JP6663485B2 - パワー半導体モジュール、それを用いた電力変換装置及び電力変換装置の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明はパワー半導体モジュール、それを用いた電力変換装置及び電力変換装置の製造方法に関し、特にパワー半導体素子を有するパワー半導体モジュールを備えた電力変換装置に関する。
パワー半導体素子のスイッチングによる電力変換装置は、変換効率が高いため、民生用、車載用、鉄道用、変電設備等に幅広く利用されている。このパワー半導体素子は通電により発熱するため、高い放熱性が求められ、空気や液体を用いて冷却される。特に発熱が大きいパワー半導体モジュールは液体による冷却方式が用いられるため、パワー半導体モジュールを搭載した冷媒流路の液密性を確保するシールが重要である。パワー半導体モジュールを冷媒流路に搭載してシールする構造として、特許文献1が開示されている。
特開2007−250918号公報
特許文献1に記載された半導体装置では、Oリングを用いてシールしている。このため液密性確保のためにはOリングを所定量圧縮する必要があり、半導体装置側及び流路側の両方に高い剛性が必要であった。このためシール構造が大きくなり、またOリングを圧縮する素材は金属材料に限定される課題があった。
本発明の課題は、信頼性を確保しながら小型化を図ることである。
本発明の電力変換装置は、パワー半導体を収納するケースと、前記ケースの外面との間で流路を形成する流路形成体と、前記流路に流れる冷媒に接触する第1固定材と、前記第1固定材及び前記流路形成体に接し、前記第1固定材の前記ケースの水圧による変位方向を覆う第2固定材とを備え、第1固定材及び第2固定材のいずれか一方又は両方が接着性を有する事を特徴とする。
本発明によれば、信頼性を確保しながら小型化を図ることである。
実施例1に係るパワー半導体モジュール300の斜視図である。 本実施形態に係るコネクタ側リード組み930の展開斜視図である。 本実施形態に係るパワー半導体モジュール300の製造途中の斜視図である。 本実施形態に係るパワー半導体モジュール300の製造途中の斜視図である。 本実施形態に係るパワー半導体モジュール300の製造途中の断面図である。 本実施形態に係る封止樹脂900を設けたパワー半導体モジュール300の製造途中の斜視図である。 本実施形態に係るパワー半導体モジュール300のフィン910Aの作成途中の斜視図である。 実施例1のパワー半導体モジュール300の断面図である。 本実施形態に係るパワー半導体モジュールの回路図である。 本実施形態に係る電力変換装置200の斜視図である。 本実施形態に係る電力変換装置200の断面斜視図である。 本実施形態に係る解析モデル図である。 本実施形態に係る解析結果図である。 本実施形態に係る電力変換装置200の断面図である。 実施例1の電力変換装置の変形例1である。 実施形態3の電力変換装置200の断面斜視図である。 本発明の実施形態3の電力変換装置200の変形例2である。 本発明の実施形態4の電力変換装置200の断面斜視図である。 本発明の実施形態5の電力変換装置200の断面斜視図である。 本発明の比較形態1の電力変換装置の断面図である。 本発明の比較形態2の電力変換装置の断面図である。 本実施形態に係る第1固定材901及び第2固定材902の対応表1である。 本実施形態に係る第1固定材901及び第2固定材902の対応表2である。
以下、図面を参照して、本発明に係るパワー半導体モジュール及び電力変換装置の実施の形態について説明する。なお、各図において同一要素については同一の符号を記し、重複する説明は省略する。
図1は、本実施形態のパワー半導体モジュール300の斜視図である。パワー半導体モジュール300は、パワー半導体を収納するケースとしての封止樹脂900と、直流側の端子315B及び319Bと、交流側の端子320Bと、信号用の端子325U、325L、325Sを有する。
封止樹脂900は、後述されるリードフレーム315やセラミックス基板配線等の金属導体に搭載したパワー半導体素子を封止する。端子315Bと端子319Bと端子320Bは、封止樹脂900の一面から突出し、隣り合う端子の側面が対向するように一列に並べられる。これらの端子が突出する側の封止樹脂900には、シール部900Bにシール構造を形成するための段差が形成される。
後述するように、パワー半導体モジュール300は、流路形成体1000に固定される際に、シール部900Bに配置された第1固定材901及び第2固定材902により、冷却冷媒の液密性を確保する。また、封止樹脂900は、封止樹脂面900Aを有する。本実施例のパワー半導体モジュール300の製造手順について、図2から図7を用いて説明する。
図2は、リードフレーム315及びリードフレーム320と、高熱伝導体920の配置関係を示す展開図である。リードフレーム315には、後述するパワー半導体素子である上アーム側IGBT155が接続される。リードフレーム320には、後述するパワー半導体素子である下アーム側IGBT157が接続される。リードフレーム315及びリードフレーム320は、導電性の金属部材、例えば銅やアルミ等により構成される。ここで、IGBTとは、絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ(Insulated Gate Bipolar Transistor)の略である。
高熱伝導体920は、リードフレーム315又はリードフレーム320を挟んで、パワー半導体素子が接続される側とは反対側に配置される。高熱伝導体920は、各リードフレームに対応して、設けられる。図2には図示されないが、リードフレーム315と対向する領域にも、高熱伝導体920は配置される。
高熱伝導体920とリードフレーム315の間、及び高熱伝導体920とリードフレーム320の間には、絶縁層940が配置される。絶縁層940は、リードフレーム320と高熱伝導体920との間の電気的な絶縁を目的として配置される部材である。絶縁層940としては、例えば、アルミナ粒子及び窒化ホウ素粒子を充填したエポキシ樹脂系の樹脂シート又は、アルミナ、窒化珪素、窒化アルミ等の絶縁性セラミックス板が用いられる。高熱伝導体920は、絶縁層940を介してリードフレーム320に接着される。絶縁層940は、樹脂シートを用いる場合は、真空プレス機を用いて加熱圧着し、硬化させた。セラミックス板を用いる場合は、溶融した金属を鋳型に流し込む溶湯により作製される。
リードフレーム315とリードフレーム320とは、タイバー912により接続された状態で形成される。そのため、高熱伝導体920及び当該リードフレーム320は、絶縁層940を挟んで、一体のコレクタ側リード組み930として組み立てられる。
図3は、図2の状態から、パワー半導体をリードフレーム315や320に接続した状態を示す図である。インバータ回路の上アーム回路を構成する上アーム用IGBT155は、リードフレーム315に対して、はんだ接続される。インバータ回路の上アーム回路を構成するダイオード156は、リードフレーム315に対して、はんだ接続される。インバータ回路の下アーム回路を構成する下アーム用IGBT157は、リードフレーム320に対して、はんだ接続される。インバータ回路の下アームを構成するダイオード158は、リードフレーム320に対して、はんだ接続される。IGBT155及び157は、エミッタ電極が形成される側の面において、信号用電極が形成されている。当該信号電極は、パワー半導体モジュール300の信号用の端子325L及び325Lと、アルミワイヤにより電気的に接続される。そのため、IGBT155及び157は、ダイオード156及び158よりも、信号端子に近い位置に配置される。
図4は、図3の状態から、パワー半導体素子のエミッタ電極側にリードフレーム及び高熱伝導体920を配置した状態を示す図である。手順としては、まず、図2においてコレクタ側リード組930を形成したのと同様にして、エミッタ側リード組み931を形成する。エミッタ側リード組み931は、IGBT155のエミッタ電極側に接続されるリードフレーム318又はIGBT157のエミッタ電極側に接続されるリードフレーム319と、高熱伝導体920と、絶縁層940と、により構成される。
