JP6504260B2 - 電流センサおよびこれを備える電力変換装置 - Google Patents

電流センサおよびこれを備える電力変換装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6504260B2
JP6504260B2 JP2017544417A JP2017544417A JP6504260B2 JP 6504260 B2 JP6504260 B2 JP 6504260B2 JP 2017544417 A JP2017544417 A JP 2017544417A JP 2017544417 A JP2017544417 A JP 2017544417A JP 6504260 B2 JP6504260 B2 JP 6504260B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic sensor
flow passage
current
current sensor
sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017544417A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2017061206A1 (ja
Inventor
川浪 崇
崇 川浪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Publication of JPWO2017061206A1 publication Critical patent/JPWO2017061206A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6504260B2 publication Critical patent/JP6504260B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/20Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using galvano-magnetic devices, e.g. Hall-effect devices, i.e. measuring a magnetic field via the interaction between a current and a magnetic field, e.g. magneto resistive or Hall effect devices
    • G01R15/207Constructional details independent of the type of device used
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/20Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using galvano-magnetic devices, e.g. Hall-effect devices, i.e. measuring a magnetic field via the interaction between a current and a magnetic field, e.g. magneto resistive or Hall effect devices
    • G01R15/202Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using galvano-magnetic devices, e.g. Hall-effect devices, i.e. measuring a magnetic field via the interaction between a current and a magnetic field, e.g. magneto resistive or Hall effect devices using Hall-effect devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/20Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using galvano-magnetic devices, e.g. Hall-effect devices, i.e. measuring a magnetic field via the interaction between a current and a magnetic field, e.g. magneto resistive or Hall effect devices
    • G01R15/205Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using galvano-magnetic devices, e.g. Hall-effect devices, i.e. measuring a magnetic field via the interaction between a current and a magnetic field, e.g. magneto resistive or Hall effect devices using magneto-resistance devices, e.g. field plates
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0092Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring current only
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M1/00Details of apparatus for conversion
    • H02M1/0003Details of control, feedback or regulation circuits
    • H02M1/0009Devices or circuits for detecting current in a converter
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M7/00Conversion of ac power input into dc power output; Conversion of dc power input into ac power output
    • H02M7/42Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal
    • H02M7/44Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters
    • H02M7/48Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)

Description

本発明は、電流センサおよびこれを備える電力変換装置に関し、被測定電流に応じて発生する磁界を測定することで被測定電流の値を検出する電流センサおよびそれを備える電力変換装置に関する。
電流センサの構成を開示した先行文献として、特開2007−78418号公報(特許文献1)がある。特許文献1に記載された電流センサにおいては、集積チップが、バスバーからなる平行な2本のラインに挟まれるかたちで配設される。集積チップは、2本のラインの間に設けられた段差空間へ、ラインが表側に、またラインが裏側に位置するように配設される。集積チップに搭載された磁気検出素子により、2本のラインに電流(各ラインとも同一方向の電流)が流れることに起因して発生する、相反する方向の磁気ベクトルを各別に検出する。
特開2007−78418号公報
特許文献1の図8に記載された電流センサにおいては、集積チップがラインに垂直に配置されており、上下方向において集積チップが2本のラインより突出しているため、電流センサの低背化を阻害している。特許文献1の図2に記載された電流センサにおいては、集積チップがラインに平行に配置されており、磁気検出素子がチップ表面に平行な磁気を検出しているため、バスバーである1次導体を流れる電流が交流である場合、電流の周波数が高くなるに従って、電流センサの出力の立ち上がり時間が長くなり、電流センサの測定誤差が大きくなる。
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであって、良好な周波数特性を有する低背な電流センサおよびそれを備える電力変換装置を提供することを目的とする。
本発明の第1の局面に基づく電流センサは、測定対象の電流が流れ、表面および裏面を含み、長さ方向、上記長さ方向と直交する幅方向、および、上記長さ方向と上記幅方向とに直交する厚さ方向を有する導体と、導体を流れる上記電流により発生する磁界の強さを検出する、第1磁気センサおよび第2磁気センサと、第1磁気センサおよび第2磁気センサが実装された基板とを備える。導体は、上記長さ方向における途中で、上記電流が分流されて流れる第1流路部および第2流路部を含む。第1流路部と第2流路部とは、上記厚さ方向から見て、上記幅方向において互いに隙間をあけて位置している。上記幅方向から見て、第1流路部と第2流路部とによって囲まれた領域が形成されている。基板の少なくとも一部は、上記幅方向から見て、上記領域の内部に位置し、かつ、第1流路部および第2流路部の少なくとも一方と向かい合っている。第1磁気センサおよび第2磁気センサは、上記隙間に配置されている。
本発明の一形態においては、第1磁気センサは、基板の一方の主面に実装されている。第2磁気センサは、基板の他方の主面に実装されている。
本発明の一形態においては、第1流路部は、上記幅方向から見て、導体の表面側に膨出している。
本発明の一形態においては、第2流路部は、上記幅方向から見て、導体の裏面側に膨出している。
本発明の一形態においては、第1流路部および第2流路部の各々は、上記長さ方向における一端と他端とを有する。上記長さ方向における第1流路部の一端と第1流路部の他端とは、上記厚さ方向における位置が互いに異なっている。上記長さ方向における第2流路部の一端と第2流路部の他端とは、上記厚さ方向における位置が互いに異なっている。上記長さ方向における第1流路部の一端と第2流路部の一端とは、上記厚さ方向における位置が互いに等しい。上記長さ方向における第1流路部の他端と第2流路部の他端とは、上記厚さ方向における位置が互いに等しい。第1流路部は、上記厚さ方向における第1流路部の一端の位置と第1流路部の他端の位置とを繋ぐ曲折部を含む。第2流路部は、上記厚さ方向における第2流路部の一端の位置と第2流路部の他端の位置とを繋ぐ曲折部を含む。第1流路部の曲折部と、第2流路部の曲折部とは、上記長さ方向において互いに間隔を置いて位置している。
本発明の一形態においては、第1磁気センサは、上記幅方向から見て、第1流路部の少なくとも一部と重なっている。第2磁気センサは、上記幅方向から見て、第2流路部の少なくとも一部と重なっている。
本発明の一形態においては、第1磁気センサおよび第2磁気センサは、上記厚さ方向から見て、互いに重なっている。
本発明の一形態においては、上記幅方向において、第1磁気センサと第1流路部との間の間隔と、第2磁気センサと第2流路部との間の間隔とが等しい。上記厚さ方向から見て、第1磁気センサと第2磁気センサとは、上記長さ方向に互いにずれて位置している。
本発明の一形態においては、電流センサは、第1磁気センサの検出値と第2磁気センサの検出値とを演算することにより上記電流の値を算出する算出部をさらに備える。1次導体を流れる上記電流により発生する磁界の強さについて、第1磁気センサの検出値の位相と第2磁気センサの検出値の位相とが逆相である。算出部が減算器または差動増幅器である。
本発明の一形態においては、電流センサは、第1磁気センサの検出値と第2磁気センサの検出値とを演算することにより上記電流の値を算出する算出部をさらに備える。1次導体を流れる上記電流により発生する磁界の強さについて、第1磁気センサの検出値の位相と第2磁気センサの検出値の位相とが同相である。算出部が加算器または加算増幅器である。
本発明の一形態においては、算出部は、基板の一方の主面および基板の他方の主面の少なくとも一方に実装されている。算出部は、上記厚さ方向において、第1流路部および第2流路部の少なくとも一方と重なっている。
本発明の一形態においては、第1磁気センサおよび第2磁気センサの各々が、ホール素子を有する。
本発明の一形態においては、第1磁気センサおよび第2磁気センサの各々が、磁気抵抗素子を有する。
本発明の第2の局面に基づく電力変換装置は、上記のいずれかに記載の電流センサを備える。
本発明によれば、電流センサにおいて、周波数特性を良好にしつつ低背化を図れる。
本発明の実施形態1に係る電流センサの外観を示す斜視図である。 本発明の実施形態1に係る電流センサが備える1次導体の外観を示す斜視図である。 本発明の実施形態1に係る電流センサが備える磁気センサユニットの構成を示す分解斜視図である。 本発明の実施形態1に係る電流センサが備える磁気センサユニットに含まれる基板を、図3のIV方向から見た斜視図である。 本発明の実施形態1に係る電流センサが備える磁気センサユニットの筐体の外観を示す斜視図である。 本発明の実施形態1に係る電流センサの断面図であり、図1のVI−VI線矢印方向から見た図である。 本発明の実施形態1に係る電流センサにおいて、測定対象の電流が流れることにより発生する磁界を模式的に示す断面図である。 本発明の実施形態1に係る電流センサの回路構成を示す回路図である。 本発明の実施形態1に係る電流センサの1次導体のアーチ状部に測定対象の電流が流れ始めた際に発生する磁界を模式的に示す断面図である。 本発明の実施形態1に係る電流センサの1次導体のアーチ状部に測定対象の電流が流れ始めた際にアーチ状部を周回する磁界を模式的に示す断面図である。 比較例に係る電流センサの入力電流と出力電圧との関係を示すグラフである。 本発明の実施形態1に係る電流センサの入力電流と出力電圧との関係を示すグラフである。 本発明の実施形態1に係る電流センサにおいて、基板に実装された複数の電子部品を配線で互いに接続して回路を構成した状態を示す平面図である。 本発明の実施形態1の第2変形例に係る電流センサの断面図である。 本発明の実施形態1の第3変形例に係る電流センサの平面図である。 本発明の実施形態1に係る電流センサが3相3線式の配線に適用された状態を示す断面図である。 本発明の実施形態2に係る電流センサにおいて、測定対象の電流が流れることにより発生する磁界を模式的に示す断面図である。 本発明の実施形態2に係る電流センサの回路構成を示す回路図である。 本発明の実施形態3に係る電流センサの断面図である。 本発明の実施形態3に係る電流センサにおいて、測定対象の電流が流れることにより発生する磁界を模式的に示す断面図である。 本発明の実施形態4に係る電流センサの外観を示す斜視図である。 本発明の実施形態4に係る電流センサが備える1次導体の外観を示す斜視図である。 図22の1次導体を矢印XXIII方向から見た側面図である。 本発明の実施形態4の変形例に係る電流センサの外観を示す斜視図である。 図24の電流センサを矢印XXV方向から見た側面図である。 本発明の実施形態4の変形例に係る電流センサが備える磁気センサユニットの基板を表面側から見た図である。 本発明の実施形態4の変形例に係る電流センサが備える磁気センサユニットの基板を裏面側から見た図である。 本発明の実施形態5に係る電流センサの外観を示す斜視図である。 本発明の実施形態5に係る電流センサが備える1次導体の外観を示す斜視図である。 図29の1次導体を矢印XXX方向から見た側面図である。 図29の1次導体を矢印XXXI方向から見た上面図である。 図29の1次導体を矢印XXXII方向から見た正面図である。 本発明の実施形態6に係る電力変換装置の構成を示す回路図である。
以下、本発明の各実施形態に係る電流センサおよびそれを備える電力変換装置について図を参照して説明する。以下の実施形態の説明においては、図中の同一または相当部分には同一符号を付して、その説明は繰り返さない。
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係る電流センサの外観を示す斜視図である。図2は、本発明の実施形態1に係る電流センサが備える1次導体の外観を示す斜視図である。図3は、本発明の実施形態1に係る電流センサが備える磁気センサユニットの構成を示す分解斜視図である。図4は、本発明の実施形態1に係る電流センサが備える磁気センサユニットに含まれる基板を、図3のIV方向から見た斜視図である。図5は、本発明の実施形態1に係る電流センサが備える磁気センサユニットの筐体の外観を示す斜視図である。図6は、本発明の実施形態1に係る電流センサの断面図であり、図1のVI−VI線矢印方向から見た図である。図1,2,6においては、後述する1次導体110の幅方向をX軸方向、1次導体110の長さ方向をY軸方向、1次導体110の厚さ方向をZ軸方向として、図示している。図6においては、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)において、後述する第1磁気センサ120aの中心を通過する中心線をC1、後述する第2磁気センサ120bの中心を通過する中心線をC2で示している。
図1〜6に示すように、本発明の実施形態1に係る電流センサ100は、測定対象の電流が流れる導体である1次導体110と、1次導体110を流れる測定対象の電流により発生する磁界の強さを検出する、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bと、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bが実装された基板130とを備える。具体的には、1次導体110は、表面および裏面を含み、長さ方向(Y軸方向)、長さ方向(Y軸方向)と直交する幅方向(X軸方向)、および、長さ方向(Y軸方向)と幅方向(X軸方向)とに直交する厚さ方向(Z軸方向)を有する。1次導体110は、板状である。
1次導体110は、測定対象の電流が2つの流路に分流されて矢印1で示すように1次導体110の長さ方向(Y軸方向)に流れるように設けられている。具体的には、1次導体110は、長さ方向(Y軸方向)における途中で、測定対象の電流が分流されて流れる第1流路部および第2流路部を含む。
1次導体110は、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)の一方に突出するように曲がって長さ方向(Y軸方向)に延在し、2つの流路のうちの1つの流路を構成する第1流路部であるアーチ状部111を含む。すなわち、第1流路部は、幅方向(X軸方向)から見て、1次導体110の表面側に膨出している。1次導体110には、1次導体110の長さ方向(Y軸方向)に延在するスリット115が設けられている。スリット115は、1次導体110の幅方向(X軸方向)にてアーチ状部111に隣接している。スリット115が設けられていることにより、2つの流路のうちの他の1つの流路とアーチ状部111とは、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)から見て、1次導体110の幅方向(X軸方向)において互いに隙間をあけて位置している。すなわち、この隙間の1次導体110の幅方向(X軸方向)の幅は、スリット115内の隙間の幅である。
1次導体110は、スリット115のアーチ状部111側とは反対側に隣接して、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)の他方に突出するように曲がって1次導体110の長さ方向(Y軸方向)に延在し、他の1つの流路を構成する第2流路部である逆アーチ状部116をさらに含む。すなわち、第2流路部は、幅方向(X軸方向)から見て、1次導体110の裏面側に膨出している。逆アーチ状部116は、1次導体110の幅方向(X軸方向)にてアーチ状部111と並んでいる。スリット115は、アーチ状部111と逆アーチ状部116とに挟まれて位置している。すなわち、スリット115は、アーチ状部111と逆アーチ状部116との間に設けられている。スリット115は、1次導体110の幅方向(X軸方向)にて1次導体110の中央に位置している。アーチ状部111および逆アーチ状部116の内側に、開口部110hが形成されている。すなわち、幅方向(X軸方向)から見て、第1流路部と第2流路部とによって囲まれた領域である開口部110hが形成されている。
図2に示すように、本実施形態においては、アーチ状部111は、互いに間隔を置いて、1次導体110の主面に直交するように突出する第1突出部112および第2突出部113と、1次導体110の長さ方向(Y軸方向)に延在し、第1突出部112と第2突出部113とを繋ぐ延在部114とから構成されている。逆アーチ状部116は、互いに間隔を置いて、1次導体110の主面に直交するように突出する第3突出部117および第4突出部118と、1次導体110の長さ方向(Y軸方向)に延在し、第3突出部117と第4突出部118とを繋ぐ延在部119とから構成されている。
ただし、アーチ状部111および逆アーチ状部116の各々の形状はこれに限られず、たとえば、1次導体110の幅方向(X軸方向)から見て、C字状または半円状の形状を有していてもよい。アーチ状部111と逆アーチ状部116とは、互いに同一形状を有する。すなわち、第1流路部と第2流路部とは、互いに点対称な形状を有する。なお、1次導体110において、逆アーチ状部116の代わりに、1次導体110の主面が平坦に連続している平坦部が設けられていてもよい。本実施形態においては、1次導体110は、1つの導体で構成されているが、複数の導体で構成されていてもよい。
本実施形態においては、1次導体110は、電気抵抗が低く加工性に優れている銅で構成されている。より具体的には、1次導体110は、耐熱性に優れている無酸素銅で構成されている。ただし、1次導体110の材料はこれに限られず、銀、アルミニウム若しくは鉄などの金属、またはこれらの金属を含む合金でもよい。
1次導体110は、表面処理が施されていてもよい。たとえば、ニッケル、錫、銀若しくは銅などの金属、またはこれらの金属を含む合金からなる、少なくとも1層のめっき層が、1次導体110の表面に設けられていてもよい。
本実施形態においては、プレス加工により1次導体110を形成している。ただし、1次導体110の形成方法はこれに限られず、切削加工または鋳造などにより1次導体110を形成してもよい。
図3に示すように、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bの各々は、アンプおよび受動素子などの複数の電子部品140a,140bと共に基板130に実装されている。複数の電子部品140aおよび複数の電子部品140bの少なくとも一方には、後述する算出部として機能する電子部品が含まれている。なお、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bが別々の基板に実装されていてもよい。すなわち、電流センサ100が、複数の基板を有していてもよい。
本実施形態においては、第1磁気センサ120aは、基板130の一方の主面に実装されている。第2磁気センサ120bは、基板130の他方の主面に実装されている。第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bは、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)から見て、互いに重なっている。好ましくは、第1磁気センサ120aの中心と第2磁気センサ120bの中心とが、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)から見て、互いに重なっている。すなわち、中心線C1と中心線C2とが、同一直線上に位置している。
複数の電子部品140aは、基板130の一方の主面に実装されている。複数の電子部品140aは、第1磁気センサ120aから見て、1次導体110の幅方向(X軸方向)の一方側に位置している。複数の電子部品140bは、基板130の他方の主面に実装されている。複数の電子部品140bは、第2磁気センサ120bから見て、1次導体110の幅方向(X軸方向)の他方側に位置している。
基板130が電気絶縁性を有する筐体150内に固定されることにより、磁気センサユニット160が構成されている。すなわち、第1磁気センサ120a、第2磁気センサ120b、電子部品140a,140bおよび基板130の各々は、筐体150に収容されている。
基板130は、プリント配線板であり、ガラスエポキシまたはアルミナなどの基材と、基材の表面上に設けられた銅などの金属箔がパターニングされて形成された配線とから構成されている。
筐体150は、略直方体状の外形を有し、下部筐体151と上部筐体152とから構成されている。下部筐体151には、逆アーチ状部116の延在部119の表面と接触した状態で逆アーチ状部116と嵌合する嵌合部151cが設けられている。上部筐体152には、アーチ状部111の延在部114の裏面と接触した状態でアーチ状部111と嵌合する嵌合部152c、および、基板130と接続されるワイヤーハーネスの取出し口152pが設けられている。
筐体150は、PPS(ポリフェニレンスルファイド)、PBT(ポリブチレンテレフタレート樹脂)、LCP(液晶ポリマー)、ウレタンまたはナイロンなどのエンジニアリングプラスチックで構成されている。PPSは、耐熱性が高いため、1次導体110の発熱を考慮した場合、筐体150の材料として好ましい。
基板130を筐体150に固定する方法としては、螺子による締結、樹脂による熱溶着、または、接着剤による接合などを用いることができる。螺子を用いて基板130と筐体150とを締結する場合には、磁界の乱れが生じないように、非磁性の螺子を用いることが好ましい。
アーチ状部111と逆アーチ状部116とによって形成される開口部110hに、磁気センサユニット160が挿入されている。具体的には、磁気センサユニット160を1次導体110の主面に対して斜めに傾けた状態で嵌合部152c側を先頭にして、開口部110h内に斜め方向に挿入し、筐体150の中心が、開口部110hの中心と略一致した時点で、磁気センサユニット160を筐体150の中心を回転中心として回転させる。
その結果、上部筐体152の嵌合部152cが、アーチ状部111の延在部114の裏面と接触した状態でアーチ状部111と嵌合し、下部筐体151の嵌合部151cが、逆アーチ状部116の延在部119の表面と接触した状態で逆アーチ状部116と嵌合する。すなわち、筐体150は、アーチ状部111の内側に嵌め込まれるように、1次導体110に組み付けられる。筐体150は、逆アーチ状部116の内側に嵌め込まれるように、1次導体110に組み付けられる。これにより、磁気センサユニット160が1次導体110に組み付けられる。
本実施形態においては、上部筐体152において嵌合部152cの上面に垂直な壁面が、アーチ状部111の延在部114と接触していることにより、1次導体110の幅方向(X軸方向)において、磁気センサユニット160が1次導体110に対して位置決めされている。
磁気センサユニット160が1次導体110に組み付けられた状態において、基板130の一方の主面は、アーチ状部111の内側においてアーチ状部111の延在部114の裏面と互いに向かい合っている。基板130の他方の主面は、逆アーチ状部116の延在部119の表面と互いに向かい合っている。すなわち、基板130は、1次導体110の幅方向(X軸方向)から見て、上記領域の内部に位置し、かつ、第1流路部および第2流路部の両方と向かい合っている。ただし、基板130の配置は、上記に限られず、基板130の少なくとも一部が、1次導体110の幅方向(X軸方向)から見て、上記領域の内部に位置し、かつ、第1流路部および第2流路部の少なくとも一方と向かい合っていればよい。
第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bは、1次導体110の幅方向(X軸方向)におけるアーチ状部111と逆アーチ状部116との間の隙間に配置されている。本実施形態においては、1次導体110の幅方向(X軸方向)において、第1磁気センサ120aとアーチ状部111の延在部114との間の間隔L1と、第2磁気センサ120bと逆アーチ状部116の延在部119との間の間隔L2とが等しい。ただし、間隔L1と間隔L2とが異なっていてもよい。
第1磁気センサ120aは、1次導体110の幅方向(X軸方向)から見てアーチ状部111の延在部114の少なくとも一部と重なっている。第2磁気センサ120bは、1次導体110の幅方向(X軸方向)から見て、逆アーチ状部116の延在部119の少なくとも一部と重なっている。
複数の電子部品140aの各々は、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)において、逆アーチ状部116の延在部119と重なっている。複数の電子部品140bの各々は、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)において、アーチ状部111の延在部114と重なっている。
図7は、本発明の実施形態1に係る電流センサにおいて、測定対象の電流が流れることにより発生する磁界を模式的に示す断面図である。図8は、本発明の実施形態1に係る電流センサの回路構成を示す回路図である。図7においては、1次導体110の幅方向をX軸方向、1次導体110の長さ方向をY軸方向、1次導体110の厚さ方向をZ軸方向として、図示している。また、図7においては、筐体150を図示していない。図7においては、図6と同一の断面視にて図示している。
図7に示すように、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bの各々は、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)の磁界を検出する。具体的には、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bの各々は、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)に向いた検出軸2を有している。
第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bの各々は、検出軸2の一方向に向いた磁界を検出した場合に正の値で出力し、かつ、検出軸2の一方向とは反対方向に向いた磁界を検出した場合に負の値で出力する、奇関数入出力特性を有している。
図8に示すように、本実施形態に係る電流センサ100において、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bの各々は、ホール素子を有している。ホール素子の材料として、本実施形態においてはSiを用いているが、GaAs、InAsまたはInSbなどを用いてもよい。
ただし、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bの各々は、ホール素子に代えて、磁気抵抗素子を有していてもよい。ホール素子および磁気抵抗素子などの磁気素子は、樹脂パッケージされていてもよく、または、シリコーン樹脂若しくはエポキシ樹脂などでポッティングされていてもよい。
複数の磁気素子がパッケージされている場合、複数の磁気素子が1つにパッケージされていてもよいし、複数の磁気素子の各々が別々にパッケージされていてもよい。また、複数の磁気素子と電子部品とが集積された状態で、1つにパッケージされていてもよい。
図8に示すように、電流センサ100は、第1磁気センサ120aの検出値と第2磁気センサ120bの検出値とを演算することにより1次導体110を流れる測定対象の電流の値を算出する算出部190をさらに備える。本実施形態においては、算出部190は、差動増幅器である。ただし、算出部190が減算器であってもよい。
図7に示すように、1次導体110を流れる測定対象の電流は、アーチ状部111を通過する第1流路部と、逆アーチ状部116を通過する第2流路部との、2つの流路に分かれて流れる。1次導体110において2つの流路に分かれて電流が流れることにより、いわゆる右ねじの法則によって、各流路を周回する磁界が発生する。
図7に示すように、第1磁気センサ120aは、アーチ状部111の内側においてアーチ状部111の延在部114の裏面と互いに向かい合っている基板130の一方の主面に実装されて、1次導体110の幅方向(X軸方向)におけるアーチ状部111と逆アーチ状部116との間の隙間に配置されているため、第1磁気センサ120aには、延在部114を周回する磁界114eが印加される。
第2磁気センサ120bは、逆アーチ状部116の延在部119の表面と互いに向かい合っている基板130の他方の主面に実装されて、1次導体110の幅方向(X軸方向)におけるアーチ状部111と逆アーチ状部116との間の隙間に配置されているため、第2磁気センサ120bには、延在部119を周回する磁界119eが印加される。
図7に示すように、延在部114の一方の側面側(右側面側)の位置と、延在部119の他方の側面側(左側面側)の位置とでは、Z軸方向の磁束の向きが互いに反対方向となる。すなわち、第1磁気センサ120aに作用する磁束の向きと、第2磁気センサ120bに作用する磁束の向きとが反対であるため、1次導体110を流れる測定対象の電流により発生する磁界の強さについて、第1磁気センサ120aの検出値の位相と、第2磁気センサ120bの検出値の位相とは、逆相である。よって、第1磁気センサ120aの検出した磁界の強さを正の値とすると、第2磁気センサ120bの検出した磁界の強さは負の値となる。
第1磁気センサ120aの検出値と第2磁気センサ120bの検出値とは、算出部190にて演算される。具体的には、算出部190は、第1磁気センサ120aの検出値から第2磁気センサ120bの検出値を減算する。この結果から、1次導体110を流れた測定対象の電流の値が算出される。
本実施形態に係る電流センサ100においては、磁気センサユニット160が開口部110hに挿入されているため、外部磁界源は、物理的に第1磁気センサ120aと第2磁気センサ120bとの間に位置することができない。
そのため、外部磁界源から第1磁気センサ120aに印加される磁界のうちの検出軸の方向における磁界成分の向きと、外部磁界源から第2磁気センサ120bに印加される磁界のうちの検出軸の方向における磁界成分の向きとは、同じ向きとなる。よって、第1磁気センサ120aの検出した外部磁界の強さを正の値とすると、第2磁気センサ120bの検出した外部磁界の強さも正の値となる。
その結果、算出部190が第1磁気センサ120aの検出値から第2磁気センサ120bの検出値を減算することにより、外部磁界源からの磁界は、ほとんど検出されなくなる。すなわち、外部磁界の影響が低減される。
本実施形態の第1変形例として、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bにおいて、検出値が正となる検出軸の方向を互いに反対方向(180°反対)にしてもよい。この場合、第1磁気センサ120aの検出する外部磁界の強さを正の値とすると、第2磁気センサ120bの検出する外部磁界の強さは負の値となる。
一方、1次導体110を流れる測定対象の電流により発生する磁界の強さについて、第1磁気センサ120aの検出値の位相と、第2磁気センサ120bの検出値の位相とは同相となる。
本実施形態の第1変形例においては、算出部190として差動増幅器に代えて加算器または加算増幅器を用いる。外部磁界の強さについては、第1磁気センサ120aの検出値と第2磁気センサ120bの検出値とを加算器または加算増幅器によって加算することにより、第1磁気センサ120aの検出値の絶対値と、第2磁気センサ120bの検出値の絶対値とが減算される。これにより、外部磁界源からの磁界は、ほとんど検出されなくなる。すなわち、外部磁界の影響が低減される。
一方、1次導体110を流れる電流により発生する磁界の強さについては、第1磁気センサ120aの検出値と第2磁気センサ120bの検出値とを加算器または加算増幅器によって加算することにより、1次導体110を流れた測定対象の電流の値が算出される。
このように、第1磁気センサ120aと第2磁気センサ120bとの入出力特性を互いに逆の極性にしつつ、差動増幅器に代えて加算器または加算増幅器を算出部として用いてもよい。
本実施形態に係る電流センサ100は、外部磁界の影響を低減することができる。本実施形態に係る電流センサ100においては、アーチ状部111の電気抵抗値と逆アーチ状部116の電気抵抗値とが略同一であるため、1次導体110を測定電流が流れることによるアーチ状部111の発熱量と逆アーチ状部116の発熱量とを同等にすることができる。その結果、第1磁気センサ120aの磁気素子の周囲の温度と、第2磁気センサ120bの磁気素子の周囲の温度とを略同じにすることができるため、磁気素子の温度特性による電流センサ100の測定値の誤差を低減することができる。
本実施形態に係る電流センサ100は、1つの導体からなる1次導体110に、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bが実装された基板130を収容した筐体150を組み付ける構造を有しているため、電流センサ100の組み立てが容易であり、また、複数の導体からなる1次導体を用いる場合に比較して、部品点数を削減して低コスト化を図ることができる。
本実施形態に係る電流センサ100においては、基板130の実装面と1次導体110の主面とが平行になるように基板130が配置されているため、電流センサ100を低背化できる。
本実施形態に係る電流センサ100においては、上部筐体152の嵌合部152cが、アーチ状部111の延在部114の裏面と接触した状態でアーチ状部111と嵌合し、下部筐体151の嵌合部151cが、逆アーチ状部116の延在部119の表面と接触した状態で逆アーチ状部116と嵌合することにより、磁気センサユニット160が1次導体110に組み付けられている。また、上部筐体152において嵌合部152cの上面に垂直な壁面が、アーチ状部111の延在部114と接触していることにより、1次導体110の幅方向(X軸方向)において、磁気センサユニット160が1次導体110に対して位置決めされている。
これにより、アーチ状部111に対する第1磁気センサ120aの位置のばらつき、および、逆アーチ状部116に対する第2磁気センサ120bの位置のばらつきの各々を低減して、電流センサ100の測定精度のばらつきを低減することができる。その結果、電流センサ100の測定再現性および量産性を高めることができる。また、アーチ状部111および逆アーチ状部116によって、磁気センサユニット160の構成部品を外力から保護することができる。
ここで、1次導体110を流れる測定対象の電流が周波数の高い交流である場合における、本実施形態に係る電流センサ100の作用効果について説明する。以下の説明においては、2つの流路のうちの第1流路部について説明するが、第2流路部についても同様である。
図9は、本発明の実施形態1に係る電流センサの1次導体のアーチ状部に測定対象の電流が流れ始めた際に発生する磁界を模式的に示す断面図である。図10は、本発明の実施形態1に係る電流センサの1次導体のアーチ状部に測定対象の電流が流れ始めた際にアーチ状部を周回する磁界を模式的に示す断面図である。図9,10においては、1次導体のアーチ状部を流れる測定対象の電流のうち、1次導体の幅方向(X軸方向)において、一端部を流れる電流を1a、中央部を流れる電流を1b、他端部を流れる電流を1cで示している。
図9に示すように、本実施形態に係る電流センサ100の1次導体110のアーチ状部111において、電流1a、電流1bおよび電流1cが流れることにより、磁界114ea、磁界114ebおよび磁界114ecがそれぞれ発生する。磁界114ea、磁界114ebおよび磁界114ecの発生による電磁誘導効果によって、1次導体110には、渦電流10a,10b,11b,11cが発生する。
具体的には、磁界114eaが1次導体110の表面に進入する位置において渦電流10aが発生し、磁界114eaを打ち消す磁界20aが発生する。磁界114ebが1次導体110の表面に進入する位置において渦電流10bが発生し、磁界114ebを打ち消す磁界20bが発生する。磁界114ecが1次導体110の裏面に進入する位置において渦電流11cが発生し、磁界114ecを打ち消す磁界21cが発生する。磁界114ebが1次導体110の裏面に進入する位置において渦電流11bが発生し、磁界114ebを打ち消す磁界21bが発生する。
そのため、1次導体110を流れる測定対象の電流が周波数の高い交流である場合においては、図10に示すように、1次導体110のアーチ状部111に測定対象の電流が流れ始めた際における、磁界114ebの磁束密度は、磁界114eaおよび磁界114ecの各々の磁束密度より小さくなる。仮に、第1磁気センサ120aを磁界114ebが作用する位置に配置していた場合、1次導体110のアーチ状部111に測定対象の電流が流れ始めた際の第1磁気センサ120aの出力は小さくなり、時間の経過とともに渦電流10a,10b,11b,11cの大きさが小さくなるに従って、第1磁気センサ120aの出力が大きくなる。この場合、電流センサの出力の立ち上がり時間が長くなる。
この電流センサの出力の立ち上がり時間が長くなる問題は、測定対象の電流の値が大きくなるほど、および、測定対象の電流の周波数が高くなるほど顕著になる。その理由は、次の通りである。測定対象の電流の値が大きい(たとえば、500A以上1000A以下)場合、1次導体の電気抵抗を小さくするために、1次導体の幅および厚さが大きくされる(たとえば、幅が10mm以上20mm以下、厚さが2mm以上3mm以下)。測定対象の電流の周波数が高い(たとえば、100kHz以上1000kHz以下)場合、表皮効果によって測定対象の電流が1次導体の外周面の近傍を主に流れるため、1次導体の発熱を抑制するために、1次導体の幅および厚さが大きくされる。これらの場合、渦電流10b,11bの発生する面積が大きくなるとともに、磁界114ebが1次導体を貫通しにくくなって、1次導体のアーチ状部に測定対象の電流が流れ始めた際における磁界114ebの磁束密度がより小さくなる。その結果、電流センサの出力の立ち上がり時間が顕著に長くなる。
本発明の実施形態1に係る電流センサ100においては、第1磁気センサ120aを磁界114ecが作用する位置に配置しているため、1次導体110のアーチ状部111に測定対象の電流が流れ始めた際の第1磁気センサ120aの出力が渦電流の発生により小さくなることを抑制できる。第2磁気センサ120bの出力も同様に改善することができる。その結果、電流センサ100の出力の立ち上がり時間を短くして、電流センサ100の測定誤差を低減し、電流センサ100の周波数特性を良好にすることができる。電流センサ100のこの効果は、測定対象の電流の値が大きくなるに従って、および、測定対象の電流の周波数が高くなるに従って、より顕著に現れる。
ここで、比較例に係る電流センサと本発明の実施形態1に係る電流センサとにおいて、周波数特性を比較した実験結果について説明する。比較例に係る電流センサは、第1磁気センサ120aを磁界114ebが作用する位置に配置し、第2磁気センサ120bも同様に配置している点のみ、本発明の実施形態1に係る電流センサと異なる。
図11は、比較例に係る電流センサの入力電流と出力電圧との関係を示すグラフである。図12は、本発明の実施形態1に係る電流センサの入力電流と出力電圧との関係を示すグラフである。図11,12においては、縦軸に、入力電流Iin(A)および出力電圧Vout(mV)、横軸に、時間(μs)を示している。
図11,12に示すように、比較例に係る電流センサおよび本発明の実施形態1に係る電流センサ100の各々において、300μsの間、100Aの入力電流を1次導体に流した。比較例に係る電流センサにおいては、1次導体のアーチ状部に測定対象の電流が流れ始めた際の出力電圧は190mVであり、出力電圧のピーク値は220mVであり、出力電圧のピーク値に到達するまでの時間は280μsであった。
本発明の実施形態1に係る電流センサ100においては、1次導体110のアーチ状部111に測定対象の電流が流れ始めた際の出力電圧は140mVであり、出力電圧のピーク値は140mVであり、出力電圧のピーク値に到達するまでの時間は10μsであった。
上記の実験結果から、本発明の実施形態1に係る電流センサ100においては、比較例に係る電流センサと比較して、出力電圧のピーク値が低下して感度が若干低くなるものの、電流センサの出力の立ち上がり時間を短くできることが確認できた。
すなわち、本発明の実施形態1に係る電流センサ100は、電流センサ100の低背化を図りつつ外部磁界による影響を低減できるとともに電流センサ100の周波数特性を良好にすることができる。
また、本発明の実施形態1に係る電流センサ100においては、複数の電子部品140aの各々が、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)において、逆アーチ状部116の延在部119と重なり、複数の電子部品140bの各々が、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)において、アーチ状部111の延在部114と重なっているため、電流センサ100の測定精度を高く維持することができる。その理由を以下に説明する。
図13は、本発明の実施形態1に係る電流センサにおいて、基板に実装された複数の電子部品を配線で互いに接続して回路を構成した状態を示す平面図である。図13に示すように、複数の電子部品140aを配線141で互いに接続して回路を構成した場合、配線141によりループが形成されることがある。仮に、このループ内を貫通するように磁界が印加された場合、誘導起電力が発生して電流センサの出力にノイズが含まれることにより、電流センサの測定精度が低下する。
本実施形態に係る電流センサ100においては、複数の電子部品140aの各々が、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)において、逆アーチ状部116の延在部119と重なるように配置されているため、図13に示すように、延在部119の周囲に発生した磁界119eは、配線141により形成されたループの中心軸に直交する方向に向けて進行してループ内を貫通しない。複数の電子部品140bについても同様である。そのため、電流センサ100の出力にノイズが含まれることを抑制して、電流センサ100の測定精度を高く維持することができる。
なお、本実施形態に係る電流センサ100においては、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bは、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)から見て、互いに重なっていたが、互いにずれていてもよい。
図14は、本発明の実施形態1の第2変形例に係る電流センサの断面図である。図14においては、筐体150を図示していない。図14においては、図7と同一の断面視にて図示している。
図14に示すように、本発明の実施形態1の第2変形例に係る電流センサにおいては、第1磁気センサ120aの中心と第2磁気センサ120bの中心とが、1次導体110の幅方向(X軸方向)において、互いにずれている。第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bは、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)から見て、互いに重なっていない。1次導体110の幅方向(X軸方向)において、第1磁気センサ120aとアーチ状部111の延在部114との間の間隔L1と、第2磁気センサ120bと逆アーチ状部116の延在部119との間の間隔L2とは等しい。
本発明の実施形態1の第2変形例に係る電流センサにおいても、電流センサの低背化を図りつつ外部磁界による影響を低減できるとともに電流センサの周波数特性を良好にすることができる。
図15は、本発明の実施形態1の第3変形例に係る電流センサの平面図である。図15においては、筐体150を図示していない。図15に示すように、本発明の実施形態1の第3変形例に係る電流センサにおいては、第1磁気センサ120aの中心と第2磁気センサ120bの中心とが、1次導体110の長さ方向(Y軸方向)において、互いにずれている。第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bは、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)から見て、互いに重なっていない。1次導体110の幅方向(X軸方向)において、第1磁気センサ120aとアーチ状部111の延在部114との間の間隔L1と、第2磁気センサ120bと逆アーチ状部116の延在部119との間の間隔L2とは等しい。
本発明の実施形態1の第3変形例に係る電流センサにおいても、電流センサの低背化を図りつつ外部磁界による影響を低減できるとともに電流センサの周波数特性を良好にすることができる。
本発明の実施形態1の第3変形例に係る電流センサで説明したように、本発明の実施形態1に係る電流センサ100は、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bの各々の配置の自由度が高いため、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bの配置に高い位置精度が求められず、容易に製造可能である。
本実施形態に係る電流センサ100は、インバータなどの3相3線式の配線に適用されてもよい。図16は、本発明の実施形態1に係る電流センサが3相3線式の配線に適用された状態を示す断面図である。図16においては、筐体150を図示していない。図16においては、図7と同一の断面視にて図示している。
図16に示すように、3つの電流センサ100a,100b,100cが、1次導体110の幅方向(X軸方向)に並んで配置され、電流センサ100aの1次導体110に第1相の電流が入力され、電流センサ100bの1次導体110に第2相の電流が入力され、電流センサ100cの1次導体110に第3相の電流が入力されてもよい。
(実施形態2)
以下、本発明の実施形態2に係る電流センサについて説明する。本実施形態に係る電流センサは、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bの各々がホール素子に代えて磁気抵抗素子を有する点のみ実施形態1に係る電流センサ100と異なるため、実施形態1に係る電流センサ100と同様の構成については説明を繰り返さない。
図17は、本発明の実施形態2に係る電流センサにおいて、測定対象の電流が流れることにより発生する磁界を模式的に示す断面図である。図18は、本発明の実施形態2に係る電流センサの回路構成を示す回路図である。図17においては、筐体150を図示していない。図17においては、図7と同一の断面視にて図示している。
図17,18に示すように、本発明の実施形態2に係る電流センサ200は、第1磁気センサ220aおよび第2磁気センサ220bを備えている。第1磁気センサ220aは、第1基板230aの主面に実装されている。第2磁気センサ220bは、第2基板230bの主面に実装されている。第1基板230aは、基板130の一方の主面に実装されている。第1基板230aの主面と基板130の一方の主面とは、互いに垂直である。第2基板230bは、基板130の他方の主面に実装されている。第2基板230bの主面と基板130の他方の主面とは、互いに垂直である。第1基板230aおよび第2基板230bの各々は、基板130に実装された状態で、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)において、アーチ状部111の延在部114および逆アーチ状部116の延在部119の外側に突出していない。
第1磁気センサ220aおよび第2磁気センサ220bの各々は、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)の磁界を検出する。具体的には、第1磁気センサ220aおよび第2磁気センサ220bの各々は、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)に向いた検出軸2を有している。
第1磁気センサ220aおよび第2磁気センサ220bの各々は、4つのAMR(Anisotropic Magneto Resistance)素子からなるホイートストンブリッジ型のブリッジ回路を有する。なお、第1磁気センサ220aおよび第2磁気センサ220bの各々が、AMR素子に代えて、GMR(Giant Magneto Resistance)、TMR(Tunnel Magneto Resistance)、BMR(Ballistic Magneto Resistance)、CMR(Colossal Magneto Resistance)などの磁気抵抗素子を有していてもよい。
また、第1磁気センサ220aおよび第2磁気センサ220bの各々が、2つの磁気抵抗素子からなるハーフブリッジ回路を有していてもよい。その他にも、第1磁気センサ220aおよび第2磁気センサ220bとして、磁気インピーダンス効果を利用するMI(Magneto Impedance)素子を有する磁気センサまたはフラックスゲート型磁気センサなどを用いることができる。さらに、第1磁気センサ220aおよび第2磁気センサ220bの各々が、検出軸2の方向に磁束が通過するように誘導する磁束偏向素子を含んでいてもよい。磁束偏向素子は、Niなどの磁性材料で構成されており、磁束の流れを一定の方向に収束させる機能を有している。
本実施形態においては、AMR素子は、バーバーポール型電極を含むことによって、奇関数入出力特性を有している。具体的には、第1磁気センサ220aおよび第2磁気センサ220bの各々の磁気抵抗素子は、バーバーポール型電極を含むことにより、磁気抵抗素子における磁気抵抗膜の磁化方向に対して所定の角度(たとえば45°)をなす方向に電流が流れるようにバイアスされている。
磁気抵抗膜の磁化方向は、磁気抵抗膜の形状異方性およびバイアス磁界の少なくとも一方によって決まる。なお、AMR素子の磁化方向を決める方法として、AMR素子を構成する磁気抵抗膜の近傍に永久磁石若しくは薄膜磁石を設ける方法、磁気抵抗膜において交換結合若しくは相間結合を設ける方法、磁気抵抗膜の近傍に設けられたコイルの誘導磁界を用いる方法、または、磁気抵抗膜の近傍に設けられた磁性体の残留磁束を用いる方法などを採用してもよい。磁気抵抗膜の近傍に設けられたコイルの誘導磁界を用いる方法を採用する場合、コイルに流される電流の大きさ変更することにより、磁気抵抗膜に印加されるバイアス磁界の強さを適宜調整することができる。磁気抵抗膜の近傍に永久磁石を設ける方法を採用する場合、永久磁石は、焼結磁石、ボンド磁石または薄膜で構成されていてもよい。永久磁石の種類は、特に限定されず、フェライト磁石、サマリウムコバルト磁石、アルニコ磁石またはネオジム磁石などを用いることができる。磁気抵抗膜は、ミアンダ状に折り返されて形成されていてもよい。
第1磁気センサ220aの磁気抵抗素子における磁気抵抗膜の磁化方向と、第2磁気センサ220bの磁気抵抗素子における磁気抵抗膜の磁化方向とは、同一方向である。これにより、外部磁界の影響による出力精度の低下を小さくすることができる。
第1磁気センサ220aおよび第2磁気センサ220bの各々のブリッジ回路に印加される電源電圧は、直流の一定電圧であってもよいし、交流電圧またはパルス電圧であってもよい。
本発明の実施形態2に係る電流センサ200においても、電流センサ200の低背化を図りつつ外部磁界による影響を低減できるとともに電流センサ200の周波数特性を良好にすることができる。
(実施形態3)
以下、本発明の実施形態3に係る電流センサについて図を参照して説明する。本実施形態に係る電流センサは、第1磁気センサ120a、第2磁気センサ120b、複数の電子部品140aおよび複数の電子部品140bが全て、基板130の一方の主面に実装されている点が主に、実施形態1に係る電流センサ100と異なるため、実施形態1に係る電流センサ100と同様の構成については説明を繰り返さない。
図19は、本発明の実施形態3に係る電流センサの断面図である。図19においては、図6と同一の断面視にて図示している。図19に示すように、本発明の実施形態3に係る電流センサ300においては、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bは、基板130の一方の主面に実装されている。
第1磁気センサ120aと第2磁気センサ120bとは、1次導体110の幅方向(X軸方向)において並んで位置している。第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bは、1次導体110の幅方向(X軸方向)におけるアーチ状部111と逆アーチ状部116との間の隙間に配置されている。本実施形態においては、1次導体110の幅方向(X軸方向)において、第1磁気センサ120aとアーチ状部111の延在部114との間の間隔L1と、第2磁気センサ120bと逆アーチ状部116の延在部119との間の間隔L2とは等しい。ただし、間隔L1と間隔L2とが異なっていてもよい。
複数の電子部品140aは、基板130の一方の主面に実装されている。複数の電子部品140aは、第1磁気センサ120aから見て、1次導体110の幅方向(X軸方向)の他方側に位置している。複数の電子部品140bは、基板130の一方の主面に実装されている。複数の電子部品140bは、第2磁気センサ120bから見て、1次導体110の幅方向(X軸方向)の一方側に位置している。
複数の電子部品140aの各々は、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)において、アーチ状部111の延在部114と重なっている。複数の電子部品140bの各々は、1次導体110の厚さ方向(Z軸方向)において、逆アーチ状部116の延在部119と重なっている。
図20は、本発明の実施形態3に係る電流センサにおいて、測定対象の電流が流れることにより発生する磁界を模式的に示す断面図である。図20においては、筐体150を図示していない。図20においては、図19と同一の断面視にて図示している。
図20に示すように、第1磁気センサ120aには、延在部114を周回する磁界114eが印加される。第2磁気センサ120bには、延在部119を周回する磁界119eが印加される。
本発明の実施形態3に係る電流センサ300においても、電流センサ300の低背化を図りつつ外部磁界による影響を低減できるとともに電流センサ300の周波数特性を良好にすることができる。
また、第1磁気センサ120aと第2磁気センサ120bとを基板130の同一の主面に実装できるため、電流センサ300の構造を簡易にして、電流センサ300の信頼性を向上できるとともに、電流センサ300の組立コストを低減できる。さらに、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bの各々を1次導体110の周囲に発生する電界から保護する場合に、1つの静電シールド板で第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bの両方を覆って保護することができる。
(実施形態4)
以下、本発明の実施形態4に係る電流センサについて説明する。なお、実施形態4に係る電流センサ400は、第1流路部および第2流路部の形状が主に、実施形態1に係る電流センサ100と異なるため、実施形態1に係る電流センサ100と同様である構成については同じ参照符号を付してその説明を繰り返さない。
図21は、本発明の実施形態4に係る電流センサの外観を示す斜視図である。図22は、本発明の実施形態4に係る電流センサが備える1次導体の外観を示す斜視図である。図23は、図22の1次導体を矢印XXIII方向から見た側面図である。
図21〜23に示すように、本発明の実施形態4に係る電流センサ400は、測定対象の電流が流れ、表面および裏面を含み、長さ方向(Y軸方向)、長さ方向(Y軸方向)と直交する幅方向(X軸方向)、および、長さ方向(Y軸方向)と幅方向(X軸方向)とに直交する厚さ方向(Z軸方向)を有する板状の1次導体410を備える。
本実施形態においては、第1流路部411は、幅方向(X軸方向)から見て、1次導体410の表面側に膨出している。第2流路部416は、幅方向(X軸方向)から見て、1次導体410の裏面側に膨出している。第2流路部416は、1次導体410の幅方向(X軸方向)にて第1流路部411と並んでいる。幅方向(X軸方向)から見て、第1流路部411と第2流路部416とによって囲まれた領域410hが形成されている。スリット415は、1次導体410の幅方向(X軸方向)にて1次導体410の中央に位置している。
第1流路部411および第2流路部416の各々は、1次導体410の幅方向(X軸方向)から見て、半長円状の形状を有している。第1流路部411は、互いに間隔を置いて、1次導体410の表面から円弧状に突出する第1突出部412および第2突出部413と、1次導体410の長さ方向(Y軸方向)に延在し、第1突出部412と第2突出部413とを繋ぐ延在部414とから構成されている。第2流路部416は、互いに間隔を置いて、1次導体410の裏面から円弧状に突出する第3突出部417および第4突出部418と、1次導体410の長さ方向(Y軸方向)に延在し、第3突出部417と第4突出部418とを繋ぐ延在部419とから構成されている。
第1流路部411と第2流路部416とによって形成される空間に、磁気センサユニット460が挿入されている。これにより、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bは、1次導体410の幅方向(X軸方向)における第1流路部411と第2流路部416との間の隙間に配置されている。
磁気センサユニット460が1次導体410に組み付けられた状態において、基板130の一方の主面は、第1流路部411の内側において第1流路部411の延在部414の裏面と互いに向かい合っている。基板130の他方の主面は、第2流路部416の延在部419の表面と互いに向かい合っている。すなわち、基板130は、1次導体410の幅方向(X軸方向)から見て、上記領域の内部に位置し、かつ、第1流路部411および第2流路部416の両方と向かい合っている。ただし、基板130の配置は、上記に限られず、基板130の少なくとも一部が、1次導体410の幅方向(X軸方向)から見て、上記領域の内部に位置し、かつ、第1流路部411および第2流路部416の少なくとも一方と向かい合っていればよい。
本実施形態に係る電流センサ400においても、電流センサ400の低背化を図りつつ外部磁界による影響を低減できるとともに電流センサ400の周波数特性を良好にすることができる。
なお、磁気センサユニット460の一部が、第1流路部411と第2流路部416とによって形成される空間の外側に配置されていてもよい。図24は、本発明の実施形態4の変形例に係る電流センサの外観を示す斜視図である。図25は、図24の電流センサを矢印XXV方向から見た側面図である。図26は、本発明の実施形態4の変形例に係る電流センサが備える磁気センサユニットの基板を表面側から見た図である。図27は、本発明の実施形態4の変形例に係る電流センサが備える磁気センサユニットの基板を裏面側から見た図である。
図24,25に示すように、本発明の実施形態4の変形例に係る電流センサ400aは、1次導体410aと磁気センサユニット460aとを備える。磁気センサユニット460aは、幅方向(X軸方向)から見て、領域410hの内部に位置する磁気センサ収容部460iと、領域410hの外側に位置する電子部品収容部460oと、フランジ部460fとを含む。
図26,27に示すように、電子部品収容部460oの内部に位置する部分の基板430の、表面上に電子部品440a,441が実装され、裏面上に電子部品440b,441が実装されている。電子部品440a,440b,441は、演算回路を構成している。磁気センサ収容部460iの内部に位置する部分の基板430の、表面上に第1磁気センサ120aが実装され、裏面上に第2磁気センサ120bが実装されている。
フランジ部460fには、図示しない貫通孔が設けられている。1次導体410aには、フランジ部460fの貫通孔に対応する位置に、図示しない貫通孔が設けられている。フランジ部460fの貫通孔および1次導体410aの貫通孔を挿通したボルト470とナット480とを螺合させることにより、磁気センサユニット460aと1次導体410aとを締結することができる。ボルト470およびナット480の各々は、非磁性材料で構成されている。
本発明の実施形態4の変形例に係る電流センサ400aにおいては、ボルト470およびナット480により、磁気センサユニット460aを1次導体410aに確実に取り付けることができる。また、演算回路を構成する電子部品440a,440b,441を領域410hの外側に配置することにより、領域410hを小さくすることができる。領域410hを小さくすることにより、第1流路部411と第1磁気センサ120aとの間の距離、および、第2流路部416と第2磁気センサ120bとの間の距離を、小さくすることができるため、電流センサ400aの低背化を図りつつ外部磁界による影響をさらに低減できる。
(実施形態5)
以下、本発明の実施形態5に係る電流センサについて説明する。なお、実施形態5に係る電流センサ500は、第1流路部および第2流路部の形状が主に、実施形態1に係る電流センサ100と異なるため、実施形態1に係る電流センサ100と同様である構成については同じ参照符号を付してその説明を繰り返さない。
図28は、本発明の実施形態5に係る電流センサの外観を示す斜視図である。図29は、本発明の実施形態5に係る電流センサが備える1次導体の外観を示す斜視図である。図30は、図29の1次導体を矢印XXX方向から見た側面図である。図31は、図29の1次導体を矢印XXXI方向から見た上面図である。図32は、図29の1次導体を矢印XXXII方向から見た正面図である。
図28〜32に示すように、本発明の実施形態5に係る電流センサ500は、測定対象の電流が流れ、表面および裏面を含み、長さ方向(Y軸方向)、長さ方向(Y軸方向)と直交する幅方向(X軸方向)、および、長さ方向(Y軸方向)と幅方向(X軸方向)とに直交する厚さ方向(Z軸方向)を有する板状の1次導体510を備える。
本実施形態においては、第2流路部516は、1次導体510の幅方向(X軸方向)にて第1流路部511と並んでいる。幅方向(X軸方向)から見て、第1流路部511と第2流路部516とによって囲まれた領域510hが形成されている。スリット515は、1次導体510の幅方向(X軸方向)にて1次導体510の中央に位置している。
第1流路部511は、長さ方向(Y軸方向)における一端511aと他端511bとを有する。第2流路部516は、長さ方向(Y軸方向)における一端516aと他端516bとを有する。第1流路部511の一端511aと第2流路部516の一端516aとは、スリット515を間に挟んで、幅方向(X軸方向)に並んでいる。第1流路部511の他端511bと第2流路部516の他端516bとは、スリット515を間に挟んで、幅方向(X軸方向)に並んでいる。
長さ方向(Y軸方向)における第1流路部511の一端511aと第1流路部511の他端511bとは、厚さ方向(Z軸方向)における位置が互いに異なっている。長さ方向(Y軸方向)における第2流路部516の一端516aと第2流路部516の他端516bとは、厚さ方向(Z軸方向)における位置が互いに異なっている。長さ方向(Y軸方向)における第1流路部511の一端511aと第2流路部516の一端516aとは、厚さ方向(Z軸方向)における位置が互いに等しい。長さ方向(Y軸方向)における第1流路部511の他端511bと第2流路部516の他端516bとは、厚さ方向(Z軸方向)における位置が互いに等しい。
第1流路部511は、厚さ方向(Z軸方向)における第1流路部511の一端511aの位置と第1流路部511の他端511bの位置とを繋ぐ曲折部513を含む。第2流路部516は、厚さ方向(Z軸方向)における第2流路部516の一端516aの位置と第2流路部516の他端516bの位置とを繋ぐ曲折部517を含む。第1流路部511の曲折部513と、第2流路部516の曲折部517とは、長さ方向(Y軸方向)において互いに間隔を置いて位置している。
本実施形態においては、第1流路部511は、一端511aから長さ方向(Y軸方向)に延在する延在部514と、延在部514の長さ方向(Y軸方向)の端部から厚さ方向(Z軸方向)に直線状に延在して他端511bに向かう曲折部513とを含む。すなわち、第1流路部511は、段状に形成されている。延在部514は、第1流路部511の一端511aと接している。曲折部513は、第1流路部511の他端511bと接している。なお、曲折部513の形状は、上記に限られず、幅方向(X軸方向)から見て、長さ方向(Y軸方向)および厚さ方向(Z軸方向)の各々に対して交差する方向に直線状に延在していてもよいし、湾曲していてもよい。
第2流路部516は、一端516aから厚さ方向(Z軸方向)に直線状に延在する曲折部517と、曲折部517の厚さ方向(Z軸方向)の端部から長さ方向(Y軸方向)に延在して他端516bに向かう延在部519とを含む。すなわち、第2流路部516は、段状に形成されている。延在部519は、第2流路部516の他端516bと接している。曲折部517は、第2流路部516の一端516aと接している。なお、曲折部517の形状は、上記に限られず、幅方向(X軸方向)から見て、長さ方向(Y軸方向)および厚さ方向(Z軸方向)の各々に対して交差する方向に直線状に延在していてもよいし、湾曲していてもよい。
第1流路部511と第2流路部516とによって形成される空間に、磁気センサユニット560が挿入されている。これにより、第1磁気センサ120aおよび第2磁気センサ120bは、1次導体510の幅方向(X軸方向)における第1流路部511と第2流路部516との間の隙間に配置されている。
磁気センサユニット560が1次導体510に組み付けられた状態において、基板130の一方の主面は、第1流路部511の内側において第1流路部511の延在部514の裏面と互いに向かい合っている。基板130の他方の主面は、第2流路部516の延在部519の表面と互いに向かい合っている。すなわち、基板130は、1次導体510の幅方向(X軸方向)から見て、上記領域の内部に位置し、かつ、第1流路部511および第2流路部516の両方と向かい合っている。ただし、基板130の配置は、上記に限られず、基板130の少なくとも一部が、1次導体510の幅方向(X軸方向)から見て、上記領域の内部に位置し、かつ、第1流路部511および第2流路部516の少なくとも一方と向かい合っていればよい。
本実施形態に係る電流センサ500においても、電流センサ500の低背化を図りつつ外部磁界による影響を低減できるとともに電流センサ500の周波数特性を良好にすることができる。
(実施形態6)
以下、本発明の実施形態6に係る電力変換装置について図を参照して説明する。図33は、本発明の実施形態6に係る電力変換装置の構成を示す回路図である。図33に示すように、本発明の実施形態6に係る電力変換装置600は、互いに電気的に接続された、制御部610、スイッチ駆動部620、スイッチ素子部630、電流センサ640および出力部650を備えている。電流センサ640は、実施形態1から実施形態5のいずれか1つの実施形態に係る電流センサである。電力変換装置600は、たとえば、インバータである。出力部650は、たとえば、交流電動機である。なお、電力変換装置600がコンバータであり、出力部650が直流電動機であってもよい。
電力変換装置600が電流センサ640を備えることにより、電流センサ640による精度の高い測定結果に基づいて制御部610が出力部650の出力を制御できるため、電力変換装置600の調整精度を向上できる。また、電流センサ640が低背化されているため、電力変換装置600を小型にすることができる。
上述した実施形態の説明において、組み合わせ可能な構成を相互に組み合わせてもよい。
今回開示された実施形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
2 検出軸、10a,10b,11b,11c 渦電流、20a,20b,21b,21c,114e,114ea,114eb,114ec,119e 磁界、100,100a,100b,100c,200,300,400,400a,500,640 電流センサ、110,410,410a,510 1次導体、110h 開口部、111 アーチ状部、112,412 第1突出部、113,413 第2突出部、114,119,414,419,514,519 延在部、115,415,515 スリット、116 逆アーチ状部、117,417 第3突出部、118,418 第4突出部、120a,220a 第1磁気センサ、120b,220b 第2磁気センサ、130,430 基板、140a,140b,440a,440b,441 電子部品、141 配線、150 筐体、151 下部筐体、151c,152c 嵌合部、152 上部筐体、152p 取出し口、160,460,460a,560 磁気センサユニット、190 算出部、230a 第1基板、230b 第2基板、410h,510h 第1流路部と第2流路部とによって囲まれた領域、411,511 第1流路部、416,516 第2流路部、460f フランジ部、460i 磁気センサ収容部、460o 電子部品収容部、470 ボルト、480 ナット、513,517 曲折部、600 電力変換装置、610 制御部、620 スイッチ駆動部、630 スイッチ素子部、650 出力部。

Claims (13)

  1. 測定対象の電流が流れ、表面および裏面を含み、長さ方向、該長さ方向と直交する幅方向、および、前記長さ方向と前記幅方向とに直交する厚さ方向を有する導体と、
    前記導体を流れる前記電流により発生する磁界の強さを検出する、第1磁気センサおよび第2磁気センサと、
    前記第1磁気センサおよび前記第2磁気センサが実装された基板とを備え、
    前記導体は、前記長さ方向における途中で、前記電流が分流されて流れる第1流路部および第2流路部を含み、
    前記第1流路部と前記第2流路部とは、前記厚さ方向から見て、前記幅方向において互いに隙間をあけて位置し、
    前記幅方向から見て、前記第1流路部と前記第2流路部とによって囲まれた領域が形成されており、
    前記基板の少なくとも一部は、前記幅方向から見て、前記領域の内部に位置し、かつ、前記第1流路部および前記第2流路部の少なくとも一方と向かい合っており、
    前記第1磁気センサおよび前記第2磁気センサは、前記隙間に配置されており、
    前記第1磁気センサは、前記基板の一方の主面に実装されており、
    前記第2磁気センサは、前記基板の他方の主面に実装されており、
    前記基板の前記一方の主面および前記他方の主面の各々は、前記幅方向と平行に位置しており、
    前記第1磁気センサは、前記幅方向から見て、前記厚さ方向における前記第1流路部の中心位置より前記領域寄りの部分と重なっており、
    前記第2磁気センサは、前記幅方向から見て、前記厚さ方向における前記第2流路部の中心位置より前記領域寄りの部分と重なっている、電流センサ。
  2. 前記第1磁気センサおよび前記第2磁気センサと共に前記基板に実装された電子部品をさらに備え、
    前記電子部品は、前記基板の前記厚さ方向において前記導体と重なっている部分における導体側とは反対側の主面上にのみ実装されている、請求項1に記載の電流センサ。
  3. 前記第1流路部は、前記幅方向から見て、前記導体の表面側に膨出している、請求項1または請求項1または請求項2に記載の電流センサ。
  4. 前記第2流路部は、前記幅方向から見て、前記導体の裏面側に膨出している、請求項3に記載の電流センサ。
  5. 前記第1流路部および前記第2流路部の各々は、前記長さ方向における一端と他端とを有し、
    前記長さ方向における前記第1流路部の一端と前記第1流路部の他端とは、前記厚さ方向における位置が互いに異なっており、
    前記長さ方向における前記第2流路部の一端と前記第2流路部の他端とは、前記厚さ方向における位置が互いに異なっており、
    前記長さ方向における前記第1流路部の一端と前記第2流路部の一端とは、前記厚さ方向における位置が互いに等しく、
    前記長さ方向における前記第1流路部の他端と前記第2流路部の他端とは、前記厚さ方向における位置が互いに等しく、
    前記第1流路部は、前記厚さ方向における前記第1流路部の前記一端の位置と前記第1流路部の前記他端の位置とを繋ぐ曲折部を含み、
    前記第2流路部は、前記厚さ方向における前記第2流路部の前記一端の位置と前記第2流路部の前記他端の位置とを繋ぐ曲折部を含み、
    前記第1流路部の前記曲折部と、前記第2流路部の前記曲折部とは、前記長さ方向において互いに間隔を置いて位置している、請求項1または請求項2に記載の電流センサ。
  6. 前記第1磁気センサおよび前記第2磁気センサは、前記厚さ方向から見て、互いに重なっている、請求項1から請求項のいずれか1項に記載の電流センサ。
  7. 前記幅方向において、前記第1磁気センサと前記第1流路部との間の間隔と、前記第2磁気センサと前記第2流路部との間の間隔とが等しく、
    前記厚さ方向から見て、前記第1磁気センサと前記第2磁気センサとは、前記長さ方向に互いにずれて位置している、請求項1から請求項のいずれか1項に記載の電流センサ。
  8. 前記第1磁気センサの検出値と前記第2磁気センサの検出値とを演算することにより前記電流の値を算出する算出部をさらに備え、
    前記導体を流れる前記電流により発生する磁界の強さについて、前記第1磁気センサの検出値の位相と前記第2磁気センサの検出値の位相とが逆相であり、
    前記算出部が減算器または差動増幅器である、請求項1から請求項のいずれか1項に記載の電流センサ。
  9. 前記第1磁気センサの検出値と前記第2磁気センサの検出値とを演算することにより前記電流の値を算出する算出部をさらに備え、
    前記導体を流れる前記電流により発生する磁界の強さについて、前記第1磁気センサの検出値の位相と前記第2磁気センサの検出値の位相とが同相であり、
    前記算出部が加算器または加算増幅器である、請求項1から請求項のいずれか1項に記載の電流センサ。
  10. 前記算出部は、前記基板の一方の主面および前記基板の他方の主面の少なくとも一方に実装されており、
    前記算出部は、前記厚さ方向において、前記第1流路部および前記第2流路部の少なくとも一方と重なっている、請求項または請求項に記載の電流センサ。
  11. 前記第1磁気センサおよび前記第2磁気センサの各々が、ホール素子を有する、請求項1から請求項1のいずれか1項に記載の電流センサ。
  12. 前記第1磁気センサおよび前記第2磁気センサの各々が、磁気抵抗素子を有する、請求項1から請求項1のいずれか1項に記載の電流センサ。
  13. 請求項1から請求項1のいずれか1項に記載の電流センサを備える、電力変換装置。
JP2017544417A 2015-10-08 2016-09-05 電流センサおよびこれを備える電力変換装置 Active JP6504260B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015200285 2015-10-08
JP2015200285 2015-10-08
PCT/JP2016/075955 WO2017061206A1 (ja) 2015-10-08 2016-09-05 電流センサおよびこれを備える電力変換装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2017061206A1 JPWO2017061206A1 (ja) 2018-04-26
JP6504260B2 true JP6504260B2 (ja) 2019-04-24

