JP6674250B2 - 露光装置、露光方法、および物品の製造方法 - Google Patents
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Description
本発明に係る第1実施形態の露光装置100について説明する。第1実施形態の露光装置100は、解像性能(解像力)を向上させるため、透過光を互いに異ならせる第1領域および第2領域を含む位相シフトマスクMを用いて、例えば単結晶シリコン基板やガラス基板などの基板Pを露光する。位相シフトマスクMには幾つかの種類があり、中でもハーフトーン型位相シフトマスクは、利便性が高く、半導体製造の分野において最も一般的に使用されている。ハーフトーン型位相シフトマスクは、光を透過する第1領域(透過領域)と、光の透過率が第1領域より小さい第2領域(部分透過領域)とを含み、ある基準波長において第1領域の透過光と第2領域の透過光との位相差が180度になるように設計されている。第2領域には、バイナリマスクでいう遮光膜の代わりに、光の透過率が例えば3%〜20%である部分透過膜が設けられており、部分透過膜の材料としては、例えば、酸化窒化クロム、酸化窒化モリブデンシリサイドなどが用いられる。このように構成されたハーフトーン型位相シフトマスクを用いると、基板Pに投影されたパターン像のエッジが強調されるため、解像性能を向上させることができる。
1)光学素子24が基準位置にあるときの投影光学系2の球面収差を基準球面収差(±0mλ)とする。
2)投影光学系2の球面収差を基準球面収差(±0mλ)としたときのベストフォーカス位置を「デフォーカス量=0μm」とする。
露光装置100において、基準波長と異なる波長に照明波長を変更すると、図2に示すように、焦点深度に加えて、デフォーカス量も変化しうる。そして、照明波長の変更で生じる焦点深度の変化が補正されるように第2変更部を制御した後においても、デフォーカス量が許容範囲に収まらないことがありうる。そのため、露光装置100は、デフォーカス量を変化させる第3変更部を含み、第2変更部を制御した後のデフォーカス量が補正されるように第3変更部を制御するとよい。第3変更部としては、例えば、マスクステージ5および基板ステージ6の少なくとも一方が用いられうる。第3変更部としてマスクステージ5を用いる場合では、位相シフトマスクMと投影光学系2との距離を変える方向(例えばZ方向)にマスクステージ5によって位相シフトマスクMを移動させることでデフォーカス量を変更することができる。また、第3変更部として基板ステージ6を用いる場合では、基板Pと投影光学系2との距離を変える方向(例えばZ方向)に基板ステージ6によって基板Pを移動させることでデフォーカス量を変更することができる。ここで、例えば、マスクステージ5および基板ステージ6の少なくとも一方が第2変更部として用いられている場合には、光学素子24および駆動部27を第3変更部として用いてもよい。
本発明の実施形態にかかる物品の製造方法は、例えば、半導体デバイス等のマイクロデバイスや微細構造を有する素子等の物品を製造するのに好適である。本実施形態の物品の製造方法は、基板に塗布された感光剤に上記の露光装置を用いて潜像パターンを形成する工程(基板を露光する工程)と、かかる工程で潜像パターンが形成された基板を現像する工程とを含む。更に、かかる製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等)を含む。本実施形態の物品の製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
Claims (14)
- 基準波長において透過光の位相を互いに異ならせる第1領域および第2領域を含む位相シフトマスクを用いて基板を露光する露光装置であって、
前記位相シフトマスクを照明する光の照明波長を変更する第1変更部と、
前記位相シフトマスクのパターン像を前記基板に投影する投影光学系と、
前記投影光学系の球面収差を変更する第2変更部と、
前記第1変更部により前記基準波長と異なる波長に変更することで生じる焦点深度の変化が補正されるように、前記基準波長および変更後の前記照明波長に基づいて前記第2変更部による前記球面収差の変更を制御する制御部と、
