JP6603739B2 - 誘導自己組織化のためのコポリマー調合物、その製造方法、及びそれを含む物品 - Google Patents

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Description

本開示は、誘導自己組織化のためのコポリマー調合物、その製造方法に、及びそれを含む物品に関する。
ブロックコポリマーの誘導自己組織化(DSA)は、光リソグラフィの現状を拡大するための候補技術として特定されている。DSAにおいて、自己組織化ブロックコポリマーナノドメインをリソグラフィによりパターン化した基材に誘導することにより、小さなピッチサイズが達成される。DSAのための今日の先行する方法のうちの1つは、ブロックコポリマー、例えばポリスチレン−ブロック−ポリ(メチルメタクリレート)またはPS−b−PMMAの層状形態を整列させる化学パターンを含む。図1に示される好ましいプロセススキームは、一般的に架橋ポリスチレンマットから製造される希薄なガイド条片の配列をパターン化することにより開始する。これらの条片を適切な寸法にエッチング(「エッチトリミング」とも呼ばれる)した後、ブラシを条片にわたりコートし、化学グラフティングを誘発するためにベークし、次いで過剰のブラシをすすぎにより除去して、化学コントラストを有する比較的平坦な基材を得る。次いで、基材をブロックコポリマーで処理し、このブロックコポリマーは、アニール後に基材に整列して最初のパターンの密度を増す。最初にブラシを適用することと、続いてブロックコポリマー(BCP)を適用することとを含む、この2ステップ法では、ブラシの組成は、優れたDSA結果を達成するためにかなり緊密な範囲にわたり制御されなければならない。
それゆえ、ドメイン間の整列が容易に達成され得る、かつポリマーの範囲があまり緊密に制御されていない組成物を使用することが望ましい。
第1のポリマー及び第2のポリマーを含むブロックコポリマーであって、該ブロックコポリマーの第1のポリマー及び第2のポリマーが互いに異なり、ブロックコポリマーが相分離構造を形成する、ブロックコポリマーと、ポリマーを含む添加剤ポリマーであって、前記第1のポリマーとの前記ポリマーの表面張力及び前記第2のポリマーとの前記ポリマーの表面張力が両方とも、前記第1のポリマーと第2のポリマーとの間の表面張力よりも低く、前記添加剤ポリマーが、基材上に配置されたときに前記基材と結合または錯体もしくは配位体を形成する反応性官能部分を含み、前記反応性官能部分が、前記組成物の一部であるときには未反応である、添加剤ポリマーと、溶剤と、を含む、組成物が本明細書で開示される。
上記に挙げられる組成物から製造される物品も本明細書で開示される。
最初にブラシを適用し、続いてブロックコポリマーを適用することによる、ドメイン整列を含む、先行技術方法の模式的描写である。 本明細書で開示される組成物を用いて基材をパターン化する方法の例の模式的描写である。 1コートプロセス及び2コートプロセスを用いたPS−b−PMMAのDSAの原子間力顕微鏡(AFM)像を比較する、一連の顕微鏡写真を示す。(a)実施例1、ブラシP(S−MMA)−OH−30を使用、(b)実施例1、ブラシP(S−MMA)−OH−40を使用、(c)実施例1、ブラシP(S−MMA)−OH−50を使用、(d)実施例1、ブラシP(S−MMA)−OH−50を使用、(e)比較例1、ブラシP(S−MMA)−OH−30を使用、(f)比較例1、ブラシP(S−MMA)−OH−40を使用、(g)比較例1、ブラシP(S−MMA)−OH−50を使用、(h)比較例1、ブラシP(S−MMA)−OH−60を使用。 様々な量のブラシでの1コートプロセスを用いたPS−b−PMMA−28のDSAからの顕微鏡写真の比較を示す。(a)実施例5、10重量%P(S−MMA)−OH−40を使用、(b)実施例6、20重量%P(S−MMA)−OH−40を使用、(c)実施例7、10重量%P(S−MMA)−OH−60を使用、(d)実施例8、20重量%P(S−MMA)−OH−60を使用。 1コートプロセスを用いたPS−b−PMMAのDSAのAFM像を比較する、一連の顕微鏡写真である。(a)実施例9、P(S−MMA)−OH−40−6を用いて、(b)実施例10、ブラシP(S−MMA)−OH−40−8を使用、(c)実施例11、ブラシP(S−MMA)−OH−43−12を使用、(d)実施例12、ブラシP(S−MMA)−OH−40−20を使用。 実施例13からの走査電子顕微鏡(SEM)写真を示し、P(S−MMA−r−HEMA)−1での1コートプロセスを用いたPS−b−PMMA−28からの優れたDSAを示す。 酸化PDMSにより形成された指紋パターンの走査電子顕微鏡像を示す。 酸化PDMSにより形成された指紋パターンの走査電子顕微鏡像であって、パターンの劣化を有しないものを示す。 これも、酸化PDMSにより形成された指紋パターンの走査電子顕微鏡像であって、パターンの劣化を有しないものを示す。
本明細書で使用される場合、「相分離」は、「ミクロドメイン」または「ナノドメイン」、また単に「ドメイン」とも呼ばれる、別々のミクロ相分離ドメインを形成するブロックコポリマーのブロックの傾向を指す。同じモノマーのブロックは凝集して周期的ドメインを形成し、ドメインの間隔及び形態は、ブロックコポリマー中の様々なブロック間の相互作用、サイズ、及び体積分率による。ブロックコポリマーのドメインは、適用中、例えばスピンキャストステップ中、加熱ステップ中に形成してもよく、またはアニールステップにより調整してもよい。本明細書で「ベークする」とも呼ばれる「加熱」は、一般的なプロセスであり、基材及びその上にコートされた層の温度は環境温度より高く上昇される。「アニールする」は熱アニール、熱勾配アニール、溶剤蒸気アニール、または他のアニール法を含み得る。ときに「熱硬化」とも呼ばれる熱アニールは、パターンを固定する及びブロックコポリマー組織層の欠陥を除去するための特異的なベークプロセスであってもよく、一般的に高温(例えば150℃〜400℃)でのフィルム形成プロセスの終わりのまたは終わりに近い延長された期間(例えば数分〜数日)の間の加熱を含む。アニールは、行われる場合、ミクロ相分離ドメインの層(本明細書中で後に「フィルム」と呼ばれる)の欠陥を減少または除去するために使用される。
相分離を通してドメインを形成する、少なくとも、第1のモノマーの重合に由来する第1のポリマー、及び第2のモノマーの重合に由来する第2のポリマーを有するブロックコポリマーを含む自己組織化層。「ドメイン」は、本明細書で使用される場合、ブロックコポリマーの対応するブロックにより形成される、成形体結晶、半結晶、非晶質領域を意味し、これらの領域は、層状、円筒状、または球状であってもよく、基材の表面の平面と直交して、またはそれに対して直角に形成される。直角に配向した層はナノ単位の線パターンを提供し、一方、平行に配向した層により形成されるナノ単位の表面パターンは存在しない。層が基材の平面に対して平行に形成する場合、1つの層の相は(基材のx−y平面における)基材の表面で第1の層を形成し、別の層の相は第1の層上に重なる平行層を形成し、そのため、フィルムを直角(z)軸に沿って見る場合、ミクロドメインの側面パターン及び側面化学コントラストは形成しない。層が表面に対して直角に形成する場合、直角に配向した層はナノ単位の線パターンを提供し、一方で、表面に対して直角に形成する円筒はナノ単位の穴パターンを形成する。それゆえ、有用なパターンを形成するために、ブロックコポリマーにおける自己組織化ミクロドメインの配向の制御が望ましい。一実施形態では、ドメインは、約1〜約25ナノメートル(nm)、具体的には約5〜約22nm、さらにより具体的には約7〜約20nmの平均最大寸法を有してもよい。
本発明のブロックコポリマーに関して本明細書で及び付属の特許請求の範囲で使用される用語「M」は、実施例において本明細書で使用される方法に従って決定された、ブロックコポリマーの数平均分子量(g/モルの)である。
本発明のブロックコポリマーに関して本明細書で及び付属の特許請求の範囲で使用される用語「M」は、実施例において本明細書で使用される方法に従って決定された、ブロックコポリマーの重量平均分子量(g/モルの)である。
本発明のブロックコポリマーに関して本明細書で及び付属の特許請求の範囲で使用される用語「PDI」または
は、以下の式に従って決定されたブロックコポリマーの多分散性(多分散性指標または単に「分散性」とも呼ばれる)である。
PDI=M/M
移行用語「〜を含む」は、移行用語「〜からなる」及び「本質的に〜からなる」を含む。
用語「及び/または」は、「及び」及び「または」の両方を意味するために本明細書で使用される。例えば、「A及び/またはB」は、A、B、またはA及びBを意味すると解釈される。
用語「ブラシ」または「ブラシポリマー」は、基材の表面上の官能基と反応して基材に取り付けられたポリマー鎖の層を形成することができる反応性官能基を含有するポリマーを説明するために本明細書で使用される。用語「マット」または「マット様フィルム」は、それ自体でまたは架橋誘発添加剤でのいずれかで反応することができる、鎖骨格に沿った反応性置換基を有するポリマーを配置して、それが基材上に配置された後にポリマーの個々の鎖間で結合または架橋を形成することにより形成される基材上のポリマー層を説明するために使用される。ブラシポリマーは、鎖骨格が基材に対して直角に配向されるポリマーであり、一方、マットポリマーは、鎖骨格が基材に対して平行に配向されるポリマーである。