また、温度センサ945がリードフレーム318又は320に接着される。当該温度センサ945の端子は、コレクタ側リード組930の信号端子に溶接される。温度センサ945が設けられることで、図7にて後述されるように、機械加工によってフィン910Aを形成する時の発熱をモニタし、規定値を超えた温度とならないように管理することができる。
このようにして、コレクタ側リード組み930とエミッタ側リード組み931は、パワー半導体を挟むように対向して配置される。コレクタ側リード組み930とエミッタ側リード組み931を組み立てたものを、リード組立体950とする。
図5は、リード組立体950をトランスファーモールドする工程を示す図である。リード組立体950は、トランスファーモールド金型960及び961にセットされ、封止樹脂900がプランジャー965により注入される。金型温度は175℃、成型圧力は10MPaとし、金型内で3分間、封止樹脂900を硬化させた。
図6は、リード組立体950を封止樹脂900でトランスファーモールドしたものを示す。高熱伝導体920は、封止樹脂900で覆われている。封止樹脂900は、高熱伝導体920を覆う領域を含め、概略同一面からなる封止樹脂面900Aを有する。
端子同士を接続するタイバー912は、トランスファーモールド後に切断される。これにより、端子同士は、互いに電気的に分離される。
図7は、封止樹脂面900Aを研削してフィン910Aを形成する工程を示す図である。封止樹脂面900Aは、マルチブレード1300を高速回転させることによって、研削される。マルチブレード1300は、先端に砥粒を付けた複数のブレードを束ねた構造である。マルチブレード1300は、封止樹脂900とともに、高熱伝導体920を研削する。研削された高熱伝導体920は、フィン910Aを形成する。フィン910A間の溝深さは、約1.5mmとなる。フィン910Aが形成された部分が、放熱部910として機能する。
研削される部分は、研削時に摩擦熱によって発熱するため、冷却水を噴射して冷却する。また、パワー半導体モジュール300内部に設けた温度センサ945等を用いて内部温度をモニタし、内部温度が150℃を超えないように、研削速度を調整する。これにより、摩擦熱によるはんだの再溶融を防ぐことができる。また、マルチブレード1300で研削することにより、容易にフィン910Aを作製することができる。
図8は、パワー半導体モジュール300の断面図である。図8に図示されるように、図7の手順でマルチブレード1300によって研削される部分は、高熱伝導体920が配置される部分と対応する。つまり高熱伝導体920の一部が削り取られることになる。本実施例のパワー半導体モジュール300においては、パワー半導体の両面側において、フィン910Aが形成される。
図8は、下アーム側IGBT157及びダイオード158を挟んで、リードフレーム319及び320が配置されている。リードフレーム319を挟んで、下アーム側IGBT157が配置される側とは反対側には、高熱伝導体920が配置される。同様に、リードフレーム320を挟んで、パワー下アーム側IGBT157が配置される側とは反対側に、高熱伝導体920が配置される。高熱伝導体920と、リードフレーム319又は320の間には、絶縁層940が配置される。
フィン910Aは、図8の点線で示されるように、当該フィン910Aの先端が封止樹脂面900Aと概略同一面上となるように、形成されている。言い換えれば、フィン910Aは、封止樹脂面900Aに対して凹となるように形成された放熱面910Cから、パワー半導体素子が配置される側とは反対側に向かって形成されている。
また、フィン910Aは、図7に示されるように形成されるため、当該フィン910Aの先端には、封止樹脂片910Bが配置されている。このように、フィン910Aの先端は、もともと封止樹脂900として図6に示されるように、封止樹脂面910Aと概略同一面上となるように形成されている。
以上説明した本実施形態のパワー半導体モジュール300は、高熱伝導体920を封止した樹脂封止部を研削することで、フィン形状に加工される。なお、本実施例では、図7に示されるような研削による方法によって放熱部910を形成したが、他の機械加工でこれを実現しても良い。高熱伝導体920は、その周囲が封止樹脂900によって封止されているため、温度変化が加わっても剥離されにくい。また、樹脂封止した後にフィン910Aの形成加工をするため、製造の過程において、封止樹脂900がフィン部に漏れ出すことがなく、歩留まりが向上する。
