JP6481898B2 - ソーラーセルの機能を持つイメージセンサー - Google Patents

ソーラーセルの機能を持つイメージセンサー Download PDF

Info

Publication number
JP6481898B2
JP6481898B2 JP2016201932A JP2016201932A JP6481898B2 JP 6481898 B2 JP6481898 B2 JP 6481898B2 JP 2016201932 A JP2016201932 A JP 2016201932A JP 2016201932 A JP2016201932 A JP 2016201932A JP 6481898 B2 JP6481898 B2 JP 6481898B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solar cell
photodetector
switch
unit pixel
drain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016201932A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017076797A (ja
Inventor
キム,フン
Original Assignee
キム,フン
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US14/883,587 external-priority patent/US9735188B2/en
Application filed by キム,フン filed Critical キム,フン
Publication of JP2017076797A publication Critical patent/JP2017076797A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6481898B2 publication Critical patent/JP6481898B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14609Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/142Energy conversion devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14609Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements
    • H01L27/14612Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements involving a transistor
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

本発明は、ソーラーセルとして動作可能なイメージセンサーに関し、より詳細には、一般的にはイメージセンサーとして機能し、必要に応じて特定条件へのモード転換を通じてソーラーセルとして動作させる技術に関する。
光エネルギーハーベスティング(Energy Harvesting)技術とは、モノのインタ−ネット(Internet of Things)やユビキタスセンサーネットワーク(Ubiquitous Sensor Network)、無線センサーネットワーク(Wireless Sensor Network)などに必ず必要な基盤技術であって、多様な電子装置において半永久的な電源として使用でき、既存のバッテリーに有線で電力を提供しないで、光エネルギーを電気的エネルギーに変換して充電できる技術のことである。
一方、このようなシステムは、超小型かつ集積化された形で具現することが望ましい。一部の研究で、光エネルギーの変換素子を、CMOS工程のPN接合フォトダイオ−ド(Photodiode)を用いてISC(Integrated Solar Cell)の形で製作することにより他の回路との集積化を試みる場合もあるが、このようなフォトダイオ−ドは光電変換能力において効率が低いため、チップ内の回路が動作するに十分な電力を供給することが難しい。なお、ソーラーセルの工程と標準CMOS工程の完全な一体化には依然として限界がある。
本発明は、既に登録された特許である「Unit Pixel of Image Sensor and Photo Detector There of」(特許文献1、特許文献2、特許文献3)の技術に加えて、ピクセル化されたソーラーセルシステムオンチップを具現する方法及び概念を提示しようとするものである。まず、標準CMOS工程を介して製作されるフォトディテクターとピクセル形状のソーラーセルの構造及び動作原理について述べて、このように製作されたソーラーセルとイメージセンサーのピクセルが同一のセルを共有しながら必要に応じて各々を選択して使用できる方法を提案する。
米国特許第8569806号明細書 米国特許第8610234号明細書 米国特許第8669599号明細書
本発明は前記のような従来技術の問題点を解決するために、高効率の光ディテクターを持つソーラーセルがイメージセンサーのピクセルと同一のセルを共有し、必要に応じて各々を選択して、イメージセンサーとして用いる、または、駆動電力を生産かつ貯蔵するソーラーセルとして使用できる方法を提供することを目的とする。
