JP7185236B2 - 放射線撮影システムで散乱を補正するための装置および方法 - Google Patents
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Description
i.1組の少なくとも1つのトレーニング材料を提供するステップであって、その組は、異なる材料、および/またはその材料の、または各材料の異なる厚さを備えるステップと、
ii.画素化検出器を用いて、少なくとも1つのトレーニング材料の観察X線画像を得るステップと、
iii.少なくとも1つのトレーニング材料ごとに、シミュレータ内部の可変パラメータに関してシミュレートされた散乱カーネルのデータベースをシミュレータ内に構築するステップと、
iv.観察画像のパラメータとシミュレータにより作成された画像のパラメータを比較し、シミュレータへの入力パラメータを識別するステップであって、シミュレータへの入力パラメータは、識別されたシミュレータの入力パラメータと、サンプルの種類および厚さとは無関係な観察画像のパラメータとの間の伝達関数を生み出すステップと、
v.伝達関数を生成するステップと、
vi.画素化検出器を用いて、少なくとも1つのトレーニング材料に類似する少なくとも1つの材料を含有するサンプルの観察X線画像を得るステップと、
vii.サンプルに含有される材料の種類および/または厚さの初期推定を行うステップと、
viii.複数の空間的に分離されたサンプル上の点の各々から検出器の各画素まで、サンプルの材料および厚さがあたかもステップviiiの推定に対応するかのように、サンプルに対して光線経路トレースを遂行するステップと、
ix.光線経路トレースの広がり関数に対応する散乱カーネルを散乱カーネルデータベースから得て、
x.散乱カーネルごとに散乱を合計して、画像全体の散乱推定を提供して、
xi.散乱カーネルごとに直接放射線を予測して、
xii.散乱推定および直接放射線に伝達関数を適用して、または観察強度値に逆伝達関数を適用して、
xiii.Zが観察強度値であり、Sが伝達関数適用後の散乱放射線であり、Dが伝達関数適用後の直接放射線である場合、Z-S-D<しきい値の計算を遂行して、
xiv.Z-S-D<しきい値である場合、ZからSを減算して、散乱のないデータおよび/または散乱のない画像を提供するステップと
を備えるX線画像化方法が提供される。
トレーニング材料のグループを選択する。トレーニング材料は、本発明の装置および方法が提案する使用法で遭遇する材料であり得る、または本発明の装置および方法が使用される材料と比べて非常に類似する影響をX線光子に及ぼす材料であり得る。
取込み前較正
本方法は、明視野画像および暗視野画像の集合体を伴う、X線源および検出器の取込み前補正を含み得る。
画素化検出器3により散乱物体のX線画像(Z)を取り込む。
ステップ1:散乱を推定する第1のステップでは、X線画像(Z)に基づき、散乱物体の材料の種類および厚さの初期推定を行う。この推定の基礎は、本発明の装置および方法が据え付けられる設備の種類に依存し得る。たとえば、初期推定は、個々の画素もしくは画素グループに関する強度値、トレーニング材料のデータベースに含有される材料および材料の厚さに関係がある統計値に基づき得る、しかしながらまたは初期推定は、ランダムな推測であり得る。
上記で言及するシミュレーションは、図3に示すシミュレーションモデルを使用して行われ、このシミュレーションモデルは、異なる材料および異なる材料の異なる厚さが、異なる材料の上にX線光子のペンシルビームが入射したときにどのように散乱するかをシミュレートする。
表1:ASGを使用することに対する検出器線量およびSNRの改善の概要
Claims (10)
- X線画像化方法であって、
i.1組の少なくとも1つのトレーニング材料を提供するステップであって、前記組は、異なる材料、および/または前記材料の、もしくは各材料の異なる厚さを備えるステップと、
ii.画素化検出器を用いて、前記少なくとも1つのトレーニング材料の観察X線画像を得るステップと、
iii.異なる材料とのX線光子の相互作用をシミュレートするシミュレータを用い、トレーニング材料ごとに、電圧、濾過、およびサンプルの位置のうち少なくとも1つを含むシミュレータのパラメータに関してシミュレートし、散乱カーネルを得て、散乱カーネルのデータベースを構築するステップと、