本明細書で使用されるランダムコポリマーは、2つ以上のポリマーであって、各ポリマーがコポリマーの鎖骨格に沿って単一の単位または複数の連続繰り返し単位を含み得るポリマーを含む。コポリマー鎖骨格に沿った単位のうちのいくつかが単一の単位として存在するとしても、これらは本明細書中でポリマーと呼ばれる。例えば、本明細書で言及されるランダムコポリマーは、第3のポリマー及び第4のポリマーを含むとして詳述されるが、第3のポリマーがコポリマーの鎖骨格に沿って特定のセグメント中で単一の単位として存在する場合もある。
ブロックコポリマー、及びポリマードメインの誘導自己組織化を促進する添加剤ポリマーを含む組成物(ときに本明細書で溶液とも呼ばれる)が本明細書で開示される。一実施形態では、組成物は、ブロックコポリマー及び添加剤ポリマーのいずれかが相分離を経験しない、ブロックコポリマー及び添加剤ポリマーの完全体積の緊密な混合物を含む。別の実施形態では、組成物は、ブロックコポリマー及び添加剤ポリマーに加えて溶剤を含む。溶剤は、ブロックコポリマー及び添加剤ポリマーのうちの1つまたは両方と適合性である。
ブロックコポリマーは第1のポリマー及び第2のポリマーを含み、一方、添加剤ポリマーは、反応基に共有結合される単一のポリマーまたは多数のポリマーのいずれかを含んでもよい。反応基は、基材と反応して、基材と結合(例えば共有結合)またはそうでなければ錯体もしくは配位体(例えば水素またはイオン性結合)を形成し、ブラシポリマーとして機能することができる。一実施形態では、添加剤ポリマーは、第1のポリマー及び第2のポリマーの自由エネルギーの間の自由エネルギー(または表面張力)を有する単一のポリマーまたはコポリマーであってもよい。別の実施形態では、添加剤ポリマーは、反応性官能基に加えて、ブロックコポリマーの第1のポリマーまたは第2のポリマーのいずれかの表面張力と等しい表面張力を有する単一のポリマーを含んでもよい。
別の実施形態では、添加剤ポリマーは、(反応性官能基に加えて)ブロックコポリマーの第1のポリマーと化学的に同一であるか、または実質的に化学的に類似する第3のポリマー、及びブロックコポリマーの第2のポリマーと化学的に同一であるか、または実質的に化学的に類似する第4のポリマーを含むポリマーであってもよい。さらに別の実施形態では、添加剤ポリマーは、(反応性官能基に加えて)ブロックコポリマーの第1のポリマーと化学的に同一であるか、もしくは実質的に化学的に類似するか、またはブロックコポリマーの第2のポリマーと化学的に同一であるか、もしくは実質的に化学的に類似する、単一のポリマー(例えば第3のポリマー)のみを含むポリマーであってもよい。
一実施形態では、添加剤ポリマーは、各ポリマーの表面エネルギーが、ブロックコポリマーの個々のポリマーのものより高い、また低いが、添加剤ポリマーの平均表面エネルギーは、ブロックポリマーの第1のポリマーのものと第2のポリマーのものとの間である、異なるポリマーを含むランダムコポリマーである。別の実施形態では、添加剤ポリマーは、(ブロックコポリマーの)第1のポリマーとのポリマーの表面張力、及び(ブロックコポリマーの)第2のポリマーとのポリマーの表面張力が両方とも、第1のポリマーと第2のポリマーとの間の表面張力よりも低い、ポリマーを含む。
別の実施形態では、添加剤ポリマーは、およそブロックコポリマーの第1のポリマーの表面エネルギーと第2のポリマーの表面エネルギーとの間の表面エネルギーを偶然に有するホモポリマーである。
基材上に配置される前に、添加剤ポリマー(反応基が未反応状態である、すなわち反応基が基材と反応していない)の全体積及びブロックコポリマーの全体積は、容器中で溶剤と緊密に混合され、この配合状態においてブロックコポリマーのドメインは互いにまたは添加剤ポリマーと分離されない(すなわち、それらは相分離されない)。基材上に配置された後、添加剤ポリマーはブロックコポリマーから分離し、基材と反応する。加えて、ブロックコポリマー相のドメインは水平または垂直のいずれかで互いに分離する。
ブロックコポリマー相のドメインが分離して円筒を形成する場合、円筒の長軸は基材に対して平行または基材に対して直角であってもよい。ブロックコポリマー相のドメインが分離して層を形成する場合、層の長軸のうちの少なくとも1つは基材に対して直角である。
組成物が基材上に配置された後、添加剤ポリマーは図1の基材改質層として機能し、ブロックコポリマーの層状または円筒状ドメインへの分離を可能にする。エッチングされる基材上への溶着前に添加剤ポリマーをブロックポリマーと混合することにより、添加剤ポリマーは埋め込まれた基材改質層として機能する、−すなわち、それは基材上への溶着後に組成物から分離し、反応基は基材と反応する。添加剤ポリマーが、ブロックコポリマーの第1のポリマーと第2のポリマーとの間の表面張力を有するポリマーを含む、添加剤ポリマーを有することにより、または添加剤ポリマーが、ブロックコポリマーを形成するために使用される第1及び第2のモノマーと同じもしくは類似するポリマーを含むコポリマーを含む、添加剤ポリマーを有することにより、組成物は、基材上に投じられた場合、ポリマードメインの誘導自己組織化を促進することができる。基材上への溶着前の添加剤ポリマーとブロックコポリマーとの混合は、基材上のパターンを製造するための1ステッププロセスの使用を可能にする。
組成物のポリマードメインの誘導自己組織化を促進するために上記に挙げられる組成物を使用する方法も本明細書で開示される。この方法は、添加剤ポリマーとブロックコポリマーとを共に配合することと、それらを単一のコート及びアニールステップに、またはあるいは一連のコート及びアニールステップに適用することとを含む。この方法は、それがある範囲の組成物(例えばある範囲のポリマー分子量及びある範囲の重量パーセント)がブロック及び添加剤ポリマーに使用されることを可能にし、一方で、図1に示されるプロセスにより達成され得るドメイン整列より優れたドメイン整列を提供する点で、多目的かつ強固である。驚くべきことに、このプロセスは、コート及びベークステップの数を減少させることによりプロセスを単純化するだけでなく、優れた誘導自己組織化を達成するプロセスウィンドウが、図1で詳述され、産業において現在使用される2ステッププロセスに優って顕著に改善される。
上記に詳述されるように、組成物は、ブロックコポリマー及び添加剤ポリマーを含み、ここでブロックコポリマーを形成するポリマーは、添加剤ポリマーで使用されるポリマーと化学的特徴が類似するか、または実質的に類似するかのいずれかである。
第1のポリマー及び第2のポリマーは、互いに化学的に異なり、ブロックコポリマー中にブロックで配列される。ブロックコポリマーは、多ブロックコポリマーであってもよい。一実施形態では、多ブロックは、ジブロック、トリブロック、テトラブロックなどを含み得る。ブロックは、直鎖コポリマー、有枝鎖コポリマーであって有枝鎖が骨格上に接ぎ木されるコポリマー(これらのコポリマーは、ときに「くし状コポリマー」とも呼ばれる)、星状コポリマーなどの部分であってもよい。また、ブロックは勾配で配列されてもよく、ここでブロックはポリマー鎖の1つの末端から他の末端へ増大する分子量で配列される。実施形態の例では、ブロックコポリマーは直鎖ジブロックコポリマーである。
ブロックコポリマーの、及び添加剤ポリマーの、第1のポリマーまたは第2のポリマーは互いに異なり、ポリスチレン、ポリ(メタ)アクリレート、ポリアセタール、ポリオレフィン、ポリアクリル、ポリカーボネート、ポリエステル、ポリアミド、ポリアミドイミド、ポリアリレート、ポリアリールスルホン、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンスルフィド、ポリビニルクロリド、ポリスルホン、ポリイミド、ポリエーテルイミド、ポリエーテルケトン、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエーテルケトンケトン、ポリベンゾキサゾール、ポリフタリド、ポリアンヒドリド、ポリビニルエーテル、ポリビニルチオエーテル、ポリビニルアルコール、ポリビニルケトン、ポリビニルハライド、ポリビニルニトリル、ポリビニルエステル、ポリスルホネート、ポリスルフィド、ポリチオエステル、ポリスルホン、ポリスルホンアミド、ポリ尿素、ポリホスファゼン、ポリシラザン、ポリベンゾチアゾール、ポリピラジノキノキサリン、ポリピロメリットイミド、ポリキノキサリン、ポリベンズイミダゾール、ポリオキシインドール、ポリオキソイソインドリン、ポリジオキソイソインドリン、ポリトリアジン、ポリピリダジン、ポリピペラジン、ポリピリジン、ポリピペリジン、ポリトリアゾール、ポリピラゾール、ポリピロリジン、ポリカルボラン、ポリオキサビシクロノナン、ポリジベンゾフラン、ポリフタリド、ポリシロキサンなど、または上記ポリマーのうちの少なくとも1つを含む組み合わせであってもよい。
使用に企図されるブロックコポリマーの例として、ジブロックまたはトリブロックコポリマー、例えばポリ(スチレン−b−ビニルピリジン)、ポリ(スチレン−b−ブタジエン)、ポリ(スチレン−b−イソプレン)、ポリ(スチレン−b−メチルメタクリレート)、ポリ(スチレン−b−アルケニル芳香族)、ポリ(イソプレン−b−エチレンオキシド)、ポリ(スチレン−b−(エチレン−プロピレン))、ポリ(エチレンオキシド−b−カプロラクトン)、ポリ(ブタジエン−b−エチレンオキシド)、ポリ(スチレン−b−t−ブチル(メタ)アクリレート)、ポリ(メチルメタクリレート−b−t−ブチルメタクリレート)、ポリ(エチレンオキシド−b−プロピレンオキシド)、ポリ(スチレン−b−テトラヒドロフラン)、ポリ(スチレン−b−イソプレン−b−エチレンオキシド)、ポリ(スチレン−b−ジメチルシロキサン)、ポリ(スチレン−b−トリメチルシリルメチルメタクリレート)、ポリ(メチルメタクリレート−b−ジメチルシロキサン)、ポリ(メチルメタクリレート−b−トリメチルシリルメチルメタクリレート)など、または上記ブロックコポリマーのうちの少なくとも1つを含む組み合わせが挙げられる。
一実施形態では、添加剤ポリマーはランダムコポリマーであり、ここでコポリマーの表面張力は第1のポリマーの表面張力と第2のポリマーの表面張力との間にある。使用に企図される添加剤ポリマーの例としては、ポリマー、例えばポリ(芳香族)及びポリ(アルケニル芳香族)(ポリスチレン、ポリ(t−ブチルスチレン)ポリ(2−ビニルピリジン)など)、ポリ(アルキル(メタ)アクリレート)(ポリ(メチルメタクリレート、ポリ(エチルメタクリレート、ポリ(トリメチルシリルメチルメタクリレート)など)、ポリブタジエン、ポリイソプレン、ポシシロキサン(ポリジメチルシロキサン、ポリ(メチルフェニルシロキサン);またはコポリマー、例えばポリ(スチレン−r−ビニルピリジン)、ポリ(スチレン−r−ブタジエン)、ポリ(スチレン−r−イソプレン)、ポリ(スチレン−r−メチルメタクリレート)、ポリ(t−ブチルスチレン−r−メチルメタクリレート)ポリ(スチレン−r−アルケニル芳香族)、ポリ(イソプレン−r−エチレンオキシド)、ポリ(スチレン−r−(エチレン−プロピレン))、ポリ(エチレンオキシド−r−カプロラクトン)、ポリ(ブタジエン−r−エチレンオキシド)、ポリ(スチレン−r−t−ブチル(メタ)アクリレート)、ポリ(メチルメタクリレート−r−t−ブチルメタクリレート)、ポリ(エチレンオキシド−r−プロピレンオキシド)、ポリ(スチレン−r−テトラヒドフラン)、ポリ(スチレン−r−イソプレン−r−エチレンオキシド)、ポリ(スチレン−r−ジメチルシロキサン)、ポリ(t−ブチルスチレン−r−ジメチルシロキサン)、ポリ(スチレン−r−トリメチルシリルメチルメタクリレート)、ポリ(メチルメタクリレート−r−ジメチルシロキサン、ポリ(メチルメタクリレート−r−トリメチルシリルメチルメタクリレート)など、または上記添加剤ポリマーのうちの少なくとも1つを含む組み合わせが挙げられる。
一実施形態では、添加剤ポリマーは、第1のポリマーまたは第2のポリマーと化学的に同一であるポリマーを含む。この事象では、添加剤ポリマーで使用されるポリマーは、上記に詳述されるポリマーのリストから選択してもよい。一実施形態では、添加剤ポリマーで使用されるポリマーは、第1のポリマーと、または第2のポリマーと、化学的に同一ではないが、実質的に類似する。
添加剤ポリマーは、組成物が配置される基材との結合形成または錯体化もしくは配位を促進する反応基で官能化される。反応基を以下に詳述する。
一実施形態では、ブロックコポリマーの、及び添加剤ポリマーの、第1のポリマーは(それがランダムコポリマーである場合)ビニル芳香族ポリマー(例えばポリスチレンまたはその誘導体)であり、一方、第2のポリマーはエチレン性不飽和ポリマー(例えばアクリレートポリマーまたはその誘導体)である。第1のポリマーは式(1):
の構造を有するビニル芳香族モノマーに由来し、式中、Rは水素、アルキル、またはハロゲンであり、Zは水素、ハロゲン、ヒドロキシル、またはアルキルであり、pは1〜約5である。
ブロックコポリマーの、及び/または添加剤ポリマーの、コポリマーの第1のポリマーを生成するために重合され得るビニル芳香族モノマーは、スチレン、アルキルスチレン、ヒドロキシスチレン、またはクロロスチレンである。好適なアルキルスチレンの例は、o−メチルスチレン、p−メチルスチレン、m−メチルスチレン、α−メチルスチレン、o−エチルスチレン、m−エチルスチレン、p−エチルスチレン、α−メチル−p−メチルスチレン、2,4−ジメチルスチレン、p−tert−ブチルスチレン、4−tert−ブチルスチレンなど、または上記のアルキルスチレンモノマーのうちの少なくとも1つを含む組み合わせである。(ブロックコポリマー及び添加剤ポリマーの両方の)第1のポリマーの例は、ポリスチレンまたはポリ(4−tert−ブチルスチレン)である。
上記に示されるように、ブロックコポリマーの第1のポリマーは、添加剤ポリマーで使用される第3のポリマーと化学的特徴が類似するか、または実質的に類似するかのいずれかであり得る。ブロックコポリマーの第1のポリマーが、添加剤ポリマーで使用される第3のポリマーと化学的特徴が実質的に類似する場合、ブロックコポリマーの第1のポリマーは、スチレン、アルキルスチレン、ヒドロキシスチレン、またはクロロスチレンのうちの1つであってもよく、一方、添加剤ポリマーの第3のポリマーは、ブロックコポリマーの第1のポリマーが添加剤ポリマーの第3のポリマーと化学的に同一でない限り、スチレン、アルキルスチレン、ヒドロキシスチレン、またはクロロスチレンのうちの1つであってもよい。換言すれば、ブロックコポリマーの第1のポリマーは、添加剤ポリマーの第3のポリマーと化学的に同一でないが、これら2つは、互いに化学的に適合性のポリマーを形成する(すなわち、それらは全ての割合で互いに混和性である)。
ブロックコポリマーの第1のポリマーの分子量は、それが基材上に配置される場合、コポリマーの標的ピッチに基づいて選択される。ピッチは、組成物が基材上に配置される場合、特定のブロックの連続ドメイン間の中心−中心距離の平均である。ピッチは一般的に、分子量の増大と共に増大し、そのため、第1のポリマーの分子量を制御することは、ピッチを制御するために使用され得る。好ましい実施形態では、第1のポリマーの重量平均分子量(M)は、約2kg/モル〜約200kg/モル、具体的には約5kg/モル〜約100kg/モル、より具体的には約7kg/モル〜約50kg/モルであり、1モル当たりのグラムは、多角度レーザー光散乱(MALLS)ゲル浸透クロマトグラフィー(GPC)器によりTHFを移動相として用いて1分当たり1ミリリットル(mL/分)の流速で測定される。
第1のポリマーの多分散性指標は、サイズ排除クロマトグラフィー(SEC)によりクロロホルムを移動相として用いて(35℃及び1mL/分の流速で)決定される場合、約1.20以下、具体的には約1.10以下、具体的には約1.08以下である。
ブロックコポリマーの、及び添加剤ポリマーの、第2のポリマーは(それがコポリマーである場合)、アクリレートモノマーの重合に由来する。一実施形態では、第2のポリマーは、式(2):
により表される構造を有する単位の重合から得られ、式中、Rは水素または1〜10個の炭素原子を有するアルキル基である。第1の繰り返しモノマーの例は、α−アルキルアクリレート、メタクリレート、エタクリレート、プロピルアクリレート、ブチルアクリレートなどのアクリレート及びアルキルアクリレート、または上記アクリレートのうちの少なくとも1つを含む組み合わせである。
一実施形態では、第2のポリマーは、式(3):
により表される構造を有するモノマーに由来する構造を有し、式中、Rは水素または1〜10個の炭素原子を有するアルキル基であり、RはC1−10アルキル、C3−10シクロアルキル、またはC7−10アラルキル基である。(α−アルキル)アクリレートの例は、メタクリレート、エタクリレート、プロピルアクリレート、メチルメタクリレート、メチルエチルアクリレート、メチルプロピルアクリレート、エチルエチルアクリレート、メチルアリールアクリレートなど、または上記アクリレートのうちの少なくとも1つを含む組み合わせである。用語「(α−アルキル)アクリレート」は、アクリレートまたは(α−アルキル)アクリレートのいずれかが、別段の定めなき限り、企図されることを示す。
上記に示されるように、ブロックコポリマーの第2のポリマーは、添加剤ポリマーで(それがランダムコポリマーである場合)使用される第2のポリマーに、または添加剤ポリマーで(それがランダムコポリマーではない場合)使用される単一のポリマーに、化学的特徴が類似するか、または実質的に類似するかのいずれかであってもよい。一実施形態では、ブロックコポリマーの第2のポリマーは、アクリレートまたはアルキルアクリレートのうちの1つであってもよく、一方、添加剤ポリマーの第2のポリマーは、ブロックコポリマーの第2のポリマーが添加剤ポリマーの第2のポリマーと化学的に同一でない限り、アクリレートまたはアルキルアクリレートのうちの1つであってもよい。換言すれば、ブロックコポリマーの第2のポリマーは、添加剤ポリマーの第2のポリマーと化学的に同一でないが、これら2つは、互いに化学的に適合性である(すなわち、それらは全ての割合で互いに混和性である)。
第2のポリマーの重量平均分子量(M)は、約2kg/モル〜約200kg/モル、具体的には約5kg/モル〜約100kg/モル、より具体的には約7kg/モル〜約50kg/モルであり、1モル当たりのグラムは、多角度レーザー光散乱(MALLS)ゲル浸透クロマトグラフィー(GPC)器によりTHFを移動相として用いて1分当たり1ミリリットル(mL/分)の流速で測定される。第2のポリマーの多分散性指標は、サイズ排除クロマトグラフィー(SEC)によりクロロホルムを移動相として用いて(35℃及び1mL/分の流速で)決定される場合、約1.20以下、具体的には約1.10以下、具体的には約1.08以下である。重量平均分子量を数平均分子量に変換するために、ゲル浸透クロマトグラフィー(GPC)器によりTHFを移動相として用いて1分当たり1ミリリットル(mL/分)の流速で計測される重量平均分子量を、サイズ排除クロマトグラフィー(SEC)によりクロロホルムを移動相として用いて(35℃及び1mL/分の流速で)決定される多分散性指標で割る。
第1のポリマーは、ブロックコポリマーの約15〜約85体積パーセントを含み、それは、基材に配置された場合、線/空間または穴/ポストパターンを形成し得る。線空間パターンが所望される場合、第1のブロックコポリマーは、基材上に1つの方法で配置され、ドメインを形成するようにアニールされた場合、層状形態の形成をもたらす、組成及び分子量で選択される。第1のポリマーは、層状タイプパターンを形成するのに十分な量、ブロックコポリマーの総重量に基づいて35〜65重量%、具体的には40〜60重量%で第1のブロックコポリマー中に存在する。したがって、第2のポリマーは、ブロックコポリマーの総重量に基づいて65〜35重量%、具体的には60〜40重量%の量で第1のブロックコポリマー中に存在する。
(ブロックコポリマー相が分離して円筒を形成する場合)穴またはポストパターンが所望される場合、ブロックコポリマーは、基材上に1つの方法で配置され、ドメインを形成するようにアニールされた場合、円筒状形態の形成をもたらす、組成及び分子量から選択される。第1のポリマーは、円筒状形態を形成するのに十分な量で、ブロックコポリマーの総重量に基づいて15〜35重量%、具体的には20〜30重量%の量で第1のブロックコポリマー中に存在する。したがって、第2のポリマーは、ブロックコポリマーの総重量に基づいて85〜65重量%、具体的には80〜70重量%の量で第1のブロックコポリマー中に存在する。実施形態の例では、ポリスチレン及びポリメチルメタクリレートを含むブロックコポリマーは、ポリスチレンがブロックコポリマーの合計モル数に基づいて45〜55モルパーセントの量で存在する場合、垂直の層状ドメインを生成することが見られ得る。別の実施形態の例では、ポリスチレン及びポリメチルメタクリレートを含むブロックコポリマーは、ポリスチレンがブロックコポリマーの合計モル数に基づいて20〜35モルパーセントの量で存在する場合、垂直の円筒状ドメインを生成することが見られ得る。
ブロックコポリマーの多分散性指標は、サイズ排除クロマトグラフィー(SEC)によりクロロホルムを移動相として用いて(35℃及び1mL/分の流速で)決定される場合、約1.20以下、具体的には約1.15以下、具体的には約1.10以下である。
ブロックコポリマーの重量平均分子量は、多角度レーザー光散乱ゲル浸透クロマトグラフィー及び多分散性指標を用いて決定されるように、1モル当たり約2〜約200、より具体的には約3〜約150キログラムである。実施形態の例では、ブロックコポリマーが1モル当たり約5〜約120キログラムの重量平均分子量を有することが望ましい。
ブロックコポリマーは、約40ナノメートル以下、具体的には約35ナノメートル以下、より具体的には約32ナノメートル以下、より具体的には約30ナノメートル以下の、小角度x線散乱により測定されるドメイン間の間隔を有する。
一実施形態では、組成物は2つ以上のブロックコポリマー−第1のブロックコポリマー、第2のブロックコポリマー、第3のブロックコポリマーなどを含んでもよく、ここで、各ブロックコポリマーは様々な分子量または体積パーセントを有する。実施形態の例では、組成物は2つのブロックコポリマー−第1のブロックコポリマー及び第2のブロックコポリマーを含んでもよく、それらの各々は、同じ第1のポリマー及び同じ第2のポリマーを含むが、ここで第1のブロックコポリマーは第2のブロックコポリマーとは異なる分子量または体積パーセントを有する。一実施形態では、第1のブロックコポリマーは、第2のブロックコポリマーより低い分子量を有する。
別の実施形態では、組成物は2つ以上のブロックコポリマー−第1のブロックコポリマー及び第2のブロックコポリマーを含んでもよく、ここでこれらのポリマーのうちの少なくとも1つ−第1のブロックコポリマーの第1のポリマー及び/または第2のポリマーのいずれかは、第2のブロックコポリマーの第1のポリマー及び/または第2のポリマーと化学的に同一ではないが、互いに化学的に適合性である(すなわち、それらは全ての割合で互いに混和性である)。例えば、組成物は2つのブロックコポリマー及び添加剤ポリマーを含んでもよい。第1のブロックコポリマーはポリスチレン及びポリメチルメタクリレートブロックを含み、一方、第2のブロックコポリマーはポリヒドロキシスチレン及びポリメチルメタクリレートを含み、第1のブロックコポリマーとは異なる分子量を有する。添加剤ポリマーは、例えばスチレン及びメチルメタクリレートまたはエチルメタクリレートを含んでもよい。実施形態の例では、組成物は、同一の第1のポリマー及び同一の第2のポリマーを有するが、異なる分子量を有する、2つのブロックコポリマーを含む。
ブロックコポリマーは、添加剤ポリマーに対して1:1〜30:1の重量比で組成物中に存在する。好ましい実施形態では、ブロックコポリマーは、添加剤ポリマーに対して2:1〜5:1の重量比で組成物中に存在する。
上記に詳述されるように、一実施形態では、添加剤ポリマーは、ブロックコポリマーの2つのポリマーと化学的に同一であるが、ポリマー骨格に沿ってランダムに配列される、少なくとも2つのポリマーを含む。他の実施形態では、添加剤ポリマーのうちの1つまたは両方のポリマーはブロックコポリマーを作成するために使用される1つまたは両方のモノマーとは化学的に異なってもよいが、それらの各ポリマーはブロックコポリマーのうちの1つまたは両方のポリマーについて化学的アフィニティを有する(すなわち、それらは全ての割合で互いに混和性である)。添加剤ポリマーは一般的に、基材との(すなわち、添加剤ポリマーと基材との間の)反応を促進し得るが、それ自体でまたは添加剤ポリマーの他の構成要素との反応を経験しない、1つ以上の反応基を有する(換言すれば、それは基材上での加工後に架橋されない)。このような様式で、添加剤ポリマーは、自己限定的厚さを有するブラシ層を形成する。実施形態の例では、反応性末端基はヒドロキシル部分、エステル部分、カルボン酸部分、アミン部分、チオール部分などであってもよい。
一実施形態では、添加剤ポリマーは、(基材上に配置された場合)埋め込まれた基材改質層として機能し、ブロックコポリマーのブロックを含む各ポリマーの個々の表面張力の間の表面張力を有することを特徴とし得る。換言すれば、添加剤ポリマーの表面自由エネルギーは、ブロックコポリマーの第1のポリマーの表面自由エネルギーと第2のポリマーの表面自由エネルギーとの間にある。
一実施形態では、表面改質層は、1メートル当たり0.01〜10ミリニュートン(mN/m)、具体的には0.03〜3mN/m、より具体的には0.04〜1.5mN/mの表面エネルギーの差を有する2つ以上のモノマーまたはポリマー繰り返し単位を含む添加剤ポリマーを含む。例えば、ポリスチレン及びポリメチルメタクリレートについての中立層は通常、スチレン及びメチルメタクリレートを含み、それらは各ブロックと0.04mN/mの表面エネルギーの差を有するのみである。
一実施形態では、添加剤ポリマーが、ブロックコポリマーのブロック間の平衡した表面張力を有するフィルムを形成することが望ましい。優れた結果は、表面張力が等しい場合、達成されるであろう。これは、唯一の所望の特性であり、いくつかの材料はこの最終結果を達成することができる。
一実施形態では、添加剤ポリマーは、基材の表面上の官能基と反応して基材上でブラシを形成し得る反応性官能基を含むポリマーを含む。次いで、添加剤ポリマーは、基材の表面上のブラシの形態であることが説明される。
添加剤ポリマーは、ブロックコポリマーの数平均分子量より低い数平均分子量を有し、ブロックコポリマーと比較した場合、異なるモル数の第1のモノマーまたはポリマー及び第2のモノマーまたはポリマーを含んでもよい。
実施形態の例では、添加剤ポリマーは、1モル当たり5〜100キログラム、好ましくは1モル当たり7〜50キログラムの数平均分子量を有する。添加剤ポリマーの多分散性指標は、1.05〜2.5、好ましくは1.10〜1.60である。ブロックコポリマーがPS−ブロック−PMMAである場合、添加剤ポリマーはスチレン及びメチルメタクリレートのコポリマーであってもよく、組成物中に存在する添加剤ポリマーの合計モル数に基づいて、28〜70モルパーセント、好ましくは32〜65モルパーセントのポリスチレンを含む。
添加剤ポリマーの例は、ヒドロキシル末端官能性ポリ(スチレン−r−メチルメタクリレート)(ここでスチレンとメタクリレートとの間の「r」は「ランダム」を表す)、またはポリ(スチレン)−r−ポリ(メチルメタクリレート)−r−ポリ(ヒドロキシエチルメタクリレート)である。
ブロックコポリマー及び添加剤ポリマーは、バッチプロセスで、または連続プロセスで製造することができる。バッチプロセスまたは連続プロセスは、単一または多数の反応器、単一または多数の溶剤、及び単一または多数の触媒(開始剤とも呼ばれる)を含んでもよい。
一実施形態では、ブロックコポリマーは、抗酸化剤、オゾン亀裂防止剤、離型剤、熱安定剤、平滑化剤、粘性改質剤、フリーラジカル失活剤、衝撃性改質剤などの他のポリマーまたはコポリマーなどを含有してもよい。また、組成物は、第1及び第2のブロックの表面張力の大きな不整合を有するブロックコポリマー中で、直角のドメイン配向を促進するための埋め込まれた中立層を含んでもよい。
添加剤ポリマーの調製では、第3のモノマー(これから第3のポリマーが得られる)及び/または第4のモノマー(これから第4のポリマーが得られる)、溶剤(複数可)、ならびに開始剤は、所望の割合で反応容器に添加される。容器の内容物を、熱及び撹拌に供して、添加剤ポリマーを生成する。次いで、添加剤ポリマーを、溶液から沈殿させ、以下に詳述されるようにさらなる加工に供する。
精製後のブロックコポリマー及び添加剤ポリマーを、溶剤中に溶解し、次いで、基材の表面上に配置して、ブロックが基材の表面に対して直角方向であるブロックコポリマーフィルムを形成してもよい。一実施形態では、基材の表面は、ブロックコポリマーを基材の表面上に配置する前にその上に配置される任意の表面改質層としての架橋マットを含有してもよい。
一実施形態では、基材は、基材上に配置された後に架橋されるポリマーの層を含有してもよい。層は、それが基材上に配置された後にそれ自体でまたは架橋誘発添加剤でのいずれかで反応して、ポリマーの個々の鎖間で結合または架橋を形成することができる、鎖骨格に沿った反応性置換基を有するポリマーを配置することにより形成される。次いで、この様式で架橋される層は、基材の表面上のマットまたはマット様フィルムの形態であると説明される。これは、基材上で架橋されないブラシとは区別される。
また、基材は、いくつかの領域が組成物のドメインの直角配向をもたらし、一方、他が平行配向を誘発するように、パターン化されてもよい。また、基材は、いくつかの領域が選択的にブロックコポリマーのドメインと相互作用またはこれをピン留めして、ブロックコポリマー形態の順序及び登録を誘発するように、パターン化されてもよい。また、基材は、組成物のドメインのうちの1つ以上の整列及び登録を誘発するトポグラフィーを有してもよい。組成物は、基材上に配置された後、任意に、溶剤を除去し、かつアニールプロセスでドメインを形成するために、最大350℃の温度まで最大4時間加熱される。好ましいアニール温度は、使用されるポリマーの特定の組成による。一般的に、アニールは、ブロックコポリマーの最も低いガラス遷移温度を超えるが、規則不規則遷移温度(すなわち、ブロックコポリマーが規則的な相分離状態から均一な融解への遷移を経験する温度)及びポリマーの分解温度より低い温度で行われる。PS−b−PMMAはブロックコポリマーとして使用され、アニールは一般的に、180〜300℃の間で行われる。組成物のアニールは、円筒状及び/または層状ドメインのドメイン間の間隔(すなわち、周期性)を変化させるために使用され得る。また、ドメインのサイズはアニールにより変化され得る。
図2は、本明細書で開示される組成物を用いて基材をパターン化する方法の例を示す。基材100は、その上に、作用してブロックコポリマーのドメインと相互作用する、またはこれをピン留めするマット条片102を配置している。例えば、ブロックコポリマーがポリ(スチレン−b−メチルメタクリレート)である場合、条片はポリスチレンを含んでもよい。ブロックコポリマー及び添加剤ポリマーを含む組成物は、最初に溶剤と混合され、次いで基材100上に配置される。基材100とその上に配置された組成物とは、アニールに供される。アニールプロセス中に、添加剤ポリマー104は、ブロックコポリマー106から分離し、図1でブラシコポリマーが接触したのと非常に同じ様式で表面と接触する。次いで、ブロックコポリマー106は、添加剤ポリマー104の表面上でドメインへの相分離を経験する。
組成物が基材上に配置される前に溶解される溶剤は、上記に挙げられる溶剤のうちの1つであってもよい。組成物を適合させるために有用な溶剤の例は、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテル、トルエン、アニソール、n−ブチルアセテート、イソブチルイソブチレート、ベンジルベンゾエート、シクロヘキサノン、メチル−2−ヒドロキシイソ酪酸、ガンマ−ブチロラクトン、プロピレングリコールエチルエーテル、乳酸エチルなどである。好ましい溶剤は、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートである。
アニールに際してブロックコポリマーのドメインは基材に対して直角に形成し、第1のポリマーは基材上の「ピン留め」特性に対して第1のドメイン上で形成されたパターンに整列し、第2のポリマーは第1のドメインに隣接して整列した基材上の第2のドメインを形成する。次いで、(コポリマーの第1のポリマーまたはコポリマーの第2のポリマーのいずれかから形成される)ブロックコポリマーのドメインのうちの1つを、優先的にエッチングしてもよい。次いで、レリーフパターンは、第1または第2のドメインのいずれかを除去して、下にある表面改質層の部分を露出することにより形成される。一実施形態では、除去は、酸素プラズマなどのプラズマを用いて、湿式エッチング法、現像、または乾式エッチング法により達成される。次いで、少なくとも1つのドメインが除去されたブロックコポリマーは、電子工学、半導体などの分野で使用され得る他の表面を修飾または製造するための鋳型として使用される。
本発明はさらに、以下の非限定的な実施例により例示される。
以下の材料、つまりテトラヒドロフラン(Aldrichから入手可能な99.9%純度)、スチレン(Aldrichから入手可能)、及びシクロヘキサン(Fischerから入手可能なHPCL等級)を、本明細書中の実施例で使用される前に、活性化A−2等級アルミナを充填したカラムに通した。本明細書中の実施例で使用される全ての他の材料は市販材料であり、受容後そのまま使用した。
実施例で報告されるフィルムの厚さは、NanoSpec/AFT2100 Film Thickness Measurementツールを用いて測定した。フィルムの厚さは、回折格子を通った白色光の干渉から決定した。「Polyimide on Silicon」と呼ばれる標準プログラムを、構成要素の波長(380〜780nm)を分析するために使用して、フィルムの厚さを決定した。溶着したブロックコポリマー組成物のフィルム及びブラシ層の厚さを、1つのポリマー層として共に測定した。報告したフィルムの厚さは、溶着したブロックコポリマー組成物とブラシ層との合わせた厚さである。
実施例で報告される数平均分子量、M、及び多分散性値は、Agilent1100シリーズ屈折指標及びMiniDAWN光散乱検出器(Wyatt Technology Co.)で装備したAgilent1100シリーズLCシステム上でのゲル浸透クロマトグラフィー(GPC)により測定した。試料を、約1mg/mLの濃度のHPLC等級THF中に溶解し、0.20μmシリンジフィルタを通してろ過し、その後2つのPLGel 300×7.5mm Mixed Cカラム(5mm、Polymer Laboratories,Inc.)に注入して通した。1mL/分の流速及び35℃の温度を維持した。カラムを狭分子量PS標準(EasiCal PS−2、Polymer Laboratories,Inc.)で較正した。
逆ゲイテッド13C NMR分光学を、クライオプローブで装備したBruker Avance 400MHz NMR分光計で行った。ポリマーを、室温で10mm NMR管中のCDCl中に溶解した。0.02Mクロミウムアセチルアセトネート(Cr(acac))を添加して取得時間を短縮した。典型的な試料濃度は、0.35g/2.8mLであった。全ての測定、4000〜8000走査の取得、5sの緩和遅延、12.1μsの90°パルス長、CDClについての77.27ppmのスペクトル参照、100ppmのスペクトル中心、及び300ppmのスペクトル幅を、試料の25℃でのスピニングなしで取った。
