JP6471622B2 - ビルドアップ材、積層板、プリント配線基板、半導体装置および積層板の製造方法 - Google Patents
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Description
このような積層板の製造方法によれば、金属箔を除去するという余分な工程を経ずに、ガラス転移温度と引っ張り弾性率を維持しつつ、平滑な絶縁層表面に剥離強度に優れる導体層が形成される積層板の製造方法が提供できるとされている。
すなわち、硬化した樹脂の層(絶縁層)を備えた積層板を搬送する場合、樹脂の層同士が接触することにより、その表面に傷がついてしまうことがあった。特許文献1に記載されているような積層板の製造方法においても、絶縁層として特定の物性を満たすような工夫がなされているが、傷付きの発生度合の面においては未だ改善の余地があった。
ここで、この表面硬度はナノインデンターを用いて測定されるものであり、絶縁層の表面状態を加味した硬度が測定されるものである。本発明者らは、このナノインデンターを用いて測定される硬度を適切に調整することが、このような傷付きの発生を抑制する面で効果的であることを見出した。
片面または両面に回路形成面を有するコア層の前記回路形成面に絶縁層を形成するために用いられるビルドアップ材であって、
当該ビルドアップ材は、樹脂組成物層を備え、
ホットプレス装置を用い、前記樹脂組成物層を160℃、0.6MPa、60分間ホットプレスの条件で平滑化・硬化させて得られる硬化物の、ナノインデンターを用いISO14577に準拠して測定される表面の硬度が350MPa以上1000MPa以下である、ビルドアップ材が提供される。
片面又は両面に回路層を有する基板と、
前記基板の前記回路層上に設けられた、上記のビルドアップ材から構成される絶縁層と、
を備える積層板が提供される。
樹脂組成物層を備えるビルドアップ材と、片面または両面に回路層を有する基板と、を準備する工程と、
前記ビルドアップ材の前記樹脂組成物層側の表面を、前記基板の前記回路層側の表面に向けながら、前記基板の前記回路層上に前記ビルドアップ材を積層、平滑化して積層体を得る工程と、
を含む、プリント配線基板の製造に用いられる積層板の製造方法であって、
積層体を得る前記工程後に得られる前記積層体は、160℃、60分間熱処理することで得られる樹脂組成物の硬化物が、ナノインデンターを用いISO14577に準拠して測定される表面の硬度が350MPa以上1000MPa以下の条件を満たす、積層板の製造方法が提供される。
はじめに、樹脂組成物層101とフィルム103とが積層されてなるビルドアップ材200と、片面または両面に回路層105を有する基板107と、を準備する(図1(a))。つづいて、ビルドアップ材200の樹脂組成物層101側の表面を、基板107の回路層105側の表面に向けながら、基板107の回路層105上にビルドアップ材200を積層、平滑化させて積層体150を得る(図1(b))。その後、得られた積層体150からフィルム103を剥離する。これらの工程を含むことにより、積層板100を得ることができる(図1(c))。
なお、この積層板100の製造方法においては、図1(b)の工程の後に、樹脂組成物層101を硬化させて、絶縁層110へと変換させている。本実施形態において、この絶縁層110は、その表面に回路が形成される層である。
なお、本明細書中において、この基板107を「コア層」と呼ぶこともある。
樹脂組成物層101の厚みは、例えば、5μm以上100μm以下である。
樹脂組成物層101に用いられる熱硬化性樹脂組成物(P)は、たとえばエポキシ樹脂(A)を含む。
また、エポキシ樹脂(A)としては、これらの樹脂の変性体も好ましく用いられる。
このように、熱硬化性樹脂組成物(P)として、シアネート樹脂(B)を含ませることにより、得られる積層板100の線膨張係数を小さくすることができる。さらに、シアネート樹脂(B)を用いることにより、得られる積層板100の電気特性(低誘電率、低誘電正接)、機械強度などを向上できる。
上記シアネート樹脂(B)は、特に限定されないが、例えば、ハロゲン化シアン化合物とフェノール類やナフトール類とを反応させ、必要に応じて加熱などの方法でプレポリマー化することにより得ることができる。また、このようにして調製された市販品を用いることもできる。
ノボラック型シアネート樹脂としては、例えば、下記一般式(I)で示されるものを使用することができる。
これにより、プリント配線基板中の絶縁層と金属層(例えば回路層)との密着性を向上できるとともに、絶縁層の応力緩和能を向上できる。その結果として、得られるプリント配線基板の絶縁信頼性をより一層向上できる。また、絶縁層と金属層との密着性が優れることにより、回路の微細配線加工が可能となる。
熱可塑性樹脂(C)として、これらの中の1種類を単独で用いてもよいし、異なる重量平均分子量を有する2種類以上を併用してもよく、1種類または2種類以上とそれらのプレポリマーとを併用してもよい。
本実施形態に係る熱可塑性樹脂(C)において、反応させるゴム成分としては、天然ゴム及び合成ゴムのいずれであってもよく、変性ゴムであっても未変性ゴムであってもよい。合成ゴムとしては、特に限定されるものではないが、例えば、NBR(ブタジエン−アクリロニトリル共重合体)、アクリルゴム、ポリブタジエン、イソプレン、カルボン酸変性NBR、水素転化型ポリブタジエン、エポキシ変性ポリブタジエンなどが挙げられる。
熱可塑性樹脂(C)との相溶性を上げる為にカルボン酸変性、水酸基変性やエポキシ変性したものや熱劣化を防止するために水素転化型の合成ゴムなどを用いてもよいが、NBRおよびポリブタジエンを用いることがより好ましい。
ポリアミドとの相溶性を上げる為にカルボン酸変性、水酸基変性やエポキシ変性したものや熱劣化を防止するために水素転化型の合成ゴムなどを用いてもよいが、NBRおよびポリブタジエンを用いることがより好ましい。
更に好ましい芳香族ポリアミド樹脂としては、フェノール性水酸基を有するポリアミド樹脂がある。フェノール性水酸基を有することで、柔軟性に加え、熱硬化性樹脂との相溶性に優れる。
フェノール性水酸基を有するポリアミド樹脂としては、例えば、下記式(11)で表されるものが挙げられる。
熱可塑性樹脂(C)の含有量が上記範囲内であると、得られる絶縁層は無電解めっき付き性に優れ、かつ、低熱膨張性にも優れる。
なお、本実施形態において、樹脂組成物層101が特定の硬度を有するものとするためには、この熱可塑性樹脂(C)として、フェノキシ樹脂、あるいは芳香族ポリアミドを用い、この含有量を上記の範囲に設定することがとりわけ好ましい態様である。
無機充填材(F)としては、例えば、タルク、焼成クレー、未焼成クレー、マイカ、ガラスなどのケイ酸塩;酸化チタン、アルミナ、ベーマイト、シリカ、溶融シリカなどの酸化物;炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、ハイドロタルサイトなどの炭酸塩;水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、水酸化カルシウムなどの水酸化物;硫酸バリウム、硫酸カルシウム、亜硫酸カルシウムなどの硫酸塩または亜硫酸塩;ホウ酸亜鉛、メタホウ酸バリウム、ホウ酸アルミニウム、ホウ酸カルシウム、ホウ酸ナトリウムなどのホウ酸塩;窒化アルミニウム、窒化ホウ素、窒化ケイ素、窒化炭素などの窒化物;チタン酸ストロンチウム、チタン酸バリウムなどのチタン酸塩などを挙げることができる。
これらの中でも、タルク、アルミナ、ガラス、シリカ、マイカ、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウムが好ましい。無機充填材(F)としては、これらの中の1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を併用してもよい。
