JP6731521B2 - クリップ試験装置 - Google Patents

Description

本出願は、2018年6月18日に出願された台湾特許出願第107120125号に対する優先権を主張し、その全内容は参照により本出願に組み込まれる。

本発明はクリップ試験装置に関し、特に、削り取り構造を有するクリップ試験装置に関する。

電気自動車の開発に伴い、化石燃料の代わりに純粋な電気を使うことで長距離を移動することができる。電気自動車の走行距離を伸ばすためには、より多くの大容量の電池が必要とされる。そのため、電池の安定性、安全性、信頼性を確保することが重要な課題となっており、電池の品質試験の重要性も浮き彫りになっている。

現在、電池の品質試験のために電池に対して充放電試験を行うことができ、これにより電池の電圧および電流特性を正確に測定することができる。これは電池の品質を評価する際の重要なポイントである。しかしながら、電池の電極の酸化または損傷を回避するために、電池が製造されると、電極の表面に保護フィルムが形成される。保護フィルムを効果的に削り取ることができなければ、試験コネクタは電池の電極と直接接触することができず、電池の電圧および電流特性は正確に測定されない可能性がある。保護フィルムが機械でまたは手動で除去されると、明らかに全体の試験プロセスの効率が低下する。したがって、電池の電圧および電流特性をより迅速かつ正確に測定することができるように、電池試験プロセス中に保護フィルムを直接剥がして電池の電極を露出させることができる試験装置が業界で必要とされている。

本発明はクリップ試験装置を提供する。クリップ試験装置が電池の電極をクランプする場合に、クリップ試験装置は導電性部材に対して削り取り構造を使用することによって電極から保護フィルムを削り取ることができる。さらに、クリップ試験装置は、導電性部材を直接使用することによって電池の電圧および電流特性を試験することができる。したがって、試験効率および精度を向上させることができる。

本発明は、クリップ試験装置を提供する。クリップ試験装置は、第１のクランプ部材、第２のクランプ部材、シャフト、および導電性部材を備える。第１のクランプ部材は第１のピン接合部材と第１の基板とを有し、第２のクランプ部材は第２のピン接合部材と第２の基板とを有する。シャフトは、第１のピン接合部材および第２のピン接合部材に取り外し可能に枢着（pivoted）されている。第１のクランプ部材上に配置され、かつ第１の基板と第２の基板との間に配置された導電性部材は、第１の屈曲部と第２の屈曲部とを有する。第１の屈曲部は、導電性部材の上面に向かって屈曲している。第２の屈曲部は、導電性部材の下面に向かって屈曲している。第２の屈曲部は第１の削り取り構造を有し、第１の削り取り構造は導電性部材の上面から突出または陥没する。

一実施形態において、導電性部材の下面は第１の基板に面しており、第１の屈曲部と第１の基板との間の距離は第２の屈曲部と第１の基板との間の距離よりも小さい。さらに、クリップ試験装置は、金属板と測定部材とをさらに備える。金属板は、第１のクランプ部材上に配置され、かつ第１の基板と導電性部材との間に配置され、金属板は導電性部材の下面と接触する。測定部材は第３の屈曲部および第４の屈曲部を有し、第３の屈曲部は測定部材の上面に向かって屈曲し、第４の屈曲部は測定部材の下面に向かって屈曲し、第４の屈曲部は第２の削り取り構造を有し、第２の削り取り構造は測定部材の上面から突出または陥没する。

本発明は別のクリップ試験装置を提供する。クリップ試験装置は、第１のクランプ部材、第２のクランプ部材、シャフト、および導電性部材を備える。第１のクランプ部材は第１のピン接合部材と第１の基板とを有し、第２のクランプ部材は第２のピン接合部材と第２の基板とを有する。シャフトは、第１のピン接合部材および第２のピン接合部材に取り外し可能に枢着されている。第１のクランプ部材上に配置され、かつ第１の基板と第２の基板との間に配置された導電性部材は、第１の屈曲部と第２の屈曲部とを有する。第１の屈曲部は底面を有し、第２の屈曲部は上面を有する。底面と上面との間には予め設定された距離がある。第２の屈曲部は第１の削り取り構造を有し、底面と上面との間の距離が上記予め設定された距離より小さい場合に、第１の削り取り構造は第１の基板に対して移動する。

本発明はさらに別のクリップ試験装置を提供する。クリップ試験装置は、第１のクランプ部材、第２のクランプ部材、シャフト、および導電性部材を備える。第１のクランプ部材は第１のピン接合部材と第１の基板とを有し、第２のクランプ部材は第２のピン接合部材と第２の基板とを有する。シャフトは、第１のピン接合部材および第２のピン接合部材に取り外し可能に枢着されている。第１のクランプ部材上に配置され、かつ第１の基板と第２の基板との間に配置された導電性部材は、上面と下面とを有する。導電性部材の下面は第１の基板に面しており、導電性部材の少なくとも一部は波状であり、上面に第１の削り取り構造を有する。

