JP2755159B2 - 情報処理装置の自己診断方式 - Google Patents

情報処理装置の自己診断方式

Info

Publication number
JP2755159B2
JP2755159B2 JP6065633A JP6563394A JP2755159B2 JP 2755159 B2 JP2755159 B2 JP 2755159B2 JP 6065633 A JP6065633 A JP 6065633A JP 6563394 A JP6563394 A JP 6563394A JP 2755159 B2 JP2755159 B2 JP 2755159B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diagnosis
self
time
program
central processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP6065633A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07248937A (ja
Inventor
也寸志 宮▲崎▼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP6065633A priority Critical patent/JP2755159B2/ja
Publication of JPH07248937A publication Critical patent/JPH07248937A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2755159B2 publication Critical patent/JP2755159B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置の構成要
素である中央処理装置,主記憶装置,周辺装置の自己診
断を行なう情報処理装置の自己診断方式に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より情報処理装置を構成する中央処
理装置,主記憶装置,周辺装置の障害を検出するため
に、自己診断プログラムによる診断が実施されており、
その時期としては、例えば、特開平3−22145号公
報に見られるように電源投入時とするのが一般的であっ
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】情報処理装置の電源投
入時に自己診断プログラムによる診断を実施することに
より、情報処理装置の稼動前に中央処理装置,主記憶装
置,周辺装置の障害の有無が確かめられ、若し障害が発
生していれば、業務プログラムの稼動前に修理,交換を
行なうことにより、周辺装置等に障害が発生した状態で
業務プログラムが稼動してしまうことはない。
【0004】しかし、電源投入時に障害が発生していな
くても、長く使用を続けている内に経年変化により障害
が発生しやすい状態になり稼動中に障害が発生してしま
うことがある。このため、定期的な保守を実施し、定期
保守時に自己診断プログラムを起動して診断することも
行なわれているが、このような定期保守によるものに
は、次のような問題がある。
【0005】定期保守を何時実施するのかを、人手で管
理する必要があり、管理が煩雑になるという問題があ
る。また、定期保守は一定期間毎に実施されるため、一
定期間内の使用時間が多い装置も、逆に使用時間が少な
い装置も、一律に診断が行なわれることになり、使用時
間に応じた過不足のない診断を実施することができない
という問題がある。
【0006】本発明の目的は、使用時間に応じた過不足
のない自己診断を人手の介入なしに行なうことができる
情報処理装置の自己診断方式を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
できるようにすると共に、修理,交換後の診断対象装置
ではしばらく故障が起きにくいという実情にあったタイ
ミングで診断を行えるようにするため、中央処理装置と
主記憶装置と周辺装置とをバスにより接続して構成した
情報処理装置に於いて、前記中央処理装置,前記主記憶
装置及び前記周辺装置の内、予め診断対象装置として定
められた装置それぞれに対応して、対応する診断対象装
置が実装或いは修理されてから自己診断プログラムを最
初に実行するまでは、実装或いは修理されてからの対応
する診断対象装置の使用時間を計測し、計測した使用時
間が対応する診断対象装置に固有の規定時間以上となる
ことにより、自己診断プログラムを実行して対応する診
断対象装置の自己診断を行ない、自己診断プログラムを
既に実行した後は、前回の自己診断プログラム実行時か
らの対応する診断対象装置の使用時間を計測し、計測し
た使用時間が前記規定時間より短い時間である対応する
診断対象装置に固有の診断間隔以上となることにより、
自己診断プログラムを実行して対応する診断対象装置の
自己診断を行なう時間監視部を備えたものである。
【0008】また、本発明は、計測した診断対象装置の
使用時間が情報処理装置の電源断によって失われずに電
源断以前の時点からの累積値として計測し得るようにす
ることを目的として、時間監視部は、不揮発性メモリか
ら構成される実行タイミング判定情報記憶部を有し、計
測した使用時間を実行タイミング判定情報記憶部に保持
する。
【0009】更に、本発明は、診断対象装置の障害の有
無以外に、障害に至らないが所定回数のリトライを繰り
