JP6643016B2 - 表示装置のテスト装置及びテスト装置を利用するテスト方法 - Google Patents

Description

本発明は、表示装置のテスト装置及びテスト装置を利用するテスト方法に関する。

近年、映像を表示する装置には、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）、ＯＬＥＤ（Ｏｒｇａｎｉｃ Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅｓ）、ＰＤＰ（Ｐｌａｓｍａ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｐａｎｅｌ）、ＥＰＤ（Ｅｌｅｃｔｒｏｐｈｏｒｅｔｉｃ Ｄｉｓｐｌａｙ）等がある。

近年、本発明の属する技術分野では、柔軟性を有するフレキシブルディスプレイの開発が活発に行われている。このようなフレキシブルディスプレイは、単純に曲げられることのみならず、曲がった状態又は曲がった後、再び伸ばされた状態でも、正常に映像を表示できなければならない。

このように、フレキシブルディスプレイが正常に映像を表示できる範囲内で曲げられる度合い、即ち撓みの特性（Ｆｌｅｘｉｂｉｌｉｔｙ）は、フレキシブルディスプレイが有するべき重要な性能の１つである。

韓国登録特許第１０−１０５４７６２号公報 韓国登録特許第１０―１２９５８８７号公報 韓国登録特許第１０―１３５８７３２号公報 韓国公開特許第１０−２０１２−００１０８０１号公報

しかし、表示装置がフレキシブルな特性を有していても、使用される間に撓みによって破損されるか、或いは曲がった部分にクラック又はまだら等が残る不良が発生する可能性がある。

また、一般的なフレキシブル表示装置に使用される静電容量方式のタッチパネルの場合、湾曲部周辺における静電容量の変化が妨げとなり、タッチ動作を正確に認識できないことが起こりうる。

上記のような不良をテスト段階で効率的に排除するためには、テストの信頼性を確保する手段が求められる。

そこで、本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的とするところは、表示装置に対する撓みのテストにおいて、信頼性を向上させることが可能な、新規かつ改良されたテスト装置、及びテスト装置を利用する方法を提供することにある。

上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、ベース基板と、前記ベース基板上に表示装置を固定し、前記ベース基板の法線方向に沿って延長するｚ軸方向に互いに独立して移動できるように構成された複数の固定器具と、前記固定器具の動作を制御して前記表示装置を互いに異なる２つ以上のテストパターンに曲げて検査を実施する制御部と、を備えることを特徴とする、表示装置のテスト装置が提供される。

また、前記複数の固定器具は、第１〜第４固定器具を備え、前記第１〜第４固定器具は、前記表示装置の第１〜第４隅部をクランピングすることとしても良い。

また、前記第１〜第４固定器具の各々は、前記ベース基板に対して平行なｘ軸及びｙ軸方向に、互いに独立して移動できるように構成されることとしても良い。

また、前記第１〜第４固定器具の間の前記ｘ軸及びｙ軸方向の間隔は、前記表示装置のサイズにしたがって調整できるように構成されることとしても良い。

また、前記複数の固定器具の各々は、前記表示装置を支持する支持部と、前記表示装置を介して前記支持部と対向するように位置して前記表示装置を前記支持部に固定させる維持部と、前記支持部に連結し前記支持部を前記ｚ軸方向に移動させる第１ｚ軸移動部と、前記維持部に連結し前記維持部を前記ｚ軸方向に移動させ、前記第１ｚ軸移動部と連動して動作する第２ｚ軸移動部と、をさらに備えることとしても良い。

また、前記複数の固定器具の各々は、前記第１ｚ軸移動部と結合して前記ベース基板に対して平行なｙ軸方向に前記支持部を移動させるｙ軸移動部と、前記ｙ軸移動部と結合し前記ベース基板に対して平行なｘ軸方向に前記支持部を移動させるｘ軸移動部と、をさらに備えることとしても良い。

また、前記ベース基板は、開口部を備え、前記固定器具は、前記開口部を通過して延長し、前記開口部内で前記ｘ軸及びｙ軸に移動できるように提供されることとしても良い。

また、前記表示装置と接触する１つ以上の導電体と、前記導電体をテスト位置に移動させる移動部材と、をさらに備え、前記制御部は、前記導電体のタッチ動作によって信号を受信するか、或いはモニタリングを通じて前記表示装置のタッチ動作をテストすることとしても良い。

また、前記制御部は、前記表示装置の曲がった形状にしたがって、前記タッチ動作を検査することができる位置を設定し、設定された位置に前記導電体を移動させるように前記移動部材を制御することとしても良い。

