JP6764331B2 - 電圧監視回路および半導体装置 - Google Patents
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Description
《電圧監視回路(比較例)の概略および問題点》
まず、実施の形態1の電圧監視回路の説明に先立ち、比較例となる電圧監視回路について説明する。図11Aは、本発明の比較例として検討した電圧監視回路の構成例を示す概略図である。図11Aに示す電圧監視回路VMNC’には、監視対象電圧VMIに加えて、通常用の判定しきい値電圧VJD_Nと、自己診断用の判定しきい値電圧VJD_Tとが入力される。通常用の判定しきい値電圧VJD_Nは、通常時に、監視対象電圧VMIの上限スペック違反や下限スペック違反といったスペック違反の有無を検出するための電圧である。一方、自己診断用の判定しきい値電圧VJD_Tは、自己診断の際に、電圧監視回路VMNC’に、スペック違反有りの検出結果を強制的に出力させるための電圧である。
T=(Cg×ΔVg)/I=(Cg×ΔVg)/(gm×Vd) (2)
こうした中、仕様として求められる電位差Vdは、前述したように、半導体装置の低電圧化等の流れを受け、益々小さくなってきている。また、通常用の判定しきい値電圧VJD_Nは、例えば、バンドギャップリファレンス回路等を含む基準電圧生成回路(図4参照)によって生成され、温度や電源電圧への依存性が低い電圧となる。しかし、通常用の判定しきい値電圧VJD_Nは、プロセスばらつきに応じて各半導体装置(半導体チップ)毎にばらつく場合がある。このようなばらつきを考慮すると、実際上の電位差Vdは、さらに、小さくなる恐れがある。
図1Aは、本発明の実施の形態1による電圧監視回路の構成例を示す概略図である。図11Bの推移時間Tt1’を短縮する方式として、例えば、(A)比較回路CMP1の動作電流を増加する方式や、(B)図12のPMOSトランジスタMP4のトランジスタサイズを小さくする方式等が考えられる。ただし、(A)の方式は、消費電流が増大し、半導体チップ全体の消費電力の増大を招くことになる。(B)の方式は、PMOSトランジスタMP4における半導体チップ間での相対的な特性ばらつきの増大を招くため、半導体チップ間での判定しきい値電圧のばらつきに繋がる恐れがある。
図4は、図1Aの電圧監視回路周りの詳細な構成例を示す回路図である。ここでは、図1Bの動作を行う電圧監視回路を例としている。図4において、基準電圧生成回路VRGは、バンドギャップレファレンス回路BGRと、差動増幅回路DAMP2と、PMOSトランジスタMP5と、抵抗素子Rd1と、選択回路SEL2とを備え、自己診断用、通常用およびブースト用の各判定しきい値電圧(VJD_T,VJD_N,VJD_B)を生成する。
図5は、本発明の実施の形態1による半導体装置の構成例を示す概略図である。図5に示す半導体装置DEVは、一つの半導体チップで構成され、特に限定はされないが、車載用のマイクロコントローラチップ等である。半導体チップDEVは、外部端子PN1〜PN6を含む複数の外部端子を備える。外部端子PN1,PN2,PN3,PN4には、それぞれ、電源電圧VDD,VCC,VCC_PLL,VCC_SYSが供給される。外部端子PN5には、リセット信号RSTが入力され、外部端子PN6には、システムモード信号SMDが入力される。
以上、実施の形態1の電圧監視回路および半導体装置を用いることで、代表的には、自己診断に要する時間を短縮可能になり、ひいては、半導体装置DEVの起動時間を短縮可能になる。また、図1Aで述べたように、このような効果を、消費電力を増大させずに、また、監視精度を十分に維持した状態で得ることが可能になる。
《電圧監視回路(前提)の問題点》
図6は、図4の電圧監視回路を用いた場合に生じる恐れがある問題点の一例を示す概略図である。図6には、図1Bにおいて、ブーストモードMD2bから通常モードMD3へ遷移する際の状況が模式的に示されている。図6に示されるように、選択電圧VJDSをブースト用の判定しきい値電圧VJD_Bから通常用の判定しきい値電圧VJD_Nに切り替えると、コンデンサCvの電荷の移動等に伴い、選択電圧VJDSにオーバシュートやアンダーシュートといったノイズが生じ得る。その結果、図6に示されるように、比較回路CMP1で誤検知が生じる恐れがある。
