JP6494349B2 - エッチング液組成物及びエッチング方法 - Google Patents
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Description
即ち、本発明は、基体上に酸化インジウム系層と、銅層および銅合金層からなる群から選ばれる少なくとも1種の層が積層された積層体から、酸化インジウム系層のみを選択的にエッチングするために用いられるエッチング液組成物において、(A)塩化水素または硫酸;(B)塩化物イオン供給源、フッ化物イオン供給源及び臭化物イオン供給源からなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物;(C)チオール基及び水酸基を有する化合物、1,10−フェナントロリン、ベンゾトリアゾール、亜リン酸、亜リン酸塩、次亜リン酸及び次亜リン酸塩からなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物を含む水溶液からなることを特徴とするエッチング液組成物に係るものである。
まず、本明細書に記載する「酸化インジウム系層」とは、酸化インジウムを含む層を意味するものであり、特に限定されるものではないが、例えば、酸化インジウム層、インジウム−スズ酸化物層(以下、ITO層と略す場合がある)、インジウム−ガリウム−亜鉛酸化物層及びインジウム−亜鉛酸化物層から選ばれる1種以上からなる層を総称するものである。酸化インジウム系層の厚さは特に限定されるものではないが、厚さ10〜10000Å程度の層を好ましく利用することができる。
また、フッ化物イオン供給源としては、フッ化水素、フッ化アンモニウム、フッ化水素アンモニウム、フッ化ナトリウム、フッ化カリウム、フッ化リチウムなどが挙げられ、これらは無水物でも水和物でもよい。
また、臭化物イオン供給源としては、臭化水素、臭化アンモニウム、臭化ナトリウム、臭化カリウム、臭化リチウムなどが挙げられ、これらは無水物でも水和物でもよい。
これらの中でも、溶液の安定性が良いことから、塩化水素、塩化アンモニウム、塩化ナトリウム、塩化マグネシウム、塩化アルミニウム、フッ化アンモニウム、フッ化水素アンモニウム、臭化カリウムが好ましい。
(B)成分は1種類の化合物のみを用いてもよいし、2種類以上の化合物を用いてもよい。
従って、(A)成分が塩化水素であり、(B)成分も塩化水素である場合の本発明のエッチング液組成物中の塩化水素濃度は0.1〜30質量%となる。
(C)成分における亜リン酸塩としては、例えば、亜リン酸二ナトリウム、亜リン酸二カリウム及び亜リン酸二リチウムなどが挙げられ、これらは無水物でも水和物でもよい。
(C)成分における次亜リン酸塩としては、例えば、次亜リン酸ナトリウム、次亜リン酸カリウム及び次亜リン酸リチウムなどが挙げられ、これらは無水物でも水和物でもよい。
(C)成分としてメルカプト酢酸、2−メルカプトプロピオン酸、3−メルカプトプロピオン酸、次亜リン酸、次亜リン酸ナトリウムを用いる場合、酸化インジウム系層と、銅層および銅合金層からなる群から選ばれる少なくとも1種の層が積層された、基体上に形成された積層体から、酸化インジウム系層のみを選択的にエッチングする際に、本発明のエッチング液組成物中に銅が溶解していた場合においても銅層や銅合金層の腐食を少なくすることでき、所望の形状を形成することができることから特に好ましい。
実施例1
以下の表1に示す配合割合にて各成分を配合することにより、本発明品組成物1〜20を得た。なお、残分は水である。
以下の表2に示す配合割合にて各成分を配合することにより、比較品組成物1〜8を得た。なお、残分は水である。
図1の模式図を示すように、PETフィルム(1)上にITO層(2)が形成された基体上に、下から順にCu層(3)、銅−ニッケル合金層(以下、CuNi層と略す場合がある)(4)及び感光性ドライフィルムレジスト層(5)で構成されたパターン(幅75μm、開口部25μm)を形成した基板を縦20mm×横20mmに切断してテストピースとした。このテストピースに対し、実施例1で調製した本発明品のエッチング液組成物を用いて、45℃で、露出しているITOが目視で完全に見られなくなるまで、撹拌下でディップ式によるエッチング処理を行うことで、ITO層のみを選択的にエッチングした。
上記実施例2で得られた細線について、細線の断面をFE−SEMを用いて観察することで評価した。全ての結果において、ITO層は所望の幅に形成されていることを確認した。
具体的には、エッチング処理前のCuNiTi層の幅とエッチング処理後のCuNiTi層の幅を測定した後に、エッチング処理前のCuNiTi層の幅とエッチング処理後のCuNiTi層の幅の差(α)を算出し、αが2μm未満である場合を○とし、差が2μm以上である場合を×とした。
