JP6837365B2 - Metal-ceramic bonding substrate and its manufacturing method - Google Patents

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Description

本発明は、金属溶湯をセラミックス基板に接触させた後、金属溶湯を冷却して固化させることによって製造する金属−セラミックス接合基板、及びその製造方法に関する。 The present invention relates to a metal-ceramic bonding substrate manufactured by bringing a molten metal into contact with a ceramic substrate and then cooling and solidifying the molten metal, and a method for producing the same.

電気自動車、電車、工作機械等の大電流を制御するために使用されているパワーモジュールでは、ベース板と呼ばれる金属板又は複合材にセラミックス基板が接合された、金属−セラミックス接合基板が用いられる。この金属−セラミックス接合基板の一方面側の回路用金属板には、電力用半導体素子がはんだ付けされ、他方面側には、金属製の放熱フィンあるいは冷却ジャケットが熱伝導グリースを介してねじ止め等によって取り付けられている。 In a power module used for controlling a large current in an electric vehicle, a train, a machine tool, or the like, a metal-ceramic bonded substrate in which a ceramic substrate is bonded to a metal plate or a composite material called a base plate is used. A power semiconductor element is soldered to the circuit metal plate on one side of the metal-ceramic joint substrate, and a metal heat dissipation fin or cooling jacket is screwed on the other side via heat conductive grease. Etc. are attached.

このような金属−セラミックス接合基板は、金属溶湯をセラミックス基板に接触させた後、金属溶湯を冷却して固化させて製造され、凝固冷却時における金属材とセラミックス材との収縮差が大きいため、大きな反り変形が生じやすい。よって、金属−セラミックス接合基板を金属製の放熱フィンあるいは冷却ジャケットに取り付けた際、反り変形により、放熱フィンあるいは冷却ジャケットと金属−セラミックス接合基板との間に隙間が発生する場合がある。その結果、金属−セラミックス接合基板の放熱性能が低下し、大電流制御基板としての耐熱衝撃等の信頼性が満足できない場合がある。 Such a metal-ceramic bonding substrate is manufactured by bringing the molten metal into contact with the ceramic substrate and then cooling and solidifying the molten metal, and the shrinkage difference between the metal material and the ceramic material during solidification cooling is large. Large warpage deformation is likely to occur. Therefore, when the metal-ceramic bonding substrate is attached to the metal heat-dissipating fin or the cooling jacket, a gap may be generated between the heat-dissipating fin or the cooling jacket and the metal-ceramic bonding substrate due to warpage deformation. As a result, the heat dissipation performance of the metal-ceramics bonded substrate deteriorates, and the reliability of the heat-resistant impact as a large current control substrate may not be satisfied.

このような放熱性能の低下を防止するため、少なくとも1つの強化材をベース板に接合された金属−セラミックス接合基板が存在する。そして当該基板を製造する際には、鋳型で強化材を支持することで、強化材の位置を精密に制御、固定して、反りのバラつきを抑制すること等が提案されている(例えば、特許文献1)。 In order to prevent such deterioration of heat dissipation performance, there is a metal-ceramic bonding substrate in which at least one reinforcing material is bonded to the base plate. Then, when manufacturing the substrate, it has been proposed that the position of the reinforcing material is precisely controlled and fixed by supporting the reinforcing material with a mold to suppress the variation in warpage (for example, a patent). Document 1).

特開2011−77389号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-77389

しかしながら、上述の提案では、鋳型に金属溶湯を注入する際の金属溶湯の圧力によって強化材が反ってしまい、結果的に金属−セラミックス接合基板に大きな反りが発生する場合がある。したがって、未だ、耐熱衝撃信頼性には改善の余地がある。 However, in the above proposal, the reinforcing material may be warped due to the pressure of the molten metal when the molten metal is injected into the mold, and as a result, a large warp may occur in the metal-ceramics bonded substrate. Therefore, there is still room for improvement in thermal shock reliability.

本発明は、上述のような問題を解決するためになされたものであり、従来に比べて信頼性の高い金属−セラミックス接合基板、及びその製造方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a metal-ceramics bonded substrate having higher reliability than the conventional one, and a method for manufacturing the same.

上記目的を達成するため、本発明は以下のように構成する。
即ち、本発明の一態様における金属−セラミックス接合基板は、金属材とセラミックス材とを直接に接合した基板であり、表面に部品実装面を有し裏面に放熱面を有する金属−セラミックス接合基板であって、当該金属−セラミックス接合基板の厚み方向において、上記部品実装面と上記放熱面との間には、上記部品実装面を有する上記金属材の回路パターン用金属板部、上記放熱面を有する上記金属材の放熱面用金属板部、上記回路パターン用金属板部と上記放熱面用金属板部との間に位置する上記金属材の金属ベース部、上記回路パターン用金属板部と上記金属ベース部との間に位置しこれらを電気的に絶縁する回路絶縁セラミックス基板、及び、上記放熱面用金属板部と上記金属ベース部との間に位置する強化セラミックス板材を備え、上記放熱面用金属板部は、上記放熱面から上記強化セラミックス板材まで延在し上記強化セラミックス板材が露出する凹部を有する、
ことを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows.
That is, the metal-ceramics bonded substrate in one aspect of the present invention is a substrate in which a metal material and a ceramics material are directly bonded, and is a metal-ceramics bonded substrate having a component mounting surface on the front surface and a heat dissipation surface on the back surface. In the thickness direction of the metal-ceramics bonded substrate, the metal plate portion for the circuit pattern of the metal material having the component mounting surface and the heat radiating surface are provided between the component mounting surface and the heat radiating surface. The metal plate portion for the heat dissipation surface of the metal material, the metal base portion of the metal material located between the metal plate portion for the circuit pattern and the metal plate portion for the heat dissipation surface, the metal plate portion for the circuit pattern and the metal A circuit insulating ceramic substrate located between the base portion and electrically insulating them, and a reinforced ceramic plate material located between the metal plate portion for the heat radiation surface and the metal base portion are provided for the heat radiation surface. The metal plate portion has a recess extending from the heat radiation surface to the reinforced ceramic plate material and exposing the reinforced ceramic plate material.
It is characterized by that.

