JP6593443B2 - 光電センサモジュール - Google Patents
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Description
直線状の縁を有する基板と、
前記基板に実装された第1の波長の光を放射する第1の発光素子と、
前記基板に実装され、前記第1の波長とは異なる第2の波長の光を放射する第2の発光素子と、
前記第1の発光素子及び前記第2の発光素子から放射され、対象物で反射された光を受光する受光素子と
を有し、
前記基板の表面に定義される仮想直線に関して、前記第1の発光素子の発光箇所と前記第2の発光素子の発光箇所とが線対称の関係にあり、前記受光素子の受光箇所が線対称であり、前記基板の平面形状が線対称であり、
さらに、前記基板に実装された一対の接触対称性検知素子を有し、
一対の前記接触対称性検知素子が配置された位置は、前記仮想直線に関して線対称の関係を有し、前記接触対称性検知素子から前記仮想直線までの距離が、前記第1の発光素子の発光箇所から前記仮想直線までの距離より長く、
前記基板の、前記第1の発光素子、前記第2の発光素子、及び前記受光素子が実装された面を前記対象物に接触させた状態で、前記接触対称性検知素子の各々は、前記対象物に対する前記接触対称性検知素子の装着状態を検知する検知系の一部を構成する。
接触対称性検知素子を用いて、対象物に対する光電センサモジュールの装着状態の均一性を検知することができる。
直線状の縁を有する基板と、
前記基板に実装された第1の波長の光を放射する第1の発光素子と、
前記基板に実装され、前記第1の波長とは異なる第2の波長の光を放射する第2の発光素子と、
前記第1の発光素子及び前記第2の発光素子から放射され、対象物で反射された光を受光する受光素子と
を有し、
前記基板の表面に定義される仮想直線に関して、前記第1の発光素子の発光箇所と前記第2の発光素子の発光箇所とが線対称の関係にあり、前記受光素子の受光箇所が線対称であり、前記基板の平面形状が線対称であり、
さらに、前記基板が実装されたマザーボードを有し、
前記第1の発光素子及び前記第2の発光素子の各々は、複数の前記発光箇所を含み、
前記第1の発光素子の少なくとも1つの前記発光箇所、及び前記第2の発光素子の少なくとも1つの前記発光箇所は、前記マザーボードに実装されている。
前記基板の表面のうち、前記第1の発光素子の発光箇所、前記第2の発光素子の発光箇所、及び前記受光素子の受光箇所のいずれもが配置されていない領域を覆い、前記第1の波長の光及び前記第2の波長の光を遮蔽する遮蔽膜を有し、
前記遮蔽膜の平面形状は、前記仮想直線に関して線対称である。
前記受光素子で受光された光の強度に対応する検出信号が入力される演算処理部を有し、
一対の前記接触対称性検知素子は、同一波長の光を放射し、
前記演算処理部は、
一方の前記接触対称性検知素子から放射され、前記対象物で反射して前記受光素子に入射した光の強度と、他方の前記接触対称性検知素子から放射され、前記対象物で反射して前記受光素子に入射した光の強度とを比較し、比較結果を出力する。
前記受光素子が、複数の前記受光箇所を含み、複数の前記受光箇所の位置は、前記仮想直線に関して線対称である。
前記仮想直線上に配置された第3の発光素子と、
前記受光素子の複数の前記受光箇所で受光された光の強度に対応する検出信号が入力される演算処理部を有し、
前記演算処理部は、
前記第3の発光素子から放射された光のうち、前記対象物で反射されて一方の前記受光箇所で受光された光の強度と、他方の前記受光箇所で受光された光の強度とを比較し、比較結果を出力する。
前記第3の発光素子が、前記第1の波長及び前記第2の波長のいずれよりも短い波長の光を放射する。
前記第1の発光素子及び前記第2の発光素子の各々が、前記発光箇所を有するチップと、前記チップを収容するパッケージとを含み、
前記第1の発光素子の前記パッケージと、前記第2の発光素子の前記パッケージとは、前記仮想直線に関して線対称になるように配置されている。
次に、実施例1の構成を採用することの優れた効果について説明する。実施例1では、円形ではなく、正方形の基板30(図3A)が用いられる。このため、多面取り用の基板から、光電センサモジュールの基板30を無駄なく切り出すことができる。なお、基板30として、二次元平面に隈なく配置することができ、かつ線対称の外形(平面形状)を有する基板を用いてもよい。例えば、正方形以外に、長方形または菱形の基板を用いることも可能である。
実施例1では、第1の波長の光を放射する第1の発光素子11、及び第2の波長の光を放射する第2の発光素子12が1個ずつ配置される。このため、第1の波長の光を放射する複数の発光素子、及び第2の波長の光を放射する複数の発光素子を配置する構成に比べて、コスト低減を図ることが可能になる。
実施例1では、受光素子13から第1の発光素子11までの距離と、第2の発光素子12までの距離とが等しい。さらに、第1の発光素子11から受光素子13に至るまでの第1の波長の光に対する基板30及び遮蔽膜31の影響と、第2の発光素子12から受光素子13に至るまでの第2の波長の光に対する基板30及び遮蔽膜31の影響とが等価である。このため、基板30や遮蔽膜31からの散乱や反射に起因する迷光の影響が、第1の波長と第2の波長とでほぼ均等になる。すなわち、図2に示した迷光による直流成分が、第1の波長と第2の波長とでほぼ等しくなる。その結果、酸素飽和度の算出精度を高めることができる。
次に、図5を参照して実施例2による光電センサモジュールについて説明する。以下、図1から図4までの図面に示した実施例1との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。
実施例2では、第1の発光素子11の複数の発光箇所11A、11B、11Cから任意の1箇所を選択して、選択された発光箇所からのみ発光させることができる。第2の発光素子12の複数の発光箇所12A、12B、12Cからは、第1の発光素子11の選択された発光箇所と線対称の関係にある1つの発光箇所から発光させればよい。実施例2では、酸素飽和度を測定するために発光させる一対の発光箇所として、複数通りの組み合わせが可能である。
さらに、第1の発光素子11の複数の発光箇所11A、11B、11Cのうち2個以上の発光箇所から同時に発光させてもよい。この場合には、第2の発光素子12の発光箇所12A、12B、12Cからも、対応する2個以上の発光箇所から同時に発光させる。第1の発光素子11の複数の発光箇所から同時に発光させると、受光素子13で検出される光の強度は、生体内のより広い領域の情報が平均化されたものになる。これにより、対象物90内の血管位置の不均一さ等に起因する検出結果のばらつきを低減することができる。
対象物90(図1)に対する光電センサモジュールの装着状態が、仮想直線35の両側で不均一(非平衡)であると、第1の発光素子11から放射された光の迷光による影響と、第2の発光素子12から放射された光の迷光による影響とに、ばらつきが生ずることが懸念される。実施例2による光電センサモジュールの構成を採用することにより、このばらつきを軽減することができる。以下、このばらつきを軽減する方法について説明する。
実施例2においては、接触対称性検知素子41(図5)を用いて、対象物90に対する光電センサモジュールの装着状態の均一性を高めるとともに、測定箇所の最適化を図ることが可能である。以下、装着状態の均一性の向上、及び測定箇所の最適化を図る方法について説明する。
次に、図6A、図6B、及び図7を参照して、実施例3による光電センサモジュールについて説明する。以下、実施例1との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。
実施例3においても、実施例1と同様に、遮蔽膜31(図6A)の平面形状は仮想直線35に関して線対称である。さらに、実施例3では、受光素子13の一方の受光箇所131Aと他方の受光箇所132Aとが、仮想直線35に関して線対称の関係を有する。従って、第1の発光素子11から受光素子13に至るまでの第1の波長の光に対する基板30及び遮蔽膜31の影響と、第2の発光素子12から受光素子13に至るまでの第2の波長の光に対する基板30及び遮蔽膜31の影響とが等価である。これにより、基板30や遮蔽膜31からの散乱や反射に起因する迷光の影響が、第1の波長と第2の波長とでほぼ均等になる。その結果、実施例1の場合と同様に、酸素飽和度の算出精度を高めることができる。
第1のパッケージPD131の検出信号と、第2のパッケージPD132の検出信号とが、マルチプレクサ25を介して別々にA/D変換器18に入力され、別々にA/D変換される。このため、第1のパッケージPD131と、第2のパッケージPD132との各々に対して、実施例1の受光素子13の検出信号と同等のダイナミックレンジを確保することができる。別々にA/D変換された2つのデジタル信号を足し合わせることにより、受光素子13で受光された光の強度を表す検出信号S1及びS2(図2)が得られる。その結果、実質的に、検出信号S1及びS2のダイナミックレンジが拡大する。
第1のパッケージPD131の検出信号と、第2のパッケージPD132の検出信号とを比較することにより、仮想直線35を中心とした装着状態の均一性(平衡度)に関する情報を得ることができる。
一対の接触対称性検知素子41として温度センサを用いた場合、光電センサモジュールを生体の胸等に装着して、酸素飽和度の測定と同時に、体温を測定することができる。また、仮想直線35の両側において装着状態が不均一である場合、一方の接触対称性検知素子41で測定される温度と、他方の接触対称性検知素子41で測定される温度との差が大きくなる。従って、一対の接触対称性検知素子41で検出された温度を比較することによって、仮想直線35の両側の装着状態の平衡度を判定することができる。
次に、図8A及び図8Bを参照して、実施例4による光電センサモジュールについて説明する。以下、図6A〜図7に示した実施例3との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。
実施例4では、パッケージを含めて、第1の発光素子11と第2の発光素子12との対称性が満たされている。さらに、パッケージを含めて、第1のパッケージPD131と第2のパッケージPD132との対称性が満たされている。このため、実施例3に比べて、第1の発光素子11から放射された第1の波長の光と、第2の発光素子12から放射された第2の波長の光との、伝搬経路の環境の均等性を、より高めることができる。これにより、酸素飽和度の測定結果の精度をより高めることができる。
第3の発光素子50から放射された光を、第1のパッケージPD131及び第2のパッケージPD132で受光し、受光された光の強度を比較することにより、光電センサモジュールの装着状態の平衡度を判定することができる。
生体に向けて放射する光として、赤色より短波長の光、例えば緑色の光を用いると、図2に示した交流成分S1aの振幅ΔS1aに対する直流成分S1dnの比が小さくなる。このため、検出信号の脈動から、脈拍数を取得し易くなる。
次に、図9A及び図9Bを参照して、実施例5による光電センサモジュールについて説明する。以下、図8A〜図8Bに示した実施例4との相違点について説明し、共通の構成については説明を省略する。
実施例5においても、実施例4と同様の効果が得られる。さらに、実施例5では、基板30の大きさに制約されることなく、第1の発光素子11の発光箇所11Bと、第2の発光素子12の発光箇所12Bとの間隔を広くすることができる。言い換えると、発光箇所の間隔を広げるために、基板30として大きな基板を用いる必要がない。このため、光電センサモジュールのコスト削減を図ることができる。
11A、11B、11C 第1の発光素子の発光箇所
11X パッケージLED
12 第2の発光素子
12A、12B、12C 第2の発光素子の発光箇所
12X パッケージLED
13 受光素子
14 増幅器
15 前段増幅器
16 カップリングコンデンサ
17 後段増幅器
18 A/D変換器
19 演算処理部
20 電子回路部品
21 第1の駆動回路
22 第2の駆動回路
23 出力端子
25 マルチプレクサ
30 基板
31 遮蔽膜
33 仮想直線で区分された第1の領域
34 仮想直線で区分された第2の領域
35 仮想直線
41 接触対称性検知素子
50 第3の発光素子
50A 発光箇所
60 マザーボード
80 外部処理回路
90 対象物
131 第1のパッケージPD
131A 受光箇所
132 第2のパッケージPD
132A 受光箇所
141 第1の増幅器
142 第2の増幅器
Claims (8)
- 直線状の縁を有する基板と、
前記基板に実装された第1の波長の光を放射する第1の発光素子と、
前記基板に実装され、前記第1の波長とは異なる第2の波長の光を放射する第2の発光素子と、
前記第1の発光素子及び前記第2の発光素子から放射され、対象物で反射された光を受光する受光素子と
を有し、
前記基板の表面に定義される仮想直線に関して、前記第1の発光素子の発光箇所と前記第2の発光素子の発光箇所とが線対称の関係にあり、前記受光素子の受光箇所が線対称であり、前記基板の平面形状が線対称であり、
さらに、前記基板に実装された一対の接触対称性検知素子を有し、
一対の前記接触対称性検知素子が配置された位置は、前記仮想直線に関して線対称の関係を有し、前記接触対称性検知素子から前記仮想直線までの距離が、前記第1の発光素子の発光箇所から前記仮想直線までの距離より長く、
前記基板の、前記第1の発光素子、前記第2の発光素子、及び前記受光素子が実装された面を前記対象物に接触させた状態で、前記接触対称性検知素子の各々は、前記対象物に対する前記接触対称性検知素子の装着状態を検知する検知系の一部を構成する光電センサモジュール。 - 直線状の縁を有する基板と、
前記基板に実装された第1の波長の光を放射する第1の発光素子と、
前記基板に実装され、前記第1の波長とは異なる第2の波長の光を放射する第2の発光素子と、
前記第1の発光素子及び前記第2の発光素子から放射され、対象物で反射された光を受光する受光素子と
を有し、
前記基板の表面に定義される仮想直線に関して、前記第1の発光素子の発光箇所と前記第2の発光素子の発光箇所とが線対称の関係にあり、前記受光素子の受光箇所が線対称であり、前記基板の平面形状が線対称であり、
さらに、前記基板が実装されたマザーボードを有し、
前記第1の発光素子及び前記第2の発光素子の各々は、複数の前記発光箇所を含み、
前記第1の発光素子の少なくとも1つの前記発光箇所、及び前記第2の発光素子の少なくとも1つの前記発光箇所は、前記マザーボードに実装されている光電センサモジュール。 - さらに、前記基板の表面のうち、前記第1の発光素子の発光箇所、前記第2の発光素子の発光箇所、及び前記受光素子の受光箇所のいずれもが配置されていない領域を覆い、前記第1の波長の光及び前記第2の波長の光を遮蔽する遮蔽膜を有し、
前記遮蔽膜の平面形状は、前記仮想直線に関して線対称である請求項1または2に記載の光電センサモジュール。 - さらに、前記受光素子で受光された光の強度に対応する検出信号が入力される演算処理部を有し、
一対の前記接触対称性検知素子は、同一波長の光を放射し、
前記演算処理部は、
一方の前記接触対称性検知素子から放射され、前記対象物で反射して前記受光素子に入射した光の強度と、他方の前記接触対称性検知素子から放射され、前記対象物で反射して前記受光素子に入射した光の強度とを比較し、比較結果を出力する請求項1に記載の光電センサモジュール。 - 前記受光素子は、複数の前記受光箇所を含み、複数の前記受光箇所の位置は、前記仮想直線に関して線対称である請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光電センサモジュール。
- さらに、
前記仮想直線上に配置された第3の発光素子と、
前記受光素子の複数の前記受光箇所で受光された光の強度に対応する検出信号が入力される演算処理部を有し、
前記演算処理部は、
前記第3の発光素子から放射された光のうち、前記対象物で反射されて一方の前記受光箇所で受光された光の強度と、他方の前記受光箇所で受光された光の強度とを比較し、比較結果を出力する請求項5に記載の光電センサモジュール。 - 前記第3の発光素子は、前記第1の波長及び前記第2の波長のいずれよりも短い波長の光を放射する請求項6に記載の光電センサモジュール。
- 前記第1の発光素子及び前記第2の発光素子の各々は、前記発光箇所を有するチップと、前記チップを収容するパッケージとを含み、
前記第1の発光素子の前記パッケージと、前記第2の発光素子の前記パッケージとは、前記仮想直線に関して線対称になるように配置されている請求項1乃至7のいずれか1項に記載の光電センサモジュール。
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