返さなければ正常動作しないといった、障害を起こす可
能性の高い状態をも検出して、障害発生前に、より確実
に診断対象装置の修理,交換が行なえるようにすること
を目的として、前記自己診断プログラムは、前記診断対
象装置の障害の有無及び障害に至らないが障害を起こす
可能性の高い状態の有無を検出するプログラムを使用す
る。
【0010】
【0011】更に、本発明は、診断対象装置が実装或い
は修理された後の最初の自己診断が、通常処理をあまり
妨げることがなく、且つ障害を迅速に検出することがで
きる最適な時期に行なわれることを目的として、規定時
間を、平均故障間隔とする。
【0012】
【作用】本発明の情報処理装置の自己診断方式に於いて
は、各診断対象装置それぞれに対応して設けられている
時間監視部が、対応する診断対象装置の使用時間を計測
しており、計測した使用時間が対応する診断対象装置に
固有の診断間隔以上となると、自己診断プログラムを実
行し、対応する診断対象装置の自己診断を行なう。自己
診断プログラムは、診断対象装置の障害の有無を検出す
ると共に、障害には至らないが、障害を起こす可能性の
高い状態の有無も検出する。
【0013】、新たに実装或いは修理された診断対象
装置の第1回目の自己診断プログラムの実行について
は、その実行タイミングを平均故障間隔等の規定時間で
判定し、第2回目以降の自己診断プログラムの実行につ
いては、その実行タイミングを規定時間よりも短い診断
間隔で判定する。
【0014】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
詳細に説明する。
【0015】図1は本発明の実施例のブロック図であ
り、中央処理装置1と、主記憶装置2と、磁気ディスク
装置,フロッピーディスク装置等の周辺装置3,4と、
時間監視部5〜8と、表示装置9と、出力装置10と、
中央処理装置1,主記憶装置2,周辺装置3,4,表示
装置9及び入力装置10を接続するバス11とから構成
されている。
【0016】時間監視部5は、中央処理装置1の自己診
断を行なうための自己診断プログラムを有し、中央処理
装置1が新たに実装或いは修理されてから最初に自己診
断プログラムを実行するまでは、中央処理装置1の使用
時間を計測し、計測した使用時間が中央処理装置1の平
均故障間隔以上となることにより自己診断プログラムを
実行して中央処理装置1に対する第1回目の自己診断を
行ない、第1回目の自己診断を行なった後は、前回の自
己診断プログラムの実行時からの中央処理装置1の使用
時間を計測し、計測した使用時間が平均故障間隔より小
さな値である診断間隔以上となる毎に自己診断プログラ
ムを実行する機能を有する。
【0017】時間監視部6は、主記憶装置2の自己診断
を行なうための自己診断プログラムを有し、主記憶装置
2が新たに実装或いは修理されてから最初に自己診断プ
ログラムを実行するまでは、主記憶装置2の使用時間を
計測し、計測した使用時間が主記憶装置2の平均故障間
隔以上となることにより自己診断プログラムを実行して
主記憶装置2に対する第1回目の自己診断を行ない、第
1回目の自己診断を行なった後は、前回の自己診断プロ
グラムの実行時からの主記憶装置2の使用時間を計測
し、計測した使用時間が平均故障間隔より小さな値であ
る診断間隔以上となる毎に自己診断プログラムを実行す
る機能を有する。
【0018】図2は中央処理装置1の自己診断を担当す
る時間監視部5及び主記憶装置2の自己診断を担当する
時間監視部6の構成例を示したブロック図である。
【0019】時間監視部5,6は、それぞれMPU5
1,61と、自己診断プログラム記憶部52,62と、
実行タイミング判定情報記憶部53,63と、タイマ部
54,64と、間隔設定部55,65とから構成されて
いる。
【0020】自己診断プログラム記憶部52,62に
は、それぞれ中央処理装置1,主記憶装置2の自己診断
を行なうための自己診断プログラムが格納されている。
ここで、自己診断プログラムは、通常処理を実行できな
くなるような障害の有無及びそのような障害には至らな
いが障害を起こす可能性の高い状態の有無を検出する。
尚、予防的な保守は困難になるが、通常処理を実行でき
なくなるような障害の有無のみを検出するような自己診
断プログラムを使用しても良い。
【0021】実行タイミング判定情報記憶部53,63
は、それぞれ不揮発性のメモリから構成され、図3に示
すように、平均故障間隔と、使用時間と、診断間隔と、
フラグとが格納される。
【0022】平均故障間隔は、隣接した故障と故障との
間の時間の平均値であり、総動作時間をその期間中の総
故障数で割った値である。そして、この平均故障間隔
は、中央処理装置1,主記憶装置2が新たに実装或いは
修理された後に行なわれる第1回目の自己診断プログラ
ムの実行タイミイグを判定するために使用される。中央
処理装置1の自己診断を担当する時間監視部5内の実行
タイミング判定情報記憶部53には、中央処理装置1の
平均故障間隔MTBF1が、主記憶装置2の自己診断を
担当する時間監視部6の実行タイミング判定情報記憶部
63には、主記憶装置2の平均故障間隔MTBF2が初
期設定時に格納される。
【0023】使用時間は、電源が投入されてから切断さ
れるまでの時間の累積値である。但し、自己診断プログ
ラムの実行終了後及び修理完了後に「0」にされる。ま
た、初期設定時には、「0」に設定される。
【0024】診断間隔は、前回の自己診断プログラム実
行時から、どの程度時間が経過したら自己診断プログラ
ムを実行するのかを示す情報である。即ち、診断間隔