前記目的を達成するための、イメージセンサーとソーラーセルとして動作可能な単位ピクセルエレメントは、ゲートに受光された光によりソースとドレーン間のチャンネルに光電流を発生させるフォトディテクター、前記フォトディテクターのソース端子及び第1ソーラーセルバス間に連結されてオン/オフ動作を行う第1スイッチ、及び前記フォトディテクターのゲート端子及び第2ソーラーセルバス間に連結されてオン/オフ動作を行う第2スイッチを含む。
前記目的を達成するためのイメージセンサーとソーラーセルとして動作可能な単位ピクセルエレメントは、ゲートに受光された光によりソースとドレーン間のチャンネルに光電流を発生させるフォトディテクター、前記フォトディテクターのゲート端子及び第1ソーラーセルバス間にされてオン/オフ動作を行う第1スイッチ、及び前記フォトディテクターのソース端子及び第2ソーラーセルバス間に連結され、前記光電流を画素出力端に出力させる選択素子を含む。
前記の目的を達成するためのイメージセンサーとソーラーセルとして動作可能な単位ピクセルエレメントは、ゲートに受光された光によりソースとドレーン間のチャンネルに光電流を発生させるフォトディテクター、前記フォトディテクターのゲート端子及び第1ソーラーセルバス間に連結されてオン/オフ動作を行う第1スイッチ、前記フォトディテクターのリセット端子及び前記第1ソーラーセルバス間に連結されてオン/オフ動作を行う第2スイッチ、及び前記フォトディテクターのソース端子及び第2ソーラーセルバス間に連結され、前記光電流を画素出力端に出力させる選択素子を含む。
本発明の実施例によれば、イメージセンサーとして機能すると同時に光エネルギーのハーベスティングが可能になり、高効率の光電変換能力にて有効な電力を生成及び供給することができる。
また、本発明の望ましい実施例によれば、製造工程において、周辺回路と完全な一体型で製作することができて、イメージセンサーのみならずCMOS工程で作られるあらゆる周辺回路との集積化が非常に容易である。
本発明に係る高効率の光電変換が可能なフォトディテクターを示す断面図である。 本発明に係る前記フォトディテクターの高効率の光電変換メカニズムを示す図である。 本発明に係るソーラーセルのためのフォトディテクターを示す断面図である。 本発明に係る前記フォトディテクターの電力生成メカニズムを示す図である。 本発明の第1実施例に係る前記フォトディテクターの開放回路電圧(VOC:Open circuit voltage)獲得メカニズムを示す図である。 本発明の第2実施例に係る前記フォトディテクターの開放回路電圧獲得メカニズムを示す断面図である。 本発明に係るソーラーセルの単位ピクセルの構造を示す図である。 本発明の第1実施例に係るイメージセンサーの単位ピクセルの構造を示す図である。 本発明の第1実施例に係るソーラーセルの単位ピクセルの構造を示す図である。 本発明の第2実施例に係るイメージセンサーの第2単位ピクセルを示す図である。 本発明の第2実施例に係るソーラーセルの第2単位ピクセル構造を示す図である。
本発明は多様な変更を加えることができ、様々な実施例を有することができるので、特定の実施例を図面に例示して、これを詳細な説明で詳細に説明しようとする。しかしながら、これは本発明を特定の実施形態に対して限定しようとするものではなく、本発明の思想及び技術範囲に含まれるあらゆる変更、均等物乃至代替物を含むものと理解すべきである。
本発明を説明するにおいて、関連した公知の技術に対する具体的な説明が本発明の要旨を無駄に乱すおそれがあると判断される場合、その詳細な説明を省略する。また、本明細書の説明過程において用いられる数字(例えば、第1、第2など)は一つの構成要素を他の構成要素と区分するための識別記号に過ぎない。
また、本明細書において、一構成要素が異なる構成要素と「連結される」または「接続される」などと言及された場合には、前記一構成要素が前記他の構成要素と直接連結されるかまたは直接接続されることもあるが、特に反対の記載がない限り、中間に他の構成要素を媒介して連結されるかまたは接続されることもあると理解すべきである。
以下、添付した図面を参照して本発明の望ましい実施例について説明する。
図1は本発明に係る高効率の光電変換可能なフォトディテクター(photo detector)を示した断面図である。
図1において、前記フォトディテクターに該当する単位画素の受光素子は、従来のフォトダイオ−ドの代わりにトンネル接合素子(tunnel juncion device)を用いて具現される。ここで、トンネル接合素子は、二つの導体や半導体の間に薄い絶縁層が接合された構造であり、絶縁層で発生するトンネルリング効果(tunneling effect)を用いて動作する素子のことを指す。 ちなみに、トンネルリング効果とは、量子力学的現象であって、ポテンシャルを有する力の作用下で運動する粒子が、その粒子自体が有する運動エネルギーより大きい位置エネルギーを有する領域を通過する現象のことをいう。
本発明の一実施例では、このようなフォトディテクターを用いて単位画素の受光素子及びソーラーセル(solar cell)を生成することができ、本明細書及び特許請求範囲に使われる「フォトディテクター」とは、前記のトンネル接合素子を用いて具現された受光素子及びソーラーセルのことを指す。前記フォトディテクターは、多様な種類の構造により具現することができ、例えば、一般的なn−MOSFETまたはp−MOSFET構造を用いて具現することもできる。また、MOSFETの他にもJFET、HEMTなどのトンネルリング効果が得られる構造の電子素子を用いて単位素子を具現することができる。
図1において、前記フォトディテクター100は、PMOS構造で具現される。前記フォトディテクター100は、P型基板110上に形成され、一般的なNMOS電子素子において、ソースに当たるP+拡散層120とドレーンに当たるP+拡散層130を含む。以下、P+拡散層120,130を各々フォトディテクターにおける「ソース」及び「ドレーン」と称することとする。
