JP6815898B2 - メモリモジュール、メモリシステム、及びその方法 - Google Patents
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Description
追加的に、非同期式通信プロトコルはメモリモジュールがメモリコントローラへ装置フィードバック(Device Feedback)を提供するようにできる。DIMM(Dual In−line Memory Module)及びメモリモジュール用語は本明細書で相互交換的に利用できる。ここでDIMMは、DRAMを含む標準DIMM、NVM(Non Volatile Memory)を含むNVDIMM、又はDRAM及びNVMを含むハイブリッド(Hybrid)DIMMの何れかであり得る。
ホストは異なるアドレス範囲を有するDRAM及びNVMに対してDRAM作業又はNVM作業を分離して送付できる。例えば、DDR標準のC[2]ピンはDRAM及びNVMのアドレス範囲を分離するために利用できる。C[2] ピンがロー(Low、0に設定)である場合、DRAMが選択される。そして、C[2]ピンがハイ(High、1に設定)である場合、NVMが選択される。キャッシュモードでは、DRAMはNVMのキャッシュとして動作できる。DRAMキャッシュはホストに対して透明(transparent)であり、ハイブリッドDIMM内部のコントローラによって管理される。
非同期式通信プロトコルは拡張されるか、或いは、用途変更されたRAM及びモジュールのピンを利用するので、不揮発性メモリ121及び揮発性メモリ122は同一のメモリモジュール120に共に配置でき、同一のメモリチャンネル(例えば、DDRメモリチャンネル)を通じてメモリコントローラ110と通信できる。さらに、本、非同期式通信プロトコルは、メモリモジュール120が、本、非同期式通信プロトコルを利用してDDRメモリチャンネルを通じてメモリコントローラ110に装置フィードバックを提供することを可能にする。
この場合、装置フィードバックは、DRAMのオープンページと類似な方式により、不揮発性メモリのデータバッファにデータが位置したことを示す。メモリモジュールの状態に基づいて、メモリコントローラはメモリチャンネル上に読出し信号RDを何時発送するかを決定する。読出し信号RDがラッチされた後、要請されたデータは事前に決定された時間だけ遅延された後、メモリモジュールのデータ出力ピンに示される。活性化命令ACTとフィードバック信号との間、及び、フィードバック信号と読出し信号RDとの間のタイミングは各々、変動可能であり、本発明の拡張されたRAS−CASプロトコルは、同期式DDRメモリチャンネルと互換に具現されているけれども、非同期式である。
状態情報メッセージは更に、準備完了パッケージカウント、NVM内部状態、以前命令又は動作に対する状態、及び任意のRAS情報及びインタラプトサービス(Interrupt service)情報を含む他の情報も含み得る。
例えば、3つのコネクタ(Connector)ピンがMSG DQ(Message Data bus)に用途変更して割当られた場合、フィードバック状態は4個のSDR(Single Data Rate)サイクルの間に伝送される。この場合、フィードバック状態は12ビット分のデータを含む。更に、他のピンが読出し準備完了ピン(Read_Ready)に用途変更して割当られる。8個のコネクタピンが用途変更された他の例において、フィードバック状態は16ビットの情報を含み、そしてフィードバック状態を伝達するために2つのSDRサイクルを利用する。3つのコネクタピンが用途変更された他の例において、2つのピンが状態のために利用され、他のピンは状態のデータストロボ(Strobe)として利用される。この例でフィードバック状態は16ビットの情報を含み、そしてフィードバック状態を伝達するために8個のDDR(Double Data Rate)サイクル利用する。
サイクル数及び/又はフィードバック状態情報を伝達するビットの数は、本明細書に開示されてある実施形態によって限定されないと理解されなければならない。
仮にメモリモジュールが既存のALERT_nピンにタイミング定義を追加してNVDIMMモードで動作するならば、ALERT_nピンは読出し準備完了フィードバック信号を伝達するために利用できる。
既存のDDR4スペック(Specification)においては、ALERT_n信号は書込みCRCエラー、及びCA(Command Address)パリティーアラーのような2種類のエラーの発生を信号伝達するために利用される。このような2つのエラーはALERT_n信号のパルス幅(Pulse Width)によって区別される。例えば、仮に書込みCRCエラーが発生した場合、DDR4 2400スペックに従ってメモリモジュールは約6乃至約10クロックサイクルの間だけALERT_n信号をローにする。仮にCAパリティーエラーが発生した場合、DDR4 2400スペックに従ってメモリモジュールは約72乃至約144クロックサイクルの間だけALERT_n信号をローにする。
所定の実施形態において、約2及び約3サイクルの短いALERT_nパルス幅は読出し準備完了信号を示すように利用され、それによって書込みCRCエラー及びCAパリティーエラーの発生に対してDDR4 2400スペックに従って機能するようにALERT_n信号を許容する。一実施形態において、ALERT_nピンが読出し準備完了フィードバック信号を伝達する場合、書込みCRCエラー又はCAパリティーエラーの発生検出を保障するために、最も低い優先順位を有する。
MSG情報の例はデータパッケージ内トランザクションID(Transaction identification、TID)である。TID、RID、又はWIDは住所(アドレス)の一部分と類似のトランザクションIDを示す。選択的な実施形態において、フィードバックMSGはDQバスを通じて伝達されるパッケージは状態パッケージであることを示す。DQバスは相対的に大きいので、多数の情報ビットがメモリモジュールからメモリコントローラへ伝達されるのを可能にする。
図15は本発明の実施形態に係る同一のメモリチャンネルに共に配置された1つのDRAMと1つのNVDIMMのための例示的な信号を示す。NVDIMMモジュールからの読出し準備完了信号及びDRAMモジュールからの書込みCRCエラー又はCAパリティーエラー信号が互いに重畳される時、読出し準備完了信号は無くなる。従って、書込みCRCエラー又はCAパリティーエラーが検出された時、ホストはホスト及びNVDIMMモジュールの間の状態を再同期化するためにRS(Read Status)命令を発行する。
一実施形態で、メッセージはDDR(Double Data Rate)を可能にする3ビット幅になる。ALERT_n/Read_Ready[0]及びALERT_n/Read_Ready[1]はNVDIMM1及びNVDIMM2の各々に伝達するための専用ピンである。他の実施形態で、同一のチャンネルに1つのDRAM及び1つのNVDIMMが共に配置された場合、1つの共有されたALERT_n/Read_Ready[0]が利用される。
仮にメモリモジュールがNVDIMMモードにある場合、208ピンはALERT_n/Read_Ready信号として定義され、メモリコントローラの観点からは、送信及び受信機能の全てを提供する。89、91、及び203ピンはMSG[2:0]として定義され、メモリコントローラの観点からは、受信機能を提供する。一実施形態において、ALERT_n/Read_Ready信号及びMSG[2:0]はSDR(Single Data Rate)で動作する。他の実施形態において、ALERT_n/Read_Ready信号及びMSG[2:0]はDDR(Double Data Rate)で動作することができる。
120 メモリモジュール
121 不揮発性メモリ
122 揮発性メモリ
150 非同期式通信プロトコル
151 同期式通信プロトコル
401 DIMM専用リンク
402 DIMMによって共有されるリンク
Claims (17)
- 揮発性メモリと、
不揮発性メモリと、
メモリコントローラと接続するための非同期式メモリインタフェイスと、を備え、
前記非同期式メモリインタフェイスは、前記揮発性メモリへの同期式データアクセスに使用されるDDR(Double Data Rate)メモリチャンネルのピンに加えて、前記不揮発性メモリに格納された非同期式データを前記メモリコントローラに伝送する前記DDRメモリチャンネルの用途変更されたピン(repurposed pins)を利用し、
前記非同期式データは、前記不揮発性メモリの状態を示す情報である装置フィードバックであり、
前記不揮発性メモリの前記状態は、前記用途変更されたピンを1つ以上使用して、前記メモリコントローラへ非同期式に伝送され、
前記メモリコントローラは、非同期式に受信された前記状態に応答して、前記DDRメモリチャンネルの前記ピンを介してデータを同期式に伝送し、
前記非同期式メモリインタフェイスはDDR1、DDR2、DDR3、及びDDR4と互換され、
前記装置フィードバックは、多重DIMMのための複数のタイムスロットを含むことを特徴とするメモリモジュール。 - 前記装置フィードバックは、前記メモリコントローラから読出し信号により要請されたデータが前記不揮発性メモリのデータバッファにあることを示すことを特徴とする請求項1に記載のメモリモジュール。
- 前記用途変更されたピンは、特定DIMM(Dual In−line Memory Module)に専用される専用データピンを含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリモジュール。
- 前記用途変更されたピンは、多重DIMMによって共有される共有データピンを含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリモジュール。
- 特定DIMMに専用の専用データピン及び多重DIMMによって共有される共有データピンの双方が、前記装置フィードバックを伝送するために利用されることを特徴とする請求項1に記載のメモリモジュール。
- 前記装置フィードバックの前記複数のタイムスロットの各々は、トランザクションID(Transaction Identification)を含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリモジュール。
- 前記不揮発性メモリ及び前記揮発性メモリは、前記DDRメモリチャンネルに共に配置された(co−located)ことを特徴とする請求項1に記載のメモリモジュール。
- メモリコントローラと、
揮発性メモリ及び不揮発性メモリを含むメモリモジュールと、
前記メモリコントローラ及び前記メモリモジュールの間の非同期式メモリインタフェイスと、を備え、
前記非同期式メモリインタフェイスは、前記揮発性メモリへの同期式データアクセスに使用されるDDR(Double Data Rate)メモリチャンネルのピンに加えて、前記メモリモジュールの装置フィードバックを前記メモリコントローラに伝送する前記DDRメモリチャンネルの用途変更されたピンを利用し、
前記不揮発性メモリの状態は、前記用途変更されたピン(repurposed pins)を1つ以上使用して、前記メモリコントローラへ非同期式に伝送され、
前記メモリコントローラは、非同期に受信された前記状態に応答して、前記DDRメモリチャンネルの前記ピンを介してデータを同期式に伝送し、
前記非同期式メモリインタフェイスはDDR1、DDR2、DDR3、及びDDR4と互換され、
前記装置フィードバックは、多重DIMMのための複数のタイムスロットを含むことを特徴とするシステム。 - 前記用途変更されたピンは、特定DIMM(Dual In−line Memory Module)に専用される専用データピンを含むことを特徴とする請求項8に記載のシステム。
- 前記用途変更されたピンは、多重DIMMによって共有される共有データピンを含むことを特徴とする請求項8に記載のシステム。
- 特定DIMM専用の専用データピン及び複数のDIMMによって共有される共有データピンの双方が、前記装置フィードバックを伝送するために利用されることを特徴とする請求項8に記載のシステム。
- 前記装置フィードバックの前記複数のタイムスロットの各々は、トランザクションID(Transaction Identification)を含むことを特徴とする請求項8に記載のシステム。
- 前記不揮発性メモリ及び前記揮発性メモリは、前記DDRメモリチャンネルに共に配置された(co−located)ことを特徴とする請求項8に記載のシステム。
- 揮発性メモリ及び不揮発性メモリを含むメモリモジュールとメモリコントローラとの間に非同期式メモリインタフェイスを提供する段階と、
前記メモリモジュールの前記揮発性メモリへの同期式データアクセスに使用されるDDR(Double Data Rate)メモリチャンネルのピンに加えて、前記DDRメモリチャンネルの用途変更されたピン(repurposed pins)を利用して前記メモリコントローラへ前記メモリモジュールの装置フィードバックを送る段階と、
前記装置フィードバックを複数のタイムスロットに一時的に分割する段階と、
多重DIMM(Dual In−line Memory Module)のうち、各々のDIMMのため前記複数のタイムスロットの各々を割り当てる段階と、を備え、
前記装置フィードバックは前記複数のタイムスロットを含み、前記装置フィードバックの前記複数のタイムスロットの各々は、対応するDIMMを示すトランザクションID(Transaction Identification)を含むことを特徴とする方法。 - 前記非同期式メモリインタフェイスはDDR1、DDR2、DDR3、及びDDR4と互換されることを特徴とする請求項14に記載の方法。
- 特定DIMM専用の専用データピン、及び多重DIMMによって共有される共有データピンを利用して装置フィードバックを伝送する段階をさらに備えることを特徴とする請求項15に記載の方法。
- 前記不揮発性メモリ及び前記揮発性メモリは、前記DDRメモリチャンネルに共に配置された(co−located)ことを特徴とする請求項14に記載の方法。
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Families Citing this family (21)
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US10592114B2 (en) | 2016-03-03 | 2020-03-17 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Coordinated in-module RAS features for synchronous DDR compatible memory |
US10621119B2 (en) * | 2016-03-03 | 2020-04-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Asynchronous communication protocol compatible with synchronous DDR protocol |
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US11048645B2 (en) | 2018-02-01 | 2021-06-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory module, operation method therof, and operation method of host |
US11010114B2 (en) | 2018-12-31 | 2021-05-18 | Kyocera Document Solutions Inc. | Read/write direction-based memory bank control for imaging |
US10579318B1 (en) | 2018-12-31 | 2020-03-03 | Kyocera Document Solutions Inc. | Memory control method, memory control apparatus, and image forming method that uses memory control method |
US10614001B1 (en) | 2018-12-31 | 2020-04-07 | Kyocera Document Solutions Inc. | Memory control method, memory control apparatus, and image forming method that uses memory control method |
US10764455B2 (en) | 2018-12-31 | 2020-09-01 | Kyocera Document Solutions Inc. | Memory control method, memory control apparatus, and image forming method that uses memory control method |
US10922038B2 (en) | 2018-12-31 | 2021-02-16 | Kyocera Document Solutions Inc. | Memory control method, memory control apparatus, and image forming method that uses memory control method |
US11392406B1 (en) * | 2019-10-22 | 2022-07-19 | Amazon Technologies, Inc. | Alternative interrupt reporting channels for microcontroller access devices |
US11467983B1 (en) | 2019-10-22 | 2022-10-11 | Amazon Technologies, Inc. | Independently configurable interleaving for interconnect access requests |
US11546336B1 (en) | 2019-10-22 | 2023-01-03 | Amazon Technologies, Inc. | Independently configurable access device stages for processing interconnect access requests |
US11137941B2 (en) | 2019-12-30 | 2021-10-05 | Advanced Micro Devices, Inc. | Command replay for non-volatile dual inline memory modules |
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KR20220091794A (ko) | 2020-12-24 | 2022-07-01 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치 및 이를 포함하는 전자 장치 |
CN114911412A (zh) * | 2021-02-09 | 2022-08-16 | 荣耀终端有限公司 | 一种数据读写方法和混合型存储器 |
US11855043B1 (en) | 2021-05-06 | 2023-12-26 | Eliyan Corporation | Complex system-in-package architectures leveraging high-bandwidth long-reach die-to-die connectivity over package substrates |
US11841815B1 (en) | 2021-12-31 | 2023-12-12 | Eliyan Corporation | Chiplet gearbox for low-cost multi-chip module applications |
Family Cites Families (56)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR960039006A (ko) * | 1995-04-26 | 1996-11-21 | 김광호 | 디램버스에 접속가능한 불휘발성 반도체 메모리장치 |
US6154821A (en) | 1998-03-10 | 2000-11-28 | Rambus Inc. | Method and apparatus for initializing dynamic random access memory (DRAM) devices by levelizing a read domain |
JP2001010865A (ja) | 1999-06-23 | 2001-01-16 | Ngk Insulators Ltd | 窒化珪素焼結体及びその製造方法 |
JP3872922B2 (ja) | 1999-06-28 | 2007-01-24 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置及びメモリ混載ロジックlsi |
TW451193B (en) | 1999-11-30 | 2001-08-21 | Via Tech Inc | A method to determine the timing setting value of dynamic random access memory |
JP4059002B2 (ja) | 2001-06-13 | 2008-03-12 | 株式会社日立製作所 | メモリ装置 |
TWI240864B (en) | 2001-06-13 | 2005-10-01 | Hitachi Ltd | Memory device |
US7269709B2 (en) * | 2002-05-15 | 2007-09-11 | Broadcom Corporation | Memory controller configurable to allow bandwidth/latency tradeoff |
US6820181B2 (en) * | 2002-08-29 | 2004-11-16 | Micron Technology, Inc. | Method and system for controlling memory accesses to memory modules having a memory hub architecture |
US6920524B2 (en) | 2003-02-03 | 2005-07-19 | Micron Technology, Inc. | Detection circuit for mixed asynchronous and synchronous memory operation |
US7386768B2 (en) * | 2003-06-05 | 2008-06-10 | Intel Corporation | Memory channel with bit lane fail-over |
TWM246081U (en) | 2003-09-26 | 2004-10-11 | Hung-Jie Chen | Improved tool clamping mechanism structure of CNC machine tool |
US7180821B2 (en) * | 2004-09-30 | 2007-02-20 | Infineon Technologies Ag | Memory device, memory controller and memory system having bidirectional clock lines |
US7620783B2 (en) | 2005-02-14 | 2009-11-17 | Qualcomm Incorporated | Method and apparatus for obtaining memory status information cross-reference to related applications |
US8819354B2 (en) | 2005-06-16 | 2014-08-26 | Lsi Corporation | Feedback programmable data strobe enable architecture for DDR memory applications |
US9171585B2 (en) * | 2005-06-24 | 2015-10-27 | Google Inc. | Configurable memory circuit system and method |
