JP6488857B2 - バイアス監視測定方法、装置及び光送信機 - Google Patents
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Description
(外1)
に位置する場合について、文献1と文献2が開示した自動バイアス制御方法では、直流バイアスに基づいてスクランブルを導入し、変調器の出力端において直流光電力、スクランブル線形項又はミキシング項を検出する方法により、バイアスポイントに対するフィードバック可能なクローズループ制御を行っている。
(外2)
に対するドリフト程度がより大きいことを示している。
(外3)
であり、曲線S1は電気光学変調器の光出力信号の強度信号が電気駆動信号R(t)に対する伝達曲線を示し、曲線S2は電気入力信号R(t)が理想の半波転換点、即ち
(外4)
にバイアスされた場合を示し、曲線S3は電気入力信号R(t)が半波転換点に対しドリフトしたバイアスポイントにバイアスされた場合を示し、曲線S4は曲線S2に対応する光出力信号強度の曲線を示し、曲線S5は曲線S3に対応する光出力信号強度の曲線を示すとする。
(外5)
の近くにバイアスされた時、光出力信号の強度が入力信号に対し線性関係を示し、電気駆動信号が半波転換点である
(外6)
から離れたバイアスポイントにバイアスされた時、光出力信号の強度が明らかに非線形圧縮されている。電気光学変調器のこのような性質により、正確な伝達関係を維持するには、入力信号において適切なバイアスを導入しなければならない。
(外7)
であり、曲線S11は電気光学変調器の光出力信号の強度信号が電気駆動信号R(t)に対する伝達曲線を示し、曲線S12は電気入力信号R(t)が理想な半波転換点、即ち
(外8)
にバイアスされた場合を示し、曲線S13は電気入力信号R(t)が半波転換点に対しドリフトしたバイアスポイントにバイアスされた場合を示し、曲線S14は曲線S2に対応する光出力信号強度の曲線を示し、曲線S15は曲線S13に対応する光出力信号強度の曲線を示すとする。
電気光学変調器の直流バイアスポイントのドリフトを監視測定するバイアス監視測定装置であって、
電気光学変調器に入力された電気駆動信号に対し第1信号処理を行って、基準信号を出力する第1信号処理手段と、
前記電気光学変調器が出力した光信号に基づいて得られた電気出力信号に対し第2信号処理を行って、検出信号を出力する第2信号処理手段と、
前記基準信号と前記検出信号との相関性を算出し、かつ当該相関性の算出結果をバイアス監視測定信号として出力する検出信号算出手段とを含むバイアス監視測定装置。
前記第1信号処理と前記第2信号処理のうち少なくとも一方が時間領域非線形信号処理を含む、付記1に記載のバイアス監視測定装置。
前記時間領域非線形信号処理は、
信号中の振幅が所定閾値以上のサンプリングポイントの振幅をゼロに設定すること、又は、信号中の振幅が所定閾値以上のサンプリングポイントの振幅をゼロ以外の所定振幅に設定することを含む、付記2に記載のバイアス監視測定装置。
前記第1信号処理手段は、
前記電気出力信号のサンプリングレートに基づいて、前記電気駆動信号に対し再サンプリングを行う再サンプリング手段と、
前記再サンプリングされた信号中の直流成分を除去する直流阻止フィルタリング手段とを含む、付記1に記載のバイアス監視測定装置。
前記第1信号処理手段はさらに、
前記電気出力信号の周波数特性に基づいて、前記電気駆動信号に対しフィルタリング処理を行い、かつ前記フィルタリング処理後の信号を前記再サンプリング手段に入力するプリフィルタリング手段を含む、付記4に記載のバイアス監視測定装置。
前記第1信号処理手段はさらに、
前記電気駆動信号に対し第1時間領域非線形変換を行い、かつ前記第1時間領域非線形変換された信号を前記プリフィルタリング手段に入力する第1時間領域非線形処理手段、及び/又は、
前記再サンプリングされた信号に対し第2時間領域非線形変換を行う第2時間領域非線形処理手段を含む、付記5に前記のバイアス監視測定装置。
前記検出信号算出手段は、
前記基準信号及び前記検出信号中の前記直流バイアスポイントのドリフトに敏感ではないサンプリングポイントを除去する選別手段と、
前記選別手段によって処理された後の基準信号と検出信号との相関性を算出し、かつ当該相関性の算出結果をバイアス監視測定信号として出力する相関性演算手段とを含む、付記1に記載のバイアス監視測定装置。
前記直流バイアスポイントのドリフトに敏感ではないサンプリングポイントは、前記第1信号処理及び/又は前記第2信号処理においてゼロに設定されたサンプリングポイントを含む、付記7に記載のバイアス監視測定装置。
光送信機であって、
電気光学変調器、バイアス制御装置及び付記1から8の一つに記載された前記バイアス監視測定装置を含み、
前記バイアス制御装置は、前記バイアス監視測定信号に基づいて、前記電気光学変調器の直流バイアスポイントを調整する光送信機。
電気光学変調器の直流バイアスポイントのドリフトを監視測定するバイアス監視測定方法であって、
電気光学変調器に入力された電気駆動信号に対し第1信号処理を行って、基準信号を出力するステップと、
前記電気光学変調器が出力した光信号に基づいて得られて電気出力信号に対し第2信号処理を行って、検出信号を出力するステップと、
前記基準信号と前記検出信号との相関性を算出し、当該相関性の算出結果をバイアス監視測定信号として出力するステップとを含むバイアス監視測定方法。
前記第1信号処理と前記第2信号処理のうち少なくとも一方が時間領域非線形信号処理を含む、付記10に記載のバイアス監視測定方法。
前記時間領域非線形信号処理は、
信号中の振幅が所定閾値以上のサンプリングポイントの振幅をゼロに設定すること、又は、信号中の振幅が所定閾値以上のサンプリングポイントの振幅をゼロ以外の所定振幅に設定することを含む、付記11に記載のバイアス監視測定方法。
前記第1信号処理は、
前記電気出力信号のサンプリングレートに基づいて、前記電気駆動信号に対し再サンプリングを行うステップと、
前記再サンプリングされた信号中の直流成分を除去するステップとを含む、付記10に記載のバイアス監視測定方法。
前記第1信号処理はさらに、
前記再サンプリングを行う前、前記電気出力信号の周波数特性に基づいて、前記電気駆動信号に対しフィルタリング処理を行うステップを含む、付記13に記載のバイアス監視測定方法。
前記第1信号処理はさらに、
前記フィルタリングを行う前に、前記電気駆動信号に対し第1時間領域非線形変換を行うステップ、及び/又は
前記再サンプリングされた信号に対し第2時間領域非線形変換を行うステップを含む、付記14に記載のバイアス監視測定方法。
前記基準信号と前記検出信号との相関性を算出するステップは、
前記基準信号及び前記検出信号に対し選別処理を行って、前記基準信号及び前記検出信号中の前記直流バイアスポイントのドリフトに敏感ではないサンプリングポイントを除去するステップと、
前記選別処理後の基準信号と検出信号との相関性を算出し、かつ当該相関性の算出結果を出力するステップとを含む、付記1に記載のバイアス監視測定方法
(付記17)
前記直流バイアスポイントのドリフトに敏感ではないサンプリングポイントは、前記第1信号処理及び/又は前記第2信号処理においてゼロに設定されたサンプリングポイントを含む、付記16に記載のバイアス監視測定方法。
101、701、1001、1101 第1信号処理手段
102、1200 第2信号処理手段
103 検出信号算出手段
1011、1021、7012、1201 プリフィルタリング手段
1012、1022、7013、1202 再サンプリング手段
1013、7014 直流阻止フィルタリング手段
1031 選別手段
1032 相関性演算手段
7011 第1時間領域非線形処理手段
7015 第2時間領域非線形処理手段
1203 第3時間領域非線形処理手段
1300 光送信機
1301 電気光学変調器
