JPWO2019016854A1 - 質量分析装置 - Google Patents
質量分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2019016854A1 JPWO2019016854A1 JP2019530260A JP2019530260A JPWO2019016854A1 JP WO2019016854 A1 JPWO2019016854 A1 JP WO2019016854A1 JP 2019530260 A JP2019530260 A JP 2019530260A JP 2019530260 A JP2019530260 A JP 2019530260A JP WO2019016854 A1 JPWO2019016854 A1 JP WO2019016854A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- generating device
- heat generating
- mass spectrometer
- intake port
- housing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 17
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 24
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 9
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 7
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000001846 repelling effect Effects 0.000 description 1
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 1
- 238000009827 uniform distribution Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/24—Vacuum systems, e.g. maintaining desired pressures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0495—Vacuum locks; Valves
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
Description
a) イオン化部、質量分離部及びイオン検出部から成る質量分析計を含む複数の機器を収容する筐体と、
b) 前記機器の1つである第1発熱機器、及び前記機器の1つであって該第1発熱機器よりも許容最高温度が低いか又は許容温度変化量が小さい第2発熱機器と、
c) 前記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器に近い位置に設けられた吸気口と、
d) 前記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器から遠い位置に設けられた排気ファンと
を備えることを特徴とする。
第1実施形態の質量分析装置10は、図1に示すように、質量分析計110、真空ポンプであるターボ分子ポンプ121と、電源122と、それらを収容する筐体19を備える。
11…第1発熱機器
110…質量分析計
111…イオン源
112…四重極マスフィルタ
113…コリジョンセル
1131…イオンガイド
114…イオントラップ
1141…リング電極
1142…エンドキャップ電極
115…飛行時間型質量分離器
1151…押出し電極
1152…グリッド電極
116…イオン検出器
117…真空室
12…第2発熱機器
121…ターボ分子ポンプ
122…電源
14…吸気口
141…第1吸気口
142…第2吸気口
15…排気ファン
19、19A…筐体
191、191A…吸気口設置面
192、192A…排気ファン設置面
192A…排気ファン設置面
イオン化部、質量分離部及びイオン検出部から成る質量分析計を含む複数の機器を収容する筐体と、
前記機器の1つである第1発熱機器と、
前記機器の1つであって該第1発熱機器よりも許容最高温度が低いか又は許容温度変化量が小さく、該第1発熱機器よりも高い位置に配置されている第2発熱機器と、
前記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器に近く該第2発熱機器よりも低い位置に設けられた吸気口と、
前記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器から遠く該第2発熱機器よりも高い位置に設けられた排気ファンと
を備えることを特徴とする。
Claims (6)
- a) イオン化部、質量分離部及びイオン検出部から成る質量分析計を含む複数の機器を収容する筐体と、
b) 前記機器の1つである第1発熱機器、及び前記機器の1つであって該第1発熱機器よりも許容最高温度が低いか又は許容温度変化量が小さい第2発熱機器と、
c) 前記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器に近い位置に設けられた吸気口と、
d) 前記筐体の、前記第1発熱機器よりも前記第2発熱機器から遠い位置に設けられた排気ファンと
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - 前記第2発熱機器が局所冷却用のファンを有していないことを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 前記吸気口の開口面積が、前記排気ファンの開口の面積の0.3〜7倍であることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 前記吸気口を複数個備え、各吸気口につき、前記第1発熱機器よりも該吸気口に近い筐体内の位置に1個の前記第2発熱機器が配置されていることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 前記複数個の吸気口の開口面積の和が前記排気ファンの開口の面積の0.3〜7倍であることを特徴とする請求項4に記載の質量分析装置。
- 前記第2発熱機器が前記吸気口及び前記第1発熱機器よりも高い位置に配置されており、
前記排気ファンが前記第2発熱機器よりも高い位置に配置されている
ことを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2017/025922 WO2019016854A1 (ja) | 2017-07-18 | 2017-07-18 | 質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2019016854A1 true JPWO2019016854A1 (ja) | 2020-04-16 |
JP6747594B2 JP6747594B2 (ja) | 2020-08-26 |
Family
ID=65015888
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019530260A Active JP6747594B2 (ja) | 2017-07-18 | 2017-07-18 | 質量分析装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10985004B2 (ja) |
JP (1) | JP6747594B2 (ja) |
WO (1) | WO2019016854A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE112019007323B4 (de) | 2019-05-15 | 2023-08-03 | Shimadzu Corporation | Ionenanalysator |
US12100580B1 (en) * | 2023-12-13 | 2024-09-24 | Lunar Helium-3 Mining, Llc | Locating mining sites using an open mass spectrometer |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3059164A (en) * | 1958-08-27 | 1962-10-16 | Smith Corp A O | Dual power sources |
