JP6952894B2 - パワーモジュール装置 - Google Patents

パワーモジュール装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6952894B2
JP6952894B2 JP2020525719A JP2020525719A JP6952894B2 JP 6952894 B2 JP6952894 B2 JP 6952894B2 JP 2020525719 A JP2020525719 A JP 2020525719A JP 2020525719 A JP2020525719 A JP 2020525719A JP 6952894 B2 JP6952894 B2 JP 6952894B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
module
power module
resistor
parasitic capacitance
insulating sheet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020525719A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2019244833A1 (ja
Inventor
芸 鄭
芸 鄭
熊谷 隆
隆 熊谷
山本 和也
和也 山本
虎翼 侯
虎翼 侯
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Publication of JPWO2019244833A1 publication Critical patent/JPWO2019244833A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6952894B2 publication Critical patent/JP6952894B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/40Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
    • H01L23/4006Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/07Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
    • H01L25/072Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/18Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)

Description

本発明は、パワーモジュールの耐電圧を確保することを目的とした構造に関するものである。
パワーモジュールにおいて、パワーユニットと放熱ベースプレートとの間に絶縁シートが配置されている。従来のパワーモジュールの耐電圧能力は、パワーユニットと放熱ベースプレートとの間に配置される絶縁シートの厚みで決まる(例えば、特許文献1参照)。
国際公開第2012/086417号
パワーモジュールの定格絶縁耐電圧を超過した電圧がパワーモジュールに印加されるとき、パワーモジュール内部の絶縁シートの劣化により、パワーモジュールの絶縁破壊が発生する。なお、絶縁耐電圧とは、絶縁破壊を生じることなく絶縁部材に印加できる電圧の上限である。
鉄道の異なる架線電圧に対して必要となる絶縁耐電圧も異なるため、鉄道車両の絶縁耐電圧試験では、それぞれの必要な絶縁耐電圧に応じて、パワーモジュールを選定する。例えば、架線電圧[U]が直流600V以上1200V以下の場合、鉄道に関する国際規格IEC30077−1により、絶縁耐電圧が[2×U+1500]=2700V以上3900V以下である。よって、絶縁耐電圧が3900V以上を超えたパワーモジュールを選定しなければならない。
鉄道車両に使用されるパワーモジュールでは、一般に絶縁耐電圧が高ければ高いほど、価格も高くなる。そのため、製品のコストを抑えるためには、より絶縁耐圧が低い安価なパワーモジュールを使用することが有効である。
しかしながら、例えば、4kVの鉄道車両の絶縁耐電圧試験が行われるときに、絶縁耐電圧が2.5kVの安価なパワーモジュールが用いられる場合を想定する。このパワーモジュールに4kVの電圧が印加されるとき、パワーモジュールの絶縁破壊が発生する。
特許文献1に記載のパワーモジュールにおいては、使用する絶縁シートの厚みでパワーモジュールの絶縁耐電圧が左右されるという問題点がある。具体的には、絶縁破壊の発生を抑制するためには、パワーモジュール内部の絶縁シートを厚くする必要があるが、絶縁シートを厚くすればするほど、絶縁シートの熱抵抗が大きくなり、パワーモジュールの放熱性が悪化する。
そこで、本発明は、パワーモジュール内部の絶縁シートの絶縁耐電圧に左右されることなく、パワーモジュールの定格絶縁耐電圧を超過した電圧がパワーモジュールに印加される場合にもパワーモジュールを保護することができる技術を提供することを目的とする。
本発明に係るパワーモジュール装置は、モジュール内絶縁シートとモジュールベースプレートとモジュール端子とを有するパワーモジュールと、前記モジュール端子に電力を供給する配線導体と、前記パワーモジュールで発生した熱を放熱するヒートシンクと、前記モジュールベースプレートと前記ヒートシンクとの間に配置され、かつ、前記モジュールベースプレートと前記ヒートシンクとを絶縁する絶縁シートと、前記配線導体と前記モジュールベースプレートとの間に接続された静電容量または寄生容量を有する部材と、前記静電容量または寄生容量を有する部材と電気的に並列、もしくは、前記絶縁シートと電気的に並列に接続された抵抗器とを備え、前記モジュール内絶縁シートの寄生容量と前記静電容量または寄生容量を有する部材の静電容量または寄生容量は並列接続され、前記モジュール内絶縁シートの寄生容量と前記絶縁シートの寄生容量は直列接続され、前記静電容量または寄生容量を有する部材の静電容量または寄生容量と前記絶縁シートの寄生容量は直列接続され、前記抵抗器は前記モジュール内絶縁シートの寄生容量と並列、もしくは、前記絶縁シートの寄生容量と並列に接続されたものである。



本発明によれば、配線導体とモジュールベースプレートとの間に静電容量または寄生容量を有する部材が接続されたため、静電容量または寄生容量を有する部材の静電容量または寄生容量を利用し、パワーモジュールの定格絶縁耐電圧を超過した電圧がパワーモジュールに印加される場合にもパワーモジュールを保護することができる。また、パワーモジュールの絶縁耐電圧が静電容量または寄生容量を有する部材の静電容量または寄生容量と絶縁シートの寄生容量で決まることから、モジュール内絶縁シートの絶縁耐電圧に左右されることを抑制できる。
この発明の目的、特徴、局面、および利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。
実施の形態1に係るパワーモジュール装置の断面図である。 実施の形態1に係るパワーモジュール装置の平面図である。 実施の形態1に係るパワーモジュール装置が備えるコンデンサの斜視図である。 実施の形態1に係るパワーモジュール装置における抵抗器の位置を示す断面図である。 実施の形態1に係るパワーモジュール装置における抵抗器の位置を示す断面図である。 モジュール内絶縁シートの寄生容量と絶縁シートの寄生容量の概略図である。 図6を説明するための説明図である。 モジュール内絶縁シートの寄生容量と絶縁シートの寄生容量とコンデンサの静電容量の概略図である。 図8を説明するための説明図である。 実施の形態2に係るパワーモジュール装置の断面図である。 実施の形態2に係るパワーモジュール装置が備えるプリント基板の取り付け構造の断面図である。 実施の形態2に係るパワーモジュール装置が備えるプリント基板の平面図である。 実施の形態2に係るパワーモジュール装置が備える固定用パーツの斜視図である。 実施の形態3に係るパワーモジュール装置の断面図である。 実施の形態4に係るパワーモジュール装置の断面図である。 実施の形態4に係るパワーモジュール装置が備える第1抵抗器の斜視図である。 実施の形態4に係るパワーモジュール装置が備える第2抵抗器の斜視図である。 モジュール内絶縁シートの寄生容量と絶縁シートの寄生容量と第1,第2抵抗器の抵抗値の概略図である。 図18を説明するための説明図である。 実施の形態5に係るパワーモジュール装置が備えるプリント基板の平面図である。 実施の形態5に係るパワーモジュール装置の断面図である。 実施の形態5に係るパワーモジュール装置の他の例の断面図である。
<実施の形態1>
本発明の実施の形態1について、図面を用いて以下に説明する。図1は、実施の形態1に係るパワーモジュール装置の断面図である。図2は、実施の形態1に係るパワーモジュール装置の平面図である。図3は、実施の形態1に係るパワーモジュール装置が備えるコンデンサの斜視図である。図4は、実施の形態1に係るパワーモジュール装置における抵抗器13の位置を示す断面図である。図5は、実施の形態1に係るパワーモジュール装置における抵抗器13aの位置を示す断面図である。
パワーモジュール装置は、パワーモジュールユニット24の構造であるため、パワーモジュールユニット24について説明する。図1と図2に示すように、パワーモジュールユニット24は、パワーモジュール23、配線導体1、ヒートシンク11、追加ベースプレート4、絶縁シート10、コンデンサ12、および抵抗器13を備えている。
パワーモジュール23は、モジュール端子22、基板26、チップ27、モジュール内絶縁シート2、およびモジュールベースプレート3を備えている。パワーモジュール23はパワーユニット25を含んでいる。具体的には、パワーユニット25は、モジュール端子22、導体28、チップ27、基板26、およびモジュール内絶縁シート2を備えている。モジュール端子22とチップ27とが導体28を介して電気的に接続されている。チップ27は基板26上に実装されている。基板26とモジュールベースプレート3との間に、要求絶縁距離を満足するモジュール内絶縁シート2が配置されている。
配線導体1は、モジュール端子22に電気的に接続され、モジュール端子22を介してチップ27に電力を供給する。追加ベースプレート4は、モジュールベースプレート3とは電気的および熱的に接続されている。追加ベースプレート4は、パワーモジュール23で発生した熱を放熱する。追加ベースプレート4とヒートシンク11との間に絶縁シート10が配置されている。絶縁シート10は、追加ベースプレート4とヒートシンク11とを絶縁し、絶縁耐電圧試験で必要とされる絶縁耐電圧以上の絶縁耐電圧を有している。ヒートシンク11は、絶縁シート10を介して追加ベースプレート4の熱を放熱する。
図1と図2に示すように、配線導体1は、配線導体1に形成されたネジ貫通穴15に通したネジ5をモジュール端子22に締結することで、パワーモジュール23に固定されている。モジュールベースプレート3に形成されたネジ貫通穴17とスペーサ7に通したネジ6を追加ベースプレート4に形成されたネジ穴18に締結することで、パワーモジュール23は追加ベースプレート4に機械的および電気的に固定されている。
追加ベースプレート4に形成されたネジ貫通穴21、絶縁シート10に形成されたネジ貫通穴およびヒートシンク11に形成された穴20aに絶縁ブッシュ9を挿通した状態で、ネジ8を絶縁ブッシュ9内のネジ貫通穴19に通して、ヒートシンク11における穴20aの下側に形成されたネジ穴20に締結することで、追加ベースプレート4は絶縁シート10およびヒートシンク11に固定されている。追加ベースプレート4とネジ8との沿面距離を確保するためにネジ穴20に絶縁ブッシュ9が挿通されている。なお、沿面距離が必要な箇所は図4の矢印で示されている。
図1に示すように、コンデンサ12は、配線導体1とモジュールベースプレート3との間に電気的に接続されている。図3に示すように、コンデンサ12は、本体部12a、一端12bおよび他端12cを備えている。コンデンサ12の一端12bと他端12cとが直角に折り曲げられている。コンデンサ12の一端12bの折り曲げ部は配線導体1にはんだで接合されている。コンデンサの他端12cの折り曲げ部はスペーサ7にはんだで接合されている。コンデンサ12の本体部12aが追加ベースプレート4の上に置かれ、固定剤でコンデンサ12の本体部12aが追加ベースプレート4に機械的に固定されている。
追加ベースプレート4は電気的に接続される箇所がなく、フローティング電位となるため、モジュールベースプレート3と、ヒートシンク11との間に形成される容量成分に対して、電気的に並列に接続されるモジュールベースプレート3と、ヒートシンク11との間に、絶縁耐圧試験を満足する抵抗器13(図1、図4および図7(a)参照)を追加することで、基板26の端部と、モジュールベースプレート3との間に形成される容量成分に蓄えた電荷が放電される。また、絶縁耐圧試験で直流電圧が印加された場合、パワーモジュール23を破壊されることが抑制される。もしくは、配線導体1と、モジュールベースプレート3との間に形成される容量成分に対して、電気的に並列に接続された配線導体1と、モジュールベースプレート3との間に、絶縁耐電圧試験を満足する抵抗器13a(図5と図7(b)参照)を追加してもよい。もしくは、抵抗器13と抵抗器13aとを追加してもよい。
次に、実施の形態1に係るパワーモジュール23の耐電圧構造の作用および効果について、従来技術の問題点と比較しながら説明する。図6は、パワーモジュール23の寄生容量C1と絶縁シート10の寄生容量C2の概略図である。図7は、図6を説明するための説明図である。具体的には、図7(a)は抵抗器13を追加した場合の例であり、図7(b)は抵抗器13aを追加した場合の例である。図8は、パワーモジュール23の寄生容量C1と絶縁シート10の寄生容量C2とコンデンサ12の静電容量C3の概略図である。図9は、図8を説明するための説明図である。具体的には、図9(a)は抵抗器13を追加した場合の例であり、図9(b)は抵抗器13aを追加した場合の例である。
寄生容量は、2つの導電性部材間が絶縁層を介して接続されることで発生する。2つの導電性部材間に配置されている絶縁性部材の厚みをd(mm)とし、絶縁性部材の面積をSとし、絶縁性部材の誘電率をεsとしたとき、寄生容量Cは式(1)のようになる。ε0は真空の誘電率で8.855×10-12である。
Figure 0006952894
パワーモジュールユニット24には、図6に示すように寄生容量C1,C2が存在している。パワーモジュール23の絶縁耐電圧は、パワーモジュール23の寄生容量C1によって決定される高い絶縁耐電圧が求められる場合、モジュール内絶縁シート2を厚くする必要がある。しかし、モジュール内絶縁シート2を厚くすればするほど、モジュール内絶縁シート2の熱抵抗が大きくなり、パワーモジュール23の放熱性が悪化する。したがって、モジュール内絶縁シート2を厚くすることで絶縁耐電圧を稼ぐ手段は現実的ではない。
図6と図7(a),(b)に示すように、パワーモジュール23のモジュールベースプレート3に絶縁シート10を介してヒートシンク11を熱的に接続することにより、パワーモジュール23の寄生容量C1と絶縁シート10の寄生容量C2とは直列になっている。外部高電圧がパワーモジュール23とヒートシンク11との両端に印加されるときモジュール内絶縁シート2の寄生容量C1と絶縁シート10の寄生容量C2とで分圧される。
