JP6825989B2 - 発光装置 - Google Patents

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Description

本発明は、有機LED(Organic Light Emitting diode:OLED)素子等の発光ダイオード素子を備えた発光装置に関するものである。
従来の発光装置の1例を図4に示す。図4(a)は発光装置の全体の平面図、(b)は(a)のA部及びIC,LSI等から成る駆動素子34を拡大して示す回路図である。この発光装置は、有機LEDプリンタヘッド(OLEDPH)に適用されるものであり、ガラス基板等から成る長板状の基板31の一面に、複数の発光ダイオード素子33の発光(点灯)をそれぞれ駆動する複数の駆動回路ブロック32と、基板31の長手方向に沿って2列(2行または2段)に並べられて配置された複数の発光ダイオード素子33と、駆動回路ブロック32を構成する配線及び駆動回路ブロック32と発光ダイオード素子33を接続する配線とが、CVD(Chemical Vapor Deposition)法等の薄膜形成法によって形成されている。複数の駆動回路ブロック32は、複数の発光ダイオード素子33の列に沿って列状に並べられており、例えば1つの駆動回路ブロック32が400個の発光ダイオード素子33を駆動するものであり、その駆動回路ブロック32が20個並べられている。従って、発光ダイオード素子33は合計で8000個ある。また、基板31の一面の一端部には駆動回路ブロック32及び発光ダイオード素子33を駆動し発光ダイオード素子33の発光を制御する駆動素子34が、チップオングラス(Chip On Glass:COG)方式等の実装方法によって、設置されている。また、基板31の一面における駆動素子34設置部の近傍の縁部に、フレキシブル回路基板(Flexible Printed Circuit:FPC)35が設置されている。このFPC35は、駆動素子34との間で駆動信号、制御信号等を入出力する。なお、図4において、符号37で示す部位は、駆動素子34と駆動回路ブロック32を接続するデータ配線等の配線である。
図4(b)に示すように、2列を成す2個の発光ダイオード素子33a,33bに対して1組の駆動回路が形成されており、1組の駆動回路は、シフトレジスタ40、論理和否定(NOR)回路41、インバータ42、CMOSトランスファゲート素子43a,43b、薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor:TFT)44a,44bを有している。TFT44a,44bの各ドレイン電極に有機LED素子等から成る発光ダイオード素子33a,33bがそれぞれ接続されている。また、TFT44a,44bのそれぞれは、ゲート電極とソース電極との間の接続線上に容量素子45a,45bが接続されている。
1組の駆動回路は、以下のように順次動作する。シフトレジスタ40は、クロック端子(CLK)にハイ(「1」)のクロック信号(CLK)が入力されるとともに入力端子(in)にハイの同期信号(Vsync)が入力されたときに、出力端子(Q)からハイ(H:「1」)の信号が出力されるとともに反転出力端子(XQ)からロー(L:「0」)の信号が出力される。次に、NOR回路41は、反転出力端子(XQ)からローの信号が入力されるとともに反転イネーブル信号(XENB)であるローの信号が入力されて、ハイの信号を出力する。次に、インバータ42はローの信号を出力する。次に、CMOSトランスファゲート素子43aは、n型MOSトランジスタのゲート電極にNOR回路41からのハイの信号が入力されるとともにp型MOSトランジスタのゲート電極にインバータ42からローの信号が入力されてオン状態となり、データ信号(DATA11)を出力する。次に、データ信号(DATA11)がTFT44aのゲート電極に入力されてTFT44aがオン状態となり、データ信号(DATA11)に応じた電源電圧(VDD)による電源電流が発光ダイオード素子33aに供給される。同時に、CMOSトランスファゲート素子43bは、n型MOSトランジスタのゲート電極部にNOR回路41からのハイの信号が入力されるとともにp型MOSトランジスタのゲート電極部にインバータ42からローの信号が入力されてオン状態となり、データ信号(DATA12)を出力する。次に、データ信号(DATA12)がTFT44bのゲート電極に入力されてTFT44bがオン状態となり、データ信号(DATA12)に応じた電源電圧(VDD)による電源電流が発光ダイオード素子33bに供給される。以上の一連の動作が、次段の駆動回路によって順次実行されていき、すべての発光ダイオード素子33が順次発光していく。
