JP6936184B2 - テストシステム及び方法 - Google Patents

Description

本発明は、電子テストシステムの分野に関する。

電子システム及び電子装置が現代社会の進歩に向かって多大な貢献をしており、様々なビジネス用途、科学用途、教育用途、及び娯楽用途において、情報を解析し伝達する際の生産性向上及びコスト低減を促進してきた。これらの電子システム及び電子装置は通常、適切な動作を保証するためにテストされる。これらのシステム及び装置のテストは、ある程度の進歩を遂げているが、従来の手法は通常、コストがかかり、スループットや利便性に関して限界があることが多い。

図１は、例示的な従来のテスト手法のブロック図である。これは、オーブンラック１０及び加熱・冷却エレメント１１を含む、制御された大型の環境チャンバ又はオーブン７１で構成されている。オーブンラック１０は、複数のロードボードトレイ３１、３２、３３、３４、４１、４２、４３、及び４４に入ったテスト対象デバイス（ＤＵＴ）を含む。環境テストチャンバ７１は、テストラック１０を囲む堅固な壁及び堅固なドア７２を有する。加熱・冷却エレメント１１は、広い温度範囲（例えば、−１０〜１２０℃）を有し得る。テストヘッド８１は、システム制御装置のネットワークスイッチ５２、システム電源コンポーネント５３、及びテスタスライス５０（テスタスライスはテスタ電子部品を含む）を含め、ラックに入れられた様々なコンポーネントを含む。ロードボードトレイ３０は、テスト対象デバイスを搭載しており、テスタスライス５０に接続される（複数のロードボードトレイが単一のテスタスライスに連結され得る）。

従来のシステムは通常、１）固定された大型のシステムである、２）敷設、維持、及び運転にコストがかかる、並びに３）たいてい適応性が限定されて単一用途であるという理由で、簡便なテストにあまり適していない。従来のシステムのコンポーネントは通常、適切にテストを行うために緻密に連結され、互いへの依存性が強い（例えば、厳しいクロック速度要件、ハードワイヤード高電力ケーブル、様々な綿密な同期要件など）。大型のサイズ及び多数のハードワイヤードコンポーネントは通常、便利なテスト場所へシステムを移動させる際の妨げになる。従来の単一用途又は限定用途のテストシステムを、（例えば、ＤＵＴ技術の進歩、新たな又は修正されたテストプロトコル、ＤＵＴの市場需要などを満たすか、又はこれらに追従するために）変更するのは、たいてい困難である。緻密に連結されたコンポーネントを有するシステムの変更はたいてい、システム全体への広範囲にわたるコストのかかる多数の影響を含み、その変更が一部に対してだけであっても、従来のテスタシステム全体（例えば、テストヘッド、オーブンなど）は通常、シャットダウンさせる必要がある。

従来のテスト手法では通常、あるＤＵＴを、他のＤＵＴ又はテストプロトコルの他の変更が行われている間に、柔軟に又は継続的にテストを行うことができない。さらに、大型のシステム全体のほんの一部でテストしている間に生じるテスト課題によって、システム全体にわたって悪影響や遅延が引き起こされる可能性がある。大量生産用の簡便で柔軟な電子デバイステスト手法に対する、長年にわたる切実な欲求がある。

提示される実施形態によって、テスト対象デバイスへの効率的で効果的なアクセスが促進される。１つの実施形態において、テストシステムは、テスト対象デバイス（ＤＵＴ）とインタフェースで接続するように構成されたデバイスインタフェースボード（ＤＩＢ）、並びにデバイスインタフェースボード及びテスト対象デバイスのテストを制御するように構成されたプリミティブを備える。プリミティブは、独立した自己完結型のテスト制御ユニットであり、デバイスインタフェースボードと連結するように構成されたバックプレーンインタフェースと、バックプレーンインタフェースへの電源供給を制御するように構成された電源コンポーネントと、デバイスインタフェースボード及びテスト対象デバイスへ送信されるテスト信号を制御するように構成されたサイトモジュールとを含む。サイトモジュールは、異なるテストプロトコル用に再構成可能である。プリミティブは、分散型テストインフラストラクチャに適合し得る。１つの例示的な実施例において、プリミティブ及びデバイスインタフェースボードは移動可能であり、他の制御コンポーネントに束縛されない独立したテストを実行するように動作可能である。サイトモジュールは、標準的な通信プロトコル及び標準的なモジュラー式の着脱可能な通信コネクタを介して、情報を外部のテストコンポーネントへ伝達するように構成されてよい。電源コンポーネントは、モジュラー式の着脱可能な電源コネクタを介して、標準的な商用コンセントから電源供給を受け、標準的な商用電源をテスト対象デバイスの電源レベルに変換し、テスト対象デバイスへの電源供給を制御するように構成される。

１つの例示的な実施例において、サイトモジュールは、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）を含み、ＦＰＧＡは、異なるコンフィギュレーションファームウェアのビットファイルをロードすることで、異なるテストプロトコル用に再プログラム可能である。本システムは、プリミティブの遠隔制御を可能にするように構成された遠隔制御コンポーネントと、デバイスインタフェースボードの環境コンポーネントの制御を管理するように構成された環境コンポーネント制御装置とを含んでもよい。バックプレーンインタフェースは、汎用インタフェース構成に適合するように構成されてよい。

