JP2003035684A - 異物検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 異物検査装置において、動作中においても装
置設定パラメータの変更を可能とし、また、動作中に装
置設定パラメータが変更された場合であっても正確な検
査数の記録を行う。 【解決手段】 検査対象物Ｓの撮像画像に基づいて異物
検査を行う異物検査装置１において、異物検査装置１の
各構成部分の装置設定パラメータを変更するパラメータ
変更手段４と、装置設定パラメータの変更履歴を記録す
る変更履歴記録手段８ａとを備えた構成とし、変更履歴
記録手段８ａは、パラメータ変更手段４が各構成部分に
対して行う変更指令に基づいて装置設定パラメータの変
更履歴を経時的に記録する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線検査装置等の
異物検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】Ｘ線を検査対象物に照射し、透過した透
過Ｘ線像を撮像して撮像画像を求め、この撮像画像を画
像処理して得られる処理結果に基づいて、検査対象物内
に混入している異物を検出する異物検査装置が知られて
いる。また、この異物検査装置で異物検査された検査対
象物は、検査結果に基づいて異物を含む検査対象物を排
除したり、異物の有無に応じて検査対象物を振り分ける
等の後処理を行う場合がある。

【０００３】異物検査装置による検査においては、検査
対象物の種類、異物検査装置の使用状態や設置環境等に
応じて、異物検査装置の各構成部分を予め設定しておく
必要がある。設定項目としては、例えば、発生するＸ線
のＸ線条件、透過Ｘ線を検出するＸ線検出器の検出感
度、検出対象物を順次搬送する搬送コンベアの速度、排
除装置の動作時間、あるいはセンサの取り付け位置、検
出対象物に対する撮像画像の拡大倍率、等がある。

【０００４】このような異物検査装置では、上記設定項
目を装置設定パラメータによって設定することによって
種々の測定状態による異物検査を実現している。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】従来、異物検査装置
は、異物検査装置の動作中に装置設定パラメータを変更
すると、得られる検査結果がどの装置設定パラメータで
検査されたものであるかの識別が困難となるため、異物
検査装置の動作中には装置設定パラメータの変更を行わ
ないよう設計している。一部の異物検査装置では、検査
対象物中の異物を的確に検出することが主たる目的であ
ることを考慮して、検出感度に係わる感度しきい値のみ
については異物検査装置の動作中においても変更可能と
するものが知られている。

【０００６】そのため、運転中に搬送コンベアの速度や
振り分け装置に係わる装置設定パラメータなど、感度し
きい値以外の装置設定パラメータを変更する場合には、
異物検査装置を一度停止させた後に装置設定パラメータ
を変更し、変更後に異物検査装置を再始動させることに
よって、装置設定パラメータの変更前後と検査結果との
関係を明確にさせている。

【０００７】このように、装置設定パラメータを変更す
る度に装置の動作を停止させると、操作が煩雑になると
共に、検査効率が低下するという問題がある。また、検
査対象物の計数においても異物検査装置を動作させた状
態で計数を続行すると、得られる計数結果には異なる検
査条件のものが混合することになるため、異物検査装置
を一度停止させなければならず、前記と同様な問題があ
る。

【０００８】そこで、本発明は前記した従来の異物検査
装置が備える課題を解決し、異物検査装置において、動
作中においても装置設定パラメータの変更を可能とする
ことを目的とし、また、動作中に装置設定パラメータが
変更された場合であっても正確に検査数を記録すること
を目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明は、検査対象物の
撮像画像に基づいて異物検査を行う異物検査装置におい
て、異物検査装置の各構成部分の装置設定パラメータを
変更するパラメータ変更手段と、装置設定パラメータの
変更履歴を記録する変更履歴記録手段とを備えた構成と
し、変更履歴記録手段は、パラメータ変更手段が各構成
部分に対して行う変更指令に基づいて装置設定パラメー
タの変更履歴を経時的に記録する。

【００１０】パラメータ変更手段は、操作パネルや外部
制御装置から入力される装置設定パラメータの変更要求
に基づいて、異物検査装置の各構成部分の装置設定パラ
メータを変更する。装置設定パラメータとしては、例え
ば、発生するＸ線のＸ線条件、透過Ｘ線を検出するＸ線
検出器の検出感度、検出対象物を順次搬送する搬送コン
ベアの速度、排除装置の動作時間、センサの取り付け位
置、検出対象物に対する撮像画像の拡大倍率等がある。

