JP6925206B2 - 固体撮像装置 - Google Patents

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Description

本発明は、固体撮像装置に関する。
第一方向及び第一方向と直交する第二方向に二次元配列されている複数の光感応領域をそれぞれ有すると共に、第一方向に並んでいる複数の画素領域と、画素領域と第二方向で並び、かつ、光感応領域で発生した電荷を、画素領域毎に転送する複数の第一転送部と、対応する第一転送部を介して画素領域と第二方向で並び、かつ、対応する第一転送部から転送された電荷を取得し、第一方向に転送する複数の第二転送部と、を備えた固体撮像装置が知られている(たとえば、特許文献1)。
特開2000−350100号公報
固体撮像装置におけるフレームレートを高速化するための手法として、一つの固体撮像装置に対して複数の読み出しポートを設けるマルチポート化がある。マルチポート化のためには、アンプなどの読み出しポートを置くスペースを確保する必要がある。このスペースを確保するために、たとえば上記特許文献1に記載の固体撮像装置では、第一転送部の第二方向での長さが、第一転送部に対応する第二転送部での電荷転送方向で次第に長くなっている。第一転送部に対応する第二転送部は、画素領域との距離が電荷転送方向で次第に長くなるように第一方向及び第二方向と交差する方向に沿って延びている。これにより、第一方向で隣り合う第二転送部間に形成されたスペースに、アンプを置いている。
上記特許文献1に記載の固体撮像装置において、第一転送部は、その全体において、第二方向での長さが、第二転送部での電荷転送方向で次第に長くなっている。よって、第一転送部の第一方向での全領域において、第一転送部を間に介して対向する画素領域と第二転送部との距離が、第二転送部での電荷転送方向で次第に長くなっている。したがって、画素領域から第二転送部までの第二方向に沿った電荷転送距離が長くなってしまう。第二転送部は、その全体において、第一方向及び第二方向と交差する方向に沿って延びている。よって、第一方向に沿った電荷転送方向に移動しようとする電荷が、第二転送部における第一転送部との境界面に当たりながら転送される。したがって、第一転送部のポテンシャルに阻害されて、第二転送部での電荷転送効率が悪くなるおそれがある。
本発明は、電荷転送効率が向上された固体撮像装置を提供することを目的とする。
本発明に係る固体撮像装置は、第一方向及び第一方向と直交する第二方向に二次元配列されている複数の光感応領域をそれぞれ有すると共に、第一方向に並んでいる複数の画素領域と、画素領域と第二方向で並び、かつ、光感応領域で発生した電荷を、画素領域毎に転送する複数の第一転送部と、対応する第一転送部を介して画素領域と第二方向で並び、かつ、対応する第一転送部から転送された電荷を取得し、第一方向に転送する複数の第二転送部と、を備え、各第一転送部は、第一方向に並んだ複数の第一転送列領域を含んでいる第一領域と、第一方向に並んだ複数の第二転送列領域を含み、かつ、対応する第二転送部での電荷転送方向で第一領域の下流側に位置する第二領域と、を有し、複数の第一転送列領域の第二方向での長さは、一定であり、複数の第二転送列領域の第二方向での長さは、第一転送列領域の長さより長く、かつ、電荷転送方向で下流側に位置する第二転送列領域ほど長く、各第二転送部は、第一領域に対応して配置されていると共に、第一方向に沿って延びている第三領域と、第二領域に対応して配置されていると共に、第二方向での画素領域との間隔が複数の第二転送列領域の長さの変化に対応して電荷転送方向で大きくなるように、第一方向と第二方向とに交差する方向に沿って延びている第四領域と、を有している。
本発明の固体撮像装置では、各第一転送部が、第一領域と、対応する第二転送部での電荷転送方向で第一領域の下流側に位置する第二領域と、を有している。第一領域は、複数の第一転送列領域を含んでいる。複数の第一転送列領域の第二方向での長さは一定である。第二領域は、複数の第二転送列領域を含んでいる。複数の第二転送列領域の第二方向での長さは、第一転送列領域の第二方向での長さより長く、かつ、第二転送部での電荷転送方向で下流側に位置する第二転送列領域ほど長い。よって、各第一転送列領域では、各第二転送列領域に比して、第二方向に沿った電荷転送距離が短くなっている。したがって、第一転送部に含まれる全ての転送列領域の第二方向での長さが、第二転送部での電荷転送方向で次第に長くなる場合に比して、第二方向に沿った電荷転送距離が短くなっている。各第二転送部は、第一領域に対応して配置されている第三領域と、第二領域に対応して配置されている第四領域と、を有している。第三領域は、第一方向に沿って延びている。第四領域は、第二方向での画素領域との間隔が複数の第二転送列領域の長さの変化に対応して電荷転送方向で大きくなるように、第一方向と第二方向とに交差する方向に沿って延びている。第三領域では、第一方向に沿った電荷転送方向に移動しようとする電荷が、第二転送部における第一転送部との境界面に当たらないので、第一転送部のポテンシャルに阻害されずに電荷が転送される。よって、第二転送部の全体が第一方向及び第二方向と交差する方向に沿って延びている場合に比して、第二転送部での電荷転送効率が向上する。以上より、電荷転送効率が向上された固体撮像装置が提供される。
