JP2665410B2 - バックアップメモリを備えた電子機器 - Google Patents
バックアップメモリを備えた電子機器Info
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、バッテリにより電源
バックアップされるランダム・アクセス・メモリを備え
た電子機器に関する。
バックアップされるランダム・アクセス・メモリを備え
た電子機器に関する。
【０００２】
【従来の技術】電子機器、例えばＰＯＳ（販売時点情報
管理）端末装置は、ＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモ
リ）を設け、各種の販売管理データを記憶させるように
なっている。このためＲＡＭはバッテリにより電源バッ
クアップされ記憶されている各種の販売管理データが破
壊されないようにしている。
管理）端末装置は、ＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモ
リ）を設け、各種の販売管理データを記憶させるように
なっている。このためＲＡＭはバッテリにより電源バッ
クアップされ記憶されている各種の販売管理データが破
壊されないようにしている。
【０００３】しかしバッテリによる電源バックアップに
はバッテリ容量により制限があり、このため長期間メイ
ン電源をＯＦＦしているとバッテリの電圧が降下して、
ＲＡＭ破壊と呼ばれる現象が引き起こされることがあっ
た。
はバッテリ容量により制限があり、このため長期間メイ
ン電源をＯＦＦしているとバッテリの電圧が降下して、
ＲＡＭ破壊と呼ばれる現象が引き起こされることがあっ
た。
【０００４】このため従来では端末装置の制御部本体を
構成するＣＰＵ（中央処理装置）により図４に示す処理
を行うようになっていた。すなわちメイン電源がＯＮさ
れると、先ずＲＡＭチェックが行われ、このＲＡＭチェ
ックにおいてはＲＡＭに破壊が発生していないか否かが
検査される。そしてもしＲＡＭに破壊が発生している
と、ＰＯＳ端末装置に設けられている電源バックアップ
されないＲＡＭにＲＡＭ破壊が発生したことを示すフラ
グを立てる。
構成するＣＰＵ（中央処理装置）により図４に示す処理
を行うようになっていた。すなわちメイン電源がＯＮさ
れると、先ずＲＡＭチェックが行われ、このＲＡＭチェ
ックにおいてはＲＡＭに破壊が発生していないか否かが
検査される。そしてもしＲＡＭに破壊が発生している
と、ＰＯＳ端末装置に設けられている電源バックアップ
されないＲＡＭにＲＡＭ破壊が発生したことを示すフラ
グを立てる。
【０００５】続いて基本ＯＳ（オペレーティング・シス
テム）をロードし、続いて標準ＰＯＳ用ドライバをロー
ドし、さらに標準ＰＯＳ用ドライバにより使用するデー
タを格納する領域を確保するための共通テーブル領域確
保を行う。
テム）をロードし、続いて標準ＰＯＳ用ドライバをロー
ドし、さらに標準ＰＯＳ用ドライバにより使用するデー
タを格納する領域を確保するための共通テーブル領域確
保を行う。
【０００６】続いて前述の電源バックアップされないＲ
ＡＭのフラグをチェックし、そのＲＡＭ破壊の発生を示
すフラグが立てられているときは、ＲＡＭ破壊が発生し
たと判断して「システム異常（ＲＡＭ）、サービス技術
員に連絡して下さい。」というメッセージを表示する。
その後システムを起動させる。
ＡＭのフラグをチェックし、そのＲＡＭ破壊の発生を示
すフラグが立てられているときは、ＲＡＭ破壊が発生し
たと判断して「システム異常（ＲＡＭ）、サービス技術
員に連絡して下さい。」というメッセージを表示する。
その後システムを起動させる。
【０００７】なお、ＲＡＭ破壊の発生を示すフラグが立
てられていないときには直ちにシステムを起動させる。
てられていないときには直ちにシステムを起動させる。
【０００８】このように従来ではＲＡＭ破壊が発生した
か否かを単に表示するに過ぎなかった。
か否かを単に表示するに過ぎなかった。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところでＲＡＭ破壊の
原因の主な１つに、長期間停電であったために電源バッ
クアップ用のバッテリの電圧低下がある。しかし従来装
置では、ＲＡＭ破壊があったか否かを知らせるのみであ
るため、ＲＡＭ破壊についての原因が分からないという
問題があった。
原因の主な１つに、長期間停電であったために電源バッ
クアップ用のバッテリの電圧低下がある。しかし従来装
置では、ＲＡＭ破壊があったか否かを知らせるのみであ
るため、ＲＡＭ破壊についての原因が分からないという
問題があった。
【００１０】また、バッテリの電圧低下によるＲＡＭ破
壊が１回程度ではデータ管理上ほとんど問題にはならな
いが、このようなＲＡＭ破壊が数回発生するとＲＡＭを
使用する上で例えばプログラムの暴走が起こる等不都合
が生じる問題があった。
壊が１回程度ではデータ管理上ほとんど問題にはならな
いが、このようなＲＡＭ破壊が数回発生するとＲＡＭを
使用する上で例えばプログラムの暴走が起こる等不都合
が生じる問題があった。
【００１１】そこでこの発明は、メイン電源の停止期間
を計測できて、ＲＡＭ破壊の原因がバックアップバッテ
リの電圧低下であることを検証できるメッセージを表示
できるバックアップメモリを備えた電子機器を提供する
ことを目的とする。
を計測できて、ＲＡＭ破壊の原因がバックアップバッテ
リの電圧低下であることを検証できるメッセージを表示
できるバックアップメモリを備えた電子機器を提供する
ことを目的とする。
【００１２】また、バックアップバッテリーの電圧低下
によるＲＡＭ破壊の回数をカウントできてＲＡＭの不良
をメッセージ表示できるバックアップメモリを備えた電
子機器を提供することを目的とする。
によるＲＡＭ破壊の回数をカウントできてＲＡＭの不良
をメッセージ表示できるバックアップメモリを備えた電
子機器を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】請求項１対応の発明は、
電源バックアップされた時計回路およびバッテリにより
電源バックアップされたランダム・アクセス・メモリを
備えた電子機器において、不揮発性メモリと、各種の情
報を表示する表示手段と、メイン電源のオフ時、時計回
路からの時刻データを電源停止時刻データとして不揮発
性メモリに記憶させる電源停止時刻記録手段と、メイン
電源のオン時、ランダム・アクセス・メモリの状態を検
査する検査手段と、メイン電源のオン時、時計回路から
の時刻データと不揮発性メモリに記憶された電源停止時
刻データとから電源停止期間を算出して不揮発性メモリ
に記憶する電源停止期間記憶手段と、検査手段によりラ
ンダム・アクセス・メモリの破壊が検出され、かつ電源
停止期間記憶手段により不揮発性メモリに記憶された電
源停止期間が予め設定された規定期間以上のときランダ
ム・アクセス・メモリの電源バックアップ用バッテリの
電圧が低下したことを表示手段にメッセージ表示させる
バッテリー低下表示制御手段とを設けたものである。
電源バックアップされた時計回路およびバッテリにより
電源バックアップされたランダム・アクセス・メモリを
備えた電子機器において、不揮発性メモリと、各種の情
報を表示する表示手段と、メイン電源のオフ時、時計回
路からの時刻データを電源停止時刻データとして不揮発
性メモリに記憶させる電源停止時刻記録手段と、メイン
電源のオン時、ランダム・アクセス・メモリの状態を検
査する検査手段と、メイン電源のオン時、時計回路から
の時刻データと不揮発性メモリに記憶された電源停止時
刻データとから電源停止期間を算出して不揮発性メモリ
に記憶する電源停止期間記憶手段と、検査手段によりラ
ンダム・アクセス・メモリの破壊が検出され、かつ電源