【００１１】パラメータ変更手段は、装置設定パラメー
タの変更が要求されている構成部分に対してその装置設
定パラメータ値を送って変更すると共に、当該装置設定
パラメータの変更について構成部分及びパラメータ値を
変更履歴記録手段に記録させる。変更履歴記録手段は、
この装置設定パラメータの変更を経時的に記録する。こ
れによって、異物検査装置が動作中であっても、どの構
成部分の装置設定パラメータがどのように変更されたか
についてその変更履歴を知ることができるため、異物検
査装置を停止させることなく、パラメータ値を変更する
ことができる。

【００１２】また、本発明の異物検査装置は、異物検査
の検査数を記録する検査数記録手段を備え、この検査数
記録手段は、装置設定パラメータの変更後において、変
更前の検査数に加算して記録する形態、変更前の検査数
と変更後の検査数とを区別してそれぞれ記録する形態、
あるいは変更前の検査数を破棄し変更後の検査数のみを
記録する形態などの種々の記録形態から選択した形態に
よって、装置設定パラメータの変更前後の検査数を記録
する。

【００１３】これによって、異物検査装置の動作中に装
置設定パラメータが変更されたとしても、変更の前後の
検査数の記録形態を識別することができるため、正確に
検査数を記録することができる。また、本発明の他の態
様によれば、パラメータ変更手段は変更要求された装置
設定パラメータに応じて、変更順を定める変更シーケン
スを形成し、この変更順に応じて構成部分に対して指令
を発する。これによって、検査対象物の移動に伴う構成
部分間の動作の干渉やタイミングのずれを防止すること
ができる。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
を参照しながら詳細に説明する。図１は本発明の異物検
査装置の概要構成を説明するための概略構成図を示し、
図２，３は本発明の異物検査装置のパラメータ変更手段
の一態様の機能を説明するための概略機能図、及びフロ
ーチャートを示し、図４，５は本発明の異物検査装置の
他のパラメータ変更手段の他の態様の機能を説明するた
めの概略機能図、及びフローチャートを示している。

【００１５】図１において、異物検査装置１は、装置設
定パラメータ値に従って異物検査の各種処理を行う。以
下、Ｘ線を検査対象物に照射し透過Ｘ線を検出すること
で検査対象物内に含まれる異物を検査するＸ線異物検査
装置を例として説明する。異物検査装置１は、筐体上部
Ａに設けたＸ線発生手段２から、筐体Ｂ内に設けた搬送
コンベア９上を移動する検査対象物ＳにＸ線を照射し、
検査対象物Ｓを透過した透過Ｘ線を搬送コンベア９の下
方に設けたＸ線ラインセンサ等のＸ線検出器１０によっ
て撮像し、撮像画像を画像処理手段５で画像処理するこ
とによって、検査対象物内に存在する異物を検出する。

【００１６】Ｘ線発生手段２は、Ｘ線を発生するＸ線発
生ユニット２ａと、Ｘ線発生ユニット２ａに印加する電
圧等を調整して発生するＸ線強度を制御するＸ線制御手
段２ｂを備える。搬送コンベア９の上流側には光電セン
サ等の位置センサ１２が設けられ、図中の矢印方向に搬
送される検査対象物がＸ線照射位置に到達したことを検
出する。異物検査装置１は制御手段３を備える。制御手
段３は、Ｘ線発生手段２，Ｘ線検出器１０，搬送コンベ
ア９，位置センサ１２などの電装部品を含む各構成部分
や画像処理手段５を制御する他、操作パネル６の操作あ
るいは異物検査装置１を含む各種装置を全体的に制御す
る制御装置（図示していない）に基づいて各構成部分の
装置設定パラメータを設定したり、設定した装置設定パ
ラメータをパラメータ保存手段７に格納する機能を有し
たパラメータ変更手段４を備える。

【００１７】また、本発明の異物検査装置１は、装置設
定パラメータの変更に伴う変更履歴を記録する記録手段
８を備える。パラメータ変更手段４は、操作パネル６や
図示しない制御装置から装置設定パラメータを変更する
変更要求を受けると、対応する各種構成部分に対して装
置設定パラメータを送ってパラメータ値を変更させると
共に、この変更に伴う変更履歴を記録手段８を記録させ
る。筐体下部Ｃには、電源装置１１が設けられ、Ｘ線発
生手段２，搬送コンベア９、Ｘ線検出器１０の他、異物
検査装置１が備える各構成部分に対する電力供給を行っ
ている。

【００１８】上記構成の異物検査装置によれば、パラメ
ータ変更手段４及び記録手段８を備える構成とすること
によって、異物検査装置が動作中であっても、どの構成
部分の装置設定パラメータがどのように変更されたかに
ついてその変更履歴を記録し知ることができるため、異
物検査装置を停止させることなく、パラメータ値を変更
することができる。