１つの実施形態において、テスト方法は、独立したテストプリミティブをデバイスインタフェースボード（ＤＩＢ）に連結する段階と、デバイスインタフェースボードに連結されるテスト対象デバイス（ＤＵＴ）のテストを制御するように、独立したテストプリミティブを構成する段階と、プリミティブによる独立したテスト制御に基づいて、テスト対象デバイスのテストを管理する段階とを備える。独立したテストプリミティブは、デバイスインタフェースボードに連結されるテスト対象デバイス（ＤＵＴ）のテストを制御するように構成されてよい。１つの例示的な実施例において、独立したテストプリミティブを構成する段階は、コンフィギュレーションファームウェアのビットファイルをプリミティブへロードする段階を含み、電子テストコンポーネントは、独立したテストプリミティブに構成ごとに残っている。ファームウェアのコンフィギュレーションビットファイルは、プリミティブのＦＰＧＡへロードされてよい。この構成する段階は、第１のタイプのテスト対象デバイスから別の第２のタイプのテスト対象デバイスへの変更に対応するオペレーションの一部として実行されてよい。本方法は、独立したテストプリミティブを主制御装置又は別のプリミティブに連結する段階を含んでよく、独立したテストプリミティブは、それぞれのデバイスインタフェースボード及びテスト対象デバイスの独立したテスト制御を維持する。本方法は、独立したテストプリミティブを、他のプリミティブ及び他の制御コンポーネントから独立したテストオペレーションを実行するために、第１の位置から第２の位置へ移動させる段階を含んでよい。

１つの実施形態において、テストシステムは、テスト対象デバイス（ＤＵＴ）とインタフェースで接続するように構成された複数のデバイスインタフェースボード（ＤＩＢ）と、複数のデバイスインタフェースボードにそれぞれ連結された複数の独立したプリミティブであって、複数のプリミティブは、複数のデバイスインタフェースボードのそれぞれ、及びテスト対象デバイスのそれぞれのテストを制御するように構成される、複数の独立したプリミティブと、複数の独立したプリミティブ及び複数のデバイスインタフェースボードを取り付けるためのラックとを備える。複数のプリミティブのうち少なくとも１つは、独立した自己完結型のテスト制御ユニットであり、デバイスインタフェースボードと連結するように構成されたバックプレーンインタフェースと、バックプレーンインタフェースへの電源供給を制御するように構成された電源コンポーネントと、デバイスインタフェースボード及びテスト対象デバイスへ送信されるテスト信号を制御するように構成されたサイトモジュールとを含む。本システムは、複数のプリミティブに連結される制御コンソールも含んでよい。複数のプリミティブのオペレーションは、制御パネルによって調整されている間、独立性が確保されてよい。１つの例示的な実施例において、プリミティブは、複数の異なるテスト対象デバイスのフォームファクタに対応し、プリミティブの汎用インタフェース構成に適合するように構成される。プリミティブの汎用インタフェース構成は、異なるデバイスインタフェースボードのインタフェースに適合し得る。

本明細書に組み込まれ、本明細書の一部を形成する添付図面は、本発明の原理についての例示的な説明を目的に含まれており、本発明を本明細書に例示される特定の実施例に限定する意図はない。これらの図面は、特に別段の指示がない限り、原寸に比例してはいない。

従来のテスト手法のブロック図である。

１つの実施形態による例示的なテストシステムのブロック図である。

１つの実施形態による例示的なテストシステムプリミティブのブロック図である。

１つの実施形態による例示的なテストシステムのブロック図である。

１つの実施形態による例示的なテストシステムの破断図である。

１つの実施形態による、デバイスインタフェースボードと連結するための、例示的なプリミティブバックプレーン構成のブロック図である。

１つの実施形態によるテスト方法のフローチャートである。

１つの実施形態による、プリミティブを取り付けた例示的なラックのブロック図である。

ここで、本発明の好適な実施形態を詳細に参照することとし、これらの実施形態の例が添付図面に例示されている。本発明は、これらの好適な実施形態と共に説明されることになるが、これらの好適な実施形態によって、本発明をこれらの実施形態に限定する意図はないことを理解されたい。反対に、本発明は、代替例、修正例、及び均等例をカバーすることが意図されており、これらは、添付の特許請求の範囲によって定められる本発明の精神及び範囲の中に含まれ得る。さらに、以下の本発明の詳細な説明において、多数の具体的な詳細が、本発明の十分な理解を提供するために記載されている。しかしながら、これらの具体的な詳細がなくても本発明が実施され得ることは、当業者には明らかであろう。他の例において、よく知られた方法、手順、コンポーネント、及び回路は、本発明の態様を不必要に曖昧にしないように、詳細に説明されてはいない。