停止期間記憶手段により不揮発性メモリに記憶された電
源停止期間が予め設定された規定期間以上のときランダ
ム・アクセス・メモリの電源バックアップ用バッテリの
電圧が低下したことを表示手段にメッセージ表示させる
バッテリー低下表示制御手段とを設けたものである。
【００１４】請求項２対応の発明は、電源バックアップ
された時計回路およびバッテリにより電源バックアップ
されたランダム・アクセス・メモリを備えた電子機器に
おいて、不揮発性メモリと、各種の情報を表示する表示
手段と、メイン電源のオフ時、時計回路からの時刻デー
タを電源停止時刻データとして不揮発性メモリに記憶さ
せる電源停止時刻記録手段と、メイン電源のオン時、ラ
ンダム・アクセス・メモリの状態を検査する検査手段
と、メイン電源のオン時、時計回路からの時刻データと
不揮発性メモリに記憶された電源停止時刻データとから
電源停止期間を算出して不揮発性メモリに記憶する電源
停止期間記憶手段と、検査手段によりランダム・アクセ
ス・メモリの破壊が検出され、かつ電源停止期間記憶手
段により不揮発性メモリに記憶した電源停止期間が予め
設定された規定期間以上のとき不揮発性メモリにランダ
ム・アクセス・メモリの破壊回数を累積記憶させる破壊
回数記憶手段と、この破壊回数記憶手段により累積され
た破壊の回数が予め設定された規定回数以上のときラン
ダム・アクセス・メモリの不良を表示手段にメッセージ
表示させるメモリ不良表示制御手段とを設けたものであ
る。
された時計回路およびバッテリにより電源バックアップ
されたランダム・アクセス・メモリを備えた電子機器に
おいて、不揮発性メモリと、各種の情報を表示する表示
手段と、メイン電源のオフ時、時計回路からの時刻デー
タを電源停止時刻データとして不揮発性メモリに記憶さ
せる電源停止時刻記録手段と、メイン電源のオン時、ラ
ンダム・アクセス・メモリの状態を検査する検査手段
と、メイン電源のオン時、時計回路からの時刻データと
不揮発性メモリに記憶された電源停止時刻データとから
電源停止期間を算出して不揮発性メモリに記憶する電源
停止期間記憶手段と、検査手段によりランダム・アクセ
ス・メモリの破壊が検出され、かつ電源停止期間記憶手
段により不揮発性メモリに記憶した電源停止期間が予め
設定された規定期間以上のとき不揮発性メモリにランダ
ム・アクセス・メモリの破壊回数を累積記憶させる破壊
回数記憶手段と、この破壊回数記憶手段により累積され
た破壊の回数が予め設定された規定回数以上のときラン
ダム・アクセス・メモリの不良を表示手段にメッセージ
表示させるメモリ不良表示制御手段とを設けたものであ
る。
【００１５】
【作用】このような構成の本発明において、メイン電源
のＯＦＦ時、時計回路から得られる電源停止時刻データ
が電源停止時刻記録手段により不揮発性メモリに記憶さ
れる。メイン電源のオン時、時計回路から得られる電源
開始時刻データと不揮発性メモリに記憶された電源停止
時刻データとに基づいて、電源停止期間記憶手段により
電源停止期間が算出され不揮発性メモリに記憶される。
のＯＦＦ時、時計回路から得られる電源停止時刻データ
が電源停止時刻記録手段により不揮発性メモリに記憶さ
れる。メイン電源のオン時、時計回路から得られる電源
開始時刻データと不揮発性メモリに記憶された電源停止
時刻データとに基づいて、電源停止期間記憶手段により
電源停止期間が算出され不揮発性メモリに記憶される。
【００１６】メイン電源のオン時、電源バックアップさ
れているランダム・アクセス・メモリの状態が検査手段
により検査され、ランダム・アクセス・メモリの破壊が
検出され、かつ電源停止期間が規定期間以上ならば電源
バックアップ用バッテリの電圧が低下したことを表示手
段を制御してメッセージ表示させる。また、メイン電源
のオン時、検出手段によりランダム・アクセス・メモリ
の破壊が検出され、かつ電源停止期間が規定期間以上な
