JP5874613B2 - 分析または測定のための所定の室内のガス置換装置 - Google Patents

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本発明は、例えば蛍光X線分析装置やICP発光分析装置など、分析や測定のために用いる分析室や試料室等、所定の室内の雰囲気を例えばヘリウムガス等の特定ガスで置換する装置に関する。
X線や紫外光を検出することにより、試料の分析や各種測定を行う装置においては、X線ないしは紫外光が空気により吸収されて減衰してしまうことを避けるために、X線や紫外光が通過して検出器に到達するまでの空間を壁体で囲んで分析室等を形成し、その室内の雰囲気を、X線や紫外光等の吸収が少ない特定のガス、例えばヘリウム等のガスで置換することが行われる。
例えば蛍光X線分析装置においては、試料に対して励起用のX線(一次X線)を照射し、これによって試料から放出された蛍光X線をエネルギ(波長)ごとにその強度を検出するが、X線が空気により吸収されて減衰することを避けるために、励起用のX線を発生するX線管球と蛍光X線を検出するX線検出器を分析室内に配置し、当該分析室内に試料を載置する構成を採用し、その分析室内の雰囲気をヘリウムガスで置換することが行われる(例えば特許文献1参照)。
また、誘導結合プラズマ(ICP;Inductively Coupled Plasma)発光分析装置においては、プラズマトーチにより試料をプラズマ化し、そのプラズマから発生するプラズマ光を分光器に導入してスペクトルを計測することにより、試料の成分分析を行うが、分光器の前段に配置され、プラズマの軸方向観測とこれに直交する横方向観測とのいずれかを選択するための光学系を収容する筐体の内部を、窒素やアルゴンなどで置換する(例えば特許文献2参照)。これは、プラズマ光に含まれる波長のうち、分析に有効に利用される波長が主として紫外領域にあり、中でも波長200nm以下の真空紫外光が酸素などにより吸収されやすいため、プラズマから分光器に至る光路上は、可能な限り真空紫外光が吸収されにくい雰囲気とするためである。
さらに、光学部品の分光特性を測定するための分光光度測定装置においては、光源からの光をグレーティングなどで分光し、所要の波長の光を試料に照射したときの透過光強度を検出器で検出し、同じ光を、試料を介さずに直接的に検出器に入射したときの光の強度との比から、試料の透過率を求める等の測定を行うが、光源から検出器までを分光光度測定室内に収容し、その分光光度測定室内の雰囲気を窒素やアルゴン、あるいはヘリウムで置換して測定を行うことにより、紫外域の光の吸収の影響を避けることが行われる(例えば特許文献3参照)。
以上の各装置におけるガス置換の手法は、ガス置換をすべき分析室等とガス源とを配管で繋ぎ、その配管上に流量制御弁や開閉弁を設けるとともに、ガス置換室にはオリフィスなどの排気口を設けることで、置換ガスを室内に供給しつつ室内部の空気を排気口から排出する手法が一般に採用されている。
特開2012−163489号公報 特開2007−078460号公報 特開2000−275141号公報
ところで、以上のようなガス置換に用いられるガス源としては、ガスボンベ、あるいは分析装置や測定装置が配置された部屋に設けられている各種ガス供給用配管を用いることが多い。したがって、分析装置や測定装置の所要の室内を特定のガスで置換する場合には、それに対応したガスボンベやガス供給用配管を分析装置や測定装置に接続する必要がある。もし、このガス源の接続を誤ってしまうと、当然のことながら、意図しないガスによって室内の雰囲気が置換されてしまうことになり、その状態で行った分析や測定の結果は誤ったものとなる。従来のこの種の装置では、誤ったガスにより置換されていることを報知する機能が備わっていないため、オペレータはそれに気付くことができない。ゆえに、得られた結果が誤ったものであるにもかかわらず、正しく分析・測定した結果として取り扱われてしまうという問題があった。
本発明はこのような実情に鑑みてなされたもので、万が一ガス源を誤って装置に接続しても、誤った分析や測定を行うことのない分析または測定のための室内のガス置換装置の提供をその課題としている。
上記の課題を解決するため、本発明の分析または測定のための室内のガス置換装置は、分析もしくは測定に用いる分析室等の所定の室内の雰囲気を特定ガスにより置換するための装置であって、上記室とガス源を繋ぐ配管と、その配管上に設けられた電動式の流量制御弁と、その流量制御弁と上記室との間の上記配管上に設けられた圧力センサと、上記流量制御弁の弁開度を制御する弁制御手段と、上記特定のガスを上記配管に流したときの上記弁制御手段からの出力と上記圧力センサの出力との関係を記憶する記憶手段と、ガス置換動作時における上記弁制御手段からの出力と上記圧力センサの出力との関係が、上記記憶手段に記憶している関係に対してあらかじめ設定されている限度を超えて相違しているか否かを判別する判別手段を有し、相違している場合に上記特定ガス以外のガスが流れている旨の出力を発生することによって特徴づけられる。
本発明は、同じ配管系を流れるガスの圧力が、ガス分子の質量とその速度とに依存することを利用し、配管系に設けた圧力センサの出力と流量制御弁の弁開度から、特定のガスが置換に供されているか否かを自動的に判別することで、課題を解決しようとするものである。
すなわち、互いに質量が異なるガス分子A,Bを用いて、図1に示す配管系、つまりガス源GからAまたはBのガスを流量制御弁Fを介して測定室R内に供給し、流量制御弁Fと測定室Rとの間に圧力センサPを配置している配管系を考えると、それぞれのガスの圧力は、次の式(1),(2)で表される。
Figure 0005874613
上記式(1),(2)においてP,Pは、それぞれガス分子A,Bを流したときの圧力であり、v,vはガス分子A,Bの速度、V,Vはガス分子A,Bの体積である。
また、ガス分子の速度v,vは、流量制御弁の弁開度xに依存するので、上記式(1),(2)は、次のように書き換えることができる。
Figure 0005874613
また、流量制御弁Fの弁開度が同じであれば、ガス分子の種類に関係なく、ガス分子の速度は同じなので、v=vであり、かつ、同じ配管を流れることから、V=Vである。したがって、上記式(3),(4)から、次の式(5),(6)が導かれる。
Figure 0005874613
すなわち、ガス分子の圧力は、ガス分子の質量と流量制御弁の弁開度に依存する。換言すれば、ガスの種類に応じて、流量制御弁の弁開度と圧力との関係が一意的に決まる。
本発明はこの点を利用するものであり、分析室等の室内の雰囲気を特定ガスで置換する配管系として、ガス源と試料室等を繋ぐ配管上に電動式の流量制御弁を設け、その下流側に圧力センサを配した構成を採るとともに、流量制御弁の弁開度を、当該弁を制御する弁制御手段からの出力で代表させ、特定ガスを流したときの弁制御手段からの出力と圧力センサによる圧力の検出出力との関係を記憶手段に記憶しておく。
そして、実際の置換動作における上記弁制御手段からの出力と圧力センサによる圧力検出出力との関係が、記憶手段に記憶している内容に対してあらかじめ設定されている限度を超えて相違しているか否かを判別し、相違している場合にはその旨を報知する。
したがって、本発明によれば、オペレータがガス源の接続を誤ったとしても、実際の分析や測定を行う前にその旨が報知されることになり、誤った置換ガスによって不正確な分析結果や測定結果を得てしまうことがない。
本発明によれば、分析装置や測定装置における分析室や測定室等の所定の室内の雰囲気を特定ガスで置換する際に、ガス源との接続を誤って特定ガス以外の意図しないガスが室内に流入しても、その旨が自動的に報知されるので、誤った分析や測定を行うおそれをなくすことができる。
本発明の原理を説明する図。 本発明に係る実施形態の構成図。
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。
図2は本発明をエネルギ分散型の蛍光X線分析装置に適用した実施の形態の構成図で、機械的構成を表す模式図と配管系統図、および要部の機能的構成を表すブロック図とを併記して示している。
分析対象となる試料Wはベース板1上に搭載され、その上方にカバー2が被せられる。ベース板1はその下方の分析室3の天板を兼ねており、分析室3内にはX線管球4およびX線検出器5を主体とするX線計測系が配置されている。ベース板1にはX線照射窓1aが形成されており、試料WはX線照射窓1aを塞ぐように配置される。そして、X線照射窓1aを介して分析室3内のX線管球4からの励起用のX線が試料Wに対して照射され、この照射により試料Wから放出される蛍光X線が、同じく分析室3内に配置されたX線検出器5によって検出される。
X線検出器5は半導体検出器であって、入射したX線のエネルギに応じた波高の信号を出力し、その出力は信号処理部6に取り込まれる。信号処理部6はマルチチャンネルアナライザを主体として構成され、X線検出器5からの出力の波高分析を行い、波高ごと、すなわちX線エネルギごとに出力を計数する。この信号処理部6による計数結果より、試料Wから放出された蛍光X線のエネルギスペクトルが得られる。また、信号処理部6による処理結果はデータ処理部7に取り込まれて、試料Wに含まれる元素とその濃度に関する情報が求められ、その情報が表示器8に表示される。
以上の信号処理部6、データ処理部7および表示器8は、装置の制御を司る制御部9の制御下に置かれており、この制御部9には、装置に各種指令を与え、あるいは設定を行うための操作部10が接続されている。なお、前記したX線管球4に管電流、管電圧を供給するX線コントローラ(図示略)についても、この制御部9の制御下に置かれている。
さて、分析室3には、内部の雰囲気を特定のガス(本実施例ではヘリウムガスとする)で置換するための配管11の一端側が接続されており、この配管11の他端側には、調圧器12を介してガス源となるガスボンベ13が接続される。また、配管11上には電動式の流量制御弁14が設けられるとともに、その流量制御弁14と分析室3との間に圧力センサ15が配置されている。
流量制御弁14は、弁制御部16から供給される電流の大きさに応じた弁開度に制御され、流量制御弁14の弁開度によってガスボンベ13からのガスの流量が決まる。流量制御弁14に供給される電流値に係る情報は、弁制御部16から演算部17に送られる。また、圧力センサ15の出力は圧力信号取込部18によって取り込まれた後、演算部17に送られる。
演算部17では、弁制御部16からの弁開度データと、圧力センサ15からの圧力検出データについて、それぞれ例えば移動平均等によりノイズ成分等を除去した上で、これら両データの関係を算出し、その算出結果は判別部19に送られる。判別部19は、記憶部20の記憶内容を読み込み、その記憶内容と演算部17からの演算結果とを比較することにより、配管11を流れるガスが予定した正しい特定ガス、本実施例ではヘリウムガスであるか否かを判別する。
すなわち、図2に示す実施形態の配管系は、図1に示すものと同等であり、前記した式(5),(6)に示したように、配管11における圧力P(x)と流量制御弁14の弁開度xとの関係は、ガス分子の質量、つまりガスの種類によって一意的に決まるので、分析室3の雰囲気を置換すべく予定しているガス(本実施例ではヘリウムガス)に係る弁開度xと圧力P(x)との関係を、記憶部20にあらかじめ記憶しておく。そして、この記憶内容に対して、実際に演算部17で求めた弁開度xと圧力P(x)との関係が、あらかじめ定めた限度を超えて相違している場合には、予定したガスとは異なる種類のガスが配管11に流れていると判断することができる。
以上の判別部19における判別結果は制御部9に送られ、制御部9において、ガスの種類が予定したものとは異なると判別された場合には、その旨を例えば表示器8に表示するか、あるいは音響ないしは音声により報知する。この報知により、オペレータはガスボンベ13の接続を誤ったことに気付き、誤った置換ガスによる分析等が行われることを未然に防止することができる。
ここで、以上の実施の形態においては、本発明をエネルギ分散型の蛍光X線分析装置に適用した例を示したが、他の分析装置や測定装置で所定の室内の雰囲気を特定のガスで置換して分析や測定を行う装置、例えば波長分散型の蛍光X線分析装置や、紫外域の光を測定する分光光度測定装置、あるいはICP発光分析装置などにも等しく適用できる。
また、分析室等の雰囲気を置換するガスを、1種類ではなく複数種のガスから選択する装置にあっては、記憶部20に記憶する弁開度と圧力との関係についても、選択可能なガスのそれぞれに応じて複数種記憶させて、その中から選ぶようにすることもできる。
1 ベース板
1a X線照射窓
2 カバー
3 分析室
4 X線管球
5 X線検出器
6 信号処理部
7 データ処理部
8 表示器
9 制御部
10 操作部
11 配管
12 調圧器
13 ガスボンベ
14 流量制御弁
15 圧力センサ
16 弁制御部
17 演算部
18 圧力信号取込部
19 判別部
20 記憶部
W 試料

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  1. 分析もしくは測定に用いる分析室等の所定の室内の雰囲気を特定ガスにより置換するための装置であって、
    上記室とガス源を繋ぐ配管と、その配管上に設けられた電動式の流量制御弁と、その流量制御弁と上記室との間の上記配管上に設けられた圧力センサと、上記流量制御弁の弁開度を制御する弁制御手段と、上記特定のガスを上記配管に流したときの上記弁制御手段からの出力と上記圧力センサの出力との関係を記憶する記憶手段と、ガス置換動作時における上記弁制御手段からの出力と上記圧力センサの出力との関係が、上記記憶手段に記憶している関係に対してあらかじめ設定されている限度を超えて相違しているか否かを判別する判別手段を有し、相違している場合に上記特定ガス以外のガスが流れている旨の出力を発生することを特徴とする分析または測定のための室内のガス置換装置。
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