また、前記ベース基板には前記タッチ動作を検査するのに利用される仮想座標が提供されることとしても良い。

また、前記複数の固定器具の各々は、前記表示装置をクランピングするクランパと、前記クランパとスライド構造を形成し、前記クランパを前記ｚ軸方向に移動させるｚ軸移動部と、をさらに備えることとしても良い。

また、前記クランパには前記表示装置の隅部を挿入することができる挿入口が提供されることとしても良い。

また、前記複数の固定器具の各々は、前記ｚ軸移動部と結合し前記ベース基板に対して平行なｙ軸方向に前記クランパを移動させるｙ軸移動部と、前記ｙ軸移動部と結合し前記ベース基板に対して平行なｘ軸方向に前記クランパを移動させるｘ軸移動部と、をさらに備えることとしても良い。

また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、ベース基板上に表示装置を配置する段階と、複数の固定器具を利用して前記ベース基板に前記表示装置の位置を固定する段階と、前記複数の固定器具を前記ベース基板の法線方向に沿って延長するｚ軸方向に互いに独立して移動することにより、前記表示装置を互いに異なる２つ以上のテストパターンに曲げて前記表示装置の撓みを検査する段階と、を含むことを特徴とする表示装置のテスト方法が提供される。

また、前記表示装置のテスト方法は、前記ベース基板に前記表示装置の位置を固定する段階の前に、前記固定器具を前記ベース基板に対して平行なｘ軸方向及びｙ軸方向に移動することにより、前記表示装置のサイズにしたがって前記固定器具の前記ｘ軸及びｙ軸の間隔を調整する段階を、さらに含むこととしても良い。

また、前記表示装置のテスト方法は、導電体を利用して前記表示装置をタッチする段階と、前記タッチ動作によって信号を受信して前記表示装置のタッチ動作をテストする段階と、をさらに含むこととしても良い。

また、前記表示装置のテスト方法は、前記表示装置の曲がった形状にしたがって、前記タッチ動作を検査することができる位置を設定する段階と、設定された位置に前記導電体を移動させるために移動部材を制御する段階と、をさらに含むこととしても良い。

以上説明したように本発明によれば、表示装置に対する撓みのテストにおいて、信頼性を向上させることができる。

本発明の第１の実施形態による表示装置のテスト装置の斜視図である。 第１テストパターンにしたがって動作する表示装置のテスト装置の斜視図である。 図２に図示された切断線Ａ−Ａ’に沿って切断した断面図である。 第２テストパターンにしたがって動作する表示装置のテスト装置の斜視図である。 第３テストパターンにしたがって動作する表示装置のテスト装置の斜視図である。 図５に図示された切断線Ｂ−Ｂ’に沿って切断した断面図である。 本発明の第２の実施形態による表示装置のテスト装置の斜視図である。 図７に図示された切断線Ｃ−Ｃ’に沿って切断した断面図である。 本発明の第３の実施形態による表示装置のテスト装置の斜視図である。

以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。

また、本明細書で「第１」、「第２」等の用語は限定的な意味ではなく、１つの構成要素を他の構成要素と区別する目的として使用されている。また、膜、領域、構成要素等の部分が他の部分の「上に」、又は「うえに」あるとする時、他の部分の直ちに上にある場合のみならず、その中間に他の膜、領域、構成要素等が介在されている場合も含む。

＜１．第１の実施形態＞
（１−１．テスト装置の構成）
まず、図１を参照しながら、本発明の第１の実施形態に係る表示装置のテスト装置の概略構成について説明する。図１は、本発明の第１の施形態による表示装置のテスト装置を示した斜視図である。

図１に示すように、テスト装置５００は、表示装置１０の撓み度合いをテストするために、表示装置１０を多様な形状に曲げることができる。表示装置１０がフレキシブルな特性を有していても、表示装置１０が、使用者によって使用される間に撓みによって破損されるか、或いは曲がった部分にクラック又はまだら等が残る不良が発生することが予想される。このため、表示装置１０に撓みによる不良が発生しないように、信頼性を確保しなければならない。したがって、テスト装置５００を利用して、表示装置１０の撓みによるクラック発生の有無、及び機能損失の有無等がテストされる。

テスト装置５００は、ベース基板１００、複数の固定器具２１０、２２０、２３０、２４０、及び制御部３００を備える。本発明の一例として、ベース基板１００は、方形プレート形状を有する。

複数の固定器具２１０、２２０、２３０、２４０は、ベース基板１００の上部で表示装置１０を固定し、ベース基板１００の法線方向に延長したｚ軸方向に互いに独立して移動できるように構成される。制御部３００は、複数の固定器具２１０、２２０、２３０、２４０の動作を制御して、表示装置１０を２つ以上のテストパターン形状に曲げて検査を実施する。

