JP6599240B2 - シルフェニレン化合物、その製造方法、該シルフェニレン化合物を含有するエポキシ樹脂組成物、及び該組成物の用途 - Google Patents
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で表されるシルフェニレン化合物。
で表される基である、項1に記載のシルフェニレン化合物。
で表されるシラン化合物、及び式(3):
で表されるイソシアヌレート化合物を反応させることを特徴とする製造方法。
式(1)中、R1は同一又は異なって、C1〜18のアルキル基、シクロアルキル基、アリール基又はアラルキル基であり、これらの基は、一部の炭素原子が酸素原子で置換されていてもよい。当該一部の炭素原子は、ケイ素原子に直接結合していない炭素原子であることが好ましい。
で表される基、或いは、式(5):
で表される基が挙げられる。
で表される基であり、より好ましくはR5がエチレン基(ジメチレン基)であり、nが1である。
式(2)で表されるシラン化合物の具体例としては、例えば、1,4−ビス(ジメチルシリル)ベンゼン、1,4−ビス(ジエチルシリル)ベンゼン、1,4−ビス(ジフェニルシリル)ベンゼン、1,4−ビス(メチルフェニルシリル)ベンゼンなどが挙げられる。
攪拌機、温度計、還流冷却器及び窒素導入管を備えた200mlフラスコに1−アリル−3,5−ジグリシジルイソシアヌレート 11g(0.040モル)、2質量%塩化白金酸のエタノール溶液0.054g及びトルエン50gを投入し、オイルバスを用いて内温が70℃になるように加熱し、撹拌した。
表1に記載した配合量で各成分を均一に混合し、その後、充分に脱気することでエポキシ樹脂組成物を調製した。
・エポキシ樹脂B:Bis−A型エポキシ樹脂(jERグレード828、三菱化学(株)製)
・エポキシ樹脂C:1−アリル−3,5−ジグリシジルイソシアヌレート(MA−DGIC、四国化成(株)製)
・エポキシ樹脂D:トリグリシジルイソシアヌレート(TGIC、東京化成工業(株)製)
・エポキシ樹脂E:1−トリエチルシリルトリメチレン−3,5−ジグリシジルイソシアヌレート(特許文献1の実施例1に記載されている手順に従って調整した。)
・エポキシ樹脂F:1−ジメチルフェニルシリルトリメチレン−3,5−ジグリシジルイソシアヌレート(特許文献1の実施例2に記載されている手順に従って調整した。)
・硬化剤(酸無水物系硬化剤):4−メチルヘキサヒドロフタル酸無水物/ヘキサヒドロフタル酸無水物=70/30(リカシッド MH−700、新日本理化(株)製)
・硬化促進剤:2−エチル−4−メチルイミダゾール(2E4MZ、三菱化学(株)製)。
(1)ガラス転移温度
長さ150mm×幅8mm×厚み1mmの内容積の円柱型重合用セルを用意した。ここに、各エポキシ樹脂組成物を流し込み、150℃で2時間、さらに200℃で2時間の温度条件で硬化後、室温まで冷却した。円柱型重合用セルをはずして、エポキシ樹脂組成物の硬化物を得た。
得られたエポキシ樹脂組成物の硬化物より、10mgの試験片を切り出し、示差−熱重量同時測定装置(TG/DTA)(理学社製)を用いて5%重量減少温度を測定した。なお、測定は、測定温度範囲:35℃〜500℃、昇温速度:10℃/分の条件で実施した。
長さ50mm×幅25mm×2mmの内容積の長方形型重合用セルに各エポキシ樹脂組成物を流し込み、150℃で2時間、さらに200℃で2時間の温度条件で硬化後、室温まで冷却した。得られた硬化物をインピーダンス/マテリアル・アナライザー(Agilent社製)を用いて、1GHzの周波数における比誘電率及び誘電正接を25℃にて測定した。
Claims (8)
- 式(1):
R2は同一又は異なって、C2〜18のアルキレン基であり、この基は、一部の炭素原子が酸素原子で置換されていてもよく、
R3は同一又は異なって、エポキシ基を含有する基である。)
で表されるシルフェニレン化合物。 - 式(1)において、R1が同一又は異なって、C1〜3のアルキル基であり、R2が同一又は異なって、C2〜4のアルキレン基であり、この基は、一部の炭素原子が酸素原子で置換されていてもよく、R3が同一又は異なって、式(4):
で表される基である、前記請求項1に記載のシルフェニレン化合物。 - 前記請求項1又は2に記載のシルフェニレン化合物を含有するエポキシ樹脂組成物。
- 前記請求項3に記載のエポキシ樹脂組成物を硬化した物。
- 前記請求項1に記載のシルフェニレン化合物の製造方法であって、式(2):
で表されるシラン化合物、及び式(3):
で表されるイソシアヌレート化合物を反応させることを特徴とする製造方法。 - 前記請求項3に記載のエポキシ樹脂組成物、又はその硬化物が用いられている半導体封止体、液状封止材、ポッティング材、シール材、プリント基板材料又は複合材料。
- 半導体封止体、液状封止材、ポッティング材、シール材、プリント基板材料又は複合材料の用途に用いられる前記請求項3に記載のエポキシ樹脂組成物。
- 半導体封止体、液状封止材、ポッティング材、シール材、プリント基板材料又は複合材料を製造するための前記請求項3に記載のエポキシ樹脂組成物の使用。
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