は、第2回目以降の自己診断プログラムの実行タイミン
グを判定するために使用される。中央処理装置1の自己
診断を担当する時間監視部5内の実行タイミング情報記
憶部53には、例えば、中央処理装置1の平均故障間隔
MTBF1の1/100程度の値が、主記憶装置2の自
己診断を担当する時間監視部6には、例えば、主記憶装
置2の平均故障間隔MTBF2の1/100程度の値が
格納される。
【0025】フラグは、自己診断プログラムの実行タイ
ミングの判定を、平均故障間隔を用いて行なうのか、診
断間隔を用いて行なうのかを示す情報であり、初期設定
時及び修理完了時にOFFにされ、第1回目の自己診断
プログラム実行終了時にONにされる。
【0026】尚、実行タイミング判定情報記憶部53,
63の初期設定は、情報処理装置の使用開始時に、操作
員が入力装置10から設定内容を入力し、中央処理装置
1が設定内容をバス11を介して時間監視部5,6に送
り、時間監視部5,6内のMPU51,61が送られて
きた設定内容を実行タイミング判定情報記憶部53,6
3に書き込むことにより行なわれる。
【0027】時間監視部7,8は、それぞれ周辺装置
3,4の自己診断を行なうための自己診断プログラムを
有し、周辺装置3,4が新たに実装或いは修理されてか
ら最初に自己診断プログラムを実行するまでは、周辺装
置3,4の使用時間を計測し、計測した使用時間が平均
故障間隔以上となることにより自己診断プログラムを実
行して周辺装置3,4に対する第1回目の自己診断を行
ない、第1回目の自己診断を行なった後は、前回の自己
診断プログラムの実行時からの周辺装置3,4の使用時
間を計測し、計測した使用時間が平均故障間隔より小さ
な値である診断間隔以上となる毎に自己診断プログラム
を実行する機能を有する。
【0028】図4は周辺装置3の自己診断を担当する時
間監視部7の構成例を示すブロック図であり、MPU7
1と、自己診断プログラム記憶部72と、実行タイミン
グ判定情報記憶部73と、アドレスレジスタ74と、比
較器75と、時計76と、デコーダ77とから構成され
ている。尚、周辺装置4の自己診断を担当する時間監視
部8も同様の構成を有する。
【0029】自己診断プログラム記憶部72には、周辺
装置3の自己診断を行なうための自己診断プログラムが
格納されている。この自己診断プログラムは、中央処理
装置1,主記憶装置2の自己診断を行なう自己診断プロ
グラムと同様に、通常処理を実行できなくなるような障
害の有無及びそのような障害には至らないが障害を起こ
す可能性の高い状態を検出するものであっても良く、ま
た、通常処理を実行できなくなるような障害の有無を検
出するだけのものであっても良い。
【0030】実行タイミング判定情報記憶部73は、不
揮発性メモリから構成され、図5に示すように、平均故
障間隔と、使用時間と、使用開始時刻と、診断間隔と、
フラグとが格納される。
【0031】平均故障間隔には、初期設定時に、周辺装
置3の平均故障間隔MTBF3が設定される。この平均
故障間隔MTBF3は、周辺装置3が新たに実装或いは
修理された後に行なわれる第1回目の自己診断プログラ
ムの実行タイミングを判定するために使用される。
【0032】使用時間は、周辺装置3がデータの読み書
き等のために実際に使用された時間の累積値である。但
し、自己診断プログラムの実行終了後及び修理完了後に
「0」にされる。また、初期設定時には、「0」に設定
される。
【0033】使用開始時刻は、周辺装置3の使用が開始
された最新の時刻を示すものである。尚、初期設定時に
は、NULLが設定される。
【0034】診断間隔は、前回の自己診断プログラム実
行時から、どの程度時間が経過したら自己診断プログラ
ムを実行するのかを示す情報である。即ち、診断間隔
は、第2回目以降の自己診断プログラムの実行タイミン
グを判定するために使用される。周辺装置3の自己診断
を担当する時間監視部7内の実行タイミング情報記憶部
73には、例えば、周辺装置3の平均故障間隔MTBF
3の1/100程度の値が格納される。フラグは、自己
診断プログラムの実行タイミングの判定に、平均故障間
隔MTBF3を使用するのか、診断間隔MTBF3/1
00を使用するのかを示す情報である。
【0035】尚、実行タイミング判定情報記憶部73の
初期設定は、実行タイミング判定情報記憶部53,63
と同様にして行なわれる。
【0036】アドレスレジスタ74には、周辺装置3に
割り当てられているアドレスが設定される。
【0037】比較器75は、アドレスレジスタ74に設
定されている周辺装置3のアドレスとバス11上のアド
レスとを比較して比較一致の場合、MPU71に周辺装
置3の使用開始を通知する機能を有する。
【0038】デコーダ77は、周辺装置3がバス11に
出力する動作終了通知を解読すると、そのことをMPU
71に通知する機能を有する。
【0039】図6は周辺装置3の自己診断を担当する時
間監視部7の処理例を示す流れ図、図7は自己診断プロ
グラム実行時の処理例を示す流れ図、図8は主記憶装置
2の自己診断を担当する時間監視部6の処理例を示す流
れ図、図9は中央処理装置1の自己診断を担当する時間
監視部5の処理例を示す流れ図、図10は時間監視部5
で中央処理装置1の自己診断を行なうタイミングになっ
たと判定された時の中央処理装置1の処理例を示す流れ
図、図11は中央処理装置1に対する自己診断が正常終
了した時の中央処理装置1の処理例を示す流れ図であ
り、以下各図を参照して本実施例の動作を説明する。
【0040】先ず、周辺装置3の自己診断を担当する時
間監視部7の動作を説明する。