本発明の一例として、複数の固定器具２１０、２２０、２３０、２４０は、第１〜第４固定器具２１０、２２０、２３０、２４０を備え、第１〜第４固定器具２１０、２２０、２３０、２４０は、表示装置１０の４つの隅部を各々固定する構造を有する。

第１〜第４固定器具２１０、２２０、２３０、２４０の構成は、実質的に同一であるので、第１〜第４固定器具２１０、２２０、２３０、２４０のうち第１固定器具２１０に対して説明し、残りの固定器具に対する説明は省略する。

第１固定器具２１０は、支持部２１１、維持部２１２、及びｚ軸移動部２１３を備える。支持部２１１は方形プレート形状を成し、表示装置１０の４つの隅部１１、１２、１３、１４のうち１つの隅部（即ち、第１隅部１１）を支持する。維持部２１２は、表示装置１０の第１隅部１１を介して支持部２１１と対向するように配置され、表示装置１０を支持部２１１に固定する。維持部２１２は、方形プレート形状を有し、支持部２１１と平行に対向するように配置される。

ｚ軸移動部２１３は、支持部２１１に結合し支持部２１１をｚ軸方向に移動させる第１ｚ軸移動部２１３＿１、及び維持部２１２に結合し維持部２１２をｚ軸方向に移動させる第２ｚ軸移動部２１３＿２を備える。

テスト装置５００に表示装置１０が設置される前に、支持部２１１はベース基板１００上面と接触するか、或いは直ちに隣接して配置される。維持部２１２は、支持部２１１と所定間隔に離隔された位置に配置され、表示装置１０が支持部２１１上に安着されるのを妨害しないようにする。

以後、表示装置１０が設置されると、支持部２１１上に表示装置１０が安着される。表示装置１０が支持部２１１上に安着された後、第２ｚ軸移動部２１３＿２が維持部２１２を移動させることにより、維持部２１２が支持部２１１と結合され、表示装置１０をクランピングする。

表示装置１０が維持部２１２と支持部２１１とによってクランピングされると、第１ｚ軸移動部２１３＿１は、第２ｚ軸移動部２１３＿２と連動して、支持部２１１及び維持部２１２をｚ軸方向に移動させることができる。即ち、第１及び第２ｚ軸移動部２１３＿１、２１３＿２は、表示装置１０がベース基板１００と所定間隔に離隔された初期の検査位置に配置されるように、ｚ軸方向に支持部２１１と維持部２１２とを移動させる。

第１ｚ軸移動部２１３＿１は、支持部２１１と結合しｚ軸方向に移動可能であるシャフト２１３＿１１、及びシャフト２１３＿１１の移動を制御するシャフト制御部２１３＿１２を備える。シャフト制御部２１３＿１２は、シャフト２１３＿１１をｚ軸方向に移動させ、支持部２１１とベース基板１００との間隔を調節することができる。

テスト装置５００は、第１ｚ軸移動部２１３＿１を、ベース基板１００の短手方向に沿って平行に延長するｙ軸方向、及びベース基板１００の長手方向に沿って平行に延長するｘ軸方向に各々移動させるためのｙ軸移動部２１４、及びｘ軸移動部２１５をさらに備える。ｙ軸移動部２１４は、第１ｚ軸移動部２１３＿１と結合して、支持部２１１と維持部２１２をｙ軸方向に移動させることができる。また、ｘ軸移動部２１５は、ｙ軸移動部２１４と結合して、支持部２１１と維持部２１２とをｘ軸方向に移動させることができる。

ｙ軸移動部２１４は、ｙ軸レール２１４＿１及びｙ軸制御部２１４＿２を備える。ｙ軸レール２１４＿１は、第１ｚ軸移動部２１３＿１がｙ軸方向に移動できるように、シャフト制御部２１３＿１２とスライド構造を形成する。ｙ軸制御部２１４＿２は、ｙ軸レール２１４＿１に沿って第１ｚ軸移動部２１３＿１を移動させ、第１ｚ軸移動部２１３＿１のｙ軸位置を制御する。一方、ｙ軸レール２１４＿１は、ｙ軸制御部２１４＿２上に位置されたｙ軸方向に延長する２つのレールであり、第１ｚ軸移動部２１３＿１がｙ軸レール２１４＿１に沿ってｙ軸方向に移動できるようにする。

ｘ軸移動部２１５は、ｘ軸レール２１５＿１及びｘ軸制御部２１５＿２を備える。ｘ軸レール２１５＿１は、第１ｚ軸移動部２１３＿１がｘ軸方向に移動できるように、ｙ軸制御部２１４＿２とスライド構造を形成する。ｘ軸制御部２１５＿２は、ｘ軸レール２１５＿１に沿って第１ｚ軸移動部２１３＿１を移動させ、第１ｚ軸移動部２１３＿１のｘ軸位置を制御する。一方、ｘ軸レール２１５＿１は、ｘ軸制御部２１５＿２上に位置されたｘ軸方向に延長する２つのレールであり、第１ｚ軸移動部２１３＿１がｘ軸レール２１５＿１に沿ってｘ軸方向に移動できるようにする。

図１に示すｙ軸移動部２１４及びｘ軸移動部２１５は、本発明の一例として示しており、本発明は、図１に示すｙ軸移動部２１４及びｘ軸移動部２１５のような構成以外にも、第１ｚ軸移動部２１３＿１をｙ軸及びｘ軸方向に移動可能であれば、何らかの構成を有しても構わない。また、ｘ軸及びｙ軸の延長方向は、ベース基盤１００の長手方向及び短手方向に限定されない。

ベース基板１００は、第１〜第４固定器具２１０、２２０、２３０、２４０がｘ軸及びｙ軸方向に移動できるように提供された構造を有する。本発明の一例として、ベース基板１００は、隅部にシャフト２１３＿１１が通過できる程度の幅を備え、シャフト２１３＿１１がｘ軸及びｙ軸方向にスライドできるように長く延長された第１〜第４開口部１１０、１２０、１３０、１４０を備える。第１〜第４開口部１１０、１２０、１３０、１４０は、ベース基板１００の隅部を切開してＬ字形状に形成される。

制御部３００は、表示装置１０を２つ以上のテストパターン形状に変形させるために、第１〜第４固定器具２１０、２２０、２３０、２４０の動作を独立して制御する。例えば、制御部３００は、第１〜第４固定器具２１０、２２０、２３０、２４０の間のｘ軸及びｙ軸方向の間隔を調整して撓みの度合い若しくは撓み方向を制御するか、又は第１〜第４固定器具２１０、２２０、２３０、２４０の各々のｚ軸方向の高さを調整して、特定部位のみを曲げられるようにするか、若しくはツイストさせることができる。

また、表示装置１０を固定する段階において、制御部３００が第１〜第４固定器具２１０、２２０、２３０、２４０の間のｘ軸及びｙ軸方向の間隔を調整することにより、表示装置１０のサイズにしたがった固定が可能となる。

（１−２．第１テストパターンの構成）
以下、多様なテストパターンにしたがいテスト動作を実施するテスト装置を説明する。

図２は、第１テストパターンにしたがうテスト動作を実施するテスト装置を示した斜視図であり、図３は、図２の切断線Ａ−Ａ’に沿って切断した断面図である。

図２及び図３に示すように、第１テストパターンにしたがうテスト動作のために、第１固定器具２１０は、初期地点Ｚ_０を基準にｚ軸方向に下降して、第１ｚ軸地点Ｚ_１に移動することができる。また、第３固定器具２３０は、初期地点Ｚ_０を基準にｚ軸方向に上昇して、第２ｚ軸地点Ｚ_２に移動することができる。テスト過程で、第１及び第２ｚ軸地点Ｚ_１、Ｚ_２と初期地点Ｚ_０との間隔は段階的に増加される値であるか、又は望む曲率によって既設定された１つの値であってもよい。

一方、第１テストパターンにしたがうテスト動作の時、第２及び第４固定器具２２０、２４０は初期地点Ｚ_０に位置するように固定される。これにより、表示装置１０の中心は、ベース基板１００に対して所定の高さを維持する。

本発明の一例として、第１及び第３固定器具２１０、２３０は、互いに対称的に配置され、第２及び第４固定器具２２０、２４０は互いに対称的に配置される。第１〜第４固定器具２１０〜２４０は、表示装置１０の第１〜第４隅部１１〜１４を各々クランピングする。例えば、図３に示すように、第１及び第３固定器具２１０、２３０は、表示装置１０の第１及び第３隅部１１、１３をクランピングする。

第１固定器具２１０が初期地点Ｚ_０を基準にｚ軸方向に下降することにより、表示装置１０の第１隅部１１は、ｚ軸方向下側に曲げられる。また、第３固定器具２３０が初期地点Ｚ_０を基準にｚ軸方向に上昇することにより、表示装置１０の第３隅部１３は、ｚ軸方向上側に曲げられる。したがって、第１隅部１１と第３隅部１３とは、互いに反対方向に曲げられ、表示装置１０の形状がツイストされた状態に変形される。

図２及び図３では、表示装置１０の第１及び第３隅部１１、１３が互いに反対方向に曲げられるようにするために、第１及び第３固定器具２１０、２３０を互いに反対方向にｚ軸移動をさせたが、表示装置１０の第１及び第３隅部１１、１３が互いに同一の方向に曲げられるようにしてテスト動作を実施してもよい。この場合、テスト動作のために第１及び第３固定器具２１０、２３０は、互いに同一の方向にｚ軸移動される。

（１−３．第２テストパターンの構成）
テスト装置５００が第１テストパターンにしたがうテスト動作を完了した後、第１テストパターンと異なる第２テストパターンにしたがうテスト動作が遂行される。第２テストパターンにしたがうテスト動作のために、第１及び第３固定器具２１０、２３０は、初期地点Ｚ_０に復帰する。

図４は、第２テストパターンにしたがうテスト動作を実施するテスト装置を示した斜視図である。

図４に示すように、第２テストパターンにしたがうテスト動作のために、第２固定器具２２０は、初期地点Ｚ_０を基準にｚ軸方向に上昇して、第２ｚ軸地点Ｚ_２に移動することができる。また、第４固定器具２４０は、初期地点Ｚ_０を基準にｚ軸方向に下降して、第１ｚ軸地点Ｚ_１に移動することができる。テスト過程で、第１及び第２ｚ軸地点Ｚ_１、Ｚ_２と初期地点Ｚ_０との間隔は段階的に増加される値であるか、又は望む曲率によって既設定された１つの値であってもよい。

第２テストパターンにしたがうテスト動作の時、第１及び第３固定器具２１０、２３０は、初期地点Ｚ_０に位置するように固定される。

第２固定器具２２０が初期地点Ｚ_０を基準にｚ軸方向に上昇することにより、表示装置１０の第２隅部１２は、ｚ軸方向上側に曲げられる。また、第４固定器具２４０が初期地点Ｚ_０を基準にｚ軸方向に下降することにより、表示装置１０の第４隅部１４は、ｚ軸方向下側に曲げられる。

したがって、第２隅部１２と第４隅部１４とは、互いに反対方向に曲げられ、表示装置１０の形状がツイストされた状態に変形される。

図４では、表示装置１０の第２及び第４隅部１２、１４が互いに反対する方向に曲げられるようにするために、第２及び第４固定器具２２０、２４０を互いに反対方向にｚ軸移動をさせた。しかし、これに限定されず、表示装置１０の第２及び第４隅部１２、１４が互いに同一の方向に曲げられるようにしてテスト動作を実施してもよい。この場合、テスト動作のために、第２及び第４固定器具２２０、２４０は互いに同一の方向にｚ軸移動される。

図２〜図４には示されていないが、表示装置１０がベース基板１００上面に支持された状態で、第１〜第４固定器具２１０〜２４０に対し、十分な負荷を伴うｚ軸反復移動を同時にさせることにより、表示装置１０の第１〜第４隅部１１〜１４の撓みの信頼性をテストすることもできる。このように、表示装置１０が多様な形状に変形されることを通じて、表示装置１０の撓みの信頼性を確保することができる。

（１−４．第３テストパターンの構成）
テスト装置５００が第２テストパターンにしたがうテスト動作を完了した後、第２テストパターンと異なる第３テストパターンにしたがうテスト動作が遂行される。第３テストパターンにしたがうテスト動作のために、第２及び第４固定器具２２０、２４０は初期地点Ｚ_０に復帰する。

図５は、第３テストパターンにしたがうテスト動作を実施するテスト装置を示した斜視図であり、図６は図５の切断線Ｂ−Ｂ’に沿って切断した断面図である。

図５及び図６に示すように、第３テストパターンにしたがうテスト動作のために、表示装置１０がｚ軸方向に曲げられるように、第１〜第４固定器具２１０〜２４０の水平位置を調整することができる。具体的に、第１及び第４固定器具２１０、２４０はｘ軸間隔が狭まるよう互いにｘ軸方向に移動し、第２及び第３固定器具２２０、２３０は、ｘ軸間隔が狭まるよう互いにｘ軸方向に移動する。このように、第１及び第２固定器具２１０、２４０の間のｘ軸方向における距離ｄｘが減少するので、表示装置１０の中心はｚ軸方向に曲げられる。

図５及び図６では、本発明の一例として、第１及び第４固定器具２１０、２４０が同時に移動して第１及び第４固定器具２１０、２４０のｘ軸間隔ｄｘを減少させる方法を示している。しかし、第１及び第４固定器具２１０、２４０のうちいずれか１つの固定器具のみを移動させてｘ軸間隔を減少させてもよい。

同様に、図５及び図６では、本発明の一例として、第２及び第３固定器具２２０、２３０が同時に移動して第２及び第３固定器具２２０、２３０のｘ軸間隔ｄｘを減少させる方法を示している。しかし、第２及び第３固定器具２２０、２３０のうちいずれか１つの固定器具のみを移動させてｘ軸間隔ｄｘを減少させてもよい。これにより、ｙ軸中心を基準として、表示装置１０が全体的にｚ軸方向に曲げられるようにしてテスト工程を進行することができる。

図面には示していないが、テスト過程で、第１及び第４固定器具２１０、２４０の間隔と第２及び第３固定器具２２０、２３０との間隔とを互いに異なる長さに設定することにより、ｙ軸中心線上からの曲率を互いに異なる値にしてテストを進行することができる。

また、第１〜第４固定器具２１０〜２４０を初期地点Ｚ_０に位置させた後、第１及び第２固定器具２１０、２２０のｙ軸間隔ｄｙ、第３及び第４固定器具２３０、２４０のｙ軸間隔ｄｙを減少させることにより、ｘ軸中心を基準として、表示装置１０が全体的にｚ軸方向に曲げられるようにしてテスト工程を進行することができる。

この場合においても、第１及び第２固定器具２１０、２２０の間隔と第３及び第４固定器具２３０、２４０の間隔とを互いに異なる長さに設定することにより、ｘ軸中心線上からの曲率を互いに異なる値にしてテストを進行してもよい。

＜２．第２の実施形態＞
図７は、本発明の第２の実施形態によるテスト装置を示した斜視図であり、図８は図７に示された切断線Ｃ−Ｃ’に沿って切断した断面図である。但し、図７及び図８に示された構成要素のうち、図２及び図３に示された構成要素と同じ構成要素に対しては、同一の参照符号を併記し重複説明を省略する。

図７に示すように、本発明の第２の実施形態によるテスト装置は、表示装置１０のタッチ動作をテストするために、表示装置１０をタッチする１つ以上の導電体４１０、及び導電体４１０に結合されて導電体４１０をテスト位置に移動させるための移動部材４２０をさらに備える。

制御部３００（図１に示される）は、導電体４１０のタッチ動作による信号を受信して、表示装置１０のタッチ動作をテストすることができる。ベース基板１００には、タッチ動作を検査するために利用するための仮想座標が提供される。仮想座標は、ｘ軸及びｙ軸方向にそれぞれ所定の間隔を保って引かれるｘ軸仮想線、及びｙ軸仮想線の交差により定義される仮想点を以って特定される。

制御部３００は、移動部材４２０を制御し、タッチ動作テストのために既設定されたテスト座標地点に導電体４１０を移動させる。移動部材４２０は、導電体４１０をテスト座標地点の上部に移動させた後、テスト座標地点に対応する表示装置１０の特定位置で導電体４１０と表示装置１０とを接触させるか、又は導電体４１０を特定位置に近づける。

タッチ動作テスト過程で、表示装置１０は、起動されてタッチ動作を認識できる状態であり、タッチ動作が行われた時、対応する機能を遂行する。

制御部３００は、表示装置１０の画面をモニタリングし、表示装置１０がタッチ動作を正確に認識するか否かを判断する。また、制御部３００は、表示装置１０と電気的に連結され、タッチ動作に対する表示装置１０の感度を測定し、測定された感度と既設定された基準感度とを比較することで、表示装置１０のタッチ感度に対する不良の有無も判断する。

図８に示すように、テスト装置５５０は、表示装置１０が曲がった状態でタッチ動作テストを進行することができる。即ち、テスト装置５５０が、撓みテストのために表示装置１０の形状を既設定されたテストパターンにしたがって変形させれば、制御部３００は、移動部材４２０を制御し、導電体４１０を表示装置１０の特定位置に移動させる。

一般的に、フレキシブル表示装置に使用される静電容量方式のタッチパネルの場合、表示装置１０が曲げられれば、曲がった付近における静電容量が変化する。このような静電容量の変化が妨げとなり、曲がった付近でタッチ動作が発生しても、表示装置１０がタッチ動作を正確に認識できないことがあり得る。

一方、テスト装置５５０は、表示装置１０が曲がった状態でも、表示装置１０がタッチ動作を正確に認識するか否かをテストできるため、表示装置１０のタッチ性能に対する信頼性を向上させることができる。

タッチ動作テストは、多様なテストパターンにしたがうテスト動作と連動して実施され、テストパターンにしたがって、導電体４１０が表示装置１０をタッチする地点が決定される。

＜３．第３の実施形態＞
図９は、本発明の第３の実施形態によるテスト装置を示した斜視図である。但し、図９に示された構成要素のうち図１に示された構成要素と同一の構成要素に対しては同一の参照符号を併記し、重複説明は省略する。

図９に示すように、本発明の第３の実施形態によるテスト装置１０００は、テストのためにテスト装置１０００に設置された表示装置１０を支持するベース基板６１０、及び表示装置１０の隅部を固定し表示装置１０をｚ軸方向に互いに独立して移動できるように構成された複数の固定器具７１０、７２０、７３０、７４０を備える。

テスト装置１０００は、ベース基板６１０をｚ軸方向に移動できるように構成された基板移動部６２０をさらに備える。基板移動部６２０はベース基板６１０に結合しベース基板６１０をｚ軸方向に移動させるシャフト６２２、及びシャフト６２２の移動を制御するシャフト制御部６２１を備える。

ベース基板６１０は、円板形状を成し、表示装置１０の中心部を支持し、基板移動部６２０によってｚ軸方向に移動することで表示装置１０の高さを調整する。図面には示していないが、ベース基板６１０のｘ軸及びｙ軸位置を調整するためのｘ軸及びｙ軸移動部がテスト装置１０００に追加で具備される。

複数の固定器具７１０、７２０、７３０、７４０は、第１〜第４固定器具７１０、７２０、７３０、７４０を備え、１〜第４固定器具７１０、７２０、７３０、７４０は、表示装置１０の４つの隅部を各々に固定する構造を有する。第１〜第４固定器具７１０、７２０、７３０、７４０の構成は実質的に同一であるので、第１〜第４固定器具７１０、７２０、７３０、７４０のうち第１固定器具７１０に対して説明し、残りの固定器具に対する説明を省略する。

第１固定器具７１０は、表示装置１０の隅部をクランピングするクランパ７１１及びクランパ７１１をｚ軸移動させるｚ軸移動部７１２を備える。クランパ７１１は、一側が開口されており、表示装置１０の隅部を挿入するための挿入口７１１＿１を備える。クランパ７１１は、ｚ軸移動部７１２とスライド構造を形成する。したがって、クランパ７１１の高さはｚ軸移動部７１２によって調整される。

表示装置１０がテスト装置１０００に設置されると、ベース基板６１０上に表示装置１０が安着され、表示装置１０の４つの隅部は各々第１〜第４固定器具７１０、７２０、７３０、７４０のクランパ７１１によってクランピングされる。ｚ軸移動部７１２は、表示装置１０が初期の検査位置に配置されるようにクランパ７１１の高さを調整することができる。

図９に示すように、テスト装置１０００は、ｚ軸移動部７１２をｙ軸方向及びｘ軸方向に各々移動させるためのｙ軸移動部７１３及びｘ軸移動部７１４をさらに備える。ｙ軸及びｘ軸移動部７１３、７１４は、図１に示されたｙ軸及びｘ軸移動部２１４、２１５と各々同一の構成を有するので、ｙ軸及びｘ軸移動部７１３、７１４に対する説明は重複を避けるために省略する。

以後、テストが開始されれば、テストパターンにしたがい、テスト装置１０００は、第１〜第４固定器具７１０〜７４０の各々のクランパ７１１の高さ、及び第１〜第４固定器具７１０〜７４０の間隔を調整して、表示装置１０の形状を変形させることができる。

図１〜図９に示した第１〜第４固定器具７１０〜７４０の形態以外にも表示装置１０の隅部を固定した状態で互いに独立してｚ軸移動が可能であれば、何らかの構成を有しても構わない。

＜４．まとめ＞
第１〜第３の実施形態で説明したように、表示装置１０を多様な形状に曲げてテスト工程を実施することによって、表示装置１０の多様な撓み形態に対する信頼性を向上させることができる。また、曲がった状態でのタッチ動作テストが可能であるので、フレキシブル表示装置に対するタッチ動作の信頼性を向上させることができる。

以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。したがって、本発明の技術的範囲は明細書の詳細な説明に記載された内容に限定されず、特許請求の範囲によって定められなければならない。

５００ テスト装置
１００ ベース基板
２１０〜２４０ 第１〜第４固定器具
３００ 制御部
２１１ 支持部
２１２ 維持部
２１３ ｚ軸移動部
２１４ ｙ軸移動部
２１５ ｘ軸移動部

Claims (16)

