JP6947539B2 - 混練装置 - Google Patents

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Description

本発明は、高分子材料に導電性を有する分散質を分散させる混練装置に関する。
プラスチック、ゴム等の粘稠な材料を混練する装置として密閉式混練機が知られている。例えば特許文献1には、混練材料を収納するケーシングと、該ケーシングの上部を閉鎖する加圧蓋と、ケーシング内に取付けられた一対のロータとを備えた密閉式混練機が記載されている。
特許第3574618号明細書
密閉式混練機での混練においては、練りの再現性を確保するために、混練時間、混練材料の温度、積算電力およびそれらを組み合わせて、所定の値への到達を混練の終了条件としている場合が多い。しかし混練時間、混練材料の温度、積算電力は、材料の状態を直接表すデータではなく、間接的なデータである。例えば、ケーシング内の材料の位置はロータにかかる負荷を変動させる。その結果、ロータ駆動の積算電力と、実際の材料の状態とが相関しない場合が発生する。すなわち、積算電力のような間接的なデータに基づく制御では、混練の品質を安定化することは難しい。
本発明は上述の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、混練される材料の物性を直接的に測定することで、材料の状態と相関するデータを得て、もって混練の品質の安定化に活用することにある。
〔構成1〕
上記目的を達成するための混練装置の特徴構成は、ケーシングの内部にて高分子材料に分散質を分散させる混練装置であって、前記高分子材料への前記分散質の分散度を検出する分散度検出部と、前記分散度検出部が検出した前記分散度に基づいて、前記高分子材料を混錬するロータの回転数、前記高分子材料への加圧力、および前記高分子材料の温度のうち少なくとも1つを制御する運転制御部とを有し、
前記分散度検出部は、前記ケーシングの透過窓から前記高分子材料と前記分散質との混練材料に光を照射し、前記透過窓から当該混練材料からの光を観測して前記混練材料の表面の凸部を観測して前記分散度を検出する点にある。
上記の特徴構成によれば、分散度検出部が分散度を検出し、検出された分散度に基づいて運転制御部が混練装置を制御するから、混練される材料の物性を直接的に測定することで、分散度を検出し、混練の品質を安定化することができる。
散度検出部は、前記混練材料の表面の凸部を観測して前記分散度を検出する。
〔構成
本発明に係る混練装置の別の特徴構成は、前記運転制御部は、前記分散度検出部が検出した分散度と、分散度の目標値との差に基づいて、前記高分子材料を混錬するロータの回転数、前記高分子材料への加圧力、および前記高分子材料の温度のうち少なくとも1つをフィードバック制御する点にある。
上記の特徴構成によれば、検出された分散度と、分散度の目標値との差に基づいて混練装置がフィードバック制御されるから、分散度が目標値に近づくように混練装置が制御されて、混練の品質が更に向上し好ましい。
〔構成
本発明に係る混練装置の別の特徴構成は、前記運転制御部は、前記分散度検出部が検出した分散度が所定の閾値に達した後に、または前記分散度検出部が検出した分散度の時間変化率が所定の閾値以下となった後に、混錬を終了するか、または次の混練工程を開始する点にある。
上記の特徴構成によれば、検出された分散度またはその時間変化率に基づいて混練が終了されるから、より適切なタイミングで混練を終了するか、または次の混練工程を開始することができ、混練の品質が更に向上し好ましい。次の混練工程とは、それまでに行った混練とは異なる工程の混練であって、例えば条件(温度、速度など)の異なる混練工程や、材料を追加して行う混練工程などである。
混練装置の概略構成を示す上面図 混練装置の概略構成を示す断面図 混練装置の概略構成を示すブロック図 混練装置で行われる処理の概要を示すフローチャート 混練装置で行われる処理の概要を示すフローチャート 混練装置で行われる処理の概要を示すフローチャート 混練装置で行われる処理の概要を示すフローチャート
<第1実施形態>
以下、本実施形態に係る混練装置1について図1〜図3に基づいて説明する。本実施形態では、分散度の検出が、電極部4にて測定された電流に基づいて行われる例を説明する。