各第二転送列領域は、第一不純物領域と、第一不純物領域に比して不純物濃度が高い第二不純物領域と、を含み、第二不純物領域は、各第二転送列領域において、第二方向で画素領域側に位置する一端又は当該一端の近傍から第二転送部側の他端まで設けられており、第二不純物領域の第一方向での幅は、一端から他端に向かう垂直転送方向で増加していてもよい。この場合、第二不純物領域の第一方向での幅が垂直転送方向で増加していることにより、各第二転送列領域においては、垂直転送方向で電位が高くなる電位勾配が形成されている。よって、画素領域から第二転送部までの電荷転送距離が長くなっている各第二転送列領域においても、この電位勾配により、電荷が効率よく転送される。
第二転送列領域を第二方向にn分割(nは2以上の整数)した各区間における第二不純物領域の幅は、隣り合う各区間における第二不純物領域の電位差が一定となるように設定されていてもよい。このような幅の第二不純物領域によって、第二転送列領域における電位勾配が略一定となるので、電荷が効率よく転送される。
対応する第二転送部の電荷転送方向での後端から電荷を取得し、取得した電荷に対応する信号を出力する複数の出力部を更に備え、出力部は、対応する第二転送部と、対応する第二転送部と電荷転送方向で隣り合う第二転送部とで囲まれる領域に配置されていてもよい。この場合、対応する第二転送部の第一方向での幅を画素領域の第一方向での幅に比して小さくしなくても、対応する第二転送部と、対応する第二転送部と電荷転送方向で隣り合う第二転送部とで囲まれる領域が形成されている。この領域に、対応する第二転送部から取得した電荷に対応する信号を出力する出力部が配置されているので、第二転送部から出力部に向かって電荷の転送方向を曲げる必要がなくなり、電荷転送効率が向上すると共に設計が容易である。
本発明によれば、電荷転送効率が向上された固体撮像装置を提供することができる。
固体撮像装置の平面構成を示す図である。 固体撮像装置の部分断面図である。 第二転送列領域を模式的に示す図である。 固体撮像装置において形成される電位の変化を説明するための図である。 第二不純物領域の幅を説明するための図である。 ノッチ幅毎の光感応領域の電位を示すグラフである。 各等分点に対応する第二不純物領域の各幅を示す表である。 本実施形態の第二不純物領域を含む第二転送列領域をシミュレーションモデルとして作成した図である。 図8のシミュレーションモデルを用いて、第二転送列領域のポテンシャルをシミュレーションした結果を示すグラフである。 転送方向での電位勾配を示すグラフである。 第二転送列領域が第二不純物領域を含んでいないものとした場合の第二転送列領域のポテンシャルをシミュレーションした結果を示すグラフである。 本実施形態の固体撮像装置の作用及び効果を説明するための図である。 他の実施形態に係る第二不純物領域を模式的に示す図である。
以下、添付図面を参照して、本発明の実施形態について詳細に説明する。なお、説明において、同一要素又は同一機能を有する要素には、同一符号を用いることとし、重複する説明は省略する。
まず、図1及び図2を参照して、本実施形態に係る固体撮像装置1について説明する。図1は、固体撮像装置1の平面構成を示す図である。図2は、固体撮像装置1の部分断面図であって、図1におけるII-II線に沿った断面構成を示す図である。
図1に示されるように、固体撮像装置1は、複数の画素領域3aと、複数の転送部7(第一転送部)と、複数のシフトレジスタ9(第二転送部)と、複数のアンプA(出力部)と、を備えている。
画素領域3aは、平面視において、第一方向D1で互いに対向する一対の短辺及び第二方向D2で互いに対向する一対の長辺によって形作られる矩形形状を呈している。本実施形態では、第一方向D1は、Y軸に沿った正方向及び負方向の双方向を意味する。第二方向D2は、X軸に沿った正方向及び負方向の双方向を意味する。第一方向D1と第二方向D2とは、直交する。複数の画素領域3aは、第一方向D1に並んでおり、受光領域3を構成している。各画素領域3aは、受光領域3を第一方向D1で複数に分割している。
画素領域3aは、複数の光電変換部5を有している。複数の光電変換部5は、第一方向D1及び第二方向D2に二次元配列されている。各光電変換部5は、入射光に応じて電荷を発生する光感応領域6を一つ有している。光感応領域6は、第一方向D1及び第二方向D2に二次元配列されている。一つの光感応領域6(光電変換部5)は、画素領域3aにおける一画素を構成する。すなわち、複数の画素領域3aは、二次元配列されている複数の光感応領域6をそれぞれ有している。
各転送部7は、各画素領域3aにそれぞれ対応し、かつ、対応する各画素領域3aの長辺側に配置されている。すなわち、各転送部7は、各画素領域3aの長辺側に、第二方向D2で各画素領域3aと並ぶように配置されている。転送部7は、画素領域3aとシフトレジスタ9との間に位置する。転送部7は、光感応領域6で発生した電荷を、画素領域3a毎に転送する。転送部7は、画素領域3aから排出された電荷を取得し、取得した電荷をシフトレジスタ9に向けて転送する。
転送部7は、複数の転送列領域7aを含んでいる。複数の転送列領域7aは、第一方向D1に並んだ光感応領域6の列(画素列)に対応して、第一方向D1に並んでいる。転送列領域7aは、光感応領域6の対応する画素列毎に電荷を転送する。転送列領域7aは、光感応領域6の対応する画素列から電荷を取得し、取得した電荷をシフトレジスタ9に向けて転送する。