Family

ID=58487464

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017544417A Active JP6504260B2 (ja) 2015-10-08 2016-09-05 電流センサおよびこれを備える電力変換装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10274524B2 (ja)
JP (1) JP6504260B2 (ja)
CN (1) CN108450013B (ja)
WO (1) WO2017061206A1 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10852363B2 (en) * 2018-01-08 2020-12-01 Infineon Technologies Ag Side-biased current sensor with improved dynamic range
US11239761B2 (en) 2018-01-24 2022-02-01 Infineon Technologies Ag Coreless current sensor for high current power module
DE102019114554B3 (de) 2019-05-29 2020-09-24 Infineon Technologies Ag Stromschiene und Leistungsmodul mit Stromschiene
DE102019121385A1 (de) * 2019-08-07 2021-02-11 Infineon Technologies Ag Vorrichtung und verfahren zum montieren eines magnetfeldsensor-chips an einer stromschiene
DE102019123472B3 (de) * 2019-09-02 2021-03-04 Infineon Technologies Ag Sensorvorrichtungen mit Sensorchip und Stromschiene
CN111323639B (zh) 2020-03-27 2022-06-24 江苏多维科技有限公司 一种基于磁探头的电流测量装置及测量方法
JP7514958B2 (ja) 2021-01-14 2024-07-11 アルプスアルパイン株式会社 電流センサ及び電気装置
JPWO2022209797A1 (ja) * 2021-03-31 2022-10-06
WO2024185643A1 (ja) * 2023-03-03 2024-09-12 株式会社村田製作所 電流センサ

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09304440A (ja) * 1996-05-21 1997-11-28 Meidensha Corp 電流検出装置
US6175229B1 (en) * 1999-03-09 2001-01-16 Eaton Corporation Electrical current sensing apparatus
JP3681584B2 (ja) * 1999-08-27 2005-08-10 矢崎総業株式会社 電流センサ及びこれを用いた電気回路
JP2005283451A (ja) * 2004-03-30 2005-10-13 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 電流測定装置および電流測定方法
JP4434111B2 (ja) * 2005-09-12 2010-03-17 株式会社デンソー 電流センサおよび電流検出方法
JP2008039734A (ja) * 2006-08-10 2008-02-21 Koshin Denki Kk 電流センサ
US20130027021A1 (en) * 2011-07-28 2013-01-31 Abb Inc. Current sensor
WO2015115238A1 (ja) * 2014-01-28 2015-08-06 株式会社村田製作所 電流センサ
JP6582996B2 (ja) * 2014-01-31 2019-10-02 日立金属株式会社 電流量検出器
JP2015175757A (ja) * 2014-03-17 2015-10-05 トヨタ自動車株式会社 電流センサ
KR20160016191A (ko) * 2014-08-04 2016-02-15 현대모비스 주식회사 전류센서-전력전도체 조립체의 크기 최적화 구조

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2017061206A1 (ja) 2018-04-26
CN108450013B (zh) 2020-09-15
US20180188294A1 (en) 2018-07-05
WO2017061206A1 (ja) 2017-04-13
US10274524B2 (en) 2019-04-30
CN108450013A (zh) 2018-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6504260B2 (ja) 電流センサおよびこれを備える電力変換装置
CN107533089B (zh) 电流传感器
CN107250813B (zh) 电流传感器
US7626376B2 (en) Electric current detector having magnetic detector
US10605835B2 (en) Current sensor
US10274523B2 (en) Current sensor including a first current sensor and a second current sensor unit
JP6711086B2 (ja) 電流センサ
JP6696571B2 (ja) 電流センサおよび電流センサモジュール
WO2014192625A1 (ja) 電流センサ
US10267825B2 (en) Current sensor including a housing surrounded by bent portions of primary conductors
JP2018096794A (ja) 電流センサ
JP6540802B2 (ja) 電流センサ
JP6384677B2 (ja) 電流センサ
WO2019038964A1 (ja) 電流センサ
WO2017010210A1 (ja) 電流センサ
CN109328307B (zh) 磁传感器以及具备该磁传感器的电流传感器
WO2016076114A1 (ja) 電流センサ
JP6737092B2 (ja) 電流センサ
JP2017058275A (ja) 電流センサおよびそれを備える電力変換装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180104

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181113

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181205

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190226

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190311

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6504260

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150