前記ソース120とドレーン130の上部には外部ノ−ドと連結されるソース電極121及びドレーン電極131が各々形成される。
前記フォトディテクター100は、P型の基板(P−sub)110上にN型不純物を注入してNウェル115を形成する。前記形成されたNウェル115上に高濃度のP型不純物を注入して、ソース120とドレーン130を形成する。前記ソース120とドレーン130との間には薄い酸化膜140が形成され、前記酸化膜140の上部には一般的なMOSFET構造におけるゲートに該当するN型の不純物がドープされたポリシリコン(poly−silicon)が形成される。前記ポリシリコン150は、前記フォトディテクター100において光を吸収する部として機能する。以下、前記ポリシリコン150を「受光部」と称する。
前記受光部150は、酸化膜140により前記ソース120及びドレーン130と離隔される。前記受光部150と前記ソース120またはドレーン130との間でトンネルリング(tunneling)が発生される。この時、トンネルリング現象の発生を容易にするために、酸化膜140の厚さを10nm以下で形成することが望ましい。
一般的なMOSFET素子のゲートとは異なり、前記フォトディテクター100には、前記受光部150の上部を除いた残り領域の上部に金属性の遮光層が形成されるとよい。前記フォトディテクター100は、前記遮光層を通して光が入射される領域を受光部150に限定することにより、受光部150における光電変換を極大化させる。
前記フォトディテクター100の構造は、標準CMOS工程を解して容易に製作することができ、他の回路と同一の工程で製造できて、集積化されたシステムの一部として使用できるので、システムの集積化が容易で多様な応用範囲を有する。
図2は、本発明に係るフォトディテクター100の高効率な光電変換メカニズムを示している。前記フォトディテクター100は、受光部150の上部を通じて光を受け入れる。受光部150に入射された光により電子−正孔対(electron−hole pair,EHP)が生成され、これにより、受光部150とソース120及びドレーン130との間に一定の電界が形成される。この時、ソース電極120とドレーン電極131に一定電圧が印加されると、光により励起された受光部150の電荷が受光部150から酸化膜140をトンネルリングしてソース120またはドレーン130へと移動する。トンネルリングにより受光部150でホールが失われて電子が流入されることにより、受光部150における電子の電荷量が相対的に増加することになり、このような電荷量の変化は前記ソース120とドレーン130間のチャンネル160のしきい電圧(threshold voltage)を下げて、前記チャンネル160に光電流が流れるようになる。このような技術は既に本発明の発明者により米国で出願されて登録された米国登録特許 US8,569,806B2、US8,610,234B2、US8,669,599B2及び米国特許出願US14/327,549などで詳細に紹介されたことがあるので、詳細な説明を省略する。
フォトディテクター100は、光の入射領域が受光部150の上部領域のみに制限され、外部から開放された受光部150の上部を通して多様な波長帯の光が入射される。前記入射された多様な波長帯の光は、受光部150に吸収されるかまたは受光部150を透過して下部のNウェル115または基板110に到達されることとなる。例えば、受光部150の厚さが150nm以上の場合、青色系列の短波長は下部の基板110まで到達できず受光部150で大部分が吸収される。従来の一般的なフォトディテクターとは異なり、本発明のフォトディテクター100は、短波長帯の光が下部の基板に到達できずに受光部150に吸収されても、受光部150に吸収されたエネルギーにて受光部150の電荷量に変化を発生させ、これによりチャンネル160に電流を発生させるので、短波長帯の光を容易に検出することができる。また、それ以外の波長帯の光もすべて前記受光部150を透過するので、類似の現象が前記受光部150で発生して、電流チャンネルのしきい電圧の変化に影響を与えることになる。
一方、前記受光部150を透過できる相対的に長い波長帯の光は、Nウェル115にも電子正孔対を発生させて、図2に示したように、電子をチャンネルの下部である前記Nウェル115に蓄積させてしきい電圧の変化に影響を及ぼすこともある。このように製造された前記フォトディテクター100は、単一フォトンも感知できる高感度の検出能力を持ち、少しの光でも非常に大きい光電流を流れさせられる能力も併せ持つことになる。このような本願発明のフォトディテクター100の特性は、イメージセンサー用のフォトディテクターだけでなく、ソーラーセルとしても使用可能である。
以下では、このようなフォトディテクターの原理に基づき、新しくソーラーセルとしての機能が追加されたシステムオンチップ(SOC:System On Chip)形態のソーラーセンサーチップを提案する。さらに、図1と図2ではPMOS型の構造に基づいて説明しているが、PMOS型の構造はもちろんNMOS型の構造及びこれと類似の他の構造によっても具現することができ、このような構造はすべて本発明の権利範囲に含まれると見なされる。
図3は、本発明に係るソーラーセルのためのフォトディテクターの断面図であり、図4は、前記フォトディテクター300の電力生成メカニズムを示した図である。前記フォトディテクター300は、ソーラーセルとして動作する場合に、光の吸収により光電流が生成されると共に光起電力(Photo Voltaic)が発生される。
図3を参照すると、前記フォトディテクター300は、光が受光部350に吸収されれば、電子が前記ソース120と前記ドレーン130間のチャンネルから前記酸化膜140をトンネルリングして受光部350に移動し、これにより、前記受光部350の全体電荷量が変化される。この時、前記受光部350とドレーン130間の電圧を測定すれば、光により発生した電荷の変化量を電圧の形態で測定することができる。また、前記Nウェル115に蓄積された電荷は、前記ドレーン130と前記W−RST360間の電極131,361により電圧で測定することができる。
図4を参照すると、前記フォトディテクター300は、製造工程で初期に形成されたトランジスタ−のしきい電圧より大きい光エネルギーが入射されると、チャンネル160に光電流が流れることになる。
具体的に、ソース120とドレーン130の間には、最初の製造工程からチャンネル160が形成され得るシリコン界面のポテンシャル状態がサブ−スレッショルド(sub−threshold)直前の状態のしきい電圧を持つように形成されている。この状態では受光部350に光が入射されないと、チャンネル160に光電流が流れない。
この状態で、受光部350にドープされた不純物が結合しているエネルギーより大きいエネルギーを有する光が入射されると、前記受光部350において、平衡状態で電荷の移動を遮断する酸化膜140を境にして不純物がドープされて形成された多数の電子及び正孔が自由な状態となる。この時、生成された電子−正孔対は再結合(recombination)されるまで一定時間だけ電子と正孔の状態で各々存在し、局地的に電界が集中する所へと電荷が移動することになる。
ソース120とドレーン130間のシリコン界面のポテンシャルがサブ−スレッショルド(sub−threshold)直前の状態なので、受光部350に入射された光により増加された電荷量と電界によって、ソース120及びドレーン130と受光部350との間で電子または正孔がトンネルリングされ、これにより、前記チャンネル160のしきい電圧が下げられてチャンネル160に光の量に比例して光電流が流れることとなる。
前記光電流を発生させた電圧は、前記受光部350または前記Nウェル115を通して検出できる。検出される電圧は前記受光部350または前記Nウェル115を通して検出された光の量に応じて異なるが、数ナノから数マイクロアンペアの光電流が流れることがあり、これにより発生される電圧差は0.1〜1.0V程度になり得る。ちなみに、前記値は暗電流(dark current)を除外した測定値であり、このような出力は3um以内のピクセルサイズから得られる。したがって、複数のピクセルを直列または並列で連結してピクセルアレイを構成してこれを制御すれば、非常に大きい電力を獲得できる。
図5は、本発明の第1実施例に係る前記フォトディテクター300の開放回路電圧(Voc:open circuit voltage)の獲得メカニズムを示している。
図5を参照すれば、前記ソース120とドレーン130間に一定電圧を加えた状態で前記受光部350に光が入射されると、しきい電圧が変わって光電流が流れることになる。また、長波長帯の光は前記受光部350を通過してNウェル115に吸収されて、この時Nウェル115でも受光部150と同じ原理で一定量の電荷が生成されて、チャンネル界面の周囲に蓄積されることになる。
この時、チャンネルに流れる光電流は、前記受光部350と前記Nウェル115内の電荷量が変化して生じた電圧に起因するものである。すなわち、生成された光電流により前記ドレーン130と前記受光部350間の電圧(VDrain−Gate)及び前記ドレーン350と前記Nウェル115間の電圧(VDrain−Wrst)が発生される。したがって、前記ドレーン130に連結された端子131と前記受光部350に連結された端子351間の電圧(VDrain−Gate)または前記ドレーン350に連結された端子131と前記Nウェル115に連結された端子361間の電圧(VDrain−Wrst)のうちいずれか一つを選択して、Vocを獲得することができる。
図6は、本発明の第2実施例に係る前記フォトディテクター300の開放回路電圧の獲得メカニズムを示している。
希望する大きな電力を得るために、前記フォトディテクター300から大きい光電流を獲得する方法以外に、より大きいVoc値を獲得することが必要である。図6において、受光部350に連結された端子351とNウェル115上に形成されたN+拡散層360に連結された端子361とを連結して、チャンネルのしきい電圧の変化をより大きくすると、受光部350とNウェル115が連結された端子352と、ドレーン130に連結された端子132間により大きい電圧(VDrain−(gate−wrst))が獲得できる。これは前記Nウェル115の下部に存在する電子がN+拡散層360へ移動することによって追加的に増加した電荷量による効果である。
図7は、本発明に係るソーラーセルの単位ピクセル(unit pixel)の構造を示している。図7を参照すれば、前記ソーラーセルはピクセルソーラーセル(Pixelated solar cell)として構成される単位ピクセル700の構造を有する。