本発明の一態様における金属−セラミックス接合基板によれば、金属−セラミックス接合基板の凝固冷却時に発生する反り変形を抑制することができ、金属−セラミックス接合基板と放熱部品との熱伝導性も向上可能である。よって、金属−セラミックス接合基板、ひいてはパワーモジュールの耐熱衝撃信頼性を従来に比べて向上させることが可能となる。 According to the metal-ceramics bonded substrate in one aspect of the present invention, warpage deformation that occurs during solidification and cooling of the metal-ceramics bonded substrate can be suppressed, and the thermal conductivity between the metal-ceramics bonded substrate and the heat radiating component is also improved. It is possible. Therefore, it is possible to improve the heat-resistant impact reliability of the metal-ceramics bonded substrate and, by extension, the power module as compared with the conventional case.

実施の形態1における金属−セラミックス接合基板を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the metal-ceramics bonding substrate in Embodiment 1. FIG. 図1に示す金属−セラミックス接合基板の変形例における断面図である。It is sectional drawing in the modified example of the metal-ceramics bonded substrate shown in FIG. 実施の形態2及び実施の形態3における金属−セラミックス接合基板を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the metal-ceramics bonding substrate in Embodiment 2 and Embodiment 3. 実施の形態4における金属−セラミックス接合基板を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the metal-ceramics bonding substrate in Embodiment 4. FIG. 図1に示す金属−セラミックス接合基板を製造するための鋳型の断面図である。It is sectional drawing of the mold for manufacturing the metal-ceramics bonded substrate shown in FIG. 図5に示す鋳型の変形例における断面図である。It is sectional drawing in the modification of the mold shown in FIG. 図1に示す金属−セラミックス接合基板の平面図である。It is a top view of the metal-ceramics bonding substrate shown in FIG. 図1に示す金属−セラミックス接合基板の変形例における平面図である。It is a top view in the modification of the metal-ceramics bonded substrate shown in FIG.

実施形態である金属−セラミックス接合基板、及びその製造方法について、図を参照しながら以下に説明する。尚、各図において、同一又は同様の構成部分については同じ符号を付している。また、以下の説明が不必要に冗長になるのを避け当業者の理解を容易にするため、既によく知られた事項の詳細説明及び実質的に同一の構成に対する重複説明を省略する場合がある。また、以下の説明及び添付図面の内容は、特許請求の範囲に記載の主題を限定することを意図するものではない。 The metal-ceramics bonded substrate and the manufacturing method thereof, which are the embodiments, will be described below with reference to the drawings. In each figure, the same or similar components are designated by the same reference numerals. In addition, in order to avoid unnecessary redundancy of the following explanations and facilitate understanding by those skilled in the art, detailed explanations of already well-known matters and duplicate explanations for substantially the same configuration may be omitted. .. In addition, the following description and the contents of the attached drawings are not intended to limit the subject matter described in the claims.

実施の形態1.
図1は、本実施の形態1における金属−セラミックス接合基板121を示す断面図である。図7は、図1に示す金属−セラミックス接合基板121の平面図である。この金属−セラミックス接合基板121は、金属材と少なくとも2枚のセラミックス材とを、後述する鋳型にて直接に接合して製造した基板であり、厚み方向131における両端面として位置し互いに対向する部品実装面108a及び放熱面109aを有する。このような金属−セラミックス接合基板121は、基本的構成部分として、回路パターン用金属板部108と、放熱面用金属板部109と、金属ベース部110と、回路絶縁セラミックス基板104と、強化セラミックス板材105と、凹部111とを備える。回路パターン用金属板部108、放熱面用金属板部109、及び金属ベース部110は、同じ金属材にて形成され、回路絶縁セラミックス基板104及び強化セラミックス板材105は、セラミックス材である。
Embodiment 1.
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a metal-ceramics bonding substrate 121 according to the first embodiment. FIG. 7 is a plan view of the metal-ceramics bonding substrate 121 shown in FIG. The metal-ceramic bonding substrate 121 is a substrate manufactured by directly bonding a metal material and at least two ceramic materials with a mold described later, and is a component located as both end faces in the thickness direction 131 and facing each other. It has a mounting surface 108a and a heat radiating surface 109a. Such a metal-ceramic joint substrate 121 has, as basic constituent parts, a metal plate portion 108 for a circuit pattern, a metal plate portion 109 for a heat dissipation surface, a metal base portion 110, a circuit insulating ceramic substrate 104, and reinforced ceramics. A plate material 105 and a recess 111 are provided. The circuit pattern metal plate portion 108, the heat radiation surface metal plate portion 109, and the metal base portion 110 are made of the same metal material, and the circuit insulating ceramic substrate 104 and the reinforced ceramic plate material 105 are ceramic materials.

上記金属材としては、熱伝導性の良いアルミニウムを主原料とするアルミニウム合金、又は純アルミニウムを使用する。上記セラミックス材としては、アルミニウム合金又は純アルミニウムの溶湯温度に対して、熱的にかつ化学的に安定である酸化アルミニウムあるいは窒化アルミニウム等のセラミックス材を使用する。 As the metal material, an aluminum alloy containing aluminum having good thermal conductivity as a main raw material or pure aluminum is used. As the ceramic material, a ceramic material such as aluminum oxide or aluminum nitride that is thermally and chemically stable with respect to the molten metal temperature of the aluminum alloy or pure aluminum is used.

金属−セラミックス接合基板121では、部品実装面108aを有する回路パターン用金属板部108と、放熱面109aを有する放熱面用金属板部109とが平行又は略平行に対向して位置する。部品実装面108aには、例えば電力用半導体素子等の部品が実装される。放熱面109aには、放熱フィンあるいは冷却ジャケット等の放熱部品が締結される。 In the metal-ceramics bonding substrate 121, the circuit pattern metal plate portion 108 having the component mounting surface 108a and the heat radiating surface metal plate portion 109 having the heat radiating surface 109a are located in parallel or substantially parallel to each other. A component such as a power semiconductor element is mounted on the component mounting surface 108a. A heat radiating component such as a heat radiating fin or a cooling jacket is fastened to the heat radiating surface 109a.