を含む、ことを特徴とする露光装置。 - 前記基準波長と異なる波長に変更された変更後の前記照明波長で前記位相シフトマスクを照明し、前記基準波長および変更後の前記照明波長に基づいて変更された前記球面収差をもつ前記投影光学系を用いて前記位相シフトマスクのパターン像を前記基板に投影する、ことを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記制御部は、前記第1変更部により前記照明波長を前記基準波長に対して30nm以上短くすることで生じる焦点深度の変化が低減されるように前記第2変更部による前記球面収差の変更を制御する、ことを特徴とする請求項1又は2に記載の露光装置。
- 複数の輝線スペクトルを含む光を射出する光源を更に含み、
前記第1変更部は、前記光源から射出された前記複数の輝線スペクトルを含む光の波長帯域を狭めることにより前記照明波長を変更する、ことを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載の露光装置。 - 前記制御部は、前記基準波長と変更後の前記照明波長との差に対する前記投影光学系の球面収差の変更量を示す情報に基づいて前記第2変更部を制御する、ことを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載の露光装置。
- 前記制御部は、前記照明波長を互いに異なる複数の波長の各々に変更し、前記複数の波長の各々について焦点深度が最大となる前記投影光学系の球面収差を求めることにより前記情報を取得する、ことを特徴とする請求項5に記載の露光装置。
- 前記第2変更部は、前記投影光学系における光路上に配置された光学素子を移動させることにより前記投影光学系の球面収差を変更する、ことを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の露光装置。
- 前記第2変更部は、前記投影光学系における光路上に配置された光学素子を交換することにより前記投影光学系の球面収差を変更する、ことを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の露光装置。
- 前記投影光学系は、凹面鏡および凸面鏡を含み、
前記光学素子は、前記凹面鏡と前記凸面鏡との間の光路上に配置されたメニスカスレンズを含む、ことを特徴とする請求項7又は8に記載の露光装置。 - デフォーカス量を変更する第3変更部を更に含み、
前記制御部は、前記第2変更部を制御した後のデフォーカス量が補正されるように第3変更部を制御する、ことを特徴とする請求項1乃至9のうちいずれか1項に記載の露光装置。 - 前記基準波長は、前記第1領域の透過光と前記第2領域の透過光との位相差が180度になるときの波長である、ことを特徴とする請求項1乃至10のうちいずれか1項に記載の露光装置。
- 請求項1乃至11のうちいずれか1項に記載の露光装置を用いて基板を露光する工程と、
前記工程で露光を行われた前記基板を現像する工程と、
を含み、現像された基板から物品を得ることを特徴とする物品の製造方法。 - 基準波長において透過光の位相が互いに異なる第1領域および第2領域を含む位相シフトマスクと、前記位相シフトマスクのパターン像を基板に投影する投影光学系とを用いて前記基板を露光する露光方法であって、
前記位相シフトマスクを照明する光の照明波長を前記基準波長と異なる波長に変更する工程と、
前記照明波長を変更したことで生じる焦点深度の変化が補正されるように、前記基準波長および変更後の前記照明波長に基づいて、前記投影光学系の球面収差を変更する工程と、
を含むことを特徴とする露光方法。 - マスクを照明する光の照明波長を変更する第1変更部、前記マスクのパターン像を基板に投影する投影光学系、前記投影光学系の球面収差を変更する第2変更部、及び、前記第1変更部による波長の変更に基づいて前記第2変更部による前記球面収差の変更を制御する制御部を含む露光装置と、基準波長において透過光の位相を互いに異ならせる第1領域及び第2領域を含む位相シフトマスクと、を用いて、前記基板を露光する露光方法であって、
前記第1変更部により前記照明波長を前記基準波長と異なる波長に変更することで生じる焦点深度の変化が補正されるように、前記基準波長および変更後の前記照明波長に基づいて前記第2変更部による前記球面収差の変更を制御する工程、
を有することを特徴とする露光方法。
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