らば、ランダム・アクセス・メモリの破壊回数が破壊回
数記憶手段により不揮発性メモリに累積記憶される。そ
の不揮発性メモリに累積記憶されたランダム・アクセス
・メモリの破壊回数が規定回数以上のとき、ランダム・
アクセス・メモリの不良を表示手段を制御してメッセー
ジ表示させる。
れているランダム・アクセス・メモリの状態が検査手段
により検査され、ランダム・アクセス・メモリの破壊が
検出され、かつ電源停止期間が規定期間以上ならば電源
バックアップ用バッテリの電圧が低下したことを表示手
段を制御してメッセージ表示させる。また、メイン電源
のオン時、検出手段によりランダム・アクセス・メモリ
の破壊が検出され、かつ電源停止期間が規定期間以上な
らば、ランダム・アクセス・メモリの破壊回数が破壊回
数記憶手段により不揮発性メモリに累積記憶される。そ
の不揮発性メモリに累積記憶されたランダム・アクセス
・メモリの破壊回数が規定回数以上のとき、ランダム・
アクセス・メモリの不良を表示手段を制御してメッセー
ジ表示させる。
【００１７】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図面を参照して
を説明する。なお、この実施例はこの発明をＰＯＳ端末
装置に適用したものについて述べる。
を説明する。なお、この実施例はこの発明をＰＯＳ端末
装置に適用したものについて述べる。
【００１８】図１に示すように、制御部本体を構成する
ＣＰＵ（中央演算処理装置）１を設け、このＣＰＵ１に
プログラムデータを記憶したＲＯＭ（リード・オンリ・
メモリ）２、各種販売管理データを記憶するＲＡＭ（ラ
ンダム・アクセス・メモリ）３、ＲＡＭ破壊があるとフ
ラグが立てられる補助ＲＡＭ４、および年、月、日、
時、分、秒の時刻をカウントする時計回路５をシステム
バス６を介してそれぞれ接続している。
ＣＰＵ（中央演算処理装置）１を設け、このＣＰＵ１に
プログラムデータを記憶したＲＯＭ（リード・オンリ・
メモリ）２、各種販売管理データを記憶するＲＡＭ（ラ
ンダム・アクセス・メモリ）３、ＲＡＭ破壊があるとフ
ラグが立てられる補助ＲＡＭ４、および年、月、日、
時、分、秒の時刻をカウントする時計回路５をシステム
バス６を介してそれぞれ接続している。
【００１９】なお、前記ＲＡＭ３は、停電時にはバック
アップバッテリ７により電源がバックアップされるよう
になっており、前記補助ＲＡＭ４および前記時計回路５
は、長期間の電力保証された電池１７から電力が供給さ
れるようになっている。
アップバッテリ７により電源がバックアップされるよう
になっており、前記補助ＲＡＭ４および前記時計回路５
は、長期間の電力保証された電池１７から電力が供給さ
れるようになっている。
【００２０】また前記ＣＰＵ１に、通信Ｉ／Ｆ８、キー
ボード１２を制御するキーボードコントローラ９、表示
器１３を表示制御する表示コントローラ１０、プリンタ
１４を制御するプリンタコントローラ１１、ハードディ
スク装置１６とデータの交信を行うハードディスクＩ／
Ｆ１５を前記システムバス６を介してそれぞれ接続して
いる。
ボード１２を制御するキーボードコントローラ９、表示
器１３を表示制御する表示コントローラ１０、プリンタ
１４を制御するプリンタコントローラ１１、ハードディ
スク装置１６とデータの交信を行うハードディスクＩ／
Ｆ１５を前記システムバス６を介してそれぞれ接続して
いる。
【００２１】前記通信Ｉ／Ｆ８は回線を介してホストコ
ンピュータに接続されている。
ンピュータに接続されている。
【００２２】なお、前記ハードディスク１６は、不揮発
性メモリとして、電源停止時刻および電源開始時刻を記
憶するメモリ領域が形成されると共に、ＲＡＭ破壊の回
数を累積記憶するカウンタが形成されている。
性メモリとして、電源停止時刻および電源開始時刻を記
憶するメモリ領域が形成されると共に、ＲＡＭ破壊の回
数を累積記憶するカウンタが形成されている。