転送部7は、第一領域13と、対応するシフトレジスタ9での電荷転送方向で第一領域13の下流側に位置する第二領域14と、を有している。シフトレジスタ9での電荷転送方向とは、第一方向D1に沿って、第一領域13から第二領域14に向かう方向(Y軸負方向)である。以下、シフトレジスタ9での電荷転送方向を「水平転送方向TD1」とする。水平転送方向TD1で下流側とは、電荷転送方向における電荷転送の順序が後であることを示す。第一領域13は、水平転送方向TD1で上流側に位置しており、第二領域14は、水平転送方向TD1で下流側に位置している。
第一領域13は、転送列領域7aとして、複数の第一転送列領域13Aを含んでいる。複数の第一転送列領域13Aの第二方向D2での長さLaは、一定となっている。長さLaが一定とは、一定であることに加え、測定誤差又は予め設定された±約1μm以内の範囲の微差などを含んだ値を一定としてもよい。長さLaが一定の複数の第一転送列領域13Aが第一方向D1に連続して並んでいることにより、第一領域13は、平面視で、第一方向D1で互いに対向する一対の短辺と、第二方向D2で互いに対向する一対の長辺と、を有する矩形形状を呈している。第一領域13の長さLaは、たとえば7μm程度である。
第二領域14は、転送列領域7aとして、複数の第二転送列領域14Aを含んでいる。複数の第二転送列領域14Aの第二方向D2での長さLbは、第一転送列領域13Aの第二方向D2での長さLaに比して長く、かつ、水平転送方向TD1で下流側に位置する第二転送列領域14Aほど長い。水平転送方向TD1で下流側に位置する第二転送列領域14Aほど、長さLbが長くなるように台形形状の第二転送列領域14Aが第一方向D1に連続して並んでいることにより、第二領域14は、平面視で、第一方向D1で互いに対向する辺14e,14fと、第二方向D2で互いに対向する一対の辺14g,14hと、を有しており、かつ、辺14eから辺14fに向かって幅広である台形形状を呈している。
各第二転送列領域14Aにおける画素領域3a側の辺は、第一方向D1で連続して直線状に並んでいる。これにより、各第二転送列領域14Aにおける画素領域3a側の辺は、第二領域14における第一方向D1に延びている直線状の辺14gを構成している。各第二転送列領域14Aにおけるシフトレジスタ9側の辺は、第一方向D1と第二方向D2とに対して同じ角度で交差するように連続して直線状に並んでいる。これにより、各第二転送列領域14Aにおけるシフトレジスタ9側の辺は、第二領域14における第一方向D1と第二方向D2とに対して所定の角度で交差するように延びている直線状の辺14hを構成している。
第二領域14の長さLbは、辺14fで最大となり、たとえば50μm程度である。第二領域14の最大長さ(辺14fでの長さ)は、第二領域14において水平転送方向TD1で最も下流側に位置する第二転送列領域14Aに第一方向D1で隣り合う第一領域13及びシフトレジスタ9の第二方向D2での長さの和(第一領域13の長さLaとシフトレジスタ9の第二方向D2での長さとの和)に比して大きくなっている。
辺14eは、第二領域14における第一方向D1で第一領域13側に位置する一端であり、辺14fは、第二領域14における第一方向D1で第一領域13とは反対側に位置する他端である。辺14gは、第二領域14における第二方向D2で画素領域3a側に位置する一端であり、辺14hは、第二領域14における第二方向D2でシフトレジスタ9側の他端である。以下、辺14gから辺14hに向かう方向、すなわち第二方向D2に沿って画素領域3aからシフトレジスタ9に向かう方向を「垂直転送方向TD2」とする。
第一領域13の第一方向D1での幅は第二領域14の第一方向D1での幅よりも大きく、第一領域13の第一方向D1での幅は、第二領域14の第一方向D1での幅の約10倍である。すなわち、第一方向D1に並んでいる第一転送列領域13Aの数は第一方向D1に並んでいる第二転送列領域14Aの数よりも多く、第一方向D1に並んでいる第一転送列領域13Aの数と第二転送列領域14Aの数との比は、10:1程度となっている。
各第二転送列領域14Aは、不純物濃度が異なる複数の不純物領域を含んでいる。図3は、第二転送列領域14Aを模式的に示す図である。前述したように、第二転送列領域14Aは、平面視において、台形形状を呈しているが、図3においては、一対の短辺14a,14b及び一対の長辺14c,14dを有する矩形形状として模式的に示している。
図3に示されるように、第二転送列領域14Aは、一対の第一不純物領域11と、一対の第一不純物領域11に比して不純物濃度が高い第二不純物領域12と、を含んでいる。第一不純物領域11及び第二不純物領域12の構成の詳細は、後述する。
第二不純物領域12は、第二転送列領域14Aにおいて、第二方向D2で一方の短辺14aから他方の短辺14bまで設けられている。本実施形態において、第二不純物領域12は、短辺14aから短辺14bまで連続的に延びている。短辺14aは、前述した第二領域14の辺14gの一部を構成しており、第二領域14における第二方向D2で画素領域3a側に位置する一端に相当する。短辺14bは、前述した第二領域14の辺14hの一部を構成しており、第二領域14における第二方向D2でシフトレジスタ9側の他端に相当する。第二不純物領域12は、第一方向D1で一対の第一不純物領域11に挟まれている。
第二不純物領域12の平面視での形状は、第二転送列領域14Aにおける第二方向D2に沿った中心線G1に対して線対称である。中心線G1は、第二転送列領域14Aの一対の長辺14c,14dに平行であり、かつ、各長辺14c,14dからの距離が同等であるように位置する線をいう。本実施形態において「同等」とは、等しいことに加え、測定誤差又は予め設定された範囲での微差などを含んだ値を同等としてもよい。第二不純物領域12の平面視での形状が中心線G1に対して線対称であるとは、第二不純物領域12を中心線G1で分けたときに、中心線G1を挟んで位置する各領域の形状が互いに鏡像となっており、面積又は数が同等であることをいう。
第二不純物領域12の第一方向D1での幅Wは、短辺14a側から短辺14b側に向かうにしたがい増加している。第二不純物領域12の形状の詳細については、図5を参照して後述する。
第二不純物領域12によって、第二転送列領域14Aにおいては、短辺14a,14bの対向方向(第二方向D2)に沿って、短辺14aから短辺14bに向かう方向(図1のX軸正方向)で高くされた電位勾配が形成される。これにより、光感応領域6から第二転送列領域14Aに転送された電荷は、第二転送列領域14Aにおいて短辺14aから短辺14bに向かう方向(垂直転送方向TD2)で転送され、第二転送列領域14Aの短辺14b側から排出される。
図1に示されるように、各シフトレジスタ9は、対応する各転送部7を介して各画素領域3aと第二方向D2で並んでいる。各シフトレジスタ9は、各画素領域3aとで各転送部7を挟むように、各画素領域3aの長辺側に配置されている。シフトレジスタ9は、転送部7から転送された電荷を取得し、水平転送方向TD1(Y軸負方向)に転送し、読み出しポートであるアンプAに順次出力する。シフトレジスタ9から出力された電荷は、アンプAによって電圧に変換され、光感応領域6毎の電圧として固体撮像装置1の外部に出力される。
シフトレジスタ9は、第一領域13に対応する位置に配置されている第三領域15と、第二領域14に対応する位置に配置されている第四領域16と、を有している。第三領域15は、第二方向D2で第一領域13の長辺側に配置され、第一方向D1に沿って延びている。第三領域15は、平面視で、第一方向D1で互いに対向する一対の短辺と、第二方向D2で互いに対向する一対の長辺と、を有する矩形形状を呈している。第三領域15の第一方向D1での幅は、第一領域13の第一方向D1での幅と略同じである。
第四領域16は、第二方向D2で第二領域14の辺14h側に配置されている。第四領域16は、第二方向D2での画素領域3aとの距離Hが複数の第二転送列領域14Aの長さLbの変化に対応して水平転送方向TD1で大きくなるように、第一方向D1と第二方向D2とに交差する方向に沿って延びている。第四領域16は、平面視で、第一方向D1で互いに対向する一対の短辺と、第二方向D2で互いに対向する一対の長辺と、を有する平行四辺形形状を呈している。
第四領域16における各長辺(転送部7側の長辺及び転送部7とは反対側の長辺)は、第二領域14におけるシフトレジスタ9側の辺に平行に延びている。すなわち、第四領域16における各長辺は、第一方向D1と第二方向D2とに対して所定の角度で交差するように延びる直線状を呈している。第四領域16における各長辺の第一方向D1での幅は、第四領域16における各長辺の第二方向D2での幅よりも大きい。第四領域16における各長辺が第一方向D1に対して成す角度は、第四領域16における各長辺が第二方向D2に対して成す角度よりも小さい。よって、第四領域16は、第二方向D2に対する角度に比べて第一方向D1に対する角度が小さくなるように傾斜して延びており、垂直方向よりも水平方向に近い緩やかな傾斜(45°よりも小さい傾斜)を有している。
第四領域16の第一方向D1での幅は、第二領域14の第一方向D1での幅と略同じである。第四領域16の第二方向D2での長さは、第三領域15の第二方向D2での長さと略同じである。すなわち、シフトレジスタ9の第二方向D2での長さは、略一定である。
各アンプAは、対応する各シフトレジスタ9の水平転送方向TD1での後端から電荷を取得し、取得した電荷に対応する電圧(信号)を出力する。アンプAは、対応するシフトレジスタ9と、対応するシフトレジスタ9と水平転送方向TD1で隣り合うシフトレジスタ9とで囲まれる領域Sに配置されている。領域Sは、第一方向D1で隣り合う二つの画素領域3aのうち、一方の画素領域3aにおいて発生した電荷を転送して出力するシフトレジスタ9と、他方の画素領域3aにおいて発生した電荷を転送して出力するシフトレジスタ9とで囲まれる領域でもある。アンプAは、領域Sに配置されることにより、一つの画素領域3aに対して一つ設けられている。すなわち、一つの受光領域3に対して複数のアンプAが設けられており、固体撮像装置1は、複数の出力部(読み出しポート)を備えるマルチポート型の固体撮像装置である。
隣り合う光感応領域6の間及び隣り合う転送部7の間は、アイソレーション領域が配置されている。アイソレーション領域は、光感応領域6間及び転送部7間それぞれにおける電気的な分離を実現している。
画素領域3a、複数の転送部7、及び複数のシフトレジスタ9は、半導体基板10に形成されている。すなわち、固体撮像装置1は、半導体基板10を有している。本実施形態では、半導体基板10としてシリコン基板が用いられている。半導体基板10は、図2に示されるように、半導体基板10の基体となる本体層10Aと、本体層10Aの一方面側に形成された表面層24〜26と、を含んでいる。