図7は、本発明の実施の形態2による電圧監視回路周りの詳細な構成例を示す回路図である。図7に示す電圧監視回路VMNC1bは、図4の電圧監視回路VMNC1aと比較して次ぎの2点が異なっている。1つ目の相違点として、図7の比較回路CMP2は、図4の比較回路CMP1におけるNMOSトランジスタMN1の代わりに、3個のNMOSトランジスタMN1t,MN1n,MN1bを備える。NMOSトランジスタMN1t,MN1n,MN1bは、ドレインノードが共通に結合される。NMOSトランジスタMN1tは、自己診断用の判定しきい値電圧VJD_Tによって駆動され、NMOSトランジスタMN1nは、通常用の判定しきい値電圧VJD_Nによって駆動され、NMOSトランジスタMN1bは、ブースト用の判定しきい値電圧VJD_Bによって駆動される。
以上、実施の形態2の電圧監視回路および半導体装置を用いることで、実施の形態1で述べた各種効果に加えて、さらに、電圧監視回路の誤検知や各種回路の誤動作を防止できることから、信頼性の向上が図れる。また、このような効果を、回路面積のオーバヘッドを抑制しつつ得ることが可能になる。
《電圧監視回路(前提)の問題点》
例えば、図4に示したような基準電圧生成回路VRGを用いた場合、基準電圧生成回路VRGの電源電圧VCC2を高くすることが困難となり、生成可能な最大の基準電圧Vrefの値が、例えば、2.0V程度といったように限られる場合がある。例えば、基準電圧生成回路VRG自身の電源電圧VCC2を、自身からの判定しきい値電圧を用いて監視する必要がある場合等で、このような事態が生じ得る。その結果、監視対象電圧が5.0V等といった高い電圧の場合の電圧監視が困難となる恐れがある。
図9Aは、本発明の実施の形態3による電圧監視回路の構成例を示す概略図である。図9Aに示す電圧監視回路VMNC3は、図1Aの方式と異なり、判定しきい値電圧VJD側ではなく、監視対象電圧VMI側を降圧しつつ推移させる方式を用いている。当該電圧監視回路VMNC3は、抵抗素子Rd2と、選択回路SEL3と、比較回路CMPとを備える。抵抗素子Rd2は、監視対象電圧VMIを抵抗分圧することで、ブースト用の監視対象電圧VMI_B、通常用の監視対象電圧VMI_Nおよび自己診断用の監視対象電圧VMI_Tを生成する。この際には、抵抗素子Rd2の抵抗値を十分に高くすることで、監視対象電圧VMI(例えば電源電圧)での電力消費を十分に抑制できる。
図9Aにおける選択回路SEL3および比較回路CMPに、例えば、図4に示した選択回路SEL1aおよび比較回路CMP1と同様の構成を適用すると、実施の形態2の場合と同様に、ノイズの問題が生じ得る。当該ノイズは、抵抗素子Rd2を介して監視対象電圧VMI(例えば電源電圧)に回り込むため、当該電源電圧で動作する回路の誤動作を招く恐れがある。そこで、実施の形態2の場合と同様に、電圧監視回路VMNC3を図10のような回路で構成することが有益となる。
以上、実施の形態3の電圧監視回路および半導体装置を用いることで、実施の形態1や実施の形態2で述べた各種効果を、監視対象電圧VMIが高い場合であっても得ることが可能になる。なお、ここでは、下限スペック違反を検出する場合を例としたが、勿論、実施の形態1の場合と同様にして、上限スペック違反を検出することや、その両方を検出することも可能である。
監視対象電圧を判定しきい値電圧と比較することで前記監視対象電圧のスペック違反の有無を検出し、かつ自己診断に際し、要求に応じてスペック違反有りの検出結果を出力可能な電圧監視回路と、
前記電圧監視回路を制御する自己診断制御回路と、
前記判定しきい値電圧を生成する基準電圧生成回路と、
を有し、一つの半導体チップで構成される半導体装置であって、
前記電圧監視回路は、
前記監視対象電圧を抵抗分圧することで、第1の監視対象電圧、第2の監視対象電圧および第3の監視対象電圧を生成する抵抗素子と、
前記第1の監視対象電圧、前記第2の監視対象電圧および前記第3の監視対象電圧の中のいずれかを選択する選択回路と、
前記選択回路で選択された選択電圧と前記判定しきい値電圧とを比較することで、前記スペック違反の有無を検出する比較回路と、
を有し、
前記自己診断制御回路は、前記自己診断に際して前記選択回路を制御することで、前記選択回路に、前記第1の監視対象電圧を初期状態として、順に、前記第2の監視対象電圧、前記第3の監視対象電圧、前記第1の監視対象電圧を選択させ、
前記第2の監視対象電圧は、前記判定しきい値電圧を基準として前記第1の監視対象電圧とは逆極性の電圧であり、
前記第3の監視対象電圧は、前記判定しきい値電圧を基準として前記第1の監視対象電圧と同極性の電圧であり、かつ前記第1の監視対象電圧よりも大きい電位差を備える、
半導体装置。
DEV 半導体装置
MD1,MD3 通常モード
MD2a 自己診断モード
MD2b ブーストモード
MN NMOSトランジスタ
MP PMOSトランジスタ
PGU 電源生成ユニット
PMU 電源管理ユニット
PN 外部端子
Rd 抵抗素子
SEL 選択回路
SS 選択信号
SW スイッチ
VDD,VCC 電源電圧
VGN 電源生成回路
VJD 判定しきい値電圧
VJD_B 判定しきい値電圧(ブースト用)
VJD_N 判定しきい値電圧(通常用)
VJD_T 判定しきい値電圧(自己診断用)
VJDS 選択電圧
VMI 監視対象電圧
VMI_B 監視対象電圧(ブースト用)
VMI_N 監視対象電圧(通常用)
VMI_T 監視対象電圧(自己診断用)
VMIS 選択電圧
VMNC 電圧監視回路
VRG 基準電圧生成回路
Claims (20)
- 監視対象電圧を第1の判定しきい値電圧と比較することで前記監視対象電圧のスペック違反の有無を検出し、かつ自己診断に際し、要求に応じてスペック違反有りの検出結果を出力可能な電圧監視回路であって、
前記第1の判定しきい値電圧は、前記監視対象電圧の上限スペック違反または下限スペック違反の有無を検出するための電圧であり、
前記第1の判定しきい値電圧と、前記監視対象電圧を基準として前記第1の判定しきい値電圧とは逆極性の電圧である第2の判定しきい値電圧と、前記監視対象電圧を基準として前記第1の判定しきい値電圧と同極性の電圧であり、かつ前記監視対象電圧を基準として前記第1の判定しきい値電圧よりも大きい電位差を備える第3の判定しきい値電圧の中のいずれかを選択する選択回路と、
前記選択回路で選択された選択電圧と前記監視対象電圧とを比較することで、前記スペック違反の有無を検出する比較回路と、
を有し、
前記選択回路は、前記自己診断に際し、前記第1の判定しきい値電圧を初期状態として、順に、前記第2の判定しきい値電圧、前記第3の判定しきい値電圧、前記第1の判定しきい値電圧を選択する、
電圧監視回路。 - 請求項1記載の電圧監視回路において、
前記比較回路は、差動対トランジスタとなる第1のトランジスタおよび第2のトランジスタを含む差動増幅回路を有し、
前記第1のトランジスタは、前記選択電圧によって駆動され、
前記第2のトランジスタは、前記監視対象電圧によって駆動される、
電圧監視回路。 - 請求項2記載の電圧監視回路において、
前記第1のトランジスタは、一端が共通に結合される第1Aのトランジスタ、第1Bのトランジスタおよび第1Cのトランジスタを備え、
前記第1Aのトランジスタは、前記第1の判定しきい値電圧によって駆動され、
前記第1Bのトランジスタは、前記第2の判定しきい値電圧によって駆動され、
前記第1Cのトランジスタは、前記第3の判定しきい値電圧によって駆動され、
前記選択回路は、
前記第1Aのトランジスタの他端に一端が接続され、前記第1Aのトランジスタの電流経路に挿入される第1Aのスイッチと、
前記第1Bのトランジスタの他端に一端が接続され、前記第1Bのトランジスタの電流経路に挿入される第1Bのスイッチと、
前記第1Cのトランジスタの他端に一端が接続され、前記第1Cのトランジスタの電流経路に挿入される第1Cのスイッチと、
を有する、
電圧監視回路。 - 請求項3記載の電圧監視回路において、
前記第1Aのトランジスタのゲート幅は、前記第2のトランジスタのゲート幅と同じであり、
