JP2000231896A - 投影光学系 - Google Patents

投影光学系

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JP2000231896A
JP2000231896A JP11031361A JP3136199A JP2000231896A JP 2000231896 A JP2000231896 A JP 2000231896A JP 11031361 A JP11031361 A JP 11031361A JP 3136199 A JP3136199 A JP 3136199A JP 2000231896 A JP2000231896 A JP 2000231896A
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JP
Japan
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dynamic focus
optical system
projection
lens
reticle
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JP11031361A
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English (en)
Inventor
Mamoru Nakasuji
護 中筋
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 新たな回転誤差や倍率誤差が生じることなく
空間電荷効果を補正可能な投影光学系を提供する。 【解決手段】 本投影光学系は、荷電粒子線照明を受け
るレチクル1を通過した荷電粒子線を感応基板7上に投
影結像させる装置である。この装置は、上下2段の投影
レンズ2、4と、同じく上下2段のダイナミックフォー
カスコイル5、6を備える。上下のダイナミックフォー
カスコイル5、6のアンペアターン数の絶対値を等しく
し符号(+−)を逆とする。また、上ダイナミックフォ
ーカスコイル5のレンズ主面がレチクル1とクロスオー
バ開口3の中点に一致し、上記下ダイナミックフォーカ
スコイル6のレンズ主面がクロスオーバ開口3とウエハ
7の中点に一致する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レチクルを通過し
た荷電粒子線を感応基板上に投影結像させる投影光学系
に関する。特には、最小線幅0.1μm 以下の高密度パ
ターンをも高スループットで形成することを企図した投
影露光装置に好適な、荷電粒子線の空間電荷効果を良好
に補正できる投影光学系に関する。本明細書にいう荷電
粒子線は電子線及びイオンビームを含む。
【0002】
【従来の技術】荷電粒子線においては粒子相互の電荷が
反発し合ってビームが広がる現象(空間電荷効果)があ
る。この空間電荷効果により、荷電粒子線投影光学系に
おいてはフォーカスが遠くなる。そこでフォーカス調整
のために、次のような方法が知られている。その方法で
は、投影レンズ内に金属筒を挿入し、該金属筒に制御さ
れた電位を与えて金属筒内を通るビームのエネルギーを
変え、レンズの焦点距離を調整する。この方法は、比較
的高速で焦点調整が可能な点は好ましい。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記金
属筒に汚れ(コンタミネーション)が付着して帯電し、
意図せぬ電界が生じてビームドリフトの原因となる。
【0004】ところで、フォーカスを調整する方法とし
て、投影光学系の2段の投影レンズの内の片側の焦点距
離のみを変化させる方法もある。しかし、その方法では
同時に縮小倍率や回転も微小変化するので投影像の寸法
や形状が変わってしまう。
【0005】本発明は、このような問題点に鑑みてなさ
れたもので、空間電荷効果を補正したときに新たな回転
誤差や倍率誤差が生じることを抑制でき、投影像の収差
も増加することのない投影光学系を提供することを目的
とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の投影光学系は、 荷電粒子線照明を受ける
レチクルを通過した荷電粒子線を感応基板上に投影結像
させる投影光学系であって; 上下2段の投影レンズ
と、 同じく上下2段のダイナミックフォーカスコイル
と、を備え、 投影するパターン密度に応じて上記ダイ