図1および図2に示すように、混練装置1は、高分子材料と分散質とを内部に収容するケーシング2と、ケーシング2の内部に配置された一対のロータ3と、ケーシング2に配置された電極部4とを備えている。そして図3に示すように、混練装置1は、制御装置10、ロータ駆動機構20、蓋部移動機構30および温度調節機構40を備えている。なお以下、ケーシング2の内部の高分子材料と分散質とを総称して「混練材料」あるいは「材料」と記す場合がある。
ケーシング2は、内部に高分子材料と分散質とを収容して混練する槽状の部材である。ケーシング2の内部は、中心軸が平行な一対の円柱を、その側面が一部重なり合う状態で配置した形状をしている。そして一対のロータ3が、その中心軸を円柱の中心軸と一致した状態で、ケーシング2の内部に回転可能に配置される。
ケーシング2は、底部2a、円筒状部2b、側壁部2c、および蓋部2dを有して構成される。底部2aは、ケーシング2の底の部位である。円筒状部2bは、ケーシング2において一対のロータ3の周囲を覆う部位である。側壁部2cは、ロータ3の回転軸Rに直交して配置される、ケーシング2の側壁である。蓋部2dは、ケーシング2の蓋の部位である。
蓋部2dは、蓋部移動機構30(図示省略)によって上下に移動可能な状態で、ケーシング2に対して配置される。蓋部2dを上方に移動してケーシング2の上部を開放した状態にて、混練材料(高分子材料と分散質)がケーシング2に投入される。その後、蓋部2dを下方に移動させ、投入された混練材料を上方から加圧しながら、ロータ3が回転して混練材料の混練が行われる。蓋部移動機構30は具体的には、電動モータやエアシリンダ等のアクチュエータを有して構成される。
ロータ3は、軸部3aと、軸部3aの表面に螺旋状に形成された羽根部3bとを有している。羽根部3bは、軸部3aの両側の端部から他端側に向け、軸部3aの略中央までの間に渡って形成されている。そして羽根部3bは、対向する一対のロータ3の間で相互に重なることがない接線方式とされている。ロータ3は、ロータ駆動機構20(図示省略)により、回転軸Rの回りに回転駆動される。ロータ駆動機構20は具体的には、電動モータを有して構成される。
ロータ3はその内部に、温調流路3cを有する。温調流路3cは、内部を冷却水が通流する流路であって、ロータ3の軸部3aおよび羽根部3bの内部に形成されている。温調流路3cは、温度調節機構40(図示省略)に接続されており、温度調節機構40から温調流路3cへ冷却水が供給される。混練装置1にて混練材料を混練する際、混練材料がせん断や変形等の作用を受け発熱するが、上述した温調流路3cを通流する冷却水によりロータ3が冷却され、ロータ3に接触した混練材料が冷却される。すなわち、温度調節機構40によりロータ3の温度および混練材料の温度が制御される。温度調節機構40は具体的には、冷却水を温調流路3cへ送出する電動ポンプを有して構成される。
電極部4は、ケーシング2に配置され、ケーシング2の内部の混練材料と接触する。電極部4は、一対の電極を有して構成されている。電極部4は、制御装置10に接続されており、制御装置10の電圧印加部10bから所定の測定用電圧が印加される。そして制御装置10の分散度検出部10cが、電極部4の一対の電極の間に流れる電流を測定し、高分子材料への分散質の分散度(以下単に「分散度」と記す場合がある。)を検出する。
電極部4は、ケーシング2の底部2a、円筒状部2b、側壁部2c、および蓋部2dのうち少なくとも1つに配置される。例えば図1および図2に示すように、電極部4は、ケーシング2の底部2a、円筒状部2b、側壁部2c、および蓋部2dに配置されてもよいし、これらの箇所のうち1箇所に配置されてもよい。
制御装置10は、混練装置1の全体の動作を制御する装置である。本実施形態では制御装置10は、運転制御部10a、電圧印加部10b、および分散度検出部10cを有して構成される。具体的には制御装置10は、HDD(Hard Disk Drive)や不揮発性RAM(Random Access Memory)といった記憶デバイス、CPU(Central Processing Unit)、電極部4に電圧を印加するための電源装置、電極部4の一対の電極の間に流れる電流を測定するための測定装置等を有して構成される。そして制御装置10は、電極部4、ロータ駆動機構20、蓋部移動機構30、および温度調節機構40と接続され、電流測定や各機構の制御を行う。
運転制御部10aは、後述する分散度検出部10cが検出した分散度に基づいて、混練装置1の動作を制御する。具体的には運転制御部10aは、ロータ駆動機構20を制御して、ロータ3の回転数を制御する。また運転制御部10aは、蓋部移動機構30を制御して、蓋部2dがケーシング2の内部の混練材料を押圧する加圧力を制御する。また運転制御部10aは、温度調節機構40を制御して、ケーシング2の内部の混練材料の温度を制御する。
詳しくは運転制御部10aは、分散度検出部10cが検出した分散度が所定の閾値に達した後に、ロータ駆動機構20を制御してロータ3を停止させ、混練動作を終了する。
また運転制御部10aは、分散度検出部10cが検出した分散度と、分散度の目標値との差に基づいて、混練装置1の動作を制御する。分散度の目標値とは例えば、混練中の各時刻での分散度の目標値である。例えば、ある時刻tにおいて検出された分散度が、その時刻tでの分散度の目標値を下回っている場合には、分散度をより大きく増加させるべく、例えばロータ回転数を増加させる。例えば、ある時刻tにおいて検出された分散度が、その時刻tでの分散度の目標値を上回っている場合には、分散度の増加を抑制すべく、例えばロータ回転数を減少させる。すなわち運転制御部10aは、検出された分散度と、分散度の目標値との差に基づいて、混練装置1の動作をフィードバック制御する。
以下、図4のフローチャートを参照して、混練装置1で行われる分散度に基づく制御について説明する。図4は混練動作の開始から終了までの制御のフローチャートである。
ステップS101では、混練装置1の運転が開始される。運転制御部10aは、ロータ駆動機構20を制御して、ロータ3を回転させる。運転制御部10aは、蓋部移動機構30を制御して、蓋部2dに力を作用させ、ケーシング2の内部の混練材料を押圧する。運転制御部10aは、温度調節機構40を制御して、ロータ3の温調流路3cに冷却水を通流させる。そしてステップS102へ進む。
ステップS102では、混練装置1の動作について監視を開始する。例えば、ロータ駆動機構20での消費電力の監視、混練材料の温度の監視を開始する。そしてステップS103へ進む。
ステップS103では、フィードバック制御を実行する。フィードバック制御の内容については後述する。そしてステップS104へ進む。
ステップS104では、分散度Cが検出される。具体的には、電圧印加部10bが電極部4に測定用電圧を印加し、分散度検出部10cが、電極部4に流れる電流を測定して分散度を検出する。そしてステップS105へ進む。
ステップS105では、ステップS104で検出された分散度Cと、判定閾値Aとの大小が比較される。分散度Cが判定閾値A以上の場合(ステップS105:Yes)、ステップS106へ進む。分散度Cが判定閾値Aより小さい場合(ステップS105:No)、ステップS103へ進む。
ステップS106では、継続時間Dを加算する。詳しくは、継続時間Dに所定の値を加算する。
ステップS107では、ステップS106で加算された継続時間Dと、時間閾値Bとの大小が比較される。継続時間Dが時間閾値B以上の場合(ステップS107:Yes)、ステップS108へ進む。継続時間Dが時間閾値Bより小さい場合(ステップS107:No)、ステップS103へ進む。
ステップS108では、混練動作を終了する。具体的には、運転制御部10aは、ロータ駆動機構20を制御して、ロータ3を停止させる。運転制御部10aは、蓋部移動機構30を制御して、蓋部2dによる混練材料の押圧を停止させる。運転制御部10aは、温度調節機構40を制御して、ロータ3の温調流路3cへの冷却水の通流を停止させる。
次に、混練装置1で行われるフィードバック制御について説明する。図5は、検出された分散度に基づくフィードバック制御のフローチャートである。
ステップS201では、時刻tでの分散度Cが検出される。具体的には、電圧印加部10bが電極部4に測定用電圧を印加し、分散度検出部10cが、電極部4に流れる電流を測定して分散度を検出する。そしてステップS202へ進む。
ステップS202では、ステップS201で検出された時刻tでの分散度Cと、目標値Eとの大小が比較される。目標値Eは、時刻tでの分散度の目標値である。分散度Cが目標値E以上の場合(ステップS202:Yes)、ステップS204へ進む。分散度Cが目標値Eより小さい場合(ステップS202:No)、ステップS203へ進む。
ステップS203では、ロータ3の回転数が増加される。具体的には、運転制御部10aがロータ駆動機構20を制御して、ロータ3の回転数を増加させる。そしてステップS201へ進む。
ステップS204では、ステップS201で検出された時刻tでの分散度Cと、目標値Eとの大小が比較される。分散度Cが目標値E以下の場合(ステップS204:Yes)、フィードバック制御の処理を終了する。分散度Cが目標値Eより大きい場合(ステップS204:No)、ステップS205へ進む。