【0041】周辺装置3の使用開始時、中央処理装置1
からバス11に周辺装置3のアドレス,命令等が出力さ
れると、時間監視部7内の比較器75は、バス11上の
アドレスとアドレスレジスタ74に設定されているアド
レスとが一致することから、MPU71に対して周辺装
置3の使用が開始されたことを通知する。
【0042】MPU71は、この通知を受けると (図
6,ステップS1がYES)、時計76が示す時刻T1
を読み取り、その時刻T1を実行タイミング判定情報記
憶部73に、使用開始時刻として書き込む (ステップS
2)。その後、MPU71はステップS1の処理に戻
る。
【0043】一方、中央処理装置1からの命令を受けた
周辺装置3は、その命令に従った動作を行ない、その動
作が終了すると、バス11を介して中央処理装置1へ終
了通知を送る。この終了通知には、周辺装置3を示す情
報も含まれている。
【0044】周辺装置3からバス11に終了通知が出力
されると、デコーダ77がこれを解読してMPU71に
通知する。
【0045】MPU71は、この通知を受けると (ステ
ップS3がYES)、時計76から時刻T2を読み取
り、実行タイミング判定情報記憶部73に格納されてい
る使用開始時刻T1との差分(T2−T1)を求め (ス
テップS4)、その差分(T2−T1)を実行タイミン
グ判定情報記憶部73に格納されている使用時間に累積
する (ステップS5)。
【0046】その後、MPU71は、実行タイミング判
定情報記憶部73に格納されているフラグがOFFであ
るか否かを、即ち、周辺装置3が新たに実装或いは修理
されてから周辺装置3の自己診断を行なう自己診断プロ
グラムを実行したか否かを判断する (ステップS6)。
【0047】そして、フラグがONであると判断した場
合 (ステップS6がNO)は、MPU71は、実行タイ
ミング判定情報記憶部73に格納されている周辺装置3
の使用時間の累積値と診断間隔MTBF3とを比較し、
使用時間≧診断間隔となっているか否かを判断する (ス
テップS7)。
【0048】使用時間≧診断間隔となっていないと判断
した場合 (ステップS7がNO)は、ステップS1の処
理に戻る。
【0049】また、使用時間≧診断間隔となっていると
判断した場合 (ステップS7がYES)は、周辺装置3
の自己診断を開始することを中央処理装置1に通知した
後 (ステップS8)、自己診断プログラム記憶部72に
格納されている自己診断プログラムを実行して周辺装置
3の自己診断を行なう (ステップS9)。
【0050】ここで、中央処理装置1に周辺装置3の自
己診断を開始することを通知するのは、自己診断を行な
っている間、中央処理装置1に周辺装置3を使用させな
いようにするためである。
【0051】自己診断プログラムの実行時、MPU71
は、図7の流れ図に示すように、周辺装置3の所定の部
位の診断を、例えばその部位を動作させるための信号を
出力する等の方法で実行する (ステップS21)。ここ
で、所定の部位とは、周辺装置3に診断を実施すべき箇
所或いは機能が複数存在する場合の個々の箇所或いは機
能をいう。
【0052】MPU71は、自己診断が異常終了した場
合 (ステップS22がNO)、障害と判定する (ステッ
プS23)。ここで、診断が異常終了する場合とは、同
一の診断を予め定められた回数γだけリトライしても正
常な結果が得られなかった場合をいい、回数γ未満のリ
トライで正常な結果が得られた場合にはこの段階では障
害とは判定されず、リトライ無しで正常な結果が得られ
た場合と同様に正常と判定する。
【0053】また、ステップS22で診断が正常終了、
つまり障害無しと判定した場合は、ステップS21で行
なったリトライ回数と、保持している最大リトライ回数
(自己診断プログラムの起動時には0を保持している)
とを比較し、ステップS21で行なったリトライ回数の
方が多い場合は、最大リトライ回数をステップS21で
行なったリトライ回数に更新し、そうでない場合は、最
大リトライ回数をそのままにする (ステップS24)。
【0054】その後、ステップS21で行なったリトラ
イ回数を、保持している累積リトライ回数(自己診断プ
ログラムの起動時には0を保持している)に累積する
(ステップS23)。
【0055】MPU71は、以上の処理を診断部位が終
了するまで (ステップS26がYESとなるまで)繰り
返し行なう。
【0056】そして、周辺装置3の全ての診断部位に対
する診断が終了すると (ステップS26がYES)、M
PU71は障害があったか否かを判断する (ステップS
27)。
【0057】そして、障害有りと判断した場合 (ステッ
プS27がYES)は、中央処理装置1に異常終了通知
を行なう (ステップS30)。
【0058】また、障害無しと判断した場合 (ステップ
S27がNO)は、最大リトライ回数>α,累積リトラ
イ回数>βの条件の内、少なくとも一方が満たされてい
るか否かを判断することにより、周辺装置3が障害に至
っていないが障害を起こす可能性が高い状態であると判
断する (ステップS28)。ここで、αは障害と判定す
る値γよりも若干小さな値である。これは、何度かリト
ライしなければ正常動作しなかった部位は、障害を起こ
す可能性が高いためである。また、累積リトライ回数を
βと比較しているのは、当該周辺装置3の各部位で何れ
もリトライしなければならないような状態になっている
のは、やはり近い将来障害を起こす可能性が高いと考え
られるためである。
【0059】MPU71は、周辺装置3が障害を起こす
可能性の高い状態になっていると判断した場合 (ステッ