このような回路パターン用金属板部108と放熱面用金属板部109との間には、互いに平行又は略平行に対向して、回路絶縁セラミックス基板104及び強化セラミックス板材105が位置する。回路絶縁セラミックス基板104は、回路パターン用金属板部108と金属ベース部110との間に位置しこれらを電気的に絶縁する。強化セラミックス板材105は、放熱面用金属板部109と金属ベース部110との間に位置する。尚、本実施の形態では、回路絶縁セラミックス基板104と強化セラミックス板材105との材質は同じである。 The circuit insulating ceramic substrate 104 and the reinforced ceramic plate 105 are located between the circuit pattern metal plate 108 and the heat radiating surface metal plate 109 in parallel or substantially parallel to each other. The circuit insulating ceramic substrate 104 is located between the metal plate portion 108 for the circuit pattern and the metal base portion 110, and electrically insulates them. The reinforced ceramic plate material 105 is located between the metal plate portion 109 for the heat dissipation surface and the metal base portion 110. In the present embodiment, the materials of the circuit insulating ceramic substrate 104 and the reinforced ceramic plate 105 are the same.

ここで、金属−セラミックス接合基板121の平面視において、強化セラミックス板材105は、回路絶縁セラミックス基板104よりも大きい面積を有する。さらに、厚み方向131において、放熱面用金属板部109の厚みt1は、回路絶縁セラミックス基板104と強化セラミックス板材105との間に位置する金属ベース部110の厚みt2よりも薄い。 Here, in the plan view of the metal-ceramics bonding substrate 121, the reinforced ceramic plate material 105 has a larger area than the circuit insulating ceramics substrate 104. Further, in the thickness direction 131, the thickness t1 of the heat-dissipating surface metal plate portion 109 is thinner than the thickness t2 of the metal base portion 110 located between the circuit insulating ceramic substrate 104 and the reinforced ceramic plate material 105.

さらにまた、放熱面用金属板部109は、金属−セラミックス接合基板121の中心を通る対称軸126(図7)に線対称として位置する少なくとも一つの凹部111を有する。この凹部111は、放熱面用金属板部109における放熱面109aから強化セラミックス板材105まで延在し、強化セラミックス板材105を露出させる。 Furthermore, the metal plate portion 109 for the heat radiating surface has at least one recess 111 located line-symmetrically on the axis of symmetry 126 (FIG. 7) passing through the center of the metal-ceramics bonding substrate 121. The recess 111 extends from the heat radiating surface 109a of the heat radiating surface metal plate portion 109 to the reinforced ceramic plate material 105 to expose the reinforced ceramic plate material 105.

以上のように構成される金属−セラミックス接合基板121は、例えば図5に示すような鋳型1を用いて、以下のように製造される。
図5では、鋳型1の内部に回路絶縁セラミックス基板104と、強化セラミックス板材105とが設置された状態を示している。鋳型1は、上型2と下型3とに分離可能に構成されており、回路絶縁セラミックス基板104は上型2に支持され、強化セラミックス板材105は上型2の一部及び下型3に立設された突出部6にて支持されている。ここで突出部6は、上述した、比較的厚みの薄い放熱面用金属板部109における凹部11を形成するものである。よって突出部6は、金属−セラミックス接合基板121の中心を通る対称軸126に線対称として少なくとも1つ以上設けられており、放熱面用金属板部109に対応して比較的厚みの薄い部分(下記の放熱面用金属板形成部9)にて、強化セラミックス基材105を支持する。
The metal-ceramics bonding substrate 121 configured as described above is manufactured as follows, for example, using the mold 1 as shown in FIG.
FIG. 5 shows a state in which the circuit insulating ceramic substrate 104 and the reinforced ceramic plate 105 are installed inside the mold 1. The mold 1 is configured to be separable into an upper mold 2 and a lower mold 3, the circuit insulating ceramic substrate 104 is supported by the upper mold 2, and the reinforced ceramic plate material 105 is a part of the upper mold 2 and the lower mold 3. It is supported by an erected protrusion 6. Here, the protruding portion 6 forms the recess 11 in the heat-dissipating surface metal plate portion 109 having a relatively thin thickness as described above. Therefore, at least one projecting portion 6 is provided as line symmetry on the axis of symmetry 126 passing through the center of the metal-ceramics bonded substrate 121, and is a relatively thin portion corresponding to the metal plate portion 109 for the heat dissipation surface ( The reinforced ceramic base material 105 is supported by the metal plate forming portion 9) for the heat radiation surface described below.

図5において、鋳型1の内部における空洞部7は、金属−セラミックス接合基板121における金属ベース部110を、回路パターン用金属板形成部8は、回路パターン用金属板部108を、放熱面用金属板形成部9は、放熱面用金属板部109を、それぞれ形成するための空洞部である。また、空洞部7は、回路パターン用金属板形成部8及び放熱面用金属板形成部9と連通している。
また、回路パターン用金属板形成部8は、回路絶縁セラミックス基板104の一部が鋳型1の上型2に支持されて鋳型1内に収容されることで形成される、鋳型1の上型2と回路絶縁セラミックス基板104との間の空間である。
また、放熱面用金属板形成部9は、強化セラミックス板材105の一部が鋳型1の上型2に支持されて鋳型1内に収容されることで形成される、鋳型1の下型3と強化セラミックス板材105との間の空間である。
In FIG. 5, the hollow portion 7 inside the mold 1 is the metal base portion 110 of the metal-ceramics bonded substrate 121, and the circuit pattern metal plate forming portion 8 is the circuit pattern metal plate portion 108. The plate forming portion 9 is a hollow portion for forming the metal plate portion 109 for the heat radiation surface. Further, the cavity portion 7 communicates with the circuit pattern metal plate forming portion 8 and the heat radiating surface metal plate forming portion 9.
Further, the circuit pattern metal plate forming portion 8 is formed by supporting a part of the circuit insulating ceramic substrate 104 by the upper mold 2 of the mold 1 and accommodating the metal plate forming portion 8 in the mold 1. This is the space between the circuit insulating ceramic substrate 104 and the circuit insulating ceramic substrate 104.
Further, the metal plate forming portion 9 for the heat radiation surface is formed by supporting a part of the reinforced ceramic plate material 105 by the upper mold 2 of the mold 1 and accommodating it in the mold 1, and the lower mold 3 of the mold 1. It is a space between the reinforced ceramic plate material 105.

尚、強化セラミックス板材105の支持は、図5に示すように強化セラミックス板材105の一部が上型2から支持される形態に限定されず、図6に示すように、鋳型1の下型3で支持されてもよい。 The support of the reinforced ceramic plate 105 is not limited to the form in which a part of the reinforced ceramic plate 105 is supported from the upper mold 2 as shown in FIG. 5, and the lower mold 3 of the mold 1 is supported as shown in FIG. May be supported by.

鋳型1には、金属ベース部110を形成するための空洞部7に金属溶湯を注湯するための注湯口(不図示)が形成され、また、空洞部7と回路パターン用金属板形成部8との間に延在する溶湯流路(不図示)、及び、空洞部7と放熱面用金属板形成部9との間に延在する溶湯流路(不図示)がそれぞれ形成されている。また鋳型1は、内部に回路絶縁セラミックス基板104を収容したときには、空洞部7と回路パターン用金属板形成部8との間が連通し、強化セラミックス板材105を収容したときにも空洞部7と放熱面用金属板形成部9との間が連通するように構成されている。 In the mold 1, a pouring port (not shown) for pouring molten metal into the cavity 7 for forming the metal base portion 110 is formed, and the cavity 7 and the metal plate forming portion 8 for a circuit pattern are formed. A molten metal flow path (not shown) extending between the two, and a molten metal flow path (not shown) extending between the cavity 7 and the metal plate forming portion 9 for the heat radiation surface are formed. Further, when the circuit insulating ceramic substrate 104 is housed in the mold 1, the cavity 7 and the metal plate forming part 8 for the circuit pattern communicate with each other, and when the reinforced ceramic plate 105 is housed, the mold 1 is also connected to the cavity 7. It is configured to communicate with the metal plate forming portion 9 for the heat radiating surface.

ここで、一般的な金属−セラミックス接合基板の鋳造方法について説明する。尚、この鋳造方法は、金属−セラミックス接合基板121の製造にも適用可能である。
金属溶湯と鋳型とが接触することによる金属溶湯と鋳型との接合を防ぐために、まず、塗装、溶射、物理的蒸着法等により、離型コーティングを行う。そして、鋳型の内部に、回路絶縁セラミックス基板104と、強化セラミックス板材105とを収容し、鋳型1を接合炉内に移動させる。
この接合炉内を窒素ガス雰囲気にして、酸素濃度を100ppm以下にし、ヒーターの温度制御によって、注湯温度である600〜800℃まで鋳型1を加熱する。その後、注湯温度まで加熱して得られた、予め計量された金属溶湯を窒素ガスによって加圧し、鋳型1の注湯口を通して鋳型内部へ流し込む。
このようにして金属溶湯を鋳型内部へ流し込んだ後、冷し金を用いて鋳型内の金属溶湯を指向性凝固させる。
以上のようにして、金属材とセラミックス材とが接合した基板を鋳型から離型させ、図1に示す金属−セラミックス接合基板121を製造する。
Here, a general method for casting a metal-ceramic bonded substrate will be described. This casting method can also be applied to the production of the metal-ceramic bonding substrate 121.
In order to prevent the molten metal from joining the mold due to contact between the molten metal and the mold, first, a mold release coating is performed by painting, thermal spraying, physical vapor deposition, or the like. Then, the circuit insulating ceramic substrate 104 and the reinforced ceramic plate 105 are housed inside the mold, and the mold 1 is moved into the joining furnace.
The inside of this joining furnace is made into a nitrogen gas atmosphere, the oxygen concentration is set to 100 ppm or less, and the mold 1 is heated to 600 to 800 ° C., which is the pouring temperature, by controlling the temperature of the heater. Then, the pre-measured molten metal obtained by heating to the pouring temperature is pressurized with nitrogen gas and poured into the mold through the pouring port of the mold 1.
After the molten metal is poured into the mold in this way, the molten metal in the mold is directionally solidified using a chiller.
As described above, the substrate in which the metal material and the ceramic material are bonded is released from the mold to manufacture the metal-ceramic bonded substrate 121 shown in FIG.

以上説明した金属−セラミックス接合基板121、及び、この金属−セラミックス接合基板121を製造するための鋳型1によれば、以下の効果を得ることができる。
鋳造時において、金属−セラミックス接合基板121の中心を通る対称軸126に線対称として、鋳型1の下型3に少なくとも1つ以上設け、かつ比較的厚みの薄い放熱面用金属板形成部9側に対応して設けた突出部6によって、強化セラミックス板材105を支持して鋳造する。これにより、窒素ガスで加圧された金属溶湯が鋳型1の内部へ注入される際に生じる、強化セラミックス板材105の撓みを防止することができる。よって、放熱面用金属板部109におけるアルミニウム厚さt1を均等にすることができる。
その結果、凝固収縮時における金属材とセラミックス材との線膨張率の差に起因して発生する熱ひずみによる、金属−セラミックス接合基板121の反りを抑制することができ、かつ、凝固収縮時において、鋳型1の下型3の突出部6によって金属−セラミックス接合基板121を拘束することで、さらに反りを抑制することが可能となる。
According to the metal-ceramic bonding substrate 121 described above and the mold 1 for manufacturing the metal-ceramic bonding substrate 121, the following effects can be obtained.
At the time of casting, at least one or more is provided on the lower mold 3 of the mold 1 as line symmetry with respect to the axis of symmetry 126 passing through the center of the metal-ceramics bonded substrate 121, and the metal plate forming portion 9 side for a heat radiation surface having a relatively thin thickness The reinforced ceramic plate 105 is supported and cast by the projecting portion 6 provided corresponding to the above. This makes it possible to prevent the reinforced ceramic plate 105 from bending when the molten metal pressurized with nitrogen gas is injected into the mold 1. Therefore, the aluminum thickness t1 in the heat-dissipating surface metal plate portion 109 can be made uniform.
As a result, it is possible to suppress the warp of the metal-ceramic joint substrate 121 due to the thermal strain generated due to the difference in the linear expansion ratio between the metal material and the ceramic material during solidification shrinkage, and at the time of solidification shrinkage. By restraining the metal-ceramics bonded substrate 121 by the protruding portion 6 of the lower mold 3 of the mold 1, it is possible to further suppress the warp.

また、金属溶湯を鋳型1に注入してから金属溶湯の凝固に至るまで、湯回り不良あるいはガス巻き込み等の欠陥が発生しないように留意する必要がある。下型3の突出部6によって強化セラミックス板材105の撓み防止が可能になることから、湯回り不良を防止でき、かつ凝固時にガスを抜くことができる。よって、ガス巻き込み等の欠陥を発生させることなく、金属−セラミックス接合基板121の品質を向上させることが可能となる。 In addition, care must be taken not to cause defects such as poor hot water circulation or gas entrainment from the injection of the molten metal into the mold 1 to the solidification of the molten metal. Since the protruding portion 6 of the lower mold 3 makes it possible to prevent the reinforced ceramic plate 105 from bending, it is possible to prevent poor running of the hot water and to release gas during solidification. Therefore, it is possible to improve the quality of the metal-ceramic bonding substrate 121 without causing defects such as gas entrainment.