本体層10Aは、p型半導体層である。表面層24は、n型半導体層である。表面層25は、詳細は後述するが、一対のn型半導体層25a(図3参照)と、一対のn型半導体層25aに第一方向D1で挟まれている一つのn+型半導体層25bと、を含んでいる。表面層26は、n−型半導体層である。p型及びn型の各導電型は、前述したものとは逆になるように入れ替えられていてもよい。
導電型に付された「+」は、高不純物濃度を示す。導電型に付された「−」は、低不純濃度を示す。低不純物濃度は、「−」が付された導電型の不純物の一部が、「−」が付された導電型とは逆の導電型の不純物により補償されることにより、見かけ上、低不純物濃度とされた態様も含む。「+」の数は、「+」が付された導電型の不純物の濃度の度合いを示し、「+」の数が多いほど、「+」が付された導電型の不純物の濃度が高いことを示す。n型の不純物としてはN、P又はAsなどがあり、p型の不純物としてはB又はAlなどがある。
p型半導体層である本体層10Aとn型半導体層である表面層24との界面には、pn接合が形成される。表面層24により、画素領域3aが構成される。表面層24に対して、複数の電極41〜44が配置されている。電極41〜44は、絶縁層(不図示)を介して表面層24上に形成されている。電極41〜44は、第二方向D2で、電極41、電極42、電極43、電極44の順で並び、かつ、電極41〜44を一組として複数組が連続して並んでいる。表面層24における一組の電極41〜44の下方に位置する領域が、光感応領域6(一画素)を構成する。
電極41〜44には、制御装置により制御される駆動回路からそれぞれ信号P1V,P2V,P3V,P4Vが与えられる。各信号P1V,P2V,P3V,P4Vに応じて、表面層24における一組の電極41〜44の下方に位置する領域(光感応領域6)の電位勾配が決定される。一組の電極41〜44は、その下方に位置する領域において、垂直転送方向TD2で次第に深くなるポテンシャルの傾斜(垂直転送方向TD2で高くされた電位勾配)を形成する。このポテンシャルの傾斜に沿って、光入射に応じて光感応領域6にて発生した電荷が垂直転送方向TD2に移動する。
表面層25に含まれるn型半導体層25aは、図3に示されるように、第二転送列領域14Aの第一不純物領域11を構成する。n型半導体層25aの形状に対応し、第一不純物領域11の形状が形成される。表面層25に含まれるn+型半導体層25bは、第二転送列領域14Aの第二不純物領域12を構成する。n+型半導体層25bの形状に対応し、第二不純物領域12の形状が形成される。
n+型半導体層25bは、n型半導体層25aよりもn型不純物濃度が高い。n型不純物濃度が高いn+型半導体層25bの幅Wが、垂直転送方向TD2で次第に大きくなっている。垂直転送方向TD2で短辺14a側では、n型不純物濃度が高いn+型半導体層25bの幅Wが小さいため、ポテンシャルが浅くなり、垂直転送方向TD2で短辺14b側では、n型不純物濃度が高いn+型半導体層25bの幅Wが大きいため、ポテンシャルが深くなる。これにより、表面層25には、図4に示されるように、垂直転送方向TD2で次第に深くなるポテンシャルの傾斜(垂直転送方向TD2で次第に高くなる電位勾配)が形成される。図4は、固体撮像装置1において形成される電位の変化を説明するための図である。
表面層25に対して、電極45が配置されている。電極45は、絶縁層を介して表面層25上に形成されている。表面層25と電極45とによって、第二転送列領域14A(転送部7の第二領域14)が構成される。電極45には、制御装置により制御される駆動回路から信号TGが与えられる。この信号TGに応じて、たとえば図4の(a)及び(b)に示されるように表面層25のポテンシャルが変化する。このようなポテンシャルの変化により、第二転送列領域14A(転送部7の第二領域14)は、光感応領域6から電荷を取得し、シフトレジスタ9へ送り出す。
なお、従来知られている構成なので図示は省略するが、第一転送列領域13A(転送部7の第一領域13)は、表面層25及び電極45に代えて、不純物濃度が異なる複数の不純物領域を含んでいない表面層(たとえばn−型半導体層)と、当該表面層に対して配置された電極とによって、構成される。
表面層26に対して、電極46が配置されている。電極46は、絶縁層を介して表面層26上に形成されている。表面層26と電極46とによって、シフトレジスタ9が構成される。電極46には、制御装置により制御される駆動回路から信号P1Hが与えられる。この信号P1Hに応じて、たとえば図4の(a)及び(b)に示されるように表面層26のポテンシャルが変化する。このようなポテンシャルの変化により、シフトレジスタ9は、転送部7から電荷を取得し、取得した電荷をアンプAに送り出す。
電極41〜46は、たとえばポリシリコン膜からなる。前述した絶縁層は、たとえばシリコン酸化膜からなる。
次に、図5を参照して、第二不純物領域12の形状の詳細について説明する。図5は、第二不純物領域12の幅Wを説明するための図である。図5では、第二方向D2で長さLの第二転送列領域14Aを第二方向D2にn分割した(nは2以上の整数)各区間L,…,L,…,L(kは2以上かつn−1以下の整数)における第二不純物領域12の幅W,…,W,…,Wを示している。ただし、Wは、第二不純物領域12における垂直転送方向TD2で最も上流側の一端(図3の短辺14a)での第二不純物領域12の幅である。