要約すると、本発明は導電性部材を有するクリップ試験装置を提供する。導電性部材は波状であり且つ削り取り構造を有する可撓性導電片であってもよい。クリップ試験装置が試験対象ユニット（例えば電池）に対して電気試験を行う場合に、導電性部材の削り取り構造は電池の電極をクランプすることができ、電池の電極から保護フィルムを削り取る。このようにして、試験プロセスの効率および精度を改善するために導電性部材を利用して電池の電圧および電流特性を直接試験することができる。

本発明の一実施形態によるクリップ試験装置の概略斜視図である。 本発明の一実施形態によるクリップ試験装置の分解斜視図である。 本発明の一実施形態による第１のクランプ部材の概略斜視図である。 本発明の一実施形態による第２のクランプ部材の概略斜視図である。 本発明の一実施形態によるクリップ試験装置の別の概略斜視図である。 本発明の一実施形態による導電性部材の概略斜視図である。 本発明の一実施形態による導電性部材の部分概略図である。 本発明の一実施形態による導電性部材および金属板の概略斜視図である。 本発明の一実施形態による測定部材の概略斜視図である。 本発明の一実施形態による曲げられる前の導電性部材の概略斜視図である。 本発明の別の実施形態による導電性部材の概略斜視図である。

本発明の特徴、目的、および機能を以下にさらに開示する。しかしながら、それは本発明の可能な実施形態のほんの数例に過ぎず、本発明の範囲はそれに限定されず、すなわち本発明の請求項に従って行われる同等の変更および修正は依然として本発明の主題のままである。本発明の精神および範囲から逸脱することなく、それは本発明のさらなる実施可能性として考慮されるべきである。

図１を参照すると、図１は、本発明の一実施形態によるクリップ試験装置の概略斜視図である。図１に示されるように、クリップ試験装置１は、第１のクランプ部材１０、第２のクランプ部材１２、シャフト１４、および導電性部材１６を備える。導電性部材１６は、第１のクランプ部材１０と第２のクランプ部材１２との間に配置され、導電性部材１６は、第２のクランプ部材１２よりも第１のクランプ部材１０により近い。シャフト１４は、第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２がシャフト１４まわりに回転することを可能にするように、第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２を一緒に旋回（pivot）させるために利用される。第１のクランプ部材１０、第２のクランプ部材１２、およびシャフト１４がクリップを形成し、第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２が、試験対象ユニットをクランプするためにそれらに力が加えられた場合に、互いに近づくことを可能にすることは当業者には明らかである。この実施形態は、クリップ試験装置１がどのような試験対象ユニットをクランプするために用いられるかを限定するものではなく、試験対象ユニットが電気的に試験される必要がある限り、それはクリップ試験装置１によってクランプされるのに適した試験対象ユニットである。例えば、試験対象ユニットは任意選択的に電池であってもよく、クリップ試験装置１は電気試験を処理するために電池の電極をクランプすることができる。

さらに、本実施形態において、試験対象ユニットの外形は限定されない。例えば、図１に示す第１のクランプ部材１０と第２のクランプ部材１２とは、試験対象ユニットの一部をクランプすることができ、クランプされる部分は、ピース形状（piece shaped）、プレート形状、円筒形状、または他の任意の形状とすることができる。一例では、力が第１のクランプ部材１０の一端と第２のクランプ部材１２の対応する端部にそれぞれ加えられると、第１のクランプ部材１０の他端と第２のクランプ部材１２の対応する端部は試験対象ユニットをクランプするために利用され得る。第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２の外形は、試験対象ユニットがそれらによってクランプされた場合の安定性を確保するために、試験対象ユニットのサイズに合うように、または試験対象ユニットよりわずかに小さい厚さを有するように設計できる。勿論、本実施形態において、第１のクランプ部材１０及び第２のクランプ部材１２の外形は限定されない。例えば、図１に示すような第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２を利用して、試験対象ユニットのピース形状またはプレート形状の部分をクランプすることができ、別のやり方では、第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２は、試験対象ユニットの円筒形状の部分をクランプするのにより適したようにわずかに曲げられるように修正することができる。

簡潔にするために、本実施形態は、試験対象ユニットが電池であり得、第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２が電池のピース形状の電極をクランプし得ることを開示するが、本実施形態はこれに限定されない。