【００１９】以下、図２，３を用いて本発明の異物検査
装置のパラメータ変更手段の一態様を説明し、図４，５
を用いて本発明の異物検査装置のパラメータ変更手段の
他の態様を説明する。はじめに、本発明の異物検査装置
のパラメータ変更手段の一態様を説明する。図２に示す
概略機能図において、制御手段３はパラメータ変更手段
４を備える。パラメータ変更手段４は、操作パネル６、
構成機器１５、パラメータ保存手段７、記録手段８と接
続される。

【００２０】パラメータ変更手段４は、操作パネル６あ
るいは図示しない制御装置から装置設定パラメータを変
更する変更要求を受け、この変更要求に基づいて、異物
検査装置１が備える搬送コンベア９等の各種構成部分
や、異物検査装置１に隣接して配置される振り分け装置
１４等の機器などの構成機器１５（図２において破線で
囲む部分）に装置設定パラメータを送ってパラメータ変
更を行わせる。また、パラメータ変更手段４は、パラメ
ータ保存手段７に保存されている装置設定パラメータに
内で変更要求されたものについてそのパラメータ値を更
新し、以後この装置設定パラメータ値を用いて異物の検
査処理を行う。

【００２１】さらに、パラメータ変更手段４は、本発明
に特徴的な処理として記録手段８に装置設定パラメータ
の変更履歴、及び検査数を記録させる。図２に示す構成
において、記録手段８は変更履歴記録手段８ａと検査数
記録手段８ｂを備える。変更履歴記録手段８ａは、装置
設定パラメータを変更する構成部分及びそのパラメータ
値を変更毎に記録し変更履歴を形成する。この変更履歴
を例えば操作パネルが備える表示手段に表示することに
よって、パラメータ値を変更した構成部分及びその変更
したパラメータ値を知ることができる。

【００２２】検査数記録手段８ｂは検査した検査対象物
の検査数を記録する手段であり、異物検査装置が備える
センサあるいは構成機器の出力を用いた計数手段１３に
よって検査した検査対象物を計数しこの計数値を記録す
る。検査数記録手段８ｂは、検査数の記録形態を装置設
定パラメータの変更後において選択することができる。
検査数の記録形態としては、例えば、装置設定パラメー
タの変更後において、変更前の検査数に加算して記録す
る形態、変更前の検査数と変更後の検査数とを区別して
それぞれ記録する形態、あるいは変更前の検査数を破棄
し変更後の検査数のみを記録する形態などの種々の記録
形態があり、装置設定パラメータの変更時に変更するこ
とができる。この選択は、装置設定パラメータの変更時
において、パラメータ変更手段４から操作パネル６に対
して選択を表示させる指令を出し、操作パネル６からの
選択によって設定することができる。

【００２３】検査数の記録形態の選択は、装置設定パラ
メータの変更に応じて行うことができるため、異物検査
装置の動作中に装置設定パラメータが変更されたとして
も、変更の前後の検査数の記録形態を識別することがで
きる。

【００２４】次に、図３のフローチャートを用いて、図
２に示すパラメータ変更手段が行うパラメータ変更の手
順を説明する。パラメータ変更手段４は、操作パネルあ
るいは図示しない制御装置からパラメータ変更要求を入
力すると（ステップＳ１）、変更要求を解析して変更対
象の構成機器、及び変更する装置設定パラメータの値等
の解析データを求める（ステップＳ２）。パラメータ変
更手段４は、求めた解析データに基づいて、パラメータ
値を変更する指令を形成し対応する構成機器に対して出
力する。指令としては、例えば、パラメータ変更先に出
力する指令であって、装置設定パラメータを変更パラメ
ータ値に変更する変更指令、操作パネル６に出力する指
令であって、検査数記録手段８ｂでの検査数の取り扱い
を選択させる表示指令、変更履歴記録手段８ａに出力す
る指令であって、パラメータ変更先及び変更パラメータ
値を記録させる記録指令等がある。

【００２５】なお、パラメータ変更手段４が操作パネル
６に対して検査数の記録形態を選択させる選択指令を出
すと、操作パネル６は表示部分にこの選択指令を表示
し、装置設定パラメータを変更した後にどのような記録
形態で検査数を記録するかを選択させる（ステップＳ
３）。