ナミックフォーカスコイルに電流を流してフォーカス補
正を行う際に、上下のダイナミックフォーカスコイルの
アンペアターン数の絶対値を等しくし符号(+−)を逆
とすることを特徴とする。このようにダイナミックフォ
ーカスコイルに電流を流すことにより、パターン密度に
伴って変化する空間電荷効果によるフォーカス変動を、
ビームに回転や倍率変化を与えることなく調整できる。
【0007】本発明においては、投影の縮小率比でレチ
クルと感応基板間を内分する位置にクロスオーバ開口を
備え、 上記上ダイナミックフォーカスコイルのレンズ
主面がレチクルとクロスオーバ開口の中点に一致し、
上記下ダイナミックフォーカスコイルのレンズ主面が感
応基板投影面の中点に一致することが好ましい。また、
各投影レンズの内側に磁気シールド部材が配置されてお
り、 上記各ダイナミックフォーカスコイルが該磁気シ
ールド部材の内側に配置されており、 該ダイナミック
フォーカスコイルの光軸方向長さがレンズギャップの
0.8倍以上であることが好ましい。
【0008】空間電荷効果補正によってビームに回転が
生じないようにするためには、クロスオーバより上での
回転量をクロスオーバから下の回転量で打ち消す必要が
ある。この条件は上下2段のダイナミックフォーカスコ
イルのAT数を等しくすることで満たされる。縮小倍率
については、レチクルの光軸から離れた位置から光軸に
平行に出た電子の軌道が光軸とどこで交叉するかに依存
する。空間電荷効果による凹レンズを2つのレンズで近
似すると、それぞれレチクルからクロスオーバの中点
と、クロスオーバ開口から試料面間の中点とに主面を持
つレンズとで近似できる。したがって、補正レンズもこ
れらの位置に主面を持つ凸レンズとすれば倍率の変動を
最小とできる。
【0009】空間電荷効果による凹レンズ作用はレチク
ルから試料面まで一様な強さで作用する。したがって、
これらのレンズ作用を打ち消す凸レンズ作用は、収差の
増加を避けるには、光軸方向のなるべく長い距離にわた
って作用することが望ましい。このことから、上下2段
のダイナミックフォーカスコイルは、光軸方向になるべ
く広い範囲に長く巻くのが良い。なお、ダイナミックフ
ォーカスコイルは、光軸を中心として円形に巻いたコイ
ルとするのが一般的である。
【0010】本発明の2段の投影レンズは以下の条件
(磁気対称ダブレット(SMD)条件)を満たすことが
好ましい。 (1)1段目投影レンズのボーア径:2段目投影レンズ
のボーア径=M:1ただし、縮小率=1/M (2)1段目投影レンズのレンズギャップ:2段目投影
レンズのレンズギャップ=M:1 (3)レンズ位置条件: 1段目投影レンズ:マスクとクロスオーバ開口の中心あ
るいはその位置よりわずかにマスク側へずらした位置。 2段目投影レンズ:クロスオーバ開口と感応基板の中心
あるいはその位置よりわずかに基板側へずらした位置。 (4)1段目投影レンズの励磁コイルのアンペアターン
≒2段目投影レンズの励磁コイルのアンペアターン (5)1段目投影レンズの軸上磁場と2段目投影レンズ
の軸上磁場の向きは互いに逆方向。
【0011】なお、上記(1)及び(2)の条件につい
ては、ダイナミックフォーカスコイルも備えることが好
ましい。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ説明す
る。図1は、本発明の1実施例に係る投影光学系の機器
配置を示す断面図である。図の最上部に示されているレ
チクル1は、上部から、図示せぬ照明光学系により電子
線照明を受けている。レチクル1の下方には、順に、1
段目投影レンズ2、クロスオーバ開口3、2段目投影レ
ンズ4、ウエハ7が、光軸(一点鎖線)に沿って配置さ
れている。
【0013】1段目投影レンズ2は、磁気回路を構成す
る断面内向きコの字状の回転対称形の磁極2aを有し、
その内周にはコイルを巻回した励磁コイル2bが配置さ
れている。クロスオーバ開口3側の下磁極2cの内径は
レチクル1側の上磁極2dの内径より小さく形成されて
いる。下磁極2cの内側約半分の部分はフェライトで作
られている。
【0014】励磁コイルの内側には、絶縁物リングとフ
ェライトリングを積み重ねたフェライトスタック8が嵌
め込まれている。このフェライトスタック8は、その内
側のダイナミックフォーカスコイル5の高周波磁気が外
に洩れないようにシールするためのものである。
【0015】フェライトスタック8の内側には、光軸方
向(Z方向)の全長にわたってダイナミックフォーカス
