JP6883656B2 - 多極子レンズ及びそれを用いた収差補正器、荷電粒子線装置 - Google Patents
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- 230000004075 alteration Effects 0.000 title claims description 41
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 70
- 230000005405 multipole Effects 0.000 claims description 66
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 14
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 10
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 10
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 240000004050 Pentaglottis sempervirens Species 0.000 description 2
- 235000004522 Pentaglottis sempervirens Nutrition 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 2
- 229910000640 Fe alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
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- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
- H01J37/10—Lenses
- H01J37/14—Lenses magnetic
- H01J37/141—Electromagnetic lenses
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- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
- H01J37/153—Electron-optical or ion-optical arrangements for the correction of image defects, e.g. stigmators
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- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/153—Correcting image defects, e.g. stigmators
- H01J2237/1534—Aberrations
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Description
Claims (14)
- 光軸に対して同一平面上に軸対称に配置される1対の電流線を複数有する多極子レンズであって、
前記電流線は、前記光軸に対して平行に配置される主線部と、前記主線部に対向して配置される戻り線部とを有し、
前記戻り線部に流れる電流の向きは、前記光軸に平行な成分では前記主線部に流れる電流の向きと逆方向であり、
前記光軸と前記戻り線部との距離は、前記光軸と前記主線部との距離よりも大きく設定され、励起する多極子場において前記電流線に電流を供給する電源の電源安定性起因ノイズが所定レベル以下となるように設定され、
前記多極子場の強度一定の条件において、前記戻り線がない場合の電源安定性起因ノイズ量に対する前記戻り線を有する場合の電源安定性起因ノイズ量は、前記光軸と前記主線部との距離に対する前記光軸と前記戻り線部との距離に依存して変化するとともに、所定の距離において最小値をとり、
前記光軸と前記戻り線部との距離は、前記最小値を与える前記所定の距離よりも大きい多極子レンズ。 - 請求項1において、
前記光軸と前記戻り線部との距離を、前記光軸と前記主線部との距離に対して1.5倍から5倍の間の距離とする多極子レンズ。 - 光軸に対して同一平面上に軸対称に配置される複数の1対の電流線と円環状の磁路とを有する多極子レンズであって、
前記電流線は、前記光軸に対して平行に配置される主線部と、前記主線部に対向して配置される戻り線部とを有し、
前記磁路は、前記電流線の前記戻り線部の外周に配置され、
前記戻り線部に流れる電流の向きは、前記光軸に平行な成分では前記主線部に流れる電流の向きと逆方向であり、
前記光軸と前記戻り線部との距離は、前記光軸と前記主線部との距離よりも大きく設定され、励起する多極子場において前記電流線に電流を供給する電源の電源安定性起因ノイズが所定レベル以下となるように設定され、
前記磁路の内径と前記戻り線部との距離は、前記光軸と前記戻り線部との距離以下とされる多極子レンズ。 - 請求項1〜3のいずれか一項において、
前記電流線の前記主線部と前記戻り線との間に磁性体を有しない多極子レンズ。 - 光軸に対して同一平面上に軸対称に配置される1対の電流線を複数有する多極子レンズであって、
前記電流線は、前記光軸に対して平行に配置される主線部と、前記主線部に対向して多重化されて配置される戻り線部と、前記戻り線部に対向して配置される最外周部とを有し、
前記戻り線部に流れる電流の向きは、前記光軸に平行な成分では前記主線部及び前記最外周部に流れる電流の向きと逆方向であり、
前記光軸と前記戻り線部との距離は、前記光軸と前記主線部との距離よりも大きく設定され、前記光軸と前記最外周部との距離よりも小さく設定される多極子レンズ。 - 請求項5において、
前記光軸と前記戻り線部との距離は、励起する多極子場において前記電流線に電流を供給する電源の電源安定性起因ノイズが所定レベル以下となるように設定される多極子レンズ。 - 請求項5において、
前記電流線の前記主線部と前記戻り線との間に磁性体を有しない多極子レンズ。 - 請求項5において、
前記電流線の前記戻り線部と前記最外周部との間に円環状の磁路を有する多極子レンズ。 - 請求項1〜8のいずれか一項に記載の多極子レンズを多段に有する収差補正器。
- 1次電子線を放出する電子銃と、
前記1次電子線が入射され、多段の多極子レンズを有する収差補正器と、
前記収差補正器を通過した1次電子線が入射される対物レンズとを有し、
前記多極子レンズは、光軸に対して同一平面上に軸対称に配置される1対の電流線を複数有し、前記電流線は、前記光軸に対して平行に配置される主線部と、前記主線部に対向して配置される戻り線部とを有し、前記戻り線部に流れる電流の向きは、前記光軸に平行な成分では前記主線部に流れる電流の向きと逆方向であり、前記光軸と前記戻り線部との距離は、前記光軸と前記主線部との距離よりも大きく設定され、励起する多極子場において前記電流線に電流を供給する電源の電源安定性起因ノイズが所定レベル以下となるように設定され、前記多極子場の強度一定の条件において、前記戻り線がない場合の電源安定性起因ノイズ量に対する前記戻り線を有する場合の電源安定性起因ノイズ量は、前記光軸と前記主線部との距離に対する前記光軸と前記戻り線部との距離に依存して変化するとともに、所定の距離において最小値をとり、前記光軸と前記戻り線部との距離は、前記最小値を与える前記所定の距離よりも大きい荷電粒子線装置。 - 1次電子線を放出する電子銃と、
前記1次電子線が入射され、多段の多極子レンズを有する収差補正器と、
前記収差補正器を通過した1次電子線が入射される対物レンズとを有し、
前記多極子レンズは、光軸に対して同一平面上に軸対称に配置される複数の1対の電流線と円環状の磁路とを有し、前記電流線は、前記光軸に対して平行に配置される主線部と、前記主線部に対向して配置される戻り線部とを有し、前記磁路は、前記電流線の前記戻り線部の外周に配置され、前記戻り線部に流れる電流の向きは、前記光軸に平行な成分では前記主線部に流れる電流の向きと逆方向であり、前記光軸と前記戻り線部との距離は、前記光軸と前記主線部との距離よりも大きく設定され、励起する多極子場において前記電流線に電流を供給する電源の電源安定性起因ノイズが所定レベル以下となるように設定され、前記磁路の内径と前記戻り線部との距離は、前記光軸と前記戻り線部との距離以下とされる荷電粒子線装置。 - 請求項10または請求項11において、
前記収差補正器は6極子場を用いた収差補正器である荷電粒子線装置。 - 1次電子線を放出する電子銃と、
前記1次電子線が入射され、多段の多極子レンズを有する収差補正器と、
前記収差補正器を通過した1次電子線が入射される対物レンズとを有し、
前記多極子レンズは、光軸に対して同一平面上に軸対称に配置される1対の電流線を複数有し、前記電流線は、前記光軸に対して平行に配置される主線部と、前記主線部に対向して多重化されて配置される戻り線部と、前記戻り線部に対向して配置される最外周部とを有し、前記戻り線部に流れる電流の向きは、前記光軸に平行な成分では前記主線部及び前記最外周部に流れる電流の向きと逆方向であり、前記光軸と前記戻り線部との距離は、前記光軸と前記主線部との距離よりも大きく設定され、前記光軸と前記最外周部との距離よりも小さく設定される荷電粒子線装置。 - 請求項13において、
前記収差補正器は6極子場を用いた収差補正器である荷電粒子線装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2017/030744 WO2019043759A1 (ja) | 2017-08-28 | 2017-08-28 | 多極子レンズ及びそれを用いた収差補正器、荷電粒子線装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2019043759A1 JPWO2019043759A1 (ja) | 2020-09-03 |
JP6883656B2 true JP6883656B2 (ja) | 2021-06-09 |
Family
ID=65526315
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019538766A Active JP6883656B2 (ja) | 2017-08-28 | 2017-08-28 | 多極子レンズ及びそれを用いた収差補正器、荷電粒子線装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11004650B2 (ja) |
JP (1) | JP6883656B2 (ja) |
WO (1) | WO2019043759A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7133089B2 (ja) * | 2019-04-19 | 2022-09-07 | 株式会社日立ハイテク | 荷電粒子線装置 |
WO2023105632A1 (ja) * | 2021-12-07 | 2023-06-15 | 株式会社日立ハイテク | 多極子レンズおよび荷電粒子線装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5277573A (en) | 1975-12-24 | 1977-06-30 | Hitachi Ltd | Magnetic field generating device |
US4251728A (en) * | 1979-07-30 | 1981-02-17 | International Business Machines Corporation | Compensated magnetic deflection coil for electron beam lithography system |
JPH10142397A (ja) * | 1996-11-07 | 1998-05-29 | Nikon Corp | 電子光学系 |
US6153885A (en) * | 1999-06-03 | 2000-11-28 | Nikon Corporation | Toroidal charged particle deflector with high mechanical stability and accuracy |
JP3757702B2 (ja) * | 1999-09-17 | 2006-03-22 | 株式会社日立製作所 | 電子顕微鏡 |
JP2004241190A (ja) * | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Jeol Ltd | 多極子レンズ用の多極子製造方法、多極子レンズ及び荷電粒子線装置 |
JP4988216B2 (ja) * | 2006-02-03 | 2012-08-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 収差補正装置を搭載した荷電粒子線装置 |
US7947964B2 (en) * | 2006-11-21 | 2011-05-24 | Hitachi High-Technologies Corporation | Charged particle beam orbit corrector and charged particle beam apparatus |
DE102008035297B4 (de) | 2007-07-31 | 2017-08-17 | Hitachi High-Technologies Corporation | Aberrationskorrektureinrichtung für Ladungsteilchenstrahlen in einem optischen System einer Ladungsteilchenstrahlvorrichtung und Ladungsteilchenstrahlvorrichtung mit der Aberrationskorrektureinrichtung |
DE102007045874A1 (de) | 2007-09-25 | 2009-04-02 | Ceos Corrected Electron Optical Systems Gmbh | Multipolspulen |
-
2017
- 2017-08-28 US US16/638,855 patent/US11004650B2/en active Active
- 2017-08-28 JP JP2019538766A patent/JP6883656B2/ja active Active
- 2017-08-28 WO PCT/JP2017/030744 patent/WO2019043759A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2019043759A1 (ja) | 2020-09-03 |
US20200373117A1 (en) | 2020-11-26 |
WO2019043759A1 (ja) | 2019-03-07 |
US11004650B2 (en) | 2021-05-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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