JP6925322B2 - 除害装置 - Google Patents
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Description
図1は、一実施形態による除害装置アセンブリ、全体的に8の概略断面図である。除害装置アセンブリ8は、典型的に真空ポンピングシステムによって半導体やフラットパネルディスプレイの処理ツールのような製造処理ツールからポンピングされる排ガス流を処理する。排ガス流は、入口10に受け入れられる。排ガス流は、入口10からノズル12まで搬送され、ノズル12は、排ガス流を円筒形処理チャンバ14内に注入する。この実施形態では、放射装置アセンブリ8は、周方向に配置された4つの入口10を含み、4つの入口10の各々は、それぞれの真空ポンピングシステムによってそれぞれのツールからポンピングされた排ガス流を搬送する。これに代えて、単一処理ツールからの排ガス流は、複数の流れに分割することができ、その各々は、それぞれの入口に搬送される。各ノズル12は、処理チャンバ14の上側面又は入口面を定めるセラミック上板18に形成されたそれぞれのボア16に位置付けられる。
図3は、一実施形態による除害装置アセンブリ、全体的に8Aを概略的に示している。この配置は、図1の配置と類似のものであるが、赤外線デバイス50Aは、プレナム容積22Aを定める小孔スリーブ20A内に位置付けられる。赤外線デバイス50Aは、シャドーイングを最小にしながら所要の加熱を小孔スリーブ20Aの周りに与えるためにプレナム容積22A内に分散される。加熱は、赤外線デバイス50Aを入口の近くに位置付けることによって局所的に強化することができる。赤外線デバイス50Aは、不均一なエネルギ放出を与えて小孔スリーブ20Aの加熱を変化させることができる。プレナム容積22A内に導入されるガスは、赤外線デバイス50Aを取り囲んで保護するためにシュラウドとして導入することができる。
図4は、一実施形態による除害装置アセンブリ、全体的に8Bを概略的に示している。この配置は、図1及び図3の配置と類似のものであるが、赤外線デバイス50B1、50B2は、両方ともプレナム容積22B1を部分的に定める小孔スリーブ20B1の周りに、かつプレナム容積22B2を定める小孔スリーブ20B2内に位置付けられる。赤外線デバイス50B1、50B2は、シャドーイングを最小にしながら所要の加熱を小孔スリーブ20B1、20B2の周りで供給するためにプレナム容積22B1、22B2内に分散される。加熱は、赤外線デバイス50B1、50B2を入口の近くに位置付けることによって局所的に強化することができる。赤外線デバイス50B1、50B2は、不均一なエネルギ放出を与えて小孔スリーブ20B1、20B2の加熱を変化させることができる。プレナム容積22B1、22B2内に導入されるガスは、赤外線デバイス50B1、50B2を取り囲んで保護するためにシュラウドとして導入することができる。
図5A及び図5Bは、一実施形態による除害装置、全体的に8Cを示している。明瞭さを改善するために、側壁及び端壁は省略されている。除害装置8Cは、ハウジングの上側部分1020を含む。上側部分1020は、処理される排ガス流を受け入れる複数の排ガス流入口1030を含む。上側部分1020はまた、分離構造又は端部構造のいずれかを受け入れるように成形された複数の開口1040を含む。この例では、上側部分1020は、2つの端部構造1050A及び1つの分離構造1050Bを受け入れる。除害装置8Cは、1対の対向する側壁1070(その一方のみを図5A及び図5Bに図示)を1対の端壁1080(ここでもまた単一の端壁1080のみを図5A及び図5Bに図示)と共に含む。
図6A及び図Bは、図5A及び図5Bに示す配置によって処理される排ガス流と比較してこの流量の倍を処理する代替配置を示している。この実施形態では、図1A及び図1Bの配置は、介在する壁1160(ここでもまた側壁1070及び端壁1080は明瞭さを改善するために省略)によって分離された2列の処理チャンバ1090を与えるために再現されている。
除害装置アセンブリ 8、8A、8B、8C
入口 10、1030
ノズル 12
処理チャンバ 14、14A、14B、1090
ボア 16
上板 18
スリーブ 20、20A、20B1、20B2
出口面 21、21A、21B1、21B2、23C
プレナム容積 22、22A、22B1、22B2
入口面 23、23A、23B1、23B2、23C
外側シェル 24、24A、24B
赤外線デバイス 50、50A、50B1、50B2、50C
絶縁スリーブ 60
空隙 210
上側部分 1020
各部分 1025
開口 1040
端部構造 1050A
分離構造 1050B
側壁 1070
各部分 1075
端壁 1080
上側面 1100B
開口 1110A、1110B
端板 1120B
シート 1130B
介在する壁 1160
Claims (14)
- 製造処理ツールからの排ガス流を処理するための除害装置であって、
処理チャンバを少なくとも部分的に定め、前記排ガス流の処理のために前記処理チャンバ内に導入されるように加湿空気を含む処理物質が通過する多孔質要素と、
前記処理物質が前記多孔質要素を通過して前記処理チャンバに入る時に前記処理物質を加熱する前記多孔質要素を800℃〜1200℃まで加熱する赤外線エネルギを放出するように作動可能な赤外線加熱デバイスと、
を含むことを特徴とする装置。 - 前記赤外線加熱デバイスは、前記多孔質要素の面の付近に位置決めされて前記多孔質要素の前記面を加熱することを特徴とする請求項1に記載の除害装置。
- 前記多孔質要素の前記面の付近にプレナムを定める外壁を含み、
前記処理物質は、前記プレナムから前記多孔質要素に与えられ、前記赤外線加熱デバイスは、前記プレナム内に位置付けられる、
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の除害装置。 - 前記外壁は、入射赤外線エネルギを前記多孔質要素に向けて反射するように反射性であることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の除害装置。
- 前記多孔質要素は、前記多孔質要素の前記面の付近にプレナムを定め、前記処理物質は、前記プレナムから前記多孔質要素に与えられ、前記赤外線加熱デバイスは、前記プレナム内に位置付けられることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の除害装置。
- 前記赤外線加熱デバイスを取り囲むパージガスを供給するように作動可能なパージガス入口を含むことを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の除害装置。
- 前記多孔質要素の前記面は、入射赤外線エネルギの不均一吸収を与えるように構成されることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の除害装置。
- 前記多孔質要素は、前記面から前記処理チャンバへの不均一な熱伝達を与えるように構成されることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の除害装置。
- 前記赤外線加熱デバイスは、不均一な赤外線エネルギ放出を与えるように構成されることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の除害装置。
- 前記多孔質要素の前記面にわたって加熱する赤外線エネルギを放出するように位置決めされた複数の前記赤外線加熱デバイスを含むことを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の除害装置。
- 前記排ガス流を前記処理チャンバまで搬送するための少なくとも1つの入口を含み、
少なくとも1つの赤外線加熱デバイスが、各入口の付近に位置付けられる、
ことを特徴とする請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の除害装置。 - 放出赤外線エネルギを変化させるように前記赤外線加熱デバイスを制御するように作動可能なコントローラを含むことを特徴とする請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の除害装置。
- 前記コントローラは、低減された排ガス流が流れる間は放出赤外線エネルギを低減すること、前記製造処理ツールの処理が行われない間は放出赤外線エネルギを停止すること、及び前記排ガス流の組成に基づいて放出赤外線エネルギを変化させることのうちの少なくとも1つを実行するように作動可能であることを特徴とする請求項12に記載の除害装置。
- 排ガス流の処理のための処理チャンバを少なくとも部分的に定める多孔質要素に加湿空気を含む処理物質を通す段階と、
前記処理物質が前記多孔質要素を通過して前記処理チャンバに入る時に前記処理物質を加熱する前記多孔質要素を800℃〜1200℃まで加熱するために赤外線加熱デバイスを使用して赤外線エネルギを放出する段階と、
を含むことを特徴とする方法。
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