iv.観察X線画像と、前記シミュレータにより作成されたX線画像シミュレーションとの間の、材料の種類および厚さとは無関係な、伝達関数を生み出すステップと、
v.前記画素化検出器を用いて得る、前記少なくとも1つのトレーニング材料を含む少なくとも1つのサンプルの観察X線画像を、前記材料によりX線光子がどのような影響を受けるかを表すものとするステップと、
vi.前記サンプルに含有される前記材料の種類および/または前記厚さの初期推定を行うステップと、
vii.複数の空間的に分離された前記サンプル上の点の各々から前記検出器の各画素まで、前記サンプルの前記材料および前記厚さがあたかも前記ステップviの前記初期推定に対応するかのように、前記サンプルに対して光線経路トレースを遂行するステップと、
viii.各々の光線経路トレースの広がり関数に対応する散乱カーネルを散乱カーネルデータベースから得て、
ix.前記散乱カーネルごとに散乱を合計して、画像全体の散乱推定を提供して、
x.前記散乱カーネルごとに直接放射線を予測して、
xi.前記散乱推定および前記直接放射線に前記伝達関数を適用して、または前記観察X線画像の個々の画素または画素グループの強度値に逆伝達関数を適用して、
xii.Zが前記観察X線画像であり、Sが前記伝達関数適用後の散乱推測値であり、Dが前記伝達関数適用後の直接放射線である場合、あるいは、Zが前記逆伝達関数適用後の前記観察X線画像であり、Sが前記散乱推測値であり、Dが前記直接放射線である場合、画像差異Z-S-Dを決定し、
xiii.前記画像差異がしきい値よりも低いかどうか決定し、
xiv.前記画像差異が前記しきい値よりも低い場合、前記Zから前記Sを減算して、散乱のないデータおよび/または散乱のない画像を提供するステップと
を備えるX線画像化方法。 - 前記ステップiiiで構築された前記散乱カーネルの前記データベースは、前記少なくとも1つのトレーニング材料ごとに、前記シミュレータ内部のパラメータすべてのサブセットに関して構築される、請求項1に記載のX線画像化方法。
- 前記画素化検出器を用いて前記X線画像を得る前記ステップは、前記検出器の各画素で強度値を記録するステップを備える、請求項1~2のいずれか一項に記載のX線画像化方法。
- 前記初期推定(前記ステップvi)は、前記ステップvから得られる前記観察X線画像の個々の画素または画素グループの強度値;前記トレーニング材料の前記データベースに含有される、前記材料の種類および厚さの中央値;前記材料の種類および厚さのランダムな推測;のうち1つに基づく、請求項1~3のいずれか一項に記載のX線画像化方法。
- 前記散乱カーネルを前記散乱カーネルデータベースから得るステップは、前記散乱カーネルデータベースの中で、前記材料の種類および厚さに対応する散乱カーネルのうち最も近い散乱カーネルを選択する、あるいは、前記散乱カーネルデータベースの中の、前記材料の種類および厚さに対応する複数の散乱カーネルを補間して散乱カーネルを導出する、ステップを備える、請求項1~4のいずれか一項に記載のX線画像化方法。
- 前記散乱のないデータは、前記材料の種類および前記材料の厚さの情報を備える、請求項1~5のいずれか一項に記載のX線画像化方法。
- 請求項1~6に指定されるような、前記X線画像化方法の少なくともステップii~ステップivを遂行するように構成されるX線画像化装置。
- 請求項1~6に指定されるような、前記X線画像化方法の少なくともステップv~xivを遂行するように構成される、請求項7に記載のX線画像化装置。
- 請求項1~6に指定されるような、前記X線画像化方法の少なくともステップv~ステップxivを遂行するように構成されるX線画像化装置。
- X線画像化システムであって、請求項7~9のいずれか一項に記載のX線画像化装置、および1組の少なくとも1つのトレーニング材料を備え、前記組は、異なる材料、および/または前記材料の、もしくは各材料の異なる厚さを備えるX線画像化システム。
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