JP6482230B2 - 放射性物質の分析装置及び方法 - Google Patents
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Description
炉心などが溶融し、溶融した燃料などの溶融物(放射性物質としてのデブリ)が原子炉容器の底部に堆積したり、原子炉容器をも溶融して落下したりする。この場合、原子炉格納容器は、内部に冷却水が噴射されることで冷却され、また、キャビティに冷却水が貯留されることで溶融物が冷却されて固化する。
ウランとプルトニウムを選択的に定量することができる。第1半導体検出器42は、この短半減期核種に変換されたγ線を検出し、計測装置14に出力する。計測装置14は、第1半導体検出器42が検出したγ線に基づいて元素を特定する。即ち、計測装置14は、第1半導体検出器42が検出したγ線に基づいて、γ線のエネルギに対するエネルギのγ線が検出された計数値を求める。すると、このエネルギからそのγ線を放出した放射性核種が特定される。
容易にフィルタユニット31に担持させて試料Bを形成することができ、作業性を向上することができる。
12 回収装置
13 分析ユニット
14 計測装置
21 レーザブラスト装置
22 光ファイバ
31 フィルタユニット
32 吸引配管
33 吸引ポンプ
34 吸引ヘッド
41 電子線加速器
42 第1半導体検出器
43 エックス線照射器
44 第2半導体検出器
45 ユニット本体
51 ハウジング
52 支持プレート
53 フィルタ本体
61 差圧検出器
A 溶融物(検体)
B 試料
Claims (8)
- 粒状物を回収する吸引配管と、
筒形状をなして前記吸引配管に固定される装置本体と、
フィルタに粒状物が担持された試料を支持して前記装置本体に固定されるフィルタユニットと、
前記装置本体に支持されて試料に対して制動放射線を照射する電子線加速器と、
前記装置本体に支持されて制動放射線の照射による光核反応によって前記試料から発生するガンマ線を検出する第1半導体検出器と、
前記第1半導体検出器の検出結果に基づいて前記試料に含有する第1元素を計測する計測装置と、
前記吸引配管における前記フィルタユニットの上流側と下流側での差圧を検出する差圧検出器と、
を有することを特徴とする放射性物質の分析装置。 - 検体を破砕して粒状物を生成する破砕装置と、前記破砕装置により生成された粒状物を回収して前記フィルタに担持することで前記試料を形成する回収装置が設けられることを特徴とする請求項1に記載の放射性物質の分析装置。
- 前記破砕装置は、パルスレーザを出力するレーザブラスト装置を有し、前記回収装置は、前記フィルタを装着する吸引配管と、前記吸引配管に吸引力を付与する吸引ポンプを有することを特徴とする請求項2に記載の放射性物質の分析装置。
- 前記フィルタは、前記吸引配管に対して着脱自在に設けられることを特徴とする請求項3に記載の放射性物質の分析装置。
- 前記装置本体に支持されて前記試料に対してエックス線を照射するエックス線照射器と、前記装置本体に支持されてエックス線の照射によって前記試料から発生する蛍光エックス線を検出する第2半導体検出器とが設けられ、前記計測装置は、前記第2半導体検出器の検出結果に基づいて前記試料に含有する第2元素を計測することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の放射性物質の分析装置。
- 前記計測装置は、前記第1半導体検出器の検出結果と前記第2半導体検出器の検出結果に基づいて第1元素と第2元素の濃度を算出することを特徴とする請求項5に記載の放射性物質の分析装置。
- 試料に対して制動放射線を照射する工程と、
制動放射線の照射による光核反応によって前記試料から発生するガンマ線を検出する工程と、
検出したガンマ線に基づいて前記試料に含有する第1元素を計測する工程と、
試料から含有する第1元素が検出されたかどうかを判定する工程と、
第1元素が検出されたと判定されると前記試料に対してエックス線を照射する工程と、
エックス線の照射によって前記試料から発生する蛍光エックス線を検出する工程と、
検出したエックス線に基づいて前記試料に含有する第2元素を計測する工程と、
第1元素と第2元素の濃度を算出する工程と、
を有することを特徴とする放射性物質の分析方法。 - 検体に対してパルスレーザを出力し、生成された粒状体を吸引してフィルタに担持させることで試料を形成し、前記フィルタの試料に対して制動放射線を照射することを特徴とする請求項7に記載の放射性物質の分析方法。
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