実施例中で溶着したアニールさせたフィルムを、D5000 Atomic Force Microscopeを用いて調べた。2μm×2μm相の像を、1Hz(256×256ピクセル)の走査速度で各試料について収集した。像をScanned Probe Image Processor(SPIP v 6.0.4、Image Metrology、Denmark)で分析した。実施例中で報告されるフィルムピッチLはFourier分析(2D等方性電力スペクトル密度)を用いて決定し、ここで優勢な空間波長を表すスペクトル中で最も強いピークは、材料のピッチを提供する。
添加剤ポリマー−P(S−r−MMA)−OHブラシポリマーの調製
スチレン8.19g(0.079モル)、メチルメタクリレート11.81g(0.118モル)、及び4−[1−[[(1,1−ジメチルエチル)(2−メチル−1−フェニルプロピル)アミノ]オキシ]エチル]−ベンゼンメタノール(1.02g、PGMEA中の1.2ミリモルの42.8重量%ストック溶液)を磁気撹拌棒で装備した反応フラスコに添加した。試薬を3連続凍結−ポンプ−融解周期により脱酸素した。溶液に窒素を15分間注入し、次いで120℃の事前に加熱した油槽中に10時間入れ、その後溶液を室温まで冷却した。反応混合物をTHFで希釈し、ヘプタンから沈殿させ、60℃のオーブン中で一晩乾燥させて、表1で報告される組成及び分子量のP(S−r−MMA)−OH−40−20を得た。
追加の−OH末端官能性ブラシポリマーを同じ手技を用いて、スチレン及びMMAの改変した量で調製して、表1に示されるある範囲の組成及び分子量を有するブラシポリマーを得た。
添加剤ポリマー−ポリ(スチレン)−r−ポリ(メチルメタクリレート)−r−ポリ(ヒドロキシエチルメタクリレート)ブラシP(S−r−MMA−r−HEMA)−1の調製
スチレン8.50g(0.082モル)、メチルメタクリレート10.10g(0.101モル)、ヒドロキシエチルメタクリレート1.40g(0.011)、及び4−[1−[[(1,1−ジメチルエチル)(2−メチル−1−フェニルプロピル)アミノ]オキシ]エチル]−ベンゼンメタノール(0.76g、PGMEA中の2.1ミリモルの42.8重量%ストック溶液)を磁気撹拌棒で装備した反応フラスコに添加した。試薬を3連続凍結−ポンプ−融解周期により脱酸素した。溶液に窒素を15分間注入し、次いで120℃の事前に加熱した油槽中に10時間入れ、その後溶液を室温まで冷却した。反応混合物をTHFで希釈し、ヘプタンから沈殿させ、60℃のオーブン中で一晩乾燥させて、表1で報告される組成及び分子量のP(S−r−MMA−r−HEMA)−1を得た。生成物コポリマーブラシは、13C NMRにより決定された、42.2モル%ポリスチレン、52.22モル%ポリメチルメタクリレート、及び5.55モル%HEMAの組成を示した。
PS−b−PMMAブロックコポリマーの調製
アルゴン気体下の1リットル(L)3首丸底反応器にテトラヒドロフラン(「THF」、439g)を添加した。次いで、THFを反応器中で−78℃まで冷却した。次いで、反応器の内容物をシクロヘキサン中のsec−ブチルリチウムの0.35M溶液で、反応器の内容物が持続的な薄黄色を示すまで、滴定した。次いで、反応器の内容物を、内容物の色が完全に消えるまで(約10〜15分間)、30℃まで温め、30℃に維持した。次いで、スチレン(12.84g)をカニューレを介して反応器に移した。次いで、反応器の内容物を−78℃まで冷却した。次いで、シクロヘキサン中の0.30gのsec−ブチルリチウム溶液(1.25M)をカニューレを介して反応器に素早く添加し、反応器内容物を濃い黄色に変えた。生ずる発熱線のために、反応器内容物は、反応器へのsec−ブチルリチウム溶液の添加の1分以内に10〜15℃の温度上昇を示した。次いで、反応器内容物は次の10分間にわたり−78℃まで冷却し戻った。反応器内容物をさらなる10分間撹拌した。次いで、反応器内容物のうちの少量を、形成したポリスチレンブロックのゲル浸透クロマトグラフィー分析のために、反応器から取り出した。次いで、シクロヘキサン(2.72g)中に希釈したジフェニルエチレン(0.1163g)をカニューレを介して反応器に移し、反応器内容物を濃い黄色から濃いルビー赤色に変えた。次いで、反応器の内容物を−78℃で10分間撹拌した。次いで、シクロヘキサン(6.93g)中に希釈したメチルメタクリレート(「MMA」)(13.24g)を次いで、カニューレを介して反応器へ移した。生ずる発熱線のために、反応器内容物は、MMAの添加の4分以内に−63℃まで温まり、その後−76℃まで冷却し戻った。反応器内容物をさらなる120分間撹拌し、その後、反応を無水メタノールの添加により停止させた。次いで、反応器内容物を1Lのメタノール中に沈殿させ、固体を真空ろ過により収集した。次いで、得られたフィルターケークを150mLのジクロロメタン中に溶解し、100mLの脱イオン水で2回洗浄した。次いで、溶液を1Lのメタノール中に移し、沈殿した固体を真空ろ過により収集し、60℃の真空オーブン内で一晩乾燥させて、表1に列挙される分子量、組成、及びピッチを有するPS−b−PMMA−27を得た。
PS−b−PMMA−29を同じ手技を用いて、適切に改変した量の試薬で調製して、表1に列挙される所望の分子量及び組成を得た。
比較例A〜D
これらの比較例は、PS−b−PMMAの2コート誘導自己組織化を示す。化学パターン化基材を、PGMEA中のP(S−r−MMA)−OHブラシの1.2重量%(固体)溶液を、Macromolecules,2011,44(7),pp1876−1885でLiu et al.で説明される方法を用いて調製した単離されたポリスチレン条片(84nmピッチ、15nmCD)を伴う化学エピタキシーパターン鋳型を含有する12インチウェーハーからさいの目に刻んだ個々のクーポン上で1,500rpmで1分間スピンコートすることにより調製した。P(S−r−MMA)−OH−30、P(S−r−MMA)−OH−40、P(S−r−MMA)−OH−50、P(S−r−MMA)−OH−60を、各々、比較例A〜Dの接ぎ木ブラシとして使用した(表1)。鋳型にした基材を150℃で1分間ベークし、窒素下、250℃で5分間アニールした。次いで、基材をPGMEA中に1分間浸漬し、3,000rpmで1分間スピン乾燥させ、150℃で1分間ベークした。28nmドメイン間隔の層状PS−b−PMMA(PS−b−PMMA−28)を、PS−b−PMMA−27及びPS−b−PMMA−29を1:1重量比で配合することにより調製した(ここで「27」及び「29」はナノメートルでの各ブロックコポリマーの間隔を示す)。
PS−b−PMMA−28をPGMEA中に溶解して、1.5重量%溶液を形成した。次いで、この溶液を4,400rpmで上記に説明される化学パターン化基材上にスピンコートした。コートしたフィルムを110℃で1分間ベークし、窒素下で5分間、250℃でアニールし、ステンレススチールブロック上に素早く置いて、室温まで冷却した。得られたフィルムを原子間力顕微鏡D5000AFMツールによって用いて調べた(図3a〜3dを参照のこと)。これらの像は、優れた誘導自己組織化(DSA)を達成するブラシ組成物の点で狭いウィンドウを示し、P(S−r−MMA)−OH−40を有する比較Bのみが欠陥性の低いDSAを示し、一方、他のブラシは乏しい整列及び多くの欠陥を示した。
実施例1〜4
この実施例は、本発明を対象とし、PS−b−PMMA(PS−ブロック−PMMA)の1コート誘導自己組織化を含む。28nmのドメイン間隔の層状PS−b−PMMA(PS−b−PMMA−28)を、PS−b−PMMA−27及びPS−b−PMMA−29を1:1の重量比で配合することにより調製した。PS−b−PMMA−28及びP(S−r−MMA)−OH(ポリ(スチレン−ランダム−メチルメタクリレート)−OH)ブラシ(P(S−r−MMA)−OHブラシに対して4:1の重量比のPS−b−PMMA−28で)を、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート(PGMEA)中に溶解して、1.5重量%溶液を形成した。P(S−r−MMA)−OH−30、P(S−r−MMA)−OH−40、P(S−r−MMA)−OH−50、P(S−r−MMA)−OH−60を、各々、実施例1〜4の配合ブラシとして使用した。次いで、配合調合物を、Macromolecules,2011,44(7),pp1876−1885でLiu et al.で説明される方法を用いて調製した単離されたポリスチレン条片(84nmピッチ、15nmCD)を伴う化学エピタキシーパターン鋳型を含有する12インチウェーハーからさいの目に刻んだ個々のクーポン上に3,600rpmでスピンコートした。コートしたフィルムを110℃で1分間ベークし、160℃で5分間、次いで窒素下で5分間、250℃でアニールし、ステンレススチールブロック上に素早く置いて、室温まで冷却した。得られたフィルムを原子間力顕微鏡によりD5000AFMツールを用いて調べた(図3e〜3h)。これらの像は、ブロックコポリマーとブラシとの配合での1コートプロセスについて優れた誘導自己組織化(DSA)を達成するブラシ組成物の点でかなりより広いプロセスウィンドウを示すので、それらは本発明を例示する。全ての試験したブラシは整列した層を生成し、欠陥性が低く、これは4つのブラシのうちの3つについて乏しい整列を示した比較例とは明確に対照的である。
