JP6547617B2 - 電子部品 - Google Patents

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Description

本発明は、複数の機能素子部を有する電子部品に関する。
従来、複数の機能素子部を有する電子部品が広く用いられている。
下記の特許文献1には、第1の機能素子部と、第1の機能素子部上に配置された第2の機能素子部とを備える電子部品が開示されている。特許文献1では、第1の機能素子部が配置される第1の基板と、第2の機能素子部が配置される第2の基板との間に中空空間が設けられており、該中空空間に第1及び第2の機能素子部が封止されている。また、特許文献1では、上記中空空間内において、第1及び第2の機能素子部が、互いに対向するように設けられている。第1及び第2の機能素子部は、それぞれ、SAWやFBARなどによって構成されている。
特許第5300471号公報
特許文献1のように、複数の機能素子部を有する電子部品においては、機能素子部間において、大きな浮遊容量が発生することがあり、フィルタ特性などの特性が劣化することがあった。
本発明の目的は、浮遊容量を抑制することができ、特性の劣化が生じ難い、電子部品を提供することにある。
本発明の広い局面では、第1及び第2の素子基板と、前記第1の素子基板上に構成されており、少なくとも1つの第1の機能電極を有する、第1の機能素子部と、前記第2の素子基板上に構成されており、少なくとも1つの第2の機能電極を有する、第2の機能素子部と、前記第1及び第2の素子基板とともに、前記第1の機能電極が臨む、第1の中空空間を構成している、支持層と、を備え、前記第2の素子基板が、前記第1の中空空間とは反対側に設けられている第1の主面と、前記第1の中空空間側に設けられている第2の主面とを有し、前記第1の主面上に、前記第2の機能電極が構成されており、前記第2の主面上に設けられており、グラウンド電位に接続される、第1の導電層をさらに備え、前記第1の導電層が、前記第1の中空空間内において、前記第1の機能電極と対向しており、平面視において、前記第1の導電層が、前記第1及び第2の機能電極の少なくとも一部と重なっている、電子部品が提供される。
本発明の他の広い局面では、第1及び第2の素子基板と、前記第1及び第2の素子基板間に設けられている、第3の素子基板と、前記第1の素子基板上に構成されており、少なくとも1つの第1の機能電極を有する、第1の機能素子部と、前記第2の素子基板上に構成されており、少なくとも1つの第2の機能電極を有する、第2の機能素子部と、前記第1及び第3の素子基板とともに、前記第1の機能電極が臨む、第1の中空空間を構成している、支持層と、を備え、前記第3の素子基板上に設けられており、グラウンド電位に接続される、第1の導電層をさらに備え、前記第1の導電層が、前記第1の中空空間内において、前記第1の機能電極と対向しており、平面視において、前記第1の導電層が、前記第1及び第2の機能電極の少なくとも一部と重なっている、電子部品が提供される。
本発明に係る電子部品のある特定の局面では、前記第1の素子基板の前記第1の機能電極とは反対側の主面上に設けられている、第2の導電層をさらに備える。この場合には、電子部品の放熱性をより一層高めることができる。
本発明に係る電子部品の他の特定の局面では、前記第2の素子基板上に、前記第2の機能電極が臨む第2の中空空間が設けられている。
本発明に係る電子部品のさらに他の特定の局面では、前記第2の素子基板の前記第2の機能電極とは反対側の主面上に設けられている、第3の導電層をさらに備える。この場合には、電子部品の放熱性をより一層高めることができる。
本発明に係る電子部品のさらに他の特定の局面では、前記第1及び第2の機能素子部が、それぞれ、弾性波装置を構成している。
本発明に係る電子部品のさらに他の特定の局面では、前記第1及び第2の素子基板が、それぞれ、第1及び第2の圧電基板であり、前記第1及び第2の機能電極が、それぞれ、第1及び第2のIDT電極であり、前記第1及び第2の機能素子部がそれぞれ、弾性表面波装置である。
本発明に係る電子部品のさらに他の特定の局面では、平面視において、前記第1の導電層が、少なくとも前記第1及び第2のIDT電極の交叉領域と重なっている。
本発明に係る電子部品のさらに他の特定の局面では、前記第1の機能素子部が、受信フィルタを構成しており、前記第2の機能素子部が、送信フィルタを構成しており、前記送信フィルタ及び前記受信フィルタを有する、デュプレクサにより構成されている。
本発明によれば、浮遊容量を抑制することができ、特性の劣化が生じ難い、電子部品を提供することができる。