本実施形態において、各区間L,…,L…,Lは、第二転送列領域14Aを第二方向D2にn等分(図5の例では12等分)した各区間である。等分とは、等しい分量に分けることを意味するが、各区間は、測定誤差又は予め設定された±数μm程度の範囲の微差などが含まれることにより完全に等しい分量に分かれていなくてもよい。
各区間L,…,L,…,Lにおける第二不純物領域12の幅W,…,W,…,Wとは、たとえば、各区間L,…,L,…,Lにおける垂直転送方向TD2で最も下流側の一端(図3の短辺14bに最も近い端)での幅であり、各区間L,…,L,…,Lにおける最大幅である。各区間L,…,L,…,Lにおける第二不純物領域12の幅W,…,W,…,Wは、最大幅に限らず、各区間L,…,L,…,Lにおける幅の平均値などであってもよい。
第二不純物領域12の幅W,…,W,…,Wの増加率ΔW,…,ΔW,…ΔW(ΔW=W−Wk−1)は、垂直転送方向TD2で次第に大きくなっている。各区間L,…,L…,L内において、第二不純物領域12の幅は、垂直転送方向TD2の上流側から下流側に向かって次第に大きくなっている。すなわち、各区間L,…,L…,L内において、垂直転送方向TD2の上流側の端部から下流側の端部まで、第二不純物領域12の幅は垂直転送方向TD2で単調に増加している。第二不純物領域12の幅W,…,W,…,Wは、隣り合う各区間L,…,L…,Lにおける電位差ΔV,…,ΔV,…,ΔV(ΔV=V−Vk−1)が、どの区間L,…,L…,Lでも一定となるように設定されている。ただし、ΔV=V−Vであり、Vは、幅Wに対応する第二転送列領域14Aの電位である。
次に、前述の第二不純物領域12の形状を決定する方法について具体的に説明する。まず、第二不純物領域12の幅W,…,W,…,Wを求める方法について説明する。第一の手順として、第二不純物領域12が垂直転送方向TD2で変化しない一定のノッチ幅(0.8μm〜6.1μmの範囲の所定幅)を有しているものとした固体撮像装置のモデルを用いて、ノッチ幅毎の第二転送列領域14Aの電位を算出する。図6は、ノッチ幅毎の第二転送列領域14Aの電位を示すグラフである。図6の横軸は、ノッチ幅[μm]を示し、図6の縦軸は、ノッチ幅に対応する第二転送列領域14Aの最大電位[V]を示している。図6の縦軸は、上方向にいくほど最大電位が大きく、下方向にいくほど最大電位が小さいことを示している。
第二の手順として、図6のグラフから、ノッチ幅が0.8μm〜6.1μmの範囲に対応する範囲の電位をn等分(図6に示される例では12等分)し、n=1,…,k,…nの各等分点でのノッチ幅を読み取り、読み取られた各等分点でのノッチ幅を、各等分点に対応する第二不純物領域12の各幅W,…,W,…,Wとする。以上の第一及び第二の手順によって、隣り合う各区間における第二転送列領域14Aの電位差が一定となるような第二不純物領域12の各幅W,…,W,…,Wが求められる。
図7は、図6のグラフから求めた、各等分点に対応する第二不純物領域12の各幅W,…,W,…,Wの値を示す表である。求めた第二不純物領域12の各幅W,…,W,…,Wを、n=1,…,k,…nの各等分点に対応させてプロットすることにより、第二不純物領域12の形状が決定される。第二不純物領域12の形状は、第二転送列領域14Aの垂直転送方向TD2での長さによらず図5に示すような形状と相似形状となる。
次に、以上のようにして決定される第二不純物領域12の形状が、電荷転送効率を向上するのに最適な形状であることを示すためにシミュレーションを行った結果を図8〜図12に示す。
図8は、本実施形態の第二不純物領域12を含む第二転送列領域14Aをシミュレーションモデルとして作成した図である。図9は、図8のシミュレーションモデルを用いて、第二転送列領域14Aのポテンシャルをシミュレーションした結果を示すグラフであって、等電位線を示すグラフである。図9のx軸正方向が垂直転送方向TD2に相当する。図10は、垂直転送方向TD2での電位勾配を示すグラフであって、図9の結果に基づき、第二転送列領域14Aにおける垂直転送方向TD2での位置に対応する電位の値をプロットしたグラフである。図10の横軸は、第二転送列領域14Aの垂直転送方向TD2(x軸正方向)での位置[μm]を示し、図10の縦軸は、各位置における第二転送列領域14Aの最大電位[V]を示している。図10の縦軸は、上方向にいくほど最大電位が小さく、下方向にいくほど最大電位が大きいことを示している。図11は、第二転送列領域14Aが第二不純物領域12を含んでいないものとした場合の第二転送列領域14Aのポテンシャルをシミュレーションした結果を示すグラフであって、等電位線を示す図9に対応するグラフである。
図11に示されるように、第二転送列領域14Aが第二不純物領域12を含んでいないものとした場合には、第二転送列領域14Aの中央部において電位勾配が形成されていない。よって、第二転送列領域14Aの第二方向D2での長さが50μm程度と長くなる場合には、電荷Ecを垂直転送方向TD2に転送することが難しくなる可能性がある。これに対し、図9及び図10に示されるように、第二転送列領域14Aが第二不純物領域12を含んでいる場合には、第二転送列領域14Aにおける電位勾配は、第二転送列領域14Aの垂直転送方向TD2に沿う略全領域に亘って、略一定となるように形成されている。略一定の傾きの電位勾配に沿って、第二転送列領域14Aにおける電荷Ecが、効率良く転送される。