また、下型3の突出部6による金属−セラミックス接合基板121の拘束は、以下の場合にも有効となる。
即ち、金属−セラミックス接合基板121における回路パターン用金属板部108では、部品実装面108aから回路絶縁セラミックス基板104まで溝が彫り込まれている。
Further, the restraint of the metal-ceramics bonding substrate 121 by the protruding portion 6 of the lower mold 3 is also effective in the following cases.
That is, in the circuit pattern metal plate portion 108 of the metal-ceramics bonding substrate 121, a groove is carved from the component mounting surface 108a to the circuit insulating ceramic substrate 104.

これらにより、金属−セラミックス接合基板121における回路パターン用金属板部108の厚みと放熱面用金属板部109の厚みt1との関係が各位置により異なるため、凝固冷却時に反りが発生する。このような場合に対しても、凝固収縮時において、鋳型1における下型3の突出部6によって金属−セラミックス接合基板121を拘束することにより、反り変形を抑制することができる。 As a result, the relationship between the thickness of the metal plate portion 108 for the circuit pattern and the thickness t1 of the metal plate portion 109 for the heat dissipation surface in the metal-ceramics bonded substrate 121 differs depending on each position, so that warpage occurs during solidification and cooling. Even in such a case, warpage deformation can be suppressed by restraining the metal-ceramics bonded substrate 121 by the protruding portion 6 of the lower mold 3 in the mold 1 during solidification shrinkage.

また、下型3に設けた突出部6によって、放熱面用金属板部109には、上述のように凹部111が形成される。一方、放熱面用金属板部109には、放熱フィンあるいは冷却ジャケット等の放熱部品が締結され、その際、放熱面用金属板部109の放熱面109aと放熱部品との接触面には、熱伝導グリースを設ける。よって、この熱伝導グリースは、凹部111内に進入することから、放熱面用金属板部109との接触面積を増加させることができる。よって、金属−セラミックス接合基板121の放熱性能を従来に比べて向上させることが可能である。 Further, the protrusions 6 provided on the lower mold 3 form the recesses 111 in the heat-dissipating metal plate portion 109 as described above. On the other hand, heat-dissipating parts such as heat-dissipating fins or cooling jackets are fastened to the heat-dissipating surface metal plate 109, and at that time, heat is generated on the contact surface between the heat-dissipating surface 109a of the heat-dissipating metal plate 109 and the heat-dissipating parts. Provide conductive grease. Therefore, since the heat conductive grease enters the recess 111, the contact area with the heat radiating surface metal plate portion 109 can be increased. Therefore, it is possible to improve the heat dissipation performance of the metal-ceramics bonding substrate 121 as compared with the conventional case.

以上説明したように、金属−セラミックス接合基板121の凝固冷却時に発生する反り変形を抑制することができ、金属−セラミックス接合基板121と放熱部品との熱伝導性も向上可能なことから、金属−セラミックス接合基板121、ひいてはパワーモジュールの耐熱衝撃信頼性を従来に比べて向上させることが可能となる。 As described above, the warp deformation that occurs during solidification and cooling of the metal-ceramics bonding substrate 121 can be suppressed, and the thermal conductivity between the metal-ceramics bonding substrate 121 and the heat-dissipating component can be improved. It is possible to improve the thermal shock reliability of the ceramic bonding substrate 121 and, by extension, the power module as compared with the conventional case.

本実施の形態1では、回路絶縁セラミックス基板104及び強化セラミックス板材105は、それぞれ1枚ずつを設けるが、これに限定されない。例えば図2に示す金属−セラミックス接合基板121Aのように、回路絶縁セラミックス基板104と強化セラミックス板材105との間に、さらに一又は複数の強化セラミックス板材を設けても良い。 In the first embodiment, the circuit insulating ceramic substrate 104 and the reinforced ceramic plate 105 are provided one by one, but the present invention is not limited to this. For example, as in the metal-ceramics bonding substrate 121A shown in FIG. 2, one or more reinforced ceramic plates may be further provided between the circuit insulating ceramic substrate 104 and the reinforced ceramic plate 105.

また、図8は本実施の形態1における金属−セラミックス接合基板の変形例における平面図である。この変形例では、金属−セラミックス接合基板121の中心を通る対称軸126に線対称として、断面矩形の凹部111が6つと、断面円形の凹部111が2つが形成されており、それぞれ強化セラミックス板材105を露出させている。鋳造時において、強化セラミックス板材105の四隅を、四隅の断面矩形の凹部111に対応する突出部に位置するように配置して鋳造する。この際、四隅の断面矩形の凹部111に対応する突出部が、強化セラミックス板材105の位置決めの役割を果たすため、強化セラミックス板材105を精度よく配置することができる。 Further, FIG. 8 is a plan view of a modified example of the metal-ceramics bonded substrate according to the first embodiment. In this modification, six recesses 111 having a rectangular cross section and two recesses 111 having a circular cross section are formed as line symmetry on the axis of symmetry 126 passing through the center of the metal-ceramics bonded substrate 121. Is exposed. At the time of casting, the four corners of the reinforced ceramic plate 105 are arranged and cast so as to be located at the protruding portions corresponding to the concave portions 111 having a rectangular cross section at the four corners. At this time, since the protrusions corresponding to the concave portions 111 having rectangular cross sections at the four corners play a role in positioning the reinforced ceramic plate 105, the reinforced ceramic plate 105 can be arranged with high accuracy.

実施の形態2.
図3は、実施の形態2における金属−セラミックス接合基板122を示している。この金属−セラミックス接合基板122は、基本的に、上述した実施形態1の金属−セラミックス接合基板121と同じ構成を有し、さらに、窪み113を有する点で相違する。
したがって以下では、相違点である窪み113について主に説明を行い、同じ構成部分に関する説明については省略する。
Embodiment 2.
FIG. 3 shows the metal-ceramics bonded substrate 122 according to the second embodiment. The metal-ceramics bonding substrate 122 basically has the same configuration as the metal-ceramics bonding substrate 121 of the first embodiment described above, and is different in that it has a recess 113.
Therefore, in the following, the difference 113 will be mainly described, and the description of the same component will be omitted.