実施例5〜6
これらの実施例は、P(S−r−MMA)−OH−40を用いる1コート誘導自己組織化のためのブラシ組成物の最適化を対象とする。1コートプロセスにおけるブラシ/BCP比の影響を調べるために、P(S−r−MMA)−40で2つの異なるブラシ濃度を調査した。28nmのドメイン間隔の層状PS−b−PMMA(PS−b−PMMA−28)を、PS−b−PMMA−27及びPS−b−PMMA−29を1:1の重量比で配合することにより調製した。PS−b−PMMA−28及びP(S−r−MMA)−OH−40ブラシをプロピレングリコールメチルエーテルアセテート(PGMEA)中に溶解して、実施例5及び6について、各々、全固体に対する10重量%及び20%(P(S−r−MMA)−OHブラシに対するPS−b−PMMAの、各々、9:1及び4:1の重量比)ロードを含有する1.5重量%溶液を形成した。次いで、配合調合物を、Macromolecules,2011,44(7),pp1876−1885でLiu et al.で説明される方法を用いて調製した単離されたポリスチレン条片(84nmピッチ、15nmCD)を伴う化学エピタキシーパターン鋳型を含有する12インチウェーハーからさいの目に刻んだ個々のクーポン上に3,600rpmでスピンコートした。コートしたフィルムを110℃で1分間ベークし、160℃で5分間、次いで窒素下で5分間、250℃でアニールし、ステンレススチールブロック上に素早く置いて、室温まで冷却した。PMMAを反応性イオンエッチング(RIE)によりPlasma Therm 790i RIEを用いてプラズマ安定化後16秒間のOプラズマ(6mTorr,90W)RIE処理で除去した。次いで、プラズマ処理したフィルムをAMRAY 1910 Field Emission走査電子顕微鏡(SEM)を用いて調べた。試験試料を、SEMステージ上に両面炭素テープを用いて載せ、分析前に窒素を吹き付けることによりきれいにした。試験試料の各々の像を、50,000×拡大で収集した。代表的な顕微鏡写真を、図4a〜4b中に示す。これらの像は、10%を超えるブラシがこの調合物について優れたDSA結果を達成するために必要とされることを明らかにする。多くの欠陥及び不整列層が、図3aの10重量%ブラシロードの実施例5について観察され、一方、図3bの20重量%ブラシロードの実施例6は欠陥のないDSAを示した。
実施例7〜8
これらの実施例は、P(S−r−MMA)−OH−60を用いる1コート誘導自己組織化のためのブラシ組成物の最適化を対象とする。1コートプロセスにおけるブラシ/BCP比の影響を調べるために、P(S−r−MMA)−60で2つの異なるブラシ濃度を調査した。28nmのドメイン間隔の層状PS−b−PMMA(PS−b−PMMA−28)を、PS−b−PMMA−27及びPS−b−PMMA−29を1:1の重量比で配合することにより調製した。PS−b−PMMA−28及びP(S−r−MMA)−OH−60ブラシをプロピレングリコールメチルエーテルアセテート(PGMEA)中に溶解して、実施例5及び6について、各々、全固体に対する10重量%及び20%(P(S−r−MMA)−OHブラシに対するPS−b−PMMAの、各々、9:1及び4:1の重量比)ロードを含有する1.5重量%溶液を形成した。次いで、配合調合物を、Macromolecules,2011,44(7),pp1876−1885でLiu et al.で説明される方法を用いて調製した単離されたポリスチレン条片(84nmピッチ、15nmCD)を伴う化学エピタキシーパターン鋳型を含有する12インチウェーハーからさいの目に刻んだ個々のクーポン上に3,600rpmでスピンコートした。コートしたフィルムを110℃で1分間ベークし、160℃で5分間、次いで窒素下で5分間、250℃でアニールし、ステンレススチールブロック上に素早く置いて、室温まで冷却した。PMMAを反応性イオンエッチング(RIE)によりPlasma Therm 790i RIEを用いてプラズマ安定化後16秒間のOプラズマ(6mTorr,90W)RIE処理で除去した。次いで、プラズマ処理したフィルムをAMRAY 1910 Field Emission走査電子顕微鏡(SEM)を用いて調べた。試験試料を、SEMステージ上に両面炭素テープを用いて載せ、分析前に窒素を吹き付けることによりきれいにした。試験試料の各々の像を、50,000×拡大で収集した。代表的な顕微鏡写真を、図4c〜4d中に示す。これらの像は、10%を超えるブラシがこの調合物についても優れたDSA結果を達成するために必要とされることを明らかにする。多くの欠陥及び不整列層が、図4cの10重量%ブラシロードの実施例7について観察され、一方、図4dの20重量%ブラシロードの実施例8は欠陥のないDSAを示した。
実施例9〜12
これらの実施例は、PS−b−PMMAの1コート誘導自己組織化を対象とする。1コートプロセスでDSAの成功を示すために必要とされるブラシ分子量を特定するために、類似する組成であるが異なる分子量の一連のブラシを調べた。28nmのドメイン間隔の層状PS−b−PMMA(PS−b−PMMA−28)を、PS−b−PMMA−27及びPS−b−PMMA−29を1:1の重量比で配合することにより調製した。PS−b−PMMA−28及びP(S−r−MMA)−OHブラシ(全固体に対して20重量%ロード、P(S−r−MMA)−OHブラシに対して4:1の重量比のPS−b−PMMA)を、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート(PGMEA)中に溶解して、1.5重量%溶液を形成した。P(S−r−MMA)−OH−40−6、P(S−r−MMA)−OH−40−8、P(S−r−MMA)−OH−40−12、及びP(S−r−MMA)−OH−40−20を、各々、実施例9〜12で配合ブラシとして使用した。次いで、配合調合物を、Macromolecules,2011,44(7),pp1876−1885でLiu et al.で説明される方法を用いて調製した単離されたポリスチレン条片(84nmピッチ、15nmCD)を伴う化学エピタキシーパターン鋳型を含有する12インチウェーハーからさいの目に刻んだ個々のクーポン上に3,600rpmでスピンコートした。コートしたフィルムを110℃で1分間ベークし、160℃で5分間、次いで窒素下で5分間、250℃でアニールし、ステンレススチールブロック上に素早く置いて、室温まで冷却した。PMMAを反応性イオンエッチング(RIE)によりPlasma Therm 790i RIEを用いてプラズマ安定化後16秒間のOプラズマ(6mTorr,90W)RIE処理で除去した。次いで、プラズマ処理したフィルムをAMRAY 1910 Field Emission走査電子顕微鏡(SEM)を用いて調べた。試験試料を、SEMステージ上に両面炭素テープを用いて載せ、分析前に窒素を吹き付けることによりきれいにした。試験試料の各々の像を、50,000×拡大で収集した。代表的な顕微鏡写真を、図5a〜5d中に示す。実施例9で使用した最も低い分子量のブラシは、線の間の架橋の形態においてより欠陥を示し、これはおそらく、ブロックコポリマーの上部表面(すなわち、ポリマー−空気境界面)へのブラシの移行のためである。しかしながら、実施例10〜12で使用した、より高い分子量のブラシは、線架橋の証拠を示さなかった。
実施例13
これらの実施例は、PS−b−PMMAの1コート誘導自己組織化を対象とする。28nmのドメイン間隔の層状PS−b−PMMA(PS−b−PMMA−28)を、PS−b−PMMA−27及びPS−b−PMMA−29を1:1の重量比で配合することにより調製した。PS−b−PMMA−28及びP(S−r−MMA−r−HEMA)−1ブラシ(全固体に対して20重量%ロード、P(S−r−MMA)−OHブラシに対して4:1の重量比のPS−b−PMMA)を、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート(PGMEA)中に溶解して、1.5重量%溶液を形成した。次いで、配合調合物を、Macromolecules,2011,44(7),pp1876−1885でLiu et al.で説明される方法を用いて調製した単離されたポリスチレン条片(84nmピッチ、15nmCD)を伴う化学エピタキシーパターン鋳型を含有する12インチウェーハーからさいの目に刻んだ個々のクーポン上に3,600rpmでスピンコートした。コートしたフィルムを110℃で1分間ベークし、160℃で5分間、次いで窒素下で5分間、250℃でアニールし、ステンレススチールブロック上に素早く置いて、室温まで冷却した。PMMAを反応性イオンエッチング(RIE)によりPlasma Therm 790i RIEを用いてプラズマ安定化後16秒間のOプラズマ(6mTorr,90W)RIE処理で除去した。次いで、プラズマ処理したフィルムをAMRAY 1910 Field Emission走査電子顕微鏡(SEM)を用いて調べた。