なお、本実施形態において、樹脂組成物層101が特定の硬度を有するものとするためには、この無機充填材(F)の含有量を上記含有量に設定することがとりわけ好ましい態様である。
カップリング剤(G)の使用により、無機充填材(F)と各樹脂との界面の濡れ性を向上させることができる。また、これにより、積層板100の耐熱性を一段と改良することができる。
これにより、無機充填材(F)と各樹脂との界面の濡れ性を高くすることができ、これにより積層板100の耐熱性をより向上させることができる。
カップリング剤(G)の含有量が上記下限値以上であると、無機充填材(F)を十分に被覆することができ、積層板100の耐熱性を向上させることができる。また、カップリング剤(G)の含有量が上記上限値以下であると、反応に影響を与えるのを抑制でき、積層板100の曲げ強度などの低下を抑制することができる。
樹脂ワニス(I)の固形分は、とくに限定されないが、25質量%以上80質量%以下が好ましく、とくに30質量%以上75質量%以下が好ましい。これにより、樹脂ワニス(I)の繊維基材への含浸性をさらに向上させることができる。
繊維基材の厚みが上記上限値以下であると、繊維基材中の熱硬化性樹脂組成物(P)の含浸性が向上し、ストランドボイドや絶縁信頼性の低下の発生を抑制することができる。また炭酸ガス、UV、エキシマなどのレーザーによるスルーホールの形成を容易にすることができる。また、繊維基材の厚みが上記下限値以上であると、繊維基材やプリプレグの強度を向上させることができる。その結果、ハンドリング性が向上できたり、プリプレグの作製が容易となったり、積層板100の反りを抑制できたりする。
すなわち、樹脂組成物層101について、ホットプレス装置を用い、160℃、0.6MPa、60分間ホットプレスの条件で平滑化・硬化させて得られる硬化物の、ナノインデンターを用いISO14577に準拠して測定される表面の硬度が350MPa以上であり、好ましくは380MPa以上であり、より好ましくは400MPa以上である。
また、樹脂組成物層101について、ホットプレス装置を用い、160℃、0.6MPa、60分間ホットプレスの条件で平滑化・硬化させて得られる硬化物の、ナノインデンターを用いISO14577に準拠して測定される表面の硬度が1000MPa以下であり、好ましくは800MPa以下であり、より好ましくは700MPa以下である。
このような硬度を有することにより、樹脂の傷付きが抑制され、プリント配線基板の作製プロセスに好ましく用いることができる。
測定装置として、エリオニクス社製超微小硬度計ENT−1100、使用圧子としてバーコヴィッチ圧子(三角錐、対稜角115°)を用い、ISO14577に準拠し、試験環境22℃/60%RHにて測定を行う。
試験数n=5にて測定を行い、その平均値を算出する。
また、本実施形態のビルドアップ材200は、前記硬度の測定と同条件で測定される押し込み弾性率が12GPa以下であることが好ましく、11GPa以下であることがより好ましく、10.5GPa以下であることがさらに好ましい。
この押し込み弾性率を上記範囲に設定することで一段と、樹脂の傷付きを抑制することができる。
また、この樹脂板は、引っ張り弾性率が10GPa以下であることが好ましく、9GPa以下であることがより好ましく、8GPa以下であることがさらに好ましく、7GPa以下であることが特に好ましい。
なお、具体的な引っ張り弾性率の測定条件としては、DMA(動的粘弾性測定)装置、TAインスツルメント社製、Q800を用いて、温度30〜350℃、5℃/分、周波数1Hz、30℃の条件を採用する。
樹脂組成物層101について、上記の特性を満たすものとすることで、一段と樹脂表面の傷付きを抑制することができる。
なお、本実施形態において、樹脂組成物層101を完全硬化させる条件としては、後述の条件を採用することができる。
このフィルム103は、たとえばプラスチックフィルムである。