印加される外部高電圧をUとし、また、外部高電圧Uの総電荷をQとし、モジュール内絶縁シート2に印加される電圧をU1とし、絶縁シート10に印加される電圧をU2とすると、式(2)および式(3)が成立する。
Figure 0006952894
Figure 0006952894
式(2)および式(3)より、寄生容量(C1,C2)の容量が小さいほど印加される電圧(U1,U2)が高くなる。
一般的に、絶縁シート10の寄生容量C2がモジュール内絶縁シート2の寄生容量C1よりはるかに大きい。そのため、外部高電圧がパワーモジュール23とヒートシンク11との両端に印加されるときに、外部高電圧の大半がモジュール内絶縁シート2に印加され、モジュール内絶縁シート2の劣化により、パワーモジュール23が破壊される。
また、絶縁シート10の厚みdを厚くすることにより、絶縁シート10の寄生容量C2をモジュール内絶縁シート2の寄生容量C1以下にすることができる。しかし、絶縁シート10の厚みdを厚くすることで絶縁シート10の熱抵抗も大きくなり、パワーモジュール23の放熱性が悪くなり、より大きなヒートシンクが必要になる。さらに、装置の小型化が求められている昨今では絶縁シート10の厚みdを厚くすることも難しい。
これに対して本実施の形態1では、図1に示したように、パワーモジュール23のモジュールベースプレート3に追加ベースプレート4と絶縁シート10とを介してヒートシンク11を接続し、かつ、パワーモジュール23のモジュール端子22に接続された配線導体1とモジュールベースプレート3との間にコンデンサ12を接続することで、パワーモジュール23の絶縁耐電圧より高い電圧からパワーモジュール23を保護する。
図8と図9(a),(b)に示すように、コンデンサ12の静電容量をC3とすると、モジュール内絶縁シート2の寄生容量C1とコンデンサの静電容量C3は並列接続され、モジュール内絶縁シート2の寄生容量C1と絶縁シート10の寄生容量C2は直列接続され、コンデンサ12の静電容量C3と絶縁シート10の寄生容量C2は直列接続されている。
パワーモジュールユニット24に印加される外部高電圧をUとし、また、外部高電圧Uの総電荷をQとし、コンデンサ12に印加される電圧をU1とし、絶縁シート10に印加される電圧をU2とすると、式(4)および式(5)が成立する。
Figure 0006952894
Figure 0006952894
また、パワーモジュール23がコンデンサ12に並列されているため、パワーモジュール23の両端にも電圧U1が印加される。式(4)および式(5)より、寄生容量が小さいほど印加される電圧が高くなる。
モジュール内絶縁シート2の寄生容量C1が絶縁シート10の寄生容量C2よりはるかに小さいため、コンデンサ12が配置されない場合、サージ電圧が重畳したときに、外部高電圧の大半がパワーモジュール23に印加され、パワーモジュール23が破壊される。そのため、コンデンサ12の静電容量C3を以下のように選定する。
モジュール内絶縁シート2の寄生容量C1とコンデンサ12の静電容量C3との和を絶縁シート10の寄生容量C2より大きくする必要があるため、少なくともC3>C2−C1が成り立つように選定する。そうすることで、パワーモジュール23の絶縁耐電圧より高い電圧がパワーモジュールユニット24に印加されるとき、モジュール内絶縁シート2の寄生容量C1と絶縁シート10の寄生容量C2とコンデンサ12の静電容量C3が上記の式(4)を満足し、寄生容量C1+静電容量C3と寄生容量C2とで分圧することが可能である。
また、絶縁シート10の寄生容量C2に対して、電気的に並列となり、コンデンサ12に対して、電気的に直列となるモジュールベースプレート3と、ヒートシンク11との間に静電容量を有する部材を追加する場合を考える。静電容量を有する部材の静電容量をC4とする。この場合、C1+C3≦C2+C4であれば、静電容量C4として、静電容量C4の絶縁耐電圧がパワーモジュールユニット24に印加される電圧より高いものを選定する。そうすることで、パワーモジュール23の絶縁耐電圧より高い電圧がパワーモジュールユニット24に印加されるとき、高電圧がC1+C3とC2+C4とで分圧され、パワーモジュール23の絶縁耐電圧より高い電圧からパワーモジュール23を保護することもできる。
次に、抵抗器13,13aの抵抗値Rdの選定について説明する。ここでは抵抗器13aの場合について説明する。図9(b)に示すように、抵抗器13aと電気的に並列となる静電容量または寄生容量を有する部材の絶縁抵抗値より小さい抵抗値Rdを有する抵抗器13aを選定する。また、抵抗器13aに大電圧が印加されるため、適切な抵抗値Rdを有する抵抗器13aを選定する必要がある。実施の形態1では、抵抗器13aは電気的にコンデンサ12と並列に接続され、配線導体1およびモジュールベースプレート3と電気的に接続されている。また、抵抗器13aの本体部はヒートシンク11に熱的および機械的に固定されている。ここで、電気的に並列となる静電容量または寄生容量を有する部材はコンデンサ12である。
例えば、モジュール内絶縁シート2の寄生容量C1=500pFとした場合、モジュール内絶縁シート2のインピーダンスをRzとする。Rz=1/2πfC、また、仮に絶縁耐圧試験の周波数を60Hzとする。
よって、Rz=1/(2π×60Hz×500×10-12F)=5.3MΩとなる。絶縁シート10の寄生容量C2=1000pFとすると、コンデンサ12の静電容量C3は式(6)のようになる。また、抵抗器13aの抵抗値Rd<5.3MΩである。
Figure 0006952894
仮に、外部高電圧が3900Vとした場合、耐電圧が3900V以上のコンデンサ12を選定すれば問題ない。すなわち、コンデンサ12の静電容量C3を500pF以上にすれば、パワーモジュール23を外部高電圧から保護することができる。
また、3900Vの外部高電圧がパワーモジュールユニット24に印加された際、抵抗器13aの抵抗値Rdを50kΩとした場合、仮に、抵抗器13aに2000Vが印加されたとすると、抵抗器13aにかかる電力P=V2/Rd=20002V/50kΩ=80Wとなる。さらに、抵抗器13aはコンデンサ12の静電容量C3とモジュール内絶縁シート2の寄生容量C1に蓄えた電荷を放電するため発熱する。仮に、コンデンサ12の静電容量を500pFとした場合、放電時間τ=RC=50kΩ×1000pF=50μsecとなる。
パワーモジュール装置に外部から印加される高電圧は雷サージ等、極めて短時間の印加である。また、絶縁耐電圧試験は一般的に1分間で行われるため、抵抗器13aは1分間の過負荷(過電力)に耐えることができればよい。しかし、耐電圧試験でパワーモジュールユニット24に印加される電圧は、パワーモジュールユニット24に通常印加される電圧より10倍ほど大きく、耐電圧試験を行うときの抵抗器13aの発熱を考慮しなければならない。
仮に、抵抗値が50kΩの抵抗器で2000Vの過負荷に耐えるためには、抵抗器を大型化する必要がある。抵抗器が大型化すれば、製造コストが増加するだけでなく耐振動性および重量も厳しくなる。しかし、本実施の形態1では、抵抗器13aの本体部をヒートシンク11に熱的および機械的に固定することで抵抗器13aの放熱性が向上するため、抵抗器13aに印加する電圧は極めて短時間である。そのため、抵抗器13aの定格電力は抵抗器13aの消費電力で設計すればよく、抵抗器13aを小型化することができる。なお、パワーモジュール装置の定常使用時に、抵抗器13aに印加される電圧は、絶縁耐電圧試験時より十分に低い電圧であるから、抵抗器13aの定常時の消費電力は僅少となり、問題はない。
例えば、メタルクラッド抵抗器の外装およびその内部の本体部の耐電圧は、3000V以上4500V以下であり、市場流通量も大きい。そのため、メタルクラッド抵抗器は抵抗器13aとして使用することができる。メタルクラッド抵抗器の外装の例としては、図16に示している。
また、抵抗器13aに対して、電気的に直列となるモジュールベースプレート3と、ヒートシンク11との間に絶縁耐電圧試験を満足する抵抗器13を追加することで、静電容量C3および寄生容量C1に蓄えた電荷を放電することができる。この場合、抵抗器13の抵抗値Rdは抵抗器13aの抵抗値Rdと同じである。
また、図9(a)に示すように、抵抗器13aをなくし、寄生容量C2に対して、電気的に並列となるモジュールベースプレート3と、ヒートシンク11の間に絶縁耐電圧試験を満足する抵抗器13を追加することで、静電容量C3および寄生容量C1に蓄えた電荷を放電することができる。この場合、抵抗器13の抵抗値Rdは抵抗器13aの抵抗値Rdと同じである。なお、抵抗器13の本体部はヒートシンク11に熱的および機械的に固定されている。
さらに、コンデンサ12の静電容量C3を大きくすることにより、パワーモジュールユニット24の両端に印加される電圧がパワーモジュール23の絶縁耐電圧の2倍または3倍以上の場合においてもパワーモジュール23を絶縁破壊から保護することが可能となる。
