JP6477470B2 - 表面プラズモン共鳴蛍光分析装置および表面プラズモン共鳴蛍光分析方法 - Google Patents
表面プラズモン共鳴蛍光分析装置および表面プラズモン共鳴蛍光分析方法 Download PDFInfo
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Description
(測定装置の構成)
まず、本発明の実施の形態1に係る表面プラズモン共鳴蛍光分析装置(以下「SPFS装置」ともいう)について説明する。
1/2tan−1(b/a)<θ≦45 …(1)
上記式(1)において、aは、共役光学系(受光光学系)の光軸および励起光反射フィルター122の交点Aと、共役光学系(受光光学系)の光軸およびプリズム20の成膜面22の交点Bとの距離である。bは、交点Bからの、共役光学系(受光光学系)の光軸に直交する方向における分析チップ10の端部までの最短距離である(図2参照)。
実施の形態2に係るSPFS装置200は、実施の形態1に係るSPFS装置100と同様に、チップホルダー、励起光学系ユニット110、受光光学系ユニット220および制御部130を有する。実施の形態2に係るSPFS装置200は、受光光学系ユニット220の構成のみが実施の形態1に係るSPFS装置100と異なる。そこで、本実施の形態では、受光光学系ユニット220についてのみ説明する。
20 プリズム
21 入射面
22 成膜面
23 出射面
30 金属膜
40 流路蓋
41 流路
100,200 表面プラズモン共鳴蛍光分析装置
110 励起光学系ユニット
111 光源ユニット
112 角度調整部
120,220 受光光学系ユニット
121 第1レンズ
122 励起光反射フィルター
123 第2レンズ
124 第1光センサー
125 第2光センサー
130 制御部
131 光源制御部
132 第1光センサー制御部
133 第2光センサー制御部
134 制御処理部
226 第3レンズ
Claims (5)
- 金属膜を一面に有するプリズムを含む分析チップが装着され、前記プリズムを介して前記金属膜に励起光を照射することで、前記金属膜上の被検出物質を標識する蛍光物質を励起させ、前記蛍光物質から放出された蛍光を検出することで、被検出物質の存在またはその量を検出する表面プラズモン共鳴蛍光分析装置であって、
前記分析チップを着脱可能に保持するチップホルダーと、
励起光を出射する光源と、
前記プリズムを介して前記金属膜に所定の入射角で励起光を照射するために、前記金属膜に対する励起光の入射角を調整する角度調整部と、
前記蛍光物質から放出された蛍光を検出する第1光センサーと、
前記金属膜上から出射された光を前記第1光センサーに導く受光光学系と、
前記受光光学系内に配置され、前記金属膜上から出射された光のうち、前記光源から出射された励起光と同じ波長の光を反射させる励起光反射フィルターと、
前記受光光学系内に配置され、前記励起光反射フィルターで反射された光を集光させる集光レンズと、
前記励起光反射フィルターで反射され、かつ前記集光レンズにより集光された光を検出する第2光センサーと、
前記角度調整部を制御する制御部と、を有し、
前記制御部は、前記第2光センサーによる光の検出結果に基づいて、前記角度調整部による前記金属膜に対する励起光の入射角を制御し、
前記第1光センサーは、前記集光レンズおよび前記励起光反射フィルターを透過した蛍光の強度を検出する、
表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 前記集光レンズは、前記金属膜と前記励起光反射フィルターとの間に配置される、請求項1に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。
- 前記受光光学系は、第2レンズをさらに有し、
前記集光レンズ、前記励起光反射フィルターおよび前記第2レンズは、前記金属膜側からこの順番で配置されており、
前記第1光センサーは、前記集光レンズ、前記励起光反射フィルターおよび前記第2レンズを透過した蛍光の強度を検出する、
請求項1または請求項2に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 金属膜を一面に有するプリズムを含む分析チップが装着され、前記プリズムを介して前記金属膜に励起光を照射することで、前記金属膜上の被検出物質を標識する蛍光物質を励起させ、前記蛍光物質から放出された蛍光を検出することで、被検出物質の存在またはその量を検出する表面プラズモン共鳴蛍光分析装置であって、
前記分析チップを着脱可能に保持するチップホルダーと、
励起光を出射する光源と、
前記プリズムを介して前記金属膜に所定の入射角で励起光を照射するために、前記金属膜に対する励起光の入射角を調整する角度調整部と、
前記蛍光物質から放出された蛍光を検出する第1光センサーと、
前記金属膜上から出射された光を前記第1光センサーに導く受光光学系と、
前記受光光学系内に配置され、前記金属膜上から出射された光のうち、前記光源から出射された励起光と同じ波長の光を反射させる励起光反射フィルターと、
前記受光光学系内に配置され、前記励起光反射フィルターで反射された光を集光させる集光レンズと、
前記励起光反射フィルターで反射され、かつ前記集光レンズにより集光された光を検出する第2光センサーと、
前記角度調整部を制御する制御部と、を有し、
前記制御部は、前記第2光センサーによる光の検出結果に基づいて、前記角度調整部による前記金属膜に対する励起光の入射角を制御し、
前記制御部は、さらに、前記金属膜に対する励起光の入射角を決定するために前記第2光センサーが光を検出している時の方が、前記蛍光物質から放出された蛍光を検出するために前記第1光センサーが光を検出している時よりも、励起光の光量が大きくなるように前記光源を制御する、
表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 被検出物質を標識する蛍光物質が、表面プラズモン共鳴に基づく局在場光により励起されて発した蛍光を検出して、前記被検出物質の存在またはその量を検出する表面プラズモン共鳴蛍光分析方法であって、
プリズムの一面上に配置された金属膜に対する入射角を変化させながら、前記プリズムを介して前記金属膜に励起光を照射するとともに、前記金属膜上から出射され、かつ励起光反射フィルターで反射され、かつ集光レンズにより集光されたプラズモン散乱光の強度を検出して、前記プラズモン散乱光の強度が最大となるときの入射角である増強角を決定する工程と、
蛍光物質で標識された被検出物質を前記金属膜上に配置する工程と、
前記金属膜に対する入射角が前記増強角となるように、前記プリズムを介して前記金属膜に励起光を照射するとともに、前記被検出物質を標識する前記蛍光物質から放出され、かつ前記励起光反射フィルターを透過した蛍光の強度を検出する工程と、
を含み、
前記蛍光の強度を検出する工程では、前記集光レンズおよび前記励起光反射フィルターを透過した蛍光の強度を検出する、
表面プラズモン共鳴蛍光分析方法。
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