より具体的に、フィルム103としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム、ポリエチレンナフタレート(PEN)フィルムなどのポリエステルフィルム;ポリカーボネート(PC)フィルム、アクリル樹脂(PMMA)フィルム、環状ポリオレフィンフィルム、トリアセチルセルロース(TAC)フィルム、ポリエーテルサルファイド(PES)フィルム、ポリエーテルケトンフィルム、ポリイミドフィルムなどが挙げられる。これらの中でもPETフィルム、PENフィルムなどのポリエステルフィルムが好ましく、PETフィルムがとくに好ましい。
フィルム103の厚みは、例えば、20μm以上75μm以下である。
ビルドアップ材200の製造方法は特に限定されないが、例えば、熱硬化性樹脂組成物(P)を溶剤に溶かして樹脂ワニスを調製し、各種コーターにより上記樹脂ワニスをフィルム103に塗布して乾燥し、熱硬化性樹脂組成物(P)からなる樹脂組成物層101を形成する方法が挙げられる。
また、上記のようにして得られた樹脂ワニスを、繊維基材に含浸し、プリプレグを得、その後、フィルム103上に設置する方法が挙げられる。
さらに、樹脂ワニスをフィルム103に塗布・乾燥後、熱硬化性樹脂組成物(P)の存在する層を、繊維基材に対して接合することでビルドアップ材200を得る方法も採用できる。このとき、熱硬化性樹脂組成物(P)から構成される層を有したフィルムは1枚とすることもできるし、複数枚とすることもできる。
また、繊維基材に対してフィルム103の熱硬化性樹脂組成物(P)の存在する層を接合する場合、繊維基材の反対側には、たとえば、回路の埋め込み性の高い他の樹脂組成物を組み合わせて接合させ、ビルドアップ材200とすることもできる。
まず、ビルドアップ材200と、片面または両面に回路層105を有する基板107と、を準備する(図1(a))。
次いで、例えば、ロール状に巻回されたビルドアップ材200をラミネーターに搬送するとともに、シート状の基板107を搬送し、ビルドアップ材200の樹脂組成物層101側の表面を、基板107の回路層105側の表面に向けながら、加熱加圧下、基板107の回路層105上にビルドアップ材200を積層・平滑化して積層体150を得る(図1(b))。
すなわち、積層体150について、160℃、60分間熱処理することで得られる樹脂組成物の硬化物の、ナノインデンターを用いISO14577に準拠して測定される表面の硬度が350MPa以上であり、好ましくは380MPa以上であり、より好ましくは400MPa以上である。
また、積層体150について、160℃、60分間熱処理することで得られる樹脂組成物の硬化物の、ナノインデンターを用いISO14577に準拠して測定される表面の硬度が1000MPa以下であり、好ましくは800MPa以下であり、より好ましくは700MPa以下である。
このような硬度を有することにより、樹脂の傷付きが抑制され、プリント配線基板の作製プロセスに好ましく用いることができる。
なお、この条件で得られる硬化物は、前述の樹脂組成物101について平滑化、硬化させて得られる硬化物と、同様の特性を発揮するものであり、ナノインデンターの測定条件としても前述のものと同様の条件を採用することができる。
また、積層体150について、前記硬度の測定と同条件で測定される押し込み弾性率が12GPa以下であることが好ましく、11GPa以下であることがより好ましく、10.5GPa以下であることがさらに好ましい。
この押し込み弾性率を上記範囲に設定することで一段と、樹脂の傷付きを抑制することができる。
硬化工程は、通常は、大気圧下で積層体150を加熱することにより行われるが、樹脂組成等を鑑み、温度条件・加圧条件を適宜調整することができる。
回路層301は、例えば、無電解金属めっき膜305と、電解金属めっき層307とを有する。
次いで、エッチング処理により、金属箔を除去する。
なお、エッチング処理による金属箔の除去前に、絶縁層110にビアホール303を形成してもよい。