前記第1Bのトランジスタまたは前記第1Cのトランジスタのゲート幅は、前記第1Aのトランジスタのゲート幅よりも小さい、
電圧監視回路。 - 請求項3記載の電圧監視回路において、
前記第1Aのトランジスタのゲート幅は、前記第2のトランジスタのゲート幅と同じであり、
前記第1Bのトランジスタおよび前記第1Cのトランジスタのゲート幅は、共に、前記第1Aのトランジスタのゲート幅はよりも小さい、
電圧監視回路。 - 請求項5記載の電圧監視回路において、
前記第1Cのトランジスタのゲート幅は、前記第1Bのトランジスタのゲート幅よりも小さい、
電圧監視回路。 - 請求項1記載の電圧監視回路において、
前記第1の判定しきい値電圧として、前記監視対象電圧より低電位である第1Aの判定しきい値電圧と、前記監視対象電圧より高電位である第1Bの判定しきい値電圧とが設けられ、
前記選択回路および前記比較回路は、
前記第1Aの判定しきい値電圧に基づいて、前記監視対象電圧が前記第1Aの判定しきい値電圧よりも低下したか否かを検出する第1の選択回路および第1の比較回路と、
前記第1Bの判定しきい値電圧に基づいて、前記監視対象電圧が前記第1Bの判定しきい値電圧よりも上昇したか否かを検出する第2の選択回路および第2の比較回路と、
を有する、
電圧監視回路。 - 監視対象電圧を判定しきい値電圧と比較することで前記監視対象電圧のスペック違反の有無を検出し、かつ自己診断に際し、要求に応じてスペック違反有りの検出結果を出力可能な電圧監視回路であって、
前記判定しきい値電圧は、前記監視対象電圧の上限スペック違反または下限スペック違反の有無を検出するための電圧であり、
前記監視対象電圧を抵抗分圧することで、第1の監視対象電圧、第2の監視対象電圧および第3の監視対象電圧を生成する抵抗素子と、
前記抵抗素子の抵抗分圧ノードを入力として、前記第1の監視対象電圧、前記第2の監視対象電圧および前記第3の監視対象電圧の中のいずれかを選択する選択回路と、
前記選択回路で選択された選択電圧と前記判定しきい値電圧とを比較することで、前記スペック違反の有無を検出する比較回路と、
を有し、
前記選択回路は、前記自己診断に際し、前記第1の監視対象電圧を初期状態として、順に、前記第2の監視対象電圧、前記第3の監視対象電圧、前記第1の監視対象電圧を選択し、
前記第2の監視対象電圧は、前記判定しきい値電圧を基準として前記第1の監視対象電圧とは逆極性の電圧であり、
前記第3の監視対象電圧は、前記判定しきい値電圧を基準として前記第1の監視対象電圧と同極性の電圧であり、かつ前記判定しきい値電圧を基準として前記第1の監視対象電圧よりも大きい電位差を備える、
電圧監視回路。 - 請求項8記載の電圧監視回路において、
前記比較回路は、差動対トランジスタとなる第1のトランジスタおよび第2のトランジスタを含む差動増幅回路を有し、
前記第1のトランジスタは、前記判定しきい値電圧によって駆動され、
前記第2のトランジスタは、前記選択電圧によって駆動される、
電圧監視回路。 - 請求項9記載の電圧監視回路において、
前記第2のトランジスタは、一端が共通に結合される第2Aのトランジスタ、第2Bのトランジスタおよび第2Cのトランジスタを備え、
前記第2Aのトランジスタは、前記第1の監視対象電圧によって駆動され、
前記第2Bのトランジスタは、前記第2の監視対象電圧によって駆動され、
前記第2Cのトランジスタは、前記第3の監視対象電圧によって駆動され、
前記選択回路は、
前記第2Aのトランジスタの他端に一端が接続され、前記第2Aのトランジスタの電流経路に挿入される第2Aのスイッチと、
前記第2Bのトランジスタの他端に一端が接続され、前記第2Bのトランジスタの電流経路に挿入される第2Bのスイッチと、
前記第2Cのトランジスタの他端に一端が接続され、前記第2Cのトランジスタの電流経路に挿入される第2Cのスイッチと、
を有する、
電圧監視回路。 - 請求項10記載の電圧監視回路において、
前記第2Aのトランジスタのゲート幅は、前記第1のトランジスタのゲート幅と同じであり、