次に、図12を参照し、従来技術と比較して、本実施形態の固体撮像装置1の作用及び効果について説明する。図12は、本実施形態の固体撮像装置1の作用及び効果を説明するための図である。図12の(a)は、従来の固体撮像装置100を模式的に示しており、図12の(b)は、本実施形態の固体撮像装置1を模式的に示している。
図12の(a)に示されるように、従来の固体撮像装置100は、本実施形態の転送部7に代えて転送部17を備えていると共に、本実施形態のシフトレジスタ9に代えてシフトレジスタ19を備えている。転送部17は、その全体において、第二方向D2での長さが、水平転送方向TD1で次第に長くなっている。よって、転送部17の第一方向D1での全領域において、転送部17を間に介して対向する画素領域3aとシフトレジスタ19との距離が水平転送方向TD1で次第に長くなっている。したがって、画素領域3aからシフトレジスタ9までの第二方向D2に沿った電荷転送距離が長くなってしまう。シフトレジスタ19は、その全体において、第一方向D1及び第二方向D2と交差する方向に沿って延びている。よって、水平転送方向TD1に移動しようとする電荷が、シフトレジスタ19における転送部17との境界面に当たりながら転送される。したがって、転送部17のポテンシャルに阻害されて、シフトレジスタ9での電荷転送効率が悪くなるおそれがある。
これに対し、図12の(b)に示す本実施形態の固体撮像装置1によれば、転送部7が、複数の第一転送列領域13Aを含む第一領域13と、複数の第二転送列領域14Aを含む第二領域14と、を有している。各第一転送列領域13Aでは、各第二転送列領域14Aに比して、第二方向D2に沿った電荷転送距離が短くなっている。したがって、転送部7に含まれる全ての転送列領域7aの第二方向D2での長さが水平転送方向TD1で次第に長くなっている上記従来技術に比して、第二方向D2に沿った電荷転送距離が短くなっている。シフトレジスタ9は、第三領域15と第四領域16とを有している。第三領域15では、水平転送方向TD1に移動しようとする電荷が、シフトレジスタ9における転送部7との境界面に当たらないので、転送部7のポテンシャルに阻害されずに電荷が転送される。よって、シフトレジスタ9の全体が第一方向D1及び第二方向D2と交差する方向に折って延びている上記従来技術に比して、シフトレジスタ9での電荷転送効率が向上する。以上より、電荷転送効率が向上された固体撮像装置1が提供される。
本実施形態によれば、第四領域16が第一方向D1と第二方向D2とに対して所定の角度で交差するように延びる直線状を呈している。また、第四領域16が垂直方向よりも水平方向に近い緩やかな傾斜を有している。よって、たとえば第四領域16における各長辺が直線状ではなく階段状を呈している場合又は第四領域16が45°よりも大きい傾斜を有している場合と比較して、第四領域16においてシフトレジスタ9における転送部7との境界面に電荷が当たる場合にも、転送部7のポテンシャルに電荷転送が阻害され難い。よって、シフトレジスタ9における転送部7との境界面に電荷が当たることによる電荷転送効率の低下が抑制される。
本実施形態によれば、各第二転送列領域14Aは、第一不純物領域11及び第二不純物領域12を含んでいる。第二不純物領域12の第一方向D1での幅Wが垂直転送方向TD2で増加していることにより、各第二転送列領域14Aにおいては、垂直転送方向TD2で電位が高くなる電位勾配が形成されている。よって、画素領域3aからシフトレジスタ9までの電荷転送距離が長くなっている各第二転送列領域14Aにおいても、この電位勾配により、電荷が効率よく転送される。
本実施形態によれば、各区間L,…,L…,Lにおける第二不純物領域12の幅W,…,W,…,Wは、隣り合う各区間における第二不純物領域12の電位差が一定となるように設定されている。このような幅W,…,W,…,Wの第二不純物領域12によって、第二転送列領域14Aにおける電位勾配が略一定となるので、電荷が効率よく転送される。
本実施形態によれば、対応するシフトレジスタ9の第一方向D1での幅を画素領域3aの第一方向D1での幅に比して小さくしなくても、対応するシフトレジスタ9と、対応するシフトレジスタ9と水平転送方向TD1で隣り合うシフトレジスタ9とで囲まれる領域Sが形成されている。この領域Sに、対応するシフトレジスタ9から取得した電荷に対応する電圧を出力するアンプが配置されているので、シフトレジスタ9からアンプAに向かって電荷の転送方向を曲げる必要がなくなり、電荷転送効率が向上すると共に設計が容易である。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、各請求項に記載した要旨を変更しない範囲で変形し、又は他に適用したものであってもよい。
たとえば、第二不純物領域12の形状は、上記実施形態で示した例に限られず、図13に示される第二不純物領域12A〜12Eのような種々の形状を取り得る。図13は、他の実施形態に係る第二不純物領域12A〜12Eを模式的に示す図である。
上記実施形態においては、第二不純物領域12が、第二転送列領域14Aにおいて短辺14aから短辺14bまで設けられている例を説明したが、たとえば、図13の(a)に示される第二不純物領域12Aのように、短辺14aから離れた短辺14aの近傍から短辺14bまで設けられていてもよい。短辺14aの近傍とは、電荷の移動が妨げられない程度に短辺14aから離れた位置(短辺14aから数μm程度)である。短辺14aの近傍とは、たとえば、各区間L,…,L…,Lのうち短辺14aに最も近い区間Lにおける短辺14aよりも短辺14b寄りの位置である。