窪み113は、金属ベース部110に存在し、金属−セラミックス接合基板122において、回路パターン用金属板部108側及び放熱面用金属板部109側の少なくとも一方側の面に位置する。このような窪み113は、金属−セラミックス接合基板122の中心を通る対称軸126に線対称として少なくとも2箇所に位置する。尚、図3では、窪み113は、金属−セラミックス接合基板122において、放熱面用金属板部109側の放熱面109aにおける少なくとも2箇所に設けられた場合を示している。 The recess 113 exists in the metal base portion 110, and is located on at least one surface of the metal-ceramics bonding substrate 122 on the side of the metal plate portion 108 for the circuit pattern and the side of the metal plate portion 109 for the heat dissipation surface. Such recesses 113 are located at least at two locations in line symmetry with respect to the axis of symmetry 126 passing through the center of the metal-ceramics bonded substrate 122. Note that FIG. 3 shows a case where the recesses 113 are provided at at least two positions on the heat radiating surface 109a on the side of the metal plate portion 109 for the heat radiating surface in the metal-ceramics bonding substrate 122.

このような窪み113は、金属ベース部110を形成する鋳型1の空洞部7に対して、上型2及び下型3の少なくとも一方に突設した突起部によって形成される。この突起部は、窪み113の配置に対応して、金属−セラミックス接合基板122の中心を通る対称軸126に線対称として少なくとも2箇所に位置する。 Such a recess 113 is formed by a protrusion protruding from at least one of the upper mold 2 and the lower mold 3 with respect to the hollow portion 7 of the mold 1 forming the metal base portion 110. The protrusions are located at least two points in line symmetry with respect to the axis of symmetry 126 passing through the center of the metal-ceramics bonding substrate 122, corresponding to the arrangement of the recess 113.

このような窪み113を有する本実施形態2の金属−セラミックス接合基板122は、実施形態1の金属−セラミックス接合基板121と基本的に構成部分が同じであることから、金属−セラミックス接合基板121が奏する上述した効果を奏することができる。本実施形態2の金属−セラミックス接合基板122は窪み113を有することで、また窪み113に対応して鋳型1が突起部を有することで、さらに以下の効果を有する。
即ち、鋳造時において、金属ベース部110に対して突起部が存在することで、凝固収縮時の金属材とセラミックス材との線膨張率の差に起因して発生する熱ひずみによる、金属−セラミックス接合基板122の反りを、実施形態1に比べてさらに抑制することができる。
また、実施形態1で説明した熱伝導グリースが、窪み113にも進入可能であることから、実施形態1に比べてさらに放熱性能を向上させることも可能である。
Since the metal-ceramics bonding substrate 122 of the second embodiment having such a recess 113 has basically the same components as the metal-ceramics bonding substrate 121 of the first embodiment, the metal-ceramics bonding substrate 121 It is possible to achieve the above-mentioned effects. The metal-ceramics bonding substrate 122 of the second embodiment has the following effects because it has a recess 113 and the mold 1 has a protrusion corresponding to the recess 113.
That is, during casting, the presence of protrusions on the metal base 110 causes metal-ceramics due to thermal strain generated due to the difference in linear expansion coefficient between the metal material and the ceramic material during solidification shrinkage. The warp of the bonded substrate 122 can be further suppressed as compared with the first embodiment.
Further, since the heat conductive grease described in the first embodiment can enter the recess 113, it is possible to further improve the heat dissipation performance as compared with the first embodiment.

実施の形態3.
本実施の形態3における金属−セラミックス接合基板は、上述の実施の形態2における金属−セラミックス接合基板122と同じ構成を有し、窪み113の配置を、図3に示すように放熱面用金属板部109側の放熱面109aにおける少なくとも2箇所に設けた場合に限定し、放熱部品の締結用穴としたものである。尚、本実施の形態3における金属−セラミックス接合基板に対して「122A」を符番する。
Embodiment 3.
The metal-ceramics bonding substrate in the third embodiment has the same configuration as the metal-ceramics bonding substrate 122 in the second embodiment described above, and the arrangement of the recesses 113 is a metal plate for the heat dissipation surface as shown in FIG. The holes are used for fastening the heat-dissipating parts only when they are provided at at least two places on the heat-dissipating surface 109a on the side of the portion 109. In addition, "122A" is numbered with respect to the metal-ceramics bonding substrate in the third embodiment.

上述したように、放熱面用金属板部109の放熱面109aには、放熱フィンあるいは冷却ジャケット等の放熱部品が締結されるが、その際にボルト等の締結部材が係合する穴として窪み113を用いる。よって、実施の形態3における金属−セラミックス接合基板122Aでは、窪み113は、上記放熱部品に設けられている締結用穴と同心上に配置され、かつ窪み113の最大直径を締結用ボルトの頭部径よりも大きい直径とし、かつボルト頭部高さよりも深く形成する。 As described above, heat-dissipating parts such as heat-dissipating fins or cooling jackets are fastened to the heat-dissipating surface 109a of the metal plate portion 109 for heat-dissipating surfaces. Is used. Therefore, in the metal-ceramics bonding substrate 122A according to the third embodiment, the recess 113 is arranged concentrically with the fastening hole provided in the heat radiating component, and the maximum diameter of the recess 113 is set to the head of the fastening bolt. The diameter should be larger than the diameter and deeper than the height of the bolt head.

このように構成される実施の形態3における金属−セラミックス接合基板122Aは、実施形態2における金属−セラミックス接合基板122と同じ効果を有すると共に、さらに、放熱部品締結用穴を形成するための切削加工、レーザー加工、又はプレス加工の加工負荷を軽減することができる。よって、加工タクトを短縮し、かつ加工時におけるバリあるいはダレ等が締結用穴に発生するのを抑制でき、金属−セラミックス接合基板122Aの品質を改善することが可能となる。 The metal-ceramics bonding substrate 122A according to the third embodiment having such a structure has the same effect as the metal-ceramics bonding substrate 122 according to the second embodiment, and is further cut to form a hole for fastening a heat-dissipating component. , Laser processing, or press processing can reduce the processing load. Therefore, the machining tact can be shortened, burrs or sagging during machining can be suppressed from occurring in the fastening hole, and the quality of the metal-ceramic bonding substrate 122A can be improved.