【００２３】前記ＣＰＵ１は図２に示す電源ＯＦＦ時の
処理を行うようになっている。
処理を行うようになっている。
【００２４】すなわちメイン電源がＯＦＦされると、Ｒ
ＡＭ３に記憶されているデータおよび時計回路５からそ
の時点の年、月、日、時、分、秒の電源停止時刻データ
をハードディスク１６に記憶させる。（電源停止時刻記
録手段）次にＲＡＭ３のデータがハードディスクに記憶
された事を示すセーブフラグをＯＮにして電源ＯＦＦ時
の処理は終了する。
ＡＭ３に記憶されているデータおよび時計回路５からそ
の時点の年、月、日、時、分、秒の電源停止時刻データ
をハードディスク１６に記憶させる。（電源停止時刻記
録手段）次にＲＡＭ３のデータがハードディスクに記憶
された事を示すセーブフラグをＯＮにして電源ＯＦＦ時
の処理は終了する。
【００２５】これらの処理を行うとしばらくしてメイン
電源が完全にＯＦＦすることになる。
電源が完全にＯＦＦすることになる。
【００２６】前記ＣＰＵ１はまた図３に示す電源ＯＮ時
の処理を行うようになっている。
の処理を行うようになっている。
【００２７】すなわちメイン電源がＯＮされると、ＲＡ
Ｍ３に破壊が発生していないか否かを検査して（検査手
段）、補助ＲＡＭ４のＲＡＭ破壊のフラグにＲＡＭ破壊
が発生した事を示すビットかまたはＲＡＭ破壊無しを示
すビットを立てる。
Ｍ３に破壊が発生していないか否かを検査して（検査手
段）、補助ＲＡＭ４のＲＡＭ破壊のフラグにＲＡＭ破壊
が発生した事を示すビットかまたはＲＡＭ破壊無しを示
すビットを立てる。
【００２８】次に基本ＯＳ（オペレーティング・システ
ム）をロードし、標準ＰＯＳ用ドライバをロードし、標
準ＰＯＳ用ドライバにより使用するデータを格納する領
域を確保するための共通テーブル領域確保を行う。
ム）をロードし、標準ＰＯＳ用ドライバをロードし、標
準ＰＯＳ用ドライバにより使用するデータを格納する領
域を確保するための共通テーブル領域確保を行う。
【００２９】共通テーブル領域確保が行われると、電源
ＯＦＦ／ＯＮ時間ロギングプログラムを実行して、時計
回路５からそのときの年、月、日、時、分、秒の電源開
始時刻データを読み出してハードディスク１６に記憶す
ると共に、すでにハードディスク１６に記憶された電源
停止時刻データとその電源開始時刻データから電源停止
期間を算出してハードディスク１６に記憶させる。（電
源停止期間記憶手段）次に補助ＲＡＭ４のＲＡＭ破壊の
フラグをチェックして、そのフラグにＲＡＭ破壊が発生
した事を示すビットが立てられていなければ、そのまま
システムを起動させる。
ＯＦＦ／ＯＮ時間ロギングプログラムを実行して、時計
回路５からそのときの年、月、日、時、分、秒の電源開
始時刻データを読み出してハードディスク１６に記憶す
ると共に、すでにハードディスク１６に記憶された電源
停止時刻データとその電源開始時刻データから電源停止
期間を算出してハードディスク１６に記憶させる。（電
源停止期間記憶手段）次に補助ＲＡＭ４のＲＡＭ破壊の
フラグをチェックして、そのフラグにＲＡＭ破壊が発生
した事を示すビットが立てられていなければ、そのまま
システムを起動させる。
【００３０】また、補助ＲＡＭ４のＲＡＭ破壊のフラグ
にＲＡＭ破壊を示すビットが立てられているときは、ハ
ードディスク１６に記憶された電源停止期間が規定日数
以上か否かを判断して、規定日数以上ならばメッセージ
Ａとして、「数日間電源が切れていたため、バッテリ電
圧が低下しました。連続４８時間の通電又は１日１０時
間で、連続５日間通電してください。（業務を行うとき
はクリアキーを押してください。）」を表示器１３にメ
ッセージ表示させる。（バッテリー低下表示制御手段）
そして、ハードディスク１６に形成されているＲＡＭ破
壊回数のカウンタを＋１を加算し（破壊回数記憶手段）
てから、システムを起動させるようになっている。