ステップS205では、ロータ3の回転数が減少される。具体的には、運転制御部10aがロータ駆動機構20を制御して、ロータ3の回転数を減少させる。そしてステップS201へ進む。
電圧印加部10bは、電極部4が有する一対の電極の間に所定の測定用電圧を印加する。所定の測定用電圧は例えば、予め定めた一定の電圧(例えば3V、8Vまたは25V)である。
所定の測定用電圧は例えば、電圧印加部10bが、分散度検出部10cが測定する電極部4の電流の大きさに応じて変化させてもよい。例えば、電極部4を流れる電流が測定に適した大きさとなるよう、分散度検出部10cが測定用電圧を変化させてもよい。
高分子材料(例えば、アクリルゴム)に、導電性を有する分散質(例えば、カーボン)を分散させる場合、混練材料の抵抗値は50GΩ程度に大きくなる。したがって、測定用電圧は3V以上とするのが好ましく、8V以上であるとより好ましく、25V以上であると更に好ましい。また測定用電圧は1000V以下であると好ましい。
分散度検出部10cが検出した分散度に応じて測定用電圧を変更するよう、電圧印加部10bを構成してもよい。高分子材料(例えば、アクリルゴム)に、導電性を有する分散質(例えば、カーボン)を分散させる場合、混練が進行して分散度が上昇するにつれて、混練材料の電気抵抗も増加する。したがって例えば、分散度が増加すると測定用電圧を増加するよう、電圧印加部10bを構成すると好適である。
電圧印加部10bは、蓋部2dが所定の位置に配置されていない際には、電極部4に測定用電圧を印加しないよう構成される。所定の位置とは例えば、蓋部2dが下降してケーシング2が閉じられる位置である。具体的には電圧印加部10bは、蓋部移動機構30を用いて蓋部2dの位置を検出し、蓋部2dが所定の高さ(ケーシング2が閉じられる高さ)よりも上に位置する場合、電極部4に測定用電圧を印加しない。
電圧印加部10bは、ロータ3が回転していない際には、電極部4に測定用電圧を印加しないよう構成される。具体的には電圧印加部10bは、運転制御部10aまたはロータ駆動機構20を監視してロータ3が回転しているか否かを検知し、ロータ3が回転していない際には、電極部4に測定用電圧を印加しない。
分散度検出部10cは、電極部4の一対の電極の間に流れる電流を測定し、測定された電流に基づいて高分子材料への分散質の分散度を検出する。高分子材料(例えば、アクリルゴム)に、導電性を有する分散質(例えば、カーボン)を分散させる場合、混練が進行して分散度が上昇するにつれて、混練材料の電気抵抗も増加する。したがって、電極部4に流れる電流を測定することで、分散度を検出することが可能である。
分散度とは、高分子材料への分散質の分散の度合いであり、例えば数値でもよいし、パーセンテージでもよいし、段階的な指標(例えば、分散度低、分散度中、分散度高)でもよい。
例えば、測定された電流値をそのまま分散度としてもよい。電圧印加部10bが電極部4に印加する測定用電圧を混練中に一定にすれば、測定された電流値を分散度(を示す指標)とすることも可能である。
例えば、測定された電流値にて、その際の測定用電圧を除して抵抗値を算出して、その抵抗値を分散度としてもよい。
電極部4で測定される電流と分散度との関係に基づいて、ケーシング2の内部の高分子材料への分散質の分散度を算出するよう、分散度検出部10cを構成してもよい。電流と分散度との関係は、例えば数式で表されていてもよいし、対応する数値を記したテーブルの形式で表されていてもよい。関係は例えば、様々な分散度の材料を用意して電流を測定し、電流と分散度との関係を調べて決定してもよい。例えば、混練開始時の電流値(または抵抗値)をゼロとし、混練終了と判断する電流値(または抵抗値)を100として、測定された電流値(または抵抗値)に対応する分散度を比例計算により算出してもよい。
測定された電流の値のうち、所定範囲から外れた値を除外して分散度を検出するよう分散度検出部10cを構成してもよい。例えば、電極部4の一対の電極の両方に混練材料が接触している際の電流値に対して、所定範囲を±30%以内とし、この所定範囲から外れた値(電流値)を除外して分散度を検出するよう、分散度検出部10cを構成してもよい。
