JP6454066B2 - 試験及び計測機器及び入力信号処理方法並びにそのためのコンピュータープログラム - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 44
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 26
- 238000004590 computer program Methods 0.000 title claims description 5
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 35
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 12
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
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- Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
Description
12…ディスプレイ
18…利用者コントロール
20…電気的入力
21…取得システム
22…プロセッサー
23…メモリ
25…A/D変換器
27…トリガ検出器
42…波形
50…第1位のピーク
51…第2位のピーク
52…ピーク帯域幅テストレベル
Claims (7)
- 当初のディスプレイ中心周波数及びスパンの設定を有すると共に、入力信号を処理するように構成された試験及び計測機器であって、該試験及び計測機器が、
前記入力信号をデジタル化し、デジタル化入力信号を生成するよう構成されるアナログ・デジタル・コンバータと、
プロセッサーと
を具え、
該プロセッサーが、
前記デジタル化入力信号に対して周波数ドメイン変換を行って周波数ドメインデータを発生する処理と、
前記周波数ドメインデータ中の第1位のピークの周波数を求める処理と、
前記第1位のピークの前記周波数に基づき前記当初のディスプレイ中心周波数の設定を調整する処理と、
ピーク帯域幅テストレベルにおける前記第1位のピークの帯域幅をピーク帯域幅閾値と比較することによって、帯域幅比較を実行する処理と、
前記帯域幅比較に基づいて前記当初のスパンの設定を調整する処理と、
調整されたディスプレイ中心周波数及びスパンの設定を用いて、前記周波数ドメインデータの波形信号を発生する処理と
行うように構成されている試験及び計測機器。 - 前記プロセッサーが、前記スパンを減少させると、分解能帯域幅(RBW)を比例して減少させて、前記スパンと前記RBWとの間の比率を一定に維持するように構成されている前記請求項1に記載の試験及び計測機器。
- 前記当初のディスプレイ中心周波数の設定を調整する処理において、前記プロセッサーが、前記ディスプレイ中心周波数を前記第1位のピークの前記周波数に設定する処理を行うように構成される請求項1又は2に記載の試験及び計測機器。
- 当初のディスプレイ中心周波数及びスパンの設定を有する試験及び計測機器において入力信号を処理する方法であって、
入力信号をデジタル化し、デジタル化入力信号を生成する処理と、
前記デジタル化入力信号に対して周波数ドメイン変換を行って周波数ドメインデータを発生する処理と、
前記周波数ドメインデータ中の第1位のピークの周波数を求める処理と、
前記第1位のピークの前記周波数に基づき前記当初のディスプレイ中心周波数の設定を調整する処理と、
ピーク帯域幅テストレベルにおける前記第1位のピークの帯域幅をピーク帯域幅閾値と比較することによって、帯域幅比較を実行する処理と、
前記帯域幅比較に基づいて前記当初のスパンの設定を調整する処理と、
調整されたディスプレイ中心周波数及びスパンの設定を用いて、前記周波数ドメインデータの波形信号を発生する処理と
を具える入力信号処理方法。 - 前記スパンを減少させると、分解能帯域幅(RBW)を比例して減少させて、前記スパンと前記RBWとの間の比率を一定に維持する処理を更に具える請求項4に記載の入力信号処理方法。
- 前記当初のディスプレイ中心周波数の設定を調整する処理において、前記ディスプレイ中心周波数を前記第1位のピークの前記周波数に設定する処理を行う請求項4又は5に記載の入力信号処理方法。
- 当初のディスプレイ中心周波数及びスパンの設定を有する試験及び計測機器において、入力信号を処理する方法を行うように構成されたコンピュータープログラムであって、前記試験及び計測機器によって実行されると、請求項4から6のいずれかの方法が実行されるコンピュータープログラム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/713,084 | 2012-12-13 | ||
US13/713,084 US9858240B2 (en) | 2012-12-13 | 2012-12-13 | Automatic center frequency and span setting in a test and measurement instrument |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014119458A JP2014119458A (ja) | 2014-06-30 |
JP6454066B2 true JP6454066B2 (ja) | 2019-01-16 |
Family
ID=49679389
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013258351A Active JP6454066B2 (ja) | 2012-12-13 | 2013-12-13 | 試験及び計測機器及び入力信号処理方法並びにそのためのコンピュータープログラム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9858240B2 (ja) |
EP (1) | EP2743711B1 (ja) |
JP (1) | JP6454066B2 (ja) |
CN (1) | CN103869157B (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9304148B2 (en) * | 2012-10-23 | 2016-04-05 | Tektronix, Inc. | Internal chirp generator with time aligned acquisition in a mixed-domain oscilloscope |
US10890604B2 (en) * | 2017-07-20 | 2021-01-12 | Tektronix, Inc. | Monitoring device under test waveform on signal generator |
CN108776264B (zh) * | 2018-07-26 | 2020-04-14 | 电子科技大学 | 数字示波器的fft分析装置 |
US10915445B2 (en) * | 2018-09-18 | 2021-02-09 | Nvidia Corporation | Coherent caching of data for high bandwidth scaling |
US11187744B2 (en) | 2018-11-07 | 2021-11-30 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measuring device and measuring method using iterative trace-based signal analysis |
USD947693S1 (en) | 2019-09-20 | 2022-04-05 | Tektronix, Inc. | Measurement probe head assembly |
US20210325437A1 (en) * | 2020-04-19 | 2021-10-21 | Research Electronics International, Llc | Cached Peak Graphical Display for Spectrum Analyzers |
USD968244S1 (en) * | 2020-09-14 | 2022-11-01 | Aaronia Ag | Housing for measuring device |
CN112769500A (zh) * | 2021-01-21 | 2021-05-07 | 深圳市豪恩声学股份有限公司 | 信号测试方法、系统、电子设备及存储介质 |
CN113156180B (zh) * | 2021-04-07 | 2022-06-10 | 合肥联宝信息技术有限公司 | 一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4321680A (en) * | 1980-04-22 | 1982-03-23 | Wavetek Rockland Inc. | Spectrum analyzer with frequency band selection |
JPS59157574A (ja) * | 1983-02-27 | 1984-09-06 | Anritsu Corp | スペクトラムアナライザ |
JPS6071961A (ja) * | 1983-09-28 | 1985-04-23 | Hioki Denki Kk | 時間軸レンジ自動設定波形観測装置 |
US4839582A (en) | 1987-07-01 | 1989-06-13 | Anritsu Corporation | Signal analyzer apparatus with automatic frequency measuring function |
JP2880711B2 (ja) * | 1987-07-01 | 1999-04-12 | アンリツ株式会社 | 信号分析装置 |
US5119076A (en) | 1989-12-26 | 1992-06-02 | Tektronix, Inc. | Measuring spectral features using a cursor and a marker |
JP2891497B2 (ja) * | 1990-01-25 | 1999-05-17 | アンリツ株式会社 | スペクトラムアナライザ |
JP3184832B2 (ja) * | 1990-03-30 | 2001-07-09 | アンリツ株式会社 | 精細な波形観測を簡易に実現する波形表示装置 |
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JP3375919B2 (ja) * | 1999-11-11 | 2003-02-10 | アンリツ株式会社 | 信号分析装置 |
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US7191079B2 (en) | 2004-03-23 | 2007-03-13 | Tektronix, Inc. | Oscilloscope having advanced triggering capability |
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-
2012
- 2012-12-13 US US13/713,084 patent/US9858240B2/en active Active
-
2013
- 2013-11-28 EP EP13194873.9A patent/EP2743711B1/en active Active
- 2013-12-13 JP JP2013258351A patent/JP6454066B2/ja active Active
- 2013-12-13 CN CN201310680098.5A patent/CN103869157B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20140172339A1 (en) | 2014-06-19 |
CN103869157A (zh) | 2014-06-18 |
JP2014119458A (ja) | 2014-06-30 |
US9858240B2 (en) | 2018-01-02 |
EP2743711B1 (en) | 2018-08-08 |
CN103869157B (zh) | 2018-07-03 |
EP2743711A1 (en) | 2014-06-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A625 | Written request for application examination (by other person) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625 Effective date: 20161121 |
|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20171017 |
|
A601 | Written request for extension of time |
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A601 | Written request for extension of time |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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