プS28がYES)は、中央処理装置1に対して異常終
了通知を行ない (ステップS30)、そうでないと判断
した場合 (ステップS28がNO)は、中央処理装置1
に対して正常終了通知を行なう (ステップS29)。
【0060】中央処理装置1は、異常終了が通知された
場合は、表示装置9に診断結果を表示して周辺装置3の
修理を保守員に促し、正常終了が通知された場合は、診
断結果を表示装置9に表示すると共に、周辺装置3を使
用した処理を再開する。
【0061】また、MPU71は、自己診断プログラム
の実行が終了すると、実行タイミング判定情報記憶部7
3に格納されている使用時間を「0」とする (ステップ
S10)。
【0062】その後、ステップS9で行なった自己診断
プログラムの実行結果が正常終了であった場合 (ステッ
プS11がYES)は、ステップS1の処理に戻り、異
常終了であった場合はステップS14の処理を行なう
【0063】また、フラグがOFFであると判断した場
合 (ステップS6がYES)は、MPU71は、実行タ
イミング判定情報記憶部73に格納されている使用時間
と平均故障間隔MTBF3とを比較し (ステップS1
2)、使用時間≧平均故障間隔の条件を満たしている場
合はフラグをONにした後 (ステップS13)、ステッ
プS8の処理を行ない、使用時間≧平均故障間隔の条件
を満たしていない場合は(ステップS12がNO)ステ
ップS1の処理を行なう。
【0064】また、表示装置9に周辺装置3の自己診断
が異常終了したことを示す診断結果が表示された場合、
保守員は、周辺装置3の修理を行ない、それが完了する
と、入力装置10から周辺装置3の修理完了通知を入力
する。
【0065】周辺装置3の自己診断を担当する時間監視
部7内のMPU71は、周辺装置3の修理完了通知を受
信すると (ステップS14がYES)、実行タイミング
判定情報記憶部73に格納されているフラグをOFFに
した後 (ステップS15)、ステップS1の処理に戻
る。また、中央処理装置1は、周辺装置3の修理完了通
知を受信すると、周辺装置3を使用した処理を再開す
る。
【0066】次に、主記憶装置2の自己診断を担当する
時間監視部6の動作を説明する。
【0067】時間監視部6内のMPU61は、情報処理
装置の電源が投入されると、図8の流れ図に示す処理を
開始し、先ず、実行タイミング判定情報記憶部63に格
納されているフラグがOFFであるか否かを、即ち主記
憶装置2が新たに実装或いは修理されてから主記憶装置
2の自己診断を行なう自己診断プログラムを実行したか
否かを判断する (ステップS31)。
【0068】そして、フラグがOFFであると判断した
場合、即ち、1回も自己診断プログラムを実行していな
いと判断した場合 (ステップS31がYES)は、実行
タイミング判定情報記憶部63から平均故障間隔MTB
F2を読み出して間隔設定部65に設定し (ステップS
32)、フラグがONであると判断した場合 (ステップ
S31がNO)は、実行タイミング判定情報記憶部63
から診断間隔MTBF1/100を読み出して間隔設定
部65に設定する (ステップS33)。
【0069】その後、MPU61は、実行タイミング判
定情報記憶部63に格納されている使用時間を読み出し
てタイマ部64に渡す (ステップS34)。
【0070】タイマ部64は、MPU61から使用時間
が渡されると、それを初期値として時間の計測を開始
し、計測時間が間隔設定部65に設定されている時間
(平均故障間隔或いは診断間隔)になると、MPU61
にそのことを通知する。
【0071】MPU61は、タイマ部64から上記した
通知を受けると (ステップS35がYES)、主記憶装
置2の自己診断を開始することを中央処理装置1に通知
する(ステップS36)。ここで、中央処理装置1に主
記憶装置2の自己診断開始を通知するのは、自己診断を
行なっている主記憶装置2を使用しないようにするため
である。
【0072】その後、MPU61は自己診断プログラム
記憶部62に格納されている自己診断プログラムに従っ
て主記憶装置2の自己診断を実行し、診断結果を中央処
理装置1に通知する (ステップS37)。
【0073】中央処理装置1は、MPU61から主記憶
装置2の自己診断結果が通知されると、MPU71から
周辺装置3の自己診断結果が通知された場合と同様の処
理を行なう。
【0074】主記憶装置2の自己診断が終了すると、M
PU61は、実行タイミング判定情報記憶部63に格納
されている使用時間を「0」とし (ステップS38)、
その後、フラグがOFFになっているか否かを判断する
(ステップS39)。
【0075】そして、フラグがONになっていると判断
した場合 (ステップS39がNO)は、主記憶装置2の
自己診断が正常終了であったか否かを判断する (ステッ
プS41)。
【0076】また、フラグがOFFになっていると判断
した場合 (ステップS39がYES)は、フラグをON
にした後 (ステップS40)、ステップS41の処理を
行なう。
【0077】ステップS41で主記憶装置2に対する自
己診断が正常終了であったと判断した場合は、ステップ
S31の処理に戻り、異常終了であったと判断した場合
は、主記憶装置2の修理完了通知が入力されるのを待つ
(ステップS42)。
【0078】保守員が主記憶装置2の修理を行ない、主
記憶装置2の修理完了通知を入力装置10から入力する
と (ステップS42がYES)、主記憶装置2の自己診
断を担当する時間監視部6内のMPU61は、実行タイ
ミング判定情報記憶部63に格納されている使用時間を