(a)は、本発明の第1の実施形態に係る電子部品の回路図であり、(b)は、1ポート型弾性波共振子の電極構造を示す模式的平面図である。 (a)〜(c)は、順に、第1の機能素子部、第1の導電層及び第2の機能素子部を示す略図的平面図である。 本発明の第1の実施形態に係る電子部品において、第1及び第2の機能電極が設けられている部分を示す、模式的正面断面図である。 本発明の第2の実施形態に係る電子部品において、第1及び第2の機能電極が設けられている部分を示す、模式的正面断面図である。 本発明の第3の実施形態に係る電子部品において、第1及び第2の機能電極が設けられている部分を示す、模式的正面断面図である。 本発明の第4の実施形態に係る電子部品において、第1及び第2の機能電極が設けられている部分を示す、模式的正面断面図である。 本発明の第5の実施形態に係る電子部品において、第1及び第2の機能電極が設けられている部分を示す、模式的正面断面図である。 実施例及び比較例のデュプレクサの送信特性を示す図である。 実施例及び比較例のデュプレクサの受信特性を示す図である。 実施例及び比較例のデュプレクサのアイソレーション特性を示す図である。 実施例及び比較例のデュプレクサにおいて、最も温度が高くなるIDT電極の上昇温度の測定結果を示す図である。
以下、図面を参照しつつ、本発明の具体的な実施形態を説明することにより、本発明を明らかにする。
なお、本明細書に記載の各実施形態は、例示的なものであり、異なる実施形態間において、構成の部分的な置換または組み合わせが可能であることを指摘しておく。
(第1の実施形態)
図1(a)は、本発明の第1の実施形態に係る電子部品の回路図であり、(b)は、1ポート型弾性波共振子の電極構造を示す模式的平面図である。図2(a)〜(c)は、順に、第1の機能素子部、第1の導電層及び第2の機能素子部を示す略図的平面図である。
電子部品1は、デュプレクサである。電子部品1は、受信フィルタとしての第1の機能素子部2と、送信フィルタとしての第2の機能素子部3とを備える。図2(a)に示すように、第1の機能素子部2は、第1の素子基板5上に構成されている。また、図2(c)に示すように、第2の機能素子部3は、第2の素子基板6上に構成されている。なお、第2の機能素子部3は、第1の機能素子部2上に配置されている。また、第1及び第2の機能素子部2,3間には、第1の導電層4が配置されている。これらの位置関係の詳細については、後述するものとする。
図1(a)に示すように、電子部品1は、アンテナ端子7を有する。アンテナ端子7とグラウンド電位との間にインピーダンス整合用のインダクタンスLが接続されている。また、アンテナ端子7に共通端子8が接続されている。共通端子8と受信端子10との間に受信フィルタとしての第1の機能素子部2が構成されている。共通端子8と送信端子9との間に送信フィルタとしての第2の機能素子部3が構成されている。
受信フィルタである第1の機能素子部2においては、共通端子8に、それぞれが弾性波共振子からなる直列腕共振子S5,S6及び並列腕共振子P4,P5が接続されている。そして、直列腕共振子S6と、受信端子10との間に、3IDT型の縦結合共振子型弾性波フィルタ部14が設けられている。縦結合共振子型弾性波フィルタ部14では、圧電基板である第1の素子基板5の表面を伝搬する弾性表面波の伝搬方向において、3以上の奇数個のIDT電極が並設されている。この3以上の奇数個のIDT電極群の両側に反射器が設けられている。第1の機能素子部2では、縦結合共振子型弾性波フィルタ部14や、各共振子を構成するIDT電極が、それぞれ、第1の機能電極である。
図2(a)では、直列腕共振子S5,S6及び並列腕共振子P4,P5並びに縦結合共振子型弾性波フィルタ部14が構成される各部分を、Xを枠で囲んだ形状で模式的に示している。直列腕共振子S5,S6及び並列腕共振子P4,P5並びに縦結合共振子型弾性波フィルタ部14は、第1の素子基板5上に構成されている。
図1(a)に戻り、送信フィルタである第2の機能素子部3は、ラダー型回路構成を有する。すなわち、それぞれが弾性波共振子からなる直列腕共振子S1〜S4と、並列腕共振子P1〜P3とを有する。直列腕共振子S1〜S4及び並列腕共振子P1〜P3は、1ポート型弾性波共振子からなる。
1ポート型弾性波共振子は、図1(b)に示す電極構造を有する。IDT電極11と、IDT電極11の弾性波伝搬方向両側に配置された反射器12,13とが、圧電基板である第2の素子基板上に形成されている。それによって、1ポート型弾性波共振子が構成されている。なお、本実施形態においては、IDT電極11が機能電極である。本実施形態では、第2の機能素子部3において、各共振子を構成するIDT電極11が、それぞれ、第2の機能電極である。
図2(c)では、Xを矩形の枠で囲んだ記号により、直列腕共振子S1〜S4及び並列腕共振子P1〜P3が構成されている部分を略図的に示している。直列腕共振子S1〜S4及び並列腕共振子P1〜P3は、第2の素子基板6上に構成されている。なお、各弾性波共振子におけるIDT電極や反射器並びに接続配線は、Ag、Cu、Pt、Wなどの適宜の金属もしくは合金により形成することができる。
図3は、本発明の第1の実施形態に係る電子部品において、第1及び第2の機能電極が設けられている部分を示す模式的正面断面図である。図3に示すように、第1の素子基板5上に、第1の機能素子部2が設けられている。第2の素子基板6上に、第2の機能素子部3が設けられている。第2の機能素子部3は、第1の機能素子部2上に配置されている。第1の導電層4は、第1及び第2の機能素子部2,3間に配置されている。
第1の素子基板5は、矩形板状である。第1の素子基板5は、主面5aを有する。第1の素子基板5は、LiTaOからなる圧電基板である。もっとも、第1の素子基板5としては、LiNbOなどの他の圧電単結晶からなる基板を用いてもよいし、圧電セラミックスからなる基板を用いてもよい。また、第1の素子基板5は、上記のような圧電基板に限定されず、Siや、半導体基板などにより構成されていてもよい。
第1の素子基板5の主面5a上には、第1の機能電極15が設けられている。本実施形態において、第1の機能電極15は、第1のIDT電極である。上記第1のIDT電極は、Al、Cu、Ni、Ti、Pt、NiCrもしくはAlCuなどの適宜の金属または合金により構成することができる。上記第1のIDT電極は、単層の金属膜であってもよく、2種以上の金属又は合金が積層された積層金属膜であってもよい。本実施形態では、第1の機能電極15と、第1の素子基板5とによって、第1の機能素子部2が構成されている。
第1の素子基板5の主面5a上には、電極ランド17a,17bが設けられている。電極ランド17a,11bは、図示しない配線電極により、第1の機能電極15と電気的に接続されている。
第1の素子基板5内に、ビアホール電極18a,18bが設けられている。ビアホール電極18a,18bの一端は、それぞれ、電極ランド17a,17bに接続されている。ビアホール電極18a,18bの他端は、それぞれ、バンプ電極19a,19bに接続されている。バンプ電極19a,19bは、第1の素子基板5の主面5aとは、反対側の主面5b上に設けられている。
第1の素子基板5の主面5a上には、枠状の第1の支持層20が設けられている。第1の支持層20は、電極ランド17a,17bの一部を覆うように設けられている。第1の支持層20は、第1の機能電極15を囲むように設けられている。第1の支持層20は、樹脂により構成されている。また、第1の支持層20の厚みは、第1の機能電極15の厚みよりも厚い。
第1の支持層20上には、第2の素子基板6が設けられている。電子部品1では、第1の素子基板5、第1の支持層20及び第2の素子基板6により、第1の機能電極15が臨む第1の中空空間21が形成されている。第1の中空空間21に、第1の機能電極15が封止されている。
第2の素子基板6は、矩形板状である。第2の素子基板6は、互いに対向する第1及び第2の主面6a,6bを有する。第2の素子基板6は、LiTaOからなる圧電基板である。もっとも、第2の素子基板6としては、LiNbOなどの他の圧電単結晶からなる基板を用いてもよいし、圧電セラミックスからなる基板を用いてもよい。また、第2の素子基板6は、上記のような圧電基板に限定されず、Siや、半導体基板などにより構成されていてもよい。
第2の素子基板6の第1の主面6a上には、第2の機能電極16が設けられていれる。本実施形態において、第2の機能電極16は、第2のIDT電極である。上記第2のIDT電極は、Al、Cu、Ni、Ti、Pt、NiCrもしくはAlCuなどの適宜の金属または合金からなる。上記第2のIDT電極は、単層の金属膜であってもよく、2種以上の金属又は合金が積層された積層金属膜であってもよい。本実施形態では、第2の機能電極16と、第2の素子基板6とによって、第2の機能素子部3が構成されている。
第2の素子基板6の第2の主面6b上には、第1の導電層4が設けられている。第1の導電層4は、第1の中空空間21に臨むように設けられている。従って、第2の主面6bは、第2の素子基板6の第1の中空空間21側の主面である。
第1の導電層4は、第1の機能電極15に対向するように設けられている。第1の導電層4は、図示しないグラウンド電位に接続されている。第1の導電層4は、Cuにより構成されている。もっとも、第1の導電層4は、Ni、Cr、Sn、ZnもしくはAuなどの適宜の金属又は合金により構成されていてもよい。第1の導電層4の厚みは、好ましくは0.1μm以上であり、より好ましくは3μm以上であり、好ましくは50μm以下であり、より好ましくは20μm以下である。第1の導電層4の厚みが上記下限以上であると、後述する浮遊容量をより一層抑制することができる。また、第1の導電層4の厚みが、上記上限以下であると、電子部品1のより一層の低背化を図ることができる。
なお、図2(a)〜(c)に示すように、本実施形態では、平面視において、第1及び第2の機能電極15,16と重なる部分を有するように第1の導電層4が設けられている。第1の導電層4は、平面視において、第1及び第2の機能電極15,16と少なくとも一部が重なるように設けられていればよい。なお、第1及び第2の機能電極15,16がIDT電極である場合、第1の導電層4は、少なくとも、平面視においてIDT電極の交叉領域と重なるように設けられていることが好ましい。
図3に戻り、第2の素子基板6の第1の主面6a上には、電極ランド23a,23bが設けられている。電極ランド23aは、図示しない配線電極により、第2の機能電極16に接続されている。また、第1の支持層20及び第2の素子基板6の内部には、ビアホール電極24aが設けられている。ビアホール電極24aの一端は、電極ランド23aに接続されている。ビアホール電極24aの他端は、電極ランド17aに接続されている。なお、第1の支持層20内には、一端が電極ランド17bに接続されるビアホール電極24bが設けられている。ビアホール電極24bの他端は、第1の導電層4に接続されている。電極ランド17a,17b,23a,23b、ビアホール電極18a,18b,24a,24b及びバンプ電極19a,19bは、適宜の金属又は合金により構成されていれる。
第2の素子基板6の第1の主面6a上には、枠状の第2の支持層25が設けられている。第2の支持層25は、電極ランド23aの一部を覆うように設けられている。第2の支持層25は、第2の機能電極16を囲むように設けられている。第2の支持層25は、樹脂により構成されている。また、第2の支持層25の厚みは、第2の機能電極16の厚みよりも厚い。
第2の支持層25上には、カバー層26が設けられている。カバー層26は、樹脂により構成されている。電子部品1では、第2の素子基板6、第2の支持層25及びカバー層26により、第2の機能電極16が臨む第2の中空空間22が形成されている。第2の中空空間22内に、第2の機能電極16が封止されている。
電子部品1では、積層方向において、第1及び第2の機能電極15,16間に第1の導電層4が配置されている。第1の導電層4は、平面視において、第1及び第2の機能電極15,16の少なくとも一部と重なるように設けられている。また、第1の導電層4は、グラウンド電位に接続されている。電子部品1では、上記のような第1の導電層4が設けられて電磁シールドの役割を果たすので、第1及び第2の機能電極15,16間における浮遊容量を抑制することができる。よって、電子部品1では、特性の劣化が生じ難い。
また、本実施形態では、第1及び第2の機能電極15,16が、対向するように設けられておらず、同一空間内に封止されていない。そのため、第1及び第2の機能電極15,16の発熱による問題が生じ難く、特性の劣化が生じ難い。さらに、第2の素子基板6の第2の機能電極16とは反対側の主面である第2の主面6b上に、第1の導電層4が設けられているので、第2の機能電極16で発生した熱をより一層効果的に放熱させることができる。よって、電子部品1では、特性の劣化がより一層生じ難い。
第1及び第2の機能素子部2,3は、それぞれ、受信フィルタ及び送信フィルタであり、弾性波装置である。より具体的には、第1及び第2の機能素子部2,3は、それぞれ、弾性表面波装置である。第1及び第2の機能素子部2,3は、同じ機能素子であってもよく、異なる機能素子であってもよい。機能素子は、バルク波を利用した板波共振子(BAW)であってもよい。
本実施形態においては、第1の素子基板5上に、受信フィルタが構成されており、第2の素子基板6上に、送信フィルタが構成されている。すなわち、受信フィルタ上に送信フィルタが配置されている。もっとも、第1の素子基板5上に、送信フィルタが構成されており、第2の素子基板6上に、受信フィルタが構成されていてもよい。すなわち、送信フィルタ上に受信フィルタが配置されていてもよい。
また、受信フィルタと送信フィルタの一部である直列腕共振子S1〜S4とが第1の素子基板上5に、並列腕共振子P1〜P3が第2の素子基板6上に構成されていてもよい。第1及び第2の素子基板5,6上に、それぞれ、異なるBANDのデュプレクサが構成されていてもよい。例えば、第1の素子基板5上にBAND1のデュプレクサが構成され、第2の素子基板6上に、BAND3のデュプレクサが構成されてもよい。
次に、具体的な実施例につき説明する。
実施例;
実施例では、第1の導電層4として、厚み10μmのCu膜を用い、BAND8のデュプレクサである電子部品1を作製した。比較例として、第1の導電層4が設けられていないこと以外は実施例と同様のデュプレクサを作製した。
図8は、実施例及び比較例のデュプレクサの送信特性を示す図である。図9は、実施例及び比較例のデュプレクサの受信特性を示す図である。図10は、実施例及び比較例のデュプレクサのアイソレーション特性を示す図である。なお、図8〜図10においては、実線は実施例の結果を示し、破線で比較例の結果を示している。図8〜図10において、送信周波数帯を示す送信帯域は、880〜915MHzであり、受信周波数帯である受信帯域は、925〜960MHzである。図8〜図10から明らかなように、第1の導電層4が設けられている実施例のデュプレクサでは、比較例のデュプレクサと比べて、減衰特性が改善されていることがわかる。
また、実施例及び比較例のデュプレクサにおいて、915MHzに電力を送信端子9から印加した。各共振子の消費電力を算出するとともに、最も温度が高くなるIDT電極の上昇温度を測定した。結果を図11に示す。図11から明らかなように、第1の導電層4が設けられている実施例のデュプレクサでは、比較例と比べて、放熱特性が改善されていることが確認できた。
(第2の実施形態)
図4は、本発明の第2の実施形態に係る電子部品において、第1及び第2の機能電極が設けられている部分を示す、模式的正面断面図である。
電子部品31では、第1の素子基板5の第1の機能電極15とは反対側の主面5b上に、第2の導電層28が設けられている。第2の導電層28は、バンプ電極19cに接続されている。なお、第2の導電層28は、図示しないグラウンド電位に接続されている。また、電子部品31では、ビアホール電極18a,18bが、電極ランド27a,27bを介して、バンプ電極19a,19bに接続されている。その他の点は、第1の実施形態と同様である。
電子部品31においても、積層方向において、第1及び第2の機能電極15,16間に第1の導電層4が配置されている。第1の導電層4は、平面視において、第1及び第2の機能電極15,16の少なくとも一部と重なるように設けられている。また、第1の導電層4は、グラウンド電位に接続されている。上記のような第1の導電層4を備えるので、第1及び第2の機能電極15,16間における浮遊容量を抑制することができる。よって、電子部品31では、特性の劣化が生じ難い。
また、第2の素子基板6の第2の機能電極16とは反対側の主面である第2の主面6b上に、第1の導電層4が設けられているので、第2の機能電極16で発生した熱をより一層効果的に放熱させることができる。さらに、電子部品31では、第1の素子基板5の主面5b上に、第2の導電層28が設けられているので、第1の機能電極15で発生した熱をより一層効果的に放熱することができる。よって、電子部品31では特性の劣化がより一層生じ難い。
(第3の実施形態)
図5は、本発明の第3の実施形態に係る電子部品において、第1及び第2の機能電極が設けられている部分を示す、模式的正面断面図である。
電子部品41では、図3で第2の素子基板6が設けられている位置に第3の素子基板29が設けられている。第3の素子基板29の第1の中空空間21側の主面上には、第1の導電層4が設けられている。一方、第3の素子基板29の第2の中空空間22側の主面上には、電極ランド23a,23b及び第2の支持層25が設けられている。第3の素子基板29内に、ビアホール電極24a,24cが設けられている。ビアホール電極24cの一端は、第1の導電層4に接続されている。ビアホール電極24cの他端は、電極ランド23bに接続されている。第2の支持層25上には、第2の素子基板6が設けられている。第2,第3の素子基板6,29及び第2の支持層25により、第2の中空空間22が構成されている。
第2の素子基板6の第1の主面6a上には、第2の機能電極16及び電極ランド31a,31bが設けられている。第2の素子基板6の第2の主面6b上には、第3の導電層33が設けられている。第2の支持層25内には、ビアホール電極30a,30bが設けられている。ビアホール電極30a,30bの一端は、電極ランド23a,23bに接続されている。ビアホール電極30a,30bの他端には、電極ランド31a,31bが接続されている。第2の素子基板6内には、ビアホール電極32が設けられている。ビアホール電極32の一端は、電極ランド31bに接続されている。ビアホール電極32の他端は、第3の導電層33に接続されている。その他の点は、第1の実施形態と同様である。
電子部品41においては、積層方向において、第1及び第2の機能電極15,16間に第1の導電層4が配置されている。第1の導電層4は、平面視において、第1及び第2の機能電極15,16の少なくとも一部と重なるように設けられている。また、第1の導電層4は、グラウンド電位に接続されている。上記の第1の導電層4を備えるので、第1及び第2の機能電極15,16間における浮遊容量を抑制することができる。よって、電子部品41では、特性の劣化が生じ難い。
また、第2の素子基板6の第2の機能電極16とは反対側の主面である第2の主面6b上に、第3の導電層33が設けられているので、第2の機能電極16で発生した熱をより一層効果的に放熱させることができる。よって、電子部品41では特性の劣化がより一層生じ難い。
(第4及び第5の実施形態)
図6及び図7は、それぞれ、本発明の第4及び第5の実施形態に係る電子部品において、第1及び第2の機能電極が設けられている部分を示す、模式的正面断面図である。
図6に示すように、電子部品51において、電極ランド17a,17bは、第1の素子基板5の側面に設けられている側面電極34a,34bを経て、電極ランド27a,27bに接続されている。電極ランド27a,27bは、バンプ電極19a,19bに接続されている。従って、電子部品51においては、第1の素子基板5内にビアホール電極が設けられていない。その他の点は、第1の実施形態と同様である。
図7に示すように、電子部品61において、電極ランド17aは、第1の支持層20及び第2の素子基板6の側面に設けられている側面電極35aを経て、電極ランド23aに接続されている。また、電極ランド17bは、第1の支持層20の側面に設けられている側面電極35bを経て、第1の導電層4に接続されている。従って、電子部品61においては、第1の支持層20及び第2の素子基板6内にビアホール電極が設けられていない。その他の点は、第4の実施形態と同様である。