薬液処理としては、特に限定されず、有機物分解作用を有する酸化剤溶液などを使用する方法などが挙げられる。また、プラズマ処理としては、対象物となるものに直接酸化作用の強い活性種(プラズマ、ラジカルなど)を照射して有機物残渣を除去する方法などが挙げられる。
本実施形態に係る半導体装置400は、例えば、プリント配線基板300の回路層301上に半導体素子403を搭載したものである。図4に示すような半導体装置400に用いることができる。半導体装置400の製造方法としては、とくに限定されないが、例えば以下のような方法がある。
また、上記実施形態では、半導体素子403と、プリント配線基板300とを半田バンプ405で接続したが、これに限られるものではない。例えば、半導体素子403とプリント配線基板300とをボンディングワイヤで接続してもよい。
エポキシ樹脂(A−1):ナフタレン骨格変性エポキシ樹脂(DIC社製、SBM−0150)
エポキシ樹脂(A−2):ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂(DIC社製、HP−6000)
エポキシ樹脂(A−3):ビフェニルアラルキル型ノボラックエポキシ樹脂(日本化薬社製、NC−3000)
エポキシ樹脂(A−4):ビスフェノールA型液状エポキシ樹脂(三菱化学社製、jER−828)
エポキシ樹脂(A−5):ビスフェノールF型液状エポキシ樹脂(三菱化学社製、jER−807)
シアネート樹脂(B):ノボラック型シアネート樹脂(LONZA社製、Primaset PT−30)
熱可塑性樹脂(C−1):エラストマー変性ポリアミド樹脂(芳香族ポリアミド樹脂、日本化薬社製、KAYAFLEX BPAM155)
熱可塑性樹脂(C−2):ビスフェノールA型フェノキシ樹脂(三菱化学社製 1256)
フェノール系硬化剤(D):ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(日本化薬社製、KAYAHARD GPH−103)
硬化触媒(E):1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール(四国化成社製、1B2PZ)
無機充填材(F−1):球状シリカ(電気化学工業社製、SFP−20SAE、平均粒径0.3μm)
無機充填材(F−2):球状シリカ(アドマテックス社製、SC−2050KNO、平均粒子径0.5μm)
カップリング剤(G):エポキシシランカップリング剤(モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン社製、A−187)
変性ゴム:カルボキシル末端ブタジエン・アクリロニトリル共重合体(ピイ・ティ・アイ・ジャパン社製、CTBN1008)
レベリング剤:ビックケミージャパン製、BYK−361N
(1)樹脂ワニスの調製
まず、表1に示す配合に従い、エポキシ樹脂(A−1)、シアネート樹脂(B)、熱可塑性樹脂(C−1)、硬化触媒(E)、レベリング剤をメチルエチルケトンとシクロヘキサノンの混合溶媒で60分間撹拌し、溶解させた。さらにカップリング剤(G)と無機充填材(F−1)を添加して高速撹拌装置で10分撹拌し、固形分40%の樹脂ワニスを作製した。
得られた樹脂ワニスをPETフィルムの片面に、コンマコーター装置を用いて塗工した。これを160℃の乾燥装置で3分間乾燥し、樹脂厚みが40μmの樹脂シートを作製した。
ニチゴ―・モートン社製の2ステージビルドアップラミネーターCVP600を用いて、ビルドアップ材から積層体を製造した。具体的には、厚み200μmのELC−4785GS−B(住友ベークライト社製、銅箔12μm)を用いて、ドリル機で所定のところを開孔して、無電解めっきにより、導通を図り、銅箔をエッチングして回路層を有する基板を作製した。また、上記のビルドアップ材を枚葉にカットし、上記CVP600にセットして上記基板に仮付けし、真空ラミネーター内で120℃、0.6MPa、60秒間真空ラミネーションを行い、平滑化した。
その後、160℃で60分間熱処理し、熱硬化性樹脂を硬化させ、PETフィルムを剥離することにより積層板を得た。
次いで炭酸レーザーによりビアホールを形成した。次にビアホール内および絶縁層表面を、80℃の膨潤液(ロームアンドハースジャパン社製 コンディショナー211)に10分間浸漬し、さらに80℃の過マンガン酸カリウム水溶液(ロームアンドハースジャパン社製、MLBプロモーター)に10分浸漬後、中和して粗化処理を行った。
これを脱脂、触媒付与、活性化の工程を経た後、無電解銅めっき皮膜を約1μm、めっきレジスト形成、無電解銅めっき皮膜を給電層としパターン電気メッキ銅を12μm形成させ、L/S=12/12μmの微細回路加工を施した。次に、熱風乾燥装置にて200℃で60分間アニール処理を行った後、フラッシュエッチングで給電層を除去した。
次に、ソルダーレジスト(太陽インキ製造社製、PSR−4000 AUS703)を印刷し、半導体素子搭載パッドなどが露出するように、所定のマスクで露光し、現像、キュアを行い、回路上のソルダーレジスト層の厚さが12μmとなるように形成した。
最後に、ソルダーレジスト層から露出した回路層上へ、無電解ニッケルめっき層3μmと、さらにその上へ、無電解金めっき層0.1μmとからなるめっき層を形成し、プリント配線基板を得た。
(6)ナノインデンターによる測定
前述の(4)項で得られた積層体について、以下に示す条件にて表面の硬度と弾性率とを測定した。
測定装置として、エリオニクス社製超微小硬度計ENT−1100、使用圧子としてバーコヴィッチ圧子(三角錐、対稜角115°)を用い、ISO14577に準拠し、試験環境22℃/60%RHにて測定を行った。なお、測定は試験数n=5にて行い、その平均値を算出した。
前述の(2)項で得られたビルドアップ材について、160℃で60分間熱処理することにより完全硬化させ、PETフィルムを剥離することにより樹脂板を得た。この樹脂板について、DMA(動的粘弾性測定)装置、TAインスツルメント社製、Q800を用いて、温度30〜350℃、5℃/分、周波数1Hz、25℃の条件を採用し、引っ張り弾性率を測定した。
前述の(4)項で得られた積層体について、以下の条件にて表面の傷付きやすさを評価して。
まず、直径3.1cm、46gの重りに、2cm角にカットした#500研磨紙を貼りつけたものを用意した。上記で得られた積層体に対して、研磨紙と積層体表面とが接するように重りを配置し、アプリケーター塗工機にて、この重りを移動させた。
移動後の積層体の表面について、以下に示す基準にて傷の付きやすさを評価した。
◎:目視では目立った傷が観察されない。
○:わずかに傷が観察されるが、製品品質上問題のない程度である。
×:目立った傷が観察される。
このような点から、各実施例で得られたビルドアップ材は半導体装置等を作製する際におけるプロセス効率を向上できるものであることがいえる。
101 樹脂組成物層
103 フィルム
105 回路層
107 基板
110 絶縁層
150 積層体
200 ビルドアップ材
300 プリント配線基板
301 回路層
303 ビアホール
305 無電解金属めっき膜
307 電解金属めっき層
400 半導体装置
401 ソルダーレジスト層
403 半導体素子
405 半田バンプ
407 封止材
Claims (21)
- 片面または両面に回路形成面を有するコア層の前記回路形成面に絶縁層を形成するために用いられるビルドアップ材であって、
当該ビルドアップ材は、樹脂組成物層を備え、
ホットプレス装置を用い、前記樹脂組成物層を160℃、0.6MPa、60分間ホットプレスの条件で平滑化・硬化させて得られる硬化物の、ナノインデンターを用いISO14577に準拠して測定される表面の硬度が350MPa以上1000MPa以下である、ビルドアップ材。 - 請求項1に記載のビルドアップ材であって、
前記硬度の測定と同条件で測定される押し込み弾性率が7GPa以上12GPa以下である、ビルドアップ材。 - 請求項1または2に記載のビルドアップ材であって、
当該ビルドアップ材は、プラスチックフィルムを備える、ビルドアップ材。 - 請求項3に記載のビルドアップ材であって、
前記プラスチックフィルムはポリエステルフィルムである、ビルドアップ材。 - 請求項1ないし4のいずれか一項に記載のビルドアップ材であって、
前記樹脂組成物層は、熱硬化性樹脂組成物からなる樹脂層、繊維基材に前記熱硬化性樹脂組成物を含浸させて形成されたプリプレグまたは前記プリプレグの硬化体である、ビルドアップ材。 - 請求項1ないし5のいずれか一項に記載のビルドアップ材であって、
前記樹脂組成物層を構成する樹脂組成物は無機充填材を含む、ビルドアップ材。 - 請求項6に記載のビルドアップ材であって、
前記樹脂組成物は、前記樹脂組成物の全固形分を100質量%としたとき、前記無機充填材を5質量%以上60質量%以下含む、ビルドアップ材。 - 請求項1ないし7のいずれか一項に記載のビルドアップ材であって、
前記樹脂組成物層を構成する樹脂組成物は、熱可塑性樹脂を含む、ビルドアップ材。 - 請求項8に記載のビルドアップ材であって、
前記樹脂組成物は、前記樹脂組成物の全固形分を100質量%としたとき、前記熱可塑性樹脂を1質量%以上25質量%以下含む、ビルドアップ材。 - 片面または両面に回路層を有する基板と、
前記基板の前記回路層上に設けられた、請求項1ないし9のいずれか一項に記載のビルドアップ材から構成される絶縁層と、
を備える積層板。 - 請求項10に記載の積層板の前記絶縁層の表面上に回路層が設けられている、プリント配線基板。
- 請求項11に記載のプリント配線基板の前記回路層上に半導体素子が搭載された、半導体装置。
- 樹脂組成物層を備えるビルドアップ材と、片面または両面に回路層を有する基板と、を準備する工程と、
前記ビルドアップ材の前記樹脂組成物層側の表面を、前記基板の前記回路層側の表面に向けながら、前記基板の前記回路層上に前記ビルドアップ材を積層、平滑化させて積層体を得る工程と、
を含む、プリント配線基板の製造に用いられる積層板の製造方法であって、
積層体を得る前記工程後に得られる前記積層体は、160℃、60分間熱処理することで得られる樹脂組成物の硬化物が、ナノインデンターを用いISO14577に準拠して測定される表面の硬度が350MPa以上1000MPa以下の条件を満たす、積層板の製造方法。 - 請求項13に記載の積層板の製造方法であって、
前記硬度の測定と同条件で測定される押し込み弾性率が7GPa以上12GPa以下である、積層板の製造方法。 - 請求項13または14に記載の積層板の製造方法であって、
前記ビルドアップ材は、プラスチックフィルムを備える、積層板の製造方法。 - 請求項15に記載の積層板の製造方法であって、
前記プラスチックフィルムはポリエステルフィルムである、積層板の製造方法。 - 請求項13ないし16のいずれか一項に記載の積層板の製造方法であって、
前記樹脂組成物層は、熱硬化性樹脂組成物からなる樹脂層、繊維基材に前記熱硬化性樹脂組成物を含浸させて形成されたプリプレグまたは前記プリプレグの硬化体である、積層板の製造方法。 - 請求項13ないし17のいずれか一項に記載の積層板の製造方法であって、
前記樹脂組成物層を構成する樹脂組成物は無機充填材を含む、積層板の製造方法。 - 請求項18に記載の積層板の製造方法であって、
前記樹脂組成物は、前記樹脂組成物の全固形分を100質量%としたとき、前記無機充填材を5質量%以上60質量%以下含む、積層板の製造方法。 - 請求項13ないし19のいずれか一項に記載の積層板の製造方法であって、
前記樹脂組成物層を構成する樹脂組成物は、熱可塑性樹脂を含む、積層板の製造方法。 - 請求項20に記載の積層板の製造方法であって、
前記樹脂組成物は、前記樹脂組成物の全固形分を100質量%としたとき、前記熱可塑性樹脂を1質量%以上25質量%以下含む、積層板の製造方法。
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