1. ベース基板と、
   前記ベース基板上に表示装置を固定し、前記ベース基板の法線方向に沿って延長するｚ軸方向に互いに独立して移動できるように構成された複数の固定器具と、
   前記固定器具の動作を制御して前記表示装置を互いに異なる２つ以上のテストパターンに曲げて検査を実施する制御部と、
   を備え、
   前記複数の固定器具は、第１〜第４固定器具を備え、
   前記第１〜第４固定器具の各々は、前記ベース基板に対して平行なｘ軸方向及びｙ軸方向に、互いに独立して移動できるように構成されることを特徴とする、表示装置のテスト装置。
2. 前記第１〜第４固定器具は、前記表示装置の第１〜第４隅部をクランピングすることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置のテスト装置。
3. 前記第１〜第４固定器具の間の前記ｘ軸方向及び前記ｙ軸方向の間隔は、前記表示装置のサイズにしたがって調整できるように構成されることを特徴とする、請求項２に記載の表示装置のテスト装置。
4. 前記複数の固定器具の各々は、
   前記表示装置を支持する支持部と、
   前記表示装置を介して前記支持部と対向するように位置して前記表示装置を前記支持部に固定させる維持部と、
   前記支持部に連結し前記支持部を前記ｚ軸方向に移動させる第１ｚ軸移動部と、
   前記維持部に連結し前記維持部を前記ｚ軸方向に移動させ、前記第１ｚ軸移動部と連動して動作する第２ｚ軸移動部と、
   をさらに備えることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置のテスト装置。
5. 前記複数の固定器具の各々は、
   前記第１ｚ軸移動部と結合して前記ｙ軸方向に前記支持部を移動させるｙ軸移動部と、
   前記ｙ軸移動部と結合し前記ｘ軸方向に前記支持部を移動させるｘ軸移動部と、
   をさらに備えることを特徴とする、請求項４に記載の表示装置のテスト装置。
6. 前記ベース基板は、開口部を備え、
   前記固定器具は、前記開口部を通過して延長し、前記開口部内で前記ｘ軸方向及び前記ｙ軸方向に移動できるように提供されることを特徴とする、請求項５に記載の表示装置のテスト装置。
7. 前記表示装置と接触する１つ以上の導電体と、
   前記導電体をテスト位置に移動させる移動部材と、をさらに備え、
   前記制御部は、前記導電体のタッチ動作によって信号を受信するか、或いはモニタリングを通じて前記表示装置のタッチ動作をテストすることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置のテスト装置。
8. 前記制御部は、前記表示装置の曲がった形状にしたがって、前記タッチ動作を検査することができる位置を設定し、設定された位置に前記導電体を移動させるように前記移動部材を制御することを特徴とする、請求項７に記載の表示装置のテスト装置。
9. 前記ベース基板には前記タッチ動作を検査するのに利用される仮想座標が提供されることを特徴とする、請求項７に記載の表示装置のテスト装置。
10. 前記複数の固定器具の各々は、
    前記表示装置をクランピングするクランパと、
    前記クランパとスライド構造を形成し、前記クランパを前記ｚ軸方向に移動させるｚ軸移動部と、
    をさらに備えることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置のテスト装置。
11. 前記クランパには前記表示装置の隅部を挿入することができる挿入口が提供されることを特徴とする請求項１０に記載の表示装置のテスト装置。
12. 前記複数の固定器具の各々は、
    前記ｚ軸移動部と結合し前記ｙ軸方向に前記クランパを移動させるｙ軸移動部と、
    前記ｙ軸移動部と結合し前記ｘ軸方向に前記クランパを移動させるｘ軸移動部と、
    をさらに備えることを特徴とする、請求項１０に記載の表示装置のテスト装置。
13. ベース基板上に表示装置を配置する段階と、
    複数の固定器具を利用して前記ベース基板に前記表示装置の位置を固定する段階と、
    前記複数の固定器具を前記ベース基板の法線方向に沿って延長するｚ軸方向に互いに独立して移動することにより、前記表示装置を互いに異なる２つ以上のテストパターンに曲げて前記表示装置の撓みを検査する段階と、
    を含み、
    前記複数の固定器具は、前記ベース基板に対して平行なｘ軸方向及びｙ軸方向、並びに、前記ｚ軸方向に、それぞれ移動されることを特徴とする、表示装置のテスト方法。
14. 前記ベース基板に前記表示装置の位置を固定する段階の前に、
    前記固定器具を前記ベース基板に対して平行なｘ軸方向及びｙ軸方向に移動することにより、前記表示装置のサイズにしたがって前記固定器具の前記ｘ軸方向及び前記ｙ軸方向の間隔を調整する段階を、
    さらに含むことを特徴とする、請求項１３に記載の表示装置のテスト方法。
15. 導電体を利用して前記表示装置をタッチする段階と、
    前記タッチ動作によって信号を受信して前記表示装置のタッチ動作をテストする段階と、
    をさらに含むことを特徴とする、請求項１３に記載の表示装置のテスト方法。
16. 前記表示装置の曲がった形状にしたがって、前記タッチ動作を検査することができる位置を設定する段階と、
    設定された位置に前記導電体を移動させるために移動部材を制御する段階と、
    をさらに含むことを特徴とする、請求項１５に記載の表示装置のテスト方法。

Images