電子部品51,61では、積層方向において、第1及び第2の機能電極15,16間に第1の導電層4が配置されている。第1の導電層4は、平面視において、第1及び第2の機能電極15,16の少なくとも一部と重なるように設けられている。また、第1の導電層4は、グラウンド電位に接続されている。上記の第1の導電層4を備えるので、第1及び第2の機能電極15,16間における浮遊容量を抑制することができる。よって、電子部品51,61では、特性の劣化がより一層生じ難い。
また、第4及び第5の実施形態では、第1及び第2の機能電極15,16が、対向するように設けられておらず、同一空間内に封止されていない。そのため、第1及び第2の機能電極15,16の発熱によっても、特性の劣化が生じ難い。さらに、第2の素子基板6の第2の機能電極16とは反対側の主面である第2の主面6b上に、第1の導電層4が設けられているので、第2の機能電極16で発生した熱をより一層効果的に放熱させることができる。よって、電子部品51,61では、特性の劣化がより一層生じ難い。
1,31,41,51,61…電子部品
2,3…第1,第2の機能素子部
4…第1の導電層
5,6…第1,第2の素子基板
5a,5b…主面
6a,6b…第1,第2の主面
7…アンテナ端子
8…共通端子
9…送信端子
10…受信端子
11…IDT電極
12,13…反射器
14…縦結合共振子型弾性波フィルタ部
15,16…第1,第2の機能電極
17a,17b,23a,23b,27a,27b,31a,31b…電極ランド
18a,18b,24a〜24c,30a,30b,32…ビアホール電極
19a,19b,19c…バンプ電極
20,25…第1,第2の支持層
21,22…第1,第2の中空空間
26…カバー層
28…第2の導電層
29…第3の素子基板
33…第3の導電層
34a,34b,35a,35b…側面電極
P1〜P5…並列腕共振子
S1〜S6…直列腕共振子

Claims (10)

  1. 第1及び第2の素子基板と、
    前記第1の素子基板上に構成されており、少なくとも1つの第1の機能電極を有する、第1の機能素子部と、
    前記第2の素子基板上に構成されており、少なくとも1つの第2の機能電極を有する、第2の機能素子部と、
    前記第1及び第2の素子基板とともに、前記第1の機能電極が臨む、第1の中空空間を構成している、支持層と、
    を備え、
    前記第2の素子基板が、前記第1の中空空間とは反対側に設けられている第1の主面と、前記第1の中空空間側に設けられている第2の主面とを有し、
    前記第1の主面上に、前記第2の機能電極が構成されており、
    前記第2の主面上に設けられており、グラウンド電位に接続される、第1の導電層をさらに備え、
    前記第1の導電層が、前記第1の中空空間内において、前記第1の機能電極と対向しており、
    平面視において、前記第1の導電層が、前記第1及び第2の機能電極の少なくとも一部と重なっており、
    前記第1の素子基板の前記第1の機能電極とは反対側の主面上に設けられている、第2の導電層と、
    前記第2の導電層に接されているバンプとをさらに備え
    前記第2の導電層が前記第1の素子基板を介して前記第1の機能電極と対向するように設けられる、電子部品。
  2. 第1及び第2の素子基板と、
    前記第1及び第2の素子基板間に設けられている、第3の素子基板と、
    前記第1の素子基板上に構成されており、少なくとも1つの第1の機能電極を有する、第1の機能素子部と、
    前記第2の素子基板上に構成されており、少なくとも1つの第2の機能電極を有する、第2の機能素子部と、
    前記第1及び第3の素子基板とともに、前記第1の機能電極が臨む、第1の中空空間を構成している、支持層と、
    を備え、
    前記第3の素子基板上に設けられており、グラウンド電位に接続される、第1の導電層をさらに備え、
    前記第1の導電層が、前記第1の中空空間内において、前記第1の機能電極と対向しており、
    平面視において、前記第1の導電層が、前記第1及び第2の機能電極の少なくとも一部と重なっており、
    前記第1の素子基板の前記第1の機能電極とは反対側の主面上に設けられている、第2の導電層と、
    前記第2の導電層に接されているバンプとをさらに備え
    前記第2の導電層が前記第1の素子基板を介して前記第1の機能電極と対向するように設けられる、電子部品。
  3. 前記第1の素子基板の前記第1の機能電極が設けられている側とは反対側の主面に、アンテナ端子、受信端子及び送信端子のうちのいずれかに接続される電極ランドが設けられており、前記グラウンド電位に接続される前記第2の導電層が前記電極ランドとは隔てられて設けられている、請求項1または2に記載の電子部品。
