JP6747594B2 - 質量分析装置 - Google Patents

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Description

本発明は、質量分析装置に関し、特に、質量分析装置のうち試料のイオン化及び質量分析を行う機器(以下、「質量分析計」とする)以外の機器のうち、真空ポンプや電源等の発熱源となる機器(以下、これらを発熱機器と言う。)を冷却するための構成に関する。
質量分析装置では、試料をイオン化するイオン化室や質量分析を行う分析室内を真空にする必要がある。そのために、質量分析装置には真空ポンプが設けられており、特に最終段には、高い真空度を容易に得ることができるターボ分子ポンプがよく用いられている。また、質量分析装置には、イオン化や分析に用いる電力や、真空ポンプを作動させるための電力を供給するための電源が設けられている。電源は、用途毎に電流、電圧、周波数が相違するため、通常、1台の質量分析装置に複数設けられる。一般に、これら真空ポンプや電源は、イオン化室や分析室を含む本体と一緒に、質量分析装置の筐体内に収容されている。
ターボ分子ポンプは、回転翼が高速で回転することで気体分子を弾き飛ばすことによりガスを排気するポンプであり、使用時の温度が所定の許容温度よりも高くなると、回転翼が熱で膨張して変形し、回転翼が破損してしまうおそれがある。また、電源は、温度が上昇すると出力電圧が変動し、分析の精度が低下する原因となる。さらに、ターボ分子ポンプその他の真空ポンプや電源は、それらが発熱源となって周辺の機器の温度を上昇させ、分析の精度を低下させたり、それらの機器の誤作動を生じさせる原因となる。これらの理由により、質量分析装置では、作動中に真空ポンプや電源等の発熱機器並びにそれらの周辺を冷却する必要がある。
特許文献1には、筐体に吸気口と排気ファンが設けられ、筐体内のターボ分子ポンプの近傍に排気ファンが配置された質量分析装置が記載されている。このように吸気口と排気ファンを組み合わせた構成の他に、吸気ファンと排気口を組み合わせた構成も考えられるが、前者は、排気ファンで空気を排気することによって筐体内が負圧になるため、吸気口から排気ファンに至る空気の流れが生成され易く、筐体内を満遍なく冷却することができるという点で優れている。
米国特許明細書第6,465,777号
しかし、吸気口と排気ファンを組み合わせた構成では、筐体内の空気の風速を大きくすることが難しく、冷却能力を大きく向上させることが難しい。そのため、吸気口と排気ファンを組み合わせた冷却機構だけでは真空ポンプや電源等の発熱機器を許容温度まで冷却することができない場合がある。そこで、これら吸気口と排気ファンに加えて、発熱機器の近傍に局所冷却用のファンを追設することが行われている。しかし、このようなファンを追設すると、コストが上昇するうえに、騒音が増大するという問題が生じる。また、ファンは可動部を有することから質量分析装置を構成する機器の中では故障しやすいものであるため、ファンを追設することで故障の頻度が増加し、装置の信頼性が低下する。さらには、ファンから振動が発生して該振動が質量分析計に伝播し、分析精度が低下するおそれがある。
また、例えばイオンが通過する部分の電極に電圧を印加するため等に用いられる電源は、自らが発熱する一方、その周囲の温度が変化すると出力電圧が変動し、質量分析装置の質量分解能や質量精度などが低下してしまい、熱による影響を受けやすいという特徴を有する。そのため、このような電源では、質量分析装置の他の構成要素よりも周囲の温度の変化を小さくする必要がある。
本発明が解決しようとする課題は、発熱機器を冷却する性能をより高くすることができ、温度変化に敏感な発熱機器の周囲での温度変化を抑えることができる質量分析装置を提供することである。
上記課題を解決するために成された本発明に係る質量分析装置は、
オン化部、質量分離部及びイオン検出部から成る質量分析計を含む複数の機器を収容する筐体と、
記機器の1つである第1発熱機器と、
記機器の1つであって該第1発熱機器よりも許容最高温度が低いか又は許容温度変化量が小さく、該第1発熱機器よりも高い位置に配置されている第2発熱機器と、
記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器に近く該第2発熱機器よりも低い位置に設けられた吸気口と、
記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器から遠く該第2発熱機器よりも高い位置に設けられた排気ファンと
を備えることを特徴とする。
筐体内の吸気口の近傍では、それよりも筐体の内部側の位置と比較して、空気の風速が速く、且つ、筐体内の質量分析計やその付属機器で加熱される前の空気が通過するため、機器を冷却しやすい。そこで本発明では、第1発熱機器よりも許容最高温度が低い第2発熱機器を用いる場合には、第1発熱機器よりも吸気口に近い位置に第2発熱機器を配置することにより、第2発熱機器を冷却する性能をより高くすることができ、第2発熱機器が第1発熱機器からの影響を受け難くすることができる。
これにより、発熱機器に局所冷却用のファンを追設する必要がなく、質量分析装置中のファンの数を少なくすることができるため、コストの上昇や騒音の増大を抑えることができると共に、装置の信頼性を高くすることができる。