上記実施形態においては、各区間L,…,L…,Lがn等分された区間である例を説明したが、各区間は等しい分量に分かれていなくてもよい。たとえば、図13の(b)に示される第二不純物領域12Bのように、各区間L,…,L…,Lは、第二転送列領域14Aを、第二方向D2での長さが、垂直転送方向TD2で次第に狭くなるように分割した各区間であってもよい。
上記実施形態においては、各区間L,…,L…,L内で第二不純物領域12の幅Wが増加している例を説明したが、たとえば、図13の(c)に示される第二不純物領域12Cのように、第二不純物領域12の幅Wが、各区間L,…,L…,L内では増加せず、隣り合う各区間の境界位置で増加していてもよい。すなわち、第二不純物領域12Cの各区間L,…,L…,L内の外形形状が矩形状であってもよい。
第二不純物領域12の各区間L,…,L…,L内は、一つの領域により形成されていてもよいし、複数の微小領域により形成されていてもよい。たとえば、図13の(d)に示される第二不純物領域12Dのように、各区間L,…,L…,Lが、複数の微小領域12dによって形成されていてもよい。
各区間L,…,L…,Lのうち短辺14bに最も近い区間Lにおける第二不純物領域12の幅Wの増加率は、短辺14b側で大きくなるよう変化していてもよい。たとえば、図13の(e)に示される第二不純物領域12Eのように、第二転送列領域14Aを第二方向D2に少ない等分数(ここでは、たとえばn=3)で等分すると共に、最も短辺14bに近い区間Lにおける幅Wの増加率が一定ではなく、短辺14b側で大きくなるように変化していてもよい。短辺14b側とは、区間Lにおける短辺14b寄りの位置であり、少なくとも区間Lの第二方向D2に沿った中心線よりも短辺14bに近い位置である。
第二転送列領域14Aは、不純物濃度が異なる複数の不純物領域を含んでいなくてもよい。すなわち、第二転送列領域14Aは、第二不純物領域12を含んでいなくてもよい。
1…固体撮像装置、3a…画素領域、6…光感応領域、7…転送部(第一転送部)、9…シフトレジスタ(第二転送部)、11…第一不純物領域、12…第二不純物領域、13…第一領域、13A…第一転送列領域、14…第二領域、14A…第二転送列領域、14a…短辺(一端)、14b…短辺(他端)、15…第三領域、16…第四領域、A…アンプ(出力部)、D1…第一方向、D2…第二方向、TD1…水平転送方向(電荷転送方向)、TD2…垂直転送方向、H…距離、La,Lb…長さ、S…領域、W…幅。

Claims (4)

  1. 第一方向及び前記第一方向と直交する第二方向に二次元配列されている複数の光感応領域をそれぞれ有すると共に、前記第一方向に並んでいる複数の画素領域と、
    前記画素領域と前記第二方向で並び、かつ、前記光感応領域で発生した電荷を前記画素領域毎に転送する複数の第一転送部と、
    対応する前記第一転送部を介して前記画素領域と前記第二方向で並び、かつ、対応する前記第一転送部から転送された前記電荷を取得し、前記第一方向に転送する複数の第二転送部と、を備え、
    各前記第一転送部は、
    前記第一方向に並んだ複数の第一転送列領域を含んでいる第一領域と、
    前記第一方向に並んだ複数の第二転送列領域を含み、かつ、対応する前記第二転送部での電荷転送方向で前記第一領域の下流側に位置する第二領域と、を有し、
    前記複数の第一転送列領域の前記第二方向での長さは、一定であり、
    前記複数の第二転送列領域の前記第二方向での長さは、前記第一転送列領域の前記長さより長く、かつ、前記電荷転送方向で下流側に位置する前記第二転送列領域ほど長く、
    各前記第二転送部は、
    前記第一領域に対応して配置されていると共に、前記第一方向に沿って延びている第三領域と、
    前記第二領域に対応して配置されていると共に、前記第二方向での前記画素領域との間隔が前記複数の第二転送列領域の前記長さの変化に対応して前記電荷転送方向で大きくなるように、前記第一方向と前記第二方向とに交差する方向に沿って延びている第四領域と、を有している、固体撮像装置。
  2. 各前記第二転送列領域は、第一不純物領域と、前記第一不純物領域に比して不純物濃度が高い第二不純物領域と、を含み、
    前記第二不純物領域は、各前記第二転送列領域において、前記第二方向で前記画素領域側に位置する一端又は当該一端の近傍から前記第二転送部側の他端まで設けられており、
    前記第二不純物領域の前記第一方向での幅は、前記一端から前記他端に向かう垂直転送方向で増加している、請求項1に記載の固体撮像装置。
  3. 前記第二転送列領域を前記第二方向にn分割(nは2以上の整数)した各区間における前記第二不純物領域の前記幅は、隣り合う各区間における前記第二不純物領域の電位差が一定となるように設定されている、請求項2に記載の固体撮像装置。
  4. 対応する前記第二転送部の前記電荷転送方向での後端から前記電荷を取得し、取得した前記電荷に対応する信号を出力する複数の出力部を更に備え、
    前記出力部は、対応する前記第二転送部と、対応する前記第二転送部と前記電荷転送方向で隣り合う前記第二転送部とで囲まれる領域に配置されている、請求項1〜3の何れか一項に記載の固体撮像装置。
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