【００２６】前記表示指令に応じて、操作パネルから検
査数の記録態様が選択される（ステップＳ４）と、パラ
メータ変更手段４は、検査数記録手段８ｂに対して選択
された記録態様を指令する。検査数記録手段８ｂは、パ
ラメータが変更された後に得られる検査数については、
指令された記録態様に従って記録する。なお、この検査
数の記録において、パラメータの変更時に如何なる記録
態様で記録したかについて対応づけて記録することによ
って、検査数の記録内容とパラメータの記録態様との関
係を確認することができる（ステップＳ５）。ステップ
Ｓ４の工程において検査数の記録態様が選択されない場
合には、パラメータ変更手段４は、検査数記録手段８ｂ
に対して予め設定しておいた記録態様を指令して記録さ
せる（ステップＳ６）。

【００２７】次に、本発明の異物検査装置のパラメータ
変更手段の他の態様を説明する。この態様は、変更要求
された装置設定パラメータに応じて変更順を定める変更
シーケンスを形成し、この変更順に応じて構成部分に対
して指令を発し、これによって、装置設定パラメータの
設定順による誤動作を防止するするものである。ここ
で、図４に示す概略構成は前記図２に示す概略構成と共
通する部分については説明を省略する。

【００２８】制御手段３はパラメータ変更手段４を備
え、図２に示す概略構成と同様に、操作パネル６、構成
機器１５、パラメータ保存手段７、記録手段８と接続さ
れる。図４に示すパラメータ変更手段４は、操作パネル
６や制御装置（図示していない）からの変更要求を解析
する解析手段４ａ，解析結果に基づいて各種指令を出力
する指令手段４ｂ、及び構成機器１５の動作状態信号を
入力して動作を確認する動作確認手段４ｃを備える。

【００２９】解析手段４ａは、変更要求を解析して変更
対象の構成機器、及び変更する装置設定パラメータの値
等の解析データを求める。指令手段４ｂは、解析データ
に基づいて変更シーケンスを作成する変更シーケンス作
成手段４ｂ１と、作成した変更シーケンスに基づいてパ
ラメータ保存手段７や変更履歴記録手段８ａや検査数記
録手段８ｂや構成機器１５等の各部に対応する指令を出
力する指令出力手段４ｂ２を備える。なお、指令出力手
段４ｂ２が各部に出力する各指令は、前記態様において
パラメータ変更手段４と同様とすることができる。

【００３０】変更シーケンスは、装置設定パラメータを
変更する際に、関連する構成機器に対する指令の順序及
びタイミングを定めるものであり、これによって、パラ
メータの設定順によって生じる誤動作を防止するもので
ある。例えば、搬送コンベアの搬送速度を変更する場
合、搬送速度をパラメータ値を変更した後、所定時間経
過を有した変更シーケンスに従って振り分け装置の振り
分け速度やタイミングの設定を変更する。所定時間は、
例えば検査結果が得られてから振り分け装置に検査対象
物が達するまでの時間とすることができ、このような所
定時間を設けることによって、異なる検査対象物の検査
結果による誤った振り分け動作を防止することができ
る。なお、変更シーケンスは、変更シーケンス形成用の
プログラムを用意し、解析結果に基づいて形状すること
ができる。

【００３１】指令出力手段４ｂ２は、変更シーケンス作
成手段４ｂ１で作成した変更シーケンスに従って各部に
指令を出力する。このとき、変更シーケンスを構成機器
１５の各部分の動作状態に応じて実行する場合には、動
作確認手段４ｃからの確認信号に基づいて変更シーケン
スを実行する。

【００３２】次に、図５のフローチャートを用いて、図
４に示すパラメータ変更手段が行うパラメータ変更の手
順を説明する。パラメータ変更手段４は、操作パネルあ
るいは図示しない制御装置からパラメータ変更要求を入
力すると（ステップＳ１１）、解析手段４ａは変更要求
を解析して変更対象の構成機器、及び変更する装置設定
パラメータの値等の解析データを求める（ステップＳ１
２）。変更シーケンス作成手段４ｂ１は、求めた解析デ
ータに基づいて、パラメータ値を変更する指令及びその
手順を変更シーケンスとして作成する（ステップＳ１
３）。