また図5は、他の従来例を示す図であり、基板31の長手方向に沿って4列(4行または4段)に並べられて配置された複数の発光ダイオード素子33を有する構成を示す。この場合、上側2列の発光ダイオード素子33群に電源電流を供給する上側の駆動回路ブロック32群と、下側2列の発光ダイオード素子33群に電源電流を供給する下側の駆動回路ブロック32群と、を有している。
また、図4、図5に示すように、基板31の発光ダイオード素子搭載面の周縁部と、封止基板36の基板31に対向する面の周縁部とが、シール部材38によって接着され封止されている。そして、シール部材38の内側の空間には、アクリル樹脂等から成る絶縁層(図7の絶縁層59に相当する)が、駆動回路ブロック32、発光ダイオード素子33、配線37等のほとんどを覆うように配置されている。
図6は、図5のB部を拡大して示す部分拡大平面図、図7は、図6のC1−C2線における断面図である。これらの図に示すように、発光装置は、ガラス基板等の透光性を有する基板51上に形成されたTFT62と、TFT62上にアクリル樹脂、窒化シリコン(SiNx)等から成る絶縁層57を挟んで積層された有機発光体部71、及び有機発光体部71とTFT62のドレイン電極56bとを導電接続するコンタクトホール72を含んでいる。有機発光体部71は、TFT62の側からコンタクトホール72に電気的に接続された第1電極層58、有機発光層60、第2電極層61が積層されており、絶縁層57及び第1電極層58上に有機発光層60を囲むようにアクリル樹脂等から成る他の絶縁層59が形成されている。
また、図5、図6において、符号33Lで示す部位は第1電極層58及び第2電極層61によって有機発光層60に直接的に電界が印加されて発光する発光部である。発光ダイオード素子33は、平面視で、発光部33L、その周囲の第1電極層58及び有機発光層60を含む部位である。また、第1電極層58が陽極であってインジウム錫酸化物(Indium Tin Oxide :ITO)等の透明電極から成り、第2電極層61が陰極であってAl,Al−Li合金,Mg−Ag合金(Agを5〜10重量%程度含む),Mg−Cu合金(Cuを5〜10重量%程度含む)等の仕事関数が約4.0V以下と低く遮光性、光反射性を有する金属、合金から成る場合、有機発光層60で発光した光は基板51側から出射される。即ち、発光方向(図7の白抜き矢印で示す方向)が下方(底部方向)であるボトムエミッション型の発光装置となる。一方、第1電極層58が陰極であって上記の遮光性、光反射性を有する金属またはそれらの合金から成り、第2電極層61が陽極であって透明電極から成る場合、発光方向が上方(頂部方向)であるトップエミッション型の発光装置となる。
TFT62は、基板51側から、ゲート電極52、ゲート絶縁膜53、チャネル部としてのポリシリコン膜54及びポリシリコンに不純物をチャネル部よりも高濃度に含有させた高濃度不純物領域54aから成る半導体膜、窒化シリコン(SiNx),酸化シリコン(SiO2)等から成る絶縁膜55、ソース電極56a及びドレイン電極56bが、順次積層された構成を有している。なお、図5において、符号56aLで示す部位はソース電極56aにソース信号(電源電流)を伝達するソース信号線(電源配線)であり、符号52Lで示す部位はゲート電極52にゲート信号を伝達するゲート信号線である。各ゲート信号線52Lに入力するゲート信号の電圧を制御することにより、各有機発光層60の発光強度を制御することができる。すなわち、ソース信号線56aLは電源配線として機能する。
また、図8は図4(b)のD部を拡大して示す回路図であり、発光ダイオード素子33aと、そのカソード側(正電圧側)に配置された駆動用のTFT44aと、を示す。図8(a)に示すように、TFT44aは、ゲート電極に駆動素子34からゲート電圧(DATA12)Vgが入力されており、ゲート電圧Vgの電圧値によって発光ダイオード素子33aに印加される駆動電圧Vsおよび駆動電流Idが制御される。なお、ゲート電圧Vgは、駆動素子34に含まれるDAC(Digital to Analog Convertor)回路部から供給される。