図１は組み立てられた状態のクリップ試験装置１を示すが、図１において一部の構成要素を観察するのは容易ではないため、説明を明確にするために以下のクリップ試験装置１は分解され得る。図１及び図２を参照すると、図２は本発明の一実施形態によるクリップ試験装置の分解斜視図である。図２に示されるように、第１のクランプ部材１０、第２のクランプ部材１２、シャフト１４、および導電性部材１６とは別に、クリップ試験装置１は、金属板１８および測定部材１９をさらに含んでもよい。ただし、金属板１８および測定部材１９は必須の構成要素ではなく、後で詳細に説明される。さらに、各部材の機能および説明は、以下に示すように、それぞれ斜視図を用いてさらに説明される。

図２及び図３を参照すると、図３は本発明の一実施形態による第１のクランプ部材の概略斜視図である。図に示されるように、第１のクランプ部材１０は、第１の基板１００と第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂとを有する。本実施形態において第１の基板１００の外形及び外観は限定されず、第１の基板１００が第１のクランプ部材１０の底部構造である限り、本実施形態の第１の基板１００の範囲に適合する。第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂは第１の基板１００と接続する。第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂのそれぞれは貫通孔を有してもよく、シャフト１４は貫通孔を貫通することができ一定の範囲内で回転することができる。実際には、図には２つの第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂが描かれているが、シャフト１４に対して旋回可能なピン接合部材がある限り、それは本発明の範囲に適合する。したがって、第１のピン接合部材の数量は、１または複数であればよく、本実施形態では限定されない。さらに、この実施形態は、シャフト１４が第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂを貫通する可能な方法を開示しているが、当業者であれば第１のクランプ部材１０とシャフト１４との間の関節手段を置換することもでき、本実施形態により限定されない。

一例では、第１の基板１００はその上に第１の固定部材１０４を有する。第１の固定部材１０４は、シャフト１４に弾性部材１４０を位置決めし、弾性部材１４０を第１の基板１００の中央部に固着することを可能にするために利用することができる。第１の固定部材１０４によって弾性部材１４０がシャフト１４または第１の基板１００に対して相対的に滑らないようにすることができるので、試験対象ユニットを保持するためのクランプ力または試験対象ユニットを解放するための復元力を維持することができる。実際には、弾性部材１４０は、第１のクランプ部材１０と第２のクランプ部材１２を締め付けるため、またはクランプ部材を互いに遠ざけるために、任意選択的に渦巻きばねまたは板ばねとすることができる。弾性部材１４０の形態は、本実施形態によって限定されない。さらに、第１の固定部材１０４は、第１の基板１００から突き出て導電性部材１６を貫通してもよく、クリップ試験装置１がうまく組み立てられた場合に、導電性部材１６の位置決めを助け、導電性部材１６がその予め設定された位置から外れることを防止する。

さらに、第１の基板１００は、測定部材１９と導電性部材１６とを収容するために２つの領域１００ａ、１００ｂに分割することができる。測定部材１９と導電性部材１６とは異なる電気的測定目的を有するので、第１の基板１００上の領域１００ａ、１００ｂは測定部材１９と導電性部材１６を互いに分離させる必要がある。実際には、第１の基板１００上の領域１００ａ、１００ｂは２つの凹部であり得、領域１００ａの凹部形状は測定部材１９の形状に対応し、領域１００ｂの凹部形状は導電性部材１６の形状に対応する。したがって、測定部材１９および導電性部材１６をそれぞれ領域１００ａ、１００ｂに収めることができ、測定部材１９および導電性部材１６の移動を抑制することができる。さらに、測定部材１９および導電性部材１６は、領域１００ａ、１００ｂにそれぞれ直接固定されるかまたは固着されてもよいが、これらに限定されない。

図２及び図４を参照すると、図４は本発明の一実施形態による第２のクランプ部材の概略斜視図である。図に示されるように、第２のクランプ部材１２は、第２の基板１２０と第２のピン接合部材１２２ａ、１２２ｂとを有する。同様に、第２の基板１２０の外形または外観は前述のものに限定されず、第２の基板１２０が第２のクランプ部材１２の底部構造である限り、本実施形態の第２の基板１２０の範囲に適合する。第２のピン接合部材１２２ａ、１２２ｂは、第２の基板１２０に接続する。第２のピン接合部材１２２ａ、１２２ｂのそれぞれは、それぞれ貫通孔を有してもよい。実際には、シャフト１４は、第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂと第２のピン接合部材１２２ａ、１２２ｂとを同時に貫通することができる。したがって、第１のクランプ部材１０と第２のクランプ部材１２とは、シャフト１４を介して一体に旋回し、第１のクランプ部材１０と第２のクランプ部材１２とは、シャフト１４に対して旋回可能である。

一例では、第２の基板１２０は、シャフト１４の弾性部材１４０を位置決めするための第２の固定部材１２４を有し、弾性部材１４０を第２の基板１２０の中央部に固着させることができる。第２の固定部材１２４によって弾性部材１４０がシャフト１４または第２の基板１２０に対して相対的に滑らないようにすることができるので、試験対象ユニットを保持するためのクランプ力または試験対象ユニットを解放するための復元力を維持することができる。本実施形態は第１の基板１００と第２の基板１２０のそれぞれが独自の固定部材を有することを開示するが、これらの固定部材は必須ではない。固定部材を有するのは、第１の基板１００と第２の基板１２０のうちの一方のみであってもよい。さらに、本実施形態では、導電性部材１６は第１のクランプ部材１０に組み付けられている。実際には、導電性部材１６を第２のクランプ部材１２に組み付けることもでき、あるいは第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２をそれぞれ独自の導電性部材に組み付けることもできる。

なお、本実施形態は第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂが第１の基板１００の中央部に配置されることを開示するが、これは第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂがおおよそ第１のクランプ部材１０の中央部の両側に配置されていることを意味する。そして、第２のピン接合部材１２２ａ、１２２ｂは第２の基板１２０の中央部に配置されており、これは第２のピン接合部材１２２ａ、１２２ｂがおおよそ第２のクランプ部材１２の中央部の両側に配置されていることを意味する。本実施形態はこれに限定されない。一例では、第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂおよび第２のピン接合部材１２２ａ、１２２ｂは、それぞれ、第１の基板１００および第２の基板１２０の対応する／隣接する端部に配置することができる。当業者は、第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂの位置および第２のピン接合部材１２２ａ、１２２ｂの位置は第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２がどのように駆動されるかに関連していることを、理解するはずである。

例えば、第１のクランプ部材１０と第２のクランプ部材１２が第１の基板１００と第２の基板１２０の一端から圧縮または押圧されると、第１の基板１００と第２の基板１２０の他端が開くか閉じることができ、このようにして、本実施形態で説明したように、第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂおよび第２のピン接合部材１２２ａ、１２２ｂを第１の基板１００および第２の基板１２０の中央部に配置することができる。

さらに、クリップ試験装置１を使用して試験対象ユニットに対する電気試験を処理するので、第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２をプラスチックのような絶縁材料で形成することができ、これにより、第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２による試験結果への干渉を少なくすることができる。第１のクランプ部材１０の第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂと第１の基板１００とは一体的に形成されてもよく、第２のクランプ部材１２の第２のピン接合部材１２２ａ、１２２ｂと第２の基板１２０とも一体的に形成されてもよい。

第１のクランプ部材１０と第２のクランプ部材１２とがシャフト１４を介してどのように一緒に旋回されるかを説明するために、図２及び図５を参照されたい。図５は本発明の一実施形態によるクリップ試験装置の別の概略斜視図である。図に示されるように、第１のクランプ部材１０の２つの第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂ間の距離は、本実施形態に示すように、第２のクランプ部材１２の２つの第２のピン接合部材１２２ａ、１２２ｂ間の距離よりもわずかに大きい。このようにして、第１のクランプ部材１０の２つの第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂを第２のクランプ部材１２の２つの第２のピン接合部材１２２ａ、１２２ｂの側面の外側に配置することができる。シャフト１４は、第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂおよび第２のピン接合部材１２２ａ、１２２ｂの貫通孔を貫通する長尺状の支柱を有する。シャフト１４は、第１のピン接合部材１０２ａ、１０２ｂの外側に固定されるクリップをさらに有することができ、それにより、第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２はシャフト１４を介して一緒に旋回することができる。

図２及び図６も参照すると、図６は本発明の一実施形態による導電性部材の概略斜視図である。図に示されるように、導電性部材１６は第１の屈曲部１６０と第２の屈曲部１６２とを有し、第１の屈曲部１６０は導電性部材１６の上面１６ａに向かって屈曲し、第２の屈曲部１６２は導電性部材１６の下面１６ｂに向かって屈曲している。詳細には、導電性部材１６は、第１の基板１００上に配置されている。本実施形態の導電性部材１６の下面１６ｂは第１の基板１００と直接接触することに限定されず、導電性部材１６の下面１６ｂが第１の基板１００に面している限り、それは本発明の範囲に適合する。さらに、導電性部材１６の一部は波状である。第１の屈曲部１６０は、波状であり導電性部材１６の上面１６ａに向かって屈曲している導電性部材１６の部分を指し、第２の屈曲部１６２は、波状であり導電性部材１６の下面１６ｂに向かって屈曲している導電性部材１６の部分を指す。第１の屈曲部１６０と第１の基板１００との間の距離が第２の屈曲部１６２と第１の基板１００との間の距離よりも小さくなるように、第１の屈曲部１６０は第２の屈曲部１６２よりも低い。

本実施形態において、第１の屈曲部１６０の数および第２の屈曲部１６２の数は限定されない。当業者であれば、導電性部材１６がより多く曲げられるほど、より多くの第１の屈曲部１６０および第２の屈曲部１６２が適用され得ることを理解することができる。導電性部材１６が、少なくとも１つの第１の屈曲部１６０と少なくとも１つの第２の屈曲部１６２とを有する限り、本実施形態の導電性部材１６の範囲に適合する。さらに、本実施形態は、第１の屈曲部１６０と第２の屈曲部１６２とが互いに平行であることを開示するが、２つの第１の屈曲部１６０を１つの第２の屈曲部１６２に隣接させることができる。しかしながら、これに限定されない。一実施形態では、第１の屈曲部１６０および第２の屈曲部１６２は、任意選択的にＷ字型またはＶ字型であってよく、第１の屈曲部１６０および第２の屈曲部１６２は交互に配置され、必ずしも互いに平行ではない。

導電性部材１６、特に第２の屈曲部１６２の第１の削り取り構造１６２０の設計を詳細に説明するために、図６及び図７を参照されたい。図７は本発明の一実施形態による導電性部材の部分概略図である。図に示されるように、第２の屈曲部１６２は第１の削り取り構造１６２０を有し、第１の削り取り構造１６２０は導電性部材１６の上面１６ａ側に位置している。実際には、導電性部材１６の下面１６ｂは第１の基板１００に向かって屈曲しているので、下面１６ｂは試験対象ユニットとの接触には利用されない。そのため、第１の削り取り構造１６２０を導電性部材１６の上面１６ａ側に配置する必要がある。そして、第１の削り取り構造１６２０は、第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２が試験対象ユニットをクランプしている場合に、試験対象ユニットと接触することができる。

実際には、導電性部材１６の機能の１つは、試験対象ユニットに電圧および電流を供給することであり、したがって、導電性部材１６は、任意選択的に金属または他の任意の電子伝導性材料であってもよい。換言すれば、導電性部材１６の材料は可撓性であり、特に導電性部材１６は第１の屈曲部１６０および第２の屈曲部１６２を有する。第１の屈曲部１６０の底面１６０ａ（または導電性部材１６の下面１６ｂ）と第２の屈曲部１６２の上面１６２ａ（または導電性部材１６の上面１６ａ）との間に外力が加えられた場合に、底面１６０ａと上面１６２ａとの間の距離はわずかに短くなる。対照的に、導電性部材１６は、その端部に位置する端子部分１６４に向かって伸張し得、それにより、第１の基板１００から見て導電性部材１６の全長がわずかに伸ばされ得る。

例えば、試験対象ユニットが電池である場合、第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２は、電気試験を実行するために、電池の電極をクランプすることによって電池の電極を保持することができる。しかしながら、電池が工場から出荷される前に、電池の酸化や損傷を防止するために、通常、電極の表面に絶縁材料からなる保護フィルムが積層されている。したがって、導電性部材１６の他の機能の一つは、保護フィルムを予め剥がすことなく導電性部材が保護フィルムを電極から削り取ることができることである。本実施形態は導電性部材１６の上面１６ａから突出する第１の削り取り構造１６２０を示し、第１の削り取り構造１６２０は保護フィルムを電極から削り取るために端子部分１６４に向かって屈曲している。

説明のように、第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２が電池の電極をクランプすると、導電性部材１６の第２の屈曲部１６２の上面１６２ａ（特に第１の削り取り構造１６２０）が電池の電極を押圧する。その後、底面１６０ａが第１の基板１００によって支持され、導電性部材１６が底面１６０ａと上面１６２ａとの間で外力を受けることができるので、導電性部材１６は、材料およびその波状の外形によって提供される可撓性によってわずかに変形され得る。換言すると、底面１６０ａと上面１６２ａとの間の距離が短くなり、導電性部材１６の全長は第１の基板１００に対してわずかに長くなり得る。結果として、第１の削り取り構造１６２０と電極との間の摩擦によって保護フィルムを電極から削り取るように、第１の削り取り構造１６２０は電池の電極を押圧し一定の変位を有することができる。

第１の削り取り構造１６２０の配置、形状、および寸法は、本実施形態によって限定されない。例えば、第１の削り取り構造１６２０は、任意選択的にマトリックスまたは予め設定された図形の形態で配置されてもよい。導電性部材１６の上面１６ａから見て、第１の削り取り構造１６２０は、任意選択的に三角形、台形、長方形または他の形状であってもよく、電極から保護フィルムを削り取ることができる限り、本実施形態の第１の削り取り構造１６２０の範囲に適合する。さらに、一例では、第１の削り取り構造１６２０の一部のみが端子部分１６４に向かって傾斜して屈曲しており、第１の削り取り構造１６２０の別の部分が他の方向に傾斜して屈曲する場合に、電極上の保護フィルムを同様に削り取ることができる。要するに、第１の削り取り構造１６２０が屈曲する方向は限定されず、第１の削り取り構造１６２０が傾斜しておらず保護フィルムに直接押し付けられなくても、依然として導電性部材１６は電池の電極と接触して電気試験を処理することができる。さらに、導電性部材１６の刃先に形成された端子部分１６４にも、第３の削り取り構造１６４０を形成することができる。第３の削り取り構造１６４０の配置、形状、および寸法は、第１の削り取り構造１６２０と同じでも異なっていてもよく、また本実施形態によって限定されない。

本実施形態における導電性部材１６の厚さは限定されないが、導電性部材１６は試験対象ユニットに電圧および電流を供給し得るので、導電性部材１６の厚さが十分でない場合、抵抗は増加し得る。この状況に応じて、金属板１８を導電性部材１６と第１の基板１００との間に配置することができる。図２及び図８を参照すると、図８は本発明の一実施形態による導電性部材および金属板の概略斜視図である。図に示されるように、導電性部材１６は金属板１８に強固に接合されている。電気試験において、電流を伝達するために導電性部材１６のみを利用することとは別に、金属板１８は電気試験のための他の電流経路を提供することができる。前述のように、金属板１８は必須ではなく、電気試験に大電流が必要でない場合、または導電性部材１６が十分な厚さを有する場合、導電性部材１６を第１の基板１００上に直接固定することができる。対照的に、電気試験に大電流が必要とされる場合、または導電性部材１６が薄すぎる場合、導電性部材１６は金属板１８を用いて第１の基板１００に固定されることが提案される。しかしながら、本実施形態では、どのような状況であっても、導電性部材１６は常に第１のクランプ部材１０上に配置され、かつ第１の基板１００と第２の基板１２０との間に配置されるべきである。

本実施形態は金属板１８の外形または寸法を限定せず、金属板１８が導電性部材１６と第１の基板１００との間に配置され、外部試験装置から電池の電極への電流経路を提供することができる限り、本実施形態の金属板１８の範囲に適合する。さらに、クリップ試験装置１はさらに測定部材１９を有することができる。図２及び図９を参照されたい。図９は本発明の一実施形態による測定部材の概略斜視図である。図に示されるように、測定部材１９の外形は導電性部材１６と類似していてもよく、また第１の基板１００と第２の基板１２０との間に位置している。測定部材１９の寸法は、導電性部材１６よりもわずかに小さくてもよい。本実施形態に開示されているように、測定部材１９は第１のクランプ部材１０と組み合わされている。しかしながら、測定部材１９は、代わりに第２のクランプ部材１２と組み合わされてもよく、第１のクランプ部材１０および第２のクランプ部材１２は、それぞれ、それらに組み付けられた独自の測定部材を持つこともできる。

さらに、測定部材１９は、第３の屈曲部１９０と第４の屈曲部１９２とを有してもよい。第３の屈曲部１９０も測定部材１９の上面に向かって屈曲することができ、第４の屈曲部１９２もまた測定部材１９の下面に向かって屈曲することができる。第４の屈曲部１９２はまた、第２の削り取り構造１９２０を有することができ、第２の削り取り構造１９２０は、測定部材１９の上面から突出または陥没することができる。測定部材１９の構造は、導電性部材１６の構造と同様であり得、その詳細は前の説明を参照することができ、簡潔のためにここでは省略する。

導電性部材１６は、電池に大電流を供給する機能を有する。電力伝送効率を維持するために、導電性部材１６を金属板１８上に積み重ねることができる。そして、測定部材１９の機能は電池の電圧を感知することであるので、電池が過充電されること、または他の理由で異常な電圧を有することを防止することができる。測定部材１９は大電流を伝達する必要がなく、したがって金属板１８上に積み重ねられる必要がないので、測定部材１９の寸法を導電性部材１６よりわずかに小さくすることができる。別の実施形態では、測定部材１９も金属板１８上に積み重ねることができる。測定部材１９による測定電圧の精度を保証するために、測定部材１９は導電性部材１６に電気的に接続されていない、すなわち、測定部材１９および導電性部材１６はそれぞれ独自の金属板を使用することができる。なお、測定部材１９と導電性部材１６とが同じ金属板１８を共有している場合には、測定部材１９を導電性部材１６の一部と見なすことができることに留意されたい。測定部材１９および導電性部材１６は、それぞれ、依然としてそれ自体の機能のために動作可能であり得るが、導電性部材１６が電圧または電流を提供する場合、測定部材１９は導電性部材１６によって妨害される可能性がより高く、電池の電圧をリアルタイムで測定することは困難である可能性がある。

測定部材１９および導電性部材１６の製造プロセスについては、波状の第１の屈曲部１６０および第２の屈曲部１６２をスタンピング工程により一体的に形成することができる。一例として導電性部材１６の使用について、図１０を参照されたい。図１０は本発明の一実施形態による曲げられる前の導電性部材の概略斜視図である。図１０に示されるように、導電性部材１６は、任意選択的に屈曲前には１つの平板状材料であってもよく、削り取り構造１６２０をスタンピング工程によって形成することができ、波状の第１の屈曲部１６０および第２の屈曲部１６２もまた同じスタンピング工程を用いることにより形成される。実際には、第１の削り取り構造１６２０を１回のスタンピング工程で波状の第１の屈曲部１６０および第２の屈曲部１６２と共に形成することができ、第１の削り取り構造１６２０の形成順序はこれに限定されない。さらに、当業者に知られているように、第１の削り取り構造１６２０と波状の第１の屈曲部１６０および第２の屈曲部１６２とを形成するためには、スタンピング工程が最も便利な方法であり得る。しかしながら、本実施形態は、他の可能な製造手段を排除せず、例えば、第１の削り取り構造１６２０をレーザ切断し、第１の屈曲部１６０および第２の屈曲部１６２を任意の公知の金属変形技術によって波状に屈曲することも可能な手段である。

最後に、本実施形態で説明された第１の削り取り構造１６２０は、導電性部材１６の上面１６ａから突出することに限定されない。図１１を参照すると、図１１は本発明の別の実施形態による導電性部材の概略斜視図である。図１１に示されるように、導電性部材２６の別の設計も波状に配置された第１の屈曲部２６０および第２の屈曲部２６２を有することができ、第１の削り取り構造２６２０も導電性部材２６の上面から陥没してもよい。したがって、第２の屈曲部２６２の上面を部分的に陥没させることができ、これにより、保護フィルムを電極から削り取るのにも利用することができる粗い、すなわち滑らかでない表面を形成することができる。さらに、第２の屈曲部２６２の上面は比較的粗くてもよく、クリップ試験装置１が電極をクランプするときに電極を押圧するように構成されてもよい。第２の屈曲部２６２によって電極が擦られるので、導電性部材２６が延ばされるときに保護フィルムを除去することができる。

要約すると、本発明によって提供されるクリップ試験装置は波状の導電性部材を有する。
試験対象ユニットがクランプされると、導電性部材が試験対象ユニットに接触するだけでなく、わずかに変形され得、これにより導電性部材の削り取り構造を利用して保護フィルム層を電池電極から削り取り、これにより電極上の保護フィルムを除去する追加の工程を省略することができ、電池の電圧および電流特性を直接測定することができ、電池電気試験の全体的な効率および精度を改善する。

Claims (18)

1. クリップ試験装置であって、
   第１の基板と第１のピン接合部材とを有する第１のクランプ部材と、
   第２の基板と第２のピン接合部材とを有する第２のクランプ部材と、
   前記第１のピン接合部材および前記第２のピン接合部材に取り外し可能に枢着されているシャフトと、
   前記第１のクランプ部材上に配置され、かつ前記第１の基板と前記第２の基板との間に配置された導電性部材であって、当該導電性部材が第１の屈曲部と第２の屈曲部とを有し、前記第１の屈曲部が前記導電性部材の上面に向かって屈曲し、前記第２の屈曲部が前記導電性部材の下面に向かって屈曲し、前記第２の屈曲部が第１の削り取り構造を有し、前記第１の削り取り構造が前記導電性部材の前記上面から突出または陥没する、導電性部材と、を備えるクリップ試験装置。
2. 前記導電性部材の前記下面は前記第１の基板に面しており、前記第１の屈曲部と前記第１の基板との間の距離は、前記第２の屈曲部と前記第１の基板との間の距離よりも小さい、請求項１に記載のクリップ試験装置。
3. 前記第１のクランプ部材上に配置され、かつ前記第１の基板と前記導電性部材との間に配置された金属板をさらに備え、前記金属板は前記導電性部材の前記下面と接触する、請求項２に記載のクリップ試験装置。
4. 前記第１の基板と前記第２の基板との間に配置された測定部材をさらに備え、前記測定部材は第３の屈曲部と第４の屈曲部とを有し、前記第３の屈曲部は前記測定部材の上面に向かって屈曲し、前記第４の屈曲部は前記測定部材の下面に向かって屈曲し、前記第４の屈曲部は第２の削り取り構造を有し、前記第２の削り取り構造は前記測定部材の前記上面から突出または陥没する、請求項３に記載のクリップ試験装置。
5. 前記導電性部材は前記測定部材と電気的に接続されておらず、前記導電性部材の前記上面は前記測定部材の前記上面と実質的に同一平面上にある、請求項４に記載のクリップ試験装置。
6. 前記導電性部材は金属製であり、前記第１の屈曲部と前記第２の屈曲部とは一体的に形成されている、請求項１に記載のクリップ試験装置。
7. 前記導電性部材の端子部分は前記第１の屈曲部に隣接し、前記端子部分は第３の削り取り構造を有する、請求項１に記載のクリップ試験装置。
8. クリップ試験装置であって、
   第１の基板と第１のピン接合部材とを有する第１のクランプ部材と、
   第２の基板と第２のピン接合部材とを有する第２のクランプ部材と、
   前記第１のピン接合部材および前記第２のピン接合部材に取り外し可能に枢着されているシャフトと、
   前記第１のクランプ部材上に配置され、かつ前記第１の基板と前記第２の基板との間に配置された導電性部材であって、当該導電性部材が第１の屈曲部および第２の屈曲部を有し、前記第１の屈曲部は底面を有し、前記第２の屈曲部は上面を有し、前記底面および前記上面はそれらの間に予め設定された距離を有する、導電性部材と、を備え、
   前記第２の屈曲部は第１の削り取り構造を有し、
   前記底面と前記上面との間の距離が前記予め設定された距離よりも小さい場合、前記第１の削り取り構造は前記第１の基板に対して移動する、クリップ試験装置。
9. 前記第１の屈曲部の前記底面が前記第１の基板に面しており、前記第２の屈曲部の前記上面が前記第２の基板に面しており、前記第１の屈曲部と前記第１の基板との間の距離が前記第２の屈曲部と前記第１の基板との間の距離よりも小さい、請求項８に記載のクリップ試験装置。
10. 前記第１のクランプ部材上に配置され、かつ前記第１の基板と前記導電性部材との間に配置された金属板をさらに備え、前記金属板は前記導電性部材と接触する、請求項９に記載のクリップ試験装置。
11. 前記第１の基板と前記第２の基板との間に配置された測定部材さらに備え、前記測定部材は第３の屈曲部と第４の屈曲部とを有し、前記第３の屈曲部は前記測定部材の上面に向かって屈曲し、前記第４の屈曲部は前記測定部材の下面に向かって屈曲し、前記第４の屈曲部は第２の削り取り構造を有し、前記第２の削り取り構造は前記測定部材の前記上面から突出または陥没する、請求項１０に記載のクリップ試験装置。
12. 前記導電性部材は、前記測定部材と電気的に接続されていない、請求項１１に記載のクリップ試験装置。
13. 前記導電性部材は金属製であり、前記第１の屈曲部と前記第２の屈曲部とは一体的に形成されている、請求項８に記載のクリップ試験装置。
14. 前記導電性部材の端子部分は、前記第１の屈曲部に隣接し、前記端子部分は第３の削り取り構造を有する、請求項８に記載のクリップ試験装置。
15. クリップ試験装置であって、
    第１の基板と第１のピン接合部材とを有する第１のクランプ部材と、
    第２の基板と第２のピン接合部材とを有する第２のクランプ部材と、
    前記第１のピン接合部材および前記第２のピン接合部材に取り外し可能に枢着されているシャフトと、
    前記第１のクランプ部材上に配置され、かつ前記第１の基板と前記第２の基板との間に配置された導電性部材であって、当該導電性部材が上面および下面を有し、前記導電性部材の前記下面は前記第１の基板側に面し、前記導電性部材の少なくとも一部は波状であり、前記上面に第１の削り取り構造を有する、導電性部材と、を備えるクリップ試験装置。
16. 前記第１のクランプ部材上に配置され、かつ前記第１の基板と前記導電性部材との間に配置された金属板を備え、前記金属板は前記導電性部材と接触する、請求項１５に記載のクリップ試験装置。
17. 前記第１の基板と前記第２の基板との間に配置された測定部材をさらに備え、前記測定部材の少なくとも一部が波形であり、かつ第２の削り取り構造を有する、請求項１５に記載のクリップ試験装置。
18. 前記波状の導電性部材は予め設定された長さ及び予め設定された厚さを有し、前記波状の導電性部材の厚さが前記予め設定された厚さより小さい場合、前記波状の導電性部材の長さは前記予め設定された長さよりも長く、前記第１の削り取り構造は前記第１の基板に対して移動する、請求項１５に記載のクリップ試験装置。