JP6803735B2 - 内面電子線滅菌設備 - Google Patents
内面電子線滅菌設備 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6803735B2 JP6803735B2 JP2016237167A JP2016237167A JP6803735B2 JP 6803735 B2 JP6803735 B2 JP 6803735B2 JP 2016237167 A JP2016237167 A JP 2016237167A JP 2016237167 A JP2016237167 A JP 2016237167A JP 6803735 B2 JP6803735 B2 JP 6803735B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron beam
- humidity
- sterilization
- atmosphere
- route
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 title claims description 107
- 230000001954 sterilising effect Effects 0.000 title claims description 53
- 238000004659 sterilization and disinfection Methods 0.000 title claims description 52
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 42
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 13
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 2
- KZMAWJRXKGLWGS-UHFFFAOYSA-N 2-chloro-n-[4-(4-methoxyphenyl)-1,3-thiazol-2-yl]-n-(3-methoxypropyl)acetamide Chemical compound S1C(N(C(=O)CCl)CCCOC)=NC(C=2C=CC(OC)=CC=2)=C1 KZMAWJRXKGLWGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
上記内面が滅菌されながら、上記容器またはプリフォームが搬送される滅菌経路と、
上記滅菌経路に搬送されている容器またはプリフォームの上方に位置しながら、当該滅菌経路の上方を上流側から下流側まで移動して、上記内面に電子線を照射する電子線照射装置とを備え、
上記電子線照射装置が、上記滅菌経路とは異なる経路の上方を移動して、上記滅菌経路の下流側の上方から上流側の上方まで戻るものであり、
上記滅菌経路とは異なる経路の大気の湿度が所定値以上かを判定する湿度判定システムをさらに備え、
上記湿度判定システムが、
上記滅菌経路とは異なる経路に配置されて、上記電子線照射装置から出射された電子線が照射される導電部材と、
上記導電部材に電気的に接続されて当該導電部材の電流値を計測する電流計と、
上記電流計で計測された電流値に基づき上記大気の湿度が所定値以上か否かを判定する判定手段とを具備するものである。
以下、本発明の実施の形態1に係る湿度判定システムについて図1〜図4に基づき説明する。
上記実施の形態1に係る湿度判定システム1で、上記判定の精度が向上する条件を知るために、以下の実験を行った。
[実施の形態2]
以下、本発明の実施の形態2に係る湿度判定システムについて図5に基づき説明する。
[実施の形態3]
以下、本発明の実施の形態3に係る湿度判定システムについて図8に基づき説明する。
E 電子線
e1 一次電子
e2 二次電子
w 水分子
1 湿度判定システム(実施の形態1)
2 電子線照射装置
3 導電部材
4 電流計
5 判定手段
7 制御手段
8 不具合検出手段
10 湿度判定システム(実施の形態2)
100 湿度判定システム(実施の形態3)
Claims (1)
- 容器またはプリフォームの内面を電子線の照射により滅菌する内面電子線滅菌設備であって、
上記内面が滅菌されながら、上記容器またはプリフォームが搬送される滅菌経路と、
上記滅菌経路に搬送されている容器またはプリフォームの上方に位置しながら、当該滅菌経路の上方を上流側から下流側まで移動して、上記内面に電子線を照射する電子線照射装置とを備え、
上記電子線照射装置が、上記滅菌経路とは異なる経路の上方を移動して、上記滅菌経路の下流側の上方から上流側の上方まで戻るものであり、
上記滅菌経路とは異なる経路の大気の湿度が所定値以上かを判定する湿度判定システムをさらに備え、
上記湿度判定システムが、
上記滅菌経路とは異なる経路に配置されて、上記電子線照射装置から出射された電子線が照射される導電部材と、
上記導電部材に電気的に接続されて当該導電部材の電流値を計測する電流計と、
上記電流計で計測された電流値に基づき上記大気の湿度が所定値以上か否かを判定する判定手段とを具備することを特徴とする内面電子線滅菌設備。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016237167A JP6803735B2 (ja) | 2016-12-07 | 2016-12-07 | 内面電子線滅菌設備 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016237167A JP6803735B2 (ja) | 2016-12-07 | 2016-12-07 | 内面電子線滅菌設備 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018091793A JP2018091793A (ja) | 2018-06-14 |
JP6803735B2 true JP6803735B2 (ja) | 2020-12-23 |
Family
ID=62565526
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016237167A Expired - Fee Related JP6803735B2 (ja) | 2016-12-07 | 2016-12-07 | 内面電子線滅菌設備 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6803735B2 (ja) |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE507282C2 (sv) * | 1995-08-11 | 1998-05-04 | Tetra Laval Holdings & Finance | Sätt att sterilisera fyllfärdiga förpackningar samt användning av en elektronkanon vid sättet |
JP2004041381A (ja) * | 2002-07-10 | 2004-02-12 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 殺菌装置、及び、殺菌型空気調和システム |
JP4043378B2 (ja) * | 2003-02-07 | 2008-02-06 | 三菱重工業株式会社 | 殺菌装置 |
JP4259412B2 (ja) * | 2004-07-26 | 2009-04-30 | パナソニック電工株式会社 | 湿度センサ装置 |
DE102012106379A1 (de) * | 2012-07-16 | 2014-01-30 | Krones Ag | Messvorrichtung und Messverfahren für Behältnissterilisation |
-
2016
- 2016-12-07 JP JP2016237167A patent/JP6803735B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018091793A (ja) | 2018-06-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7560714B2 (en) | Sensor and system for sensing an electron beam | |
JP4879288B2 (ja) | ビーム電流キャリブレーションシステム | |
EP3344017B1 (en) | X-ray generator device and x-ray examination device | |
RU2420764C2 (ru) | Датчик и система для измерения электронного луча | |
JP6803735B2 (ja) | 内面電子線滅菌設備 | |
JP6259598B2 (ja) | 容器の殺菌のための測定装置及び測定方法 | |
EP3609299B1 (en) | Plasma generation system with moving device and temperature sensor | |
JP2012011341A (ja) | 光照射装置 | |
ATE480765T1 (de) | Vorrichtung zur online-analyse | |
US10999918B2 (en) | X-ray tube and X-ray generation device | |
JP7377730B2 (ja) | ノズル式電子線出射装置の交換時期決定方法 | |
US11751317B2 (en) | X-ray generating device, and diagnostic device and diagnostic method therefor | |
JP2002341100A (ja) | 電子線照射装置 | |
JPH11354066A (ja) | イオンビーム照射装置 | |
JP3117459U7 (ja) | ||
JP5801253B2 (ja) | 成膜装置 | |
KR20160058532A (ko) | 빔 검사 장치 및 이를 이용한 빔 검사 방법 | |
WO2015125418A1 (en) | Electron beam irradiator and irradiation system with emission detection | |
JP4584015B2 (ja) | 電界放射型電子銃を用いた電子線装置 | |
JP6005447B2 (ja) | 電子線検出装置 | |
KR20150022581A (ko) | 비아홀 가공 장치 | |
JPH08313700A (ja) | 電子ビーム照射装置 | |
JP2017041584A (ja) | 電子線描画装置、クリーニングガス供給方法、及びプログラム | |
JP2013152859A (ja) | イオンビーム計測装置、イオンビーム計測方法、及びイオン注入装置 | |
JP2006084313A (ja) | 表面検査方法および装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190422 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200423 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200602 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200803 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20201104 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20201201 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6803735 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |