JP6637494B2 - ロボットの教示方法及びロボット - Google Patents

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Description

本発明は、ロボットの教示方法及びロボットに関する。
一般に、半導体処理設備において半導体ウェハ、表示パネル用のガラス基板等を搬送する際にはリンク系の水平多関節型の搬送ロボットが使用される。搬送ロボットのハンド先端にはマッピングセンサが設けられる場合がある。マッピングセンサによりカセット内に収納された基板の有無を検出する。マッピングセンサは例えば二股状に分岐したハンドの第1及び第2先端部の間の空間をセンサビームが直進するように構成される。一般的には、マッピングセンサにより対象物を検出する際には、対象物がセンサビームを遮った位置がその検出位置となる。このためマッピングセンサのビーム方向での位置は特定できない。従来技術として、米国特許第752267号明細書には、対象物に対して2つの異なる姿勢におけるマッピングセンサの検出位置から対象物のXY平面位置を算出する技術が開示されている(例えば特許文献1を参照)。
米国特許第7522267号明細書
しかし、上記従来の方法では、マッピングセンサの実際の位置とロボットによって認識される位置とが異なる場合、算出された位置には誤差が含まれる。またロボットのゼロイング誤差、機械的な寸法の誤差などが累積することで、角度だけでなく、XY平面位置での誤差も生じる。その結果、対象物の位置を精度良く教示できないという課題がある。
そこで、本発明では、対象物の位置を正確に特定し、ロボットの教示精度を向上することを目的とする。
本発明の一態様に係るロボットの教示方法は、少なくともX軸、Y軸の2軸方向に自由度を有するロボットアームと、前記アームの先端に取り付けられ、二股状に分岐した第1先端部及び第2先端部を有するハンドと、前記第1及び第2先端部の間の空間をセンサビームが直進するように構成され、ターゲットが前記センサビームを遮ったか否かを検出するマッピングセンサと、前記ロボットアームの動作を制御する制御装置とを備えるロボットの教示方法であって、 教示位置にターゲットを配置する配置ステップと、前記ハンドを所定位置から直進させて、前記ターゲットが前記センサビームを遮ったときの前記ロボットから見た前記ターゲットの前後方向の位置を特定する第1特定ステップと、前記センサビームにより前記ターゲットを水平方向に走査するように前記センサビームの光軸に直交する軸上にある所定の旋回軸の周りに前記ハンドを揺動させる揺動ステップと、前記ハンドを揺動させることにより変化した前記マッピングセンサの検出信号に基づいて、前記ハンドの長手方向の中心軸に沿った位置に前記ターゲットが一致したか否かを判定する判定ステップと、前記一致しないと判定した場合に、前記ハンドを揺動させることにより変化した前記マッピングセンサの検出信号に基づいて、前記ハンドのオフセット量を算出し、前記算出したオフセット量に応じて前記センサビームの光軸に沿って左右いずれかの方向に前記ハンドをシフトさせるシフトステップと、前記一致したと判定した場合に、前記ロボットから見た前記ターゲットの左右方向の位置を特定する第2特定ステップと、前記特定された前記ターゲットの前後方向及び左右方向の位置に基づいて前記教示位置に対応する前記ハンドの位置をロボットに教示する教示ステップと、を含む。
マッピングセンサはハンド先端の空間を通過するセンサビームをターゲットが遮るか否かによって検出する構成である。このため、ロボットから見たターゲットの一方向の位置を特定することしかできない。
上記構成によれば、ハンドを所定の旋回軸の周りに揺動させてセンサビームによりターゲットを水平方向に走査する。マッピングセンサの検出信号の波形が変化する。変化する検出信号に基づいてオフセット量を算出する。算出したオフセット量に基づいてハンドをシフトさせる。これにより、ロボットのゼロイング、寸法上の誤差があっても、ハンドの長手方向の中心軸に沿った位置、つまりマッピングセンサのライン中央にターゲットを一致させる。これにより、ロボットから見たターゲットの平面位置を特定でき、特定されたターゲットの位置に基づいて教示位置に対応するハンドの位置をロボットに教示することができる。
前記揺動ステップでは、前記センサビームの光軸に直交する軸上にある所定の旋回軸の周りに左右同じ角度だけ前記ハンドを揺動させてもよい。