高熱伝導体920の材料としては、熱伝導率の高い金属材料や、カーボン含有材料を用いる事ができる。例えば、銅、アルミ、銅カーボン、アルミカーボン、グラフェン等を用いることができる。アルミ系材料やカーボン含有材料を用いた場合、切削加工しやすく生産性が向上する効果がある。
封止樹脂900の材料としては、特に限定されないが、トランスファーモールド樹脂、ポッティング樹脂、シリコーン樹脂等を用いることができる。トランスファーモールド樹脂を用いた場合、生産性が高く、外形精度が高い効果がある。
図9は、本実施形態のパワー半導体モジュール300の回路図である。端子315Bは、上アーム回路のコレクタ側から出力しており、バッテリー又はコンデンサの正極側に接続される。端子325Uは、上アーム回路のIGBT155のゲート及びエミッタセンスから出力している。端子319Bは、下アーム回路のエミッタ側から出力しており、バッテリー若しくはコンデンサの負極側、又はGNDに接続される。端子325Lは、下アーム回路のIGBT157のゲート及びエミッタセンスから出力している。端子320Bは、下アーム回路のコレクタ側から出力しており、モータに接続される。中性点接地をする場合は、下アーム回路は、GNDでなくコンデンサの負極側に接続する。
本実施例のパワー半導体モジュール300は、上アーム回路及び下アーム回路の2つのアーム回路を、1つのモジュールに一体化した構造である2in1構造である。2in1構造の他にも、3in1構造、4in1構造、6in1構造等を用いた場合、パワー半導体モジュールからの出力端子の数を低減し小型化することができる。
図10は、電力変換装置200の外観を示す斜視図である。本実施の形態に係る電力変化装置200の外観は、上面あるいは底面が略長方形の筐体12と、筐体12の短辺側の外周の一つに設けられた上部ケース10と、筐体12の下部開口を塞ぐための下部ケース16とを固定して形成されたものである。ケーブル18は、交流電流を当該モータに伝達する。コネクタ17は、ケーブル18と接続されかつ筐体12の一側面に接続される。直流電源コネクタ510及び512は、パワー半導体モジュール300に直流電流を伝達しかつコネクタ17が接続された筐体12の一側面に接続される。
信号用コネクタ21は、パワー半導体モジュール300等を駆動するための信号を伝達する。信号用コネクタ21は、コネクタ17及び直流電源コネクタ510及び512が接続された筐体12の一側面とは異なる側面に接続される。冷却水入口13及び冷却水出口14は、信号用コネクタ21が接続された筐体12の一側面に接続される。
図11は、電力変換装置200の断面構造を示す概略図である。パワー半導体モジュール300は、流路形成体1000に設置される。流路形成体1000は、パワー半導体モジュール300を冷却する冷媒を流す冷媒流路を形成する。流路形成体1000は、壁面1001を有する。壁面1001は、パワー半導体モジュール300の放熱部910と当該壁面1001との間に、冷媒が流れる流路を形成する。壁面1001は、パワー半導体モジュール300の封止樹脂面900Aと当該壁面1001との間に冷媒が流れないように、平面構造部1001Aを有する。流路形成体1000は、互いに対向する壁面1001同士の距離と、パワー半導体モジュール300の一方側の封止樹脂面900Aと他方側の封止樹脂面900Aの間の距離とが、ほぼ等しくなるように、形成される。
パワー半導体モジュール300のシール部900Bには、第1固定材901及び第2固定材902を有する。第1固定材901は、少なくともパワー半導体を収納するケースとしての封止樹脂で形成された封止樹脂面900Aと壁面1001の0.5mm程度の隙間を接着しシールしている。第2固定材902は、第1固定材901及び壁面1001に接し、少なくともパワー半導体を収納するケースの水圧による変位方向を覆っている。
第1固定材901は、封止樹脂面900Aと壁面1001の0.5mm程度の狭い隙間をシールするため低弾性率の材料である事が望ましい。これは、封止樹脂面900Aと壁面1001の水圧、振動、熱による変位差がこのシール部に加わるため、弾性率の高い材料の場合、この変位差に追従出来ず、液漏れが生じやすいためである。本実施形態における低弾性率の材料とは、動的粘弾性試験で求めた貯蔵弾性率0.1MPa以上1GPaの材料を意味する。弾性率が0.1MPa未満では、水圧による変形量が大きく長期にわたり液密性を確保するのが難しく、弾性率が1GPaより大きいと、封止樹脂面900Aと壁面1001の水圧、振動、熱による変位差に追従出来ず液密性の信頼性が低いためである。
第1固定材901としては弾性率2MPaの湿気硬化型のシリコーン樹脂硬化物を用いた。シリコーン樹脂のため耐水性に優れる。また、湿気硬化型のシリコーン樹脂は、空気中の水分を吸収して1〜数日で硬化するもので加熱工程が不要のため生産時のエネルギーが低い長所がある。なお、本実施形態における耐水性優れる基準は、120℃2気圧の飽和水蒸気環境で168時間後の重量減少率が10%以下のものをいう。長期信頼性を満足するには冷媒に接する第1固定材901は耐水性に優れることが望ましい。また、第1固定材901は、隙間を充填しつつも、隙間からフィン910Aへ液だれしてはいけない。このため、1.5以上のチキソ性を有する事が望ましい。本実施形態におけるチキソ性は剪断速度1(1/s)の粘度を剪断速度10(1/s)の粘度で除した値である。チキソ性を1.5以上とする事で、塗工時の粘度は低く保ちつつ、液だれを防止できるため生産性に優れる効果がある。液だれを防止するため局所的に隙間を狭くする構造をケース側又は壁側に付与する事も効果がある。
第2固定材902は、パワー半導体を収納するケースに直接接し又は第1固定材901を介しケースに接して、ケースが水圧により変形するのを抑性する。このため、高弾性率の材料である事が望ましい。本実施形態における高弾性率の材料とは、動的粘弾性試験で求めた貯蔵弾性率が4GPa以上の材料を意味する。弾性率が4GPa未満では、水圧による変形を抑制するのに要する厚みが大きくOリング構造に比べサイズ低減のメリットが出ないためである。
第2固定材902としては弾性率15GPaの加熱硬化型エポキシ樹脂硬化物を用いた。硬化条件は120℃3時間で、加熱硬化が必要なため、生産時にエネルギーを要するが、硬化時間が短く生産性に優れる長所がある。また、エポキシ樹脂は弾性率が高く接着性に優れるため、パワー半導体を収納したケースと水路形成体と接着し、第1固定材の変形を抑制し、パワー半導体モジュール端子の接続信頼性を向上する効果がある。電力変換装置200は、積層配線板501及びプレート1200とを有する。
パワー半導体モジュール300を流路形成体1000に挿入した後、大電流が流れる端子319Bや図示していない端子315B、端子320Bはバスバー配線を多層積層したプレート1200から突出した端子と溶接する。さらに、実装部品を搭載した積層配線板501を組み付け、信号端子325U及び325Sや、図示していない325Lと積層配線板501をはんだ等により電気的に接続する。積層配線板501とプレート1200を立体積層することができるため、電力変換装置を小型化することができる。
パワー半導体モジュール300は、封止樹脂面900Aが流路形成体1000の壁面1001と接するように、流路形成体1000に対して挿入される。これにより、パワー半導体モジュール300は、封止樹脂面900Aと概略同一面となるように形成された放熱部910のフィン910Aの先端が流路形成体1000の壁面1001と当接するように、配置される。したがって、放熱部910と壁面1001の間に流れる冷媒は、封止樹脂面900Aと壁面1001の間や、フィン910Aの先端と壁面1001の間などにバイパス流として流れることが抑制される。放熱部910は、高い熱伝導率である高熱伝導体920で構成されるため、効率的にパワー半導体の熱を冷却することができる。したがって、本実施形態のパワー半導体モジュール300は、信頼性に優れる。
また、冷媒が流れる流路は、パワー半導体モジュール300側に形成されたフィン910Aの構造と、流路形成体1000側に形成された平面上に壁面1001との組合せによって、構成される。このように構造を簡略化することで、電力変換装置200の製造が容易になる。
流路形成体1000は、水密構造を有するものであれば特に限定されないが、アルミ、アルミダイキャスト等の金属や、ポリフェニレンサルファイド(PPS)、ポリブチレンテレフタレート、ポリアミト、ポリイミド、ポリテトラフルオロエチレン等の熱可塑性樹脂や、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を用いて作製することができる。PPS等の樹脂製の流路形成体は、アルミ製にくらべ軽量で、複雑な形状にできる長所があるが、剛性が低くなる短所がある。このため、Oリングのように所定量を圧縮してシールするシール構造では、剛性を確保するためサイズが大きくなる欠点がある。しかし、本実施形態のように接着によりシールするシール構造では、半導体を収納するケース及び流路形成体1000の剛性が低くても液密性を確保できる効果がある。
冷媒は、パワー半導体モジュール300のフィン910A及び底部を流れるため、この部分に水圧が加わる。フィン910Aに加わる水圧は、対向する水圧がほぼ釣り合うため大きな変位は生じない。一方、パワー半導体モジュール300底面に加わる水圧は、パワー半導体モジュール300を押し上げる方向に変位が生じる。この変位は、大電流が流れる端子319B、315B、320Bとバスバー配線の接続部や、特に、信号端子325U、325S、325Lと積層配線板501とのはんだ接続部に応力として加わり、端子の接続寿命を低下する要因となる。本実施形態のように、シール部900Bを第1固定材901及び第2固定材902として形成する事で、冷媒に対するシール性と水圧による変位の抑性の両方の効果を持たせる事ができる。
図12に水圧によるパワー半導体モジュール300と水路形成体1000の壁面をモデル化した解析モデルを示す。水圧としては、初期に冷媒を注入する最大水圧である0.25MPaを太矢印で示す向きに印加した。また、水路形成体10000の壁面1001は完全固定とした。第1固定材901には、材料1として、ヤング率2MPaを、第2固定材902には材料2としてヤング率15GPaを用いた。材料1の厚さは3mmとして、材料2の厚さを0〜10mmまで変化させ、パワー半導体モジュール300の端子部を想定した変位算出位置の水圧による変位を求めた。
図13に変位と材料2の厚さの関係を示す。材料2が0mmでは、700μm近い変位が生じるが、材料2があると、変位は大きく低減し、材料2の厚さ1mm以上で20μm未満に低減した。このように、第1固定材901に変位に対して追従性の高い低弾性率の材料を用いても、第2固定材902で高弾性率の材料を形成する事で、パワー半導体モジュールの端子接続部に加わる変位を抑制できる事がわかった。
図14は、図10の断面Aにおける断面図である。筐体12は、流路形成体1000を形成する。冷却水入口13から水路19内に流入した冷媒は、水路19を矢印で示すように流れ、冷却水出口14から排出される。本実施形態においては、流路19内に、6つのパワー半導体装置300が冷却水の流れに沿って配置されている。
図15は、電力変換装置200の第1実施形態に係る変形例を示す概略図である。図11との変化点は、流路形成体1000の壁面1001のうち、パワー半導体モジュール300に挟まれた部分が第2固定材902に埋没している点である。隣接する第2固定材902を一括して注入できるため注入時のノズルの移動がすくなく生産性が向上できる効果がある。
本発明の第2の実施例形態は、第1固定材901として弾性率2MPaの熱硬化型シリコーン樹脂硬化物を用いている点が第1の実施形態と異なる。第1の実施形態で用いた湿気硬化型シリコーン樹脂は硬化に1〜数日を要し生産速度が低い。これに対して、熱硬化型シリコーン樹脂の硬化条件は、100℃1時間と短く生産速度が高い。第2固定材902に用いる熱硬化型のエポキシ樹脂とシリコーン樹脂は溶解度パラ―メータが異なり相用しないため、お互いが未硬化の状態で塗布しても混合せず、2層状態の硬化物を得る事ができる。第1固定材901の熱硬化型シリコーン樹脂を塗布した後、未硬化の状態で、第2固定材902の熱硬化性エポキシ樹脂を塗布し、120℃3時間の硬化条件で、第1固定材901及び第2固定材902を一括硬化する事で生産時のエネルギーの増加なく、生産速度を向上できる効果がある。