前記単位ピクセル700は、前記フォトディテクター300、第1スイッチ(Ms)、第2スイッチ(Mg)、第3スイッチ(Mwr)、第4スイッチ(Mv)、第1ソーラーセルバス(SCB1)及び第2ソーラーセルバス(SCB 2)を含む。前記フォトディテクター300は、受光部(ゲート)に受光された光(hv)により、ソースとドレーン間のチャンネルに光電流を発生させる。前記第1スイッチ(Ms)は、前記フォトディテクター300のソース端子と第1ソーラーセルバス(SCB1)間に連結されてオン/オフ動作を行う。前記第2スイッチ(Mg)は、前記フォトディテクター300の受光部(ゲート)端子と第2ソーラーセルバス(SCB 2)間に連結されてオン/オフ動作を行う。前記第3スイッチ(Mwr)は、前記フォトディテクター300のNウェルまたは基板に連結されたリセット端子と前記第2ソーラーセルバス間に連結されてオン/オフ動作を行う。ここで、前記リセット端子は、前記ソース及び前記ドレーンにドープされた不純物と異なる不純物でドープされる。図3ないし図6を参照すれば、前記リセット端子(Wrst)は、前記ソース及び前記ドレーンにドープされたP型不純物と異なるN型不純物でドープされ、NMOSの場合には前記リセット端子が前記ソース及び前記ドレーンにドープされたN型不純物と異なるP型不純物でドープされることがある。ここで、VDDは前記フォトディテクター300を駆動するために、別途の外部システムの電源と連結して固定しておく。この時、前記VDDは、第4スイッチ(Mv)を通して前記フォトディテクター300のドレーンに連結されるとよい。この時、最小の暗電流が流れるように最小のVDD電圧を印加し、ピクセルの外部に暗電流を別途に除去する回路を追加してもよい。
一方、前記フォトディテクラー300は、周辺回路と同一の工程で製造されるので、周辺回路と同一の電源を用いることができる。この場合、従来のフォトディテクターとは異なり、本発明のフォトディテクター300は、別途の外部電源を必要とすることなく、周辺回路の電源をそのまま使用するように構成することができる。
前記フォトディテクター300に光が入射されると、前記第1ソーラーセルバス(SCB 1)と第2ソーラーセルバス(SCB 2)間に光電流が流れて、これと同時に、前記第2スイッチ(Mg)と前記第3スイッチ(Mwr)を制御して、前記第1ソーラーセルバス(SCB 1)と前記第2ソーラーセルバス(SCB 2)との間で光起電力Vocを獲得することができる。
前記第2スイッチ(Mg)と 前記第3 スイッチ(Mwr)は、スイッチオン動作により行デコーダ(Row decoder)のような外部マトリックスと選択的に連結されることがある。この時、前記第2スイッチ(Mg)と第3スイッチ(Mwr)は、別途にスイッチオンされて第2ソーラーセルバス(SCB 2)と連結されるか、または、同時にスイッチオンされて第2ソーラーセルバス(SCB 2)と連結されるかを選択することができる。前記第2スイッチ(Mg)と前記第3スイッチ(Mwr)が、同時にスイッチオンされて外部のマトリックスと連結されると、図6で示したように、前記フォトディテクター300の受光部とNウェルが第2ソーラーセルバス(SCB 2)と別途に連結された場合よりさらに大きいVocを獲得することができる。
図8は、本発明の第1実施例に係るイメージセンサーの単位ピクセル構造を示している。前記単位ピクセル1000は、前記フォトディテクター300と連結された選択素子(SEL)を備えて、前記単位ピクセル1000は、電流電圧変換回路であるIVC回路1010から構成されたイメージセンサーとカラムバス(Column bus)により連結されるとよい。ここで、前記選択素子(SEL)は、多様な素子により具現することができ、例えば、MOSFET構造を用いて形成されてもよい。この場合、前記フォトディテクター300と前記選択素子(SEL)をMOSFET製造工程を用いて同時に具現できるので、簡単かつ低コストで製造することができる。
前記単位ピクセル1000の前記フォトディテクター300で光電変換された光電流が、前記SELのスイッチオンにより、前記IVC回路1010のキャパシタ1015に充電される。前記キャパシタ1015に充電された光電流は、IVC_OUT値を持つ電圧として出力されて、CDS(Co−Double Sampling)などの回路に信号が伝送される。前記SELがオン状態で、BUS_RSTをオンさせれば、前記IVC回路1010の前記キャパシタ1015及び前記カラムバス(CB)と前記フォトディテクター300とがGNDを介して直接連結されるので、充電された電荷が除去されて、信号のリセットが行われる。前記動作により、イメージセンサーに必要な蓄積時間(Integration Time)を定義することができ、連続的な画像を獲得することができる。
図9は、本発明の第1実施例に係るソーラーセルに対する単位ピクセルの構造を示している。前記単位ピクセル1100は、図8に示された1Tタイプのイメージセンサーの単位ピクセル1000をソーラーセルとして具現したのである。このために、前記単位ピクセル1100は、第1及び第2ソーラーセルバス(SCB 1,SCB 2)とS1、S2スイッチを追加することにより、図8におけるイメージセンサーをソーラーセルとしても使用することができる。
具体的に、前記単位ピクセル1100は、ゲートに受光された光によりソースとドレーン間のチャンネルに光電流を発生させる前記フォトディテクター300、前記フォトディテクター300のゲート端子と前記第1ソーラーセルバス(SCB1)間に連結されてオン/オフ動作を行う第1スイッチ(S1)及び、前記フォトディテクター300のソース端子と前記第2ソーラーセルバス(SCB 2)間に連結されて前記光電流を画素出力端1010に出力させる選択素子(SEL)を含む。ここで、前記画素出力端1010は、図8及び図9における前記IVC回路1010に該当する。また、前記単位ピクセル1100は前記選択素子(SEL)及び前記画素出力端1010間に連結されてオン/オフ動作を行う第2スイッチ(S2)をさらに含むことができる。前記第1スイッチ(S1)を介して前記第1ソーラーセルバス(SCB1)と前記フォトディテクター300のゲートを連結し、前記第2スイッチ(S2)を介して図8における前記カラムバス(CB)を前記第2ソーラーセルバス(SCB 2)として用いれば、前記第1及び第2ソーラーセルバス(SCB 1,SCB 2)間に光電流とVocを獲得して、電力を生成することができる。このように、前記第1及び第2スイッチ(S1,S2)を用いて、前記イメージセンサーと前記ソーラーセルを選択的に具現することができる。すなわち、前記第1スイッチ(S1)がオンであり前記選択素子(SEL)または第2スイッチ(S2)がオフであれば、前記単位ピクセル1100は後段の信号処理回路と遮断されてソーラーセルとして動作し、前記 S1スイッチ(S1)がオフであり前記第2スイッチ(S2)がオンであれば、前記単位ピクセル1100は後段の信号処理回路にと連結されてイメージセンサーとして動作する。