「0」にし (ステップS43)、更に、フラグをOFF
にし (ステップS44)、その後、ステップS31の処
理に戻る。
【0079】また、MPU61は、情報処理装置の電源
が断となると (ステップS45がYES)、タイマ部6
4が示している時間を読み取り (ステップS46)、読
み取った時間を使用時間として実行タイミング判定情報
記憶部63に書き込む。
【0080】次に、中央処理装置1の自己診断を担当す
る時間監視部5の動作を説明する。
【0081】中央処理装置1の自己診断を担当する時間
監視部5内のMPU51は、情報処理装置の電源が投入
されると、図9の流れ図に示す処理を開始し、先ず、実
行タイミング判定情報記憶部53に格納されているフラ
グがOFFになっているか否かを、即ち中央処理装置1
を新たに実装或いは修理した後、中央処理装置1の自己
診断を行なう自己診断プログラムを実行したか否かを判
断する (ステップS51)。
【0082】そして、フラグがOFFであると判断した
場合、即ち中央処理装置1の実装或いは修理後に自己診
断プログラムを実行していないと判断した場合 (ステッ
プS51がYES)は、間隔設定部55に平均故障間隔
MTBF1を設定し (ステップS52)、ONであると
判断した場合 (ステップS51がNO)は、間隔設定部
65に診断間隔MTBF1/100を設定する (ステッ
プS53)。
【0083】その後、MPU51は、実行タイミング判
定情報記憶部53に格納されている使用時間を読み込
み、読み込んだ使用時間をタイマ部54に渡す (ステッ
プS54)。
【0084】タイマ部54は、MPU51から使用時間
が渡されると、その時間を初期値にして時間の計測を開
始し、計測時間が間隔設定部55に設定されている平均
故障間隔或いは診断間隔となることにより、MPU51
にそのことを通知する。
【0085】MPU51は、タイマ部54からの通知を
受けると (ステップS55がYES)、中央処理装置1
に中央処理装置1の自己診断開始を通知する (ステップ
S56)。
【0086】この通知を受けると、中央処理装置1は、
図10の流れ図に示すように、自己診断後に現在の状態
を復元できるようにするため、レジスタの内容等を磁気
ディスク装置等に退避させる (ステップS71)。その
後、中央処理装置1は、退避完了を時間監視部5に通知
し(ステップS72)、処理を一時中断する (ステップ
S73)。
【0087】MPU51は、中央処理装置1からの退避
完了通知を受けると (ステップS57がYES)、自己
診断プログラム記憶部52に格納されている自己診断プ
ログラムを実行し、中央処理装置1の自己診断を実行す
る (ステップS58)。
【0088】ここで、自己診断プログラム実行時、MP
U51は、図7の流れ図に示した処理とほぼ同じ処理を
行なうが、ステップS29で正常終了を中央処理装置1
に通知する代わりに中央処理装置1の自己診断が正常終
了したことを表示装置9に表示し、ステップS30で異
常終了を中央処理装置1に通知する代わりに中央処理装
置1の自己診断が異常終了したことを表示装置9に表示
し、保守員に中央処理装置1の修理を促す。
【0089】中央処理装置1の自己診断が終了すると、
MPU51は、実行タイミング判定情報記憶部53に格
納されている使用時間を「0」にし (ステップS5
9)、その後、フラグがOFFであるか否かを判断する
(ステップS60)。
【0090】そして、フラグがONであると判断した場
合 (ステップS60がNO)は、ステップS58で行な
った自己診断が正常終了であったか否かを判断し (ステ
ップS62)、フラグがOFFであると判断した場合
(ステップS60がYES)は、フラグをONに変更し
た後 (ステップS61)、ステップS62の処理を行な
う。
【0091】ステップS62で、中央処理装置1の自己
診断が正常終了であったと判断した場合は、MPU50
は、中央処理装置1に正常終了を通知した後、ステップ
S51の処理に戻る。
【0092】正常終了が通知されると、中央処理装置1
は、図11の流れ図に示すように、図10のステップS
71で退避した情報を復元し (ステップS81)、その
後、処理を再開する (ステップS82)。
【0093】また、ステップS62で、中央処理装置1
の自己診断が異常終了であったと判断した場合は、MP
U51は、入力装置9から修理完了通知が入力されるの
を待つ (ステップS64)。
【0094】保守員は、表示装置9に中央処理装置1の
自己診断が異常終了したことが表示されると、中央処理
装置1の修理を行ない、修理が完了すると、修理完了通
知を入力装置10から入力する。
【0095】中央処理装置1は、入力装置10から中央
処理装置1の修理完了通知が入力されると、図11の流
れ図に示すように、図10のステップS71で退避させ
た内容を復元し (ステップS81)、処理を再開する
(ステップS82)。
【0096】また、MPU51は、中央処理装置1の修
理完了通知が入力されると (ステップS64がYE
S)、実行タイミング判定情報記憶部53の使用時間を
「0」にすると共にフラグをOFFにし (ステップS6
5,S66)、その後、ステップS51の処理に戻る。
【0097】また、MPU51は、情報処理装置の電源
が断となると (ステップS67がYES)、タイマ部5
4が示す時間を読み取り (ステップS68)、読み取っ
た時間を使用時間として実行タイミング判定情報記憶部
53に書き込み (ステップS69)、その処理を終了す
る。
【0098】尚、上述した実施例に於いては、診断対象
装置が新たに実装或いは修理されてから使用が開始され
た診断対象装置の第1回目の自己診断を、使用時間が平
均故障間隔以上となったタイミングで行なうようにした
が、平均故障間隔以外の時間を使用しても良いことは勿
論である。但し、平均故障間隔を使用した方が、通常処
理を余り妨げることなく、障害を迅速に検出することが
可能になる。
【0099】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、診断対
象装置が実装或いは修理されてから自己診断プログラム
を最初に実行するまでは、実装或いは修理されてからの
使用時間を計測し、計測した使用時間が規定時間以上と
なることにより、自己診断プログラムを実行して診断対
象装置の自己診断を行ない、自己診断プログラムを既に
実行した後は、前回の自己診断プログラム実行時からの
使用時間を計測し、計測した使用時間が上記規定時間よ
り短い時間である診断間隔以上となることにより、自己
診断プログラムを実行して診断対象装置の自己診断を行
なう時間監視部を備えているので、修理,交換後の新し
い診断対象装置ではしばらく障害が起きにくいという実
情を考慮した上で、診断対象装置の使用時間に応じた過
不足のない診断を人手の介入無しに自動的に行なうこと
ができる効果がある。
【0100】また、時間監視部は、計測した使用時間を
不揮発性メモリから構成される実行タイミング判定情報
記憶部に保持するので、計測した診断対象装置の使用時
間が情報処理装置の電源断によって失われることはな
く、電源断以前の時点から累積された使用時間によって
制御を行なうことができる効果がある。
【0101】また、自己診断プログラムは、診断対象装
置の障害の有無以外に、障害には至らないが障害を起こ
す可能性が高い状態の有無まで検出するので、障害発生
前に、より確実に診断対象装置の修理,交換が行なえる
ようになる効果がある。
【0102】
【0103】また、更に、第1回目の自己診断プログラ
ムの実行は、診断対象装置の使用時間が平均故障間隔以
上になったタイミングで行なうものであるので、通常処
理をあまり妨げることなく、障害を迅速に検出すること
が可能になる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のブロック図である。
【図2】時間監視部5,6の構成例を示すブロック図で
ある。
【図3】実行タイミング判定情報記憶部53,63の内
容例を示す図である。
【図4】時間監視部7の構成例を示すブロック図であ
る。
【図5】実行タイミング判定情報記憶部73の内容例を
示す図である。
【図6】MPU71の処理例を示す流れ図である。
【図7】自己診断プログラム実行時の処理例を示す流れ
図である。
【図8】MPU61の処理例を示す流れ図である。
【図9】MPU51の処理例を示す流れ図である。
【図10】自己診断開始時の中央処理装置1の処理例を
示す流れ図である。
【図11】自己診断正常終了時の中央処理装置1の処理
例を示す流れ図である。
【符号の説明】
1…中央処理装置 2…主記憶装置 3,4…周辺装置 5〜8…時間監視部 9…表示装置 10…入力装置 11…バス 51,61,71…MPU 52,62,72…自己診断プログラム記憶部 53,63,73…実行タイミング判定情報記憶部 54,64…タイマ部 55,65…間隔設定部 74…アドレスレジスタ 75…比較器 76…時計 77…デコーダ

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 中央処理装置と主記憶装置と周辺装置と
    をバスにより接続して構成した情報処理装置に於いて、 前記中央処理装置,前記主記憶装置及び前記周辺装置の
    内、予め診断対象装置として定められた装置それぞれに
    対応して、対応する診断対象装置が実装或いは修理され
    てから自己診断プログラムを最初に実行するまでは、実
    装或いは修理されてからの対応する診断対象装置の使用
    時間を計測し、計測した使用時間が対応する診断対象装
    置に固有の規定時間以上となることにより、自己診断プ
    ログラムを実行して対応する診断対象装置の自己診断を
    行ない、自己診断プログラムを既に実行した後は、前回
    の自己診断プログラム実行時からの対応する診断対象装
    置の使用時間を計測し、計測した使用時間が前記規定時
    間より短い時間である対応する診断対象装置に固有の診
    断間隔以上となることにより、自己診断プログラムを実
    行して対応する診断対象装置の自己診断を行なう時間監
    視部を備えたことを特徴とする情報処理装置の自己診断
    方式。
  2. 【請求項2】 前記規定時間は、平均故障間隔とするこ
    とを特徴とする請求項記載の情報処理装置の自己診断
    方式。
  3. 【請求項3】 前記時間監視部は、不揮発性メモリによ
    って構成される実行タイミング情報記憶部を有し、計測
    した使用時間を前記実行タイミング情報記憶部に保持す
    る構成を有することを特徴とする請求項記載の情報処
    理装置の自己診断方式。
  4. 【請求項4】 前記自己診断プログラムは、前記診断対
    象装置の障害の有無及び障害に至らないが障害を起こす
    可能性の高い状態の有無を検出するプログラムであるこ
    とを特徴とする請求項記載の情報処理装置の自己診断
    方式。