提示される実施形態は、電子デバイスの簡便且つ効率的なテストを促進する。１つの実施形態において、テストシステムコアがプリミティブを備え、プリミティブは、テスト対象デバイスのテストを制御するように動作可能な電子コンポーネントを含む自己完結型の独立ユニット又はテストセルである。１つの例示的な実施例において、テストプラットフォームが、プリミティブと、テスト対象デバイスに連結するデバイスインタフェースボード（ＤＩＢ）とを含んでよい。プリミティブ及びデバイスインタフェースボードは、従来のテストシステムと比較して、最小のインフラストラクチャコンポーネントを備えた、又は他のインフラストラクチャコンポーネントを何も持たない、移動可能なテストシステムを形成することができる。１つの例示的な実施例において、本テストシステムは、標準的なモジュラー接続又はプラグを介してローカルの商用電源（例えば、１２０ＡＣなど）を容易に連結し、標準的な通信プロトコル及びモジュラー接続（例えば、イーサネット（登録商標）、ＵＳＢなど）を介して他のコンポーネントにも容易に連結することができる。独立したテストプリミティブを備えたテストシステムは、移動可能で自律的に動作することが可能であり、他の制御コンポーネントの依存性や必要性がなく、そのような依存性や必要性に束縛されない。プリミティブは、移動可能な分散型インフラストラクチャ方式で独立して動作することが可能であるが、プリミティブは、中央制御装置又は他のプリミティブと相互に作用することもできる。

これらのプリミティブは共に、ネットワーク接続された主制御装置によって、より大型の集合システム又は多層システムに結合されてよい。１つの例示的な実施例において、これらのプリミティブは、従来のシステムと比較して、大まかに連結されているが、それぞれのプリミティブにおけるシステムの中心的な機能は、独立して動作することができる（例えば、テストオペレーションは、プリミティブ間の厳しいクロックタイミング又は同期要件によって制限されないなど）。大型のシステムのサイズは、システムに含まれるプリミティブを単に増やすか減らすことで、容易に変更され得る。プリミティブベースのテストインフラストラクチャは、プリミティブを状況に応じて再配置することで、テストフロアにおけるＤＵＴ製品構成に対して容易な変更を促進する。プリミティブを、システム内及びシステム間で入れ替えたり、再配置したりすることも可能である。１つの実施形態において、プリミティブが主制御装置又は他のプリミティブと通信したり連携したりすることができても、テスト全体がプリミティブによって独立して制御される。

１つの実施形態において、プリミティブが、複数の異なるテスト対象デバイスのテストを制御するのに用いられてよい。プリミティブのテストプラットフォームは、変わらないコアプリミティブコンポーネントを維持しながら、異なるＤＵＴソケット数のテスト、プロトコル、及びフォーマットを制御するように容易に再構成され得る。プリミティブの再構成は、多大なインフラストラクチャ及びコンポーネントの変更を必要とする従来のテストシステムと違って、最小のハードワイヤード変更又は電子コンポーネントの物理的移動で実行され得る。１つの例示的な実施例において、異なるタイプのＤＵＴのテストは、デバイスインタフェースボードを変更し、対応するファームウェアのビットファイルをプリミティブへロードすることで適応することができる。プリミティブは、異なるデバイスインタフェースボード及びそれぞれのロードボードに連結する汎用プリミティブインタフェースを含んでよい。デバイスインタフェースボードは、異なるテスト対象デバイスのフォームファクタに簡便に対応することができ、汎用プリミティブインタフェースの構成又はフォームファクタは、ロードボードごとにほぼ同じままである。汎用プリミティブインタフェースは、デバイスインタフェースボードをそれぞれのプリミティブとの間で容易に連結及び切り離しを可能にするモジュラーコネクタを含んでよい。

図２は、１つの実施形態による例示的なテスト環境又はテストシステム２００のブロック図である。テスト環境又はテストシステム２００は、テスト対象デバイス（例えば、２１０、２１１、２１２など）、デバイスインタフェースボード２２０、プリミティブ２３０、及びユーザテストインタフェース２４０を含む。テスト対象デバイス（例えば、２１０、２１１、２１２など）は、プリミティブ２３０に連結されるデバイスインタフェースボード２２０に連結され、プリミティブ２３０は次にユーザインタフェース２４０に連結される。ユーザテストインタフェース２４０は、ＣＰＵ２４１、メモリ２４２、及びディスプレイ２４３を含む。１つの実施形態において、プリミティブ２３０は、テストアクセラレータ２３１を含むＦＰＧＡを有する。ＦＰＧＡは、予備的な解析及び永続的なテスト情報の再構成を実行するように構成される。デバイスインタフェースボード２２０は、テスト対象デバイス（例えば、２１０、２１１、２１２など）をプリミティブ２３０に電気的且つ物理的に連結するように構成される。

図３は、１つの実施形態による例示的なテストシステムプリミティブ３１０のブロック図である。テストシステムプリミティブ３１０は、電源バックプレーン３１１、直流（ＤＣ）電源３３１及び３３２、信号バックプレーン３１２、サイトモジュール３２１及び３２２、交流／直流（ＡＣ／ＤＣ）電力変換コンポーネント３４１及び３４２、スイッチ／ブレーカ３５２、遠隔制御コンポーネント３５１、並びに環境コンポーネント制御装置３３１を含む。電源バックプレーン３１１は、ＡＣ／ＤＣ電力変換コンポーネント３４１並びにＤＣ電源３３１及び３３２に連結され、ＤＣ電源３３１及び３３２は次にＡＣ／ＤＣ電力変換コンポーネント３４１及び３４２に連結される。ＡＣ／ＤＣ電力変換コンポーネントは、スイッチ／ブレーカ３５２及び遠隔制御コンポーネント３５１に連結される。ＡＣ／ＤＣ電力変換コンポーネント３４１は、環境コンポーネント制御装置３３１に連結される。信号バックプレーン３１２は、サイトモジュール３２１及び３２２に連結される。電源バックプレーン３１１及び信号バックプレーン３１２は、ＤＵＴインタフェースボード３０１に連結される。

例示的なテストシステムプリミティブ３１０の各コンポーネントは、デバイスインタフェースボード３０１を介してテスト対象デバイスのテストを制御するように協調的に動作する。スイッチ／ブレーカ３５２は、ＡＣ電源の流れを制御する。１つの実施形態において、ＡＣ電源の流れは、商用コンセント又はソケットへの標準的なプラグ又は接続を介して供給される。ＡＣ電源は、ＡＣ電源を４８ＶのＤＣ電源及び１６ＶのＤＣ電源にそれぞれ変換又は変圧するＡＣ／ＤＣ電力変換コンポーネント３４１及び３４２に供給される。４８ＶのＤＣ電源は、電源バックプレーン３１１並びにサイトモジュール３２１及び３２２に供給される。１６ＶのＤＣ電源は、制御装置３３１並びにＤＣ電源３３１及び３３２に供給される。ＤＣ電源３３１及び３３２は、電源バックプレーン３１１への１６ＶのＤＣ電源の供給を制御する。サイトモジュール３２１及び３２２は、イーサネット（登録商標）信号を受信し、信号バックプレーン３１２へ伝達される制御テスト信号を生成する。１つの例示的な実施例において、信号バックプレーン３１２は、高速信号バックプレーンである。信号バックプレーン３１２は、ＤＵＴ（不図示）へテスト信号を伝達するデバイスインタフェースボード３０１へテスト信号を伝達する。電源バックプレーン３１１は、ＤＵＴ（不図示）へ電力を伝達するデバイスインタフェースボード３０１へ電力を伝達する。遠隔制御ボード３５１は、外部の遠隔ＵＳＢ信号に応答する遠隔制御コンポーネントである。１つの例示的な実施例において、遠隔制御は、遠隔オン／オフ制御機能を含む。

図４は、１つの実施形態による例示的なテストシステム４００のブロック図である。テストシステム４００は、テストプリミティブ４９０（例えば、テスト制御ハードウェア及びテスト対象デバイスの電源コンポーネントなどを含む）と、プリミティブ４９０の前に配置され且つプリミティブ４９０に連結されるデバイスインタフェースボード４１０とを含む。１つの実施形態において、デバイスインタフェースボード４１０は、部分的な筐体であり、連結装置又は連結コンポーネント４１１に配置されるテスト対象デバイス４１２と連結するように構成される。１つの例示的な実施例において、連結装置又は連結コンポーネントは、デバイスインタフェースボード４１０に含まれるロードボードにテスト対象デバイスが連結されることを可能にするソケットである。ロードボードは、デバイスインタフェースボードの後方に配置され得る。ロードボードは、プリミティブ４９０にも連結され、テスト対象デバイス４１２をテストするための電力及び高速電気信号を取得する。

図５は、１つの実施形態による例示的なテストシステム５００の破断図である。プリミティブ５１０は、プリミティブ４９０と同様である。プリミティブ５１０は、デバイスインタフェースボード４１０に連結される。連結コンポーネント４１１に加えて、デバイスインタフェースボード４１０は、ロードボード４１７並びに環境コンポーネント４１３Ａ及び４１３Ｂも含む。環境制御コンポーネント４１３Ａ及び４１３Ｂは、テスト対象デバイスの周辺環境条件（例えば、温度、風量など）を制御し維持する。テスト対象デバイス（例えば、４１２など）が、テスト対象デバイスのフォームファクタに一致する連結コンポーネント（例えば、４１１など）に配置される又は連結される。ロードボード４１７は、インタフェース４１４（インタフェース４１４は、テスト対象デバイス４１２の一部である）を介してテスト対象デバイス４１２と電気的に連結するテスト対象デバイスインタフェース４１５を含む。ロードボード４１７は、プリミティブ５１０のバックプレーンインタフェース５９７及び５９９に電気的に連結するインタフェース４１８及び４１９も含む。１つの例示的な実施例において、インタフェース４１８及び４１９、並びにバックプレーンインタフェース５９７及び５９９は、汎用インタフェース構成に適合する。汎用インタフェース構成により、テスト対象デバイスの異なる構成をサポートするロードボードが、一定のままであるプリミティブインタフェースのフォームファクタに容易に適合することが可能になる。

１つの実施形態において、テストシステムプリミティブ５１０は、テストシステムプリミティブ３１０と同様である。テストシステムプリミティブ５１０は、電源バックプレーン５１１、直流電源５３１及び５３２、信号バックプレーン５１２、サイトモジュール５２１及び５２２、ＡＣ／ＤＣ電力変換コンポーネント５４１及び５４２、スイッチ／ブレーカ５５２、遠隔制御コンポーネント５５１、並びに環境コンポーネント制御装置５３１を含む。電源バックプレーン５１１は、ＡＣ／ＤＣ電力変換コンポーネント５４１並びにＨＤ ＤＣ電源５３１及び５３２に連結され、ＨＤ ＤＣ電源５３１及び５３２は次に、ＡＣ／ＤＣ電力変換コンポーネント５４１及び５４２に連結される。ＡＣ／ＤＣ電力変換コンポーネントは、スイッチ／ブレーカ５５２及び遠隔制御コンポーネント５５１に連結される。ＡＣ／ＤＣ電力変換コンポーネント５４１は、環境コンポーネント制御装置５３１に連結される。信号バックプレーン５１２は、サイトモジュール５２１及び５２２に連結される。電源バックプレーン５１１及び信号バックプレーン５１２は、ＤＵＴインタフェースボード４１７に連結される。

