JP6966361B2 - 電圧低下検知システム - Google Patents

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Description

本発明は、バッテリの電圧低下を検知する電圧低下検知システムに関する。
例えば、数値制御装置(CNC)等において、各種パラメータ値を記憶するため、バッテリによってバックアップされるSRAM等の揮発性メモリが用いられているが、バッテリ電圧の低下により揮発性メモリのデータが保持できなくなるため、バッテリ電圧の低下を早期に検出する手段が求められている。
この点、例えば特許文献1は、二次電池の使用状態を監視して、二次電池の劣化を防止するため、無負荷状態の一種である停止状態となる直前の電池電圧と、使用限界近くの低電圧値、又は電池の劣化限界の終止電圧値との比較結果を、停止状態中でも記憶する記憶する手段を備え、この記憶手段に記憶された比較結果と、電源投入時の比較結果とに基づいて、二次電池の使用状態を判定する、電池の保護回路を開示している。
また、特許文献2は、バッテリによってバックアップされるRAMを有する数値制御装置であって、バッテリ電圧が不足している場合には、アラーム診断画面にバッテリに異常があることが表示される数値制御装置を開示している。
特開平6−188031号公報 特開平7−234987号公報
特許文献2にも開示されるように、数値制御装置においては、通常、主電源のON時にバックアップ用のバッテリの電圧を監視することにより、バッテリの電圧の低下を検出している。しかし、特許文献1の図3にも記載があるように、バッテリに対して負荷が有る状態と負荷が無い状態、すなわち、主電源のOFF時と主電源のON時とでは、バッテリ自体の特性により電圧が変動してしまうため、主電源のOFF時のバッテリの電圧の低下を正確に検出することができなかった。
本発明は、主電源のOFF時におけるバックアップ用のバッテリの電圧の低下を正確に検出することが可能な電圧低下検知システムを提供することを目的とする。
(1) 本発明に係る電圧低下検知システム(例えば、後述の「電圧低下検知システム1」)は、主電源のOFF時に第1の揮発性メモリ(例えば、後述の「第1の揮発性メモリ14」)に電力を供給するバッテリ(例えば、後述の「バッテリ12」)の電圧の低下を検知する電圧低下検知システムであって、前記バッテリに対し、前記第1の揮発性メモリと並列に接続される第2の揮発性メモリ(例えば、後述の「第2の揮発性メモリ17」)と、主電源のON時に、前記第2の揮発性メモリにデータを書き込むデータ書き込み部(例えば、後述の「データ書き込み部111」)と、主電源のOFF時に、前記バッテリから前記第1の揮発性メモリ及び前記第2の揮発性メモリに電力供給した後、主電源のON時に前記第2の揮発性メモリに書き込まれたデータの破損を検知するデータ破損検知部(例えば、後述の「データ破損検知部112」)と、主電源のON時に、前記データの破損の検知に基づいて前記バッテリの電圧の低下を検知する電圧低下検知部(例えば、後述の「電圧低下検知部113」)と、を備える。
(2) (1)の電圧低下検知システムは、前記バッテリの保証期間内において、前記主電源のOFF時に前記バッテリから前記第2の揮発性メモリに供給される電力の電圧が、前記第1の揮発性メモリ及び前記第2の揮発性メモリの最低データ保持電圧を下回るように当該電圧を降圧する降圧回路(例えば、後述の「降圧回路20」)を更に備えてもよい。
(3) (1)の電圧低下検知システムにおいて、前記第2の揮発性メモリの最低データ保持電圧が、前記第1の揮発性メモリの最低データ保持電圧よりも高くてもよい。
(4) (1)〜(3)の電圧低下検知システムは、前記バッテリの電圧の低下が検知された際に警報を発報する警報部(例えば、後述の「警報部114」)を更に備えてもよい。
本発明によれば、主電源のOFF時におけるバックアップ用のバッテリの電圧の低下を正確に検出することが可能な電圧低下検知システムを提供することが可能となる。
本発明の第1実施形態に係る電圧低下検知システムの全体構成を示す図である。 本発明の第1実施形態に係る電圧低下検知システムが有するCPUによって実現される機能ブロックを示す図である。 本発明の第1実施形態に係る電圧低下検知システムにおいて、実使用メモリと検出用メモリに印加する電圧の経時的変化を示すグラフである。 本発明の第1実施形態に係る電圧低下検知システムの動作を示すフローチャートである。 本発明の第2実施形態に係る電圧低下検知システムの全体構成を示す図である。 本発明の第2実施形態に係る電圧低下検知システムにおいて、実使用メモリと検出用メモリに印加する電圧の経時的変化を示すグラフである。 本発明の第2実施形態に係る電圧低下検知システムの動作を示すフローチャートである。
〔1 第1実施形態〕
以下、本発明の第1実施形態に係る電圧低下検知システムについて、図1〜図4を参照し、説明する。
〔1.1 発明の構成〕