図8(b)に示すように、発光ダイオード素子33aを発光させないオフ期間において、ゲート電圧Vgはゲートオフ電圧Vgoffであり、Vgoffはアノード電圧Va(VDD)に等しく一定であり、例えば14Vである。発光ダイオード素子33aを発光させるオン期間において、ゲート電圧Vgは、ゲート電圧オフゾーンVgoffz(14V〜12V)およびゲート電圧オンゾーンVgonz(12V〜8V)において電圧値が制御される。
図8(c)に示すように、オフ期間において、駆動電圧Vsは駆動オフ電圧Vsoffであり、カソード電圧Vc(VSS)に等しく一定であり、0Vである。オン期間において、駆動電圧Vsは、駆動電圧オフゾーンVsoffz(0V〜2V)および駆動電圧オンゾーンVsonz(2V〜6V)において電圧値が制御される。
また他の従来例として、1ラインに配列される複数の発光ダイオード素子と、電源側の給電点に接続される薄膜配線で形成した第1の電源線と、接地側の給電点に接続される薄膜配線で形成した第2の電源線とを備え、各発光ダイオード素子を第1の電源線および第2の電源線間に接続するラインヘッドであって、第1の電源線と第2の電源線間に、電源線の電圧変動抑制手段(コンデンサ)を接続したラインヘッドが提案されている(例えば、特許文献1を参照)。
特開2005−153372号公報
しかしながら、図4〜図8に示す上記従来の発光装置においては、以下の問題点があった。図8(c)に示すように、詳細な原因は不明であるが、発光装置がオフ期間からオン期間に切り替わった直後に、駆動電圧Vsが駆動電圧オンゾーンVsonz(4V〜6V)を超えた電圧値となるオーバーシュートが、200μsec(マイクロ秒)程度の期間発生していた。このオーバーシュートの期間には、駆動電流Idの最大値よりも大きい過電流が発光ダイオード素子33aに流れるために、発光装置を用いて感光ドラム等の感光部材を露光し印刷して得られた画像、印字に周期的な印刷ムラ、印字ムラが発生するという問題点があった。なお、上記オーバーシュートが発生する原因としては、P型半導体(PMOS)に特有のスロートラップ現象等が考えられる。
また、特許文献1に開示された電圧変動抑制手段はコンデンサであり、経時的にオーバーシュートの絶対値が大きくなったり、期間が長くなるという変動に対して対応することが非常に難しいという問題点があった。
本発明は、上記の問題点に鑑みて完成されたものであり、その目的は、発光ダイオード素子の駆動電圧がオフ期間からオン期間に切り替わった直後にオーバーシュートすることを効果的に抑えること、さらには経時的にオーバーシュートの絶対値が大きくなったり、オーバーシュートの期間が長くなるという変動があったとしても、対応できるようにすることである。
本発明の発光装置は、アノード電極およびカソード電極を有する発光ダイオード素子と、前記アノード電極に接続され、前記発光ダイオード素子に印加される駆動電圧を制御することによって前記発光ダイオード素子のオン、オフを制御するスイッチ素子と、を有す
る発光装置であって、前記スイッチ素子は、前記発光ダイオード素子のオフ時に、前記発光ダイオード素子の順方向電圧以下の電圧を前記発光ダイオード素子に印加するpチャネル薄膜トランジスタであり、そのゲート電極にゲート電圧を制御するゲート電圧制御手段が接続されており、前記ゲート電圧制御手段は、前記発光ダイオード素子のアノード電圧(ただし、アノード電圧は電源電圧に等しい)をV1、前記順方向電圧をV2としたとき、前記オフ時に(V1−V2)以上でV1未満の前記ゲート電圧を前記ゲート電極に印加する構成である。
本発明の発光装置は、好ましくは、前記アノード電圧は14Vであり、前記順方向電圧は0.5V〜2Vである。
また本発明の発光装置は、好ましくは、前記発光ダイオード素子と前記スイッチ素子を接続する接続線に前記発光ダイオード素子と並列に接続されたバイパス回路を有しており、前記バイパス回路は、前記発光ダイオード素子のオフ時に前記発光ダイオード素子よりも低抵抗であり、前記発光ダイオード素子のオン時に前記発光ダイオード素子よりも高抵抗である。
