JP6911948B2 - 質量分析装置 - Google Patents
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Description
a)前記イオン光学素子が内部に配置される領域を画定する境界部材と、
b)前記複数本のロッド電極を保持する絶縁性材料から成るロッドホルダと、
c)前記ロッドホルダの外周全体を保持しつつ該ロッドホルダを前記境界部材に固定するための固定部材と、
を備え、前記固定部材にあって前記境界部材で画定された領域に面した部分の少なくとも一部に輻射率向上処理が施されていることを特徴としている。
a)前記イオン光学素子が内部に配置される領域を画定する境界部材と、
b)前記複数本のロッド電極を保持する絶縁性材料から成るロッドホルダと、
c)前記ロッドホルダを前記境界部材に固定するための固定部材と、
d)前記複数本のロッド電極のうち、同じ電圧が印加される複数本のロッド電極同士を電気的に接続するべく、それらロッド電極にそれぞれ接触するように架設される導電性材料から成る接続部材と、
を備え、前記接続部材にあって前記境界部材で画定された領域に面した部分の少なくとも一部に輻射率向上処理が施されていることを特徴としている。
本発明の一つの態様として、前記輻射率向上処理は前記固定部材を形成する材料の面に対する表面処理であるものとすることができる。
図1は本実施例の質量分析装置の概略構成図である。この質量分析装置は、試料ガス中の成分を分析するシングルタイプの四重極型質量分析装置である。
イオン源2は外部から導入された試料ガス中の成分をイオン化する。生成されたイオンはイオン源2から引き出されて真空ハウジング1内に導入され、イオンガイド3により収束されて入口レンズ4の開口4aを経て4本のロッド電極50a〜50dで囲まれる、Z軸方向に延在する分離空間に導入される。4本のロッド電極50a〜50dには、上述したようにショートバネ54a、54bを通して測定対象である目的イオンの質量電荷比に応じた直流電圧と高周波電圧とを重畳した電圧が印加される。その電圧により形成される四重極電場によって上記目的イオンのみが安定的に振動しつつ分離空間を通過する。一方、他のイオンは途中で発散する。こうして質量電荷比に応じて選択された目的イオンが分離空間を通り抜け、出口レンズ6の開口6aを経てイオン検出器7に到達する。イオン検出器7は到達したイオンの量に応じた信号強度の検出信号を出力する。
(1)ロッドホルダ51→ホルダ保持台52→真空ハウジング1への熱伝導、及び、真空ハウジング1から外部への熱放出。
(2)ロッドホルダ51→固定バンド53→ホルダ保持台52→真空ハウジング1への熱伝導、及び、真空ハウジング1から外部への熱放出。
(3)ロッドホルダ51→固定バンド53への熱伝導、固定バンド→真空ハウジング1内の真空雰囲気への熱輻射、及び、真空ハウジング1から外部への熱放出。
(4)ロッドホルダ51→ロッド電極50a〜50d及びショートバネ54a、54bへの熱伝導、ロッド電極50a〜50d及びショートバネ54a、54b→真空ハウジング1内の真空雰囲気への熱輻射、並びに、真空ハウジング1から外部への熱放出。
(5)ロッドホルダ51→真空ハウジング1内の真空雰囲気への熱輻射、及び、真空ハウジング1から外部への熱放出。
なお、リン青銅はステンレスに比べて錆が生じ易いため、その表面に金メッキ処理を行うことで錆の発生を防止するようにしている。もちろん、それ以外の防錆表面処理を行ってもよい。
2…イオン源
3…イオンガイド
4…入口レンズ
4a…開口
5…四重極マスフィルタユニット
50a〜50d…ロッド電極
51…ロッドホルダ
52…ホルダ保持台
52a…凹部
53…固定バンド
531…主部材
532…被膜層
54a、54b…ショートバネ
55…放熱性層
56、59…ネジ
57…容器
57a…入口開口
57b…出口開口
58…固定ブロック
58a…凹部
6…出口レンズ
6a…開口
7…イオン検出器
10…被膜層
C…中心軸(イオン光軸)
Claims (15)
- 直線状の軸の周りに配置された複数本のロッド電極から成り、該複数本のロッド電極で囲まれる空間に導入された試料成分由来のイオンを該ロッド電極に印加される高周波電圧を含む電圧により形成される電場の作用で質量電荷比に応じて分離するイオン光学素子、を具備する質量分析装置において、
a)前記イオン光学素子が内部に配置される領域を画定する境界部材と、
b)前記複数本のロッド電極を保持する絶縁性材料から成るロッドホルダと、
c)前記ロッドホルダの外周全体を保持しつつ該ロッドホルダを前記境界部材に固定するための固定部材と、
を備え、前記固定部材にあって前記境界部材で画定された領域に面した部分の少なくとも一部に輻射率向上処理が施されていることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置であって、
前記固定部材は、前記境界部材に固定され、その上に前記ロッドホルダが載置されるホルダ保持台と、前記ホルダ保持台との間に前記ロッドホルダを挟み込んで該固定部材に取り付けられるホルダ押さえ部材と、を含み、前記ホルダ保持台と前記ホルダ押さえ部材との少なくとも一方の一部に輻射率向上処理が施されていることを特徴とする質量分析装置。 - 直線状の軸の周りに配置された複数本のロッド電極から成り、該複数本のロッド電極で囲まれる空間に導入された試料成分由来のイオンを該ロッド電極に印加される高周波電圧を含む電圧により形成される電場の作用で質量電荷比に応じて分離するイオン光学素子、を具備する質量分析装置において、
a)前記イオン光学素子が内部に配置される領域を画定する境界部材と、
b)前記複数本のロッド電極を保持する絶縁性材料から成るロッドホルダと、
c)前記ロッドホルダを前記境界部材に固定するための固定部材と、
d)前記複数本のロッド電極のうち、同じ電圧が印加される複数本のロッド電極同士を電気的に接続するべく、それらロッド電極にそれぞれ接触するように架設される導電性材料から成る接続部材と、