以上のように、実施の形態1に係るパワーモジュール装置では、配線導体1とモジュールベースプレート3との間にコンデンサ12が接続されたため、コンデンサ12の静電容量C3を利用し、パワーモジュール23の定格絶縁耐電圧を超過した電圧がパワーモジュール23に印加される場合にもパワーモジュール23を保護することができる。
また、パワーモジュール23の絶縁耐電圧がコンデンサ12の静電容量C3と絶縁シート10の寄生容量C2で決まることから、モジュール内絶縁シート2の絶縁耐電圧に左右されることを抑制できる。
なお、鉄道車両の絶縁耐電圧試験には交流電圧の耐圧試験と直流電圧の耐圧試験があるため、直流電圧が印加される場合、抵抗器をパワーモジュールユニット24に配置することができず、静電放電の放電ルートがなければ、パワーモジュール23が破壊される恐れがある。パワーモジュール23が破壊される恐れを抑制するために、コンデンサ12だけでなく抵抗器13aも必要である。また、抵抗器13aをなくし、電気的に直列となるモジュールベースプレート3と、ヒートシンク11との間に絶縁耐電圧試験を満足する抵抗器13を追加することで、静電容量C3および寄生容量C1に蓄えた電荷を放電することができる。
これにより、鉄道車両向けの高耐電圧かつ高価なパワーモジュールではなく、従来より絶縁耐圧が低くより安価なパワーモジュールを使用することが可能となる。よって、製品の製造コストを抑えるとともに小型化を図ることができる。また、追加ベースプレート4の面積が、モジュールベースプレート3の面積より大きくなるので、追加ベースプレート4がヒートスプレッダとして機能する。これにより、パワーモジュール23の放熱性が向上する。なお、絶縁シート10と追加ベースプレート4を数枚重ねたり、組み合わせたりすることで上記と同じ効果が得られる。
<実施の形態2>
次に、実施の形態2に係るパワーモジュール装置について説明する。図10は、実施の形態2に係るパワーモジュール装置の断面図である。図11は、実施の形態2に係るパワーモジュール装置が備えるプリント基板43の取り付け構造の断面図である。図12は、実施の形態2に係るパワーモジュール装置が備えるプリント基板43の平面図である。図13は、実施の形態2に係るパワーモジュール装置が備える固定用パーツ52の斜視図である。なお、実施の形態2において、実施の形態1で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
図10に示すように、実施の形態2では、実施の形態1に対してコンデンサ12がプリント基板43に置き換えられている。
図11に示すように、プリント基板43は、表面である部品面41と裏面であるはんだ面42とを備えている。プリント基板43の部品面41の一部に銅箔パターン48が貼り付けられ、エッチングされている。プリント基板43のはんだ面42の一部に銅箔パターン49が貼り付けられ、エッチングされている。
プリント基板43は、導電性を有する固定用パーツ52,53を用いて配線導体1およびモジュールベースプレート3に固定される。なお、固定用パーツ52,53は同じ構造である。図11〜図13に示すように、銅箔パターン48の一端部にネジ貫通穴46が形成され、ネジ50が固定用パーツ52の一端部のネジ貫通穴58とネジ貫通穴46とを貫通してナット55に締結されることで、固定用パーツ52の一端部がプリント基板43に固定されている。
ネジ50の頭部とはんだ面42に貼り付けられた銅箔パターン49との間には、要求される絶縁耐電圧を満足する絶縁距離が確保されている。
図10〜図13に示すように、配線導体1の一端部にもネジ貫通穴が形成され、ネジ44が固定用パーツ52の他端部のネジ貫通穴57と配線導体1のネジ貫通穴とを貫通してナット54に締結されることで、固定用パーツ52の他端部が配線導体1に固定されている。これにより、プリント基板43および配線導体1は固定用パーツ52を介して固定されている。
図11と図12に示すように、銅箔パターン49の一端部にネジ貫通穴47が形成され、ネジ51が固定用パーツ53の一端部のネジ貫通穴57とネジ貫通穴47とを貫通してナット56に締結されることで、固定用パーツ53の一端部がプリント基板43に固定されている。ネジ51の頭部と部品面41に貼り付けられた銅箔パターン48との間には、要求される絶縁耐電圧を満足する絶縁距離が確保されている。
図10と図13に示すように、ネジ5が固定用パーツ53の他端部のネジ貫通穴58とスペーサ7とを貫通してモジュールベースプレート3に締結されることで、固定用パーツ53の他端部がモジュールベースプレート3に固定されている。これにより、プリント基板43およびパワーモジュール23は固定用パーツ53を介して固定されている。
次に、実施の形態2に係るパワーモジュール23の耐電圧構造の作用および効果について、図8、図10および図11を用いて説明する。
実施の形態1の場合と同様に、図8、図10および図11に示すように、絶縁シート10を介して追加ベースプレート4とヒートシンク11とが絶縁されているため、寄生容量C2が存在している。図11に示すように、部品面41に貼り付けられた銅箔パターン48とはんだ面42に貼り付けられた銅箔パターン49とをプリント基板43の絶縁層43aを介して寄生容量が存在している。ここで、プリント基板43の寄生容量をC3とする。プリント基板43の絶縁層43aの面積をSpとし、部品面41に貼り付けられた銅箔パターン48とはんだ面42に貼り付けられた銅箔パターン49との間の距離をdpとし、絶縁層43aの誘電率をεspとしたとき、式(7)が成り立つ。ε0は真空の誘電率で8.855×10-12である。
Figure 0006952894
プリント基板43の寄生容量C3は、絶縁シート10の寄生容量C2とモジュール内絶縁シート2の寄生容量C1との差より大きいものが選定される。例えば、パワーモジュール23の寄生容量C1=100pFとし、絶縁シート10の寄生容量C2=1000pFとし、プリント基板43の比誘電率を5とし、プリント基板43の部品面41とはんだ面42の距離を1mmとした場合、空気の誘電率が8.855×10-12であるため、プリント基板43の寄生容量C3は式(8)および式(9)を満足する。
Figure 0006952894
Figure 0006952894
式(8)および式(9)によって、式(10)が成り立つ。
Figure 0006952894
仮に、dp=0.5mm、sp=100cm-2の場合、式(10)により、銅箔パターン48,49が10cm×10cm、すなわち、銅箔パターン48,49の面積が100cm2であれば、プリント基板43の寄生容量C3は900pFになる。
このような構造を採用することで、配線導体1を介してパワーモジュール23とヒートシンク11の両端に高電圧が印加されるときに、プリント基板43の寄生容量C3とモジュール内絶縁シート2の寄生容量C1との合成寄生容量C1+C3と絶縁シート10の寄生容量C2で分圧されるため、パワーモジュール23を絶縁破壊電圧から保護することが可能である。
さらに、プリント基板43の寄生容量C3を大きくすることにより、パワーモジュールユニット24の両端に印加される電圧がパワーモジュール23の絶縁耐電圧の2倍または3倍以上の場合においてもパワーモジュール23を絶縁破壊から保護することが可能となる。
実施の形態1の場合と同様に、抵抗器13は、プリント基板43と電気的に並列、もしくは、絶縁シート10と電気的に並列に、モジュールベースプレート3と、ヒートシンク11との間に電気的に接続されている。なお、抵抗器13の抵抗値Rdは実施の形態1の場合と同様に選定される。
また、抵抗器13の本体部はヒートシンク11に熱的および機械的に固定されている。そうすることで抵抗器13の放熱性が向上するため、抵抗器13の電力定格を短時間定格で設計すればよく、抵抗器13を小型化することができる。抵抗器13として一般的に市販されているものを使用することができる。例えば、メタルクラッド抵抗器の外装およびその内部の本体部の耐電圧は、3000V以上4500V以下であり、市場流通量も大きい。そのため、メタルクラッド抵抗器は抵抗器13として使用することができる。ここで、電気的に並列となる静電容量または寄生容量を有する部材はプリント基板43である。
以上のように、実施の形態2に係るパワーモジュール装置では、配線導体1とモジュールベースプレート3との間にプリント基板43が電気的に接続されたため、プリント基板43の寄生容量C3を利用し、パワーモジュール23の定格絶縁耐電圧を超過した電圧がパワーモジュール23に印加される場合にもパワーモジュール23を保護することができる。
また、パワーモジュール23の絶縁耐電圧がプリント基板43の寄生容量C3と絶縁シート10の寄生容量C2で決まることから、パワーモジュール23のモジュール内絶縁シート2の絶縁耐電圧に左右されることを抑制できる。
なお、鉄道車両の絶縁耐電圧試験には交流電圧の耐圧試験と直流電圧の耐圧試験があるため、直流電圧が印加される場合、抵抗器をパワーモジュールユニット24に配置することができず、静電放電の放電ルートがなければ、パワーモジュール23が破壊される恐れがある。パワーモジュール23が破壊される恐れを抑制するために、抵抗器13が必要である。
これにより、鉄道車両向けの高耐電圧かつ高価なパワーモジュールではなく、従来より絶縁耐圧が低くより安価なパワーモジュールを使用することが可能となる。よって、製品の製造コストを抑えるとともに小型化を図ることができる。また、追加ベースプレート4の面積が、モジュールベースプレート3の面積より大きくなるので、追加ベースプレート4がヒートスプレッダとして機能する。これにより、パワーモジュール23の放熱性が向上する。
<実施の形態3>
次に、実施の形態3に係るパワーモジュール装置について説明する。図14は、実施の形態3に係るパワーモジュール装置の断面図である。なお、実施の形態3において、実施の形態1,2で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
図14に示すように、実施の形態3では、実施の形態1に対してコンデンサ12を絶縁材料63に置き換えられている。
実施の形態1の場合と同様に、絶縁シート10を介して追加ベースプレート4とヒートシンク11とが絶縁されているため、絶縁シート10の寄生容量C2が存在している。実施の形態3では、パワーモジュールユニット24は、配線導体1に替えて配線導体61を備え、追加ベースプレート4に替えて追加ベースプレート62を備えている。配線導体61の一端部の厚みは厚く形成され、追加ベースプレート62の一端部の厚みも厚く形成されている。配線導体61の厚くした部分と追加ベースプレート62の厚くした部分との間に絶縁材料63が配置され、これらは接着剤で固定されている。
図8と図14に示すように、配線導体61の厚くした部分と追加ベースプレート62の厚くした部分との間に絶縁材料63の寄生容量C3が存在している。
絶縁材料63の寄生容量C3が、絶縁シート10の寄生容量C2とモジュール内絶縁シート2の寄生容量C1との差より大きい絶縁材料63を選定する。例えば、モジュール内絶縁シート2の寄生容量C1=100pFとし、絶縁シート10の寄生容量C2=1000pFとし、絶縁材料63の比誘電率を5とし、配線導体61の厚くした部分と追加ベースプレート62の厚くした部分との距離を1mmとした場合、空気の誘電率が8.85×10-12であるため、絶縁材料63の寄生容量C3は式(8)および式(9)を満足する。
式(8)および式(9)によって、式(10)が成り立つ。
仮に、dp=0.5mm、sp=100cm-2の場合、式(10)により、配線導体61の厚くした部分と追加ベースプレート62の厚くした部分の面積が100cm2であれば、絶縁材料63の寄生容量C3は900pFになる。
このような構造を採用することで、配線導体61を介してパワーモジュール23とヒートシンク11の両端に高電圧が印加されるときに、絶縁材料63の寄生容量C3とモジュール内絶縁シート2の寄生容量C1との合成寄生容量C1+C3と絶縁シート10の寄生容量C2で分圧されるため、パワーモジュール23を絶縁破壊電圧から保護することが可能である。
さらに、絶縁材料63の寄生容量C3を大きくすることにより、パワーモジュールユニット24の両端に印加される電圧がパワーモジュール23の絶縁耐電圧の2倍または3倍以上の場合においてもパワーモジュール23を絶縁破壊から保護することが可能となる。
実施の形態1の場合と同様に、抵抗器13は、絶縁材料63と電気的に並列、もしくは、絶縁シート10と電気的に並列に、モジュールベースプレート3と、ヒートシンク11との間に接続されている。なお、抵抗器13の抵抗値Rdは実施の形態1の場合と同様に選定される。
また、抵抗器13の本体部はヒートシンク11に熱的および機械的に固定されている。そうすることで抵抗器13の放熱性が向上するため、抵抗器13の電力定格を短時間定格で設計すればよく、抵抗器13を小型化することができる。抵抗器13として一般的に市販されているものを使用することができる。例えば、メタルクラッド抵抗器の外装およびその内部の本体部の耐電圧は、3000V以上4500V以下であり、市場流通量も大きい。そのため、メタルクラッド抵抗器は抵抗器13として使用することができる。ここで、電気的に並列となる静電容量または寄生容量を有する部材は絶縁材料63である。
以上のように、実施の形態3に係るパワーモジュール23の耐電圧構造では、配線導体1とモジュールベースプレート3との間に絶縁材料63が接続されたため、絶縁材料63の寄生容量C3を利用し、パワーモジュール23の定格絶縁耐電圧を超過した電圧がパワーモジュール23に印加される場合にもパワーモジュール23を保護することができる。
また、パワーモジュール23の絶縁耐電圧が絶縁材料63の寄生容量C3と絶縁シート10の寄生容量C2で決まることから、パワーモジュール23のモジュール内絶縁シート2の絶縁耐電圧に左右されることを抑制できる。
なお、鉄道車両の絶縁耐電圧試験には交流電圧の耐圧試験と直流電圧の耐圧試験があるため、直流電圧が印加される場合、抵抗器をパワーモジュールユニット24に配置することができず、静電放電の放電ルートがなければ、パワーモジュール23が破壊される恐れがある。パワーモジュール23が破壊される恐れを抑制するために、抵抗器13が必要である。
これにより、鉄道車両向けの高耐電圧かつ高価なパワーモジュールではなく、従来より絶縁耐圧が低くより安価なパワーモジュールを使用することが可能となる。よって、製品の製造コストを抑えるとともに小型化を図ることができる。また、追加ベースプレート4の面積が、モジュールベースプレート3の面積より大きくなるので、追加ベースプレート4がヒートスプレッダとして機能する。これにより、パワーモジュール23の放熱性が向上する。
<実施の形態4>
次に、実施の形態4に係るパワーモジュール装置について説明する。図15は、実施の形態4に係るパワーモジュール装置の断面図である。図16は、実施の形態4に係るパワーモジュール装置が備える抵抗器71の斜視図である。図17は、実施の形態4に係るパワーモジュール装置が備える抵抗器72の斜視図である。図18は、モジュール内絶縁シート2の寄生容量C1と絶縁シート10の寄生容量C2と抵抗器71の抵抗値R71と抵抗器72の抵抗値R72の概略図である。図19は、図18を説明するための説明図である。なお、実施の形態4において、実施の形態1〜3で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
図15に示すように、実施の形態4では、実施の形態1に対してコンデンサ12が抵抗器71に置き換えられている。また、抵抗器71に対して、電気的に直列となるモジュールベースプレート3と、ヒートシンク11との間に抵抗器72を追加する。
図15と図16に示すように、抵抗器71は、配線導体1とモジュールベースプレート3との間に接続されている。抵抗器71は、本体部73a、一端74bおよび他端74cを備えている。抵抗器71の一端74bと配線導体1とは電気的に接続されている。抵抗器71の他端74cとモジュールベースプレート3とは電気的に接続されている。
図15と図17に示すように、抵抗器72は、モジュールベースプレート3とヒートシンク11との間に接続されている。抵抗器72は、本体部75a、一端76bおよび他端76cを備えている。抵抗器72の一端76bとモジュールベースプレート3とは電気的に接続されている。抵抗器72の他端76cとヒートシンク11とは電気的に接続されている。なお、抵抗器71が第1抵抗器に相当し、抵抗器72が第2抵抗器に相当する。
抵抗器71および抵抗器72を放熱させるために抵抗器71の本体部73aおよび抵抗器72の本体部75aがヒートシンク11の上に熱的および機械的に固定されている。さらに、抵抗器71と抵抗器72とパワーモジュール23とは要求絶縁距離を満足する距離でヒートシンク11の上に置かれている。
実施の形態1の場合と同様に、図15〜図19に示すように、絶縁シート10を介して追加ベースプレート4とヒートシンク11とが絶縁されているため、寄生容量C2が存在している。パワーモジュール内絶縁シートを介して導体とモジュールベースプレートとが絶縁されているため、寄生容量C1が存在している。
仮に、寄生容量C1を500pFとし、寄生容量C2を1000pFとした場合、モジュール内絶縁シート2のインピーダンスをRzとする。Rz=1/2πfC、また、仮に絶縁耐圧試験の周波数を60Hzとする。
よって、Rz=1/(2π×60Hz×500×10-12F)=5.3MΩとなる。また、抵抗器71の抵抗値R71および抵抗器72の抵抗値R72として5.3MΩ未満の抵抗値を選定する。
例えば、3900Vの外部高電圧がパワーモジュールユニット24に印加された際、抵抗器71の抵抗値R71および抵抗器72の抵抗値R72を50kΩとした場合、仮に、抵抗器71および抵抗器72に3900Vが印加されたとすると、抵抗器71および抵抗器72にかかる電力P=V2/(R71+R72)=39002V/(50kΩ+50kΩ)=152Wとなる。抵抗器71および抵抗器72に各76Wがかかる。絶縁耐圧試験中に抵抗器71および抵抗器72からかなりの熱が発生するため、抵抗器71および抵抗器72を金属製にし、ヒートシンク11の上に置くことで抵抗器71および抵抗器72の熱が発散できる。
上記の場合、抵抗器71および抵抗器72の定格電力として76W以上、かつ絶縁耐電圧試験で必要とされる絶縁耐電圧以上の絶縁耐電圧を有する抵抗器を選定する。また、抵抗器71および抵抗器72の発熱を考慮し、抵抗器71および抵抗器72の定格電力を決定する。パワーモジュール装置に外部から印加される高電圧は雷サージ等、極めて短時間の印加である。また、絶縁耐電圧試験は一般的に1分間で行われるため、抵抗器71および抵抗器72は1分間の過負荷(過電力)に耐えることができればよい。抵抗器をヒートシンクに熱的に結合することで抵抗器の放熱性が向上し、また、抵抗器に印加する電圧は極めて短時間であるため、抵抗器13aの定格電力を実際抵抗器の消費電力で設計すればよく、抵抗器を小型化することができる。なお、パワーモジュール装置の定常使用時に、抵抗器に印加される電圧は、絶縁耐電圧試験時より十分に低い電圧であるから、抵抗器の定常時の消費電力は僅少となり、問題はない。
例えば、メタルクラッド抵抗器の外装およびその内部の本体部の耐電圧は、3000V以上4500V以下であり、市場流通量も大きい。そのため、メタルクラッド抵抗器は抵抗器71,72として使用することができる。メタルクラッド抵抗器の外装の例としては、図16に示している。
以上のように、実施の形態4に係るパワーモジュール装置では、配線導体1とモジュールベースプレート3との間に抵抗器71が接続され、モジュールベースプレート3とヒートシンク11との間に抵抗器72が接続されたため、抵抗器71および抵抗器72の抵抗分圧を利用し、パワーモジュール23の定格絶縁耐電圧を超過した電圧がパワーモジュール23に印加される場合にもパワーモジュール23を保護することができる。
また、パワーモジュール23の絶縁耐電圧が抵抗器71と抵抗器72で決まることから、パワーモジュール23のモジュール内絶縁シート2の絶縁耐電圧に左右されることを抑制できる。これにより、鉄道車両向けの高耐電圧かつ高価なパワーモジュールではなく、従来よりも絶縁耐圧が低くより安価なパワーモジュールを使用することが可能となる。よって、製品の製造コストを抑えるとともに小型化を図ることができる。また、追加ベースプレート4の面積が、モジュールベースプレート3の面積より大きくなるので、追加ベースプレート4がヒートスプレッダとして機能する。これにより、パワーモジュール23の放熱性が向上する。また、抵抗分圧を利用しているため、絶縁耐圧試験が直流電圧に変わったとしても、上記と同じ効果を得られる。
<実施の形態5>
次に、実施の形態5に係るパワーモジュール装置について説明する。図20は、実施の形態5に係るパワーモジュール装置が備えるプリント基板81の平面図である。図21は、実施の形態5に係るパワーモジュール装置の断面図である。図22は、実施の形態5に係るパワーモジュール装置の他の例の断面図である。なお、実施の形態5において、実施の形態1〜4で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
図21,22に示すように、実施の形態1の場合と同様に、絶縁シート10を介して追加ベースプレート4とヒートシンク11とが絶縁されているため、絶縁シート10の寄生容量C2が存在している。実施の形態5では、実施の形態1に対して配線導体1がプリント基板81に置き換えられている。
図20に示すように、プリント基板81の部品面82の一方側に銅箔パターン82aが貼り付けられ、エッチングされている。プリント基板81の部品面82の一方側と距離を隔てた他方側に銅箔パターン82bが貼り付けられ、エッチングされている。銅箔パターン82aと銅箔パターン82bとの間にコンデンサ84が実装されている。
コンデンサ84は、本体部84a、一端84bおよび他端84cを備えている。コンデンサ84の一端84bは銅箔パターン82aに電気的に接続されている。コンデンサ84の他端84cは銅箔パターン82bに電気的に接続されている。プリント基板81の銅箔パターン82aは、モジュール端子22に電気的に接続され、モジュール端子22を介してチップ27に電力を供給する。なお、銅箔パターン82aが第1銅箔パターンに相当し、銅箔パターン82bが第2銅箔パターンに相当する。
図20と図21に示すように、プリント基板81の銅箔パターン82aは、銅箔パターン82aに形成されたネジ貫通穴83aに通したネジ5をモジュール端子22に締結することで、パワーモジュール23に電気的および機械的に固定されている。プリント基板81の銅箔パターン82bは、銅箔パターン82bに形成されたネジ貫通穴83bに通した六角スペーサ87をモジュールベースプレート3を介して追加ベースプレート4に締結することで、追加ベースプレート4に電気的および機械的に接続されている。このような構造を採用することで、耐振動性もさらに強化される。
また、このような構造を採用することで、プリント基板81の銅箔パターン82aを介してパワーモジュール23とヒートシンク11の両端に高電圧が印加されるときに、コンデンサ84の静電容量C3とモジュール内絶縁シート2の寄生容量C1との合成寄生容量C1+C3と絶縁シート10の寄生容量C2で分圧されるため、パワーモジュール23を絶縁破壊電圧から保護することが可能である。
さらに、コンデンサ84の静電容量C3を大きくすることにより、パワーモジュールユニット24の両端に印加される電圧がパワーモジュール23の絶縁耐電圧の2倍または3倍以上の場合においてもパワーモジュール23を絶縁破壊から保護することが可能となる。
実施の形態1の場合と同様に、抵抗器13aは、図21に示すように、コンデンサ84の静電容量C3と電気的に並列、もしくは、図22に示すように、抵抗器13aをなくし、抵抗器13は、絶縁シート10と電気的に並列に、モジュールベースプレート3と、ヒートシンク11との間に接続されている。
なお、抵抗器13a,13の抵抗値Rdは実施の形態1の場合と同様に選定される。また、抵抗器13a,13の本体部はヒートシンク11に熱的および機械的に固定されている。そうすることで抵抗器13a,13の放熱性が向上するため、抵抗器13a,13の電力定格は短時間定格で設計すればよく、抵抗器13a,13を小型化することができる。抵抗器13a,13として一般的に市販されているものを使用することができる。例えば、メタルクラッド抵抗器の外装およびその内部の本体部の耐電圧は、3000V以上4500V以下であり、市場流通量も大きい。そのため、メタルクラッド抵抗器は抵抗器13a,13として使用することができる。
また、抵抗器13と抵抗器13aとを配置することもでき、この場合同じ効果が得られる。ここで、電気的に並列となる静電容量または寄生容量を有する部材はコンデンサ84である。
以上のように、実施の形態5に係るパワーモジュール装置では、プリント基板81の銅箔パターン82aはモジュール端子22と電気的および機械的に接続され、プリント基板81の銅箔パターン82bはモジュールベースプレート3と電気的および機械的に接続され、銅箔パターン82aと銅箔パターン82bとの間にコンデンサ84が接続されたため、コンデンサ84の静電容量C3を利用し、パワーモジュール23の定格絶縁耐電圧を超過した電圧がパワーモジュール23に印加される場合にもパワーモジュール23を保護することができる。
また、パワーモジュール23の絶縁耐電圧がコンデンサ84の静電容量C3と絶縁シート10の寄生容量C2で決まることから、パワーモジュール23のモジュール内絶縁シート2の絶縁耐電圧に左右されることを抑制できる。
なお、鉄道車両の絶縁耐電圧試験には交流電圧の耐圧試験と直流電圧の耐圧試験があるため、直流電圧が印加される場合、抵抗器をパワーモジュールユニット24に配置することができず、静電放電の放電ルートがなければ、パワーモジュール23が破壊される恐れがある。パワーモジュール23が破壊される恐れを抑制するために、コンデンサ84だけでなく抵抗器13も必要である。
これにより、鉄道車両向けの高耐電圧かつ高価なパワーモジュールではなく、従来より絶縁耐圧が低くより安価なパワーモジュールを使用することが可能となる。よって、製品の製造コストを抑えるとともに小型化を図ることができる。また、追加ベースプレート4の面積が、モジュールベースプレート3の面積より大きくなるので、追加ベースプレート4がヒートスプレッダとして機能する。これにより、パワーモジュール23の放熱性が向上する。
この発明は詳細に説明されたが、上記した説明は、すべての局面において、例示であって、この発明がそれに限定されるものではない。例示されていない無数の変形例が、この発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。
なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。
1 配線導体、2 モジュール内絶縁シート、3 モジュールベースプレート、4 追加ベースプレート、10 絶縁シート、11 ヒートシンク、12 コンデンサ、13,13a 抵抗器、22 モジュール端子、23 パワーモジュール、43 プリント基板、63 絶縁材料、71,72 抵抗器、81 プリント基板、82a,82b 銅箔パターン、84 コンデンサ。