また本発明の発光装置は、好ましくは、前記バイパス回路は、nチャネル薄膜トランジスタを有しており、前記nチャネル薄膜トランジスタは、ドレイン電極が前記発光ダイオード素子の前記カソード電極に接している。
本発明の発光装置は、アノード電極およびカソード電極を有する発光ダイオード素子と、前記アノード電極に接続され、前記発光ダイオード素子に印加される駆動電圧を制御することによって前記発光ダイオード素子のオン、オフを制御するスイッチ素子と、を有する発光装置であって、前記スイッチ素子は、前記発光ダイオード素子のオフ時に、前記発光ダイオード素子の順方向電圧以下の電圧を前記発光ダイオード素子に印加するpチャネル薄膜トランジスタであり、そのゲート電極にゲート電圧を制御するゲート電圧制御手段が接続されており、前記ゲート電圧制御手段は、前記発光ダイオード素子のアノード電圧(ただし、アノード電圧は電源電圧に等しい)をV1、前記順方向電圧をV2としたとき、前記オフ時に(V1−V2)以上でV1未満の前記ゲート電圧を前記ゲート電極に印加する構成であることから、以下の効果を奏する。スイッチ素子は、発光ダイオード素子のオフ時に、0Vを超え発光ダイオード素子の順方向電圧以下の電圧を発光ダイオード素子に印加しているので、オフ期間に発光ダイオード素子に印加される電圧と、オン期間に発光ダイオード素子に印加される駆動電圧との電位差が、従来よりも小さくなる。その結果、オフ期間からオン期間に切り替わった直後に駆動電圧がオーバーシュートすることを効果的に抑えることができる。また、経時的にオーバーシュートの絶対値が大きくなったり、オーバーシュートの期間が長くなるという変動があったとしても、pチャネル薄膜トランジスタのゲート電圧を制御することによって、オーバーシュートの変動に対応してオーバーシュートを効果的に抑えることができる。
本発明の発光装置は、前記アノード電圧は14Vであり、前記順方向電圧は0.5V〜2Vである場合、経時的にオーバーシュートの絶対値が大きくなったり、オーバーシュー
トの期間が長くなるという変動があったとしても、pチャネル薄膜トランジスタのゲート電圧を制御することによって、オーバーシュートの変動に対応してオーバーシュートを確実に抑えることができる。
また本発明の発光装置は、前記発光ダイオード素子と前記スイッチ素子を接続する接続線に前記発光ダイオード素子と並列に接続されたバイパス回路を有しており、前記バイパス回路は、前記発光ダイオード素子のオフ時に前記発光ダイオード素子よりも低抵抗であり、前記発光ダイオード素子のオン時に前記発光ダイオード素子よりも高抵抗である場合、発光ダイオード素子のオフ時に、主にバイパス回路に上記電圧によって生じた電流が流れ、発光ダイオード素子に電流が殆ど流れないようにすることができる。その結果、発光ダイオード素子のオフ時に発光ダイオード素子が発光することを抑えることができる。また、発光ダイオード素子のオン時に、主に発光ダイオード素子に駆動電流が流れ、バイパス回路に電流が殆ど流れないようにすることができる。その結果、発光ダイオード素子のオン時に発光ダイオード素子を効率的に駆動することができる。上記の動作は、発光ダイオード素子は、順方向電圧(0.5V〜2V程度)以下の印加電圧では殆ど電流が流れない高抵抗状態となり、順方向電圧を超える印加電圧では急激に電流が流れ出す低抵抗状態となるという特性によって、実現できる。
また本発明の発光装置は、前記バイパス回路は、nチャネル薄膜トランジスタを有しており、前記nチャネル薄膜トランジスタは、ドレイン電極が前記発光ダイオード素子の前記カソード電極に接している場合、nチャネル薄膜トランジスタのドレイン電極に接続される配線を省くことができるとともに、カソード電極の面積が大きくなる。その結果、小型化された発光装置となるとともに、カソード電極が低抵抗化されてカソード電圧が安定する。そうすると、発光ダイオード素子およびその周辺の回路におけるインダクタンス等の回路定数が経時的に変動することを抑えて、オーバーシュートの発生を抑えることができる。