図1は、本発明の第1実施形態に係る電圧低下検知システム1の全体構成を示す図である。電圧低下検知システム1は、第1の主電源13のOFF時に、第1の揮発性メモリ14をバックアップするバッテリ12の電圧の低下を検知するシステムであり、主として、CPU11と、電圧低下検知用のダミーの第2の揮発性メモリ17と、バッテリ12から第2の揮発性メモリ17に供給される電力の電圧を降圧する降圧回路20とを備える。
なお、以下では、第1の揮発性メモリ14を「実使用メモリ」と呼称することがある。また、第2の揮発性メモリ17を「検出用メモリ」と呼称することがある。
第1の揮発性メモリ14の最低データ保持電圧と、第2の揮発性メモリ17の最低データ保持電圧は同一である。なお、「最低データ保持電圧」とは、揮発性メモリに書き込まれたデータが破損しないために最低必要な、揮発性メモリに係る電圧のことであり、揮発性メモリに印加される電圧が最低データ保持電圧を下回ると、揮発性メモリに書き込まれたデータは保証されない。以下の説明においては、便宜上、揮発性メモリに印加される電圧が最低データ保持電圧を下回ると、揮発性メモリに書き込まれたデータが破損することとする。
また、第1の揮発性メモリ14及び第2の揮発性メモリ17は、典型的にはSRAMであるが、これには限定されない。
バッテリ12と第1の揮発性メモリ14との間には、第1の揮発性メモリ14に供給される電力の供給源を、バッテリ12又は第1の主電源13に切り替える切り替え回路16が設けられる。第1の主電源13のON時には、第1の揮発性メモリ14に対して第1の主電源13から電力が供給され、第1の主電源13のOFF時には、第1の揮発性メモリ14に対してバッテリ12から電力が供給されるように、切り替え回路16は第1の揮発性メモリ14への電力の供給源を切り替える。
また、バッテリ12及び切り替え回路16に対し、第1の揮発性メモリ14と並列にRTC(Real Time Clock)回路15が設けられる。RTC回路15は、一般のデジタルクロックと同様に、バッテリ12で動作する水晶発振器によって時刻をカウントするものである。その出力データは、第1の揮発性メモリ14及びRTC回路15に対し、バス21を介して接続するCPU11から読み出すことができる。更に、CPU11は、RTC回路15から読み出した出力データを、第1の揮発性メモリ14に書き込んでもよい。なお、RTC回路15は、バッテリ12に対して、第1の揮発性メモリ14と並列に設けられる負荷の一例であって、これには限定されない。他の負荷は、第1の揮発性メモリ14と並列に設けられてもよい。
また、バッテリ12に対して、第1の揮発性メモリ14及びRTC回路15の組に対して並列に第2の揮発性メモリ17が設置される。バッテリ12と第2の揮発性メモリ17との間には、第2の揮発性メモリ17に供給される電力の供給源を、バッテリ12又は第2の主電源18に切り替える切り替え回路19が設けられる。第2の主電源18のON時には、第1の揮発性メモリ14に対して第2の主電源18から電力が供給され、第2の主電源18のOFF時には、第1の揮発性メモリ14に対してバッテリ12から電力が供給されるように、切り替え回路19は第2の揮発性メモリ17への電力の供給源を切り替える。
更に、バッテリ12と切り替え回路19との間には、降圧回路20が設けられる。降圧回路20は、バッテリ12から第2の揮発性メモリ17に供給される電力の電圧を降圧させる回路である。これにより、バッテリ12から第2の揮発性メモリ17に供給される電力の電圧は、バッテリ12から第1の揮発性メモリ14に供給される電力の電圧よりも低くなる。更に、降圧回路20は、バッテリ12の保証期間内において、主電源のOFF時にバッテリ12から第2の揮発性メモリ17に供給される電力の電圧が、第1の揮発性メモリ14及び第2の揮発性メモリ17の最低データ保持電圧を下回るように、電圧を降圧する。
また、第1の揮発性メモリ14、RTC回路15、及び第2の揮発性メモリ17に対して、バス21を介してCPU11が接続する。CPU11は、電圧低下検知システム1を全体制御するプロセッサであると共に、第1の揮発性メモリ14及び第2の揮発性メモリ17にデータを書き込んだり、第1の揮発性メモリ14及び第2の揮発性メモリ17からデータを読み出したりすることが可能である。また、上述のように、CPU11はRTC回路15からの出力データを読み出すことも可能である。
更に、CPU11は、各種プログラムを、ROM、RAM、フラッシュメモリ又はハードディスク(HDD)等の記憶領域から適宜読み出して実行することにより、図2の機能ブロック図に記載される、データ書き込み部111、データ破損検知部112、電圧低下検知部113、及び警報部114の機能を実現する。
データ書き込み部111は、第1の揮発性メモリ14及び第2の揮発性メモリ17にデータを書き込み、とりわけ、第2の主電源18のON時に、第2の揮発性メモリ17に対してデータを書き込む。第2の揮発性メモリ17に対して書き込むデータとしては、例えば全て0のデータ又は全て1のデータであってよいが、これには限定されず、書き込まれたデータが破損した際、後述のように、データ破損検知部112によって破損が検知可能なデータであればよい。
第1の主電源13及び第2の主電源18のOFF時に、バッテリ12から第1の揮発性メモリ14及び第2の揮発性メモリ17に対して電力が供給された後、第1の主電源13及び第2の主電源18が再度ONとなった時に、データ破損検知部112は、第2の揮発性メモリ17に書き込まれたデータの破損を検知する。上記のように、データ書き込み部111が第2の揮発性メモリ17に対して全て0のデータを書き込んだ場合には、0から変化したデータが存在することをもって、データ破損検知部112はデータの破損を検知する。同様に、データ書き込み部111が第2の揮発性メモリ17に対して全て1のデータを書き込んだ場合には、1から変化したデータが存在することをもって、データ破損検知部112はデータの破損を検知する。
電圧低下検知部113は、第2の揮発性メモリ17に書き込まれたデータの破損がデータ破損検知部112によって検知されたことをトリガとして、バッテリ12の電圧の低下、延いてはバッテリ12の劣化を検知する。
警報部114は、電圧低下検知部113によってバッテリ12の電圧の低下が検知されたことをトリガとして、電圧低下検知システム1の外部に、バッテリ12の電圧が低下したこと、延いてはバッテリ12が劣化したことを示す警報を発報する。
〔1.2 電圧低下の検知方法〕
図3は、バッテリ12から第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)及び第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に印加する電圧の時間経過に伴う変遷を示す。第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)及び第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に印加される電圧は、時間の経過と共に、S字カーブを描きながら低下していく。より詳細には、電圧の印加が始まってから短期間に、電圧が急激に低下した後、電圧は長期的に緩やかに低下し、その後、電圧は再度急激に低下する。ここで、降圧回路20が存在するため、第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に印加される電圧は、第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)に印加される電圧よりも低くなるが、その分、第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)に印加される電圧よりも早く、図3の時刻T1において、最低データ保持電圧を下回る。その結果、時刻T1において、第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に書き込まれたデータが破損する。その後、バッテリ保証期間である時刻T2(>T1)において、第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)に印加される電圧が最低データ保持電圧を下回り、第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)に書き込まれたデータが破損する。データ破損検知部112は、時刻T2よりも早い時刻T1において、第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に書き込まれたデータの破損を検知することにより、第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)に書き込まれたデータが破損するよりも前に、バッテリ12から第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)及び第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に印加される電圧の低下、延いては、バッテリ12の劣化を検知することが可能となる。
〔1.3 電圧低下検知システムの動作〕
図4は、電圧低下検知システム1の動作を示すフローチャートである。
ステップS1において、第1の主電源13及び第2の主電源18のON時に、データ書き込み部111は、第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に全て0のデータ又は全て1のデータを書き込む。
ステップS2において、第1の主電源13及び第2の主電源18のOFF時に、バックアップとして、バッテリ12から第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)及び第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に対して電圧が印加されるが、この際、バッテリ12から第2の揮発性メモリ17に対して印加される電圧は、降圧回路20によって、第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)に印加される電圧よりも低く、かつ、バッテリ12の保証期間内において、第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)及び第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)の最低データ保持電圧を下回るように降圧される。
ステップS3において、第1の主電源13及び第2の主電源18のON時に、データ破損検知部112は、第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に書き込まれたデータを読み出す。
ステップS4において、第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に書き込まれたデータが変化していた場合、すなわち、データ破損検知部112が、第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に書き込まれたデータの破損を検知した場合(S4:Yes)には、処理はステップS5に移行する。第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に書き込まれたデータが変化していない場合、すなわち、データ破損検知部112が第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に書き込まれたデータの破損を検知しなかった場合(S4:No)には、処理はステップS6に移行する。
ステップS5において、電圧低下検知部113は、バッテリ12の電圧の低下、延いてはバッテリ12の劣化を検知する。
ステップS6において、電圧低下検知部113は、バッテリ12が正常状態にあると判定する。その後、処理はステップS4に戻る。
ステップS7において、警報部114は、電圧低下検知システム1の外部に、バッテリ12の電圧が低下したこと、延いてはバッテリ12が劣化したことを示す警報を発報する。
〔1.4 第1実施形態が奏する効果〕
第1実施形態に係る電圧低下検知システム1は、主電源のON時に第2の揮発性メモリ17にデータを書き込んだ後、主電源のOFFの期間にバッテリ12から第2の揮発性メモリ17に電力を供給してから、再度の主電源のON時に第2の揮発性メモリ17に書き込まれたデータの破損を検知し、データの破損の検知をトリガとして、バッテリ12の電圧低下を検知する。
これにより、主電源のOFF時におけるバックアップ用のバッテリの電圧の低下を正確に検出することが可能となる。
また、電圧低下検知システム1は、バッテリ12と第2の揮発性メモリ17との間に降圧回路20を備える。
これにより、第1の揮発性メモリ14に書き込まれたデータが破損するよりも前に、バッテリ12の電圧の低下を検知することが可能となる。
また、電圧低下検知システム1は、バッテリ12の電圧が低下したことを知らせる警報を発報する。
これにより、電圧低下検知システム1のユーザは、バッテリ12の劣化を容易に把握することが可能となる。
〔2 第2実施形態〕
以下、本発明の第2実施形態に係る電圧低下検知システムについて、図5〜図6を参照し、説明する。
〔2.1 発明の構成〕
図5は、本発明の第2実施形態に係る電圧低下検知システム1Aの全体構成を示す図である。なお、以下では説明の簡略化のため、電圧低下検知システム1Aが備える構成要素のうち、電圧低下検知システム1が備える構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を用いると共にその説明を省略し、主として、電圧低下検知システム1Aが第1実施形態に係る電圧低下検知システム1と異なる点について説明する。
電圧低下検知システム1Aは、電圧低下検知システム1と異なり、降圧回路20を有さない。電圧低下検知システム1において、第2の揮発性メモリ17の最低データ保持電圧は第1の揮発性メモリ14の最低データ保持電圧と同一であった。これに対して、電圧低下検知システム1Aが第2の揮発性メモリ17の代わりに備える第2の揮発性メモリ17Aの最低データ保持電圧は、第1の揮発性メモリ14の最低データ保持電圧よりも高い。
なお、CPU11が実現する各機能ブロックは、第1実施形態と同一であるため、その説明を省略する。
〔2.2 電圧低下の検知方法〕