また、測定された電流の値のうち、所定範囲内の値に対して平均化処理を行い、分散度を検出するよう構成してもよい。例えば、電極部4の一対の電極の両方に混練材料が接触している際の電流値に対して、所定範囲を±20%以内とし、この所定範囲内の値に対して平均化処理(例えば10点移動平均)を行い、分散度を検出するよう、分散度検出部10cを構成してもよい。
<第2実施形態>
上述の実施形態では、運転制御部10aは、分散度検出部10cが検出した分散度が所定の閾値に達した後に、ロータ駆動機構20を制御してロータ3を停止させ、混練動作を終了する。混練動作の終了については、次の様な態様も可能である。運転制御部10aは、分散度検出部10cが検出した分散度の時間変化率が所定の閾値以下となった後に、ロータ駆動機構20を制御してロータ3を停止させ、混練動作を終了する。
以下、図6のフローチャートを参照して、混練装置1で行われる分散度に基づく制御について説明する。図4は混練動作の開始から終了までの制御のフローチャートである。
ステップS301では、混練装置1の運転が開始される。運転制御部10aは、ロータ駆動機構20を制御して、ロータ3を回転させる。運転制御部10aは、蓋部移動機構30を制御して、蓋部2dに力を作用させ、ケーシング2の内部の混練材料を押圧する。運転制御部10aは、温度調節機構40を制御して、ロータ3の温調流路3cに冷却水を通流させる。そしてステップS302へ進む。
ステップS302では、混練装置1の動作について監視を開始する。例えば、ロータ駆動機構20での消費電力の監視、混練材料の温度の監視を開始する。そしてステップS303へ進む。
ステップS303では、フィードバック制御を実行する。そしてステップS304へ進む。
ステップS304では、分散度Cが検出される。具体的には、電圧印加部10bが電極部4に測定用電圧を印加し、分散度検出部10cが、電極部4に流れる電流を測定して分散度を検出する。そしてステップS305へ進む。
ステップS305では、ステップS304で検出された分散度Cの時間微分Cd(分散度Cの時間変化率)と、判定閾値Aとの大小が比較される。時間微分Cdが判定閾値A以下の場合(ステップS305:Yes)、ステップS306へ進む。時間微分Cdが判定閾値Aより大きい場合(ステップS305:No)、ステップS303へ進む。
ステップS306では、継続時間Dを加算する。詳しくは、継続時間Dに所定の値を加算する。
ステップS307では、ステップS306で加算された継続時間Dと、時間閾値Bとの大小が比較される。継続時間Dが時間閾値B以上の場合(ステップS307:Yes)、ステップS308へ進む。継続時間Dが時間閾値Bより小さい場合(ステップS307:No)、ステップS303へ進む。
ステップS308では、混練動作を終了する。具体的には、運転制御部10aは、ロータ駆動機構20を制御して、ロータ3を停止させる。運転制御部10aは、蓋部移動機構30を制御して、蓋部2dによる混練材料の押圧を停止させる。運転制御部10aは、温度調節機構40を制御して、ロータ3の温調流路3cへの冷却水の通流を停止させる。
<第3実施形態>
上述の実施形態では、フィードバック制御においてロータ3の回転数の増減が行われた。本実施形態では、フィードバック制御において、検出された分散度に基づいて、ロータ3の回転数の制御、混練材料への加圧力の制御、および混練材料の温度の制御が行われる。
本実施形態に係るフィードバック制御について、図7に基づいて説明する。図7は、検出された分散度に基づくフィードバック制御のフローチャートである。
ステップS401では、時刻tでの分散度Cが検出される。具体的には、電圧印加部10bが電極部4に測定用電圧を印加し、分散度検出部10cが、電極部4に流れる電流を測定して分散度を検出する。そしてステップS402へ進む。
ステップS402では、ステップS401で検出された時刻tでの分散度Cと、目標値Eとの大小が比較される。目標値Eは、時刻tでの分散度の目標値である。分散度Cが目標値E以上の場合(ステップS402:Yes)、フィードバック制御を終了する。分散度Cが目標値Eより小さい場合(ステップS402:No)、ステップS403へ進む。
ステップS403では、温度検出値Fと、時刻tでの温度の目標値Gとが比較される。温度検出値Fは、ケーシング2の内部に設置された温度センサで検出された、混練材料の温度である。温度検出値Fが目標値G以下の場合(ステップS403:Yes)、ステップS405へ進む。温度検出値Fが目標値Gより大きい場合(ステップS403:No)、ステップS404へ進む。