コイル(空間補正第1コイル)5が配置されている。こ
のダイナミックフォーカスコイル5のレンズ主面は、レ
チクル1とクロスオーバ開口3の中点に一致する。同コ
イル5のAT数については後述する。
【0016】クロスオーバ開口3は、レチクル1とウエ
ハ7間を縮小率で内分する点に配置されている。同開口
位置には、照明光学系の電子銃のクロスオーバの像が形
成される。このクロスオーバ開口3は、レチクル1の非
パターン部で散乱された電子線を遮断する。
【0017】2段目投影レンズ4は、基本的には、1段
目投影レンズ2を相似形に縮小(一例で縮小率1/4)
して倒立させた形をしている。2段目投影レンズ4の上
下磁極間の励磁コイルの内側にも、フェライトスタック
9が嵌め込まれている。このフェライトスタック9も同
じ縮小率で縮小されたものであり、その内側のダイナミ
ックフォーカスコイル6の高周波磁気が外に洩れないよ
うにシールするためのものである。
【0018】フェライトスタック9の内側には、光軸方
向の全長にわたってダイナミックフォーカスコイル(空
間補正第2コイル)6が配置されている。このダイナミ
ックフォーカスコイル6のレンズ主面は、クロスオーバ
開口3とウエハ7の中点に一致する。
【0019】2段目投影レンズ4のダイナミックフォー
カスコイル6のAT数は、1段目投影レンズ2のダイナ
ミックフォーカスコイル5のAT数と絶対値が等しい。
両ダイナミックフォーカスコイル5、6におけるフォー
カス調整は、両コイルに互いに逆の電流を流すことによ
り、ビームに回転や倍率の変化を最小としつつ調整でき
る。
【0020】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
は、空間電荷効果を補正したとき、新たな回転誤差や倍
率誤差を最小に抑制でき、投影像の収差を増加させるこ
ともない投影光学系を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例に係る投影光学系の機器
配置を示す断面図である。
【符号の説明】
1 レチクル 2 第1の投影レ
ンズ 3 クロスオーバ開口 4 第2の投影レ
ンズ 5 空間電荷効果補正第1コイル 6 空間電荷効果
補正第2コイル 7 ウエハ 8 フェライトス
タック 9 フェライトスタック 10 主光線軌道

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 荷電粒子線照明を受けるレチクルを通過
    した荷電粒子線を感応基板上に投影結像させる投影光学
    系であって;上下2段の投影レンズと、 同じく上下2段のダイナミックフォーカスコイルと、を
    備え、 投影するパターン密度に応じて上記ダイナミックフォー
    カスコイルに電流を流してフォーカス補正を行う際に、
    上下のダイナミックフォーカスコイルのアンペアターン
    数の絶対値を等しくし符号(+−)を逆とすることを特
    徴とする投影光学系。
  2. 【請求項2】 投影の縮小率比でレチクルと感応基板間
    を内分する位置にクロスオーバ開口を備え、 上記上ダイナミックフォーカスコイルのレンズ主面がレ
    チクルとクロスオーバ開口の中点に一致し、 上記下ダイナミックフォーカスコイルのレンズ主面がク
    ロスオーバ開口と感応基板投影面の中点に一致すること
    を特徴とする請求項1記載の投影光学系。
  3. 【請求項3】 各投影レンズの内側に磁気シールド部材
    が配置されており、 上記各ダイナミックフォーカスコイルが該磁気シールド
    部材の内側に配置されており、 該ダイナミックフォーカスコイルの光軸方向長さがレン
    ズギャップの0.8倍以上であることを特徴とする請求
    項1又は2記載の投影光学系。
JP11031361A 1999-02-09 1999-02-09 投影光学系 Pending JP2000231896A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006032814A (ja) * 2004-07-21 2006-02-02 Nec Electronics Corp 露光方法、パターン寸法調整方法及び焦点ぼかし量取得方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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