図6は、バッテリ12から第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)及び第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)に印加する電圧の時間経過に伴う変遷を示す。実使用メモリ及び検出用メモリに印加される電圧は、時間経過と共に、S字カーブを描きながら低下していく。第2実施形態に係る電圧低下検知システム1Aにおいては、降圧回路20が存在しないため、バッテリ12から第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)に印加する電圧は、バッテリ12から第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)に印加する電圧と同一になる。このため、第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)と第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)とで、同一のS字カーブを描く。
しかし、第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)の最低データ保持電圧は、第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)の最低データ保持電圧よりも高いため、第2の揮発性メモリ17(検出用メモリ)に印加される電圧は、第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)に印加される電圧よりも早く、図6の時刻T3において、最低データ保持電圧を下回る。その結果、時刻T3において、第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)に書き込まれたデータが破損する。その後、バッテリ保証期間である時刻T4(>T3)において、第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)に印加される電圧が最低データ保持電圧を下回り、第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)に書き込まれたデータが破損する。データ破損検知部112は、時刻T4よりも早い時刻T3において、第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)に書き込まれたデータの破損を検知することにより、第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)に書き込まれたデータが破損するよりも前に、バッテリ12から第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)及び第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)に印加される電圧の低下、延いては、バッテリ12の劣化を検知することが可能となる。
〔2.3 電圧低下検知システムの動作〕
図7は、電圧低下検知システム1Aの動作を示すフローチャートである。
ステップS11において、第1の主電源13及び第2の主電源18のON時に、データ書き込み部111は、第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)に全て0又は全て1のデータを書き込む。
ステップS12において、第1の主電源13及び第2の主電源18のOFF時に、バックアップとして、バッテリ12から第1の揮発性メモリ14(実使用メモリ)及び第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)に対して同じ高さの電圧が印加される。
ステップS13において、第1の主電源13及び第2の主電源18のON時に、データ破損検知部112は、第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)に書き込まれたデータを読み出す。
ステップS14において、第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)に書き込まれたデータが変化していた場合、すなわち、データ破損検知部112が、第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)に書き込まれたデータの破損を検知した場合(S14:Yes)には、処理はステップS15に移行する。第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)に書き込まれたデータが変化していない場合、すなわち、データ破損検知部112が第2の揮発性メモリ17A(検出用メモリ)に書き込まれたデータの破損を検知しなかった場合(S14:No)には、処理はステップS16に移行する。
ステップS15において、電圧低下検知部113は、バッテリ12の電圧の低下、延いてはバッテリ12の劣化を検知する。
ステップS16において、電圧低下検知部113は、バッテリ12が正常状態にあると判定する。その後、処理はステップS14に戻る。
ステップS17において、警報部114は、電圧低下検知システム1Aの外部に、バッテリ12の電圧が低下したこと、延いてはバッテリ12が劣化したことを示す警報を発報する。
〔2.4 第2実施形態が奏する効果〕
第2実施形態に係る電圧低下検知システム1Aは、第1実施形態に係る電圧低下検知システム1と異なり、第1の揮発性メモリ14とは最低データ保持電圧の異なる第2の揮発性メモリ17Aを備える代わりに、降圧回路20を備えない。
これにより、第1実施形態に比較して簡便な回路で、第1の揮発性メモリ14に書き込まれたデータが破損するよりも前に、バッテリ12の電圧の低下を検知することが可能となる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は前述した実施形態に限るものではない。また、本実施形態に記載された効果は、本発明から生じる最も好適な効果を列挙したに過ぎず、本発明による効果は、本実施形態に記載されたものに限定されるものではない。
電圧低下検知システム1及び1Aによる電圧低下検知方法は、ソフトウェアにより実現される。ソフトウェアによって実現される場合には、このソフトウェアを構成するプログラムが、電圧低下検知システム1及び1Aに備わるコンピュータにインストールされる。また、これらのプログラムは、リムーバブルメディアに記録されてユーザに配布されてもよいし、ネットワークを介してユーザのコンピュータにダウンロードされることにより配布されてもよい。更に、これらのプログラムは、ダウンロードされることなくネットワークを介したWebサービスとしてユーザのコンピュータに提供されてもよい。
1 1A 電圧低下検知システム
11 CPU
12 バッテリ
13 18 主電源
14 第1の揮発性メモリ
17 17A 第2の揮発性メモリ
15 RTC回路
16 19 切り替え回路
20 降圧回路
21 バス

Claims (2)

  1. 主電源のOFF時に第1の揮発性メモリに電力を供給するバッテリの電圧の低下を検知する電圧低下検知システムであって、
    前記バッテリに対し、前記第1の揮発性メモリと並列に接続される第2の揮発性メモリと、
    前記バッテリと前記第1の揮発性メモリとの間に設けられ、前記第1の揮発性メモリに供給される電力の供給源をバッテリと主電源との間で切り替える第1の切り替え回路と、
    前記バッテリと前記第2の揮発性メモリとの間に設けられ、前記第2の揮発性メモリに供給される電力の供給源を前記バッテリと主電源との間で切り替える第2の切り替え回路と、
    主電源のON時に、前記第2の揮発性メモリにデータを書き込むデータ書き込み部と、
    主電源のOFF時に、前記バッテリから前記第1の揮発性メモリ及び前記第2の揮発性メモリに同一の電圧で電力を供給した後、主電源のON時に前記第2の揮発性メモリに書き込まれたデータの破損を検知するデータ破損検知部と、
    主電源のON時に、前記データの破損の検知に基づいて前記バッテリの電圧の低下を検知する電圧低下検知部と、を備え、
    前記第2の揮発性メモリの最低データ保持電圧が、前記第1の揮発性メモリの最低データ保持電圧よりも高く、
    前記第1の揮発性メモリと前記第2の揮発性メモリとに対して、前記バッテリから印加される電圧の時間経過に伴う変遷が同一である、電圧低下検知システム。
  2. 前記バッテリの電圧の低下が検知された際に警報を発報する警報部を更に備える、請求項1に記載の電圧低下検知システム。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0289111A (ja) 1988-09-26 1990-03-29 Canon Inc 電子機器
JP2665410B2 (ja) * 1991-03-28 1997-10-22 株式会社テック バックアップメモリを備えた電子機器
JPH06188031A (ja) 1992-12-16 1994-07-08 Atom Kk 電池の保護回路
JP3353441B2 (ja) 1994-02-22 2002-12-03 三菱電機株式会社 数値制御装置及びその故障診断システム
JP2003263372A (ja) * 2002-03-11 2003-09-19 Sharp Corp 誤動作防止装置
JP2008071403A (ja) * 2006-09-13 2008-03-27 Toshiba Corp 携帯型情報記録再生装置
JP2008299759A (ja) 2007-06-01 2008-12-11 Hitachi High-Technologies Corp バッテリバックアップ良否判定方法、バックアップメモリ付き制御装置およびバックアップメモリ装置
KR102424528B1 (ko) * 2015-06-11 2022-07-25 삼성전자주식회사 배터리의 상태를 추정하는 장치 및 방법
JP2017041182A (ja) * 2015-08-21 2017-02-23 ファナック株式会社 数値制御装置

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