上記構成によれば、ハンドの長手方向の中心軸に対して左右同じ角度だけ前記ロボットアームを揺動させることにより、マッピングセンサの検出信号からオフセット量を好適に算出することができる。
前記判定ステップでは、前記マッピングセンサの検出信号値が0度を中心とした所定の揺動角の範囲において対称性を有するか否かにより、前記ハンドの長手方向の中心軸に沿った位置に前記ターゲットが一致したか否かを判定してもよい。
上記構成によれば、ターゲットの位置を正確に特定することができる。
ロボットの基準座標系の軸に対する前記センサビームの光軸の傾きを算出するステップを更に含み、前記シフトステップでは、前記算出した傾きを維持するように前記センサビームの光軸に沿って前記ハンドをシフトさせてもよい。
ハンドのシフト方向と、ロボットの基準座標系の各軸は平行であるとは限らない。そこで、予めロボットの基準座標系の軸に対するセンサビームの光軸の傾きを算出しておくことにより、ハンドを正確にシフトさせることができる。
前記配置ステップでは2つのターゲットを2つの教示位置に各々配置し、前記第1特定ステップ、前記揺動ステップ、前記判定ステップ、前記シフトステップ、前記第2特定ステップ及び前記教示ステップを前記2つのターゲット各々について行い、前記特定した前記ターゲットの各々の位置の相対位置と前記ターゲットの間の設計距離に基づいて、前記教示されたハンドの位置から前記ハンドを所定距離だけ直進させる場合のずれを調整する調整ステップを更に含んでもよい。
上記構成によれば、例えば基板の縁)からハンドを所定距離(例えば基板の中心)だけ直進させる場合のずれを好適に調整することができる。
本発明のその他の態様に係るロボットは、少なくともX軸、Y軸の2軸方向に自由度を有するロボットアームと、前記アームの先端に取り付けられ、二股状に分岐した第1先端部及び第2先端部を有するハンドと、前記第1及び第2先端部の間の空間をセンサビームが直進するように構成され、ターゲットが前記センサビームを遮ったか否かを検出するマッピングセンサと、前記ロボットアームの動作を制御する制御装置とを備えるロボットであって、前記制御装置は、前記ハンドを所定位置から直進させて、教示位置に配置された前記ターゲットが前記センサビームを遮ったときの前記ロボットから見た前記ターゲットの前後方向の位置を特定し、前記センサビームにより前記ターゲットを水平方向に走査するように前記センサビームの光軸に直交する軸上にある所定の旋回軸の周りに前記ハンドを揺動させ、 前記ハンドを揺動させることにより変化した前記マッピングセンサの検出信号に基づいて、前記ハンドの長手方向の中心軸に沿った位置に前記ターゲットが一致したか否かを判定し、前記一致しないと判定した場合に、前記ハンドを揺動させることにより変化した前記マッピングセンサの検出信号に基づいて、前記ロボットアームのオフセット量を算出し、前記算出したオフセット量に応じて前記センサビームの光軸に沿って左右いずれかの方向に前記ハンドをシフトさせ、前記一致したと判定した場合に、前記ロボットから見た前記ターゲットの左右方向の位置を特定し、前記特定された前記ターゲットの前後方向及び左右方向の位置に基づいて前記教示位置に対応する前記ハンドの位置をロボットに教示する。
本発明によれば、対象物の位置を正確に特定し、ロボットの教示精度を向上することができる。
本発明の上記目的、他の目的、特徴、及び利点は、添付図面参照の下、以下の好適な実施態様の詳細な説明から明らかにされる。
図1は、第1実施形態のロボットの構成を示す概略図である。 図2は、図1のハンドの平面図である。 図3は、図1のロボットの制御系を示すブロック図である。 図4は、図1のロボットの教示方法の一例を示すフローチャートである。 図5は、XY平面内のターゲットの位置を特定するロボットの動作を説明するための図である。 図6は、図5のハンドを揺動させた場合の概略的な平面図である。 図7は、ハンドの中心がターゲットに一致した場合のマッピングセンサの検出信号の波形を示している。 図8は、ハンドの中心がターゲットに一致しない場合のマッピングセンサの検出信号の波形を示している。 図9は、ハンドをシフトさせた場合の概略的な平面図である。 図10は、第2実施形態におけるハンドとターゲットの概略的な平面図である。 図11は、ハンドのシフト方向に対して、ロボット基準座標系に座標軸が傾斜している場合の概略的な平面図である。
(第1実施形態)
以下、本発明に係る第1実施形態について図面を参照しつつ説明する。以下では、全ての図面を通じて同一又は相当する要素には同じ符号を付して、重複する説明は省略する。
図1は、第1実施形態のロボット1の構成を示す概略図である。図1に示すように、ロボット1は、例えば半導体素子を製造する半導体処理設備において、半導体素子の材料であるウェハ等の基板Wを搬送するために利用される。ウェハには、半導体ウェハとガラスウェハが含まれる。半導体ウェハには、例えばシリコンウェハ、その他の半導体単体のウェハ、及び化合物半導体のウェハが含まれる。ガラスウェハには、例えばFPD用ガラス基板、MEMS用ガラス基板、及びサファイア(単結晶アルミナ)ウェハが含まれる。半導体処理設備には、例えば熱処理、不純物導入処理、薄膜形成処理、リソグラフィー処理、洗浄処理、及び平坦化処理といった処理をウェハに施す複数の処理装置が設置されている。ロボット1は、これらの処理装置が配置されている領域(処理室)に基板Wを搬送する。本実施の形態では、カセット台7上に設置されたカセット6内部の棚に基板Wが収納される。
[ロボット]
ロボット1は、例えば、アーム2と、昇降軸3と、基台4と、制御装置5と、ハンド10とを備える。本実施の形態では、いわゆる水平多関節型の4軸ロボットのハンド10に基板Wが載置される。ロボット1は、X軸、Y軸、Z軸の3軸方向に自由度を有するアーム2の先端部に、水平方向の自由度を有する手首が設けられ、この手首にハンド10が設けられる。
ロボット1は、半導体処理設備の適所(例えば床)に固定される基台4を有し、基台4には昇降軸3が設けられている。基台4においては、昇降軸3の軸線が例えば鉛直に向けられる。基台4には、例えばエアシリンダからなる図示しないアクチュエータが内蔵されている。このアクチュエータの動作により昇降軸3は基台4の上面側にて上下方向に昇降する。
アーム2は、第1アーム2a及び第2アーム2bを含む。第1アーム2aは昇降軸3の上端部に設けられる。第1アーム2aは昇降軸3の上端部から水平に延びている。第1アーム2aの一端部は昇降軸3に対して鉛直軸線L1周りに揺動可能に連結され、昇降軸3には、例えば電気モータからなる図示しないアクチュエータが内蔵されている。このアクチュエータの動作により第1アーム2aは昇降軸3に対して水平面内を揺動する。
第2アーム2bは第1アーム2aの他端部の上面側に設けられる。第2アーム2bは、第1アーム2aの他端部から水平に延びている。第2アーム2bの一端部は、第1アーム2aに対して鉛直軸線L2周りに揺動可能に連結されている。第1アーム2aの他端部には、例えば電気モータからなる図示しないアクチュエータが内蔵されている。このアクチュエータの動作により、第2アーム2bは第1アーム2aの他端部に対して水平面内を揺動する。
第2アーム2bの他端部の上面側には、基板Wが載置され且つこれを保持するハンド10が設けられている。ハンド10は、第2アーム2bの他端部に対して鉛直軸線L3周りに揺動可能に連結されている。第2アーム2bの他端部には、例えば電気モータからなる図示しないアクチュエータが内蔵されている。このアクチュエータの動作により、ハンド10は第2アーム2bの他端部に対して水平面内を揺動する。
制御装置5は、例えば図示しない操作装置からの入力によりあるいは自動的に、昇降軸3、第1アーム2a、第2アーム2b及びハンド10を駆動する各アクチュエータの動作を制御し、ハンド10は、上下及び水平に移動する。そして、アクチュエータの動作速度を適宜制御することにより、ハンド10は、水平面内で任意の経路に沿って、移動可能となる。
[ハンド]
図2は、図1のハンド10を上から見た平面図である。図2に示すように、ハンド10は、平面視でU状に形成された板材から成る。本実施の形態では、板材はU型の中心軸Cに対して左右対称である。U状の本体は、単一の基端部10aと、該基端部から二股に分かれて延びる一対の第1先端部10b及び第2先端部10cとを有する。第1先端部10b及び第2先端部10cの間には空間が形成されている。ハンドの基端部10aは、取付板20の一端に固定され、ハンド10の本体は、取付板20から水平に延びている。取付板20の他端は、第2アーム2bの他端部に対して鉛直軸線L3周りに揺動可能に連結されている。
ハンド10は、円盤状の基板Wが載置され且つこれを保持すべく構成される。本実施形態では、ハンド10は、基板保持部11としての押圧面11a及び2つのエッジグリップ11b及び11cを備える。押圧面11aはハンド10の基端部10aの上面に設けられる。2つのエッジグリップ11b及び11cはハンド10の第1先端部10b及び第2先端部10cの上面に設けられる。押圧面11aによりエッジグリップ11b及び11cに向かって基板Wのエッジが押され、エッジグリップ11b及び11cと共に基板Wが把持される。
ハンド10の第1先端部10b、第2先端部10c及び空間に渡る領域にマッピングセンサ12が形成され、基板Wに対向させ当該基板Wの有無を検出する。マッピングセンサ12は、第1先端部10b及び第2先端部10cの間の空間をセンサビームBが直進するように構成される。マッピングセンサ12は基板WがセンサビームBを遮ったか否かを検出する。本実施形態ではハンド10の長手方向の中心軸CとセンサビームBの中心は一致している。
ハンド10の取付板20には発光部13が内蔵される。発光部13は、制御装置5からの電気的入力を変換して検出光を発生する。発光部13には光ファイバ15aの一端が接続され、光ファイバ15aはハンドの基端部10aの裏側から先端部10bの裏側まで敷設されている。光ファイバ15aは発光部13から出射された検出光をハンドの先端部10bの裏側まで導く。ハンド10の取付板20には受光部14が内蔵される。受光部14は検出光を受光して当該検出光を制御装置5への電気的出力に変換する。ハンドの先端部10cの裏側には光ファイバ15bの一端が接続され、ハンド10の取付板20に内蔵された受光部14まで敷設されている。光ファイバ15bはハンドの先端部10cの裏側に入射した検出光を受光部14まで導く。なお、光ファイバ15aおよび15bのそれぞれの両端に、図示されない光収束素子(例えば凸レンズ)及び光発散素子(例えば凹レンズ)を必要に応じて、適宜、配置してもよい。
[制御系]
図3は、ロボット1における制御系を示すブロック図である。図3に示すように、制御装置5は、ハンド10の発光部13及び受光部14及び基板保持部11、ロボット1の駆動装置30と制御線を介して接続され、例えばマイクロコントローラ等のコンピュータを備えたロボットコントローラである。制御装置5は単一の装置とは限らず、複数の装置で構成されてもよい。制御装置5は、演算部51と、記憶部52と、サーボ制御部53とを備える。
記憶部52は、制御装置5の基本プログラム、ロボットの動作プログラム等の情報を記憶する。演算部51は、ロボット制御のための演算処理を行い、ロボット1の制御指令を生成する。サーボ制御部53は、演算部51により生成された制御指令に基づいて、ロボット1の駆動装置30を制御するように構成されている。
発光部13は、発光素子16と、ドライブ回路17とを備える。発光素子16は、検出光を生成して出射する。発光素子16として、例えば発光ダイオード又はレーザーダイオードが用いられる。ドライブ回路17は、発光素子16に電圧を印加して該発光素子を駆動する。ドライブ回路17は、制御装置5からの制御信号(電気的入力)に応じて電圧を生成して、発光素子16を駆動する。
受光部14は、受光素子18と、出力回路19とを備える。受光素子18は受光した検出光の受光量に応じて電圧を発生するようにして、光信号を電気信号に変換する。受光素子18として、例えばフォトダイオードが使用される。出力回路19は電気信号を増幅してこれをマッピングセンサ12の検出信号(電気的出力)として出力する。
発光素子16又は受光素子18と光ファイバ15a、15bとは、図示されないコネクタにより接続されている。このように、本実施の形態では、発光部13及び受光部14は、発光素子16及び受光素子18を含み、発光素子16及び受光素子18が透過型の光センサを構成している。
基板保持部11では、制御装置5の制御指令に従って、基板Wと接触する押圧面11aの圧力が制御される。押圧面11aによりエッジグリップ11b及び11cに向かって基板Wのエッジが押され、エッジグリップ11b及び11cと共に基板Wが把持される。
駆動装置30は、図1で示した昇降軸3、第1アーム2a、第2アーム2bを駆動するアクチュエータにより構成されている。駆動装置30は、制御装置5の制御指令に従って、昇降軸3、第1アーム2a及び第2アーム2bを駆動するアクチュエータを動作させて、ハンド10を上下及び水平に移動する。
[マッピング動作]
次に、ハンド10によるマッピング動作について図1及び図2を用いて説明する。マッピング検出動作では、ロボット1は、アーム2の動作を制御して、例えばカセット6の最下段の棚から最上段の棚まで順次ハンド10の先端を、各棚に収納された基板Wに対向するようにして走査させる(図1参照)。
基板Wが棚に収納されていない場合、センサビームBは第1先端部10b及び第2先端部10cの間の空間を直進する(図2参照)。これにより、検出光はハンド10の先端部10cの裏側の光ファイバ15bの端部で受光される。受光部14は、制御装置5にハイレベルの検出信号(ON信号)を出力する。つまり、基板Wが棚に収納されていないときの検出信号はハイレベルになる。
一方、基板Wが棚に収納されている場合、マッピングセンサ12により、基板Wの外周部によってハンドの先端部10bと先端部10cの間の空間を進行するセンサビームBが遮光される。この場合は、検出光はハンド10の先端部10cの裏側の光ファイバ15bの端部で受光されないため、受光部14は制御装置5にローレベルの検出信号(OFF信号)を出力する。つまり、基板Wが棚に収納されているときセンサの検出信号はローレベルになる。このようにして制御装置5はカセット6内の各棚に基板が収納されているか否かを順次判定することができる。
[ターゲット位置特定]
上述したように、マッピングセンサ12はセンサビームBをターゲットが遮るか否かによって検出する。このため、制御装置5は、ロボット1から見たターゲットの一方向(例えばハンド10の直進方向)の位置を特定することしかできない。ここでロボット1から見たターゲットの位置とは、例えばロボット1の基準座標系におけるターゲットの座標位置である。本実施形態では、ロボット1は、マッピングセンサ12を用いて、ターゲットの平面位置を特定し、それを自身に教示する。
以下では、ロボット1の教示方法について説明する。図4は、ロボット1の教示方法の一例を示すフローチャートである。図5はXY平面内のターゲットの位置を特定するロボットの動作を説明するための図である。図5に示すように、制御装置5ではロボット1の基準座標系が設定される。この座標系は、例えば、基台4の設置面と第1アーム2aの旋回軸L1の回転軸線との交点が原点であり、旋回軸L1の回転軸線がZ軸であり、Z軸に直交する任意の軸がX軸であり、Z軸及びX軸に直交する軸がY軸である。
まず、教示に先立って、作業者はターゲット40を教示位置に配置する(図4のステップS1)。ターゲット40の形状は任意である。図5に示すように、ターゲット40は、Z軸方向に延び、円柱状に形成される。Z軸方向は、鉛直方向である。ターゲット40は、例えばカセット6などに予め定める教示位置に配置される。このときロボット1を所定の開始位置まで移動させる。ロボット1は予め設定されたプログラムに従って、開始位置まで移動させてもよいし、作業者がロボット1を操作して手動により開始位置まで移動させてもよい。
次に、制御装置5は、ハンド10の前後方向におけるターゲット40の位置を特定する(図4のステップS2)。具体的には、制御装置5は、アーム2を動作させてハンド10を所定位置から直進させる。そして、制御装置5は、ターゲット40がセンサビームBを遮ったときのロボット1から見たターゲット40の前後方向の位置を特定する。ここでターゲット40の前後方向とは、ロボットの基準座標系のY軸に平行な方向である。制御装置5は、検出信号がハイレベルからローレベルに転じた時の第1アーム2a及び第2アーム2bを構成するリンクの寸法及び関節軸の角度等に基づいて、基準座標系におけるハンド10の位置を算出し、算出した位置を記憶部52に記録する。これにより、マッピングセンサ12のセンサビームBがターゲット40の前にくるようにロボット1のハンド10がセットされる。
次に、制御装置5は、ターゲット40を走査するようにハンド10を水平方向に揺動(左右)させる(図4のステップS3)。図6は、図5のハンド10を揺動させた場合の概略的な平面図である。尚、これ以後、図面で示すハンド10は便宜上簡略化されている。図6に示すように、センサビームBによりターゲット40を水平方向に走査するようにセンサビームBの光軸に直交する軸上にある旋回軸L3の周りにハンド10を揺動させる。ここでは制御装置5は、検出信号がローレベルの状態からハンド10の長手方向の中心軸C上にある旋回軸L3の周りに左右同じ角度(例えば左右10度ずつ)だけハンド10を揺動させる。尚、ハンド10の旋回軸はハンドの長手方向の中心軸C上にあればよい。例えば図1の旋回軸L1又は旋回軸L2回りに揺動させてもよい。
次に、制御装置5は、ハンド10を揺動させることにより変化したマッピングセンサ12の検出信号に基づいて、ハンド10の長手方向の中心軸Cに沿った位置にターゲット40が一致したか否かを判定する(ステップS4)。図7及び図8は、ハンド10の中心軸Cがターゲット40に一致した場合及び一致しない場合のマッピングセンサ12の検出信号の波形をそれぞれ示している。縦軸は検出信号、横軸は揺動角度を示している。図7に示すように、一致した場合の検出信号の値が0度を中心とした所定の揺動角の範囲において対称性を有する。これに対し、図8に示すように、一致しない場合の検出信号の値が0度を中心とした所定の揺動角の範囲において対称性を有しない。そこで、制御装置5は、マッピングセンサ12の検出信号値が0度を中心とした所定の揺動角の範囲において対称性を有するか否かにより、ハンド10の長手方向の中心軸Cに沿った位置にターゲット40が一致したか否かを判定する。
次に、制御装置5は、一致しない場合(ステップS4でNO)はハンド10を揺動させることにより変化したマッピングセンサ12の検出信号に基づいて、ハンド10のオフセット量を算出する(ステップS5)。制御装置5は、例えば図8に示すように、プラス(右)方向にハンド10をスイングさせた場合の検出信号(絶対値)の積分値とマイナス(左)方向にハンド10をスイングさせた場合の検出信号(絶対値)の積分値の大小を比較することによりオフセット量を算出する。
次に、制御装置5は、ハンド10をシフトさせる(ステップS6)。図9は、ハンド10をシフトさせた場合を示している。図9に示すように、制御装置5は、算出したオフセット量に応じてセンサビームBの光軸に沿って右方向にハンド10をシフトさせる。ここではハンド10をロボット基準座標系のX軸方向にシフトさせる。尚、ハンド10のシフト量は、例えば図8に示すようにプラス(右)方向にハンド10をスイングさせた場合の検出信号(絶対値)の積分値と、マイナス(左)方向にハンド10をスイングさせた場合の検出信号(絶対値)の積分値が等しくなるような値に定まる。そして、制御装置5は、シフト後はステップS3へ戻りハンド10の中心軸Cがターゲット40に一致するまで、上記ステップを繰り返す。つまり、制御装置5は検出信号の値が、図7に示すように、0度を中心とした所定の揺動角の範囲において対称性を有するようになるまで、上記ステップを繰り返す。これにより、ロボット1のゼロイング、寸法上の誤差があっても、ハンド10の長手方向の中心軸Cに沿った位置、つまりセンサビームBのライン中央にターゲット40を一致させて、ロボット1から見たターゲット40の平面位置を特定できる。
次に、制御装置5は、一致したと判定した場合(ステップS4でYES)は、ロボットから見たターゲットの左右方向の位置を特定する(ステップS7)。ここでターゲット40の左右方向とは、ロボット1の基準座標系のX軸に平行な方向である。このとき、制御装置5は第1アーム2a及び第2アーム2bを構成するリンクの寸法及び関節軸の角度に基づいて、基準座標系におけるハンド10の位置を算出し、算出した位置を記憶部52に記録する。
最後に、制御装置5は、特定されたターゲット40の前後方向及び左右方向の位置に基づいて教示位置に対応するハンド10の位置をロボット1に教示する(ステップS8)。
以上のように、本実施形態によれば、ターゲット40の位置を正確に特定できるので、ロボット1の教示精度を向上することができる。ところで、ターゲット40に対して実際のハンド10が垂直に向いていたとしても、ロボット1が認識しているハンド10の位置(姿勢)は実際には異なっている。このため教示されたハンド10の位置から直進させた場合、ターゲット40はハンド10の中心軸Cから外れてしまう。つまり、ターゲット40に対してハンド10の中心軸Cが垂直であったとしても、センサビームBを遮った位置とハンド10が基板Wの中心で基板を保持するまでの位置の距離に対してハンド10は横方向にずれることになる。直進距離が直径300mmウェハの端から中心までの距離とした場合、ハンド10の中心がターゲット40に対して0.3度ずれている場合の横方向のずれ量は以下の式で算出できる。
150mm × sin(0.3)=0.79mm
これに対し、発明者等は、本実施形態による効果を確認するため、米国特許第7522267号明細書に記載された方法により、ターゲット40の位置のずれを概算した。その結果、ハンド10の中心がターゲット40に対して0.3度ずれている場合にはターゲット40の位置のずれは1.6mmであった。このように、本実施形態によれば、従来例と比較しても十分な精度を確保できる。
(第2実施形態)
次に、第2実施形態について、図10を用いて説明する。以下では、第1実施形態と共通する構成の説明は省略し、相違する構成についてのみ説明する。
図10は、第2実施形態におけるハンド10とターゲット40とを概略的に示した平面図である。図10に示すように、本実施形態では、第1実施形態と比較すると、2つのターゲット40a及び40bを2つの教示位置に各々配置する点が異なる。そして、ステップS2〜S8を2つのターゲット各々について行う。特定したターゲット40a及び40bの各々の位置の相対位置とターゲット40a及び40bの間の設計距離に基づいて、教示されたハンド10の位置からハンド10を所定距離だけ直進させる場合のずれを調整する。例えばロボット1が基板Wを保持する際に、カセット内の基板の縁から基板の中心までハンド10を直進させる場合のずれを好適に調整することができる。
尚、上記実施形態では、ロボット1の基準座標系のX軸とハンド10のシフト方向は一致しており、ハンドをセンサビームBの光軸に沿ってシフトさせる際にはハンド10をロボット座標系のX軸方向に沿ってシフトさせた(図9参照)。しかし、センサビームBの光軸方向と、ロボットの基準座標系の各軸は必ずしも平行であるとは限らない。
図11は、ハンドのシフト方向に対して、ロボット基準座標系の座標軸が傾斜している場合の概略的な平面図である。図11に示すように、ハンド10のシフト方向(光軸方向)とロボット基準座標系X軸は角度θだけ傾斜している。この場合には、予めロボットのベース座標系のX軸に対するセンサビームBの光軸の傾きθ(基準座標系のY軸に対するハンド10の中心軸Cの傾き)を算出しておく。例えばセンサがターゲット40に反応する2箇所の位置を求め、X軸に沿った移動量b及びY軸に沿った移動量aから傾きθを求める。
θ=tan-1(a/b)・・・(1)
制御装置5は算出した傾きθを維持するようにして、センサビームBの光軸に沿ってハンド10をシフトさせる。これにより、ハンドを正確にシフトさせることができる。
尚、本実施形態のマッピングセンサ12は透過型(図2参照)としたが、第1先端部10b及び第2先端部10cの間の空間をセンサビームBが直進するような構成であれば反射型でもよい。つまり、マッピングセンサ12は第1先端部10b又は第2先端部10cのいずれか一方の先端に発光部13及び受光部14が設けられ、他方に反射部材が設けられてもよい。例えば第1先端部10bの発光部13から出射したセンサビームBは第2先端部10cの反射部材で反射され、第1先端部10bの受光部14で受光される。このような構成でもターゲット40がレーザビームBを遮ると受光量が減少するので、ターゲット40がセンサビームBを遮ったか否かを検出することができる。このように反射型のマッピングセンサ12を用いた場合でも上記実施形態と同様の効果を奏することができる。
尚、本実施形態では、ロボット1は、水平多関節型の搬送用ロボットとしたが、ハンド先端に上記マッピングセンサが設けられたロボット全般であればこれに限定されない。
上記説明から、当業者にとっては、本発明の多くの改良や他の実施形態が明らかである。従って、上記説明は、例示としてのみ解釈されるべきであり、本発明を実行する最良の態様を当業者に教示する目的で提供されたものである。本発明の精神を逸脱することなく、その構造及び機能の一方又は双方の詳細を実質的に変更できる。
本発明は、先端にマッピングセンサを備えたロボット全般に有用である。
1 ロボット
2 アーム
3 昇降軸
4 基台
5 制御装置
6 カセット
7 カセット台
10 ハンド
11 基板保持部
12 マッピングセンサ
13 発光部
14 受光部
15a,15b 光ファイバ
16 発光素子
17 ドライブ回路
18 受光素子
19 出力回路
20 取付板
30 駆動装置
40 ターゲット
51 演算部
52 記憶部
53 サーボ制御部

Claims (6)

  1. 少なくともX軸、Y軸の2軸方向に自由度を有するロボットアームと、前記アームの先端に取り付けられ、二股状に分岐した第1先端部及び第2先端部を有するハンドと、前記第1及び第2先端部の間の空間をセンサビームが直進するように構成され、ターゲットが前記センサビームを遮ったか否かを検出するマッピングセンサと、前記ロボットアームの動作を制御する制御装置とを備えるロボットの教示方法であって、
    教示位置にターゲットを配置する配置ステップと、
    前記ハンドを所定位置から直進させて、前記ターゲットが前記センサビームを遮ったときの前記ロボットの基準座標系における前記ターゲットの前後方向の位置を特定する第1特定ステップと、
    前記センサビームにより前記ターゲットを水平方向に走査するように前記センサビームの光軸に直交する軸上にある所定の旋回軸の周りに前記ハンドを揺動させる揺動ステップと、
    前記ハンドを揺動させることにより変化した前記マッピングセンサの検出信号に基づいて、前記ハンドの長手方向の中心軸に沿った位置に前記ターゲットが一致したか否かを判定する判定ステップと、
    前記一致しないと判定した場合に、前記ハンドを揺動させることにより変化した前記マッピングセンサの検出信号に基づいて、前記ハンドのオフセット量を算出し、前記算出したオフセット量に応じて前記センサビームの光軸に沿って左右いずれかの方向に前記ハンドをシフトさせるシフトステップと、
    前記一致したと判定した場合に、前記ロボットの基準座標系における前記ターゲットの左右方向の位置を特定する第2特定ステップと、
    前記特定された前記ターゲットの前後方向及び左右方向の位置に基づいて前記教示位置に対応する前記ハンドの位置をロボットに教示する教示ステップと、
    を含む、ロボットの教示方法。
  2. 前記揺動ステップでは、前記センサビームの光軸に直交する軸上にある所定の旋回軸の周りに左右同じ角度だけ前記ハンドを揺動させる、請求項1に記載のロボットの教示方法。
  3. 前記判定ステップでは、前記マッピングセンサの検出信号値が0度を中心とした所定の揺動角の範囲において対称性を有するか否かにより、前記ハンドの長手方向の中心軸に沿った位置に前記ターゲットが一致したか否かを判定する、請求項1又は2に記載のロボットの教示方法。
  4. ロボットの基準座標系の軸に対する前記センサビームの光軸の傾きを算出するステップを更に含み、
    前記シフトステップでは、前記算出した傾きを維持するように前記センサビームの光軸に沿って前記ハンドをシフトさせる、請求項1乃至3のいずれかに記載のロボットの教示方法。
  5. 前記配置ステップでは2つのターゲットを2つの教示位置に各々配置し、前記第1特定ステップ、前記揺動ステップ、前記判定ステップ、前記シフトステップ、前記第2特定ステップ及び前記教示ステップを前記2つのターゲット各々について行い、
    前記特定した前記ターゲットの各々の位置の相対位置と前記ターゲットの間の設計距離に基づいて、前記教示されたハンドの位置から前記ハンドを所定距離だけ直進させる場合のずれを調整する調整ステップを更に含む、請求項1乃至4のいずれかに記載のロボットの教示方法。
  6. 少なくともX軸、Y軸の2軸方向に自由度を有するロボットアームと、前記アームの先端に取り付けられ、二股状に分岐した第1先端部及び第2先端部を有するハンドと、前記第1及び第2先端部の間の空間をセンサビームが直進するように構成され、ターゲットが前記センサビームを遮ったか否かを検出するマッピングセンサと、前記ロボットアームの動作を制御する制御装置とを備えるロボットであって、
    前記制御装置は、前記ハンドを所定位置から直進させて、教示位置に配置された前記ターゲットが前記センサビームを遮ったときの前記ロボットの基準座標系における前記ターゲットの前後方向の位置を特定し、
    前記センサビームにより前記ターゲットを水平方向に走査するように前記センサビームの光軸に直交する軸上にある所定の旋回軸の周りに前記ハンドを揺動させ、
    前記ハンドを揺動させることにより変化した前記マッピングセンサの検出信号に基づいて、前記ハンドの長手方向の中心軸に沿った位置に前記ターゲットが一致したか否かを判定し、
    前記一致しないと判定した場合に、前記ハンドを揺動させることにより変化した前記マッピングセンサの検出信号に基づいて、前記ハンドのオフセット量を算出し、前記算出したオフセット量に応じて前記センサビームの光軸に沿って左右いずれかの方向に前記ハンドをシフトさせ、前記一致したと判定した場合に、前記ロボットの基準座標系における前記ターゲットの左右方向の位置を特定し、前記特定された前記ターゲットの前後方向及び左右方向の位置に基づいて前記教示位置に対応する前記ハンドの位置をロボットに教示する、ロボット。
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