JP6747594B2 - 質量分析装置 - Google Patents
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Description
イオン化部、質量分離部及びイオン検出部から成る質量分析計を含む複数の機器を収容する筐体と、
前記機器の1つである第1発熱機器と、
前記機器の1つであって該第1発熱機器よりも許容最高温度が低いか又は許容温度変化量が小さく、該第1発熱機器よりも高い位置に配置されている第2発熱機器と、
前記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器に近く該第2発熱機器よりも低い位置に設けられた吸気口と、
前記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器から遠く該第2発熱機器よりも高い位置に設けられた排気ファンと
を備えることを特徴とする。
第1実施形態の質量分析装置10は、図1に示すように、質量分析計110、真空ポンプであるターボ分子ポンプ121と、電源122と、それらを収容する筐体19を備える。
11…第1発熱機器
110…質量分析計
111…イオン源
112…四重極マスフィルタ
113…コリジョンセル
1131…イオンガイド
114…イオントラップ
1141…リング電極
1142…エンドキャップ電極
115…飛行時間型質量分離器
1151…押出し電極
1152…グリッド電極
116…イオン検出器
117…真空室
12…第2発熱機器
121…ターボ分子ポンプ
122…電源
14…吸気口
141…第1吸気口
142…第2吸気口
15…排気ファン
19、19A…筐体
191、191A…吸気口設置面
192、192A…排気ファン設置面
192A…排気ファン設置面
Claims (5)
- イオン化部、質量分離部及びイオン検出部から成る質量分析計を含む複数の機器を収容する筐体と、
前記機器の1つである第1発熱機器と、
前記機器の1つであって該第1発熱機器よりも許容最高温度が低いか又は許容温度変化量が小さく、該第1発熱機器よりも高い位置に配置されている第2発熱機器と、
前記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器に近く該第2発熱機器よりも低い位置に設けられた吸気口と、
前記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器から遠く該第2発熱機器よりも高い位置に設けられた排気ファンと
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - 前記第2発熱機器が局所冷却用のファンを有していないことを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 前記吸気口の開口面積が、前記排気ファンの開口の面積の0.3〜7倍であることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 前記吸気口を複数個備え、各吸気口につき、前記第1発熱機器よりも該吸気口に近い筐体内の位置に1個の前記第2発熱機器が配置されていることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 前記複数個の吸気口の開口面積の和が前記排気ファンの開口の面積の0.3〜7倍であることを特徴とする請求項4に記載の質量分析装置。
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