Claims (7)

  1. モジュール内絶縁シートとモジュールベースプレートとモジュール端子とを有するパワーモジュールと、
    前記モジュール端子に電力を供給する配線導体と、
    前記パワーモジュールで発生した熱を放熱するヒートシンクと、
    前記モジュールベースプレートと前記ヒートシンクとの間に配置され、かつ、前記モジュールベースプレートと前記ヒートシンクとを絶縁する絶縁シートと、
    前記配線導体と前記モジュールベースプレートとの間に接続された静電容量または寄生容量を有する部材と、
    前記静電容量または寄生容量を有する部材と電気的に並列、もしくは、前記絶縁シートと電気的に並列に接続された抵抗器と、
    を備え、
    前記モジュール内絶縁シートの寄生容量と前記静電容量または寄生容量を有する部材の静電容量または寄生容量は並列接続され、前記モジュール内絶縁シートの寄生容量と前記絶縁シートの寄生容量は直列接続され、前記静電容量または寄生容量を有する部材の静電容量または寄生容量と前記絶縁シートの寄生容量は直列接続され、前記抵抗器は前記モジュール内絶縁シートの寄生容量と並列、もしくは、前記絶縁シートの寄生容量と並列に接続された、パワーモジュール装置。
  2. 前記静電容量または寄生容量を有する部材はコンデンサであり、
    前記コンデンサは静電容量を有する、請求項1に記載のパワーモジュール装置。
  3. 前記静電容量または寄生容量を有する部材はプリント基板であり、
    前記プリント基板は寄生容量を有する、請求項1に記載のパワーモジュール装置。
  4. 前記静電容量または寄生容量を有する部材は絶縁材料であり、
    前記絶縁材料は寄生容量を有する、請求項1に記載のパワーモジュール装置。
  5. モジュール内絶縁シートとモジュールベースプレートとモジュール端子とを有するパワーモジュールと、
    前記モジュール端子に電力を供給する配線導体と、
    前記パワーモジュールで発生した熱を放熱するヒートシンクと、
    前記モジュールベースプレートと前記ヒートシンクとの間に配置され、かつ、前記モジュールベースプレートと前記ヒートシンクとを絶縁する絶縁シートと、
    前記配線導体と前記モジュールベースプレートとの間に接続され、かつ、熱的および機械的に前記ヒートシンクに固定された第1抵抗器と、
    前記モジュールベースプレートと前記ヒートシンクとの間に接続され、かつ、熱的および機械的に前記ヒートシンクに固定された第2抵抗器と、
    を備え、
    前記モジュール内絶縁シートの寄生容量と前記第1抵抗器は並列接続され、前記モジュール内絶縁シートの寄生容量と前記絶縁シートの寄生容量は直列接続され、前記第2抵抗器と前記絶縁シートの寄生容量は並列接続された、パワーモジュール装置。
  6. モジュール内絶縁シートとモジュールベースプレートとモジュール端子とを有するパワーモジュールと、
    前記モジュール端子と電気的および機械的に接続された第1銅箔パターンと、前記モジュールベースプレートと電気的および機械的に接続された第2銅箔パターンとを有するプリント基板と、
    前記パワーモジュールで発生した熱を放熱するヒートシンクと、
    前記モジュールベースプレートと前記ヒートシンクとの間に配置され、かつ、前記モジュールベースプレートと前記ヒートシンクとを絶縁する絶縁シートと、
    前記第1銅箔パターンと前記第2銅箔パターンとの間に接続されたコンデンサと、
    前記コンデンサと電気的に並列、もしくは、前記絶縁シートと電気的に並列に接続された抵抗器と、
    を備え、
    前記モジュール内絶縁シートの寄生容量と前記コンデンサの静電容量は並列接続され、前記モジュール内絶縁シートの寄生容量と前記絶縁シートの寄生容量は直列接続され、前記コンデンサの静電容量と前記絶縁シートの寄生容量は直列接続され、前記抵抗器は前記モジュール内絶縁シートの寄生容量と並列、もしくは、前記絶縁シートの寄生容量と並列に接続された、パワーモジュール装置。
  7. 前記抵抗器は、前記モジュールベースプレートと、前記ヒートシンクとの間に電気的に接続され、かつ、前記ヒートシンクに熱的および機械的に接続された、請求項1または請求項6に記載のパワーモジュール装置。
JP2020525719A 2018-06-21 2019-06-17 パワーモジュール装置 Active JP6952894B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018117631 2018-06-21
JP2018117631 2018-06-21
PCT/JP2019/023871 WO2019244833A1 (ja) 2018-06-21 2019-06-17 パワーモジュール装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2019244833A1 JPWO2019244833A1 (ja) 2020-12-17
JP6952894B2 true JP6952894B2 (ja) 2021-10-27