１つの実施形態において、通常単一用途のハードワイヤードシステムである従来のシステムと違って、テストシステムのデバイスインタフェースボード及びプリミティブは、異なるデバイスフォームファクタを有するデバイスの簡便なテストを、テストシステムの電子部品にほとんど変更を行わずに又は何も変更を行わずに可能にし得る。デバイスインタフェースボードは、モジュラー式であり、プリミティブとの間で容易に連結され、切り離され得る。デバイスインタフェースボード４１０はプリミティブ５１０から容易に取り外しできるが、プリミティブ５１０の電子コンポーネントは取り外されない。１つの実施形態において、異なるフォームファクタのデバイスをテストするために、異なるデバイスインタフェースボードが、デバイスインタフェースボード４１０と取り換えられてよいが、プリミティブ５１０のテスト電子部品は、実質的に変わらないままでよい。このように、デバイスインタフェースボードを取り換えることで、異なるフォームファクタのテスト対象デバイスに容易に適応し得る。電子テストコンポーネントは、独立したテストプリミティブに構成ごとに残っている。１つの例示的な実施例において、ファームウェアのコンフィギュレーションビットファイルが、異なるテスト手法及び、規格に適合するプロトコル又はフォーマットに対応するために、プリミティブ５１０へ容易にアップロードされてよい。１つの例示的な実施例において、テスト対象デバイスはソリッドステートドライブ（ＳＳＤ）であり、異なるフォームファクタ（例えば、ＳＡＴＡ２．５インチ、Ｍ．２、Ｕ．２など）に適応することができる。プリミティブは、異なるバス規格（例えば、ＰＣＩｅ、ＳＡＴＡなど）及び異なるインタフェースフォーマット（例えば、ＮＶＭｅ、ＮＶＭＨＣＩ、ＡＨＣＩなど）に適合するように構成されてよい。デバイスインタフェースボードは、テスト対象デバイス側に異なるフォームファクタのインタフェースを有し、プリミティブ側に汎用フォームファクタを有してよい。

図６は、１つの実施形態による、デバイスインタフェースボードと連結するための、例示的なプリミティブバックプレーン構成のブロック図である。プリミティブ及びデバイスインタフェースボードは、プリミティブ内のテスタ電子部品のバックプレーンに接続するための無料版の汎用インタフェース６２０を含み得る。１つの実施形態において、汎用インタフェースは、プリミティブ及びデバイスインタフェースボードのバックプレーン接続を結合又は連結する。汎用インタフェースは、電源接続部６２３並びに高速電気接続部６２１及び６２２（例えば、ピンエレクトロニクス、高速サイドバンド、及び診断接続部など）を含む。１つの実施形態において、位置合わせコンポーネント（例えば、６２４など）は、プリミティブ及びデバイスインタフェースボードの位置を調整するのに役立つ。

図７は、１つの実施形態によるテスト方法のフローチャートである。

ブロック７１０では、独立したテストプリミティブがデバイスインタフェースボードに連結される。デバイスインタフェースボードは、テスト対象デバイス及びプリミティブと選択的に連結するように構成される。独立したテストプリミティブは、テスト対象デバイスのテストを制御するように構成される。１つの実施形態において、デバイスインタフェースボードをテストプリミティブに連結することは、汎用構成で構成されたインタフェースを介して実行される。

ブロック７２０では、独立したテストプリミティブが、テスト対象デバイスのテストを制御するように構成される。ＤＵＴは、デバイスインタフェースボードに連結される。１つの実施形態において、独立したテストプリミティブを構成することは、独立したテストプリミティブに構成ごとに残っている電子テストコンポーネントへ、コンフィギュレーションファームウェアのビットファイルをロードすることを含む。１つの実施形態において、この構成は、第１のテスト対象デバイスのプロトコル又はフォームファクタから、別の第２のテスト対象デバイスのプロトコル又はフォームファクタへの変更に対応するオペレーションの一部として実行される。

ブロック７３０では、テスト対象デバイスのテストが、プリミティブから独立したテスト制御に基づいて指示される。１つの実施形態において、第１のプリミティブによって制御されるテストオペレーションは、第２のプリミティブによって制御されるテストオペレーションから独立している。テストが、あるテスト対象デバイスに対して、別のテスト対象デバイスに対するテストから独立して実行されてよい。本方法は、様々な異なるテストに適合することを理解されたい。１つの例示的な実施例において、プリミティブは遠隔制御されてよい。

１つの実施形態において、複数のプリミティブ及びデバイスインタフェースボードがラックに設置される。複数のＤＵＴが、同時に選択的にテストされてよい。各プリミティブは、互いから独立してテストオペレーションを制御し得る。１つの例示的な実施例において、そのようなラック内のプリミティブ又はデバイスインタフェースボードのいずれかが、テストシステム全体を停止させることなく入れ替えられ得る。

図８は、１つの実施形態による、プリミティブを取り付けた例示的なラックのブロック図である。本テストシステムは、主制御装置８２０及びラック８３０を含む。ラック８３０は、ロードボード８５１、８７１、８８１、及び８９１にそれぞれ連結されたプリミティブ８４１、８４２、８４３、及び８４９を含む。ロードボード８５１、８７１、８８１、及び８９１は、図５においてロードボード４１７がデバイスインタフェースボード４１０に含まれる方式と同様に、それぞれデバイスインタフェースボードに含まれてよい。あらためて図８を参照すると、ロードボード８５１がＤＵＴ８５７、８５３、及び８５２に連結される。ロードボード８７１がＤＵＴ８７７、８７３、及び８７２に連結される。ロードボード８８１がＤＵＴ８８７、８８３、及び８８２に連結される。ロードボード８９１がＤＵＴ８９７、８９３、及び８９２に連結される。プリミティブ８４１、８４２、８４３、及び８４９が、主テスタ制御装置８２１に連結されるネットワークスイッチ８２３に連結される。主テスタ制御装置は表示パネル８２２に連結される。１つの実施形態において、表示パネル８２２は発光ダイオード（ＬＥＤ）ツリーである。ラック８３０のプリミティブ８４１、８４２、８４３、及び８４９は、緊急遮断スイッチ８２５にも連結される。

プリミティブ８４１、８４２、８４３、及び８４９は共に、ネットワークスイッチ８２３及び主テスタ制御装置８２１によって、大型の集合システム又は多層システムに結合されてよい。１つの実施形態において、ネットワーク接続は、ＤＵＴに適切なテストを実行するためにソフトウェアがプリミティブをどのように構成するかを決定することができる。１つの例示的な実施例において、プリミティブ８４１、８４２、８４３、及び８４９は、従来のシステムと比較して大まかに連結される。それぞれのプリミティブにおけるコアの電子テスト機能は、独立して動作することが可能である（例えば、テストオペレーションは、プリミティブ間の厳しいクロックタイミング又は同期要件などに限定されない）。テストシステムに取り付けられるラックのサイズは、システムに含まれるプリミティブを単に増やすか減らすことで、容易に変更され得る。

テスト対象デバイスという用語は、テストの対象であるデバイスを指すのに用いられる。当業者であれば、テスト対象デバイスという用語が、テストを受けているデバイス、テストされるのを待機しているデバイス、又はテストを完了したデバイスを説明するのに用いられてよいことを認識するものと理解されたい。

プリミティブ及びデバイスインタフェースボードが、オーブン又は物理環境筐体の内部などの大型チャンバに含まれていない実施形態が説明されているが、これらの実施形態は、より大型のチャンバ又は筐体での使用にも適合することを理解されたい。１つの実施形態において、大型チャンバの外部で動作することが可能なプリミティブ及びデバイスインタフェースボードが、必要に応じて、大型チャンバの内部に容易に移動又は実装されてよい。

こうして、提示される実施形態は、電子デバイスの簡便且つ効率的なテストを促進する。１つの実施形態において、プリミティブは、自己完結型独立ユニットのテストシステムコアであり、テスト対象デバイスのテストを制御するように動作可能な電子コンポーネントを含む。プリミティブ及びデバイスインタフェースボードは、従来のテストシステムと比較して、最小のインフラストラクチャコンポーネントを備えた、又は他のインフラストラクチャコンポーネントを何も持たない、移動可能なテストシステムを形成することができる。１つの例示的な実施例において、プリミティブの接続はモジュラー式であり、標準的な電力及び通信接続に容易に適合する。独立したテストプリミティブを備えたテストシステムは移動可能であり、他の制御コンポーネントの依存性や必要性に束縛されずに動作することが可能である。プリミティブは、移動可能な分散型インフラストラクチャ方式で独立して動作することが可能であるが、プリミティブは、中央制御装置又は他のプリミティブと相互に作用することもできる。これらのプリミティブは共に、ネットワーク接続された主制御装置によって、従来のシステムと比較して大まかに連結されたより大型の集合システム又は多層システムに結合されてよい。プリミティブに基づくテストシステムインフラストラクチャは適応性があり、異なるタイプのＤＵＴのテストに容易に対応する。変わらないコアプリミティブコンポーネントを（電子コンポーネントのハードワイヤード変更又は物理的な移動を最小にして又は何もせずに）維持しながら、様々な変更（例えば、ＤＵＴ製品構成の変更、システム内及びシステム間のプリミティブ再配置など）が行われてよく、この点は、多大なコストがかかるインフラストラクチャ変更及びコンポーネント変更を必要とする従来のテストシステムと異なる。

詳細な説明の一部は、コンピュータメモリ内のデータビットに対するオペレーションの手順、論理ブロック、処理、及び他の記号表現に関する用語で提示されている。これらの説明及び表現は、データ処理技術の当業者が、自分の研究内容を当業者に効率的に伝達するために一般に用いる手段である。手順、論理ブロック、処理などは、ここでは概して、必要な結果につながる自己矛盾のない一連の段階又は命令であると考えられている。これらの段階には、物理量の物理的操作が含まれる。必ずではないがたいてい、これらの量は、電気信号、磁気信号、光信号、又は量子信号の形態を取り、これらの信号は、コンピュータシステムにおいて、格納され、転送され、組み合わされ、比較され、あるいは別の方法で操作されることが可能である。これらの信号をビット、値、エレメント、シンボル、文字、用語、番号などと呼ぶことが、主に一般的な用法を理由に、場合によっては簡便であることが分かっている。

しかしながら、これらの用語及び類似の用語の全ては、適切な物理量と関連付けられており、これらの量に適用される単なる簡便なラベルであることに留意されたい。別に具体的に述べられていない限り、以下の説明から明らかであるように、本出願の全体にわたって「処理（ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ）」、「演算処理（ｃｏｍｐｕｔｉｎｇ）」、「計算（ｃａｌｃｕｌａｔｉｎｇ）」、「決定（ｄｅｔｅｒｍｉｎｉｎｇ）」、「表示（ｄｉｓｐｌａｙｉｎｇ）」などの用語を利用する説明は、物理（例えば電子）量として表されたデータを操作し変換するコンピュータシステム又は同様の処理装置（例えば、電気、光、又は量子を使った演算処理装置）の動作及び処理を指すことを理解されたい。これらの用語は、コンピュータシステムのコンポーネント（例えば、レジスタ、メモリなどの情報記憶装置、送信装置、表示装置など）内の物理量を操作するか、又はそれらの物理量を他のコンポーネント内の物理量として同様に表される他のデータに変換する処理装置の動作及び処理を指す。

本発明の実施形態は、様々な異なるタイプの有形のメモリ又は記憶装置（例えば、ＲＡＭ、ＤＲＡＭ、フラッシュ、ハードドライブ、ＣＤ、ＤＶＤなど）に適合し、これらのメモリ又は記憶装置で実装され得ることを理解されたい。このメモリ又は記憶装置は、内容を変更する又は再書き込みすることが可能であるが、非一時的記憶媒体とみなされてよい。非一時的記憶媒体と示すことで、媒体の特性を限定する意図はなく、様々な記憶媒体（例えば、プログラム可能型、消去可能型、プログラム固定型、読み出し／書き込み型、読み出し専用型など）が含まれてよく、「非一時的」コンピュータ可読媒体は、一時的であることを唯一の例外として、信号を伝搬する全てのコンピュータ可読媒体を含む。

以下は、新規手法と関連した例示的な概念又は実施形態の一覧であることを理解されたい。この一覧は包括的ではなく、可能な実施例を必ずしも全て含んではいないことも理解されたい。以下の概念及び実施形態は、ハードウェアで実装されてよい。１つの実施形態において、以下の方法又は処理は、様々な処理コンポーネント又はユニットによって実行されるオペレーションを説明する。１つの例示的な実施例において、方法、処理、オペレーションなどと関連した命令又は指示がメモリに格納されてよく、オペレーション、機能、動作などをプロセッサに実施させてよい。

メモリ記憶装置の管理システム及び方法が、以下の例示的な概念又は実施形態を含んでよいことを理解されたい。この一覧は包括的ではなく、可能な実施例を必ずしも全て含んではいないことも理解されたい。以下の概念及び実施形態は、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェアなどで実装されてよい。１つの実施形態において、以下の概念は、様々な処理コンポーネント又はユニットによって実行されるオペレーションを説明する方法又は処理を含む。１つの例示的な実施例において、方法、処理、オペレーションなどと関連した命令又は指示がメモリに格納されてよく、オペレーション、機能、動作などをプロセッサに実施させてよい。

本発明の具体的な実施形態に関する前述の説明は、例示及び説明を目的に提示されている。これらの説明は、包括的であることも、本発明を開示されたまさにその形態に限定することも意図するものではなく、上記の教示を踏まえると、多くの修正及び変形が可能であることは明らかである。これらの実施形態は、本発明の原理及びその実際の適用を最も適切に説明し、それにより、当業者が本発明及び様々な実施形態を、企図される特定の用い方に適した様々な修正と共に最も適切に利用することを可能にするために選択され、説明された。本発明の範囲は、本明細書に添付される特許請求の範囲及びその均等物によって定められることが意図されている。方法クレームに含まれる段階の一覧は、クレームに明示的に述べられていない限り、これらの段階を実行するいかなる特定の順序も示唆するものではない。

Claims (19)