また、エッチング処理後のCuNiTi層の幅とCu層の幅を測定し、エッチング処理後のCuNiTi層の幅とCu層の幅の差(β)を算出した。
βが2μm未満である場合を○とし、差が2μm以上である場合を×とした。結果を表3に示す。
α=(エッチング処理前のCuNiTi層の幅)−(エッチング処理後のCuNiTi層の幅)
β=(エッチング処理後のCuNiTi層の幅)−(エッチング処理後のCu層の幅)
実施例2で使用したものと同様のテストピースに対し、実施例1で調製した本発明品のエッチング液組成物に銅濃度が300ppmとなるように銅を溶解させたエッチング液組成物を用いて、45℃で、露出しているITOが目視で完全に見られなくなるまで、撹拌下でディップ式によるエッチング処理を行うことで、ITO層のみを選択的にエッチングした。
実施例2で使用したものと同様のテストピースに対し、比較例1で調製したエッチング液組成物に銅濃度が300ppmとなるように銅を溶解させたエッチング液組成物を用いて、45℃で、露出しているITOが目視で完全に見られなくなるまで、撹拌下でディップ式によるエッチング処理を行うことで、ITO層のみを選択的にエッチングした。
実施例3及び比較例2で得られた細線について、細線の断面をFE−SEMを用いて観察することで評価した。全ての結果において、ITO層は所望の幅に形成されていることを確認した。
具体的には、エッチング処理前のCuNi層の幅とエッチング処理後のCuNi層の幅を測定した後に、エッチング処理前のCuNi層の幅とエッチング処理後のCuNiTi層の幅の差(α)を算出し、αが2μm未満である場合を○とし、差が2〜4μmである場合を△とし、差が4μmよりも大きい場合を×とした。
また、エッチング処理後のCuNi層の幅とCu層の幅を測定し、エッチング処理後のCuNi層の幅とCu層の幅の差(β)を算出した。
βが2μm未満である場合を○とし、差が2〜4μmである場合を△とし、差が4μmよりも大きい場合を×とした。結果を表4に示す。
α=(エッチング処理前のCuNi層の幅)−(エッチング処理後のCuNi層の幅)
β=(エッチング処理後のCuNi層の幅)−(エッチング処理後のCu層の幅)
このことから、本発明のエッチング液組成物は、酸化インジウム系層と銅および/または銅合金層を含む積層体から、酸化インジウム系層のみを選択的にエッチングすることができ、さらに、エッチング液組成物中に銅が溶解した場合であっても銅層及び銅合金層の腐食を抑えることができるエッチング液組成物であることがわかった。
Claims (3)
- 基体上に酸化インジウム系層と、銅層および銅合金層からなる群から選ばれる少なくとも1種の層が積層された積層体から、酸化インジウム系層のみを選択的にエッチングするために用いられるエッチング液組成物において、
(A)塩化水素または硫酸;
(B)塩化物イオン供給源、フッ化物イオン供給源及び臭化物イオン供給源からなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物;
(C)メルカプト酢酸、2−メルカプトプロピオン酸、3−メルカプトプロピオン酸、3−メルカプト−1−プロパノール、1,10−フェナントロリン、亜リン酸、亜リン酸二ナトリウム、亜リン酸二カリウム、亜リン酸二リチウムからなる亜リン酸塩、次亜リン酸、及び次亜リン酸ナトリウム、次亜リン酸カリウム及び次亜リン酸リチウムからなる次亜リン酸塩からなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物
を含む水溶液からなり、
(A)の濃度は、0.1〜30質量%であり、
(A)が塩化水素である場合の(B)の濃度は、塩化物イオン、フッ化物イオン及び臭化物イオンの濃度の合計として、0〜30質量%であり、(A)が硫酸である場合の(B)の濃度は、塩化物イオン、フッ化物イオン及び臭化物イオンの濃度の合計として、0.1〜30質量%であり、
(C)の濃度は、0.01〜20質量%であることを特徴とするエッチング液組成物。 - 請求項1に記載のエッチング液組成物を用いることを特徴とする基体上に酸化インジウム系層と、銅層および銅合金層からなる群から選ばれる少なくとも1種の層が積層された積層体から、酸化インジウム系層のみを選択的にエッチングするエッチング方法。
- 酸化インジウム系層が、酸化インジウム層、インジウム−スズ酸化物層、インジウム−ガリウム−亜鉛酸化物層及びインジウム−亜鉛酸化物層から選ばれる少なくとも1層以上の層である、請求項2に記載のエッチング方法。
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