【００３３】パラメータ変更手段４（指令出力手段４ｂ
２）が操作パネル６に対して検査数の記録形態を選択さ
せる選択指令を出すと、操作パネル６は表示部分にこの
選択指令を表示し、装置設定パラメータを変更した後に
どのような記録形態で検査数を記録するかを選択させ
る。表示指令に応じて、操作パネルから検査数の記録態
様が選択される（ステップＳ１４）と、パラメータ変更
手段４は、検査数記録手段８ｂに対して選択された記録
態様を指令する。検査数記録手段８ｂは、パラメータが
変更された後に得られる検査数については、指令された
記録態様に従って記録する。なお、この検査数の記録に
おいて、パラメータの変更時に如何なる記録態様で記録
したかについて対応づけて記録することによって、検査
数の記録内容とパラメータの記録態様との関係を確認す
ることができる（ステップＳ１５）。ステップＳ１４の
工程において検査数の記録態様が選択されない場合に
は、パラメータ変更手段４は、検査数記録手段８ｂに対
して予め設定しておいた記録態様を指令して記録させる
（ステップＳ１６）。

【００３４】指令出力手段４ｂ２は、変更シーケンスが
定める順序に従って対応する構成機器に対して指令を出
力する。指令としては、前記の態様と同様に、パラメー
タ変更先に出力する指令であって、装置設定パラメータ
を変更パラメータ値に変更する変更指令、操作パネル６
に出力する指令であって、検査数記録手段８ｂでの検査
数の取り扱いを選択させる表示指令、変更履歴記録手段
８ａに出力する指令であって、パラメータ変更先及び変
更パラメータ値を記録させる記録指令等がある（ステッ
プＳ１７）。

【００３５】変更シーケンスが動作確認を要求する場合
には、動作確認手段４ｃによって要求される部分の動作
を確認した後（ステップＳ１８）、ステップＳ１７の工
程で次の変更シーケンスに従って指令を出力する。変更
シーケンスが設定する全指令が終了すると、設定された
変更シーケンスによるパラメータ変更が完了し、この後
は前記ステップＳ１４〜ステップＳ１６の工程で設定さ
れた記録態様で検査数の記録が行われる。なお、ステッ
プＳ１９の工程において、動作確認が得られない場合に
は、表示手段に表示する（ステップＳ２０）。

【００３６】本発明の実施形態によれば、パラメータ変
更手段は変更要求された装置設定パラメータに応じて、
変更順を定める変更シーケンスを形成し、この変更順に
応じて構成部分に対して指令を発する。これによって、
検査対象物の移動に伴う構成部分間の動作の干渉やタイ
ミングのずれを防止することができる。

【００３７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の異物検査
装置によれば、動作中においても装置設定パラメータの
変更を可能とすることができ、また、動作中に装置設定
パラメータが変更された場合であっても正確に検査数を
記録することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の異物検査装置の概要構成を説明するた
めの概略構成図である。

【図２】本発明の異物検査装置のパラメータ変更手段の
一態様の機能を説明するための概略機能図である。

【図３】本発明の異物検査装置のパラメータ変更手段の
一態様の機能を説明するためのフローチャートである。

【図４】本発明の異物検査装置の他のパラメータ変更手
段の他の態様の機能を説明するための概略機能図であ
る。

【図５】本発明の異物検査装置の他のパラメータ変更手
段の他の態様の機能を説明するためのフローチャートで
ある。

【符号の説明】

１…異物検査装置、２…Ｘ線発生手段、２ａ…Ｘ線発生
ユニット、２ｂ…Ｘ線制御手段、３…制御手段、４…パ
ラメータ変更手段、４ａ…解析手段、４ｂ…指令手段、
４ｂ１…変更シーケンス作成手段、４ｂ２…指令出力手
段、４ｃ…動作確認手段、５…画像処理手段、６…操作
パネル、７…パラメータ保存手段、８…記録手段、８ａ
…変更履歴記録手段、８ｂ…検査数記録手段、９…搬送
コンベア、１０…Ｘ線検出器（Ｘ線ラインセンサ）、１
１…電源装置、１２…センサ（光電センサ）、１３…計
数手段、１４…振り分け装置、１５…構成機器、Ｓ…検
査対象物。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G001 AA01 BA11 CA01 DA08 GA01 GA06 HA07 HA09 HA13 JA13 KA01 KA20 PA11 QA10

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 検査対象物の撮像画像に基づいて異物検
   査を行う異物検査装置において、異物検査装置の各構成
   部分の装置設定パラメータを変更するパラメータ変更手
   段と、前記装置設定パラメータの変更履歴を記録する変
   更履歴記録手段とを備え、前記変更履歴記録手段は、前
   記パラメータ変更手段が各構成部分に対して行う変更指
   令に基づいて装置設定パラメータの変更履歴を経時的に
   記録する、異物検査装置。
2. 【請求項２】 異物検査の検査数を記録する検査数記録
   手段を備え、当該検査数記録手段は装置設定パラメータ
   の変更前後の検査数を選択した記録形態で記録する、請
   求項１記載の異物検査装置。