にＲＡＭ破壊を示すビットが立てられているときは、ハ
ードディスク１６に記憶された電源停止期間が規定日数
以上か否かを判断して、規定日数以上ならばメッセージ
Ａとして、「数日間電源が切れていたため、バッテリ電
圧が低下しました。連続４８時間の通電又は１日１０時
間で、連続５日間通電してください。（業務を行うとき
はクリアキーを押してください。）」を表示器１３にメ
ッセージ表示させる。（バッテリー低下表示制御手段）
そして、ハードディスク１６に形成されているＲＡＭ破
壊回数のカウンタを＋１を加算し（破壊回数記憶手段）
てから、システムを起動させるようになっている。
【００３１】電源停止期間が規定日数以上でなければ、
ハードディスク１６のＲＡＭ破壊回数のカウンタをチェ
ックして、その回数が規定回数以上か否かを判断し、規
定回数以上ならば、メッセージＢとして、「メモリエラ
ーが発生しました。機器の点検が必要です。サービス技
術員に連絡して下さい。」を表示器１３にメッセージ表
示させる。（メモリ不良表示制御手段）ハードディスク
１６のＲＡＭ破壊の回数のカウンタに記憶された回数が
規定回数以上でなければ、そのままシステムを起動させ
るようになっている。
ハードディスク１６のＲＡＭ破壊回数のカウンタをチェ
ックして、その回数が規定回数以上か否かを判断し、規
定回数以上ならば、メッセージＢとして、「メモリエラ
ーが発生しました。機器の点検が必要です。サービス技
術員に連絡して下さい。」を表示器１３にメッセージ表
示させる。（メモリ不良表示制御手段）ハードディスク
１６のＲＡＭ破壊の回数のカウンタに記憶された回数が
規定回数以上でなければ、そのままシステムを起動させ
るようになっている。
【００３２】このように本実施例においては、メイン電
源ＯＦＦ時に時計回路５から電源停止時刻データが読み
出されてハードディスクに記憶され、メイン電源ＯＮ時
に時計回路５から電源開始時刻データが読み出されて電
源停止期間が算出され記憶される。
源ＯＦＦ時に時計回路５から電源停止時刻データが読み
出されてハードディスクに記憶され、メイン電源ＯＮ時
に時計回路５から電源開始時刻データが読み出されて電
源停止期間が算出され記憶される。
【００３３】ＲＡＭ破壊が検出されたとき、この電源停
止期間が規定日数以上かチェックし、規定日数以上なら
ばメッセージＡを表示して、ＲＡＭ破壊の原因としてバ
ックアップバッテリ７の電圧低下をメッセージ表示し、
そのＲＡＭ３に発生したＲＡＭ破壊の回数が累積記憶さ
れる。
止期間が規定日数以上かチェックし、規定日数以上なら
ばメッセージＡを表示して、ＲＡＭ破壊の原因としてバ
ックアップバッテリ７の電圧低下をメッセージ表示し、
そのＲＡＭ３に発生したＲＡＭ破壊の回数が累積記憶さ
れる。
【００３４】また、電源停止期間が規定日数以上でなけ
れば、ＲＡＭ破壊の発生した回数をチェックし、ＲＡＭ
破壊の回数が規定回数以上ならば、メッセージＢを表示
して、ＲＡＭ３の不良をメッセージ表示する。
れば、ＲＡＭ破壊の発生した回数をチェックし、ＲＡＭ
破壊の回数が規定回数以上ならば、メッセージＢを表示
して、ＲＡＭ３の不良をメッセージ表示する。
【００３５】このように本実施例によれば、メイン電源
ＯＦＦ時およびメイン電源ＯＮ時にその時の時刻データ
がハードディスクに記憶され、それらの時刻データに基
づいて電源停止期間が算出して記憶できる。
ＯＦＦ時およびメイン電源ＯＮ時にその時の時刻データ
がハードディスクに記憶され、それらの時刻データに基
づいて電源停止期間が算出して記憶できる。
【００３６】その結果、ＲＡＭ破壊が発生したときに、
ＲＡＭ破壊の原因についてバックアップバッテリの電圧
の低下を電源停止期間から検証してメッセージ表示で
き、しかも、ＲＡＭ破壊の回数を累積記憶しているの
で、ＲＡＭ破壊が規定回数以上発生したＲＡＭについ
て、使用者にＲＡＭの不良としてメッセージ表示でき
る。
