JP6598087B2 - X線装置における散乱に関する改善及び該x線装置を使用する方法 - Google Patents
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Description
物質の種類及び/又は物質の厚さを表す値に関する第1データベース、
物質の種類及び/又は物質の厚さを示す散乱放射線値に関する第2データベース、
i)X線検出器の各画素の出力信号と第1データベースの値とを比較して、第1データベースから最も近い物質及び/又は厚さを出力し;
ii)第2データベースから、ステップ(i)における物質の種類及び/又は厚さと関連付けられる散乱放射線を選択し;
iii)散乱放射線を、X線検出器の出力信号から除去する
アルゴリズムを実行するよう構成されたプロセッサ
を更に含むX線装置が提供される。
隣接する領域が入射X線エネルギに対して異なる透明性を有する、繰返しパターンで形成されてもよい。
Claims (15)
- X線源及びピクセル化X線検出器を含み、被写体である物質にX線を照射してX線画像を生成するX線装置であって、該装置は:
物質の種類及び物質の厚さを表す値に関する第1データベース、
物質の種類及び物質の厚さに関連付けられる散乱放射線値に関する第2データベース、
i)前記X線検出器の出力信号と、前記第1データベースの値とを比較して、前記第1データベースから最も近い物質の種類及び物質の厚さを出力し;
ii)前記第2データベースから、ステップiにおける出力、又は、アルゴリズムにおける前の繰返しで識別された物質の種類及び物質の厚さ、と関連付けられる散乱放射線を導出し;
iii)前記散乱放射線を、前記X線検出器の出力信号から除去し;
iv)ステップiiiの出力に対して、物質の種類及び物質の厚さ識別ステップを実行し;
v)アルゴリズムのステップii、iii、及び、ivの少なくとも1回の更なる繰返しにおいて、識別ステップで識別された物質の種類及び物質の厚さを利用する、
アルゴリズムを実行するよう構成されたプロセッサ
を更に含み、
修正されたX線出力信号が最適化されていると判定されたとき、前記繰返しは停止され、前記修正されたX線出力信号が最適化されているか否かを判定するステップは、
現繰返しにおいて識別された物質の種類及び物質の厚さを示す値を、前の繰返しにおいて識別された物質の種類及び物質の厚さを示す値、又は複数の前の繰返しにおいて識別された物質の種類及び物質の厚さを示す値の平均と比較すること;及び
前記現繰返しにおいて識別された物質の種類及び物質の厚さを示す値が、前記前の繰返しにおいて識別された物質の種類及び物質の厚さを示す値、又は複数の前の繰返しにおいて識別された物質の種類及び物質の厚さを示す値の平均の閾値範囲内であるかを判定すること;を含み、
前記比較された値が前記閾値内にある場合、前記アルゴリズムのステップ(ii)〜(iv)の再繰返しは、停止される、
X線装置。 - 前記アルゴリズムは、除去された散乱放射線のX線光子が散乱しなければ相互作用したであろう前記検出器の空間的位置の出力信号に、前記除去された散乱放射線を加えることによって、前記X線検出器の前記出力信号を修正する更なるステップを含む、請求項1に記載のX線装置。
- 前記X線出力信号は、前記X線検出器の各画素に関するX線出力信号である、請求項1又は2に記載のX線装置。
- 前記アルゴリズムは、前記各画素に関するX線出力信号に対して実行される、請求項3に記載のX線装置。
- 物質の種類及び物質の厚さに関連付けられる散乱放射線値の前記第2データベースの散乱値は、散乱カーネルである、請求項1乃至4の何れかに記載のX線装置。
- 前記データベースは、対象となる物質の範囲の一部に関する素性及び厚さを表す散乱カーネルを追加される、請求項5に記載のX線装置。
- 前記X線検出器の出力信号から散乱放射線を除去するステップは、前記検出器の各画素に関して、ステップiiで前記データベースから選択された散乱カーネルから散乱カーネルを補間するステップを含む、請求項6に記載のX線装置。
- 各画素に関連付けられる補間された散乱カーネルからX線検出器出力信号全体に対する散乱推定値を生成する更なるステップを含む、請求項7に記載のX線装置。
- 被写体である物質にX線を照射して生成されたX線画像におけるコントラスト対ノイズ比を改善する方法であって、該方法は:
i)X線検出器の出力信号を、物質の種類及び物質の厚さを表す第1データベース値にある値と比較し、前記第1データベースから最も近い物質の種類及び物質の厚さを出力するステップ;
ii)物質の種類及び物質の厚さに関連付けられる散乱放射線値に関する第2データベースから、ステップiにおける出力、又は、前の繰返しで識別された物質の種類及び物質の厚さと関連付けられる散乱放射線を導出するステップ;
iii)前記散乱放射線を、前記X線検出器の前記出力信号から除去するステップ;
iv)ステップiiiの出力に対して、物質の種類及び物質の厚さ識別ステップを実行するステップ;
v)アルゴリズムのステップii、iii、及び、ivの少なくとも1回の更なる繰返しにおいて、識別ステップで識別された物質の種類及び物質の厚さを利用するステップ、
を含み、
修正されたX線出力信号が最適化されていると判定されたとき、前記繰返しは停止され、前記修正されたX線出力信号が最適化されているか否かを判定するステップは、
現繰返しにおいて識別された物質の種類及び物質の厚さを示す値を、前の繰返しにおいて識別された物質の種類及び物質の厚さを示す値、又は複数の前の繰返しにおいて識別された物質の種類及び物質の厚さを示す値の平均と比較するステップ;及び
前記現繰返しにおいて識別された物質の種類及び物質の厚さを示す値が、前記前の繰返しにおいて識別された物質の種類及び物質の厚さを示す値、又は複数の前の繰返しにおいて識別された物質の種類及び物質の厚さを示す値の平均の閾値範囲内であるかを判定するステップ;を含み、
前記比較された値が前記閾値内にある場合、前記アルゴリズムのステップ(ii)〜(iv)の再繰返しは、停止される、
方法。 - 前記除去された散乱放射線のX線光子が散乱しなければ相互作用したであろう前記検出器の空間的位置での出力信号に、前記除去された散乱放射線を加えることによって、前記X線検出器の前記出力信号を修正する更なるステップを含む、請求項9に記載の方法。
- 前記X線検出器の出力信号は、前記X線検出器の画素からの出力信号であり、請求項9又は10の方法ステップは、各画素の出力に対して実行される、請求項9又は10に記載の方法。
- 物質の種類及び物質の厚さに関連付けられる散乱放射線値の前記第2データベースの散乱値は、散乱カーネルである、請求項9乃至11の何れかに記載の方法。
- 前記データベースは、対象となる物質の範囲の一部に関する素性及び厚さを表す散乱カーネルを追加される、請求項12に記載の方法。
- 前記X線検出器の出力信号から散乱放射線を除去するステップは、前記検出器の各画素に関して、ステップiiで前記データベースから選択された散乱カーネルから散乱カーネルを補間するステップを含む、請求項13に記載の方法。
- 各画素に関連付けられる補間された散乱カーネルからX線検出器出力信号全体に対する散乱推定値を生成する更なるステップを含む、請求項14に記載の方法。
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