US4709148A (en) * | 1985-02-07 | 1987-11-24 | Sherritt Gordon Mines Limited | Quadrupole mass spectrometers |
US6465777B1 (en) * | 1998-06-23 | 2002-10-15 | Bruker Daltonik Gmbh | Method and apparatus for thermally stabilizing flight times in time-of-flight mass spectrometers |
JP2003346703A (ja) * | 2002-05-29 | 2003-12-05 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2004301749A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Hitachi Ltd | 特定薬物の探知方法及び探知装置 |
US20070071646A1 (en) * | 2005-09-29 | 2007-03-29 | Schoen Alan E | System and method for regulating temperature inside an instrument housing |
JP2012216339A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2170930B (en) | 1985-02-07 | 1988-10-05 | Sherritt Gordon Mines Ltd | Quadrupole mass spectrometers |
US8410434B1 (en) * | 2011-09-16 | 2013-04-02 | Science & Engineering Services, Inc. | Thermo-stabilized nano- and micro- flow LC/ESI-MS interface and a method thereof |
GB201216412D0 (en) * | 2012-09-14 | 2012-10-31 | Shimadzu Corp | Apparatus for providing gaseous sample ions/molecules and a corresponding method |
-
2017
- 2017-07-18 WO PCT/JP2017/025922 patent/WO2019016854A1/ja active Application Filing
- 2017-07-18 JP JP2019530260A patent/JP6747594B2/ja active Active
- 2017-07-18 US US16/625,956 patent/US10985004B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3059164A (en) * | 1958-08-27 | 1962-10-16 | Smith Corp A O | Dual power sources |
US4709148A (en) * | 1985-02-07 | 1987-11-24 | Sherritt Gordon Mines Limited | Quadrupole mass spectrometers |
US6465777B1 (en) * | 1998-06-23 | 2002-10-15 | Bruker Daltonik Gmbh | Method and apparatus for thermally stabilizing flight times in time-of-flight mass spectrometers |
JP2003346703A (ja) * | 2002-05-29 | 2003-12-05 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2004301749A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Hitachi Ltd | 特定薬物の探知方法及び探知装置 |
US20070071646A1 (en) * | 2005-09-29 | 2007-03-29 | Schoen Alan E | System and method for regulating temperature inside an instrument housing |
JP2012216339A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10985004B2 (en) | 2021-04-20 |
US20200161118A1 (en) | 2020-05-21 |
WO2019016854A1 (ja) | 2019-01-24 |
JP6747594B2 (ja) | 2020-08-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2463891B1 (en) | Miniature mass spectrometer system | |
US11434913B2 (en) | Multiple port vacuum pump system | |
CN112204701B (zh) | 台式飞行时间质谱仪 | |
JP6747594B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP2015521349A (ja) | 低温衝突冷却セル | |
US9177775B2 (en) | Mass spectrometer | |
JP2010511875A (ja) | 真空圧力測定装置のための電子源 | |
US10069442B2 (en) | Heat dissipation device and electronic system | |
JP2013054910A (ja) | イオンビーム装置 | |
CN111863585A (zh) | 质谱仪 | |
JPWO2017022125A1 (ja) | 質量分析装置 | |
US7910896B2 (en) | Micro discharge device ionizer and method of fabricating the same | |
JP5861775B2 (ja) | 質量分析装置 | |
WO2014022301A1 (en) | Ion carpet for mass spectrometry having progressive electrodes | |
CN112166255B (zh) | 台式飞行时间质谱仪 | |
EP2715774B1 (en) | Ion inlet for a mass spectrometer | |
JP6588175B1 (ja) | イオン注入装置、イオン源 | |
JP7035942B2 (ja) | 質量分析装置 | |
KR102587356B1 (ko) | 차동 진공 이온화 원 | |
Belov et al. | Design and performance of an electrospray ion source for magnetic-sector mass spectrometers | |
JP2011122749A (ja) | 静電霧化装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191205 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191205 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200707 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200720 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6747594 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |