JP6715798B2 - ガス分析装置 - Google Patents
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Description
本実施の形態のガス分析装置は、試料ガス中のガス成分を分析するための非分散型赤外線(NDIR)方式のガス分析装置である。
図3を参照して、本実施の形態のガス分析装置は、さらに、恒温槽3に第4吸引流路14を介して接続された光源用恒温槽31を備え、光源21は光源用恒温槽31内に配置されている点で、実施の形態1とは異なる。それ以外の点は、実施の形態1と基本的に同じである。
図4を参照して、本実施の形態のガス分析装置は、光学検出器23は冷却器6に接続されている(冷却器6によって温度を一定に保つように制御される)点で、実施の形態1とは異なる。それ以外の点は、実施の形態1と基本的に同じである。
Claims (3)
- 試料ガス中のガス成分を分析するための非分散型赤外線方式のガス分析装置であって、
前記試料ガスを収容するガスセルと、
前記ガスセルに赤外光を照射する光源と、
恒温槽と、
前記恒温槽内に配置され、前記ガスセルを透過した光を検出する光学検出器と、
真空ポンプと、
第1吸引流路、第2吸引流路および第3吸引流路を含む吸引流路と、を備え、
前記真空ポンプは前記第1吸引流路に接続され、
前記第1吸引流路は、前記第2吸引流路を介して前記恒温槽に接続され、かつ前記第3吸引流路を介して前記ガスセルに接続され、
前記吸引流路は、少なくとも前記第2吸引流路および前記第3吸引流路の各々を開閉制御可能な流路切り替え装置を有し、
前記第3吸引流路が前記恒温槽の内部を通過せずに前記ガスセルに接続されている、ガス分析装置。 - さらに、前記恒温槽に第4吸引流路を介して接続された光源用恒温槽を備え、
前記光源は前記光源用恒温槽内に配置されている、請求項1に記載のガス分析装置。 - 前記光学検出器は冷却器に接続されている、請求項1または2に記載のガス分析装置。
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