1. テスト対象デバイス（ＤＵＴ）とインタフェースで接続するデバイスインタフェースボード（ＤＩＢ）と、
   前記デバイスインタフェースボード及び前記テスト対象デバイスのテストを制御するプリミティブとを備え、
   前記プリミティブは、
   前記デバイスインタフェースボードと連結するバックプレーンインタフェースと、
   前記バックプレーンインタフェースへの電源供給を制御する電源コンポーネントと、
   前記デバイスインタフェースボード及び前記テスト対象デバイスへ送信されるテスト信号を制御するサイトモジュールと、
   前記デバイスインタフェースボードが有する、前記テスト対象デバイスの周辺環境条件を制御する環境コンポーネントの制御を管理する環境コンポーネント制御装置と
   を有する独立した自己完結型テスト制御ユニットであり、
   前記デバイスインタフェースボードは、前記プリミティブの前に配置されて前記プリミティブに連結され、部分的な筐体をなす、
   テストシステム。
2. 前記プリミティブは、分散型テストインフラストラクチャに適合する、請求項１に記載のテストシステム。
3. 前記プリミティブ及び前記デバイスインタフェースボードは移動可能であり、他の制御コンポーネントに束縛されないテストを実行するように動作可能である、請求項１又は２に記載のテストシステム。
4. 前記サイトモジュールは、標準的な通信プロトコル及び標準的なモジュラー式の着脱可能な通信コネクタを介して、外部のテストコンポーネントへ情報を伝達する、請求項１から３のいずれか一項に記載のテストシステム。
5. 前記電源コンポーネントは、モジュラー式の着脱可能な電源コネクタを介して、標準的な商用コンセントから電源供給を受け、前記標準的な商用電源をテスト対象デバイスの電源レベルに変換し、前記テスト対象デバイスへの電源供給を制御する、請求項１から４のいずれか一項に記載のテストシステム。
6. 前記サイトモジュールは、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）を含み、前記ＦＰＧＡは、異なるコンフィギュレーションファームウェアのビットファイルをロードすることで、異なるテストプロトコル用に再プログラム可能である、請求項１から５のいずれか一項に記載のテストシステム。
7. 前記サイトモジュールは、コアプリミティブコンポーネントを維持しながら、異なるテストプロトコル用に再構成可能である、請求項１から６のいずれか一項に記載のテストシステム。
8. 前記バックプレーンインタフェースは、汎用インタフェース構成に適合する、請求項１から７のいずれか一項に記載のテストシステム。
9. 前記プリミティブの制御を遠隔で可能にする遠隔制御コンポーネントをさらに備える、請求項１から８のいずれか一項に記載のテストシステム。
10. 独立したテストプリミティブをデバイスインタフェースボード（ＤＩＢ）に連結する段階であって、前記デバイスインタフェースボードは、前記テストプリミティブの前に配置されて前記テストプリミティブに連結され、部分的な筐体をなし、前記テストプリミティブは、前記デバイスインタフェースボードが有する、テスト対象デバイス（ＤＵＴ）の周辺環境条件を制御する環境コンポーネントの制御を管理する環境コンポーネント制御装置を有する、段階と、
    前記デバイスインタフェースボードに連結される前記テスト対象デバイスのテストを制御するように、前記独立したテストプリミティブを構成する段階であって、構成する前記段階は、コンフィギュレーションファームウェアのビットファイルを前記独立したテストプリミティブに残っている電子テストコンポーネントへ構成ごとにロードする段階を含む、段階と、
    前記独立したテストプリミティブによる独立したテスト制御に基づいて、前記テスト対象デバイスのテストを管理する段階とを備える、テスト方法。
11. 構成する前記段階は、第１のタイプのテスト対象デバイスから別の第２のタイプのテスト対象デバイスへの変更に対応するオペレーションの一部として実行される、請求項１０に記載のテスト方法。
12. 前記独立したテストプリミティブを主テスト制御装置に連結する段階をさらに含み、前記独立したテストプリミティブは、それぞれのデバイスインタフェースボード及びテスト対象デバイスの独立したテスト制御を維持する、請求項１０又は１１に記載のテスト方法。
13. 前記独立したテストプリミティブを別のプリミティブに連結する段階をさらに含み、前記独立したテストプリミティブは、それぞれのデバイスインタフェースボード及びテスト対象デバイスの独立したテスト制御を維持する、請求項１０から１２のいずれか一項に記載のテスト方法。
14. 前記独立したテストプリミティブは移動可能であり、他のプリミティブ及び他の制御コンポーネントから独立したテストオペレーションを実行するために、第１の位置から第２の位置へ移動させられる段階を含む、請求項１０から１３のいずれか一項に記載のテスト方法。
15. 複数のテスト対象デバイス（ＤＵＴ）とインタフェースで接続する複数のデバイスインタフェースボード（ＤＩＢ）と、
    前記複数のデバイスインタフェースボードにそれぞれ連結された複数の独立したプリミティブであって、前記複数の独立したプリミティブは、前記複数のデバイスインタフェースボードのそれぞれと、前記複数のテスト対象デバイスのそれぞれのテストとを制御し、前記複数の独立したプリミティブのうち少なくとも１つが、独立した自己完結型テスト制御ユニットであり、前記独立した自己完結型テスト制御ユニットは、
    前記複数のデバイスインタフェースボードのうち少なくとも１つと連結するバックプレーンインタフェースと、
    前記バックプレーンインタフェースへの電源供給を制御する電源コンポーネントと、
    前記複数のデバイスインタフェースボードのうち前記少なくとも１つ及び前記複数のテスト対象デバイスへ送信されるテスト信号を制御するサイトモジュールと、前記複数のデバイスインタフェースボードのうち前記少なくとも１つが有する、前記テスト対象デバイスの周辺環境条件を制御する環境コンポーネントの制御を管理する環境コンポーネント制御装置とを有する、複数の独立したプリミティブと、
    前記複数の独立したプリミティブ及び前記複数のデバイスインタフェースボード（ＤＩＢ）を取り付けるためのラックとを備え、
    前記複数のデバイスインタフェースボードのそれぞれは、前記複数の独立したプリミティブのそれぞれの前に配置されてそれぞれの前記プリミティブに連結され、部分的な筐体をなす、テストシステム。
16. 前記複数の独立したプリミティブに連結される制御コンソールをさらに備える、請求項１５に記載のテストシステム。
17. 前記複数の独立したプリミティブのオペレーションは、制御パネルによって調整されている間、独立性が確保されている、請求項１５又は１６に記載のテストシステム。
18. 前記プリミティブは、複数の異なるテスト対象デバイスのフォームファクタに対応し、前記プリミティブの汎用インタフェース構成に適合する、請求項１５から１７のいずれか一項に記載のテストシステム。
19. 前記プリミティブの汎用インタフェース構成は、異なるデバイスインタフェースボードのインタフェースに適合する、請求項１５から１８のいずれか一項に記載のテストシステム。

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