図16は、第3の実施形態に係る電力変換装置200の断面構造を示す概略図である。第1固定材901として弾性率2MPaのウレタン樹脂硬化物を用い、第2固定材902として、流路形成体1000に機械的に固定したPPSからなる弾性率18GPaの樹脂板を用いている点が、第1の実施形態と異なる。ウレタン樹脂としては2液性の耐水性のウレタン樹脂を用いた。硬化条件は100℃2時間である。第2固定材は機械的に固定するため生産速度が速い効果がある。また、ウレタン樹脂はエポキシ樹脂に比べ反応性に優れるため、効果に要するエネルギーを低減できる効果がある。第1固定材901であるウレタン樹脂は、第2固定材902の上から注入される。これにより、注入時のノズルの移動が少なく生産性が向上できる効果がある。
図17は、第3の実施形態に係る変形例である電力変換装置200の断面構造を示す概略図である。第2固定材902として、あらかじめ流路形成体1000にパワー半導体を収納するケースの一部を水圧により変形する方向に覆う突起を形成している。第2固定材902を流路形成体1000にあらかじめ形成する事で、機械的な固定が不要で生産性に優れる効果がある。流路形成体1000としてPPSからなる弾性率18GPaの樹脂を用いた。流路形成体1000を樹脂製にする事で、複雑な形状を形成しやすい効果がある。
図18は、第4の実施形態に係る電力変換装置200の断面構造を示す概略図である。第1の実施形態との変化点は、第1固定材901及び第2固定材902が傾斜材料である点である。あらかじめ弾性率2MPa のウレタン樹脂を塗布した後、未硬化の状態で、エポキシ樹脂を塗布した。ウレタン樹脂とエポキシ樹脂は界面近傍で一部相溶し傾斜材料となった。第1固定材901と第2固定材902が一部相溶しているため、第1固定材901と第2固定材902が密着性し、第2固定材902が第1固定材901の変位を抑制する効果が高い。
図19は、第5の実施形態に係る電力変換装置200の断面構造を示す概略図である。第1の実施形態との変化点は、第1固定材901にポリエチレンテレフタレート(PTFE)製のテープを用いている点、及び第2固定材902に紫外線(UV)硬化型樹脂硬化物を用いている点である。パワー半導体を収納するケースに耐水性のテープをまき、水路形成体1000に挿入した後、第2固定材902として、UV硬化型樹脂を注入した。その後、紫外線を約1分間照射し、UV硬化樹脂を硬化した。UV硬化樹脂を用いる事で、樹脂近傍に限定してエネルギーを印加し硬化できるため、生産時エネルギーを低減できる効果がある。また、高強度紫外線を照射する事で、硬化時間を短縮し、生産速度を大きく向上できる効果がある。
比較例1
図20は、第1の比較形態に係る電力変換装置の断面構造を示す概略図である。パワー半導体モジュール300と水路形成体1000の間をOリング904で液密性を確保している。Oリング904を圧縮するための機械的固定構造やOリングを圧縮するための剛性が必要となりサイズが大きくなった。
比較例2
図21は、第2の比較形態に係る電力変換装置の断面構造を示す概略図である。パワー半導体モジュール300と水路形成体1000に弾性率15GPaのエポキシ樹脂硬化物を形成し液密性を確保している。水路形成体1000とパワー半導体モジュール間の水圧、振動、熱による変位差でエポキシ樹脂硬化物にクラックが入り液密性が低下した。