図1(a),(b),(c)は、本発明の発光装置について実施の形態の1例を示す図であり、(a)は発光ダイオード素子およびスイッチ素子の回路図、(b)はオフ期間及びオン期間における、pチャネル薄膜トランジスタから成るスイッチ素子のゲート電圧を示すグラフ、(c)はオフ期間及びオン期間における、発光ダイオード素子に印加される駆動電圧を示すグラフである。 図2は、本発明の発光装置について実施の形態の他例を示す図であり、図1の構成において発光ダイオード素子と並列にバイパス回路が接続された構成の回路図である。 図3は、本発明の発光装置について実施の形態の他例を示す図であり、図2の構成においてバイパス回路を構成するnチャネル薄膜トランジスタのドレイン電極が発光ダイオード素子のカソード電極に接している構成の回路図である。 図4(a),(b)は、従来の発光装置の1例を示すものであり、(a)は発光装置の平面図、(b)は発光装置の回路図である。 図5は、従来の発光装置の他例を示すものであり、発光装置の平面図である。 図6は、図5のB部を拡大して示す部分拡大平面図である。 図7は、図6のC1−C2線における断面図である。 図8(a),(b),(c)は、図4の発光装置を示すものであり、(a)は図4のD部を拡大して示す回路図、(b)はオフ期間およびオン期間における駆動用のTFTのゲート電圧Vgを示すグラフ、(c)はオフ期間およびオン期間における発光ダイオード素子の駆動電圧Vsを示すグラフである。
以下、本発明の発光装置の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。但し、以下で参照する各図は、本発明の発光装置の実施の形態における構成部材のうち、本発明の発光装置を説明するための主要な構成部材を示している。従って、本発明の発光装置は、図に示されていない回路基板、配線導体、制御IC,LSI等の周知の構成部材を備えていてもよい。なお、本発明の発光装置を示す図1〜図3において、従来例を示す図8と同じ部位には同じ符号を付しており、それらの詳細な説明は省く。
図1(a)は、本発明の発光装置について実施の形態の1例を示す図であり、発光装置を構成する発光ダイオード素子およびスイッチ素子の回路図である。同図に示すように、本発明の発光装置は、アノード電極33aaおよびカソード電極33acを有する発光ダイオード素子33aと、発光ダイオード素子33aのアノード電極33aaに接続され、発光ダイオード素子33aに印加される駆動電圧を制御することによって発光ダイオード素子33aのオン、オフを制御するスイッチ素子としてのTFT44aと、を有する発光装置であって、TFT44aは、発光ダイオード素子33aのオフ時に、0Vを超え発光ダイオード素子33aの順方向電圧(0.5V〜2V程度)以下の電圧を発光ダイオード素子33aに印加する構成である。この構成により以下の効果を奏する。TFT44aは、発光ダイオード素子33aのオフ時に、0Vを超え発光ダイオード素子33aの順方向電圧以下の電圧Vsoffa(図1(c)に記載)を発光ダイオード素子33aに印加しているので、オフ期間に発光ダイオード素子33aに印加される電圧Vsoffaと、オン期間に発光ダイオード素子33aに印加される駆動電圧Vsとの電位差が、従来よりも小さくなる。その結果、オフ期間からオン期間に切り替わった直後に駆動電圧Vsがオーバーシュートすることを効果的に抑えることができる。
本発明の発光装置は、TFT44aは、pチャネルTFTであり、そのゲート電極にゲート電圧を制御するゲート電圧制御手段が接続されている。れにより、経時的にオーバーシュートの絶対値が大きくなったり、オーバーシュートの期間が長くなるという変動があったとしても、pチャネルTFTのゲート電圧を制御することによって、オーバーシュートの変動に対応してオーバーシュートを効果的に抑えることができる。図1(a)に示すゲート電圧制御手段は、駆動素子34に含まれるDAC回路部と、DAC回路部の出力の電位を制御する可変抵抗1と、から成るが、この構成に限らず、駆動素子34に含まれるRAM,ROM等のプログラマブル領域から成る、DAC回路部の制御部であってもよい。あるいは、ゲート電圧制御手段は、IC,LSI等の他の駆動素子であってもよく、さらには基板上にCVD法等の薄膜形成法によって形成された、低温ポリシリコン(Low-Temperature Poly Silicon:LTPS)から構成された薄膜回路であってもよい。
図1(b)はオフ期間及びオン期間における、pチャネルTFTから成るスイッチ素子44aのゲート電圧Vgを示すグラフである。同図に示すように、オフ期間において、ゲート電圧Vgはアノード電圧(VDD:14V)よりも小さいゲート低電圧Vgoffa(例えば、12V)とされる。これにより、オフ期間に発光ダイオード素子33aに電圧Vsoffa(例えば、2V)を印加することができる。電圧Vsoffaは、0Vを超え発光ダイオード素子33aの順方向電圧(0.5V〜2V程度)以下の電圧であることから、ゲート電圧Vgoffaは、(アノード電圧−順方向電圧)以上でアノード電圧未満の範囲内の電圧値となる。なお、図1(b)において、Vgoffzはオン期間におけるゲート電圧オフゾーン(12V〜10V)、Vgonzはオン期間におけるゲート電圧オンゾーン(10V〜8V)である。
図1(c)はオフ期間及びオン期間における、発光ダイオード素子33aに印加される駆動電圧Vsを示すグラフである。同図に示すように、オフ期間において、電圧Vsoffa(例えば、2V)が発光ダイオード素子33aに印加される。その結果、電圧Vsoffaと、オン期間に発光ダイオード素子33aに印加される駆動電圧Vsとの電位差が、最大で4Vとなり、図8に示す従来の最大値6Vよりも小さくなる。なお、図1(c)において、Vsoffzはオン期間における駆動電圧オフゾーン(2V〜4V)、Vsonzはオン期間における駆動電圧オンゾーン(4V〜6V)である。
本発明の発光装置において、電圧Vsoffaは、1V〜2V程度であることが好ましい。1V未満では、オーバーシュートの発生を抑えにくくなる傾向がある。2Vを超えると、発光ダイオード素子33aのオフ時にその順方向電圧を超える電圧が発光ダイオード素子33aに印加されるために、発光ダイオード素子33aの発光がオフ時に目立ちやすくなる傾向がある。
本発明の発光装置は、図2に示すように、発光ダイオード素子33aとTFT44aを接続する接続線3に発光ダイオード素子33aと並列に接続されたバイパス回路2を有しており、バイパス回路2は、発光ダイオード素子33aのオフ時に発光ダイオード素子33aよりも低抵抗であり、発光ダイオード素子33aのオン時に発光ダイオード素子33aよりも高抵抗であることが好ましい。この場合、発光ダイオード素子33aのオフ時に、主にバイパス回路2に電圧Vsoffaによって生じた電流Ida(2μA〜4μA程度)が流れ、発光ダイオード素子33aに電流が殆ど流れないようにすることができる。その結果、発光ダイオード素子33aのオフ時に発光ダイオード素子33aが発光することを抑えることができる。また、発光ダイオード素子33aのオン時に、主に発光ダイオード素子33aに駆動電流が流れ、バイパス回路2に電流が殆ど流れないようにすることができる。その結果、発光ダイオード素子33aのオン時に発光ダイオード素子33aを効率的に駆動することができる。上記の動作は、発光ダイオード素子33aは、順方向電圧(0.5V〜2V程度)以下の印加電圧では殆ど電流が流れない高抵抗状態となり、順方向電圧を超える印加電圧では急激に電流が流れ出す低抵抗状態となるという特性によって、実現できる。
バイパス回路2は、接続線3に発光ダイオード素子33aと並列に接続されたnチャネルTFT2aと、nチャネルTFT2aのゲート電極に接続され、nチャネルTFT2aに電流Idaが流れる程度の正電圧をゲート電極に印加する電源2bと、から構成される。
また本発明の発光装置は、バイパス回路2は、発光ダイオード素子33aのオフ時に電圧Vsoffaによって生じた電流Idaが流れ、発光ダイオード素子33aのオン時に電流が流れないことが好ましい。この場合、発光ダイオード素子33aのオフ時に発光ダイオード素子33aが発光することを防ぐことができ、発光ダイオード素子33aのオン時に発光ダイオード素子33aをより効率的に駆動することができる。
また本発明の発光装置は、図3に示すように、バイパス回路2は、nチャネルTFT2aを有しており、nチャネルTFT2aは、ドレイン電極2adが発光ダイオード素子33aのカソード電極33acに接していることが好ましい。この場合、nチャネルTFT2aのドレイン電極2adに接続される配線を省くことができるとともに、カソード電極33acの面積が大きくなる。その結果、小型化された発光装置となるとともに、カソード電極33acが低抵抗化されてカソード電圧が安定する。そうすると、発光ダイオード素子33aおよびその周辺の回路におけるインダクタンス等の回路定数が経時的に変動することを抑えて、オーバーシュートの発生を抑えることができる。