US8041881B2 (en) | 2006-07-31 | 2011-10-18 | Google Inc. | Memory device with emulated characteristics |
US7560956B2 (en) * | 2005-08-03 | 2009-07-14 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for selecting an operating mode based on a determination of the availability of internal clock signals |
US7716411B2 (en) | 2006-06-07 | 2010-05-11 | Microsoft Corporation | Hybrid memory device with single interface |
US20080082750A1 (en) | 2006-09-28 | 2008-04-03 | Okin Kenneth A | Methods of communicating to, memory modules in a memory channel |
US7894289B2 (en) | 2006-10-11 | 2011-02-22 | Micron Technology, Inc. | Memory system and method using partial ECC to achieve low power refresh and fast access to data |
JP4939234B2 (ja) | 2007-01-11 | 2012-05-23 | 株式会社日立製作所 | フラッシュメモリモジュール、そのフラッシュメモリモジュールを記録媒体として用いたストレージ装置及びそのフラッシュメモリモジュールのアドレス変換テーブル検証方法 |
WO2008131058A2 (en) | 2007-04-17 | 2008-10-30 | Rambus Inc. | Hybrid volatile and non-volatile memory device |
JP2009054116A (ja) | 2007-08-29 | 2009-03-12 | Buffalo Inc | メモリシステムおよび情報処理装置 |
US8359521B2 (en) | 2008-01-22 | 2013-01-22 | International Business Machines Corporation | Providing a memory device having a shared error feedback pin |
US7952944B2 (en) * | 2008-04-30 | 2011-05-31 | International Business Machines Corporation | System for providing on-die termination of a control signal bus |
US7920431B2 (en) | 2008-06-02 | 2011-04-05 | Micron Technology, Inc. | Asynchronous/synchronous interface |
US20100005214A1 (en) | 2008-07-01 | 2010-01-07 | International Business Machines Corporation | Enhancing bus efficiency in a memory system |
US20100005206A1 (en) * | 2008-07-01 | 2010-01-07 | International Business Machines Corporation | Automatic read data flow control in a cascade interconnect memory system |
WO2010016817A1 (en) * | 2008-08-08 | 2010-02-11 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Independently controllable and reconfigurable virtual memory devices in memory modules that are pin-compatible with standard memory modules |
US8064250B2 (en) * | 2008-12-16 | 2011-11-22 | Micron Technology, Inc. | Providing a ready-busy signal from a non-volatile memory device to a memory controller |
US8261136B2 (en) | 2009-06-29 | 2012-09-04 | Sandisk Technologies Inc. | Method and device for selectively refreshing a region of a memory of a data storage device |
US8411519B2 (en) | 2010-06-04 | 2013-04-02 | Apple Inc. | Selective retirement of blocks |
US8510521B2 (en) * | 2010-09-16 | 2013-08-13 | Apple Inc. | Reordering in the memory controller |
KR101796116B1 (ko) | 2010-10-20 | 2017-11-10 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 장치, 이를 포함하는 메모리 모듈, 메모리 시스템 및 그 동작방법 |
JP2012146360A (ja) | 2011-01-12 | 2012-08-02 | Renesas Electronics Corp | 半導体集積回路及び書込処理方法 |
US9779020B2 (en) * | 2011-02-08 | 2017-10-03 | Diablo Technologies Inc. | System and method for providing an address cache for memory map learning |
US8850155B2 (en) | 2011-12-19 | 2014-09-30 | Advanced Micro Devices, Inc. | DDR 2D Vref training |
US9471484B2 (en) * | 2012-09-19 | 2016-10-18 | Novachips Canada Inc. | Flash memory controller having dual mode pin-out |
CN103988186A (zh) * | 2012-10-12 | 2014-08-13 | 华为技术有限公司 | 内存系统、内存模块、内存模块的访问方法以及计算机系统 |
US9229854B1 (en) * | 2013-01-28 | 2016-01-05 | Radian Memory Systems, LLC | Multi-array operation support and related devices, systems and software |
JP2014157391A (ja) | 2013-02-14 | 2014-08-28 | Sony Corp | 記憶制御装置、記憶装置、情報処理システムおよび記憶制御方法 |
US9519315B2 (en) * | 2013-03-12 | 2016-12-13 | International Business Machines Corporation | 276-pin buffered memory card with enhanced memory system interconnect |
US9990246B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-06-05 | Intel Corporation | Memory system |
US9142272B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-09-22 | International Business Machines Corporation | Dual asynchronous and synchronous memory system |
CN105027092B (zh) | 2013-03-27 | 2018-01-30 | 株式会社日立制作所 | 具有sdram接口的dram、混合闪存存储器模块 |
CN104216837A (zh) | 2013-05-31 | 2014-12-17 | 华为技术有限公司 | 一种内存系统、内存访问请求的处理方法和计算机系统 |
US9372817B2 (en) * | 2013-07-12 | 2016-06-21 | Texas Instruments Incorporated | High perfomance DMA controller for video processors |
CN105637486B (zh) * | 2013-10-31 | 2018-11-13 | 慧与发展有限责任合伙企业 | 内存完整性检查 |
US20150268959A1 (en) | 2014-03-21 | 2015-09-24 | Qualcomm Incorporated | Physical register scrubbing in a computer microprocessor |
US9354872B2 (en) | 2014-04-24 | 2016-05-31 | Xitore, Inc. | Apparatus, system, and method for non-volatile data storage and retrieval |
CN104409097B (zh) * | 2014-10-10 | 2017-10-13 | 北京航空航天大学 | 一种利用电源检测实现非易失性异步逻辑电路的低功耗控制方法 |
US9747963B2 (en) * | 2014-11-03 | 2017-08-29 | Mediatek Inc. | Multi-channel memory system using asymmetric channel frequency scaling and related power management method |
US9460791B1 (en) | 2015-12-08 | 2016-10-04 | Inphi Corporation | Data clock synchronization in hybrid memory modules |
US9830086B2 (en) | 2016-03-03 | 2017-11-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Hybrid memory controller for arbitrating access to volatile and non-volatile memories in a hybrid memory group |
US10621119B2 (en) * | 2016-03-03 | 2020-04-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Asynchronous communication protocol compatible with synchronous DDR protocol |
-
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- 2016-08-10 US US15/233,850 patent/US10621119B2/en active Active
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