ステップS404では、ロータ3の回転数を減少し、冷却水量が増加される。具体的には、運転制御部10aがロータ駆動機構20を制御して、ロータ3の回転数を減少させる。運転制御部10aが温度調節機構40を制御して、温調流路3cへの冷却水の流量を増加させる。そしてステップS401へ進む。
ステップS405では、蓋部2dによる混練材料への加圧力が増加され、ロータ3の回転数を増加する。具体的には、運転制御部10aが蓋部移動機構30を制御して、蓋部2dによる混練材料への加圧力を増加させる。運転制御部10aがロータ駆動機構20を制御して、ロータ3の回転数を増加させる。
<他の実施形態>
<1>上述の実施形態では、分散度の検出が、電極部4にて測定された電流に基づいて行われる例を説明した。分散度の検出は、他の方法によっても可能である。例えば、ケーシング2に電磁波(光)を透過する透過窓を設け、白色LEDなどのライトにてケーシング2の内部の混練材料に電磁波(光)を照射し、混練材料からの電磁波(光)を観測して、分散度を検出してもよい。具体的には、ケーシング2の内部の混練材料の表面をカメラで撮影し、撮影画像に表れる混練材料の表面の凸部(分散質)を観測して分散度を検出してもよい。
<2>上述の実施形態では、混練材料の温度の制御について、ケーシング2の内部に温度センサを設けて混練材料の温度を測定し、温度調節機構40によってロータ3の温調流路3cへの冷却水流量を調節する例を説明した。温度測定について、ロータ3の温度を測定する形態、ケーシング2の温度を測定する形態、混練装置1の温度を測定する形態も可能である。温度制御について、温調流路3cに温水を通流させてロータ3を加熱する形態も可能である。冷却水(または温水)が通流する温調流路を、ケーシング2や、混練装置1の他の部位に設けることも可能である。混練材料の温度の制御を、混練装置1の温度を制御することにより実現する形態も可能である。
<3>上述の実施形態では、運転制御部10aは、分散度検出部10cが検出した分散度が所定の閾値に達した後に、または分散度検出部10cが検出した分散度の時間変化率が所定の閾値以下となった後に、ロータ駆動機構20を制御してロータ3を停止させ、混練動作を終了するよう構成された。これを改変し、混練動作を終了せず、次の混練工程を開始するよう、運転制御部10aを構成してもよい。次の混練工程とは、それまでに行った混練とは異なる工程の混練であって、例えば条件(温度、速度など)の異なる混練工程や、材料を追加して行う混練工程などである。
なお上述の実施形態(他の実施形態を含む、以下同じ)で開示される構成は、矛盾が生じない限り、他の実施形態で開示される構成と組み合わせて適用することが可能であり、また、本明細書において開示された実施形態は例示であって、本発明の実施形態はこれに限定されず、本発明の目的を逸脱しない範囲内で適宜改変することが可能である。
1 :混練装置
2 :ケーシング
2a :底部
2b :円筒状部
2c :側壁部
2d :蓋部
3 :ロータ
3a :軸部
3b :羽根部
3c :温調流路
4 :電極部
10 :制御装置
10a :運転制御部
10b :電圧印加部
10c :分散度検出部
20 :ロータ駆動機構
30 :蓋部移動機構
40 :温度調節機構
R :回転軸

Claims (3)

  1. ケーシングの内部にて高分子材料に分散質を分散させる混練装置であって、前記高分子材料への前記分散質の分散度を検出する分散度検出部と、前記分散度検出部が検出した前記分散度に基づいて、前記高分子材料を混錬するロータの回転数、前記高分子材料への加圧力、および前記高分子材料の温度のうち少なくとも1つを制御する運転制御部とを有し、
    前記分散度検出部は、前記ケーシングの透過窓から前記高分子材料と前記分散質との混練材料に光を照射し、前記透過窓から当該混練材料からの光を観測して前記混練材料の表面の凸部を観測して前記分散度を検出する混練装置。
  2. 前記運転制御部は、前記分散度検出部が検出した分散度と、分散度の目標値との差に基づいて、前記高分子材料を混錬するロータの回転数、前記高分子材料への加圧力、および前記高分子材料の温度のうち少なくとも1つをフィードバック制御する請求項1に記載の混練装置。
  3. 前記運転制御部は、前記分散度検出部が検出した分散度が所定の閾値に達した後に、または前記分散度検出部が検出した分散度の時間変化率が所定の閾値以下となった後に、混練を終了するか、または次の混練工程を開始する請求項1又は2に記載の混練装置。
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