試験試料を、SEMステージ上に両面炭素テープを用いて載せ、分析前に窒素を吹き付けることによりきれいにした。試験試料の各々の像を、50,000×拡大で収集した。代表的な顕微鏡写真を、図6中に示す。この顕微鏡写真は、P(S−r−MMA−r−HEMA)ブラシが、ブロックコポリマーと配合された場合、1コートプロセスにおいて優れた誘導自己組織化(DSA)を達成するのに有効であることを示す。
比較例E
この比較例は、ポリスチレン及びポリジメチルシロキサンのブロックコポリマー(PS−b−PDMS)の2コート誘導自己組織化を示す。34nmのドメイン間隔のPS−b−PDMS(PS−b−PDMS−34)の円筒状形態を形成する調合物を、PS−b−PDMS−1のPGMEA溶液を、1.22重量%溶液で85:15重量比のPS−b−PDMS−2と配合することにより調製した。PGMEA中のPS−OH−1(Mn=10kg/モル)の溶液を1.2重量%で調製した。PS−OH−1溶液を、自然酸化物コートを有するシリコンウェーハー上に1,500rpmでスピンコートした。コートしたフィルムを窒素下で2分間、250℃でベークし、ステンレススチールブロック上に素早く置いて、室温まで冷却した。次いで、ウェーハーを、ウェーハー上のパドルをコートし、30秒間のパドル時間後にスピン乾燥することによりPGMEAですすぎ、その後、130℃で1分間ソフトベークして、残留溶剤を除去した。次いで、PS−ブラシ付きウェーハーを、1,000rpmでスピンコートすることによりPS−b−PDMS−34の薄いフィルムでコートし、130℃で1分間ソフトベークして残留溶剤を除去し、窒素下で2分間、340℃でアニールした。次いで、反応性イオンエッチを、Plasma Therm 790+を用いて2段階エッチを用いて行い、最初にCHFを用いて(50sccm、100W、10mTorr圧)PDMSの上部層を除去し、次に酸素エッチでPSを除去し、PDMSを酸化した(25sccm、180W、6mTorr圧)。パターンの代表的なSEM像を図7に示し、これは酸化PDMSにより形成された指紋パターンを示す。
実施例14
34nmのドメイン間隔のPS−b−PDMS(PS−b−PDMS−34)の円筒状形態を形成する調合物を、PS−b−PDMS−1のPGMEA溶液を、1.22重量%溶液で85:15重量比のPS−b−PDMS−2と配合することにより調製した。PS−OH−1(0.030g)を10gのこの溶液に添加して、PS−b−PDMS−34及びPS−OH−1ブラシの両方を含有する溶液を形成した。自然酸化物コートを有するシリコンウェーハーを、1,000rpmでスピンコートすることによりこの組成物の薄いフィルムでコートし、130℃で1分間ソフトベークして残留溶剤を除去し、窒素下で2分間、340℃でアニールした。次いで、反応性イオンエッチを、Plasma Therm 790+を用いて2段階エッチを用いて行い、最初にCHFを用いて(50sccm、100W、10mTorr圧)PDMSの上部層を除去し、次に酸素エッチでPSを除去し、PDMSを酸化した(25sccm、180W、6mTorr圧)。パターンの代表的なSEM像を図8に示し、これは酸化PDMSにより形成された指紋パターン及びパターンの劣化がないことを示す。これは、ブロックコポリマー及びブラシの組成物が、別々のステップでブラシ及びブロックコポリマーをコート及びアニールする2ステッププロセスを削除し、これにより全体的な加工コストを大いに減少させるために使用され得ることを示す。
実施例15
34nmのドメイン間隔のPS−b−PDMS(PS−b−PDMS−34)の円筒状形態を形成する調合物を、PS−b−PDMS−1のPGMEA溶液を、1.22重量%溶液で85:15重量比のPS−b−PDMS−2と配合することにより調製した。PS−OH−2(0.050g)を10gのこの溶液に添加して、PS−b−PDMS−34及びPS−OH−2ブラシの両方を含有する溶液を形成した。自然酸化物コートを有するシリコンウェーハーを、1,000rpmでスピンコートすることによりこの組成物の薄いフィルムでコートし、130℃で1分間ソフトベークして残留溶剤を除去し、窒素下で2分間、340℃でアニールした。次いで、反応性イオンエッチを、Plasma Therm 790+を用いて2段階エッチを用いて行い、最初にCHFを用いて(50sccm、100W、10mTorr圧)PDMSの上部層を除去し、次に酸素エッチでPSを除去し、PDMSを酸化した(25sccm、180W、6mTorr圧)。パターンの代表的なSEM像を図9に示し、これは酸化PDMSにより形成された指紋パターン及びパターンの劣化がないことを示す。これは、ブロックコポリマー及びブラシの組成物が、別々のステップでブラシ及びブロックコポリマーをコート及びアニールする2ステッププロセスを削除し、これにより全体的な加工コストを大いに減少させるために使用され得ることを示す。

Claims (10)

  1. 組成物であって、
    第1のポリマー及び第2のポリマーを含むブロックコポリマーであって、前記ブロックコポリマーの前記第1のポリマー及び前記第2のポリマーが互いに異なり、前記ブロックコポリマーが相分離構造を形成する、ブロックコポリマーと、
    ポリマーを含む添加剤ポリマーであって、前記ポリマーと前記第1のポリマーとの間の界面における前記ポリマーの界面張力及び前記ポリマーと前記第2のポリマーとの間の界面における前記ポリマーの界面張力が両方とも、前記第1のポリマーと第2のポリマーとの間の界面における前記第1のポリマーの界面張力よりも低く、前記添加剤ポリマーが、基材上に配置されたときに前記基材と結合または錯体もしくは配位体を形成する反応性官能部分を含み、前記添加剤ポリマーが前記ブロックコポリマーから分離する前には前記反応性官能部分が未反応である、添加剤ポリマーと、
    溶剤との体積の混合物であって、前記ブロックコポリマーは、前記添加剤ポリマーに対して2:1〜5:1の重量比で前記組成物中に存在する前記混合物を含む、前記組成物。
  2. 前記添加剤ポリマーが、第3のポリマー及び第4のポリマーを含むポリマーであり、前記添加剤ポリマーの前記第3のポリマー及び前記第4のポリマーが互いに異なり、前記ブロックコポリマーの前記第1のポリマーが、前記添加剤ポリマーの前記第3のポリマーと化学的に同一であるか、または前記ブロックコポリマーの前記第2のポリマーが、前記添加剤ポリマーの前記第4のポリマーと化学的に同一である、請求項1に記載の前記組成物。
  3. 前記第1のポリマー及び前記第3のポリマーが、式(1):

    の構造を有する単位の重合によって得られるビニル芳香族ポリマーであり、式中、Rが、水素、アルキル、ハロアルキル、またはハロゲンであり、Zが、水素、ハロゲン、ヒドロキシル、ハロアルキル、またはアルキルであり、pが1〜5である、請求項2に記載の前記組成物。
  4. 前記第2のポリマー及び前記第4のポリマーが、式(2):

    によって表わされる構造を有する単位の重合から得られ、式中、Rが水素または1〜10個の炭素原子を有するアルキル基であるまたは前記第2のポリマーが、式(3):

    によって表わされる構造を有するモノマーに由来する構造を有し、式中、Rが、水素または1〜10個の炭素原子を有するアルキル基であり、Rが、C1−10アルキル、C3−10シクロアルキル、またはC7−10アラルキル基である、請求項2に記載の前記組成物。
  5. 前記添加剤ポリマーが、ヒドロキシル末端官能化ポリ(スチレン−r−メチルメタクリレート)またはヒドロキシル末端官能化ポリ(スチレン)−r−ポリ(メチルメタクリレート)−r−ポリ(ヒドロキシエチルメタクリレート)である、請求項1に記載の前記組成物。
  6. 前記添加剤ポリマーがランダムコポリマーであり、前記添加剤ポリマーが前記ブロックコポリマーより低い分子量を有する、請求項1に記載の前記組成物。
  7. 前記添加剤ポリマーが、それぞれのポリマーの表面エネルギーが前記ブロックコポリマーの前記第1のポリマーのもの及び前記第2のポリマーのものより高い及び低い複数の異なるポリマーを含むランダムコポリマーであり、ただし、前記添加剤ポリマーの平均表面エネルギーは、前記ブロックポリマーの前記第1のポリマーのものと前記第2のポリマーのものとの間である、請求項1に記載の前記組成物。
  8. 前記添加剤ポリマーが、ブロックコポリマーまたはホモポリマーである、請求項1に記載の前記組成物。
  9. 第1のポリマー及び前記第2のポリマーが、前記ブロックコポリマー中に、円筒状形態を形成するのに十分な量で存在し、前記ブロックコポリマーの総重量に基づいて、前記第1のポリマーが15〜35重量%の量で存在し、前記第2のポリマーが前記ブロックコポリマー中に85〜65重量%の量で存在する、請求項1に記載の前記組成物。
  10. 第1のポリマー及び前記第2のポリマーが、前記ブロックコポリマー中に、層状形態を形成するのに十分な量で存在し、前記ブロックコポリマーの総重量に基づいて、前記第1のポリマーが35〜65重量%の量で存在し、前記第2のポリマーが前記ブロックコポリマー中に35〜65重量%の量で存在する、請求項1に記載の前記組成物。
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