nチャネルTFT2aのドレイン電極2adが発光ダイオード素子33aのカソード電極33acに接している構成は、図7に示すTFT62(図1〜図3のTFT44aに相当する)と同様の構成である。すなわち、nチャネルTFT2aのドレイン電極2adが、コンタクトホールを介して発光ダイオード素子33aのカソード電極33ac(図7の第2の電極層61に相当し、Al等から成る)に接続されている構成である。この構成は、nチャネルTFT2aのドレイン電極2adを覆う絶縁層に、コンタクトホールとなる貫通孔をドレイン電極2adに達するように形成し、貫通孔を通してドレイン電極2adの一部が露出した状態とする。その状態で、露出したドレイン電極2adの一部と、貫通孔の側面と、を覆うカソード電極33acを蒸着法等によって成膜する。これにより、ドレイン電極2adがカソード電極33acに接している構成となる。
本発明の発光装置は、例えばその発光ダイオード素子33aの発光部が有機発光層を有するものであるが、発光部は、第1の電極層、有機発光層、第2の電極層が積層されて構成される。陽極である第1の電極層に用いられる透明電極は、インジウム錫酸化物(ITO)、インイジウム亜鉛酸化物(IZO)、酸化珪素を添加したインジウム錫酸化物(ITSO)、酸化亜鉛(ZnO)、リン,ボロンを含むシリコン(Si)等の導電性材料であって透光性を有する材料から成る。陰極である第2の電極層は、Al,Al−Li合金,Mg−Ag合金(Agを5〜10重量%程度含む),Mg−Cu合金(Cuを5〜10重量%程度含む)等の仕事関数が約4.0V以下と低く遮光性、光反射性を有する金属、合金から成る。
有機発光層は、バックライトが不要な自発光型の有機電界発光性を有するものである。例えば有機発光層は数100nm程度の厚みを有する積層構造体であり、陰極側から電子輸送層、発光層、正孔輸送層、正孔注入層、陽極を積層したものである。電極層間の各層の厚みは数nm〜数100nm程度である。電極層を含む厚みは1μm程度である。有機発光層の発光層の発光材料としては、低分子蛍光色素材料、蛍光性の高分子材料、金属錯体材料等が採用し得る。
発光層に正孔を注入しやすくするためには発光層のイオン化エネルギーが6.0eV以下であることがよく、発光層に電子を注入しやすくするためには発光層の電子親和力が2.5eV以上であることがよい。発光層の発光材料としては、トリス(8-キノリノラト)アルミニウム錯体(Alq)、ビス(ベンゾキノリノラト)ベリリウム錯体(BeBq)、トリ(ジベンゾイルメチル)フェナントロリンユーロピウム錯体(Eu(DBM)3(Phen))、ジトルイルビニルビフェニル(DTVBi)などがある。高分子材料としては、蛍光性のポリ(p−フェニレンビニレン)、ポリアルキルチオフェン等のπ共役高分子があり、これらの高分子材料は置換基の導入によってキャリア輸送性を制御することができる。電子輸送層の材料としては、アントラキノジメタン誘導体、ジフェニルキノン誘導体、オキサジアゾール誘導体、ペリレンテトラカルボン酸誘導体等が採用し得る。正孔輸送層の材料としては、1,1-ビス(4-ジ-p-アミノフェニル)シクロヘキサン、トリフェニルアミン誘導体、カルバゾール誘導体等が採用し得る。正孔輸送層に正孔を注入する正孔注入層の材料としては、銅フタロシアニン、無金属フタロシアニン、芳香族ジアミン等が採用し得る。
第1の電極層、有機発光層、第2の電極層は、蒸着法、スパッタリング法等の薄膜形成法等によって形成され得る。例えば、第1の電極層はスパッタリング法等によって形成でき、有機発光層は真空蒸着法、インクジェット法、スピンコート法、印刷法等によって形成でき、第2の電極層は電子ビーム(Electron Beam:EB)蒸着法、スパッタリング法等によって形成できる。