  4. 前記第2の素子基板上に、前記第2の機能電極が臨む第2の中空空間が設けられている、請求項1〜3のいずれか1項に記載の電子部品。
  5. 前記第2の素子基板の前記第2の機能電極とは反対側の主面上に設けられている、第3の導電層をさらに備える、請求項2に記載の電子部品。
  6. 前記第1及び第2の機能素子部が、それぞれ、弾性波装置を構成している、請求項1〜のいずれか1項に記載の電子部品。
  7. 前記第1及び第2の素子基板が、それぞれ、第1及び第2の圧電基板であり、
    前記第1及び第2の機能電極が、それぞれ、第1及び第2のIDT電極であり、
    前記第1及び第2の機能素子部が、それぞれ、弾性表面波装置を構成している、請求項1〜のいずれか1項に記載の電子部品。
  8. 平面視において、前記第1の導電層が、少なくとも前記第1及び第2のIDT電極の交叉領域と重なっている、請求項に記載の電子部品。
  9. 前記第1の機能素子部が、受信フィルタを構成しており、
    前記第2の機能素子部が、送信フィルタを構成しており、
    前記送信フィルタ及び前記受信フィルタを有する、デュプレクサにより構成されている、請求項1〜のいずれか1項に記載の電子部品。
  10. 前記第3の素子基板の前記第1の導電層とは反対の主面上に形成されており、前記第2の素子基板と連結されており、前記第2及び第3の素子基板とともに、前記第2の機能電極が臨む、第2の中空空間を構成している第2の支持層をさらに備える、請求項2に記載の電子部品。
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015102869B4 (de) * 2015-02-27 2017-05-11 Snaptrack, Inc. MEMS-Bauelement mit hoher Integrationsdichte und Verfahren zu seiner Herstellung
CN109314500A (zh) * 2016-06-09 2019-02-05 株式会社村田制作所 弹性波装置
JPWO2018105201A1 (ja) * 2016-12-08 2019-08-08 株式会社村田製作所 複合部品及びその実装構造
US10944379B2 (en) * 2016-12-14 2021-03-09 Qualcomm Incorporated Hybrid passive-on-glass (POG) acoustic filter
JP6848986B2 (ja) * 2016-12-26 2021-03-24 株式会社村田製作所 弾性波装置、高周波フロントエンドモジュールおよび通信装置
CN111527697B (zh) 2017-12-26 2023-09-12 株式会社村田制作所 弹性波装置以及弹性波模块
DE102018108611B4 (de) 2018-04-11 2019-12-12 RF360 Europe GmbH Gehäuse für elektrische Vorrichtung und Verfahren zum Herstellen des Gehäuses
WO2020047519A1 (en) * 2018-08-31 2020-03-05 Skyworks Solutions, Inc. Devices and methods related to nested filters
WO2020090963A1 (ja) 2018-11-02 2020-05-07 株式会社村田製作所 電子機器
CN111342807B (zh) * 2018-12-18 2023-12-15 天津大学 具有增大的过孔面积的滤波器和电子设备
US11689181B2 (en) * 2020-05-27 2023-06-27 Qualcomm Incorporated Package comprising stacked filters with a shared substrate cap
US11984871B2 (en) * 2020-05-29 2024-05-14 Rf360 Singapore Pte. Ltd. Package comprising stacked filters
KR102408004B1 (ko) * 2020-09-24 2022-06-13 (주)와이솔 표면탄성파 소자 어셈블리 및 그 제작 방법
CN112332802A (zh) * 2020-11-19 2021-02-05 武汉衍熙微器件有限公司 发射滤波器和双工器
KR20230069710A (ko) * 2021-11-12 2023-05-19 삼성전자주식회사 지향성 음향 센서
US20230253950A1 (en) * 2022-02-04 2023-08-10 RF360 Europe GmbH Stacked acoustic wave (aw) filter packages, including cross-talk reduction layers, and related fabrication methods
CN114710135B (zh) * 2022-03-28 2024-05-14 象朵创芯微电子(苏州)有限公司 一种双面滤波器、制备方法以及射频模组、电子设备
WO2023190721A1 (ja) * 2022-03-31 2023-10-05 株式会社村田製作所 弾性波装置
CN116032246B (zh) * 2023-03-27 2023-10-31 成都频岢微电子有限公司 一种双工器

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3715782A (en) 1971-12-09 1973-02-13 E Newell Device for securing a line
JPS53471A (en) 1976-06-24 1978-01-06 Takara Kouzai Kk Drying method and apparatus for moisture containing powdery particle substance
GB2095477B (en) * 1981-03-23 1984-09-12 Signal Technology Ltd A stripline surface acoustic wave package
JPS6020614A (ja) * 1983-07-15 1985-02-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd 弾性表面波回路ブロツク
JPH01297881A (ja) * 1988-05-26 1989-11-30 Seiko Keiyo Kogyo Kk プリントコイル
JPH02179018A (ja) * 1988-12-28 1990-07-12 Murata Mfg Co Ltd 表面実装型表面波デバイス
JP3145186B2 (ja) * 1992-06-18 2001-03-12 富士通株式会社 弾性表面波分波器
JP2000236230A (ja) * 1999-02-12 2000-08-29 Kyocera Corp 弾性表面波フィルタ
KR100431180B1 (ko) * 2001-12-07 2004-05-12 삼성전기주식회사 표면 탄성파 필터 패키지 제조방법
DE102005026243B4 (de) * 2005-06-07 2018-04-05 Snaptrack, Inc. Elektrisches Bauelement und Herstellungsverfahren
US7361842B2 (en) * 2005-06-30 2008-04-22 Intel Corporation Apparatus and method for an embedded air dielectric for a package and a printed circuit board
JP2007110202A (ja) * 2005-10-11 2007-04-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 複合フィルタチップ
JP4638530B2 (ja) * 2008-08-19 2011-02-23 日本電波工業株式会社 圧電部品及びその製造方法
JP2010109269A (ja) 2008-10-31 2010-05-13 Panasonic Corp 半導体装置
WO2012081240A1 (ja) 2010-12-16 2012-06-21 パナソニック株式会社 弾性波装置
DE102013102206B4 (de) 2013-03-06 2016-04-07 Epcos Ag Bauelement mit gestapelten funktionalen Strukturen und Verfahren zur Herstellung
DE102013102210B4 (de) 2013-03-06 2016-04-07 Epcos Ag Zur Miniaturisierung geeignetes elektrisches Bauelement mit verringerter Verkopplung
CN105814796B (zh) 2013-12-25 2019-04-19 株式会社村田制作所 弹性波滤波器设备
DE102015102869B4 (de) * 2015-02-27 2017-05-11 Snaptrack, Inc. MEMS-Bauelement mit hoher Integrationsdichte und Verfahren zu seiner Herstellung
US9660609B2 (en) * 2015-07-07 2017-05-23 Skyworks Solutions, Inc. Devices and methods related to stacked duplexers

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