また、前記画素出力端1010は、前記第2ソーラーセルバス(SCB 2)及び接地(GND)間に連結されて前記光電流による充電を行うキャパシタ1015と、前記第2ソーラーセルバス(SCB 2)及び前記接地(GND)間に連結されて前記キャパシタ1015と並列で連結されたリセット素子(BUS_RST)とを含む。
図10は、本発明の第2実施例に係るイメージセンサーの第2単位ピクセルを示している。前記第2単位ピクセル1200は、図8に示すように、前記フォトディテクター300及び前記選を択素子(SEL)の他に、前記フォトディテクター300のウェル(well)に連結されたリセット素子(RST)をさらに含む。前記第2単位ピクセル1200のような単位ピクセルの各カラムに前記IVC回路1010が連結されることにより、イメージセンサーを具現することができる。前記選択素子(SEL)がオンである場合、前記フォトディテクター300で光電変換された光電流は、前記IVC回路1010の前記キャパシタ1015に光電荷を充電させる。前記キャパシタ1015に充電された光電荷は、IVC_OUT値を持つ電圧として出力されて、CDSなどの回路にその信号が伝えられる。
前記選択素子(SEL)がオンの状態で、BUS_STをオンさせると、前記IVC回路1010の前記キャパシタ1015及びカラムバス(CB)と前記フォトディテクター300がGNDを介して直接連結されるので、充電された電荷が除去されて、信号のリセットが行われる。
一方、前記リセット素子(RST)は、前記フォトディテクター300による信号のリセットが円滑に行われなかったり、または電流チャンネルのしきい電圧を手動で調節するために使用されてよく、高速フレ−ムの動作時において、映像遅延現象等が無い特殊撮影の時に使用されてよい。
図11は、本発明の第2実施例に係るソーラーセルの第2単位ピクセル構造を示している。
前記第2単位ピクセル1300は、図10に示された2Tタイプのイメージセンサーの単位ピクセル1200をソーラーセルとして具現したものである。前記第2単位ピクセル1300は、ゲートに受光された光によりソースとドレーン間のチャンネルに光電流を発生させるフォトディテクター300と、前記フォトディテクター300のゲート端子及び第1ソーラーセルバス(SCB1)間に連結されてオン/オフ動作を行う第1スイッチ(S1)と、前記フォトディテクター300のリセット端子及び前記第1ソーラーセルバス(SCB1)間に連結されてオン/オフ動作を行う第2スイッチ(S2)と、前記フォトディテクター300のソース端子及び第2ソーラーセルバス(SCB 2)間に連結されて前記光電流を前記画素出力端1010に出力させる選択素子(SEL)の他に前記フォトディテクター300のウェル(well)に連結されたリセット素子(RST)とをさらに含む。ここで、前記リセット端子(RST)は、前記ソース及び前記ドレーンにドープされた不純物と異なる不純物でドープされる。
また、前記第2単位ピクセル1300は、前記選択素子(SEL)及び前記画素出力端1010間に連結されてオン/オフ動作を行う第3スイッチ(S3)をさらに含むことができる。ここで、前記第1スイッチ(S1)または前記第2スイッチ(S2)がオンであり、前記第3スイッチ(S3)がオフである場合に、前記単位ピクセルはソーラーセルとして動作し、前記第1スイッチ(S1)及び前記第2スイッチ(S2)がオフであり、前記第3スイッチ(S3)がオンである場合に、前記単位ピクセルはイメージセンサーとして動作する。ここで、より大きいVocを得るために、前記第1スイッチ(S1)及び第2スイッチ(S2)を同時にオンさせてもよい。
前記画素出力端1010は、前記第2ソーラーセルバス(SCB 2)及び接地(GND)間に連結されて前記光電流による充電を行うキャパシタ1015と、前記第2ソーラーセルバス(SCB 2)及び前記接地(GND)間に連結されて前記キャパシタ1015と並列で連結されたリセット素子(BUS_RST)とを含む。かかる構成により、前記第1及び第2ソーラーセルバス(SCB 1,SCB 2)ライン間に光電流とVocを獲得して電力を生成することができる。
前述した本発明の説明は例示のためのものであり、本発明が属する技術分野における通常の知識を有する者は、本発明の技術的思想や必須的な特徴を変更せずに他の具体的な形態に容易に変形が可能であるということを理解できるだろう。
よって、以上説明した実施例はすべての面で例示的なものであり、限定的なものではないことを理解しなければならない。例えば、単一型として説明されている各構成要素は分散して実施してもよく、これと同様に、分散したものと説明されている各構成要素も結合して実施してもよい。
本発明の範囲は前記詳細な説明よりは後述する特許請求範囲により示され、特許請求範囲の意味及び範囲、そしてその均等概念から導出されるすべての変更または変形された形態が本発明の範囲に含まれるものと解釈されるべきである。

Claims (9)

  1. イメージセンサーとソーラーセルとして動作可能な単位ピクセルエレメントにおいて、
    ゲートに受光された光によりソースとドレーン間のチャンネルに光電流を発生させるフォトディテクター、
    前記フォトディテクターのソース端子及び第1ソーラーセルバス間に連結されてオン/オフ動作を行う第1スイッチ、
    前記フォトディテクターのゲート端子及び第2ソーラーセルバス間に連結されてオン/オフ動作を行う第2スイッチ、及び、
    前記フォトディテクターのNウェルに連結されたリセット端子及び前記第2ソーラーセルバス間に連結された第3スイッチをさらに含む、単位ピクセルエレメント。
  2. 前記リセット端子は、前記ソース及び前記ドレーンにドープされた不純物と異なる不純物でドープされた、請求項1に記載の単位ピクセルエレメント。
  3. イメージセンサーとソーラーセルとして動作可能な単位ピクセルエレメントにおいて、
    ゲートに受光された光によりソースとドレーン間のチャンネルに光電流を発生させるフォトディテクター、
    前記フォトディテクターのゲート端子及び第1ソーラーセルバス間に連結されてオン/オフ動作を行う第1スイッチ、
    前記フォトディテクターのNウェルに連結されたリセット端子及び前記第1ソーラーセルバス間に連結されてオン/オフ動作を行う第2スイッチ、及び
    前記フォトディテクターのソース端子及び第2ソーラーセルバスとの間に連結され、前記光電流を画素出力端に出力させる選択素子を含む、単位ピクセルエレメント。
  4. 前記リセット端子は、前記ソース及び前記ドレーンにドープされた不純物と異なる不純物でドープされた、請求項に記載の単位ピクセルエレメント。
  5. 前記選択素子及び前記画素出力端間に連結されてオン/オフ動作を行う第3スイッチをさらに含む、請求項に記載の単位ピクセルエレメント。
  6. 前記第1スイッチまたは前記第2スイッチがオンであり、前記第3スイッチがオフである場合、前記単位ピクセルエレメントはソーラーセルとして動作する、請求項に記載の単位ピクセルエレメント。
  7. 前記第1スイッチ及び前記第2スイッチがオフであり、前記第3スイッチがオンである場合、前記単位ピクセルエレメントはイメージセンサーとして動作する、請求項に記載の単位ピクセルエレメント。
  8. 前記画素出力端は、前記第2ソーラーセルバス及び接地間に連結され、前記光電流による充電を行うキャパシタを含む、請求項に記載の単位ピクセルエレメント。
  9. 前記画素出力端は、前記第2ソーラーセルバス及び接地部間に連結され、前記キャパシタと並列で連結されたリセット素子をさらに含む、請求項に記載の単位ピクセルエレメント。
JP2016201932A 2015-10-14 2016-10-13 ソーラーセルの機能を持つイメージセンサー Active JP6481898B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/883,587 2015-10-14
US14/883,587 US9735188B2 (en) 2015-01-15 2015-10-14 Image sensor with solar cell function