第2発熱機器としては、例えばターボ分子ポンプ等の真空ポンプや、質量分析装置のイオンが通過する部分に設けられた電極等の出力電圧の変動に敏感な構成要素に電圧を印加するための電源が挙げられる。第1発熱機器としては、イオン化部、TOF部を除く質量分離部及びイオン検出部、電気基板に電力供給するDCスイッチング電源等が挙げられる。
排気ファンには通常、その能力に応じて設定された面積を有する開口が設けられている。この排気ファンの開口の面積に対して吸気口の開口面積が大きすぎると、排気ファンの風量は確保できるものの、その分、空気の風速が遅くなりすぎる。一方、排気ファンの開口の面積に対して吸気口の開口面積が小さすぎると、圧力損失により風量が不足してしまう。そこで、吸気口の開口面積は、排気ファンの開口の面積と同程度、具体的には排気ファンの開口の面積の0.3〜7倍であることが望ましい。
本発明に係る質量分析装置は、前記吸気口を複数個備え、各吸気口につき、前記第1発熱機器よりも該吸気口に近い筐体内の位置に1個の前記第2発熱機器が配置されている、という構成を取ることができる。これにより、各第2発熱機器をより確実に冷却することができる。この場合、これら複数個の吸気口の開口面積の和が排気ファンの開口の面積の0.3〜7倍であることが望ましい。
本発明に係る質量分析装置は、前記第2発熱機器が前記吸気口及び前記第1発熱機器よりも高い位置に配置されており、前記排気ファンが前記第2発熱機器よりも高い位置に配置されている。これにより、第2発熱機器を冷却することにより暖められて軽くなった空気が第1発熱機器よりも上側を通過して排気ファンから筐体の外に排出されため、第2発熱機器で暖められた空気に第1発熱機器が晒されることがなく、第1発熱機器の温度上昇をより効果的に防ぐことができる。
本発明に係る質量分析装置によれば、発熱機器を冷却する性能をより高くすることができ、温度変化に敏感な発熱機器の周囲での温度変化を抑えることができる。
本発明に係る質量分析装置の第1実施形態における質量分析計、ターボ分子ポンプ及び電源の配置を示す平面図(a)及び側面図(b)。 第1実施形態の質量分析装置が有する質量分析計を示す概略構成図。 第1実施形態の質量分析装置について計算で求めた筐体内の温度分布の平面図。 第1実施形態の質量分析装置について計算で求めた空気の流速の分布の側面図。 本発明に係る質量分析装置の第2実施形態における質量分析計、ターボ分子ポンプ及び電源の配置を示す平面図。
図1〜図5を用いて、本発明に係る質量分析装置の実施形態を説明する。
第1実施形態の質量分析装置10は、図1に示すように、質量分析計110、真空ポンプであるターボ分子ポンプ121と、電源122と、それらを収容する筐体19を備える。
質量分析計110は、図2に示すように、真空室117内に、イオン源111と、四重極マスフィルタ112と、コリジョンセル113と、イオントラップ114と、飛行時間型質量分離器115と、イオン検出器116が配置されて成る。イオン源111は、試料に含まれる各種化合物をイオン化させるものである。四重極マスフィルタ112は、予め指定された特定の質量電荷比を有するプリカーサイオンのみを通過させる。コリジョンセル113は、プリカーサイオンを開裂させるものであって、内部にイオンガイド1131を備える。イオントラップ114は、開裂により生成されたプロダクトイオン及び開裂しなかったプリカーサイオンを一旦捕捉したうえでパケット状に射出するものであり、リング電極1141と、該リング電極を挟んで設けられた一対のエンドキャップ電極1142及び1143を備える。飛行時間型質量分離器115は、イオンに一定の加速エネルギを付与して一定距離を飛行させて該イオンをイオン検出器116に検出させることにより、その飛行に要する時間から該イオンの質量電荷比を求めるためのものである。この飛行時間型質量分離器115は、それまでの進行方向に垂直な方向(下方向)にイオンを加速する押出し電極1151及びグリッド電極1152と、加速されたイオンを所定距離だけ飛行させたうえで反射させる反射電極(リフレクトロン)1153を備える。電源122は、これら四重極マスフィルタ112、コリジョンセル113、イオントラップ114、飛行時間型質量分離器115及びイオン検出器116が有する各電極やイオン検出器116等に接続され、それら各部に電力を供給する。真空室117はターボ分子ポンプ121に接続されており、内部が高真空に維持される。なお、ここで示した質量分析計110は一例であって、本発明では種々の質量分析計を用いることができる。
図1に示すように、筐体19は直方体状であり、該直方体の4つの側面のうちの1つである吸気口設置面191には、吸気口14が設けられているまた、吸気口設置面191に対向する側面である排気ファン設置面192には排気ファン15が、該排気ファン設置面192の幅方向の大半を占めるように複数個並んで設けられている。吸気口14の開口面積は、排気ファン15の開口面積の0.3〜7倍とすることが望ましく、第1実施形態では排気ファン15の開口面積と同じとした。
通常、市販のターボ分子ポンプには、それ自体に冷却のためのファンが設けられている。しかし、第1実施形態の質量分析装置10で使用するターボ分子ポンプ121は、それ自体にはファンが設けられておらず、筐体19に設けられた吸気口14と排気ファン15を組み合わせた冷却機構のみによって冷却される。
上記各部は、高さ方向に関しては上から、排気ファン15、電源122、ターボ分子ポンプ121、それらターボ分子ポンプ121及び電源122以外の各機器(後述の第1発熱機器11)、吸気口14の順に配置されている。
第1実施形態の質量分析装置10は、排気ファン15を作動させることにより、筐体19内が負圧となり、それにより外部の空気が吸気口14から筐体19内に導入される。これら吸気口14と排気ファン15を組み合わせた冷却機構は、吸気ファンと排気口を組み合わせた冷却機構よりも、筐体19内に空気の流れを生成し易く、筐体19内を満遍なく冷却することができる。
そして、ターボ分子ポンプ121及び電源122は、第1実施形態の質量分析装置10中の他の機器(第1発熱機器11)よりも許容最大温度が低かったり、周囲の温度変化に敏感な発熱機器、すなわち上記第2発熱機器に該当する。以下、ターボ分子ポンプ121と電源122を合わせて「第2発熱機器12」とする。吸気口14は第1発熱機器11よりも第2発熱機器12に近い位置に設けられており、排気ファン15は第1発熱機器11よりも第2発熱機器12から遠い位置に設けられている。そのため、吸気口14から筐体19内に導入された空気は、第1発熱機器11の位置よりも速い風速で第2発熱機器12を通過するため、第2発熱機器12を効率よく冷却することができる。
また、第1実施形態の質量分析装置10では、第2発熱機器12が吸気口14及び第1発熱機器11よりも高い位置に配置されており、さらに排気ファン15がこれら第1発熱機器11及び第2発熱機器12よりも高い位置に配置されていることにより、第2発熱機器12を冷却することにより暖められて軽くなった空気が第1発熱機器11よりも上側を通過して排気ファン15から筐体19の外に排出される。そのため、第2発熱機器12で暖められた空気に第1発熱機器11が晒されることがなく、第1発熱機器11の温度上昇をより効果的に防ぐことができる。なお、第1発熱機器11は、吸気口14から導入されて第2発熱機器12よりも下側を通過した空気が通過することにより、冷却される。
第1実施形態の質量分析装置10について、筐体19内の温度分布及び空気の流速の分布を計算で求めた。その結果を、温度分布については図3に平面図で、空気の流速の分布については図4に側面図で、それぞれ示す。温度は、ターボ分子ポンプ121及び電源122内では高い(図3中の「H」)か又はやや高く(同「MH」)、それらターボ分子ポンプ121及び電源122の周囲、電源122よりも空気の下流側である排気ファン15寄りの領域、並びに第1発熱機器11が存在する領域ではやや低く(同「ML」)、その他の領域では低い(同「L」)。筐体19内の全体では、温度は、第2発熱機器12が配置されている位置の他では均一に近い分布を呈している。空気の流速は、吸気口14及び排気ファン15の近傍では他の位置よりも速くなっている。特に、吸気口14の近傍では他の発熱機器によって加熱される前の空気で冷却することができるため、上記各機器の配置は、第1発熱機器11よりも吸気口14に近い位置に配置された第2発熱機器12を冷却するのに適した分布となっている。
図5を用いて、本発明に係る質量分析装置の第2実施形態を説明する。第2実施形態の質量分析装置10Aは、第1実施形態の質量分析装置10と同様のターボ分子ポンプ121及び電源122(第2発熱機器12)、並びにその他の機器である第1発熱機器11が、直方体状の筐体19A内に収容されている。筐体19Aの4つの側面のうちの1つである吸気口設置面191Aには、第1吸気口141及び第2吸気口142の2個の吸気口が同じ高さに設けられている。ターボ分子ポンプ121は、第1発熱機器11及び電源122よりも第1吸気口141に近い位置に配置されている。一方、電源122は、第1発熱機器11及びターボ分子ポンプ121よりも第2吸気口142に近い位置に配置されている。吸気口設置面191Aに対向する筐体19Aの側面である排気ファン設置面192Aには、第1実施形態の質量分析装置10と同様の排気ファン15が設けられている。第2実施形態の質量分析装置における第1発熱機器11、ターボ分子ポンプ121、電源122、吸気口(第1吸気口141及び第2吸気口142)、並びに排気ファン15の高さ方向の位置関係は第1実施形態の質量分析装置10と同様である。
第1吸気口141の面積は、第2吸気口142の面積よりも大きい。それら第1吸気口141及び第2吸気口142の面積の和は、排気ファン15の開口面積の0.3〜7倍とすることが望ましく、本実施形態では排気ファン15の開口面積と同じとした。
第2実施形態の質量分析装置10Aでは、第1吸気口141は第1発熱機器11よりもターボ分子ポンプ121に近い位置に設けられており、第2吸気口142は第1発熱機器11よりも電源122に近い位置に設けられている。そのため、第1吸気口141から筐体19内に導入された空気は第1発熱機器11の位置よりも速い風速でターボ分子ポンプ121を通過し、第2吸気口142から筐体19内に導入された空気は第1発熱機器11の位置よりも速い風速で電源122を通過するため、これら第2発熱機器12であるターボ分子ポンプ121及び電源122を効率よく冷却することができる。また、第1吸気口141の方が第2吸気口142よりも面積が大きいため、電源122よりも発熱量の大きいターボ分子ポンプ121の方が、より多い風量が供給され、それによってより効率的に冷却される。