10…上部ケース、12…筺体、13…冷却水入口、14…冷却水出口、16…下部ケース、17…コネクタ、18…ケーブル、19…流路、21…信号用コネクタ、155…上アーム用IGBT、156…ダイオード、157…下アーム用IGBT、158…ダイオード、200…電力変換装置、300…パワー半導体モジュール、315…リードフレーム、315B…端子、318…リードフレーム、319…リードフレーム、319B…端子、320…リードフレーム、320B…端子、325L…端子、325S…端子、325U…端子、501…積層配線板、510…直流電源コネクタ、512…直流電源コネクタ、900…封止樹脂、900A…封止樹脂面、900B…シール部、901…第1固定材、902…第2固定材、904…Oリング、910…放熱部、910A…フィン、910B…封止樹脂片、910C…放熱面、912…タイバー、920…高熱伝導体、930…コレクタ側リード組み、931…エミッタ側リード組み、940…絶縁層、945…温度センサ、950…リード組立体、960…トランスファーモールド金型、961…トランスファーモールド金型、965…プランジャー、1000…流路形成体、1001…壁面、1001A…平面構造部、1200…プレート、1300…マルチブレード

Claims (14)

  1. パワー半導体を収納するとともに流路形成体に固定されるケースと、
    冷媒に接触する第1固定材と、
    前記第1固定材及び前記流路形成体に接しかつ前記第1固定材の前記ケースの水圧による変位方向を覆う第2固定材と、を備えるパワー半導体モジュール。
  2. 請求項1に記載のパワー半導体モジュールであって、
    前記第1固定材の弾性率が前記第2固定材より低いパワー半導体モジュール。
  3. 請求項1又は2のいずれかに記載のパワー半導体モジュールであって、
    前記第1固定材が樹脂であるパワー半導体モジュール。
  4. 請求項1乃至3のいずれかに記載のパワー半導体モジュールであって、
    前記第1固定材が樹脂硬化物であるパワー半導体モジュール。
  5. 請求項1乃至4のいずれかに記載のパワー半導体モジュールであって、
    前記第2固定材が樹脂硬化物であるパワー半導体モジュール。
  6. 請求項1乃至5のいずれかに記載のパワー半導体モジュールであって、
    前記第1固定材の弾性率が0.1MPa以上1GPa以下であり、前記第2固定材の弾性率が4GPa以上であるパワー半導体モジュール。
  7. 請求項1乃至6のいずれかに記載のパワー半導体モジュールであって、
    前記第1固定材は120℃2気圧の飽和水蒸気に168時間暴露した後の重量減少率が10%以下であるパワー半導体モジュール。
  8. 請求項1乃至7のいずれかに記載のパワー半導体モジュールであって、
    前記第1固定材はチキソ性が1.5以上の樹脂の硬化物であるパワー半導体モジュール。
  9. 請求項1乃至8のいずれかに記載のパワー半導体モジュールであって、
    前記第1固定材は傾斜材料の低弾性率部であり、第2固定材は、前記傾斜材料の高弾性率部であるパワー半導体モジュール。
  10. 請求項1乃至9のいずれかに記載のパワー半導体モジュールであって、
    前記第1固定材はシリコーン樹脂であるパワー半導体モジュール。
  11. 請求項1乃至のいずれかに記載のパワー半導体モジュールであって、
    前記第1固定材はウレタン樹脂であるパワー半導体モジュール。
  12. 請求項1乃至11のいずれかに記載のパワー半導体モジュールであって、
    前記第2固定材は紫外線硬化型樹脂であるパワー半導体モジュール。
  13. 請求項1乃至11のいずれかに記載のパワー半導体モジュールを備える電力変換装置であって、
    前記ケースの外面との間で流路を形成する流路形成体と、を備える電力変換装置。
  14. パワー半導体を収納するケースを流路形成体の流路に収納する第1工程と、
    前記流路に流れる冷媒に接触するように第1固定材を配置する第2工程と、
    前記第1固定材及び前記流路形成体に接しかつ前記第1固定材の前記ケースの水圧による変位方向を覆うように第2固定材を配置する第3工程と、を備え、
    前記第1固定材又は前記第2固定材もしくは前記第1固定材及び前記第2固定材は、液状樹脂を硬化することにより形成する電力変換装置の製造方法。
JP2018516256A 2016-05-11 2016-05-11 パワー半導体モジュール、それを用いた電力変換装置及び電力変換装置の製造方法 Active JP6663485B2 (ja)

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