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017076797A JP2017076797A (ja) 2017-04-20
JP6481898B2 true JP6481898B2 (ja) 2019-03-13

Family

ID=58605976

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016201932A Active JP6481898B2 (ja) 2015-10-14 2016-10-13 ソーラーセルの機能を持つイメージセンサー

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP6481898B2 (ja)
CN (1) CN106601762B (ja)
MY (1) MY174333A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10158041B2 (en) * 2014-07-09 2018-12-18 Hoon Kim Unit pixel of image sensor and photo detector using the same
CN111787213A (zh) * 2020-07-31 2020-10-16 维沃移动通信有限公司 摄像模组及电子设备
CN115911139B (zh) * 2022-11-29 2023-10-27 山东中科际联光电集成技术研究院有限公司 抗过载光接收组件

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3877058A (en) * 1973-12-13 1975-04-08 Westinghouse Electric Corp Radiation charge transfer memory device
JPS5850030B2 (ja) * 1979-03-08 1983-11-08 日本放送協会 光電変換装置およびそれを用いた固体撮像板
JPS59158551A (ja) * 1983-02-28 1984-09-08 Fuji Photo Film Co Ltd 半導体光検出装置及びその駆動方法
JPS61228667A (ja) * 1985-04-01 1986-10-11 Mitsubishi Electric Corp 固体撮像装置
JPS61228668A (ja) * 1985-04-01 1986-10-11 Mitsubishi Electric Corp 固体撮像装置
JPH02224481A (ja) * 1989-02-27 1990-09-06 Hitachi Ltd 増幅型固体撮像素子
JP2963182B2 (ja) * 1990-10-15 1999-10-12 日本電信電話株式会社 受光素子
JPH0653463A (ja) * 1992-07-31 1994-02-25 Matsushita Electron Corp 半導体装置
JPH06283695A (ja) * 1993-03-29 1994-10-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 2次元固体撮像装置および撮像方式
JPH07255013A (ja) * 1994-01-31 1995-10-03 Sony Corp 固体撮像装置
JP2878137B2 (ja) * 1994-06-29 1999-04-05 シャープ株式会社 増幅型光電変換素子、それを用いた増幅型固体撮像装置、及び増幅型光電変換素子の製造方法
JP2937047B2 (ja) * 1994-12-26 1999-08-23 日本電気株式会社 画像入力装置
JP3544084B2 (ja) * 1996-12-10 2004-07-21 シャープ株式会社 増幅型固体撮像装置
JP2000277702A (ja) * 1999-03-25 2000-10-06 Rohm Co Ltd 半導体集積回路装置
JP2001085660A (ja) * 1999-09-10 2001-03-30 Toshiba Corp 固体撮像装置及びその制御方法
JP2001177702A (ja) * 1999-12-20 2001-06-29 Nec Shizuoka Ltd コードレスハンドスキャナ
DE60144528D1 (de) * 2000-10-19 2011-06-09 Quantum Semiconductor Llc Verfahren zur herstellung von mit cmos integrierten heteroübergang-photodioden
US6580106B2 (en) * 2001-01-12 2003-06-17 Isetex. Inc CMOS image sensor with complete pixel reset without kTC noise generation
JP2007281144A (ja) * 2006-04-05 2007-10-25 Fujifilm Corp 固体撮像素子及び撮像装置
WO2009136285A2 (en) * 2008-04-16 2009-11-12 Quantum Semiconductor Llc Pixel circuitry for ultra wide dynamic range
JP5522932B2 (ja) * 2008-12-25 2014-06-18 キヤノン株式会社 光電変換装置及び光電変換装置の駆動方法
US8436288B2 (en) * 2009-04-24 2013-05-07 Quantum Semiconductor Llc Image sensors with photo-current mode and solar cell operation
US8569806B2 (en) * 2011-09-02 2013-10-29 Hoon Kim Unit pixel of image sensor and photo detector thereof
US8610234B2 (en) * 2011-09-02 2013-12-17 Hoon Kim Unit pixel of image sensor and photo detector thereof
US10158041B2 (en) * 2014-07-09 2018-12-18 Hoon Kim Unit pixel of image sensor and photo detector using the same
JP6459271B2 (ja) * 2014-07-23 2019-01-30 Tianma Japan株式会社 イメージセンサ及びその駆動方法
MY176378A (en) * 2015-10-14 2020-08-04 Hoon Kim Image sensor with solar cell function and electronic device thereof

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017076797A (ja) 2017-04-20
CN106601762B (zh) 2019-06-28
CN106601762A (zh) 2017-04-26
MY174333A (en) 2020-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101905978B1 (ko) 이미지 센서와 솔라 셀로서 동작 가능한 단위 픽셀 엘리먼트
US10971533B2 (en) Vertical transfer gate with charge transfer and charge storage capabilities
US9743026B2 (en) Semiconductor photodetector
TWI517372B (zh) 影像感測器的單元畫素及其光電探測器
JP7249548B2 (ja) 撮像装置
US10153313B2 (en) Unit pixel for image sensor comprising contact pad connected to light receiving portion
US7538373B2 (en) Body potential imager cell
CN108666336B (zh) 一种utbb光电探测器阵列及其工作方法
KR101465860B1 (ko) 고체 촬상 장치
JP6481898B2 (ja) ソーラーセルの機能を持つイメージセンサー
JP6308404B2 (ja) ソーラーセルの機能を持つイメージセンサー及びこれを用いた電子機器
TWI577004B (zh) 具有具中心接觸件之通道區域之光感測器
US11521994B2 (en) Open circuit voltage photodetector
CN113016071A (zh) 摄像装置
KR100864179B1 (ko) 씨모스 이미지 센서 및 이미지 데이타 처리방법
Mestanza et al. High performance active pixel sensors fabricated in a standard 2.0/spl mu/m CMOS technology
US20110215226A1 (en) Photosensitive structure with charge amplification
KR20080061060A (ko) 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170705

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170718

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20171017

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171218

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180529

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180823

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190122

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190131

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6481898

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250