を備え、前記接続部材にあって前記境界部材で画定された領域に面した部分の少なくとも一部に輻射率向上処理が施されていることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1又は3に記載の質量分析装置であって、
前記輻射率向上処理は前記固定部材又は前記接続部材を形成する材料の面に対する表面処理であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項4に記載の質量分析装置であって、
前記表面処理は前記固定部材又は前記接続部材を形成する材料の表面に薄い被膜を形成する被膜形成処理であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項4に記載の質量分析装置であって、
前記表面処理は前記固定部材又は前記接続部材を形成する材料の表面を化学的に又は物理的に削って表面を粗くする加工処理であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項5に記載の質量分析装置であって、
前記固定部材又は前記接続部材の少なくとも一部はアルミニウムからなり、前記表面処理はアルマイト加工処理であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項7に記載の質量分析装置であって、
前記アルマイト加工処理は黒アルマイト加工処理であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項5に記載の質量分析装置であって、
前記表面処理はニッケルメッキ加工処理であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項9に記載の質量分析装置であって、
前記ニッケルメッキ加工処理は黒ニッケルメッキ加工処理であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項5に記載の質量分析装置であって、
前記表面処理はカーボン被膜形成処理であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項5に記載の質量分析装置であって、
前記表面処理はセラミック溶射処理であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1又は3に記載の質量分析装置であって、
前記輻射率向上処理は前記固定部材又は前記接続部材の表面に別の材料の薄板又は薄箔を貼り付ける処理であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1又は3に記載の質量分析装置であって、
前記イオン光学素子は四重極マスフィルタであることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1又は3に記載の質量分析装置であって、
前記イオン光学素子はリニアイオントラップであることを特徴とする質量分析装置。
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US6646256B2 (en) * | 2001-12-18 | 2003-11-11 | Agilent Technologies, Inc. | Atmospheric pressure photoionization source in mass spectrometry |
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US10276358B2 (en) * | 2006-01-02 | 2019-04-30 | Excellims Corporation | Chemically modified ion mobility separation apparatus and method |
US10073056B2 (en) * | 2006-02-14 | 2018-09-11 | Excellims Corporation | Practical ion mobility spectrometer apparatus and methods for chemical and/or biological detection |
US8395112B1 (en) * | 2006-09-20 | 2013-03-12 | Mark E. Bier | Mass spectrometer and method for using same |
WO2009124298A2 (en) * | 2008-04-04 | 2009-10-08 | Agilent Technologies, Inc. | Ion sources for improved ionization |
US8193489B2 (en) * | 2009-05-28 | 2012-06-05 | Agilent Technologies, Inc. | Converging multipole ion guide for ion beam shaping |
US8173976B2 (en) * | 2009-07-24 | 2012-05-08 | Agilent Technologies, Inc. | Linear ion processing apparatus with improved mechanical isolation and assembly |
US8492713B2 (en) * | 2011-07-14 | 2013-07-23 | Bruker Daltonics, Inc. | Multipole assembly and method for its fabrication |
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