨｚまで検査周波数を変化させながらズームＦＦＴを実施する。ノイズの診断処理を行う周波数範囲が一度のズームＦＦＴの解析帯域よりも広い場合には、検査周波数をズームＦＦＴの解析帯域分シフトし次のズームＦＦＴを実施する。これをノイズの診断処理を行う周波数範囲上限まで繰り返すことにより、設定検査周波数を中心とする範囲における周波数分布図を得ることができる。なお、本実施の形態では、ズームＦＦＴを実施したが、これに限定するものでは無く、検波処理を行う前の信号を対象に通常のＦＦＴを必要とする周波数分解能に合わせたフレームサイズで行ってもよい。ただし、ズームＦＦＴを用いると、信号処理に要するリソースの節約、信号処理の高速化を図ることができる。

次にノイズの診断結果として、周波数分布図を表示部５０に表示する（ステップＳ５）。図４は、ノイズの診断結果の表示例を示している。同図に示すように、表示部（モニタ）５０には、周波数分布図７０が表示されている。周波数分布図７０は横軸が周波数、縦軸が信号レベル（ノイズの大きさ）であり、どの周波数にノイズがあるかを一目で把握することができる。

図４に示す周波数分布図７０には、設定周波数ライン７２と、目安ライン７４、７６が表示されている。設定周波数ライン７２は、異物検出処理時（ステップＳ１）の設定検査周波数を示しており、周波数分布図７０の中央に縦に示されている。目安ライン７４、７６は、対象異物の検出の目安となるラインであり、対象異物の種類・大きさごとに示されている。たとえば目安ライン７４は、対象の異物の材質が鉄であり、且つ、直径が０．５ｍｍの大きさの場合であり、その異物が検査領域１４を通過した際に検出信号の変動（振幅）として現れる信号レベルの位置に表示されている。一方、目安ライン７６は、対象の異物の材質がステンレスであり、且つ、直径が１．０ｍｍの大きさの場合であり、その異物が検査領域１４を通過した際に検出信号の変動として現れる信号レベルの位置に表示されている。したがって、これらの目安ライン７４、７６を超えるノイズがある場合には、そのノイズによって異物有りと判断されることになる。なお、図４の符号７８は、目安ライン７４、７６の異物の説明の表示であり、たとえば目安ライン７４、７６とその対象の異物の説明が同じ色で表示されている。

図４の表示例では、周波数分布図７０の全体で多くのノイズが発生していることが分かる。ノイズの一部は目安ライン７６を超えており、ステンレス１．０ｍｍの異物の検出には適していないことが分かる。

このように本実施の形態によれば、周波数分布図７０が表示部５０に表示されるので、ノイズの発生状況を一目で把握することができる。特に本実施の形態では、検査周波数を変化させながら磁界の変化を検出するようにしたので、その範囲内の周波数のノイズを一気に検出することができ、ノイズの発生状況を迅速に把握することができる。また、本実施の形態によれば、異物検出処理中の画面にノイズ診断開始ボタンを表示したので、異物検出処理中にノイズの診断を素早く開始し、ノイズの診断結果を迅速に得ることができる。

なお、ノイズの診断と表示が終了した後は、自動的に異物検出処理に戻るようにするとよい。たとえば、ノイズ診断結果を数秒間表示した後、自動的に異物検出処理に戻るようにするとよい。或いは、目安ライン７４、７６を上回るノイズが無い場合に自動的に異物検出処理に戻るようにするとよい。

図５は、初期設定時のノイズ診断処理のフローを示している。初期設定では、検査周波数を改めて検討し、適切な検査周波数に設定する。たとえば検査周波数として、三つの周波数の設定値（以下、マイナス、センター、プラス）を用意しておき、そのなかから最もノイズの少ないものを検査周波数として設定する。

初期設定を行う場合（ステップＳ１１）、まず、ノイズを診断する周波数の範囲を設定する（ステップＳ１２）。診断する周波数の範囲は、検査周波数の３つの設定値（マイナス、センター、プラス）に対応して用意されており、その設定値を中心として所定の範囲を診断するようになっている。設定する周波数の範囲の順番は特に限定するものでは無いが、たとえばマイナス、センター、プラスの順で自動的に設定される。

次に、設定した周波数の範囲でのノイズ診断処理を行う（ステップＳ１３）。ノイズ診断処理は、前述したステップＳ４と同様であり、送信信号設定部２２によって検波側の検査周波数を所定の範囲で変化させながら、受信信号処理部２４の検出信号のデータを蓄積し、それを周波数解析する。その際、検査周波数の変化と周波数解析を同時に行う、いわゆるズームＦＦＴを実施するとよい。検査周波数を変化させる範囲は、検査周波数の設定値を中心とする範囲であり、これによって、検査周波数の設定値を中心とする範囲での周波数分布図を得ることができる。

ノイズの診断処理が終わると、全ての周波数範囲が終了したかを判断し（ステップＳ１４）、終了していない場合には、ステップＳ１２に戻り、次の周波数の範囲に変更する。そして、再びノイズの診断処理を行う（ステップＳ１３）。

一方、全ての周波数範囲についてノイズの診断処理が終わった場合には、ノイズの診断結果を表示する（ステップＳ１５）。図６はノイズ診断結果の表示例を示している。同図に示す例では、周波数の範囲ごとに３つの周波数分布図７０Ａ、７０Ｂ、７０Ｃが表示されている。すなわち、マイナスの範囲の周波数分布図７０Ａと、センターの範囲の周波数分布図７０Ｂと、プラスの範囲の周波数分布図７０Ｃが表示されている。周波数分布図７０Ａ〜７０Ｃは、横に並べて表示されており、横軸（信号レベル）は同じ範囲を示している。

それぞれの周波数分布図７０Ａ〜７０Ｃにおいて、中央の縦線は、設定周波数ライン７２Ａ〜７２Ｃであり、各範囲における検査周波数の設定値を示している。また、周波数分布図７０Ａ〜７０Ｃにはそれぞれ、目安ライン７４Ａ〜７４Ｃと、目安ライン７６Ａ〜７６Ｃが表示されている。目安ライン７４Ａ〜７４Ｃは、対象の異物の材質が鉄であり、且つ、直径が０．５ｍｍの大きさの場合であり、その異物が検査領域１４を通過した際に検出信号の変動（振幅）として現れる信号レベルの位置に表示されている。一方、目安ライン７６Ａ〜７６Ｃは、対象の異物の材質がステンレスであり、且つ、直径が１．０ｍｍの大きさの場合であり、その異物が検査領域１４を通過した際に検出信号の変動として現れる信号レベルの位置に表示されている。

図６のノイズ診断結果を見て分かるように、センターの周波数分布図７０Ｂでは比較的大きなノイズが発生しており、その一部は目安ライン７６Ｂを超えている。このため、ステンレス１．０ｍｍの異物の検査には適していないことが分かる。また、マイナスの周波数分布図７０Ａとプラスの周波数分布図７０Ｃでは小さいノイズしか無く、目安ライン７４Ａ、７４Ｃと目安ライン７６Ａ、７６Ｃを大きく下回っている。したがって、マイナスの範囲とプラスの範囲では、鉄０．５ｍｍとステンレス１．０ｍｍの両方の検出に適していることが分かる。

作業者はノイズの診断結果を見ながら、検査周波数をマイナスかプラスに設定する。これにより、ノイズの影響の少ない環境下で異物検出処理を行うことができる。なお、検査周波数の設定は作業者が設定するほか、周波数分布図７０Ａ〜７０Ｃにおける目安ライン７４Ａ〜７４Ｃや目安ライン７６Ａ〜７６Ｃを超過していない検査周波数を特定することで自動的に設定してもよい。たとえばノイズ診断結果が図８に示すように、「マイナス」、「センター」、「プラス」のいずれかが選択可能な周波数選択ボタン７７を備えた場合、周波数選択ボタンのうち、「マイナス」、「センター」、「プラス」のいずれかの選択を受け付けることで、検査周波数を設定することができる。

このように本実施の形態の金属検出器１０によれば、複数の周波数分布図７０Ａ〜７０Ｃが表示されるので、どの検査周波数に設定したらノイズが少ないかを一目で把握することができる。また、それぞれの周波数分布図７０Ａ〜７０Ｃには、対象異物の目安ライン７４Ａ〜７４Ｃや目安ライン７６Ａ〜７６Ｃが表示されているので、対象異物の種類ごとに検出に適しているかを一目で把握することができる。

なお、上述した実施の形態では、鉄０．５ｍｍの目安ライン７４Ａ〜７４Ｃとステンレス１．０ｍｍの目安ライン７６Ａ〜７６Ｃを表示するようにしたが、対象異物の種類や大きさはこれに限定するものではなく、様々な対象異物に対して設定することが可能である。また、目安ラインの数は２つに限定するものでは無く、１つであっても３つ以上であってもよい。さらに、異物検出処理における対象異物を変更した際に、周波数分布図の目安ラインも自動的に変更されるようにすることが好ましい。

１０…金属検出器、１２…被検査物、１４…検査領域、１６…磁界発生部、１７…送信コイル、１８…磁界検出部、２０…制御部、２２…送信信号設定部、２４…受信信号処理部、２６…ノイズ診断部、２８…コンデンサ設定部、３２…Ｄ/Ａ変換器、３４…ドライブ回路、３６…トランス回路、３８…コンデンサ調整部、４２…Ａ/Ｄ変換器、４４…増幅回路、４６…トランス回路、５０…表示部、５２…ノイズ診断開始ボタンの表示、６２…コンデンサ、６４…マイナス用コンデンサ、６５…スイッチ、６６…プラス用コンデンサ、６７…スイッチ、７０（７０Ａ〜７０Ｃ）…周波数分布図、７２（７２Ａ〜７２Ｃ）…設定周波数ライン、７４（７４Ａ〜７４Ｃ）…目安ライン、７６（７６Ａ〜７６Ｃ）…目安ライン、７８…異物の説明の表示

Claims

固定された検査周波数で検査領域に磁界を発生させるとともに、前記検査領域の磁界の変化を前記固定された検査周波数で検出することによって、前記検査領域を通過する被検査物中の異物を検出する金属検出器において、
前記検査周波数を含む周波数範囲で周波数を前記検査周波数で固定せずに変化させながら前記検査領域の磁界の変化を測定し、その測定結果を周波数解析して得られた周波数分布図をノイズ診断結果としてモニタに表示することを特徴とする金属検出器。
前記周波数分布図には、前記異物の検査の目安となる目安ラインが表示されることを特徴とする請求項１に記載の金属検出器。
前記目安ラインは、前記異物の種類と大きさに応じて複数が表示されることを特徴とする請求項２に記載の金属検出器。
前記周波数分布図には、前記検査領域に磁界を発生させる検査周波数の設定値に対応する位置に設定周波数ラインが表示されることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１に記載の金属検出器。
前記異物の検出処理中の前記モニタにはノイズ診断ボタンが表示され、該ノイズ診断ボタンを押すことによって前記ノイズ診断結果が表示されることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１に記載の金属検出器。
前記検査周波数を複数の値に変化させることによって、複数の前記周波数分布図を取得して表示することを特徴とする請求項１〜５のいずれか１に記載の金属検出器。
前記周波数解析は、ズームＦＦＴにより行うことを特徴とする請求項１〜６のいずれか１に記載の金属検出器。
固定された検査周波数で検査領域に磁界を発生させるとともに、前記検査領域の磁界の変化を前記固定された検査周波数で検出することによって、前記検査領域を通過する被検査物中の異物を検出する金属検出器において、
前記検査周波数を複数設定できるようになっていると共に、それぞれの検査周波数毎にその検査周波数を含む周波数範囲を設定し、該設定した各周波数範囲で周波数を前記検査周波数で固定せずに変化させながら前記検査領域の磁界の変化を測定し、前記検査領域の磁界の変化の測定結果に基づいて得られた、複数の周波数分布図をノイズ診断結果としてモニタに表示し、前記検査周波数の設定を受け付けることを特徴とする金属検出器。