実施の形態4.
図4は、実施の形態4における金属−セラミックス接合基板124を示している。この金属−セラミックス接合基板124は、上述の実施の形態2における金属−セラミックス接合基板122と同じ構成を有し、窪み113について、金属−セラミックス接合基板の回路パターン用金属板部108側における金属ベース部110の外周辺の全周囲に渡って段差状の窪み113を配置した形態を有する。尚、本実施の形態4では、窪み113に対して「113B」を符番する。また、この窪み113Bは、「位置決め部」と称することもできる。
Embodiment 4.
FIG. 4 shows the metal-ceramics bonding substrate 124 according to the fourth embodiment. The metal-ceramic bonding substrate 124 has the same configuration as the metal-ceramic bonding substrate 122 in the second embodiment described above, and the recess 113 is a metal base on the metal plate portion 108 side for the circuit pattern of the metal-ceramic bonding substrate. It has a form in which a stepped recess 113 is arranged over the entire circumference of the outer periphery of the portion 110. In the fourth embodiment, "113B" is numbered with respect to the recess 113. Further, the recess 113B can also be referred to as a "positioning portion".

ここで、金属−セラミックス接合基板の回路パターン用金属板部108側における金属ベース部110の外周辺の全周囲に渡って段差状の窪み113を配置した形態に限らず、金属ベース部110の外周辺に、金属−セラミックス接合基板122の中心を通る対称軸126に線対称として少なくとも2箇所に、窪み113Bを配置しても良い。また回路絶縁セラミックス基板104と金属ベース部110の外周辺との間に、金属ベース部110の外周辺に至らない窪み113Bを配置しても良い。 Here, the outside of the metal base portion 110 is not limited to the form in which the stepped recess 113 is arranged over the entire outer periphery of the metal base portion 110 on the side of the metal plate portion 108 for the circuit pattern of the metal-ceramics bonded substrate. In the periphery, recesses 113B may be arranged at at least two locations as line symmetry with respect to the axis of symmetry 126 passing through the center of the metal-ceramics bonded substrate 122. Further, a recess 113B that does not reach the outer periphery of the metal base portion 110 may be arranged between the circuit insulating ceramic substrate 104 and the outer periphery of the metal base portion 110.

このような窪み113Bは、金属ベース部110を形成する鋳型1の空洞部7に対して、上型2に突設した突起部によって形成される。尚、突起部について、実施の形態2では、金属−セラミックス接合基板122の中心を通る対称軸126に線対称として少なくとも2箇所に位置している。本実施形態4においてもこの考え方を採るが、実施の形態4における窪み113Bは、個別に点在するのではなく連続して延在する。しかしながら、線対称との観点からすれば、窪み113Bは2箇所に位置しており、各窪み113Bが連結した形態と言える。 Such a recess 113B is formed by a protrusion projecting from the upper mold 2 with respect to the hollow portion 7 of the mold 1 forming the metal base portion 110. In the second embodiment, the protrusions are located at least two positions in line symmetry with respect to the axis of symmetry 126 passing through the center of the metal-ceramics bonding substrate 122. This concept is also adopted in the fourth embodiment, but the depressions 113B in the fourth embodiment are not scattered individually but continuously extend. However, from the viewpoint of line symmetry, the recesses 113B are located at two locations, and it can be said that the recesses 113B are connected to each other.

このように構成される実施の形態4における金属−セラミックス接合基板124は、実施形態2における金属−セラミックス接合基板122と同じ効果を有すると共に、さらに以下の効果を得ることができる。
即ち、金属ベース部110に窪み113Bを有することから、金属−セラミックス接合基板124に対して筺体部品を接着剤等で一体に固定する際の位置決めとして窪み113Bを使用することができる。
したがって鋳造後に、金属−セラミックス接合基板124を筐体部品と接着剤等で固定する際の位置決めが容易となる。よって、位置決め用の治具を使用する必要がなくなり、さらに、金属−セラミックス接合基板124と筐体部品とを固定するタクトを短縮することが可能となる。
The metal-ceramics bonding substrate 124 according to the fourth embodiment configured as described above has the same effect as the metal-ceramics bonding substrate 122 according to the second embodiment, and can further obtain the following effects.
That is, since the metal base portion 110 has the recess 113B, the recess 113B can be used for positioning when the housing component is integrally fixed to the metal-ceramics bonding substrate 124 with an adhesive or the like.
Therefore, after casting, the metal-ceramics bonded substrate 124 can be easily positioned when it is fixed to the housing component with an adhesive or the like. Therefore, it is not necessary to use a positioning jig, and it is possible to shorten the tact for fixing the metal-ceramics bonding substrate 124 and the housing component.

また、上述した各実施の形態を組み合わせた構成を採ることも可能であり、また、異なる実施の形態に示される構成部分同士を組み合わせることも可能である。 Further, it is also possible to adopt a configuration in which the above-described embodiments are combined, and it is also possible to combine the components shown in the different embodiments.

1 鋳型、2 上型、3 下型、6 突出部、7 空洞部、
8 回路パターン用金属板形成部、9 放熱面用金属板形成部、
104 回路絶縁セラミックス基板、105 強化セラミックス板材、
108 回路パターン用金属板部、108a 部品実装面、
109 放熱面用金属板部、109a 放熱面、110 金属ベース部、
111 凹部、113,113B 窪み、
121,121A、122,122A、124 金属−セラミックス接合基板、
126 対称軸。
1 mold, 2 upper mold, 3 lower mold, 6 protrusions, 7 cavities,
8 Metal plate forming part for circuit pattern, 9 Metal plate forming part for heat dissipation surface,
104 Circuit Insulated Ceramic Substrate, 105 Reinforced Ceramic Plate,
108 Circuit pattern metal plate, 108a component mounting surface,
109 metal plate for heat dissipation surface, 109a heat dissipation surface, 110 metal base,
111 recess, 113, 113B recess,
121,121A, 122,122A, 124 Metal-ceramic bonding substrate,
126 axis of symmetry.

