JP6618059B1 - X線分析システム、x線分析装置及び気相分解装置 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (7)
- X線分析装置と、気相分解装置と、を有するX線分析システムであって、
前記X線分析装置は、
表面に薄膜が存在する測定試料に1次X線を照射するX線源と、
前記1次X線が前記測定試料の表面または界面で反射した反射X線の強度、または、前記1次X線により発生した蛍光X線の強度を測定する検出器と、
前記反射X線または前記蛍光X線の強度に基づいて、前記薄膜の膜厚又は付着量と、前記薄膜の密度と、を算出する演算部と、を有し、
前記気相分解装置は、
前記薄膜を気相分解する気相分解部と、
前記演算部に算出された膜厚又は付着量に基づいて、気相分解時間を決定し、決定した前記気相分解時間を前記密度に基づいて補正する制御部と、を有する、
ことを特徴とするX線分析システム。 - さらに、予め設定された膜厚又は付着量と、気相分解時間と、の関係を記憶する記憶部を有し、
前記制御部は、前記演算部に算出された膜厚又は付着量と、前記記憶部が記憶する膜厚又は付着量と気相分解時間との関係と、に基づいて、前記気相分解時間を決定する、
ことを特徴とする請求項1に記載のX線分析システム。 - 前記制御部は、前記演算部に算出された膜厚又は付着量に予め設定された定数を乗じて前記気相分解時間を決定する、
ことを特徴とする請求項1または2に記載のX線分析システム。 - 前記気相分解装置は、さらに、前記気相分解により前記測定試料に生じる液滴を乾燥させる乾燥部を有し、
前記制御部は、さらに、前記演算部に算出された膜厚又は付着量に基づいて、前記乾燥部が前記液滴を乾燥する時間を決定する、ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のX線分析システム。 - 前記制御部は、さらに、決定した前記乾燥する時間を前記密度に基づいて補正する、
ことを特徴とする請求項4に記載のX線分析システム。 - 表面に薄膜が存在する測定試料に1次X線を照射するX線源と、
前記1次X線が前記測定試料の表面または界面で反射した反射X線の強度、または、前記1次X線により発生した蛍光X線の強度を測定する検出器と、
前記反射X線または前記蛍光X線の強度に基づいて、前記薄膜の膜厚又は付着量と、前記薄膜の密度と、を算出する演算部と、
予め設定された膜厚又は付着量と、気相分解時間と、の関係を記憶する記憶部と、
補正された気相分解時間を、前記測定試料を気相分解する気相分解装置に送る通信部と、
を有し、
さらに、前記演算部は、前記算出した膜厚又は付着量と、前記予め設定された膜厚又は付着量と気相分解時間との関係と、に基づいて、前記測定試料の気相分解時間を決定し、決定した前記気相分解時間を前記密度に基づいて補正することを特徴とするX線分析装置。 - X線分析装置によって測定された測定試料の表面に存在する薄膜の膜厚又は付着量と、前記薄膜の密度と、を前記X線分析装置から取得する通信部と、
前記薄膜を気相分解する気相分解部と、
予め設定された膜厚又は付着量と、気相分解時間と、の関係を記憶する記憶部と、
前記通信部が取得した膜厚又は付着量と、前記予め設定された膜厚又は付着量と気相分解時間との関係と、に基づいて、前記測定試料の気相分解時間を決定し、決定した前記気相分解時間を前記密度に基づいて補正する制御部と、
を有することを特徴とする気相分解装置。
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