本発明は上記実施形態には限定されず、種々の変更が可能であることは言うまでもない。
10、10A…質量分析装置
11…第1発熱機器
110…質量分析計
111…イオン源
112…四重極マスフィルタ
113…コリジョンセル
1131…イオンガイド
114…イオントラップ
1141…リング電極
1142…エンドキャップ電極
115…飛行時間型質量分離器
1151…押出し電極
1152…グリッド電極
116…イオン検出器
117…真空室
12…第2発熱機器
121…ターボ分子ポンプ
122…電源
14…吸気口
141…第1吸気口
142…第2吸気口
15…排気ファン
19、19A…筐体
191、191A…吸気口設置面
192、192A…排気ファン設置面
192A…排気ファン設置面

Claims (5)

  1. オン化部、質量分離部及びイオン検出部から成る質量分析計を含む複数の機器を収容する筐体と、
    記機器の1つである第1発熱機器と、
    記機器の1つであって該第1発熱機器よりも許容最高温度が低いか又は許容温度変化量が小さく、該第1発熱機器よりも高い位置に配置されている第2発熱機器と、
    記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器に近く該第2発熱機器よりも低い位置に設けられた吸気口と、
    記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器から遠く該第2発熱機器よりも高い位置に設けられた排気ファンと
    を備えることを特徴とする質量分析装置。
  2. 前記第2発熱機器が局所冷却用のファンを有していないことを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
  3. 前記吸気口の開口面積が、前記排気ファンの開口の面積の0.3〜7倍であることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
  4. 前記吸気口を複数個備え、各吸気口につき、前記第1発熱機器よりも該吸気口に近い筐体内の位置に1個の前記第2発熱機器が配置されていることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
  5. 前記複数個の吸気口の開口面積の和が前記排気ファンの開口の面積の0.3〜7倍であることを特徴とする請求項4に記載の質量分析装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113748488A (zh) 2019-05-15 2021-12-03 株式会社岛津制作所 离子分析装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3059164A (en) * 1958-08-27 1962-10-16 Smith Corp A O Dual power sources
GB2170930B (en) 1985-02-07 1988-10-05 Sherritt Gordon Mines Ltd Quadrupole mass spectrometers
GB8503125D0 (en) 1985-02-07 1985-03-13 Sherritt Gordon Mines Ltd Quadrupole mass spectrometers
DE19827841C1 (de) 1998-06-23 2000-02-10 Bruker Daltonik Gmbh Thermostabiles Flugzeitmassenspektrometer
JP3726777B2 (ja) * 2002-05-29 2005-12-14 株式会社島津製作所 質量分析装置
JP3800422B2 (ja) * 2003-03-31 2006-07-26 株式会社日立製作所 特定薬物の探知方法及び探知装置
US20070071646A1 (en) 2005-09-29 2007-03-29 Schoen Alan E System and method for regulating temperature inside an instrument housing
JP5285735B2 (ja) 2011-03-31 2013-09-11 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
US8410434B1 (en) * 2011-09-16 2013-04-02 Science & Engineering Services, Inc. Thermo-stabilized nano- and micro- flow LC/ESI-MS interface and a method thereof
GB201216412D0 (en) * 2012-09-14 2012-10-31 Shimadzu Corp Apparatus for providing gaseous sample ions/molecules and a corresponding method

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