JP6065633A 1994-03-09 1994-03-09 情報処理装置の自己診断方式 Expired - Lifetime JP2755159B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6065633A JP2755159B2 (ja) 1994-03-09 1994-03-09 情報処理装置の自己診断方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6065633A JP2755159B2 (ja) 1994-03-09 1994-03-09 情報処理装置の自己診断方式

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07248937A JPH07248937A (ja) 1995-09-26
JP2755159B2 true JP2755159B2 (ja) 1998-05-20

Family

ID=13292630

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6065633A Expired - Lifetime JP2755159B2 (ja) 1994-03-09 1994-03-09 情報処理装置の自己診断方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2755159B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006048789A (ja) 2004-08-02 2006-02-16 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv 磁気ディスク装置の故障予測方法及びこれを用いた磁気ディスク装置
JP7236811B2 (ja) * 2018-03-30 2023-03-10 株式会社デンソー 情報処理装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5323653A (en) * 1976-08-17 1978-03-04 Toshiba Corp Apparatus tesiting system
JPH07113901B2 (ja) * 1985-11-22 1995-12-06 沖電気工業株式会社 媒体搬送システムの自己診断装置
JPH01281547A (ja) * 1988-05-09 1989-11-13 Fuji Electric Co Ltd 計算機周辺装置の保守管理方法
JPH0344730A (ja) * 1989-07-12 1991-02-26 Nec Corp プリンタの故障診断制御装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07248937A (ja) 1995-09-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20040153724A1 (en) Operating system update and boot failure recovery
US7941658B2 (en) Computer system and method for updating program code
US7506209B2 (en) Computer shutoff condition monitoring method, information processing apparatus, program and computer readable information recording medium
JPH0820965B2 (ja) プログラムの実行を続行する方法
US6550019B1 (en) Method and apparatus for problem identification during initial program load in a multiprocessor system
JP2001265538A (ja) ディスク装置の故障を予測する故障予測装置、媒体、および情報集合体
US20080263409A1 (en) Self-Test System
JPH10105343A (ja) コンピュータ・データ記憶システム
JP4836732B2 (ja) 情報処理装置
JPWO2007088606A1 (ja) 故障情報管理方法及び検出方法、装置並びに記憶媒体
JP2755159B2 (ja) 情報処理装置の自己診断方式
US6363493B1 (en) Method and apparatus for automatically reintegrating a module into a computer system
JP2010165007A (ja) 情報処理装置
JPH06348535A (ja) 異常発生履歴記憶装置
JP2872113B2 (ja) 情報処理装置のマイクロ診断方式
JP2002140209A (ja) ウオッチドッグタイマ
JP2959383B2 (ja) 情報処理装置の自己診断方式
JP2010198314A (ja) 情報管理装置
CN112084085B (zh) 系统断电记录方法
JP6723400B1 (ja) 情報処理装置および情報処理方法
JPH1063586A (ja) 情報処理装置
CN114655140B (zh) 一种车辆启动控制方法和相关装置
JP2665410B2 (ja) バックアップメモリを備えた電子機器
JPH10171546A (ja) 起動監視装置
JP2001184217A (ja) プログラム修正装置