Claims (6)

金属材とセラミックス材とを直接に接合した基板であり、表面に部品実装面を有し裏面に放熱面を有する金属−セラミックス接合基板であって、
当該金属−セラミックス接合基板の厚み方向において、上記部品実装面と上記放熱面との間には、上記部品実装面を有する上記金属材の回路パターン用金属板部、上記放熱面を有する上記金属材の放熱面用金属板部、上記回路パターン用金属板部と上記放熱面用金属板部との間に位置する上記金属材の金属ベース部、上記回路パターン用金属板部と上記金属ベース部との間に位置しこれらを電気的に絶縁する回路絶縁セラミックス基板、及び、上記放熱面用金属板部と上記金属ベース部との間に位置する強化セラミックス板材を備え、
上記放熱面用金属板部は、上記放熱面から上記強化セラミックス板材まで延在し上記強化セラミックス板材が露出する凹部を有し、
当該金属−セラミックス接合基板の中心を通る対称軸に線対称として上記凹部とは異なって位置する少なくとも2つの窪みで、当該金属−セラミックス接合基板の厚み方向において上記放熱面から上記金属ベース部へ延在する窪みをさらに有し、
上記窪みは、上記放熱面に締結する放熱部品における締結用穴と同心上に位置し、かつ締結用ボルトの頭部径よりも大きい直径と上記締結用ボルトの頭部高さよりも深い形状を有する、
ことを特徴とする金属−セラミックス接合基板。
A substrate in which a metal material and a ceramic material are directly bonded, and a metal-ceramic bonding substrate having a component mounting surface on the front surface and a heat dissipation surface on the back surface.
In the thickness direction of the metal-ceramics bonded substrate, between the component mounting surface and the heat radiating surface, a metal plate portion for a circuit pattern of the metal material having the component mounting surface and the metal material having the heat radiating surface. Metal plate portion for heat dissipation surface, metal base portion of the metal material located between the metal plate portion for the circuit pattern and the metal plate portion for the heat dissipation surface, the metal plate portion for the circuit pattern and the metal base portion. It is provided with a circuit insulating ceramic substrate located between the two, and a reinforced ceramic plate material located between the metal plate portion for the heat dissipation surface and the metal base portion.
The heat dissipation surface metal plate unit may have a recess extending Mashimashi the reinforced ceramic plate from the heat radiation surface to the reinforcing ceramic plate is exposed,
At least two recesses located differently from the recesses in line symmetry along the axis of symmetry passing through the center of the metal-ceramics bonded substrate, extending from the heat dissipation surface to the metal base portion in the thickness direction of the metal-ceramics bonded substrate. Has more existing depressions,
The recess is located concentrically with the fastening hole in the heat radiating component to be fastened to the heat radiating surface, and has a diameter larger than the head diameter of the fastening bolt and a shape deeper than the head height of the fastening bolt. ,
A metal-ceramic bonding substrate characterized by this.
上記放熱面用金属板部は、上記金属ベース部の厚みよりも薄い厚みを有する、請求項1に記載の金属−セラミックス接合基板。 The metal-ceramic bonding substrate according to claim 1, wherein the heat-dissipating surface metal plate portion has a thickness thinner than the thickness of the metal base portion. 上記強化セラミックス板材は、上記金属−セラミックス接合基板の平面視において、上記回路絶縁セラミックス基板よりも大きい面積を有する、請求項2に記載の金属−セラミックス接合基板。 The metal-ceramic bonding substrate according to claim 2, wherein the reinforced ceramic plate material has a larger area than the circuit insulating ceramic substrate in a plan view of the metal-ceramic bonding substrate. 上記凹部は複数設けられており、上記金属−セラミックス接合基板の中心を通る対称軸に線対称に配置された、請求項1から3のいずれか1項に記載の金属−セラミックス接合基板。 The metal-ceramic bonding substrate according to any one of claims 1 to 3, wherein a plurality of the recesses are provided and arranged line-symmetrically on an axis of symmetry passing through the center of the metal-ceramic bonding substrate. 上記窪みは、回路パターン用金属板部側において当該金属−セラミックス接合基板の全周囲に位置する位置決め部である、請求項1から4のいずれか1項に記載の金属−セラミックス接合基板。 The metal-ceramic bonding substrate according to any one of claims 1 to 4, wherein the recess is a positioning portion located on the metal plate portion side for a circuit pattern around the entire circumference of the metal-ceramic bonding substrate. 金属材とセラミックス材とを直接に接合した基板であり、表面に部品実装面を有し裏面に放熱面を有する金属−セラミックス接合基板の製造方法であって、
上記金属−セラミックス接合基板は、当該金属−セラミックス接合基板の厚み方向において、上記部品実装面と上記放熱面との間には、上記部品実装面を有する上記金属材の回路パターン用金属板部、上記放熱面を有する上記金属材の放熱面用金属板部、上記回路パターン用金属板部と上記放熱面用金属板部との間に位置する上記金属材の金属ベース部、上記回路パターン用金属板部と上記金属ベース部との間に位置しこれらを電気的に絶縁する回路絶縁セラミックス基板、及び、上記放熱面用金属板部と上記金属ベース部との間に位置する強化セラミックス板材を備え、
当該製造方法は、
上記金属−セラミックス接合基板の鋳造時に、上記強化セラミックス板材を、鋳型に設けられた突出部によって上記放熱面側から支持し、
上記突出部が複数設けられており、上記金属−セラミックス接合基板の中心を通る対称軸に線対称に配置された、
ことを特徴とする金属−セラミックス接合基板の製造方法。
It is a substrate in which a metal material and a ceramic material are directly bonded, and is a method for manufacturing a metal-ceramic bonded substrate having a component mounting surface on the front surface and a heat dissipation surface on the back surface.
The metal-ceramics bonded substrate is a metal plate portion for a circuit pattern of the metal material having the component mounting surface between the component mounting surface and the heat radiation surface in the thickness direction of the metal-ceramics bonded substrate. The metal plate portion for the heat dissipation surface of the metal material having the heat dissipation surface, the metal base portion of the metal material located between the metal plate portion for the circuit pattern and the metal plate portion for the heat dissipation surface, the metal for the circuit pattern. It is provided with a circuit insulating ceramics substrate located between the plate portion and the metal base portion to electrically insulate them, and a reinforced ceramic plate material located between the metal plate portion for heat dissipation surface and the metal base portion. ,
The manufacturing method is
At the time of casting the metal-ceramic bonding substrate, the reinforced ceramic plate material is supported from the heat radiating surface side by a protrusion provided on the mold .
A plurality of the above-mentioned protrusions are provided, and are arranged line-symmetrically on the axis of symmetry passing through the center of the above-mentioned metal-ceramics bonded substrate.
A method for manufacturing a metal-ceramic bonded substrate.
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