JP6578299B2 - 光学素子 - Google Patents

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Description

ここに開示された技術は、光学素子に関するものである。
従来より、ミラーをアクチュエータにより駆動させる光学素子が知られている。入射した光のうち特定の波長の光を出射させる光学フィルタ装置が知られている。
例えば、特許文献1には、間隔を空けて配置された2枚のミラーを備え、アクチュエータにより2枚のミラーの間隔を調整することによって出射される光の波長を変更する光学フィルタ装置が開示されている。一方のミラーは、平行に配置された電極対の間に発生する静電力によって駆動される。この光学フィルタ装置は、静電力を発生させるための駆動電圧に対する、出射される光の波長の関係を予め求めて記憶しており、その関係に基づいて所望の波長に対応する駆動電圧を選択するように構成されている。それに加えて、この光学フィルタ装置は、実際に出射される光の波長に基づいて駆動電圧を補正し、所望の波長の光が出射されるようにしている。
特開2013−152489号公報
ところで、ミラーをアクチュエータで駆動する光学素子においては、ミラーの変位を正確に検出することが求められる。例えば、前述の光学フィルタ装置においては、出射される光の波長を正確に制御するためには、前述のように実際に出射される光の波長に応じて駆動電圧を補正するだけでなく、ミラーの変位を検出し、2枚のミラーの間隔を精度良く制御することも考えられる。さらに、光学フィルタ装置に限らず、広く光学素子において、アクチュエータで駆動される可動部の変位を精度良く検出することが求められる。
ここに開示された技術は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、光学素子の可動部の変位を精度良く検出することにある。
ここに開示された光学素子は、可動部と、前記可動部を駆動するアクチュエータと、前記可動部の変位を検出する検出電極とを備え、前記検出電極は、複数の可動櫛歯を含み、前記可動部に連結された可動櫛歯電極と、前記可動櫛歯と互いに平行な状態で対向する複数の固定櫛歯を含む固定櫛歯電極とを有し、前記可動櫛歯は、前記可動櫛歯電極が前記可動部と一体的に変位する際に、前記固定櫛歯に対して平行な状態で変位する。
この構成によれば、可動櫛歯電極と固定櫛歯電極との静電容量の変化に基づいて可動部の変位を検出することができる。
2つの電極間の静電容量変化を検出する構成としては、互いに平行に配置された平板電極を設け、2枚の平板電極の間隔が変化することによる静電容量を検出する構成も考えられる。しかし、平板電極間の静電容量は、その間隔に反比例するため、間隔が大きいときには精度が悪い。
それに対し、櫛歯電極を用いることによって、平板電極の課題は解消される。櫛歯電極においては、可動櫛歯電極の可動櫛歯と固定櫛歯電極の固定櫛歯とが非接触な状態で互いに対向している。この状態から可動櫛歯電極が変位することによって、可動櫛歯と固定櫛歯との対向する部分の面積が変化し、両者間の静電容量が変化する。櫛歯電極の静電容量は、該面積に比例するので、静電容量の変化を精度良く検出することができる。
それに加えて、可動櫛歯は、固定櫛歯に対して平行な状態で変位するので、静電容量の変化をより精度良く検出することができる。
詳しくは、可動櫛歯電極と固定櫛歯電極との間の静電容量に基づいて対象部材の変位を検出する構成としては、可動櫛歯電極が固定櫛歯電極に対して傾動する構成がある。このような構成の場合、可動櫛歯と固定櫛歯との対向する部分の形状は、常に長方形状というわけではなく、可動櫛歯の傾動状況に応じて、長方形、三角形、五角形以上の多角形と変化する。そのため、対向面積は、可動櫛歯の変位量に対して常に比例して変化するわけではない。その結果、静電容量の変化量に対応する対象部材の変位量の関係が可動櫛歯の傾動状況によって変化するので、対象部材の変位量の制御が難しくなる。それに加えて、可動櫛歯電極が傾動する構成においては、傾動の中心からの距離が離れるほど、傾動角に対する変位量が大きくなる。そのため、可動櫛歯のうち傾動の中心から離れた部分は、対象部材の変位量が大きくなると、固定櫛歯と対向しないようになり、静電容量の変動に寄与しないようになる。つまり、可動櫛歯電極が傾動する構成においては、可動櫛歯と固定櫛歯との対向面積を、静電容量の変化の検出のために有効に活用できているとは言えない。
それに対し、可動櫛歯が固定櫛歯に対して平行な状態で変位する構成の場合、可動櫛歯と固定櫛歯との対向する部分の面積は、可動櫛歯の変位に実質的に比例して変化する。これにより、可動部の変位を、その変位量の大小にかかわらず一様な精度で検出することができる。つまり、可動部の変位の検出精度を、可動部の変位を検出可能な範囲の全体を通じて略均一にすることができる。その結果、可動部の変位の検出可能範囲の全体的な検出精度を向上させることができる。また、静電容量の変化量に対応する可動部の変位量の関係が検出可能範囲全体を通じて一様なので、可動部の変位の制御性を向上させることができる。それに加えて、可動櫛歯の変位量は、可動部の変位量と概ね一致しているので、可動櫛歯及び固定櫛歯の面積を有効に活用して静電容量の変化を検出することができる。
前記光学素子によれば、可動部の変位を精度良く検出することができる。
光学フィルタ装置の断面図である。 第1ユニットの平面図である。 ヒンジ及び検出電極の拡大平面図である。 初期状態における検出電極の斜視図である。 初期状態における可動櫛歯及び固定櫛歯の対向する状態の概略図である。 第1ミラーが変位したときの検出電極の斜視図である。 第1ミラーが変位したときの可動櫛歯及び固定櫛歯の対向する状態の概略図である。 シャッタ装置の平面図である。
以下、例示的な実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
図1は、光学フィルタ装置1000の断面図を示す。図2に、第1ユニット100の平面図を示す。尚、図1は、図2のA−A線に相当する断面図である。
光学フィルタ装置1000は、第1ミラー101を有する第1ユニット100と、第1ミラー101と対向する第2ミラー201を有する第2ユニット200と、制御部900とを備えている。第1ユニット100と第2ユニット200とは、重ね合わせられている。第1ミラー101及び第2ミラー201はそれぞれ、入射した光の一部を透過させる。光学フィルタ装置1000は、第2ミラー201に入射した光のうち、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔に対応した波長の光を第1ミラー101から出射するように構成され、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔を調整することによって出射する光の波長を調整する。すなわち、光学フィルタ装置1000は、フェブリーペロー共振器の原理を利用した、可変波長フィルタ装置である。光学フィルタ装置1000は、光学素子の一例である。
第1ユニット100は、第1ミラー101と、第1ミラー101を駆動して、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔を変更する2つのアクチュエータ300,300と、第1ミラー101の変位を検出する2つの検出電極400,400と、フレーム500とを備えている。
第1ユニット100は、SOI(Silicon on Insulator)基板Bを用いて製造されている。SOI基板Bは、単結晶シリコンで形成された第1シリコン層b1と、SiOで形成された酸化膜層b2と、単結晶シリコンで形成された第2シリコン層b3とがこの順で積層されて構成されている。
フレーム500は、平面視略長方形の枠状に形成されている。フレーム500は、第1シリコン層b1、酸化膜層b2及び第2シリコン層b3で形成されている。尚、フレーム500の第1シリコン層b1側の表面には、SiO膜318が成膜されている。このSiO膜318は、後述するアクチュエータ300のSiO膜318と同じ膜である。
第1ミラー101は、ミラー本体102と、2つの取付部103,103と、ミラー本体102に設けられた円筒部104を有している。ミラー本体102は、平面視略長方形状に形成されている。ミラー本体102は、第1シリコン層b1と、その表面に積層された誘電体多層膜121とで形成されている。誘電体多層膜121は、高屈折率層と低屈折率層とを交互に積層させた膜である。
説明の便宜上、ミラー本体102の中心Cを通り、ミラー本体102の対向する一対の辺と平行にX軸を設定し、ミラー本体102の中心Cを通り、ミラー本体102の対向する別の一対の辺と平行にY軸を設定し、ミラー本体102の中心Cを通り、X軸及びY軸の両方に直交する方向にZ軸を設定する。また、Z軸方向において、図1における上側を「上側」と称し、図1における下側を「下側」と称する場合がある。
2つの取付部103,103は、ミラー本体102の辺のうち、Y軸と平行な、対向する一対の辺にそれぞれ設けられている。一方の取付部103は、Y軸と平行な第1辺a1の端部(第2辺a2側の端部)から、X軸方向に延びた後に屈曲し、第1辺a1との間に間隔を空けて、第1辺a1と平行に延びている。他方の取付部103は、第1辺a1と対向する第3辺a3の端部(第4辺a4側の端部)から、X軸方向に延びた後に屈曲し、第3辺a3との間に間隔を空けて、第3辺a3と平行に延びている。取付部103は、第1シリコン層b1で形成されている。
円筒部104は、Z軸方向に延びる円筒状に形成され、ミラー本体102の、誘電体多層膜121とは反対側の表面に設けられている。円筒部104は、酸化膜層b2及び第2シリコン層b3で形成されている。つまり、円筒部104は、ミラー本体102と一体的に形成されている。これにより、ミラー本体102の平面度が向上する。
2つのアクチュエータ300,300は、フレーム500内において、第1ミラー101を挟んでY軸方向に並んで配置されている。各アクチュエータ300は、基端部がフレーム500に連結され、先端部が自由端となるカンチレバー構造をしている。自由端となる先端部に、第1ミラー101が連結されている。各アクチュエータ300は、SOI基板Bの主面内で折り返すように連結された2本のビームを有している。2本のビームは、主面に対して一方の側へ湾曲する第1ビーム301と、湾曲しないか又は該第1ビーム301よりも湾曲が小さい第2ビーム302とを含んでいる。第1ビーム301と第2ビーム302とは、互いに平行に配列されている。尚、2つのアクチュエータ300,300を区別するときは、図2において、第1ミラー101よりも上方のアクチュエータ300を第1アクチュエータ300Aと称し、第1ミラー101よりも下方のアクチュエータ300を第2アクチュエータ300Bと称する。
詳しくは、第1アクチュエータ300Aにおいて、第1ビーム301の基端部は、フレーム500に固定されている。図2において、第1ビーム301は、フレーム500からX軸方向の右側へ向かって延びている。第1ビーム301の先端部には、第2ビーム302が連結されている。第2ビーム302は、第1ビーム301から折り返して、X軸方向の左側へ向かって延びている。第2ビーム302の先端部は、Y軸方向における第1ミラー101側へ屈曲して延び、第1ミラー101のミラー本体102と取付部103との間のスペースに進入し、取付部103と平行に延びている。第2ビーム302の先端部に第1ミラー101が連結されている。
一方、第2アクチュエータ300Bにおいて、第1ビーム301の基端部は、フレーム500に固定されている。第1ビーム301は、フレーム500からX軸方向の左側へ向かって延びている。第1ビーム301の先端部には、第2ビーム302が連結されている。第2ビーム302は、第1ビーム301から折り返して、X軸方向の右側へ向かって延びている。第2ビーム302の先端部は、Y軸方向における第1ミラー101側へ屈曲して延び、ミラー本体102と取付部103との間のスペースに進入し、取付部103と平行に延びている。第2ビーム302の先端部に第1ミラー101が連結されている。
つまり、第1アクチュエータ300A及び第2アクチュエータ300Bにおいて、フレーム500に連結されているビームは第1ビーム301であり、第1ミラー101に連結されているビームは第2ビーム302である。ただし、第1ビーム301がフレーム500から延びる方向、及び、第2ビーム302が第1ビーム301から延びる方向が、第1アクチュエータ300Aと第2アクチュエータ300Bとで反対向きになっている。
続いて、各ビームの構成について説明する。第1アクチュエータ300Aと第2アクチュエータ300Bとで各ビームの構成は同様である。例えば、第1アクチュエータ300Aの第1ビーム301と第2アクチュエータ300Bの第1ビーム301の構成は同様である。
第1ビーム301は、ビーム本体313と、ビーム本体313の表面に積層された圧電素子314とを有している。
ビーム本体313は、断面方形の棒状に形成されている。ビーム本体313は、第1シリコン層b1で形成されている。
圧電素子314は、ビーム本体313の一方の表面に設けられている。ビーム本体313の表面にはSiO膜318が積層されており、圧電素子314は、SiO膜318上に積層されている。圧電素子314は、下部電極315と、上部電極317と、これらに挟持された圧電体層316とを有する。下部電極315、圧電体層316、上部電極317は、SiO膜318上にこの順で積層されている。圧電素子314は、SOI基板Bとは別の部材で形成されている。詳しくは、下部電極315は、Pt/Ti膜又はIr/Ti膜で形成されている。圧電体層316は、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)で形成されている。上部電極317は、Au/Ti膜で形成されている。
圧電素子314の上部電極317及び下部電極315に電圧が印加されると、ビーム本体313のうち圧電素子314が積層された表面が伸縮し、ビーム本体313は、圧電素子314を内側にして湾曲する。
第2ビーム302は、ビーム本体313と、ダミー膜319とを有している。ビーム本体313の表面には、SiO膜318が成膜されており、SiO膜318上にダミー膜319が積層されている。ダミー膜319には、下部電極315、圧電体層316及び上部電極317が含まれている。つまり、ダミー膜319は、圧電素子314と同様の構成をしている。しかし、ダミー膜319は、電圧が印加されることはなく、圧電素子としては機能しない。詳しくは、ダミー膜319の下部電極315、圧電体層316及び上部電極317は、圧電素子314の下部電極315、圧電体層316及び上部電極317とそれぞれ絶縁されている。これにより、圧電素子314に電圧が印加されても、ダミー膜319には電圧が印加されず、ダミー膜319は圧電素子としては機能しない。
ダミー膜319は、複数のビームの初期反り及び温度変化による反りをキャンセルするためのものである。詳しくは、第1ビーム301の、第1シリコン層b1で形成されたビーム本体313の表面には、SiO膜318、下部電極315、圧電体層316及び上部電極317がスパッタリング等の方法により成膜されており、その成膜過程の温度変動等によって成膜後に第1ビーム301に反りが生じ得る。例えば、ビーム本体313のうち薄膜が成膜された側の表面が収縮して、第1ビーム301が該表面を内側にして反り上がる場合がある。しかしながら、例えば第1ビーム301には、第2ビーム302が折り返すように連結され、第2ビーム302のビーム本体313にも圧電素子314と同様のダミー膜319が成膜されている。つまり、第1ビーム301と第2ビーム302が、互いに略平行な状態で反る。その結果、第1ビーム301の先端部及び第2ビーム302の基端部は、浮き上がった状態となるものの、第2ビーム302の先端部は、SOI基板Bの厚み方向において第1ビーム301の基端部と同じ位置に戻ってくる。こうして、第2ビーム302の先端部においては、初期反りによるSOI基板Bの厚み方向の変位をキャンセルすることができる。また、第1ビーム301は、シリコン、SiO、Pt/Ti等の熱膨張率が異なる材料を積層させているので、温度が変化したときに、各膜がその熱膨張率に応じて様々に収縮する。そのため、第1ビーム301が反る場合がある。しかしながら、第2ビーム302も、第1ビーム301と同様の積層構造をしているので、第1ビーム301と同様の反りが生じる。その結果、初期反りの場合と同様に、第1ビーム301の反りを第2ビーム302がキャンセルする。
第2ビーム302は、2つのヒンジ105,105を介して第1ミラー101の取付部103に連結されている。
図3に、ヒンジ105及び検出電極400の拡大平面図を示す。ヒンジ105は、蛇行する線条により形成され、弾性的に変形可能に構成されている。具体的には、ヒンジ105は、複数の直線部と、隣り合う直線部の端部同士を連結する折り返し部とを有し、全体として蛇行した形状をしている。直線部は、Y軸方向に延びており、ヒンジ105は、Y軸方向に延びる軸回りに湾曲しやすくなっている。ヒンジ105の一端部は、第2ビーム302の先端部に連結され、ヒンジ105の他端部は、取付部103のうち、ミラー本体102側の部分に連結されている。ヒンジ105は、連結部の一例である。
2つのヒンジ105,105は、図2に示すように、ミラー本体102の中心Cを通りX軸方向に延びる直線L1を挟んだ位置に配置されている。2つのヒンジ105は、該直線L1から等間隔だけY軸方向に離れている。
フレーム500には、第1アクチュエータ300A及び第2アクチュエータ300Bに電圧を印加するための駆動端子が設けられている。詳しくは、フレーム500の表面には、第1給電端子511,511と第2給電端子512,512とが設けられている。一方の第1給電端子511からは、第1アクチュエータ300Aの第1ビーム301の上部電極317まで配線が延び、他方の第1給電端子511からは、第2アクチュエータ300Bの第1ビーム301の上部電極317まで配線が延びている。また、一方の第2給電端子512は、第1アクチュエータ300Aの第1ビーム301の下部電極315と導通しており、他方の第2給電端子512は、第2アクチュエータ300Bの第1ビーム301の下部電極315と導通している。フレーム500のSiO膜128上には、部分的に、下部電極315及び圧電体層316が積層され、圧電体層316上に第1給電端子511及びその配線、並びに第2給電端子512が設けられている。ただし、圧電素子314のうち第2給電端子512が設けられている部分には、下部電極315に達する開口(図2において破線で図示)が形成されている。第2給電端子512は、この開口を覆うように設けられており、下部電極315と電気的に接続されている。第1給電端子511及び第2給電端子512の各組に電圧を印加することによって、第1アクチュエータ300Aの圧電素子314と第2アクチュエータ300Bの圧電素子314とにそれぞれ電圧が印加される。
検出電極400は、第1ミラー101に連結された可動櫛歯電極410と、フレーム500に設けられた固定櫛歯電極420とを有している。
可動櫛歯電極410は、第1ミラー101に連結されるベース部411と、ベース部411から延びる複数の可動櫛歯414,414,…とを有している。ベース部411は、取付部103に連結され、片持ち状になっている。ベース部411は、第1ミラー101の中心Cを通り、X軸方向に延びる直線L1上を延びる第1ベース部412と、第1ベース部412の所々からY軸方向両側に分岐している複数の第2ベース部413,413,…とを有している。可動櫛歯414,414,…は、第2ベース部413からX軸方向両側に分岐するように延びている。可動櫛歯414,414,…は、互いに平行に延びている。可動櫛歯電極410は、第1シリコン層b1で形成されている。
固定櫛歯電極420は、フレーム500に連結されるベース部421と、ベース部421,421から延びる複数の固定櫛歯424,424,…とを有している。ベース部421は、フレーム500から片持ち状に延びている。ベース部421は、可動櫛歯414の第1ベース部412を挟むようにして、互いに平行にX軸方向に延びる2本の第1ベース部422,422と、第1ベース部422の所々からY軸方向における第1ベース部412側へ分岐している複数の第2ベース部423,423,…とを有している。第2ベース部423及び、可動櫛歯電極410の第2ベース部413は、交互にX軸方向に並んでいる。固定櫛歯424,424は、第2ベース部423からX軸方向両側に分岐するように延びている。固定櫛歯電極420は、第1シリコン層b1で形成されている。ただし、固定櫛歯電極420は、可動櫛歯電極410と絶縁されている。詳しくは、第1シリコン層b1において、固定櫛歯電極420を形成する部分は、周りの部分から物理的に分離されている。
こうして、可動櫛歯414は、固定櫛歯424,424の間に入り込み、固定櫛歯424は、可動櫛歯414,414の間に入り込んだ状態となる。つまり、可動櫛歯414と固定櫛歯424とは、交互にY軸方向に並んでいる。可動櫛歯414と固定櫛歯424とは、互いに平行にX軸方向へ延び、Y軸方向に間隔を空けて対向している。
フレーム500における第1シリコン層b1の表面には、可動櫛歯電極410と固定櫛歯電極420との間の静電容量を検出するための検出端子が設けられている。詳しくは、第1シリコン層b1のうち、可動櫛歯電極410を形成する部分と電気的に導通する部分に第1検出端子521が設けられている。第1検出端子521は、1つだけ設けられており、2つの可動櫛歯電極410,410で共用される。また、第1シリコン層b1のうち、固定櫛歯電極420を形成する部分と電気的に導通する部分に第2検出端子522,522が設けられている。第2検出端子522,522は、2つの固定櫛歯電極420に対応して2つ設けられている。
詳しくは後述するが、第1ミラー101が変位すると、それに伴い可動櫛歯電極410も変位する。その結果、可動櫛歯電極410と固定櫛歯電極420との間の静電容量が変化する。この静電容量の変化が、第1検出端子521及び第2検出端子522を介して検出される。
次に、第2ユニット200の構成について説明する。
第2ユニット200は、第2ミラー201と、第2ミラー201を支持するフレーム205とを備えている。第2ユニット200は、シリコン基板b4で形成されている。
フレーム205は、平面視略長方形の枠状に形成されている。フレーム205は、平面視において、第1ユニット100のフレーム500と同様の形状をしている。
第2ミラー201は、ミラー本体202と、ミラー本体202は、平面視略長方形状に形成されている。ミラー本体202は、シリコン層b4と、その表面に積層された誘電体多層膜221とで形成されている。ミラー本体202は、第1ミラー101のような円筒部104が設けられていないが、ミラー本体202のシリコン層b4は、前記ミラー本体102の第1シリコン層b1よりも厚くなっている。これにより、ミラー本体202の平面度が確保されている。誘電体多層幕221は、ミラー本体202のシリコン層b4のうち、第1ミラー101と対向する表面に設けられている。誘電体多層膜221は、高屈折率層と低屈折率層とを交互に積層させた膜である。
また、ミラー本体202のうち第1ミラー101と対向する表面には、複数の突起241,241,が設けられている。突起241,241,…は、第1ミラー101の周縁部において、周方向に間隔を空けて配置されている。この突起241,241,…は、第1ユニット100と第2ユニット200とを重ね合わせたときに、第1ミラー101と対向する。突起241,241,…を設けることによって、第1ミラー101と、第2ミラー201との接触面積が低減され、両者の固着が防止される。
第2ミラー201は、平板状に広がるシリコン層b4によりフレーム205に連結されている。
このように構成された第1ユニット100と第2ユニット200とは、互いに重ね合わせられ、フレーム500とフレーム205とが接着剤を介して接合される。このとき、第2ミラー201の誘電体多層膜221と第1ミラー101の誘電体多層膜121とが対向する状態で、第1ユニット100と第2ユニット200とが重ね合わせられる。これにより、第1ミラー101と第2ミラー202とは、間隔を空けて、互いに略平行な状態で配置される。尚、フレーム500とフレーム205との接合は、接着剤ではなく、陽極接合等の他の手段によるものであってもよい。
制御部900は、プロセッサ及びメモリの他、電源を有しており、光学フィルタ装置1000を制御する。制御部900は、アクチュエータ300,300に駆動電圧を供給して、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔を調整する。
続いて、光学フィルタ装置1000の動作について説明する。図4に、初期状態における検出電極400の斜視図を示す。図5に、初期状態における可動櫛歯414及び固定櫛歯424の対向する状態の概略図を示す。図6に、第1ミラー101が変位したときの検出電極400の斜視図を示す。図7に、第1ミラー101が変位したときの可動櫛歯414及び固定櫛歯424の対向する状態の概略図を示す。
光学フィルタ装置1000においては、第2ミラー201に光が入射し、第2ミラー201を透過した光が第2ミラー201と第1ミラー101との間に入射する。両ミラーの間に入射した光は、第1ミラー101及び第2ミラー201で複数回反射し、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔に対応した波長の光が第1ミラー101より出射される。
ここで、第1ミラー101を変位させて、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔を調整することによって、第1ミラー101から出射される光の波長を変更することができる。
詳しくは、制御部900は、第1給電端子511と第2給電端子512に駆動電圧を印加する。この駆動電圧は、第1アクチュエータ300Aの圧電素子314と第2アクチュエータ300Bの圧電素子314に印加され、第1アクチュエータ300A及び第2アクチュエータ300Bの第1ビーム301,301が湾曲する。各第1ビーム301は、圧電素子314を内側にして、SOI基板Bの表面に対して上側(圧電素子314が設けられている側)に湾曲する。一方、第2ビーム302は、実質的に湾曲せず、略直線状に延びた状態のままである。つまり、フレーム500から第1ビーム301が上側へ反り上がるように延び、第1ビーム301の先端部から第2ビーム302が折り返して、略直線状に延びた状態となる。第1ビーム301の先端部は、斜め上方へ向かって傾斜しているので、第1ビーム301の先端部から折り返す第2ビーム302も、第1ビーム301の先端部と同じ傾きとなっている。つまり、第2ビーム302は、斜め下方へ向かって、略直線状に延び、第2ビーム302の先端部は、第1ビーム301の基端部よりも下方、即ち、SOI基板Bの表面よりも下方に位置する。その結果、第1ミラー101のうち第2ビーム302が連結された取付部103も下方へ移動し、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔が広がる。尚、第2ビーム302の先端部は、駆動電圧の印加前と比べて、X軸方向の内側(即ち、第1ミラー101の中心Cの方)に少しだけ変位するが、この変位はヒンジ105がX軸方向へ伸びることによって吸収される。
ここで、制御部900は、検出電極400の検出結果に基づいて駆動電圧を調整することによって第1ミラー101を第2ミラー201に対して略平行な状態で変位させる。
詳しくは、光学フィルタ装置1000から出射される光の波長(以下、「出力波長」という)は、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔に依存している。第1ミラー101と第2ミラー201との間隔は、第1ミラー101の変位量により決まる。第1ミラー101には可動櫛歯電極410が一体的に形成されているので、第1ミラー101が変位すると、それに伴って可動櫛歯電極410も一体的に変位する。可動櫛歯電極410が変位すると、可動櫛歯414とそれに対応する固定櫛歯424との対向している部分の面積(以下、「対向面積」という)Sが変化し、可動櫛歯電極410と固定櫛歯電極420との間の静電容量が変化する。つまり、光学フィルタ装置から出射される光の波長は、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔を調整することによって変更することができ、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔は、可動櫛歯電極410と固定櫛歯電極420との間の静電容量によって検出することができる。
そこで、制御部900は、出力波長に対応する、アクチュエータ300への駆動電圧及び検出電極400の静電容量をメモリに予め記憶している。制御部900は、出力波長が設定されると、それに対応する駆動電圧をメモリから読み出し、該駆動電圧を第1及び第2アクチュエータ300A,300Bにそれぞれ印加する。そして、制御部900は、検出電極400を介して検出される静電容量に基づいて駆動電圧をフィードバック制御する。
詳しくは、2つの可動櫛歯電極410のうち一方の可動櫛歯電極410は、第1ミラー101のうち第1アクチュエータ300Aが取り付けられた取付部103に設けられており、他方の可動櫛歯電極410は、第1ミラー101のうち第2アクチュエータ300Bが取り付けられた取付部103に設けられている。つまり、一方の可動櫛歯電極410は、主に第1アクチュエータ300Aによる第1ミラー101の変位に対応して変位し、他方の可動櫛歯電極410は、主に第2アクチュエータ300Bによる第1ミラー101の変位に対応して変位する。そこで、制御部900は、一方の検出電極400の静電容量に基づいて第1アクチュエータ300Aへの駆動電圧を制御し、他方の検出電極400の静電容量に基づいて第2アクチュエータ300Bへの駆動電圧を制御する。具体的には、制御部900は、各検出電極400の静電容量が所望の出力波長に対応した静電容量となるように、第1及び第2アクチュエータ300A,300Bのそれぞれの駆動電圧を調整する。その結果、第1ミラー101が第2ミラー201に対して略平行な状態で且つ、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔が所望の出力波長に対応した間隔となる。
このような構成において、可動櫛歯414は、固定櫛歯424に対して平行な状態で変位するので、第1ミラー101の可動範囲全体を通じて静電容量を精度よく検出することができる。
詳しくは、可動櫛歯電極410と固定櫛歯電極420とは、同じ第1シリコン層b1から形成されているので、初期状態、即ち、第1ミラー101が変位していないときには、図4,5に示すように、同一平面上に位置している。この平面は仮想的な平面であり、以下、「基準平面P」と称する。基準表面Pは、第1シリコン層b1の表面と平行な面である。このとき、可動櫛歯414と固定櫛歯424との対向面積Sは、図5に示すように、基本的には最も大きくなっている。すなわち、静電容量も最も大きくなっている。
また、第1ミラー101のミラー本体102も第1シリコン層b1で形成されているので、第1ミラー101も、初期状態においては可動櫛歯電極410及び固定櫛歯電極420と同様に基準平面P上に位置している。
この状態から、第1ミラー101は、前述の如くZ軸方向へ略平行移動、即ち、基準平面Pに対して略平行な状態で移動する。ここで、可動櫛歯電極410は第1ミラー101と一体的に連結されているため、可動櫛歯電極410も、図6,7に示すように、基準平面Pに対して略平行な状態で移動する。つまり、可動櫛歯414は、固定櫛歯424に対して平行な状態のまま移動する。その結果、可動櫛歯414と固定櫛歯424との対向面積Sは、図7に示すように、減少する。
このとき、対向面積Sは、第1ミラー101の変位量に比例して減少する。可動櫛歯414と固定櫛歯424との対向する面の形状は、実質的に長方形状をしており、対向面積Sは、長方形の短辺と長辺との積で表される。そして、可動櫛歯414がZ軸方向へ変位すると、対向面積Sの長辺の長さは変わらず、短辺が可動櫛歯414の変位量に比例して短くなる。そのため、対向面積Sも、可動櫛歯414の変位量に比例して減少する。可動櫛歯414は、第1ミラー101と一体的に変位するため、対向面積Sは、第1ミラー101の変位量に比例して減少することになる。
例えば、可動櫛歯と固定櫛歯との構成においては、可動櫛歯が固定櫛歯に対して傾動する構成がある。このような構成の場合、可動櫛歯と固定櫛歯との対向する部分の形状は、常に長方形状というわけではなく、可動櫛歯の傾動状況に応じて変化する。そのため、対向面積は、可動櫛歯の変位量に対して常に比例して変化するわけではない。さらに、傾動する構成においては、傾動の中心からの距離が離れるほど、傾動角に対する変位量が大きくなる。そのため、可動櫛歯のうち傾動の中心から離れた部分は、可動櫛歯が連結された対象部材の変位量が大きくなると、固定櫛歯と対向しないようになる。可動櫛歯と固定櫛歯とが対向していなくても、その間の距離が微小であれば、フリンジ効果により静電容量が生じるが、可動櫛歯と固定櫛歯とが或る程度離れると、静電容量の変動に寄与しないようになる。つまり、可動櫛歯が傾動する構成においては、可動櫛歯と固定櫛歯との対向面積を、静電容量の変化の検出のために有効に活用できているとは言えない。
それに対し、検出電極400においては、対向面積Sは、第1ミラー101の変位量に比例して対向面積Sが変化するので、可動櫛歯電極410と固定櫛歯電極420との間の静電容量も第1ミラー101の変位量に概ね比例して変化する。そのため、第1ミラー101の変位量に対する静電容量の変化量は、第1ミラー101の可動範囲全体を通じて一様になる。その結果、第1ミラー101の変位量にかかわらず、第1ミラー101の変位量を静電容量に基づいて同程度の精度で検出することができる。また、可動櫛歯414の変位量は、第1ミラー101の変位量と概ね一致しているので、可動櫛歯414及び固定櫛歯424の面積を有効に活用して静電容量の変化を検出することができる。
以上のように、光学フィルタ装置1000は、第1ミラー101と、第1ミラー101を駆動するアクチュエータ300,300と、第1ミラー101の変位を検出する検出電極400とを備え、検出電極400は、複数の可動櫛歯414,414,…を含み、第1ミラー101に連結された可動櫛歯電極410と、可動櫛歯414,414,…と互いに略平行な状態で対向する複数の固定櫛歯424,424,…を含む固定櫛歯電極420とを有し、可動櫛歯414は、可動櫛歯電極410が第1ミラー101と一体的に変位する際に、固定櫛歯424に対して平行な状態で変位する。尚、可動櫛歯414が固定櫛歯424に対して平行な状態で変位するとは、可動櫛歯414の変位量に対する可動櫛歯電極410と固定櫛歯電極420との間の静電容量の変化が実質的に比例する程度に、可動櫛歯414と固定櫛歯424とが並んでいればよい。
この構成によれば、可動櫛歯電極410と固定櫛歯電極420との静電容量の変化に基づいて第1ミラー101の変位を検出することができる。
2つの電極間の静電容量変化を検出する構成としては、互いに平行に配置された平板電極を設け、2枚の平板電極の間隔が変化することによる静電容量を検出する構成も考えられる。しかし、平板電極間の静電容量は、その間隔に反比例するため、間隔が大きいときには精度が悪い。
それに対し、櫛歯電極を用いることによって、平板電極の課題は解消される。櫛歯電極においては、可動櫛歯電極410の可動櫛歯414と固定櫛歯電極420の固定櫛歯424とが非接触な状態で互いに対向している。この状態から可動櫛歯電極410が変位することによって、可動櫛歯414と固定櫛歯424との対向面積Sが変化し、両者間の静電容量が変化する。櫛歯電極の静電容量は、対向面積Sに比例するので、静電容量の変化を精度良く検出することができる。
それに加えて、第1ミラー101と一体的に変位する可動櫛歯414は、固定櫛歯424に対して平行な状態で変位する。そのため、可動櫛歯414と固定櫛歯424との対向面積Sは、第1ミラー101の変位に実質的に比例して変化する。これにより、第1ミラー101の変位を、その変位量の大小にかかわらず一様な精度で検出することができる。その結果、第1ミラー101の変位の検出可能範囲の全体的な検出精度を向上させることができる。また、静電容量の変化量に対応する第1ミラー101の変位量の関係が検出可能範囲全体を通じて一様なので、第1ミラーの変位の制御性を向上させることができる。
また、アクチュエータ300は、複数設けられ、複数のアクチュエータ300は、それぞれ第1ミラー101の異なる位置に連結され、検出電極400は、複数設けられ、複数の可動櫛歯電極410,410は、それぞれ第1ミラー101の異なる位置に連結されている。
この構成によれば、第1ミラー101は、複数のアクチュエータ300,300によって駆動される。そして、複数のアクチュエータ300,300に対し、検出電極400も複数設けられている。そのため、検出電極400を各アクチュエータ300に対応させて配置することができる。これにより、各アクチュエータ300に起因する第1ミラー101の変位を対応する検出電極400でそれぞれ検出することができる。
さらに、第1ミラー101には、アクチュエータ300が連結される取付部103が設けられ、可動櫛歯電極410は、取付部103に連結されている。
この構成によれば、第1ミラー101のうち、アクチュエータ300が連結されている部分と同じ部分に可動櫛歯電極410が連結されている。つまり、可動櫛歯電極410は、第1ミラー101のうちアクチュエータ300により直接的に移動させられる部分と一体的に変位する。これにより、アクチュエータ300による第1ミラー101の変位を検出電極400によって正確に検出することができる。
さらにまた、第1ミラー101は、ミラー本体102を有し、取付部103は、ミラー本体102から延びており、取付部103には、蛇行する線条により形成され、弾性的に変形するヒンジ105を介してアクチュエータ300が連結されており、アクチュエータ300は、湾曲することによって第1ミラー101を駆動するように構成され、ヒンジ105は、アクチュエータ300が湾曲する際に伸張するように構成されており、可動櫛歯電極410は、取付部103のうち、アクチュエータ300が取り付けられた部分とは反対側に連結されている。
この構成によれば、アクチュエータ300は第1ミラー101を駆動する際に湾曲するので、アクチュエータ300のうち第1ミラー101に連結された部分は、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔を変化させる方向(Z軸方向)だけでなく、それ以外の方向(X軸方向)にも僅かに変位する。ここで、アクチュエータ300は、弾性的に変形するヒンジ105を介して取付部103に連結されているので、アクチュエータ300の不要な変位をヒンジ105で吸収することができる。ここで、ヒンジ105は、アクチュエータ300が湾曲する際に伸張するような配置となっているので、ヒンジ105は、蛇行する線条同士が干渉することなく、アクチュエータ300の不要な変位を吸収することができる。また、取付部を、ミラー本体102から延びるように構成することによって、アクチュエータ300及びヒンジ105の配置の自由度を向上させることができ、前述のようなヒンジ105の配置を実現することができる。そして、アクチュエータ300及びヒンジ105の配置の自由度のために設けられた取付部103を利用して可動櫛歯電極410を設けることができる。この取付部103は、前述の如く、第1ミラー101の一部であり且つアクチュエータ300が取り付けられる部分であるので、アクチュエータ300による第1ミラー101の変位を正確に検出することができる。
それに加えて、アクチュエータ300及び可動櫛歯電極410は、それぞれ2つ設けられており、取付部103は、ミラー本体102の中心Cを通る直線L1上であって、中心Cを挟んで対向する2箇所に設けられ、各アクチュエータ300は、複数のヒンジ105,105を介して取付部103に連結され、少なくとも2つのヒンジ105,105は、直線L1を挟んだ位置に配置されている。
この構成によれば、取付部103が、ミラー本体102の中心Cを通る直線L1上であって、中心Cを挟んで対向する2箇所に設けられているので、アクチュエータ300及び可動櫛歯電極410もミラー本体102の中心Cを通る直線L1上であって、中心Cを挟んで対向する2箇所に取り付けられる。つまり、第1ミラー101は、ミラー本体102の中心Cを通る直線L1上であって、中心Cを挟んで対向する2箇所がアクチュエータによって変位させられる。このような構成において、第1ミラー101が直線L1回りに回転する可能性がある。それに対し、各アクチュエータ300は、複数のヒンジ105,105を介して取付部103に連結され、少なくとも2つのヒンジ105,105は、直線L1を挟んだ位置に配置されている。このように、各アクチュエータ300につき2つのヒンジ105,105を直線L1を挟んだ位置に配置することによって、第1ミラー101が直線L1回りに回転することを防止することができる。その結果、第1ミラー101をできる限り第2ミラー201と平行な状態のまま変位させることができる。
また、光学フィルタ装置1000は、第1ミラー101と間隔を空けて配置される第2ミラー201をさらに備え、前記アクチュエータ300,300は、第1ミラー101を駆動して、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔を変更し、第1ミラー101及び第2ミラー201は、入射した光の一部を透過させるように構成され、入射してきた光のうち前記間隔に応じた波長の光を出射させる。
この構成によれば、第1ミラー101の変位を精度良く検出することによって、第1ミラー101と第2ミラー201との間隔を精度良く調整することができ、結果として、光学フィルタ装置1000から出射される光の波長を精度良く制御することができる。
《その他の実施形態》
以上のように、本出願において開示する技術の例示として、前記実施形態を説明した。しかしながら、本開示における技術は、これに限定されず、適宜、変更、置き換え、付加、省略などを行った実施の形態にも適用可能である。また、上記実施形態で説明した各構成要素を組み合わせて、新たな実施の形態とすることも可能である。また、添付図面および詳細な説明に記載された構成要素の中には、課題解決のために必須な構成要素だけでなく、上記技術を例示するために、課題解決のためには必須でない構成要素も含まれ得る。そのため、それらの必須ではない構成要素が添付図面や詳細な説明に記載されていることをもって、直ちに、それらの必須ではない構成要素が必須であるとの認定をするべきではない。
前記実施形態について、以下のような構成としてもよい。
光学素子は、光学フィルタ装置1000に限られるものではない。ミラーをアクチュエータで駆動する光学素子であれば、前述の可動櫛歯電極及び固定櫛歯電極による検出を適用することができる。特に、ミラーの傾きをできる限り維持したままミラーを変位させる光学素子に有効である。
光学フィルタ装置1000においては、第1ミラー101が第2ミラー201から離れるように変位するが、これに限られるものではない。第1ミラー101が第2ミラー201に接近するように変位する構成であってもよい。例えば、第2ユニット200の上に第1ユニット100を重ねてもよい。
アクチュエータ300は、2つ設けられているが、3つ以上であってもよい。また、検出電極400は、2つ設けられているが、3つ以上であってもよい。ただし、アクチュエータの個数と同数の検出電極400を設けることが好ましい。
また、可動櫛歯電極410は、第1ミラー101のうち、アクチュエータ300が取り付けられる部分以外の部分に取り付けられていてもよい。つまり、複数の検出電極400の静電容量に基づいて複数のアクチュエータ300の駆動電圧をフィードバック制御できる構成であれば、可動櫛歯電極410は任意の場所に配置することができる。
各アクチュエータ300は、2つのヒンジ105,105を介して第1ミラー101に連結されているが、ヒンジ105は、1つ又は3つ以上であってもよい。ヒンジ105が3つ以上の場合は、少なくとも2つが直線L1を挟んだ位置に配置されることが好ましい。
アクチュエータ300は、圧電効果により湾曲する圧電型アクチュエータであるが、これに限られるものではない。例えば、各アクチュエータは、熱膨張率の異なる材料を重ね合わせたビームで構成され、熱膨張率の差によって湾曲する熱型アクチュエータであってもよい。
アクチュエータ300は、第1ビーム301及び第2ビーム302の2本のビームを含むが、ビームは1本であっても、3本以上であってもよい。
第2ビーム302には、ダミー膜319を設けているが、省略してもよい。
第1ミラー101は、円筒部104を有するが、円筒部104を省略してもよい。
あるいは、ミラー101をブレードに置換することで、ブレードの変位を精度良く検出することができるシャッタ装置を構成することができる。図8は、そのようなシャッタ装置2000の平面図である。図2のミラー101をブレード601に置換することで、その他の構成要素は光学フィルタ装置1000のものをそのまま採用してシャッタ装置2000が構成される。
ブレード601は、ブレード本体602と、2つの取付部103とを有している。ブレード本体602は略方形の板状に形成されている。ミラー101はその表面が第1ビーム301及び第2ビーム302の表面と平行になるように第2ビーム302の先端に連結されるのに対して(図2を参照)、ブレード601はその表面が第1ビーム301及び第2ビーム302の表面に対して垂直になるように第2ビーム302の先端に連結される。すなわち、図8ではブレード本体602の厚み(側面)が描かれており、ブレード本体602の表面はY軸及びZ軸で規定される平面と平行になっている。そして、アクチュエータ300でブレード601を駆動することでブレード601がZ軸方向に変位して図略のX軸方向の光路の遮断及び開通させることができる。
このようなシャッタ装置2000においても、可動櫛歯電極410と固定櫛歯電極420との静電容量の変化に基づいてブレード601の変位を検出することができる。
尚、ブレード本体602の表面はY軸及びZ軸で規定される平面と平行である必要はなく、ブレード601で遮断及び開通させるべき図略の光路の方向に応じて、例えば、X軸及びZ軸で規定される平面と平行であってもよい。
以上説明したように、ここに開示された技術は、光学素子について有用である。
1000 光学フィルタ装置(光学素子)
101 第1ミラー(可動部)
103 取付部
105 ヒンジ(連結部)
201 第2ミラー(もう一つの可動部)
300A 第1アクチュエータ
300B 第2アクチュエータ
400 検出電極
410 可動櫛歯電極
414 可動櫛歯
420 固定櫛歯電極
424 固定櫛歯
601 ブレード(可動部)
2000 シャッタ装置(光学素子)

Claims (6)

  1. 可動部と、
    前記可動部を駆動するアクチュエータと、
    前記可動部の変位を検出する検出電極とを備え、
    前記検出電極は、
    複数の可動櫛歯を含み、前記可動部に連結された可動櫛歯電極と、
    前記可動櫛歯と互いに平行な状態で対向する複数の固定櫛歯を含む固定櫛歯電極とを有し、
    前記可動櫛歯は、前記可動櫛歯電極が前記可動部と一体的に変位する際に、前記固定櫛歯に対して平行な状態で当該可動櫛歯の厚さ方向に変位する光学素子。
  2. 請求項1に記載の光学素子において、
    前記アクチュエータは、複数設けられ、
    複数の前記アクチュエータは、それぞれ前記可動部の異なる位置に連結され、
    前記検出電極は、複数設けられ、
    複数の前記可動櫛歯電極は、それぞれ前記可動部の異なる位置に連結されている光学素子。
  3. 請求項2に記載の光学素子において、
    前記可動部には、前記アクチュエータが連結される取付部が設けられ、
    前記可動櫛歯電極は、前記取付部に連結されている光学素子。
  4. 請求項3に記載の光学素子において、
    前記可動部は、ミラー本体を有するミラーであり、
    前記取付部は、前記ミラー本体から延びており、
    前記取付部には、蛇行する線条により形成され、弾性的に変形する連結部を介して前記アクチュエータが連結されており、
    前記アクチュエータは、湾曲することによって前記可動部を駆動するように構成され、
    前記連結部は、前記アクチュエータが湾曲する際に伸張するように構成されており、
    前記可動櫛歯電極は、前記取付部のうち、前記アクチュエータが取り付けられた部分とは反対側に連結されている光学素子。
  5. 請求項4に記載の光学素子において、
    前記アクチュエータ及び前記可動櫛歯電極は、それぞれ2つ設けられており、
    前記取付部は、前記ミラー本体の中心を通る直線上であって、該中心を挟んで対向する2箇所に設けられ、
    前記各アクチュエータは、複数の前記連結部を介して前記取付部に連結され、
    少なくとも2つの前記連結部は、前記直線を挟んだ位置に配置されている光学素子。
  6. 請求項1に記載の光学素子において、
    前記可動部と間隔を空けて配置されるもう一つの可動部をさらに備え、
    前記可動部及び前記もう一つの可動部は、いずれもミラーであり、
    前記アクチュエータは、前記可動部を駆動して、該可動部と前記もう一つの可動部との間隔を変更し、
    前記可動部及び前記もう一つの可動部は、入射した光の一部を透過させるように構成され、入射してきた光のうち前記間隔に応じた波長の光を出射させる光学素子。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7061109B2 (ja) * 2017-03-17 2022-04-27 住友精密工業株式会社 変位拡大機構及びそれを用いた光学装置
EP3650913A4 (en) 2017-07-06 2021-03-31 Hamamatsu Photonics K.K. OPTICAL MODULE
US10509198B1 (en) * 2018-12-07 2019-12-17 Didi Research America, Llc Lever system for driving mirrors of a lidar transmitter
US11048076B2 (en) * 2019-06-28 2021-06-29 Hamamatsu Photonics K.K. Mirror unit, and method for manufacturing the mirror unit

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001159733A (ja) * 1999-12-02 2001-06-12 Fuji Photo Optical Co Ltd 撮像補助レンズおよびこれを用いた撮像装置
US6690847B2 (en) * 2000-09-19 2004-02-10 Newport Opticom, Inc. Optical switching element having movable optically transmissive microstructure
US7005775B2 (en) * 2001-05-09 2006-02-28 Chang Feng Wan Microfabricated torsional drive utilizing lateral electrostatic force
DE102008012825B4 (de) * 2007-04-02 2011-08-25 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 80686 Mikromechanisches Bauelement mit verkippten Elektroden
DE102009026507A1 (de) * 2009-05-27 2010-12-02 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Bauteil und Herstellungsverfahren für ein mikromechanisches Bauteil
JP5920706B2 (ja) * 2012-02-29 2016-05-18 国立大学法人 香川大学 Mems光学部品
JP6225169B2 (ja) * 2013-03-26 2017-11-01 住友精密工業株式会社 ミラーアレイ
JP5519067B1 (ja) * 2013-11-27 2014-06-11 株式会社テクノフロント 光学干渉計、及びこれを用いたフーリエ変換型分光器

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