ＲＡＭ破壊の原因についてバックアップバッテリの電圧
の低下を電源停止期間から検証してメッセージ表示で
き、しかも、ＲＡＭ破壊の回数を累積記憶しているの
で、ＲＡＭ破壊が規定回数以上発生したＲＡＭについ
て、使用者にＲＡＭの不良としてメッセージ表示でき
る。
【００３７】従って、ＲＡＭ破壊の原因でバックアップ
バッテリの電圧の低下によるものについては明確にする
ことができるので、ＲＡＭ破壊に関係した責任問題でユ
ーザーとトラブルになる虞はなくなる。
バッテリの電圧の低下によるものについては明確にする
ことができるので、ＲＡＭ破壊に関係した責任問題でユ
ーザーとトラブルになる虞はなくなる。
【００３８】なお、この実施例においては、ハードディ
スク１６に電源停止時刻、電源開始時刻および電源停止
期間を記憶し、ＲＡＭ破壊回数をカウントするカウンタ
を形成したが、ハードディスクに代えて、長期間の電力
保証された電池から電力が供給される補助ＲＡＭ４に、
電源停止時刻、電源開始時刻および電源停止期間を記憶
し、ＲＡＭ破壊回数をカウントするカウンタを形成して
も良い。
スク１６に電源停止時刻、電源開始時刻および電源停止
期間を記憶し、ＲＡＭ破壊回数をカウントするカウンタ
を形成したが、ハードディスクに代えて、長期間の電力
保証された電池から電力が供給される補助ＲＡＭ４に、
電源停止時刻、電源開始時刻および電源停止期間を記憶
し、ＲＡＭ破壊回数をカウントするカウンタを形成して
も良い。
【００３９】
【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
メイン電源の停止期間を計測できて、ＲＡＭ破壊の原因
がバックアップバッテリの電圧低下であることを検証で
きるメッセージを表示できるバックアップメモリを備え
た電子機器を提供できる。
メイン電源の停止期間を計測できて、ＲＡＭ破壊の原因
がバックアップバッテリの電圧低下であることを検証で
きるメッセージを表示できるバックアップメモリを備え
た電子機器を提供できる。
【００４０】また、バックアップバッテリーの電圧低下
によるＲＡＭ破壊の回数をカウントできてＲＡＭの不良
をメッセージ表示できるバックアップメモリを備えた電
子機器を提供できる。
によるＲＡＭ破壊の回数をカウントできてＲＡＭの不良
をメッセージ表示できるバックアップメモリを備えた電
子機器を提供できる。
【図１】この発明の一実施例を示す回路構成のブロック
図。
図。
【図２】同実施例を示す電源ＯＦＦ時の処理の流れ図。
【図３】同実施例を示す電源ＯＮ時の処理の流れ図。
【図４】従来例を示す電源ＯＮ時の処理の流れ図。
１…ＣＰＵ、３…ＲＡＭ、５…時計回路、１３…表示
器、１６…ハードディスク。
器、１６…ハードディスク。
Claims (2)
- 【請求項１】 電源バックアップされた時計回路および
バッテリにより電源バックアップされたランダム・アク
セス・メモリを備えた電子機器において、不揮発性メモ
リと、各種の情報を表示する表示手段と、メイン電源の
オフ時、前記時計回路からの時刻データを電源停止時刻
データとして前記不揮発性メモリに記憶させる電源停止
時刻記録手段と、前記メイン電源のオン時、前記ランダ
ム・アクセス・メモリの状態を検査する検査手段と、前
記メイン電源のオン時、前記時計回路からの時刻データ
と前記不揮発性メモリに記憶された電源停止時刻データ
とから電源停止期間を算出して前記不揮発性メモリに記
憶する電源停止期間記憶手段と、前記検査手段により前
記ランダム・アクセス・メモリの破壊が検出され、かつ
前記電源停止期間記憶手段により前記不揮発性メモリに
記憶された電源停止期間が予め設定された規定期間以上
のとき前記ランダム・アクセス・メモリの電源バックア
ップ用バッテリの電圧が低下したことを前記表示手段に
メッセージ表示させるバッテリー低下表示制御手段とを
設けたことを特徴とするバックアップメモリを備えた電
子機器。 - 【請求項２】 電源バックアップされた時計回路および
バッテリにより電源バックアップされたランダム・アク
セス・メモリを備えた電子機器において、不揮発性メモ
リと、各種の情報を表示する表示手段と、メイン電源の
オフ時、前記時計回路からの時刻データを電源停止時刻
データとして前記不揮発性メモリに記憶させる電源停止
時刻記録手段と、前記メイン電源のオン時、前記ランダ
ム・アクセス・メモリの状態を検査する検査手段と、前
記メイン電源のオン時、前記時計回路からの時刻データ
と前記不揮発性メモリに記憶された電源停止時刻データ
とから電源停止期間を算出して前記不揮発性メモリに記
憶する電源停止期間記憶手段と、前記検査手段により前
記ランダム・アクセス・メモリの破壊が検出され、かつ
前記電源停止期間記憶手段により前記不揮発性メモリに
記憶した電源停止期間が予め設定された規定期間以上の
とき前記不揮発性メモリに前記ランダム・アクセス・メ
モリの破壊回数を累積記憶させる破壊回数記憶手段と、
この破壊回数記憶手段により累積された破壊の回数が予
め設定された規定回数以上のとき前記ランダム・アクセ
ス・メモリの不良を前記表示手段にメッセージ表示させ
るメモリ不良表示制御手段とを設けたことを特徴とする
バックアップメモリを備えた電子機器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3089868A JP2665410B2 (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | バックアップメモリを備えた電子機器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3089868A JP2665410B2 (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | バックアップメモリを備えた電子機器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04302090A JPH04302090A (ja) | 1992-10-26 |
| JP2665410B2 true JP2665410B2 (ja) | 1997-10-22 |
Family
ID=13982751
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3089868A Expired - Fee Related JP2665410B2 (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | バックアップメモリを備えた電子機器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2665410B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6966361B2 (ja) * | 2018-03-08 | 2021-11-17 | ファナック株式会社 | 電圧低下検知システム |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02120999A (ja) * | 1988-10-29 | 1990-05-08 | Omron Tateisi Electron Co | 電子機器の電源断処理装置 |
-
1991
- 1991-03-28 JP JP3089868A patent/JP2665410B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04302090A (ja) | 1992-10-26 |
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