Family

ID=68983714

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020525719A Active JP6952894B2 (ja) 2018-06-21 2019-06-17 パワーモジュール装置

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6952894B2 (ja)
CN (1) CN112272866B (ja)
DE (1) DE112019003082T5 (ja)
WO (1) WO2019244833A1 (ja)

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002076197A (ja) * 2000-08-24 2002-03-15 Toshiba Corp 半導体装置用基板及び半導体装置
JP2009295916A (ja) * 2008-06-09 2009-12-17 Daikin Ind Ltd 冷凍装置
JP5241344B2 (ja) * 2008-06-30 2013-07-17 日立オートモティブシステムズ株式会社 パワーモジュール及び電力変換装置
US8242375B2 (en) * 2008-09-18 2012-08-14 United Technologies Corporation Conductive emissions protection
JP6202094B2 (ja) * 2013-05-16 2017-09-27 富士電機株式会社 半導体装置
JP2015106601A (ja) * 2013-11-29 2015-06-08 本田技研工業株式会社 半導体装置
WO2016017260A1 (ja) * 2014-07-30 2016-02-04 富士電機株式会社 半導体モジュール
JP6200871B2 (ja) * 2014-09-09 2017-09-20 日立オートモティブシステムズ株式会社 パワーモジュール及び電力変換装置
JP2017011081A (ja) * 2015-06-22 2017-01-12 株式会社日立製作所 パワー半導体モジュールおよびそれを用いた電力変換器
CN109451779B (zh) * 2016-07-08 2020-10-16 三菱电机株式会社 半导体装置及电力转换装置
US11195807B2 (en) * 2017-09-28 2021-12-07 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor device, high-frequency power amplifier, and method of manufacturing semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
CN112272866A (zh) 2021-01-26
JPWO2019244833A1 (ja) 2020-12-17
DE112019003082T5 (de) 2021-03-04
CN112272866B (zh) 2024-02-09
WO2019244833A1 (ja) 2019-12-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8045312B2 (en) Devices and system for electrostatic discharge suppression
US20060152334A1 (en) Electrostatic discharge protection for embedded components
JP5408502B2 (ja) 電子制御ユニット
US9978523B1 (en) Multilayer capacitor and board having the multilayer capacitor mounted thereon
US10192685B2 (en) Multilayer capacitor and board having the same mounted thereon
US8526162B2 (en) Feedthrough multilayer capacitor
WO2010042130A1 (en) Capacitor device comprising a stacked multilayer capacitor
US8050015B2 (en) Composite electric element
CN109686565B (zh) 多层电子组件和具有该多层电子组件的板
US10192684B2 (en) Multilayer capacitor and board having the same mounted thereon
KR101695492B1 (ko) 전력 전자 시스템에서 간섭 방출을 감소시키기 위한 장치
AU2012201295B2 (en) Multi plate board embedded capacitor and methods for fabricating the same
US7709929B2 (en) Capacitor sheet and electronic circuit board
JP6952894B2 (ja) パワーモジュール装置
JP3035492B2 (ja) 積層セラミック部品
CN109300690B (zh) 复合电子组件及具有复合电子组件的板
JP3730137B2 (ja) 電力変換装置
JP5741416B2 (ja) 電子部品の実装構造
JP7155556B2 (ja) コンデンサ及びプリント回路板
WO2021166548A1 (ja) 部品内蔵基板及び電源装置
JP2008172280A (ja) コネクタ端子を有する電子回路ユニットおよび回路基板
JP4375177B2 (ja) 電子回路装置
JP2007324221A (ja) プリント配線板
JPH11259172A (ja) 電子機器
US20130083484A1 (en) Composite electronic component and structure for mounting composite electronic component

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200616

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200616

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210831

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210928

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6952894

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150