1303 バイアス制御器
1304 デジタルサンプリング機
1305 DA変換器
1306 光電変換器
1307 AD変換器
1401 CPU
1402 メモリ
1403 通信モジュール
1404 入力手段
1405 音声プロセッサ
1406 ディスプレイ
1407 電源
Claims (9)
- 電気光学変調器の直流バイアスポイントのドリフトを監視測定するバイアス監視測定装置であって、
電気光学変調器に入力された電気駆動信号に対して第1信号処理を行い、基準信号を出力する第1信号処理手段と、
前記電気光学変調器が出力した光信号に基づいて得られた電気出力信号に対して第2信号処理を行い、検出信号を出力する第2信号処理手段と、
前記基準信号と前記検出信号との相関性を算出し、当該相関性の算出結果をバイアス監視測定信号として出力する検出信号算出手段とを含み、
前記第1信号処理及び前記第2信号処理のうち少なくとも一方が時間領域非線形信号処理を含む、バイアス監視測定装置。 - 前記時間領域非線形信号処理は、
信号中の振幅が所定閾値以上のサンプリングポイントの振幅をゼロに設定すること、又は、信号中の振幅が所定閾値以上のサンプリングポイントの振幅をゼロ以外の所定振幅に設定することを含む、請求項1に記載のバイアス監視測定装置。 - 前記第1信号処理手段は、
前記電気出力信号のサンプリングレートに基づいて、前記電気駆動信号に対して再サンプリングを行う再サンプリング手段と、
前記再サンプリングされた信号中の直流成分を除去する直流阻止フィルタリング手段とを含む、請求項1に記載のバイアス監視測定装置。 - 前記第1信号処理手段はさらに、
前記電気出力信号の周波数特性に基づいて、前記電気駆動信号に対してフィルタリング処理を行い、前記フィルタリング処理後の信号を前記再サンプリング手段に入力するプリフィルタリング手段を含む、請求項3に記載のバイアス監視測定装置。 - 前記第1信号処理手段はさらに、
前記電気駆動信号に対して第1時間領域非線形変換を行い、前記第1時間領域非線形変換された信号を前記プリフィルタリング手段に入力する第1時間領域非線形処理手段、及び/又は、
前記再サンプリングされた信号に対して第2時間領域非線形変換を行う第2時間領域非線形処理手段を含む、請求項4に記載のバイアス監視測定装置。 - 前記検出信号算出手段は、
前記基準信号及び前記検出信号中の前記直流バイアスポイントのドリフトに敏感ではないサンプリングポイントを除去する選別手段と、
前記選別手段によって処理された後の基準信号と検出信号との相関性を算出し、当該相関性の算出結果をバイアス監視測定信号として出力する相関性演算手段とを含む、請求項1に記載のバイアス監視測定装置。 - 前記直流バイアスポイントのドリフトに敏感ではないサンプリングポイントは、前記第1信号処理及び/又は前記第2信号処理においてゼロに設定されたサンプリングポイントを含む、請求項6に記載のバイアス監視測定装置。
- 光送信機であって、
電気光学変調器、バイアス制御装置、及び請求項1から7の何れか一項に記載の前記バイアス監視測定装置を含み、
前記バイアス制御装置は、前記バイアス監視測定信号に基づいて、前記電気光学変調器の直流バイアスポイントを調整する、光送信機。 - 電気光学変調器の直流バイアスポイントのドリフトを監視測定するバイアス監視測定方法であって、
電気光学変調器に入力された電気駆動信号に対して第1信号処理を行い、基準信号を出力するステップと、
前記電気光学変調器が出力した光信号に基づいて得られた電気出力信号に対して第2信号処理を行い、検出信号を出力するステップと、
前記基準信号と前記検出信号との相関性を算出し、当該相関性の算出結果をバイアス監視測定信号として出力するステップとを含み、
前記第1信号処理及び前記第2信号処理のうち少なくとも一方が時間領域非線形信号処理を含む、バイアス監視測定方法。
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