発光ダイオード素子33aを駆動制御等する各TFTは、基板側から、ゲート電極、ゲート絶縁膜、チャネル部としてのポリシリコン膜及びポリシリコンに不純物をチャネル部よりも高濃度に含有させた高濃度不純物領域から成る半導体膜、窒化シリコン(SiNx),酸化シリコン(SiO2)等から成る絶縁膜、ソース電極及びドレイン電極が、順次積層された構成を有している。TFTを構成する半導体は低温ポリシリコン(Low-Temperature Poly Silicon:LTPS)、アモルファスシリコン、インジウムガリウム亜鉛酸化物(Indium Gallium Zinc Oxide:IGZO)等の酸化物半導体などから成っていてもよい。またTFTは、ゲート電極がチャネル部の下方にあるボトムゲート型のTFTであるか、またはゲート電極がチャネル部の上方にあるトップゲート型のTFTであってもよく、さらにゲート電極がチャネル部の下方及び上方の双方にあるダブルゲート型のTFTであってもよい。トップゲート型のTFT、ダブルゲート型のTFTは、一般に遮光性を有する金属等から成るゲート電極がチャネル部の上方にあるので、チャネル部に光が入り込むことをより抑えることができ好適である。
なお、本発明の発光装置は、上記実施の形態に限定されるものではなく、適宜の変更、改良が施されていてもよい。
本発明の発光装置は、高速のスイッチング動作が要求される、有機LEDプリンタヘッド(OLEDPH)、光通信装置等に好適に用いられる。本発明の発光装置は、例えばOLEDPHとして構成する場合、長板状の基板の長手方向に複数の発光ダイオード素子を列状に並ぶように形成する。また、基板上に複数の発光ダイオード素子を2次元的(平面的)に並ぶように配置することによって有機EL表示装置として構成し得る。さらに本発明の発光装置を用いた有機EL表示装置は、各種の電子機器に適用できる。その電子機器としては、照明装置、自動車経路誘導システム(カーナビゲーションシステム)、船舶経路誘導システム、航空機経路誘導システム、自動車等の乗り物の計器用インジケータ、インスツルメントパネル、スマートフォン端末、携帯電話、タブレット端末、パーソナルデジタルアシスタント(PDA)、ビデオカメラ、デジタルスチルカメラ、電子手帳、電子書籍、電子辞書、パーソナルコンピュータ、複写機、ゲーム機器の端末装置、テレビジョン、商品表示タグ、価格表示タグ、産業用のプログラマブル表示装置、カーオーディオ、デジタルオーディオプレイヤー、ファクシミリ、プリンター、現金自動預け入れ払い機(ATM)、自動販売機、医療用表示装置、ヘッドマウントディスプレイ(HMD)、デジタル表示式腕時計、スマートウォッチなどがある。
1 可変抵抗
2 バイパス回路
2a nチャネルTFT
2ad ドレイン電極
2b 電源
3 接続線
33a 発光ダイオード素子
33aa アノード電極
33ac カソード電極
46a pチャネルTFT
Vsoffa 電圧
Ida 電流

Claims (4)

  1. アノード電極およびカソード電極を有する発光ダイオード素子と、
    前記アノード電極に接続され、前記発光ダイオード素子に印加される駆動電圧を制御することによって前記発光ダイオード素子のオン、オフを制御するスイッチ素子と、を有する発光装置であって、
    前記スイッチ素子は、前記発光ダイオード素子のオフ時に、前記発光ダイオード素子の順方向電圧以下の電圧を前記発光ダイオード素子に印加するpチャネル薄膜トランジスタであり、そのゲート電極にゲート電圧を制御するゲート電圧制御手段が接続されており、
    前記ゲート電圧制御手段は、前記発光ダイオード素子のアノード電圧(ただし、アノード電圧は電源電圧に等しい)をV1、前記順方向電圧をV2としたとき、前記オフ時に(V1−V2)以上でV1未満の前記ゲート電圧を前記ゲート電極に印加する発光装置。
  2. 前記アノード電圧は14Vであり、前記順方向電圧は0.5V〜2Vである請求項1に記載の発光装置。
  3. 前記発光ダイオード素子と前記スイッチ素子を接続する接続線に前記発光ダイオード素子と並列に接続されたバイパス回路を有しており、
    前記バイパス回路は、前記発光ダイオード素子のオフ時に前記発光ダイオード素子よりも低抵抗であり、前記発光ダイオード素子のオン時に前記発光ダイオード素子よりも高抵抗である請求項1または請求項2に記載の発光装置。
  4. 前記バイパス回路は、nチャネル薄膜トランジスタを有しており、
    前記nチャネル薄膜トランジスタは、ドレイン電極が前記発光ダイオード素子の前記カソード電極に接している請求項3に記載の発光装置。
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