JP6636392B2 - Film pattern drawing method - Google Patents

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Description

本発明は、インクジェット塗布装置において、不吐出ノズルが発生した場合でも、精度のよい膜パターンを形成することができる膜パターン描画方法に関するものである。   The present invention relates to a film pattern drawing method capable of forming a film pattern with high accuracy even when a non-ejection nozzle occurs in an ink jet coating apparatus.

ガラスやフィルム等の基板上にインクジェット法により液滴を吐出し、線分、矩形状等、様々な形状の塗布膜(膜パターンという)を形成することが望まれている。例えば、プリント基板やパッケージ基板のような配線基板における配線パターン、パワー半導体の絶縁膜パターンは、従来では、フォトリソグラフィにより形成されていた。ところが、フォトリソグラフィでは、塗布、露光、エッチングなど多くの工程が必要であり、さらに、エッチング工程では多量の塗布材料を消費していたため、インクジェット法を用いることにより、少ない工程で塗布材料を無駄にすることなく膜パターンを形成することが検討されている。   It is desired that droplets are ejected onto a substrate such as a glass or a film by an ink-jet method to form coating films (referred to as film patterns) having various shapes such as line segments and rectangular shapes. For example, a wiring pattern on a wiring board such as a printed board or a package board, and an insulating film pattern of a power semiconductor have conventionally been formed by photolithography. However, photolithography requires many steps such as coating, exposure, and etching.Moreover, the etching step consumes a large amount of coating material. It has been studied to form a film pattern without performing this.

このインクジェット塗布は、図11(a)に示すようなインクジェット塗布装置により行われる。すなわち、インクジェット塗布装置は、基板Wを載置するステージ100と、塗布材料である液滴を吐出する複数のノズル103aを有する塗布ユニット101とが備えられており、この塗布ユニット101がステージ100上の基板Wに対して移動しつつ液滴を吐出することにより塗布膜Cが形成されるようになっている(図11(b))。   This ink-jet coating is performed by an ink-jet coating apparatus as shown in FIG. That is, the inkjet coating apparatus is provided with a stage 100 on which the substrate W is placed, and a coating unit 101 having a plurality of nozzles 103a for discharging droplets as a coating material. The coating film C is formed by discharging droplets while moving with respect to the substrate W (FIG. 11B).

具体的には、塗布ユニット101は、基板Wに対して相対的に主走査方向(図の例ではX軸方向)に移動するガントリ部101aを有しており、このガントリ部101aに複数のノズル103aを有するヘッドユニット102が設けられている。このヘッドユニット102は、図12(a)に示すように、複数のノズル103aを有するヘッドモジュール103が配列されて形成されている。このヘッドモジュール103は、主走査方向(X軸方向)と直交する副走査方向(Y軸方向)に所定の配列ピッチでノズル103aが配列されている。すなわち、X軸方向から見て、ノズル103aがY軸方向に等間隔で配列されるようになっている(図12(b))。   Specifically, the coating unit 101 has a gantry section 101a that moves in the main scanning direction (the X-axis direction in the example in the drawing) relatively to the substrate W, and the gantry section 101a includes a plurality of nozzles. A head unit 102 having 103a is provided. As shown in FIG. 12A, the head unit 102 is formed by arranging head modules 103 each having a plurality of nozzles 103a. In the head module 103, nozzles 103a are arranged at a predetermined arrangement pitch in a sub-scanning direction (Y-axis direction) orthogonal to the main scanning direction (X-axis direction). That is, when viewed from the X-axis direction, the nozzles 103a are arranged at equal intervals in the Y-axis direction (FIG. 12B).

そして、すべてのノズル103aには、インクを吐出すべき着弾位置が予め設定されており、それぞれのノズル103aが、設定された着弾位置(設定着弾位置)に位置した時にインクが吐出されるようになっている。具体的には、例えば平面状の膜パターンを形成する場合には、設定着弾位置は、基板W上に格子状に設定されており、X軸方向には所定間隔毎であって、Y軸方向にはノズル103aの個数に対応する数に設定されている。すなわち、それぞれのヘッドモジュール103が、ある設定着弾位置のX軸方向位置に位置したときにインクが吐出されることにより、そのX軸方向位置において、Y軸方向に亘って一様な直線状のインク集合体C’が形成される。すなわち、基板Wに対してガントリ部101aを相対的に特定方向に1回移動させて設定着弾位置にインクを吐出させることにより、直線状の塗布膜がX軸方向に連続的に形成されて、基板W上に一様で平坦な膜パターンが形成される。   Landing positions at which ink is to be ejected are set in advance for all the nozzles 103a, and ink is ejected when each nozzle 103a is located at the set landing position (set landing position). Has become. Specifically, for example, when a planar film pattern is formed, the set landing positions are set in a grid pattern on the substrate W, at predetermined intervals in the X-axis direction, and in the Y-axis direction. Is set to a number corresponding to the number of nozzles 103a. That is, the ink is ejected when each head module 103 is located at a certain landing position in the X-axis direction, and at that X-axis position, a uniform linear shape is formed over the Y-axis direction. An ink aggregate C ′ is formed. In other words, by moving the gantry portion 101a once relative to the substrate W in a specific direction and discharging ink to the set landing position, a linear coating film is continuously formed in the X-axis direction, A uniform and flat film pattern is formed on the substrate W.

近年では、配線基板、有機EL、パワー半導体等の高性能化、用途拡大に応じて膜パターン形状の薄膜化、細線化による塗布の高精度化が求められている。仮に、ヘッドユニット102に不良ノズル103a(不吐出、吐出不良含む)が存在すると、図13に示すように、不良ノズル103aが存在した位置での塗布材料が不足することから、主走査方向に材料が不足する領域(未塗布領域f)が形成されてしまう。この未塗布領域fが形成されると、筋ムラの要因となったり、部分的に薄膜の厚さ寸法基準をクリアできないという欠陥ムラの問題が生じる。そのため、下記特許文献1に示されるように、塗布前にノズル103a検査が行われる。すなわち、各ノズル103aから液滴を吐出し、吐出状態から不吐出ノズル103aを検出する。そして、不吐出ノズル103aが存在している場合には、不吐出ノズル103aを交換したり、また、本来、不吐出ノズル103aで塗布する部分をヘッドユニット102内の他のノズル103aで塗布するように走査パターンを変更したりして精度のよい膜パターンが形成されていた。   In recent years, there has been a demand for higher performance of wiring boards, organic ELs, power semiconductors, and the like, as well as thinner film patterns and higher precision of coating by thinning in accordance with the expansion of applications. If there is a defective nozzle 103a (including non-discharge and defective discharge) in the head unit 102, the coating material at the position where the defective nozzle 103a exists is insufficient as shown in FIG. Is insufficient (uncoated area f). The formation of the uncoated region f causes the problem of stripe unevenness and the problem of defect unevenness that the thickness dimension standard of the thin film cannot be partially cleared. Therefore, as shown in Patent Literature 1 below, the nozzle 103a inspection is performed before coating. That is, a droplet is discharged from each nozzle 103a, and the non-discharge nozzle 103a is detected from the discharge state. If the non-ejection nozzle 103a is present, the non-ejection nozzle 103a may be replaced, or a portion to be originally applied by the non-ejection nozzle 103a may be applied by another nozzle 103a in the head unit 102. Thus, a precise film pattern was formed by changing the scanning pattern.

また、基板Wの表面形状も複雑化しており、凹凸形状や狭細部分に吐出すると、吐出した塗布材料が弾かれることにより、その部分での塗布材料が不足し欠陥ムラを生じる場合がある。このような場合には、ヘッドユニット102のノズル103aの配列ピッチを密にして液滴が吐出される解像度を高め、十分な塗布材料を適切な位置に供給することにより、欠陥ムラの発生を抑えていた。例えば、図14に示すように、主走査方向にヘッドユニット102を複数段設け、それぞれのヘッドユニット102のノズル103aが半ピッチずれた状態で配置する。図14の例では、t/2ずれてて配置されている。すなわち、X軸方向から見て、ノズル103aがY軸方向にt/2の等間隔で配列される。これにより、解像度が向上し、より密に液滴を吐出することができるため、ある領域における塗布材料不足を解消し,欠陥ムラの発生を抑えていた。   In addition, the surface shape of the substrate W is also complicated, and if it is ejected to a concavo-convex shape or a narrow portion, the ejected application material may be repelled, resulting in a shortage of the application material in that portion, which may cause defect unevenness. In such a case, by reducing the arrangement pitch of the nozzles 103a of the head unit 102 to increase the resolution at which droplets are ejected, and by supplying a sufficient coating material to an appropriate position, the occurrence of defect unevenness is suppressed. I was For example, as shown in FIG. 14, a plurality of head units 102 are provided in the main scanning direction, and the nozzles 103a of each head unit 102 are arranged in a state shifted by a half pitch. In the example of FIG. 14, they are arranged with a shift of t / 2. That is, the nozzles 103a are arranged at equal intervals of t / 2 in the Y-axis direction when viewed from the X-axis direction. As a result, the resolution is improved, and the liquid droplets can be discharged more densely. Therefore, the shortage of the coating material in a certain area is solved, and the occurrence of defect unevenness is suppressed.

特開2013−110236号公報JP 2013-110236 A

しかし、上記インクジェット塗布装置では、欠陥ムラを完全には解消することができないという問題があった。すなわち、上記インクジェット塗布装置では、欠陥ムラの発生を抑えるためノズル103a検査を行っているが、このノズル103a検査は、膜パターン形成工程前に行われるため、膜パターン形成工程中に不良ノズル103aが発生した場合、欠陥ムラが形成されるのを抑えることが不可能になる。   However, the above-described inkjet coating apparatus has a problem that defect unevenness cannot be completely eliminated. That is, in the above-described inkjet coating apparatus, the nozzle 103a inspection is performed in order to suppress the occurrence of defect unevenness. However, since the nozzle 103a inspection is performed before the film pattern forming step, the defective nozzle 103a is not detected during the film pattern forming step. When it occurs, it becomes impossible to suppress the formation of defect unevenness.

また、基板Wの表面が複雑な凹凸形状であったり狭細部分を有する場合に、ノズル103aの配列ピッチを密にすると、1つのヘッドモジュール103でノズル103aを密にするには物理的に限界がある。そのため、図14に示すような主走査方向にヘッドモジュール103を重複させることによりノズル103aの配列ピッチを密にすることができるが、ヘッドモジュール103は非常に高価であるため、インクジェット塗布装置のイニシャルコスト、ランニングコストが共に高くなってしまう問題がある。また、ヘッドモジュール103の数が増大すると、ヘッドユニット102全体の重量が増大するため、ノズル103aの吐出位置制御に影響を及ぼす虞があり、塗布の高精度化を十分に図ることができないという問題があった。   Further, if the arrangement pitch of the nozzles 103a is made dense when the surface of the substrate W has a complicated uneven shape or has a narrow portion, it is physically limited to make the nozzles 103a dense with one head module 103. There is. Therefore, by arranging the head modules 103 in the main scanning direction as shown in FIG. 14, the arrangement pitch of the nozzles 103a can be reduced, but the head module 103 is very expensive, so that the initials of the ink jet coating apparatus are required. There is a problem that both cost and running cost increase. In addition, when the number of head modules 103 increases, the weight of the entire head unit 102 increases, which may affect the control of the ejection position of the nozzle 103a, and the accuracy of coating cannot be sufficiently improved. was there.

そこで、本発明は、塗布中に不良ノズルが発生した場合でも欠陥ムラを抑えることができ、ノズルの数を必要以上に増やすことなく高精度に膜パターンを形成することができる膜パターン描画方法を提供することを目的としている。   Therefore, the present invention provides a film pattern drawing method capable of suppressing defect unevenness even when a defective nozzle occurs during coating, and forming a film pattern with high accuracy without increasing the number of nozzles more than necessary. It is intended to provide.

上記課題を解決するために本発明の膜パターン描画方法は、所定の配列ピッチで配列された複数のノズルを有するヘッドを主走査方向に走査しつつ、前記ノズルから液滴を吐出して膜パターンを形成する膜パターン描画方法であって、前記ヘッドをノズル位置から主走査方向に走査しつつ前記各ノズルから液滴を吐出して前記ノズルのノズル位置に応じた初期膜を形成する初期膜形成工程と、自身の隣に位置するノズルのノズル位置を超えて別のノズル位置に前記ヘッドを主走査方向と直交する副走査方向に移動させるメインシフト移動工程と、前記メインシフト移動工程から、さらに前記ノズルの配列ピッチより小さい移動量だけ移動させるサブシフト移動工程と、前記メインシフト移動工程及び前記サブシフト移動工程後のシフトノズル位置で、前記ヘッドを主走査方向に走査しつつ前記各ノズルから液滴を吐出して前記シフトノズル位置に応じた膜を形成するシフト膜形成工程と、前記初期膜形成工程後、前記メインシフト移動工程と、前記サブシフト工程と、前記シフト膜形成工程とをこの順に繰り返して膜パターンを形成することを特徴としている。 In order to solve the above-mentioned problem, a film pattern drawing method of the present invention is characterized in that a head having a plurality of nozzles arranged at a predetermined arrangement pitch is scanned in a main scanning direction while discharging a droplet from the nozzle to form a film pattern. Forming an initial film according to the nozzle position of the nozzle by discharging droplets from each of the nozzles while scanning the head in the main scanning direction from the nozzle position. A main shift moving step of moving the head in a sub-scanning direction orthogonal to the main scanning direction to another nozzle position beyond a nozzle position of a nozzle located next to itself, and the main shift moving step. A sub-shift moving step of moving by a moving amount smaller than the arrangement pitch of the nozzles, and a shift nozzle after the main shift moving step and the sub-shift moving step A shift film forming step of ejecting liquid droplets from each of the nozzles while scanning the head in the main scanning direction to form a film corresponding to the shift nozzle position; and after the initial film forming step, The moving pattern, the sub-shifting step, and the shift film forming step are repeated in this order to form a film pattern.

上記膜パターン描画方法によれば、初期膜形成工程でヘッドを主走査方向に走査してノズル位置(初期)に応じた初期膜を形成した後、メインシフト移動工程において、各ノズルは、自身の隣に位置するノズル位置を超えて副走査方向に移動するため、不吐出領域が副走査方向に並んで形成されることを回避できる。すなわち、仮に不良ノズルが存在している場合に、メインシフト移動工程が行われることにより、不良ノズルは、その不良ノズルの隣に位置する正常ノズルを超えた位置に移動させられるため、次に不吐出領域が形成されても、これらの不吐出領域の間に必ず初期膜が存在する状態にすることができる。   According to the above film pattern drawing method, after the head is scanned in the main scanning direction in the initial film forming step to form an initial film corresponding to the nozzle position (initial), in the main shift moving step, each nozzle is moved to its own position. Since it moves in the sub-scanning direction beyond the position of the nozzle located next to it, it is possible to prevent non-ejection areas from being formed side by side in the sub-scanning direction. That is, if there is a defective nozzle, the defective nozzle can be moved to a position beyond the normal nozzle located next to the defective nozzle by performing the main shift moving step. Even if the ejection regions are formed, it is possible to ensure that the initial film exists between these non-ejection regions.

そして、サブシフト移動工程、及び、シフト膜形成工程が行われることにより、ノズルがノズルの配列ピッチより小さい移動量だけ副走査方向に移動した後、主走査方向にシフト膜が形成される。これにより、先に形成された膜(初期膜、シフト膜含む)の間にシフト膜が形成されるため、先に形成された膜の間を埋めるように膜が形成される。これにより、凹凸形状や狭細部分に吐出した塗布材料が弾かれて、その部分での塗布材料が不足し欠陥ムラを生じるのを抑えて一様な膜パターンを形成することができ、物理的にノズルを増やして解像度を上げることなく、高精度に膜パターンを形成することができる。   Then, by performing the sub-shift moving step and the shift film forming step, the nozzle is moved in the sub-scanning direction by a moving amount smaller than the nozzle arrangement pitch, and then the shift film is formed in the main scanning direction. As a result, the shift film is formed between the previously formed films (including the initial film and the shift film), so that the films are formed so as to fill the spaces between the previously formed films. As a result, it is possible to form a uniform film pattern by suppressing the application material ejected to the uneven shape or the narrow portion from being repelled and causing a shortage of the application material at that portion to cause defect unevenness. The film pattern can be formed with high accuracy without increasing the resolution by increasing the number of nozzles.

また、具体的な態様としては、前記メインシフト移動工程と前記サブシフト工程とが同時に行われる構成にしてもよく、前記サブシフト移動工程における前記配列ピッチより小さい移動量は、複数回に亘って行われるすべてのサブシフト移動工程において等しい構成にしてもよい。   Further, as a specific mode, the main shift movement step and the sub shift step may be performed simultaneously, and the movement amount smaller than the arrangement pitch in the sub shift movement step is performed a plurality of times. The configuration may be the same in all sub-shift movement steps.

また、前記シフト膜形成工程は、先に形成された膜に重なり合う位置に液滴が着弾される構成にしてもよい。   Further, the shift film forming step may be configured such that the droplet lands at a position overlapping with the previously formed film.

この構成によれば、この構成によれば、着弾した液滴が必ず先に形成された膜に重なるため、欠陥ムラが発生するのを抑えて一様な膜を形成することができる。   According to this configuration, according to this configuration, since the landed droplets always overlap the film formed earlier, it is possible to form a uniform film while suppressing the occurrence of defect unevenness.

また、前記ヘッドには、一方向に配列されたノズルが主走査方向に複数段並べて設けられており、これら複数のノズルは、主走査方向から見て、前記所定ピッチで配列されている構成にしてもよい。   Further, the head is provided with a plurality of nozzles arranged in one direction in a row in the main scanning direction, and the plurality of nozzles are arranged at the predetermined pitch when viewed from the main scanning direction. You may.

この構成によれば、ヘッドの解像度が向上するため、凹凸形状や狭細部分等、基板の表面形状の影響により欠陥ムラが生じるのを抑えることができる。   According to this configuration, since the resolution of the head is improved, it is possible to suppress occurrence of defect unevenness due to the influence of the surface shape of the substrate such as an uneven shape or a narrow portion.

本発明によれば、塗布中に不良ノズルが発生した場合でも欠陥ムラを抑えることができ、ノズルの数を必要以上に増やすことなく高精度に膜パターンを形成することができる。   According to the present invention, even when a defective nozzle occurs during coating, defect unevenness can be suppressed, and a film pattern can be formed with high accuracy without unnecessarily increasing the number of nozzles.

本発明の膜パターン描画方法を実行するための一実施形態におけるインクジェット塗布装置を概略的に示す側面図である。FIG. 1 is a side view schematically showing an inkjet coating apparatus in one embodiment for executing a film pattern drawing method of the present invention. 上記インクジェット塗布装置を概略的に示す上面図である。It is a top view which shows the said inkjet coating device schematically. 基板上に塗布膜が形成された状態を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a state in which a coating film is formed on a substrate. ヘッドをノズル側から見た図であり、第1ノズルユニットと第2ノズルユニットとが隣接されて構成されている図である。FIG. 3 is a view of the head as viewed from the nozzle side, in which a first nozzle unit and a second nozzle unit are configured adjacent to each other. 上記ヘッドの一部を拡大した図である。It is the figure which expanded a part of said head. 基板上に塗布材料を塗布する状況を時系列的にを示す図であり、(a)はヘッドが初期ノズル位置に配置された状態を示す図、(b)は初期膜形成工程を示す図、(c)はメインシフト移動工程を示す図、(d)はサブシフト移動工程を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a state in which a coating material is applied on a substrate in a time series, (a) is a diagram showing a state where a head is arranged at an initial nozzle position, (b) is a diagram showing an initial film forming step, (C) is a diagram showing a main shift moving process, and (d) is a diagram showing a sub shift moving process. 基板上に塗布材料を塗布する状況を時系列的にを示す図であり、(a)はシフト膜形成工程を示す図、(b)はメインシフト移動工程を示す図、(c)はサブシフト移動工程を示す図、(d)はシフト膜形成工程を示す図である。3A and 3B are diagrams illustrating a state in which a coating material is applied on a substrate in a time-series manner, wherein FIG. 3A illustrates a shift film forming process, FIG. 3B illustrates a main shift moving process, and FIG. FIG. 4D is a diagram illustrating a process, and FIG. 6D is a diagram illustrating a shift film forming process. 基板上に塗布材料を塗布する状況を時系列的にを示す図であり、(a)はメインシフト移動工程を示す図、(b)はサブシフト移動工程を示す図、(c)はシフト膜形成工程を示す図である。3A and 3B are diagrams illustrating a time sequence of a situation in which a coating material is applied on a substrate, wherein FIG. 4A illustrates a main shift moving process, FIG. 4B illustrates a sub shift moving process, and FIG. It is a figure showing a process. 不良ノズルが発生した場合の塗布材料を塗布する状況を時系列的にを示す図であり、(a)は初期膜形成工程を示す図、(b)は1回目のメインシフト移動工程、サブシフト移動工程、シフト膜形成工程が行われた後の状態を示す図、(c)は2回目のメインシフト移動工程、サブシフト移動工程、シフト膜形成工程が行われた後の状態を示す図、(d)は塗布工程が終了した状態を示す図である。4A and 4B are diagrams illustrating a time series of a situation in which a coating material is applied when a defective nozzle is generated, wherein FIG. 6A is a diagram illustrating an initial film forming process, and FIG. 6B is a diagram illustrating a first main shift movement process and a sub shift movement. FIG. 3C is a diagram showing a state after a shift film forming step is performed, and FIG. 4C is a diagram showing a state after a second main shift moving step, a sub shift moving step, and a shift film forming step are performed. () Is a diagram showing a state in which the application step has been completed. 上記インクジェット塗布装置の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the said inkjet coating device. 従来のインクジェット塗布装置を示す図であり、(a)は側面図、(b)は上面図である。It is a figure which shows the conventional inkjet application device, (a) is a side view, (b) is a top view. 従来のインクジェット塗布装置のノズルユニットを示す図であり、(a)は、ノズル側から見た図、(b)は、ヘッドモジュールの配列を示す図である。It is a figure which shows the nozzle unit of the conventional inkjet coating device, (a) is the figure seen from the nozzle side, (b) is a figure which shows the arrangement | sequence of a head module. 従来のインクジェット塗布装置で不吐出ノズルが存在した場合の塗布状態を示す図であり、(a)は、基板全体に形成された塗布膜を示す図、(b)未塗布領域が存在する塗布膜の断面図である。It is a figure which shows the application state at the time of the non-discharge nozzle existing in the conventional inkjet coating apparatus, (a) is a figure which shows the coating film formed in the whole board | substrate, (b) The coating film in which an uncoated area exists FIG. 従来のインクジェット塗布装置においてノズルユニットが主走査方向に2段設けられたヘッドを示す図であり、(a)は、ノズル側から見た図、(b)は、ヘッドモジュールの配列を示す図である。It is a figure which shows the head in which the nozzle unit was provided in two steps in the main scanning direction in the conventional inkjet coating device, (a) is the figure seen from the nozzle side, (b) is a figure which shows the arrangement | sequence of a head module. is there.

本発明のインクジェット塗布装置に係る実施の形態を図面を用いて説明する。   An embodiment according to the inkjet coating apparatus of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、インクジェット塗布装置の一実施形態を示す側面図であり、図2は、インクジェット塗布装置の上面図である。   FIG. 1 is a side view showing an embodiment of the inkjet coating apparatus, and FIG. 2 is a top view of the inkjet coating apparatus.

インクジェット塗布装置は、図1、図2に示すように、基板Wを載置するステージ10と、基板Wに液滴(塗布材料)を塗布する塗布ユニット2とを有しており、塗布ユニット2がステージ10に載置された基板W上を移動しつつ、液滴を所定の着弾位置に吐出することにより、基板W上に平坦状の塗布膜Cが形成される。本実施形態では、図3に示すように、塗布膜C付きの基板W(製品基板)が複数枚形成されるように、1枚の基板W上に複数箇所、平坦状の塗布膜Cが形成される。
この塗布膜Cは、液晶表示パネルの配向膜、タッチパネルの絶縁膜等であり、このインクジェット塗布装置は、基板W上に平坦な塗布膜Cを形成する用途であれば、あらゆる塗布膜Cを形成することができる。例えば、有機EL、配線パターン、パワー半導体等の塗布膜Cを形成することができる。
As shown in FIGS. 1 and 2, the inkjet coating apparatus includes a stage 10 on which a substrate W is mounted, and a coating unit 2 for coating droplets (coating material) on the substrate W. While moving on the substrate W placed on the stage 10, the liquid droplets are discharged to predetermined landing positions, whereby a flat coating film C is formed on the substrate W. In the present embodiment, as shown in FIG. 3, a plurality of flat coating films C are formed on one substrate W such that a plurality of substrates W (product substrates) with the coating film C are formed. Is done.
The coating film C is an alignment film of a liquid crystal display panel, an insulating film of a touch panel, and the like. This ink jet coating apparatus forms any coating film C if it is used to form a flat coating film C on a substrate W. can do. For example, a coating film C of an organic EL, a wiring pattern, a power semiconductor, or the like can be formed.

なお、以下の説明では、この塗布ユニット2が移動する方向をX軸方向(本実施形態の主走査方向)、これと水平面上で直交する方向をY軸方向(本実施形態の副走査方向)、X軸およびY軸方向の双方に直交する方向をZ軸方向として説明を進めることとする。   In the following description, the direction in which the coating unit 2 moves is the X-axis direction (the main scanning direction in the present embodiment), and the direction orthogonal to the horizontal plane is the Y-axis direction (the sub-scanning direction in the present embodiment). , The direction orthogonal to both the X-axis and the Y-axis directions will be described as the Z-axis direction.

インクジェット塗布装置は、基台1を有しており、この基台1上にステージ10、塗布ユニット2が設けられている。具体的には、基台1上に直方体形状のステージ10が設けられており、このステージ10をY軸方向に跨ぐように塗布ユニット2が設けられている。   The inkjet coating apparatus has a base 1, and a stage 10 and a coating unit 2 are provided on the base 1. Specifically, a rectangular parallelepiped stage 10 is provided on the base 1, and the coating unit 2 is provided so as to straddle the stage 10 in the Y-axis direction.

ステージ10は、基板Wを載置するものであり、載置された基板Wが水平な姿勢を維持した状態で載置されるようになっている。具体的には、ステージ10の表面は、平坦に形成されており、その表面には、吸引孔が複数形成されている。この吸引孔には真空ポンプが接続されており、ステージ10の表面に基板Wを載置した状態で真空ポンプを作動させることにより、吸引孔に吸引力が発生し、基板Wが水平な姿勢でステージ10の表面に吸着保持できるようになっている。そして、基板Wには、アライメントマークが付されており、このアライメントマークをカメラ(不図示)で撮像することにより、後述の制御装置で記憶された設定着弾位置がアライメントマークに基づいた設定着弾位置に補正される。すなわち、補正されることにより、各ノズル31a,41a毎の設定着弾位置と、ステージ10上の基板Wの実際の着弾位置とが一致するようになっており、それぞれの設定着弾位置に塗布材料が吐出されることにより、基板W上の所定の位置に平坦状の塗布膜Cが精度よく形成されるようになっている。   The stage 10 is for mounting a substrate W thereon, and the mounted substrate W is to be mounted while maintaining a horizontal posture. Specifically, the surface of the stage 10 is formed flat, and a plurality of suction holes are formed on the surface. A vacuum pump is connected to the suction hole, and by operating the vacuum pump with the substrate W placed on the surface of the stage 10, a suction force is generated in the suction hole, and the substrate W is held in a horizontal posture. The surface of the stage 10 can be suction-held. The substrate W is provided with an alignment mark, and an image of the alignment mark is taken by a camera (not shown) so that a set landing position stored by a control device described later is set to a set landing position based on the alignment mark. Is corrected to In other words, the correction is performed so that the set landing position of each of the nozzles 31a and 41a matches the actual landing position of the substrate W on the stage 10, and the coating material is applied to each set landing position. By being discharged, a flat coating film C is formed at a predetermined position on the substrate W with high accuracy.

また、塗布ユニット2は、基板W上に塗布材料を着弾させて塗布するものであり、塗布材料を吐出するヘッド21と、このヘッド21を支持するガントリ部22とを有している。このガントリ部22は、ステージ10のY軸方向両外側に配置される脚部22aと、これらの脚部22aを連結しY軸方向に延びる石材製のビーム部材22bとを有する略門型形状に形成されている。そして、このビーム部材22bにヘッド21が取付けられており、ガントリ部22は、ステージ10をY軸方向に跨いだ状態でX軸方向に移動可能に取り付けられている。本実施形態では、基台1のY軸方向両端部分にはそれぞれX軸方向に延びるレール(不図示)が設置されており、脚部22aがこのレールにスライド自在に取り付けられている。そして、脚部22aにはリニアモータが取り付けられており、このリニアモータを駆動制御することにより、ガントリ部22がX軸方向に移動し、任意の位置で停止できるようになっている。   Further, the coating unit 2 is for applying a coating material by landing it on the substrate W, and has a head 21 for discharging the coating material and a gantry section 22 for supporting the head 21. The gantry portion 22 has a substantially portal shape including a leg portion 22a disposed on both outer sides in the Y-axis direction of the stage 10 and a stone beam member 22b connecting the leg portions 22a and extending in the Y-axis direction. Is formed. The head 21 is attached to the beam member 22b, and the gantry section 22 is attached movably in the X-axis direction while straddling the stage 10 in the Y-axis direction. In this embodiment, rails (not shown) extending in the X-axis direction are installed at both ends of the base 1 in the Y-axis direction, and the legs 22a are slidably attached to the rails. A linear motor is attached to the leg 22a, and by controlling the driving of the linear motor, the gantry 22 moves in the X-axis direction and can be stopped at an arbitrary position.

また、ビーム部材22bは、両脚部22aを連結する柱状部材であり、石材で形成されている。このビーム部材22bには、ヘッド21が取付けられている。具体的には、ビーム部材22bのX軸方向一方側の側面に、ヘッド21が取り付けられており、このヘッド21に設けられたノズル31a,41aがステージ10の表面に向く姿勢で取付けられている。したがって、ガントリ部22がX軸方向に移動又は停止するにしたがって、ヘッド21もそれに付随して移動又は停止を行うことができ、ガントリ部22の移動量を調節することにより、ステージ10の表面に載置された基板W上にヘッド21を位置させて基板W上に塗布材料を吐出できるようになっている。   The beam member 22b is a columnar member that connects the two leg portions 22a, and is formed of a stone material. The head 21 is attached to the beam member 22b. Specifically, a head 21 is attached to one side surface of the beam member 22b in the X-axis direction, and the nozzles 31a and 41a provided on the head 21 are attached in a posture facing the surface of the stage 10. . Therefore, as the gantry unit 22 moves or stops in the X-axis direction, the head 21 can also move or stop accompanying the movement, and by adjusting the amount of movement of the gantry unit 22, The coating material can be discharged onto the substrate W by positioning the head 21 on the mounted substrate W.

また、ヘッド21は、図4に示すように、複数のノズル31a,41aを一体化させたものであり、第1ノズルユニット30と、第2ノズルユニット40とを有している。本実施形態では、第1ノズルユニット30と第2ノズルユニット40とがX軸方向に互いに隣接して配置された状態で固定されている。すなわち、図4に示す例では、第1ノズルユニット30は、第2ノズルユニット40対して進行方向前側に配置されており、X軸方向に移動して塗布する際に最初に基板Wと対面する側に配置されている。そして、ヘッド21は、Y軸方向(副走査方向)に移動できるように形成されており、X軸方向に対する着弾位置をY軸方向にずらすことができるようになっている。具体的には、ビーム部材22bには、レール(不図示)が設けられており、このレールにヘッド21がスライド自在に取り付けられている。そして、ヘッド21にはリニアモータが取り付けられており、このリニアモータを駆動制御することにより、ヘッド21がX軸方向に移動し、任意の位置で停止できるようになっている。本実施形態では、ノズル31a,41aの配列ピッチよりも小さい移動量で制御可能になっており、1/4ピッチ、1/8ピッチ等、精度よく位置決めできるように構成されている。   Further, as shown in FIG. 4, the head 21 is formed by integrating a plurality of nozzles 31a and 41a, and has a first nozzle unit 30 and a second nozzle unit 40. In the present embodiment, the first nozzle unit 30 and the second nozzle unit 40 are fixed in a state of being arranged adjacent to each other in the X-axis direction. That is, in the example illustrated in FIG. 4, the first nozzle unit 30 is disposed on the front side in the traveling direction with respect to the second nozzle unit 40, and first faces the substrate W when moving and applying in the X-axis direction. Located on the side. The head 21 is formed so as to be movable in the Y-axis direction (sub-scanning direction), so that the impact position in the X-axis direction can be shifted in the Y-axis direction. Specifically, the beam member 22b is provided with a rail (not shown), and the head 21 is slidably mounted on the rail. A linear motor is attached to the head 21. By controlling the driving of the linear motor, the head 21 moves in the X-axis direction and can be stopped at an arbitrary position. In the present embodiment, control is possible with a movement amount smaller than the arrangement pitch of the nozzles 31a and 41a, and the configuration is such that positioning can be performed with high accuracy, such as 1/4 pitch, 1/8 pitch or the like.

この第1ノズルユニット30は、複数のノズル31aを有しており、これらのノズル31aが一方向に所定の配列ピッチで整列した状態で配置されている。具体的には、第1ノズルユニット30は、ピエゾ素子を駆動させて塗布材料を吐出する複数のヘッドモジュール31を備えて形成されており、このヘッドモジュール31が一方向に配列された複数のノズル31aを有している。本実施形態では、これらのノズル31aは、配列ピッチtで配列されている。そして、ヘッドモジュール31は、それぞれが互いに重複する部分を有するようにずらして配置されている。図4の例では、隣接するヘッドモジュール31がX軸方向に交互にずらして配置されている。すなわち、これらのヘッドモジュール31は、ノズル配置間隔とヘッドモジュール31の両端部分とでは寸法が異なっているため、図5に示すように、この両端部分の寸法分を相殺できるようにX軸方向にずらしつつY軸方向に配列される。具体的には、ヘッドモジュール31の複数のノズル31aの配列方向をY軸方向に揃えて、ヘッドモジュール31の両端部分の寸法分(寸法s)を相殺できるようにヘッドモジュール31が配置されている。すなわち、第1ノズルユニット30は、X軸方向に見てノズル31aがY軸方向に等間隔(寸法t)で配置されており、ヘッド21全体としてX軸方向に見て、すべてのノズル31aがY軸方向に沿って配列ピッチtで配列され、X軸方向から見てY軸方向に亘って等間隔で配置されている。   The first nozzle unit 30 has a plurality of nozzles 31a, and these nozzles 31a are arranged in a state of being arranged in one direction at a predetermined arrangement pitch. Specifically, the first nozzle unit 30 is formed to include a plurality of head modules 31 that drive a piezo element to discharge a coating material, and the plurality of nozzles in which the head modules 31 are arranged in one direction. 31a. In the present embodiment, these nozzles 31a are arranged at an arrangement pitch t. The head modules 31 are staggered so as to have portions overlapping each other. In the example of FIG. 4, the adjacent head modules 31 are alternately arranged in the X-axis direction. That is, since these head modules 31 have different dimensions between the nozzle arrangement interval and both end portions of the head module 31, as shown in FIG. They are arranged in the Y-axis direction while being shifted. Specifically, the head module 31 is arranged so that the arrangement direction of the plurality of nozzles 31a of the head module 31 is aligned in the Y-axis direction, and the dimension (dimension s) of both ends of the head module 31 can be offset. . That is, in the first nozzle unit 30, the nozzles 31a are arranged at equal intervals (dimension t) in the Y-axis direction when viewed in the X-axis direction, and all the nozzles 31a are viewed in the X-axis direction as a whole of the head 21. They are arranged at an arrangement pitch t along the Y-axis direction, and are arranged at equal intervals over the Y-axis direction when viewed from the X-axis direction.

また、第2ノズルユニット40は、複数のノズル41aを有しており、一方向(本実施形態ではY軸方向)に所定ピッチで整列した状態で配置されている。本実施形態では、上述の第1ノズルユニット30と同様の構成を有しており、ノズル41aの配置は第1ノズルユニット30のノズル31a配置と同一に形成されている。すなわち、隣接するヘッドモジュール41は、ヘッドモジュール41の両端部分の寸法分(寸法s)を相殺できるようにX軸方向に交互にずれるように配置されている。一方、この第2ノズルユニット40の各ノズル41aは、ヘッド21に搭載された状態では、各ノズル41aが第1ノズルユニット30の各ノズル31aの間に位置するように取り付けられている。すなわち、第2ノズルユニット40のノズル41aは、X軸方向に見て、第1ノズルユニット30のノズル位置に対してt/2だけずれて配置されており、第1ノズルユニット30及び第2ノズルユニット40の各ノズル31a、41aのピッチは同じ配列ピッチtであるため、すべてのノズル41aは、ノズル31aに対して、それぞれt/2ずれて配置されている。これにより、ノズル41aとノズル31aとは、X軸方向に見て、それぞれt/2だけずれて配置されており、第1ノズルユニット30単体の構成に比べて解像度を向上させることができる。   The second nozzle unit 40 has a plurality of nozzles 41a, and is arranged in one direction (the Y-axis direction in the present embodiment) at a predetermined pitch. In the present embodiment, the configuration is similar to that of the above-described first nozzle unit 30, and the arrangement of the nozzles 41 a is the same as the arrangement of the nozzles 31 a of the first nozzle unit 30. That is, the adjacent head modules 41 are arranged so as to be alternately shifted in the X-axis direction so that the dimensions (dimensions) of both end portions of the head module 41 can be offset. On the other hand, the respective nozzles 41 a of the second nozzle unit 40 are mounted such that the respective nozzles 41 a are located between the respective nozzles 31 a of the first nozzle unit 30 when mounted on the head 21. That is, the nozzle 41a of the second nozzle unit 40 is disposed at a position shifted by t / 2 with respect to the nozzle position of the first nozzle unit 30 when viewed in the X-axis direction, and the first nozzle unit 30 and the second nozzle Since the pitch of the nozzles 31a and 41a of the unit 40 is the same arrangement pitch t, all the nozzles 41a are arranged with a shift of t / 2 from the nozzle 31a. As a result, the nozzles 41a and the nozzles 31a are displaced from each other by t / 2 when viewed in the X-axis direction, and the resolution can be improved as compared with the configuration of the first nozzle unit 30 alone.

また、本実施形態のインクジェット塗布装置は装置全体の動作を統括する制御装置(不図示)を有している。この制御装置は、予め記憶されたプログラムに従って一連の塗布動作を実行すべく、各ユニットのサーボモータ、リニアモータ等の駆動装置を駆動制御するとともに塗布動作に必要な各種演算を行うものである。   In addition, the inkjet coating apparatus of the present embodiment has a control device (not shown) that controls the operation of the entire apparatus. This control device controls the driving of a drive device such as a servo motor or a linear motor of each unit and performs various calculations necessary for the coating operation in order to execute a series of coating operations in accordance with a program stored in advance.

この制御装置には、各ノズル31a、41aから吐出される塗布材料の吐出位置(設定着弾位置)が記憶されており、この設定着弾位置がそれぞれのノズル31a、41a毎に設定されている。本実施形態では、図3に示すように、製品基板の多面取りに対応するように基板W上に複数の塗布膜Cが形成されるように設定されており、塗布膜Cが形成されるべき塗布領域にアライメントマークを基準とした設定着弾位置が設定されている。   The control device stores the discharge positions (set landing positions) of the coating material discharged from the nozzles 31a and 41a, and the set landing positions are set for each of the nozzles 31a and 41a. In the present embodiment, as shown in FIG. 3, a plurality of coating films C are set on the substrate W so as to correspond to multiple product substrate cutting, and the coating film C should be formed. A set landing position based on the alignment mark is set in the application area.

この設定着弾位置は、塗布領域に対して格子状に設定されており、各ノズル31a、41aから適当量の液滴を格子点に着弾させることにより、一様な塗布膜Cが形成されるようになっている。そして、本実施形態では、設定着弾位置に対して着弾させるべきノズル位置が設定されており、このノズル位置に応じて液滴を吐出することにより、仮に不良ノズルが発生しても一様な塗布膜Cが形成できるようになっている。   The set landing positions are set in a grid pattern with respect to the application area, and an appropriate amount of liquid droplets are landed on the grid points from the nozzles 31a and 41a, so that a uniform coating film C is formed. It has become. In the present embodiment, a nozzle position to be landed is set with respect to the set landing position, and droplets are discharged in accordance with this nozzle position, so that even if a defective nozzle is generated, uniform coating is performed. The film C can be formed.

具体的には、格子状の各設定着弾位置に対して複数回、第1ノズルユニット30及び第2ノズルユニット40を主走査方向に走査させることにより塗布膜Cが形成されるように設定されており、初期膜形成処理、メインシフト移動処理、サブシフト移動処理、シフト膜形成処理が行われることにより、一様な塗布膜Cが形成されるようになっている。なお、本実施形態では、主走査方向に4回走査することにより塗布膜Cが形成されるように設定されている。そして、一様な塗布膜Cを完成させるのに必要な主走査方向への走査回数は、設定スキャン回数と呼ぶ。   Specifically, it is set so that the coating film C is formed by scanning the first nozzle unit 30 and the second nozzle unit 40 in the main scanning direction a plurality of times with respect to each of the grid-like set landing positions. In addition, the uniform coating film C is formed by performing the initial film forming process, the main shift moving process, the sub shift moving process, and the shift film forming process. In the present embodiment, the setting is made so that the coating film C is formed by scanning four times in the main scanning direction. The number of scans in the main scanning direction required to complete the uniform coating film C is referred to as a set number of scans.

初期膜形成処理は、基板Wに対して各ノズル31a、41aから塗布材料を吐出させることにより、最初にノズル位置から主走査方向に液滴を着弾させる処理である。ここでノズル位置とは、ヘッド21を主走査方向に移動させると各ノズル31a,41aが設定着弾位置を通過できる走査開始位置のことである。この処理により、最初に配置されたノズル位置(特に初期ノズル位置という)に応じた初期膜が形成される。すなわち、基板Wに対して位置決めされた位置から主走査方向にヘッド21を1回だけ移動させつつ、設定着弾位置に液滴を吐出する。吐出された塗布材料は、基板W表面の親液性と液滴の粘度等の関係により、主走査方向に延びる列状に形成される場合や、隣接する列状の膜同士が液滴の広がりにより互いに結合し合う場合がある。また、この初期膜形成処理では、液適量は、1回の走査で塗布膜Cが完成される場合に吐出される液適量に比べて少ない量に設定されている。すなわち、液適量は、主走査方向に走査する毎に等しい量が吐出されるように設定されており、本実施形態では、設定スキャン回数が4回に設定されているため、液適量は、1回の走査で塗布膜Cを形成する場合に必要な液適量の1/4の量が設定されている。すなわち、ヘッド21が主走査方向に4回走査することにより塗布膜Cに必要な量の塗布材料が吐出されるようになっている。   The initial film forming process is a process in which a coating material is ejected from the nozzles 31a and 41a onto the substrate W to first cause droplets to land in the main scanning direction from the nozzle position. Here, the nozzle position is a scanning start position at which the nozzles 31a and 41a can pass the set landing position when the head 21 is moved in the main scanning direction. By this processing, an initial film corresponding to the nozzle position (particularly, the initial nozzle position) arranged first is formed. That is, the liquid droplets are ejected to the set landing position while the head 21 is moved only once in the main scanning direction from the position positioned with respect to the substrate W. Depending on the relationship between the lyophilicity of the surface of the substrate W and the viscosity of the droplets, the discharged coating material may be formed in a row extending in the main scanning direction, or the adjacent rows of films may spread the droplet. May bond with each other. In the initial film forming process, the appropriate amount of liquid is set to be smaller than the appropriate amount of liquid ejected when the coating film C is completed by one scan. In other words, the appropriate amount of liquid is set so that an equal amount is ejected every time scanning is performed in the main scanning direction. In the present embodiment, the set number of scans is set to four. The amount is set to 1 / of the appropriate amount of the liquid necessary for forming the coating film C in each scan. In other words, the head 21 scans four times in the main scanning direction so that a necessary amount of the coating material is discharged onto the coating film C.

また、メインシフト移動処理は、ノズル31a、41aを副走査方向に移動させる処理であり、各ノズル31a、41a自身の隣に位置するノズル31a、41aのノズル位置を超えて副走査方向に移動させる処理である。ここで、自身の隣に位置するノズル位置とは、X軸方向に見てすぐ隣に位置するノズル位置のことである。すなわち、図5に示す例では、ノズル31a1の隣に位置するノズル位置は、ノズル41a1のノズル位置である。仮に、第2ノズルユニット40が設けられていない第1ノズルユニット30のみの構成では、ノズル31a1の隣に位置するノズル位置は、ノズル31a2のノズル位置である。このメインシフト移動処理では、ノズル31a、41aが、隣に位置するノズル位置を超えたノズル位置に位置するように、ヘッド21全体を副走査方向に移動させる処理である。このメインシフト移動処理が行われることにより、仮に不良ノズルが発生した場合に、この不良ノズルのノズル位置に再度不良ノズルが位置することを防止することができる。すなわち、不良ノズルが何度も同じ領域を走査して基板上に形成された未塗布領域fに塗布材料が塗布されず、欠陥ムラが形成されてしまうのを抑えることができる。   The main shift movement process is a process of moving the nozzles 31a and 41a in the sub-scanning direction, and moves the nozzles 31a and 41a in the sub-scanning direction beyond the nozzle positions of the nozzles 31a and 41a located adjacent to the nozzles 31a and 41a. Processing. Here, the nozzle position located next to itself is a nozzle position located immediately next to the nozzle when viewed in the X-axis direction. That is, in the example shown in FIG. 5, the nozzle position located next to the nozzle 31a1 is the nozzle position of the nozzle 41a1. In a configuration including only the first nozzle unit 30 without the second nozzle unit 40, the nozzle position located next to the nozzle 31a1 is the nozzle position of the nozzle 31a2. In the main shift movement process, the entire head 21 is moved in the sub-scanning direction such that the nozzles 31a and 41a are located at nozzle positions that exceed the adjacent nozzle positions. By performing the main shift movement process, if a defective nozzle is generated, it is possible to prevent the defective nozzle from being positioned again at the nozzle position of the defective nozzle. In other words, it is possible to prevent the defective nozzle from scanning the same region many times and not applying the coating material to the uncoated region f formed on the substrate, thereby preventing the formation of defect unevenness.

また、サブシフト移動処理は、メインシフト移動工程後、さらにノズル31a、41aの配列ピッチより小さい移動量(サブシフト移動量)だけ副走査方向に移動させる処理である。本実施形態では、サブシフト移動量は、ノズル31a,41aの配列ピッチを設定スキャン回数で除した量だけ移動されるように設定されている。すなわち、サブシフト移動量は、t/8に設定されている。   The sub-shift movement process is a process of moving the nozzles 31a and 41a in the sub-scanning direction by a movement amount (sub-shift movement amount) smaller than the arrangement pitch after the main shift movement process. In the present embodiment, the sub-shift movement amount is set to be moved by an amount obtained by dividing the arrangement pitch of the nozzles 31a and 41a by the set number of scans. That is, the sub-shift movement amount is set to t / 8.

また、シフト膜形成処理は、メインシフト移動工程及び前記サブシフト移動工程後のノズル位置(シフトノズル位置)からヘッド21を主走査方向に移動させつつ各ノズル31a,41aから液滴を吐出してシフトノズル位置から主走査方向に液滴を着弾させる処理である。この処理により、シフトノズル位置に応じたシフト膜が形成される。すなわち、基板Wに対して位置決めされたシフトノズル位置から主走査方向にヘッド21を1回だけ移動させつつ、設定着弾位置に液滴を吐出する。吐出された塗布材料は、基板W表面の親液性と液滴の粘度等の関係により、主走査方向に延びる列状に形成される場合や、隣接する列状の膜同士が液滴の広がりにより互いに重なり合う場合がある。また、このシフト膜形成処理における液適量は、初期膜形成処理と同様に、1回の走査で塗布膜Cを形成する場合の液適量の1/4の量が設定されている。   In the shift film forming process, the head 21 is moved in the main scanning direction from the nozzle position (shift nozzle position) after the main shift moving process and the sub-shift moving process, and droplets are ejected from the nozzles 31a and 41a to shift. This is a process for landing droplets in the main scanning direction from the nozzle position. By this processing, a shift film corresponding to the shift nozzle position is formed. That is, droplets are ejected to the set landing position while the head 21 is moved only once in the main scanning direction from the shift nozzle position positioned with respect to the substrate W. Depending on the relationship between the lyophilicity of the surface of the substrate W and the viscosity of the droplets, the discharged coating material may be formed in a row extending in the main scanning direction, or the adjacent rows of films may spread the droplet. May overlap with each other. Further, as in the initial film forming process, the appropriate amount of the liquid in the shift film forming process is set to 1 / of the appropriate amount of the liquid when the coating film C is formed by one scan.

このサブシフト移動処理及びシフト膜形成処理が行われると、初期膜形成処理で形成された初期膜同士の間に、t/8ピッチ間隔でシフト膜が形成される。本実施形態では、初期膜がt/2ピッチで形成されているため、隣り合う初期膜同士の間に等ピッチで3つのシフト膜が形成される。すなわち、初期膜、シフト膜を形成するために吐出された液滴が、それぞれ流動することにより連結されて一体化されるようにサブシフト移動量が設定されている。これにより、仮に不良ノズルが発生した場合に未塗布領域fが形成された場合でも、t/8離れた両隣の膜(初期膜、シフト膜)を形成する着弾した液滴が流動することにより未塗布領域fが埋められて欠陥ムラが生じるのを抑えることができる。   When the sub-shift moving process and the shift film forming process are performed, shift films are formed at intervals of t / 8 pitch between the initial films formed in the initial film forming process. In this embodiment, since the initial films are formed at a pitch of t / 2, three shift films are formed at equal pitches between adjacent initial films. In other words, the sub-shift movement amount is set such that the droplets discharged to form the initial film and the shift film flow and are connected and integrated by flowing. As a result, even if the uncoated area f is formed when a defective nozzle is generated, the landed droplets forming the films (the initial film and the shift film) on both sides separated by t / 8 flow due to the flow. It is possible to suppress the occurrence of defect unevenness due to filling of the application region f.

次にこのインクジェット塗布装置の動作について図7のフローチャートに基づいて説明する。   Next, the operation of the inkjet coating apparatus will be described with reference to the flowchart of FIG.

まず、ステップS1により基板Wが搬入される。具体的には、ロボットハンド等により基板Wがステージ10上に載置される。基板Wがステージ10に載置され基板Wが保持されると、基板Wのアライメントマークが取り込まれ、このアライメントマークを基準に設定着弾位置が補正される。すなわち、ステージ10上の基板Wに対して、各ノズル31a、41a毎に設定着弾位置、及び、吐出量(本実施形態では1回の走査で塗布膜Cを形成する場合に必要な液適量の1/4)が設定されている。   First, the substrate W is loaded in step S1. Specifically, the substrate W is placed on the stage 10 by a robot hand or the like. When the substrate W is placed on the stage 10 and held, the alignment mark of the substrate W is taken in, and the set landing position is corrected based on the alignment mark. That is, for the substrate W on the stage 10, the set landing position and the ejection amount for each of the nozzles 31 a and 41 a (in the present embodiment, the appropriate amount of liquid necessary for forming the coating film C by one scan) 1/4) is set.

なお、次の第1塗布工程に入る前に、テスト基板上に各ノズル31a、41aから吐出を行って不吐出ノズルの有無の確認が行われる。   Before starting the next first coating process, the nozzles 31a and 41a are discharged onto the test substrate to check for the presence of non-discharge nozzles.

次に、ステップS2により塗布工程が行われる。この塗布工程は、初期膜形成工程、メインシフト移動工程、サブシフト移動工程、シフト膜形成工程で構成されている。   Next, a coating process is performed in step S2. This coating step includes an initial film forming step, a main shift moving step, a sub shift moving step, and a shift film forming step.

まず、ステップS21により初期膜形成工程が行われる。具体的には、各ノズル31a,41aが主走査方向の設定着弾位置に吐出できるように初期ノズル位置に配置される。ここで、図6は、塗布工程を簡略的に説明する図であり、第1ノズルユニット30及び第2ノズルユニット40それぞれの3つのノズル31a、41aに着目して説明する。図6(a)に示されるように、各ノズル31a,41aが初期ノズル位置に配置される。すなわち、ヘッド21がX軸方向に移動すれば各ノズル31a,41aが設定着弾位置(破線)上を通過するようにヘッド21が位置決めされる。そして、その初期ノズル位置からヘッド21が主走査方向に移動し、各ノズル31a、41aが設定着弾位置に位置すると液滴を行い、設定着弾位置に設定された液滴量の塗布材料が吐出される(図6(b))。なお、図における破線で描かれた丸印は、設定着弾位置を示しており、塗りつぶされた丸印は、着弾されたことを示している。   First, an initial film forming step is performed in step S21. More specifically, the nozzles 31a and 41a are arranged at the initial nozzle positions so that they can be discharged at the set landing positions in the main scanning direction. Here, FIG. 6 is a diagram schematically illustrating the coating process, and the description will focus on the three nozzles 31a and 41a of the first nozzle unit 30 and the second nozzle unit 40, respectively. As shown in FIG. 6A, each of the nozzles 31a and 41a is arranged at an initial nozzle position. That is, when the head 21 moves in the X-axis direction, the head 21 is positioned so that the nozzles 31a and 41a pass above the set landing position (broken line). Then, the head 21 moves in the main scanning direction from the initial nozzle position, and when each of the nozzles 31a and 41a is located at the set landing position, a droplet is formed, and the coating material having the set droplet amount at the set landing position is discharged. (FIG. 6B). It should be noted that circles drawn by broken lines in the figure indicate set landing positions, and solid circles indicate that landing has been made.

次に、ステップS22によりメインシフト移動工程が行われる。具体的には、ヘッド21を副走査方向に移動させ、各ノズル31a、41a自身の隣に位置するノズル31a、41aのノズル位置を超えて別のノズル位置にノズル31a、41aが配置される。すなわち、ノズル31a、41aは、自身のノズル31a、41aの隣のノズル位置以外のノズル位置に配置される(図6(c))。   Next, a main shift moving step is performed in step S22. Specifically, the head 21 is moved in the sub-scanning direction, and the nozzles 31a and 41a are arranged at different nozzle positions beyond the nozzle positions of the nozzles 31a and 41a located adjacent to the respective nozzles 31a and 41a. That is, the nozzles 31a and 41a are arranged at nozzle positions other than the nozzle positions adjacent to the own nozzles 31a and 41a (FIG. 6C).

次に、ステップS23により、サブシフト移動工程が行われる。具体的には、図6(d)に示すように、メインシフト移動工程で位置するノズル位置からt/8だけ副走査方向に移動する。   Next, in step S23, a sub-shift moving step is performed. Specifically, as shown in FIG. 6D, the nozzle is moved in the sub-scanning direction by t / 8 from the nozzle position located in the main shift moving step.

次に、ステップS24により、シフト膜形成工程が行われる。具体的には、サブシフト移動工程で位置するノズル位置からヘッド21を主走査方向に移動させつつ、各ノズル31a、41aから設定着弾位置に液滴を着弾させてシフト膜を形成する。形成されたシフト膜(状況によっては着弾した液滴)は、先に形成された初期膜と馴染んだ膜が形成される(図7(a))。   Next, in step S24, a shift film forming step is performed. Specifically, while moving the head 21 in the main scanning direction from the nozzle position located in the sub-shift movement step, a droplet is landed from each of the nozzles 31a and 41a to a set landing position to form a shift film. The formed shift film (droplets that have landed in some situations) forms a film that is familiar with the previously formed initial film (FIG. 7A).

次に、ステップS25により、設定スキャン回数が確認される。仮にスキャン回数が設定スキャン回数に満たない場合には、ステップS25において、Noの方向に進み、メインシフト移動工程、サブシフト移動工程、シフト膜形成工程がこの順で繰り返される。すなわち、メインシフト移動工程により、再度、各ノズル31a、41a自身の隣に位置するノズル31a、41aのノズル位置を超えて別のノズル位置にノズル31a、41aが配置され(図7(b))、サブシフト移動工程により、さらに、先のメインシフト移動工程で位置するノズル位置からt/8だけ副走査方向に移動する(図7(c))。そして、シフト膜形成工程により、ヘッド21を主走査方向に移動させつつ、各ノズル31a、41aから設定着弾位置に液滴を着弾させてシフト膜を形成する(図7(d))。本実施形態では、再度、メインシフト移動工程(図8(a))、サブシフト移動工程(図8(b))、シフト膜形成工程(図8(c))を繰り返し、ヘッド21を主走査方向に4回走査させて液滴を吐出することにより基板W上に一様な膜パターンを形成する。   Next, in step S25, the set number of scans is confirmed. If the number of scans is less than the set number of scans, the process proceeds to No in step S25, and the main shift moving step, the sub shift moving step, and the shift film forming step are repeated in this order. That is, in the main shift movement step, the nozzles 31a and 41a are again arranged at different nozzle positions beyond the nozzle positions of the nozzles 31a and 41a located adjacent to the respective nozzles 31a and 41a (FIG. 7B). In the sub-shift movement step, the nozzle is further moved in the sub-scanning direction by t / 8 from the nozzle position located in the preceding main shift movement step (FIG. 7C). Then, in the shift film forming step, a droplet is landed from each of the nozzles 31a and 41a on the set landing position while the head 21 is moved in the main scanning direction to form a shift film (FIG. 7D). In the present embodiment, the main shift moving step (FIG. 8A), the sub shift moving step (FIG. 8B), and the shift film forming step (FIG. 8C) are repeated again to move the head 21 in the main scanning direction. By discharging the liquid droplets four times, a uniform film pattern is formed on the substrate W.

ここで、当初又は塗布動作の途中で不良ノズルが発生した場合、すなわち、初期膜形成工程において、ノズル41a2が不良ノズル(不吐出ノズル)であった場合、図9(a)に示すように、ノズル41a2が走査した領域には、塗布材料が塗布されず、未塗布領域fが形成される。   Here, when a defective nozzle is generated initially or during the coating operation, that is, when the nozzle 41a2 is a defective nozzle (non-ejection nozzle) in the initial film forming step, as shown in FIG. The coating material is not applied to the area scanned by the nozzle 41a2, and an uncoated area f is formed.

次に、メインシフト移動工程が行われることにより、各ノズル31a、41a自身の隣に位置するノズル31a、41aのノズル位置を超えて別のノズル位置にノズル31a、41aが配置される。すなわち、不良ノズルであるノズル41a2自身の隣に位置するノズル位置には、ノズル41a2は配置されず、ノズル41a2自身の隣に位置するノズル位置以外のノズル位置に配置される。これにより、ノズル41a2の初期ノズル位置、及び、ノズル41a2の初期ノズル位置の隣に位置するノズル位置にはノズル41a2が配置されることが防止されるため、ヘッド21を複数回走査しているにもかかわらず未塗布領域fが同じ場所に形成されたり、未塗布領域fの近くに新たに未塗布領域fが形成され、未塗布領域fが一定箇所に集中的に形成されるのを抑えることができる。   Next, by performing the main shift moving step, the nozzles 31a and 41a are arranged at different nozzle positions beyond the nozzle positions of the nozzles 31a and 41a located adjacent to the respective nozzles 31a and 41a. That is, the nozzle 41a2 is not located at the nozzle position located next to the defective nozzle 41a2 itself, but is located at a nozzle position other than the nozzle position located next to the nozzle 41a2 itself. This prevents the nozzle 41a2 from being arranged at the initial nozzle position of the nozzle 41a2 and the nozzle position adjacent to the initial nozzle position of the nozzle 41a2. Nevertheless, it is possible to prevent the uncoated area f from being formed in the same place or a new uncoated area f being formed near the uncoated area f, and the uncoated area f from being formed intensively at a certain location. Can be.

そして、サブシフト移動工程、シフト膜形成工程が行われることにより、初期ノズル位置からt/8ずれた位置にシフト膜が形成され(図9(b))る。そして、これらメインシフト移動工程、サブシフト移動工程、シフト膜形成工程を繰り返し行われると、未塗布領域fがその両側に他工程で吐出された液滴によって補い合って埋められることにより、未塗布領域fが起因する欠陥ムラが形成されるのが抑えられ、最終的に一様な膜パターンが形成される。   Then, the shift film is formed at a position shifted by t / 8 from the initial nozzle position by performing the sub-shift moving step and the shift film forming step (FIG. 9B). When the main shift moving step, the sub shift moving step, and the shift film forming step are repeatedly performed, the uncoated area f is complemented and filled on both sides by the droplets discharged in the other steps. Is suppressed, and a uniform film pattern is finally formed.

そして、スキャン回数が設定スキャン回数を満たした場合には、ステップS25においてYesの方向に進み、ステップS26により塗布工程が終了する。   Then, when the number of scans satisfies the set number of scans, the process proceeds in the Yes direction in step S25, and the coating process ends in step S26.

次に、ステップS3により、基板Wの排出が行われる。具体的には、ロボットハンド等によりステージ10に載置された基板Wが排出され、基板Wは後工程である乾燥装置に搬送される。   Next, in step S3, the substrate W is discharged. Specifically, the substrate W placed on the stage 10 is discharged by a robot hand or the like, and the substrate W is transported to a drying device in a later process.

このように、上記実施形態における膜パターン描画方法によれば、初期膜形成工程でヘッドを主走査方向に走査してノズル位置(初期)に応じた初期膜を形成した後、メインシフト移動工程において、各ノズルは、自身の隣に位置するノズル位置を超えて副走査方向に移動するため、不吐出領域が副走査方向に並んで形成されることを回避できる。すなわち、仮に不良ノズルが存在している場合に、メインシフト移動工程が行われることにより、不良ノズルは、その不良ノズルの隣に位置する正常ノズルを超えた位置に移動させられるため、次に不吐出領域が形成されても、これらの不吐出領域の間に必ず初期膜が存在する状態にすることができる。そして、サブシフト移動工程、及び、シフト膜形成工程が行われることにより、ノズルがノズルの配列ピッチより小さい移動量だけ副走査方向に移動した後、主走査方向にシフト膜が形成される。これにより、先に形成された膜(初期膜、シフト膜含む)の間にシフト膜が形成されるため、先に形成された膜の間を埋めるように膜が形成される。これにより、凹凸形状や狭細部分に吐出した塗布材料が弾かれて、その部分での塗布材料が不足し欠陥ムラを生じるのを抑えて一様な膜パターンを形成することができ、物理的にノズルを増やして解像度を上げることなく、高精度に膜パターンを形成することができる。   As described above, according to the film pattern drawing method in the above embodiment, after the head is scanned in the main scanning direction in the initial film forming step to form an initial film corresponding to the nozzle position (initial), the head is moved in the main shift moving step. Since each nozzle moves in the sub-scanning direction beyond the position of the nozzle located next to itself, it is possible to prevent non-discharge areas from being formed side by side in the sub-scanning direction. That is, if there is a defective nozzle, the defective nozzle can be moved to a position beyond the normal nozzle located next to the defective nozzle by performing the main shift moving step. Even if the ejection regions are formed, it is possible to ensure that the initial film exists between these non-ejection regions. Then, by performing the sub-shift moving step and the shift film forming step, the nozzle is moved in the sub-scanning direction by a movement amount smaller than the nozzle arrangement pitch, and then the shift film is formed in the main scanning direction. As a result, the shift film is formed between the previously formed films (including the initial film and the shift film), so that the films are formed so as to fill the spaces between the previously formed films. As a result, it is possible to form a uniform film pattern by suppressing the application material ejected to the uneven shape or the narrow portion from being repelled and causing a shortage of the application material at the portion and causing defect unevenness. A film pattern can be formed with high accuracy without increasing the resolution by increasing the number of nozzles.

また、上記実施形態では、メインシフト工程とサブシフト工程とがこの順に行われる例について説明したが、メインシフト工程とサブシフト工程とを同時に行う構成であってもよい。すなわち、初期膜形成工程後、メインシフト工程で必要な副走査方向への移動量と、サブシフト工程で必要な副走査方向への移動量とを合算した移動量を一度に移動させる構成であってもよい。   Further, in the above-described embodiment, an example has been described in which the main shift step and the sub shift step are performed in this order, but a configuration in which the main shift step and the sub shift step are performed simultaneously may be employed. That is, after the initial film forming step, the moving amount obtained by adding the moving amount in the sub-scanning direction required in the main shift step and the moving amount in the sub-scanning direction required in the sub-shift step is moved at a time. Is also good.

また、上記実施形態では、サブシフト移動工程における移動量がすべて等しい移動量である場合について説明したが、サブシフト移動工程毎に異なる移動量が設定されていてもよい。すなわち、基板Wの形状に応じて、塗布材料が弾かれやすい箇所に対して移動量を小さくすることにより、塗布材料を密に供給して欠陥ムラが発生するのを抑えることができる。   Further, in the above-described embodiment, the case has been described in which the movement amounts in the sub-shift movement process are all the same movement amount, but a different movement amount may be set for each sub-shift movement process. In other words, by reducing the amount of movement to a portion where the coating material is likely to be repelled according to the shape of the substrate W, it is possible to supply the coating material densely and suppress occurrence of defect unevenness.

また、上記実施形態では、シフト膜形成工程では、先に形成された膜(初期膜、シフト膜)に液滴が重なり合うように着弾させる例について説明したが、塗布材料の粘度、基板Wの親液度との関係で、独立した位置に液滴を着弾させる構成であってもよい。   Further, in the above-described embodiment, in the shift film forming process, an example was described in which droplets landed so as to overlap with the previously formed film (initial film, shift film). A configuration in which droplets land at independent positions in relation to the liquidity may be employed.

また、上記実施形態では、主走査方向に第1ノズルユニット30と第2ノズルユニット40とを並べて設けられる例について説明したが、解像度を要しない場合には、第1ノズルユニット30のみの構成にしてもよい。   Further, in the above-described embodiment, an example in which the first nozzle unit 30 and the second nozzle unit 40 are provided side by side in the main scanning direction has been described. You may.

また、上記実施形態では、塗布ユニット2が移動することによりヘッド21が主走査方向に移動する例について説明したが、ステージ10が移動することによりヘッド21が基板Wに対して主走査方向に相対的に移動するように構成してもよい。いずれにせよ、ヘッド21と基板Wとが相対的に主走査方向、及び、副走査方向に移動できる構成であればよい。   Further, in the above embodiment, the example in which the head 21 moves in the main scanning direction by moving the coating unit 2 has been described, but the head 21 moves relative to the substrate W in the main scanning direction by moving the stage 10. You may comprise so that it may move temporarily. In any case, any configuration may be used as long as the head 21 and the substrate W can relatively move in the main scanning direction and the sub-scanning direction.

なお、上記実施形態では、ヘッド21を主走査方向に4回走査することにより膜パターンを形成する例について説明したが、一様な膜パターンが形成されるように適宜設定すればよい。   In the above embodiment, the example in which the film pattern is formed by scanning the head 21 four times in the main scanning direction has been described. However, the film pattern may be appropriately set so that a uniform film pattern is formed.

2 塗布ユニット
10 ステージ
21 ヘッド
22 ガントリ部
30 第1ノズルユニット
31a ノズル(第1ノズルユニット)
40 第2ノズルユニット
41a ノズル(第2ノズルユニット)
W 基板
C 塗布膜
f 未塗布領域
2 Coating unit 10 Stage 21 Head 22 Gantry section 30 First nozzle unit 31a Nozzle (first nozzle unit)
40 second nozzle unit 41a nozzle (second nozzle unit)
W substrate C coating film f uncoated area

Claims (5)

所定の配列ピッチで配列された複数のノズルを有するヘッドを主走査方向に走査しつつ、前記ノズルから液滴を吐出して膜パターンを形成する膜パターン描画方法であって、
前記ヘッドをノズル位置から主走査方向に走査しつつ前記各ノズルから液滴を吐出して前記ノズルのノズル位置に応じた初期膜を形成する初期膜形成工程と、
自身の隣に位置するノズルのノズル位置を超えて別のノズル位置に前記ヘッドを主走査方向と直交する副走査方向に移動させるメインシフト移動工程と、
前記メインシフト移動工程から、さらに前記ノズルの配列ピッチより小さい移動量だけ移動させるサブシフト移動工程と、
前記メインシフト移動工程及び前記サブシフト移動工程後のシフトノズル位置で、前記ヘッドを主走査方向に走査しつつ前記各ノズルから液滴を吐出して前記シフトノズル位置に応じた膜を形成するシフト膜形成工程と、
前記初期膜形成工程後、前記メインシフト移動工程と、
前記サブシフト工程と、前記シフト膜形成工程とをこの順に繰り返して膜パターンを形成することを特徴とする膜パターン描画方法。
A film pattern drawing method for forming a film pattern by discharging droplets from the nozzles while scanning a head having a plurality of nozzles arranged at a predetermined arrangement pitch in the main scanning direction,
An initial film forming step of discharging droplets from each of the nozzles while scanning the head in the main scanning direction from the nozzle position to form an initial film according to the nozzle position of the nozzle;
A main shift moving step of moving the head in a sub-scanning direction orthogonal to the main scanning direction to another nozzle position beyond the nozzle position of a nozzle located next to itself;
From the main shift movement step, a sub-shift movement step of further moving by a movement amount smaller than the arrangement pitch of the nozzles,
At the shift nozzle position after the main shift moving step and the sub shift moving step, a shift film that discharges droplets from each of the nozzles while scanning the head in the main scanning direction to form a film corresponding to the shift nozzle position Forming step;
After the initial film forming step, the main shift moving step;
A film pattern drawing method, wherein the sub-shift step and the shift film forming step are repeated in this order to form a film pattern.
前記メインシフト移動工程と前記サブシフト工程とが同時に行われることを特徴とする請求項1に記載の膜パターン描画方法。 2. The method according to claim 1, wherein the main shift moving step and the sub shift step are performed simultaneously. 前記サブシフト移動工程における前記配列ピッチより小さい移動量は、複数回に亘って行われるすべてのサブシフト移動工程において等しいことを特徴とする請求項1又は2に記載の膜パターン描画方法。 The film pattern drawing method according to claim 1, wherein a moving amount smaller than the arrangement pitch in the sub-shift moving step is equal in all sub-shift moving steps performed a plurality of times. 前記シフト膜形成工程は、先に形成された膜に重なり合う位置に液滴が着弾されることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の膜パターン描画方法。 4. The film pattern drawing method according to claim 1, wherein in the shift film forming step, a droplet is landed at a position overlapping with a film formed earlier. 前記ヘッドには、一方向に配列されたノズルが主走査方向に複数段並べて設けられており、これら複数のノズルは、主走査方向から見て、前記所定ピッチで配列されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の膜パターン描画方法。 A plurality of nozzles arranged in one direction are arranged in the main scanning direction in the head, and the plurality of nozzles are arranged at the predetermined pitch when viewed from the main scanning direction. The method of drawing a film pattern according to claim 1.
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