前記第2Bのトランジスタまたは前記第2Cのトランジスタのゲート幅は、前記第2Aのトランジスタのゲート幅よりも小さい、
電圧監視回路。 - 請求項10記載の電圧監視回路において、
前記第2Aのトランジスタのゲート幅は、前記第1のトランジスタのゲート幅と同じであり、
前記第2Bのトランジスタおよび前記第2Cのトランジスタのゲート幅は、共に、前記第2Aのトランジスタのゲート幅よりも小さい、
電圧監視回路。 - 請求項12記載の電圧監視回路において、
前記第2Cのトランジスタのゲート幅は、前記第2Bのトランジスタのゲート幅よりも小さい、
電圧監視回路。 - 監視対象電圧を第1の判定しきい値電圧と比較することで前記監視対象電圧のスペック違反の有無を検出し、かつ自己診断に際し、要求に応じてスペック違反有りの検出結果を出力可能な電圧監視回路と、
前記電圧監視回路を制御する自己診断制御回路と、
前記第1の判定しきい値電圧と、前記監視対象電圧を基準として前記第1の判定しきい値電圧とは逆極性の電圧である第2の判定しきい値電圧と、前記監視対象電圧を基準として前記第1の判定しきい値電圧と同極性の電圧であり、かつ前記監視対象電圧を基準として前記第1の判定しきい値電圧よりも大きい電位差を備える第3の判定しきい値電圧とを生成する基準電圧生成回路と、
を有し、一つの半導体チップで構成される半導体装置であって、
前記第1の判定しきい値電圧は、前記監視対象電圧の上限スペック違反または下限スペック違反の有無を検出するための電圧であり、
前記電圧監視回路は、
前記第1の判定しきい値電圧、前記第2の判定しきい値電圧および前記第3の判定しきい値電圧の中のいずれかを選択する選択回路と、
前記選択回路で選択された選択電圧と前記監視対象電圧とを比較することで、前記スペック違反の有無を検出する比較回路と、
を有し、
前記自己診断制御回路は、前記自己診断に際して前記選択回路を制御することで、前記選択回路に、前記第1の判定しきい値電圧を初期状態として、順に、前記第2の判定しきい値電圧、前記第3の判定しきい値電圧、前記第1の判定しきい値電圧を選択させる、
半導体装置。 - 請求項14記載の半導体装置において、
前記比較回路は、差動対トランジスタとなる第1のトランジスタおよび第2のトランジスタを含む差動増幅回路を有し、
前記第1のトランジスタは、前記選択電圧によって駆動され、
前記第2のトランジスタは、前記監視対象電圧によって駆動される、
半導体装置。 - 請求項15記載の半導体装置において、
前記第1のトランジスタは、一端が共通に結合される第1Aのトランジスタ、第1Bのトランジスタおよび第1Cのトランジスタを備え、
前記第1Aのトランジスタは、前記第1の判定しきい値電圧によって駆動され、
前記第1Bのトランジスタは、前記第2の判定しきい値電圧によって駆動され、
前記第1Cのトランジスタは、前記第3の判定しきい値電圧によって駆動され、
前記選択回路は、
前記第1Aのトランジスタの他端に一端が接続され、前記第1Aのトランジスタの電流経路に挿入される第1Aのスイッチと、
前記第1Bのトランジスタの他端に一端が接続され、前記第1Bのトランジスタの電流経路に挿入される第1Bのスイッチと、
前記第1Cのトランジスタの他端に一端が接続され、前記第1Cのトランジスタの電流経路に挿入される第1Cのスイッチと、
を有する、
半導体装置。 - 請求項16記載の半導体装置において、
前記第1Aのトランジスタのゲート幅は、前記第2のトランジスタのゲート幅と同じであり、
前記第1Bのトランジスタおよび前記第1Cのトランジスタのゲート幅は、共に、前記第1Aのトランジスタのゲート幅よりも小さい、
半導体装置。 - 請求項14記載の半導体装置において、
前記電圧監視回路は、複数の前記監視対象電圧に応じて複数設けられる、
半導体装置。 - 請求項14記載の半導体装置において、
前記監視対象電圧は、前記半導体装置の外部から供給される電源電圧である、
半導体装置。 - 請求項14記載の半導体装置において、
前記自己診断は、前記半導体装置の起動時に実行される、
半導体装置。
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